场发射俄歇谱仪

岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV），分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA（加速电压30kV）的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1　高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2　 EPMA专用电子光学系统电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。（加速电压：10kV；照射电流：20nA）Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像（COMPO）的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨（红色虚线圈出）。同时可确认Cu颗粒的存在（黄色虚线圈出）。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂（Pt）元素图像，通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂（铂络合物）导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合，阻碍DNA的分裂（复制）以杀灭癌细胞，我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

MICROLAB350 - 俄歇电子能谱仪是一款高性能的，具有高灵敏度和高能量分辨率扫描俄歇电子能谱仪（AES）。 SEM分辨率7纳米和扫描俄歇映射（SAM）分辨率12纳米。

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

E5000电弧直读发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析准确度高、稳定性好等优点，E5000发射光谱仪拥有高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计如下： E5000发射光谱仪产品结构设计 ●电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术● Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的常规元素●紧凑的小型台式设计，稳定可靠、易用便捷●防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大●高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供合适的分析方法●多重连锁和监控，确保操作安全可靠●全自动电极激光对准系统●粉末样品直接进样，方便迅速●一键激发，立刻获得分析结果●内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率●软件开放所有高级功能，为客户提供方法开发平台 E5000发射光谱仪全谱测量技术●全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发●基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度- 方便查看谱线及干扰情况- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式●自动谱线去干扰算法- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰●根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保障分析精度- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围 背景扣除 多峰拟合 适配曲线 CCD高速数采系统●防溢出线阵CCD●采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围 Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统● 恒温型全固定光学系统● 全反射式光路● 光室结构紧凑● 一体式固定● 光学器件少，性能稳定● 基于CCD的全谱采集和分析 电弧数控光源●数控光源体积小、效率高●基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节●分析不同含量的元素，选择激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度●可设置及读取不同检测阶段的数据 一键激发及全自动对准电极●样品装载激发一气呵成，方便快捷●多元素同时分析，直接得到最终结果●设计精良的电极挟持旋钮●红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术●水冷电极夹提高检测稳定性 多重连锁和安全保护●可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热●实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒●界面上有关键温度的显示，优先查看仪器的运行情况●排风监控，消除废气影响●特殊的风道设计提高稳定性 分析软件●便捷易用的分析软件- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节 软件界面●强大的多元素分析平台- 便捷的全谱查看- 多元素分析及多谱线选择- 一键激发，直接在软件上得到分析结果- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择●全面智能的软件算法- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法- 处理功能，为客户带来不一样的分析体验 E5000发射光谱仪内置工作曲线及基底扣除● 智能漂移校正技术利用全谱丰富的谱线信息，自动完成仪器校正，使得分析数据更稳定

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

EPMA-8050G 场发射电子探针从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极。 范围 硬度标尺 ：4Be~92U 发射源：搭载高亮度肖特基发射体 二次电子图像分辨率：3nm（加速电压30kV） X射线取出角角度：52.5°，大限度减少X射线被吸收 分光晶体：全聚焦型 X射线谱仪：高灵敏度、高分辨率型优点1、高亮度肖特基发射体 场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2、 EPMA专用电子光学系统 电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3、超高真空排气系统 电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4、高灵敏度X射线谱仪 最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

产品详情日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品规格：超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.16 nm @热场枪加速电压200 , 80 kV200 , 80 kV主要选配件能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统 产品特点： 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 外观设计精炼 精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。 四级聚光镜系统 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。 皮米样品台驱动 JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。 SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置） 插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。 改进的冷场发射电子枪 JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。 双能谱（SDD） JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。 环保节能 JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。

JAS原子发射光谱检测器AEDIII是市场上唯一商品化的气相色谱原子发射光谱检测器,它是在1989年由惠普公司引入市场的,之后以它的独一无二的特性而为市场所熟知。在过去25年中,AED经历了两次重大的升级换代。 JAS设计制造了全新一代的AED III产品。新设计的AEDIII主要将AED从气相色谱仪的右边移到左边,不再需要长的转移线。新AEDIII配有半米长、高分辨率、多功能的平板光栅和多个2048像素背照式CCD,具有极高分辨率和高灵敏度。 固定式的光栅设计避免使用运动部件,使其用途更广,以应用为基础的需求从通用光栅设计改为专用光栅设计。由于70%以上的AED应用是在UV 和VUV范围内,新的专用光栅就是为此设计的。 可以根据客户需求定制应用，使仪器成为量身定制的AED-我的AED（MyAED)。? 专用分析仪,如多元素全二维GCXGC AED 分析仪或多元素模拟蒸馏分析仪,可以为用户提供交钥匙解决方案（包括硬件、软件、方法）。JAS AED优势光栅从25 厘米增加到50 厘米；? 改善了光学分辨率；? 从切尔尼-特纳（Czerny-Turner）光学系统升级到平板光学系统；? 光学部件少,改善了紫外光透过；? 64 mm 2600 线平板凹光栅对50 mm 1200 线平面光栅；? 平面投影使影像更锐利；? 光栅从运动部件改成固定光栅,用途更广。检测? 检测元件从PDA 升级为很薄的背照式CCD；? 像素为14 μm 而不是 25 μm,增强了每个像素的色散能力；? 新的高速读出电路板；? 可以允许同时使用多个CCD 传感器；? 数据扫描采集频率高达100 Hz，比旧型号的10Hz 高出10 倍；? 高灵敏度,更好的信噪比；? 动态范围更宽；? 可以适用于高速扫描应用,如多元素全二维色谱GCXGC AED。概述? AED 从GC 右边移到左边；? 新的短的高温传输管线(可达 450 °C)；? 水箱组件放置在保温材料中；? 改善了水箱温控和流量控制；? 水箱内置空气流路；? 维护简便,无需工具；? 全新主板；? 将所有的电路板集成到一个主板,使其尺寸大为减少；? 软件能够更好的控制仪器。软件AED III 使用新软件包控制? 多元素模拟蒸馏；? 增加了如碳、硫、氮、氧等多元素在一台仪器上运行模拟蒸馏应用方案的功能；? 多元素全二维色谱 GCxGC AED,增加了如碳、硫、氮、氧、磷…等多元素在一台全二维色谱GCXGC 上运行应用方案功能,不同元素用不同颜色标示。软件改进? 升级为.NET 格式；? 64 位操作系统；? 增强软件功能 ；? 点燃等离子体检测 ；? 谱图可以3D 图形显示；? 改善了波长校正 ；? 新软件的性能 ；? NetCDF 格式输出；? CSV 格式输出；? 选择背景校正算法 ；? 直接背景校正光谱图；? 试剂气体校正工具；? 多元素自动序列工具 。

简单介绍：Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材，高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验，赛默飞世尔科技（原热电公司）研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了 优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。详细介绍：Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材，高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验，赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了更优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数当今世界体积zui小的新型iCAP 6000系列等离子体发射光谱仪 优异的仪器性能 高的工作效率 方便的操作 低的运行成本 广泛应用于环境、石化、冶金、食品饮料、地球化学和水泥行业的普通和元素分析实验室Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点降低了气体消耗 改善了对于诸如砷（As）、锑（Sb）、硒（Se）和碲（Te）的元素分析性能全自动波长校正和补偿校正保证了长时间的优异稳定性第四代电荷注入式（CID）检测器RACID86 快速、可靠和便捷性能的常规分析，既可采用单一的等离子体炬垂直观测，也可采用双向观测 【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

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TESCAN--场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供you xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics&trade ）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing&trade ），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航维修简单现在保持电镜处在you xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面（包括了EasySEMTM模式）不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理，报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域，等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建，等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 北京亚科电子（山东）欢迎来电咨询 ！

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场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供优xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面（包括了EasySEMTM模式）不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理，报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域，等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建，等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

日本电子JEOL场发射扫描电镜 JSM-IT800SHL, 是JSM-7900F 的升级版 JSM-IT800SHL 是日本电子株式会社（JEOL） 2020 年最新推出的场发射扫描电镜，它秉承 JEOL 热场发射扫描电镜 JSM-7900F 的大束流，高稳定性的传统，同时将分辨率提高到新的极限，全新设计的超级混合型物镜，高分辨率的获得以及磁性样品的观察都可以同时完成，而且标配 JEOL 最新开发的 NEO Engine，使得任何人都可以操作该设备得到高质量的图像，是一款非常适合材料分析研究的设备。 JSM-IT800SHL 场发射扫描电镜主要特点 。超高分辨图像的观察，最大放大倍数 3 百万倍 0.5nm (二次电子,加速电压：15kV) 0.7nm (二次电子,GB 模式，加速电压：1kV) 突出的低压分辨率 。加速电压： 0.01kV~30.0kV, 最低可以到 10V，仍然可以得到高分辨率图像。 。高稳定的大束流强度：日本电子的 JSM-IT800SHL 热场电子枪浸没在聚光镜上半部，发射出的电子束可以全部进入聚光镜，使得分析束流从 15KV 下 10-20nA 提高到 500nA，能谱、波谱等分析效率效果明显改善。与此同时，溅射出的污染明显减少，枪的寿命大幅度延长。分子泵系统：真空系统洁净，抽气速度快，维护简单。 。大束流下保持高分辨率小束流观察时，容易得到小束斑，保证高分辨率。提高束流，束斑尺寸不容易维持，分辨率衰减较快，这也是早期热场电镜无法取得高分辨率的原因。日本电子的 JSM-IT800SHL 在物镜光阑下端多设计了一级磁透镜（最佳光阑角控制透镜 ACL），可以对电子束进行优化，得到大束流下的小束斑。原本 500pA 下就很难获得图像的情况改进到束流 500nA 下依然图像清晰，从根本上解决了大分析束流与高分辨率图像并存的难题。同时给出了一个分析模式下的分辨率保证值，这是其他厂家无法保证的。 。最新开发的超级混合式物镜：应用领域广泛，可以直接做磁性样品，无需任何模式切换 。 NEO Engine：全新开发的 NEO Engine 优化系统，可以简单一键自动聚焦合轴，无需任何操作基础，轻松可以达到高倍下一键聚焦，使得该设备的易用性达到了新的高度。 。五轴马达样品台标准控制：使用极为方便； 。快捷的双换样方式：利用 JSM-IT800SHL 的标准配置气锁加大开门设计，即可装入直径最大为170mm 样品，气锁换样速度快污染小，同时支持侧面大开门换样，这样对于大样品和特种附件的安装就更加方便； 。 新型探测器：Inlens 探头 UHD 探头可以高信噪比的进行二次电子成像。对于表面精细结构更加灵敏，同时适合断口样品分析。 。浸没式热场发射电子枪（专利）：束流稳定性高，电子枪寿命超长，质保期为 3 年。 。最佳光阑角控制透镜（专利）：无须手动切换光阑，束流大小完全由计算机自动控制； 。离子泵的电源支持：停电后最长可以坚持 14 天，电池更换每次只需 200 元左右。 。良好的可操作性：控制界面设计非常友好，使用极为便利； 。稳定的 GB 模式：标准配置。可以有效抑制充电和提高低电压下的分辨率(专利)； 。一体化能谱分析：配合一体化能谱仪（EDS）分析时，可以实时显示图像和成分信息，无需模式切换。 。超长的发射体寿命: 由于采用 In-Lens 技术，我们的束流强度可以达到 500nA，其他厂家只能做到 20nA.我们在做成分分析时，或搭载 EBSD 或 WDS 时，分析速度和结果的精确度远远高于他们。采用了 In-Lens 电子枪技术和完美的气锁换样系统，我们的发射体质保 3 年，用户一般使用在 6 年以上，而其他厂家只能提供质保 1 年的承诺。 。优秀的技术支持和售后服务体系：日本电子株式会社在中国建立独立的维修站已经超过 20 年，拥有经验丰富的技术工程师（包括常驻的外国工程师）60 多人，反应快，技术力量强。 JSM-IT800SHL 场发射扫描电镜系统主要性能参数

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配：根据实际配置和需求 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

ET10 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET10 科研级仪器可测量任何不透明材料的发射率 特点： 可同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射率 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 应用： 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度ET10： 用于测量红外测温成像技术的重要参数—红外发射率 利用两个探测器同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能： 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据推算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。　　进行测量时，将仪器对准测量面，按下扳机即可记录数据。测量一次的时间只需要7秒钟。 技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值：发射率 波段：3～5、8～12 微米2个波段 精度：±1% 可重复性：±0.0002 入射角：20° 法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径曲面，12” 半径曲面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(2 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源： 可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25~ 70°C 操作环境 0~40°C, 非冷凝

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。 产品规格： 主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。 ＜特点＞ JSM-7200F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪 浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统） TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此JSM-7200F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加） JSM-7200F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。

产品详情日本JEOL场发射电子显微镜JEM-3200FS JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。 产品规格： 物镜极靴*1超高分辨UHR高分辨率HR高倾斜HT高衬度HC分辨率　点分辨率晶格分辨率0.17nm0.1nm0.19nm0.1nm0.21nm0.1nm0.26nm0.14nm能量分辨率0.9 eV（零损失FWHM）加速电压300kV，200kV,100kV*2　最小步长　能量位移100V最大3,000V (以0.2V为步长)电子枪　发射体ZrO/W(100) 肖特基式　亮度≧7×108 A/cm2 ? sr　真空度3×10-8Pa　探针电流探针直径为1nm时，电流在0.5nA以上稳定度　加速电压2×10-6/min　物镜电流1×10-6/min　过滤器透镜电流1×10-6/min物镜　焦距2.7 mm3.0 mm3.5 mm3.9 mm　球差系数0.6 mm1.1 mm1.4 mm3.2 mm　色差系数1.5 mm1.8 mm2.2 mm3.0 mm　最小焦距步长1.0 nm1.4 nm1.5 nm4.1 nm束斑尺寸　TEM 模式2 ～ 5 nmφ2 ～ 5 nmφ7 ～ 30 nmφ　EDS 模式0.4 ～ 1.6 nmφ0.5 ～ 2.4 nmφ4 ～ 20 nmφ　NBD 模式0.4 ～ 1.6 nmφ0.5 ～ 2.4 nmφ-　CBD 模式0.4 ～ 1.6 nmφ0.5 ～ 2.4 nmφ-电子束衍射　衍射角(2α)1.5 t～ 20 mrad-　取出角±10 °-倍率　MAG 模式×2,500 ～ 1,500,000×2,000 ～ 1,200,000×1,500 ～ 1,200,000　LOW MAG 模式×100 ～ 3,000　SA MAG 模式×8,000 ～ 600,000×6,000 ～ 500,000×5,000 ～ 500,000视野10eV时狭缝宽度60mm(底片上)2eV时狭缝宽度25mm(底片上)相机长度　选区电子衍射200 ～ 2,000 mm250 ～ 2,500 mm400 ～ 3,000 mmEELS 散射　能量选择　在能量选择狭缝上0.85 μm/eV , 300 kV　底片上100 ～ 220 μm/eV , 300kV样品室　样品移动范围 (XY/Z)2mm/0.2mm2mm/0.4mm2mm/0.4mm2mm/0.4mm　样品倾斜角 (X/Y)±25°/±25°*3±35°/±30°*3±42°/±30°*3±38°/±30°*3EDS*4　固体角0.13 sr0.09 sr　取出角25°20° 产品特点： JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。 镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器) 镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统，能容易地获得能量过滤像和能量损失谱，同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上最大程度地减少了图像畸变，出厂前还将剩余一点的畸变做了最后的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统（选配件），可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。 新型控制系统 电子枪、电子光学系统、测角台、抽真空系统等电子显微镜基本功能的系统化，实现了高稳定、高性能的控制系统。图像画面和用户界面 采用Windows *1，可以进行编程操作和附件的集中控制。 新型测角台 系统化的新型测角台内置压电陶瓷驱动机构，使高倍率下的样品移动更加精确。*2. *1 : 注意事项：Windows是微软公司在美国和其他国家的注册商标。 *2 : 仅有压电元件包括在基本单元中，压电元件的电源为选配件。

二手安捷伦700 ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪简介Agilent 700系列全谱直读发射光谱仪具备了可同时读数、无任何谱线缺失的出彩性能。可同时分析常量和痕量组分，无需繁复的双向观测，在具有上佳的检出能力的同时，稳定性卓然超群，全面节省用户的日常消耗和分析成本。技术参数1.波长范围：175-785nm波长连续覆盖，完全无断点2.焦距0.4米，中阶梯光栅刻线97.4线/mm3.信号稳定性：≤1.0%RSD（4小时）4.RF发生器频率：40.68MHz5.等离子体输出功率700~1700瓦6.等离子体冷却气0~22.5L/min可调主要特点1.真正同时读出、无任何谱线缺失的全谱直读等离子体发射光谱仪，快速、线性范围宽2.无任何可移动部件，长期稳定性极好3.即开即用的操作方式，运行成本低4.的冷锥接口技术，完全消除低温尾焰。5.超过百万感光点CCD检测器，灵敏度高且防电子溢流6.全中文表格式软件及在线多媒体帮助，操作简洁、功能强大7.的FACT自动曲线拟合技术，快捷准确地校正光谱干扰8.全面符合21CFR电子签名法规，数据安全性好二手安捷伦700 ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪质保服务整机保修一年（自安装调试合格之日后开始计算保修期）。保修期内，为客户提供免费服务。保修期限外，按照公司统一的收费标准为客户提供有偿的检测维修服务。服务时间：周一~周五9：00—17：00。顾客意见处理：1个工作日内回复顾客所提意见及建议。顾客投诉处理：1个工作日内解决或提出明确的解决方案。保修凭证：在三包规定保修期限内的产品出现故障，用户须凭购货票据和产品保修证书办理保修业务，产品编号要与保修证书上的产品编号一致。如无票据，则以产品编号推算保修期限。不属于免费保修义务的情况：1）不能证明产品的有效保修期的。2）消耗材料的自然消耗，磨损及老化。3）雷击或其它用电系统原因造成的损坏。4）事故、灾害、战争等不可抗力因素造成的损坏。5）自行改装、修理或由非本公司指定的第三方拆动、改装、维修。6）未按产品使用说明的要求使用、维护、保管而造成损坏的。

ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪产品介绍： ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪是公司经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪，用于测定各种物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量，自动化程度高、操作简便、稳定可靠。 ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。工作环境：内容 适应范围贮存运输温度 15℃-25℃贮存运输相对湿度 ≤70％大气压 86-106 kPa电源适应能力 220±10v 50-60MHz工作湿度 ≤70％工作温度 15℃-30℃ 技术指标：固态电源技术指标电路类型：电感反馈式自激振荡电路，同轴电缆输出，匹配调谐，功率反馈闭环自动控制工作频率：27.12MHz±0.05%频率稳定性：＜0.1%输出功率：800W—1200W输出功率稳定性：＜0.3%电磁场泄漏辐射强度：距机箱30cm处电场强度E：＜2V/m 进样系统技术指标输出工作线圈内径25mm矩管，三同心型，外径20mm的石英矩管同轴型喷雾器外径6mm双筒形雾室外径34mm 氩气流量计规格和载气压力表规格1.等离子气流量计（100-1000）L/h (1.6-16L/min)2.辅助气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)3.载气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)4.载气稳压阀（0-0.4MPa）5.冷却循环水：水温20-25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa 单色器技术指标光路：Czerny-Turner焦距：1000mm光栅规格：离子刻蚀全息光栅，刻线密度3600线/mm(可选用刻线密度2400线/mm)线色散率倒数：0.26nm/mm分辨率：≤0.007nm(3600刻线）. ≤0.015nm(2400刻线）扫描波长范围：3600线/mm扫描波长范围：190—500nm 2400线/mm扫描波长范围：190—800nm步进电机驱动最小步距:0.0006 nm出射狭缝：12μm入射狭缝：10μm 光电转换器技术指标光电倍增管规格：R293或R298光电倍增管负高压：0-1000V稳定性＜0.05% 整机技术指标：扫描波长范围：195nm～500nm（3600L/mm光栅）195nm～800nm（2400L/mm 光栅）重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD≤1.5％稳定性：相对标准偏差RSD≤2％

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

安捷伦Agilent ICP-OES 5110等离子发射光谱仪 Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，可以实现同步的水平和垂直测量。配合使用垂直炬管与速度更快且无需气体吹扫的 VistaChip II CCD 检测器，5100 ICP-OES（也称作 ICP-AES）能够以一半的氩气用量来运行最具挑战的样品，速度可提升 55%，并且不影响任何分析性能。安捷伦Agilent ICP-OES 5110等离子发射光谱仪 产品特性： ● 独特的智能光谱组合 (DSC) 技术可实现同步水平和垂直信号测量，消耗更少气体即可运行最快的 ICP-OES 分析；● 高级阀系统 (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上；● 垂直炬管设计可以测量包括高基质和挥发性有机溶剂在内的复杂样品；● 通过分析过程中精准气泡注入控制，可选 AVS 能够有效缩短样品提升、稳定时间和清洗延时，从而实现高精度的分析；● 固态 RF 系统可提供稳定的等离子体，确保长期稳定的分析性能；● IntelliQuant 模式使样品中的所有元素一目了然，大大简化了方法开发过程并实现了快速样品筛选；● 直观的 ICP Expert 软件和 DSC 技术使方法开发更为便捷流畅；● 完全集成式切换阀与即插即用式炬管极大程度减少了培训需求，确保实现快速启动；● 5110 提供三种灵活配置：同步垂直双向观测、垂直双向观测和垂直观测。安捷伦Agilent ICP-OES 5110等离子发射光谱仪 附件 5110 ICP-OES 专用于应对高难度应用，可提供无可比拟的性能。它拥有多种可选的自动进样系统，可优化实验室的工作流程。1、高级阀系统 (AVS)AVS 为 6 或 7 通切换阀系统。它可降低每次分析成本并使您的 5110 ICP-OES 分析效率提高一倍以上。通过分析过程中精准气泡注入控制，这种 AVS 能够有效缩短样品提升、稳定时间和清洗延时，从而实现高精度的分析。2、SPS 4 自动进样器用于无人值守的多元素分析SPS 4 是用于原子光谱的新一代、高性能自动进样器。专为满足需要快速、大容量、可靠自动进样器的高通量实验室需求而设计，同时体积小巧、运行安静、易于使用且价格合理。具有完全集成的防护罩选件，能够保护您的样品和实验室环境，这一切均可在不占用额外工作台空间的前提下实现。3、多模式样品引入系统 (MSIS)用于 As、Se 和 Hg 的亚 ppb 级检测多模式样品引入系统能够同时蒸发环境敏感元素（包括 As、Se 和 Hg），并且具有低 ppb 检测限。它通过薄膜氢化物技术提供显著更佳的氢化法分析性能。另外，它还提供三种样品引入模式，无需切换，一次分析即可同时完成常规元素和氢化物元素的测定。4、OneNeb 惰性雾化器对于有机物和强酸安捷伦OneNeb惰性喷雾器被设计用于处理具有挑战性的样品。惰性塑料结构是抗有机溶剂和强酸，而几乎不可封闭的设计使它理想的样品含有高溶解固体的样品。5、特定应用的样品引入选件适用于各种应用的所有样品提供各种可用于有机溶剂、高盐/高基质和含有氟化氢 (HF) 样品的优化炬管和样品引入套件。可拆卸炬管最大程度降低了成本，并且易于维护，可实现快速切换和经济高效的操作。

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线