测量激光显微镜

[ 产品简介 ] 蔡司激光共聚焦显微镜LSM 900 ，用于材料的三维微观结构和表面形貌的表征，具备光学显微镜的常规观察模式的同时也能够对样品进行三维表面形貌表征，同时也能够与扫描电镜进行关联显微分析，实现样品的多尺度和多维度表征。是实验室和检测平台用于表面形貌分析的理想的综合型解决方案。[ 产品特点 ]&bull 横向分辨率为120nm，轴向分辨率为10nm&bull 灵活的成像方式，宽场光学显微镜的观察方式（明场，暗场，偏光，荧光，微分干涉）以及共聚焦成像方式（表面形貌和荧光3D）&bull 向导式工作流程使得操作简单快捷&bull 关联显微镜成像分析，可与蔡司其他显微镜进行关联成像，实现样品的多尺度和多维度原位分析[ 应用领域 ]&bull 材料性能表征&bull 表面粗糙度分析&bull 金相研究&bull 涂层厚度测量&bull 岩石研究和岩相分析&bull 生物材料和医学应用流体通道（颜色编码高度图），10X物镜磨损实验后金属表面磨损体积测量

布鲁克HYPERION II是第一款结合了尖端红外激光成像的红外显微镜，具有无与伦比的成像速度，并且在同一台的设备中结合了经典和通用的FT-IR显微镜。布鲁克HYPERION II不负盛名，彰显了我们引领创新的实力。它首次实现在一台仪器中集FT-IR和QCL技术于一体。HYPERION II囊括所有基本技术，首先是应用最广泛的FT-IR显微镜。它可用于一般研究、法医鉴定、故障分析、生命科学和电子学等领域：热电和液氮冷却MCT检测器视觉和红外对比度增强工具提供各式各样的物镜和配件集成了压力传感器的专用ATR物镜借助焦平面阵列（FPA）检测器技术，将化学FT-IR成像提升至新的高度。它可在各种测量模式下实现卓越的空间分辨率和光谱灵敏度： 焦平面阵列技术实现真正的红外成像高空间分辨率，全面兼容ATR低倍物镜用于快速化学概览高倍物镜用于观察最微小的细节布鲁克激光红外成像模块（ILIM）打开了一扇新的大门，有助于进一步增强现有应用和探索新的应用。HYPERION II结合QCL技术和FT-IR于一体：以前所未有的速度采集高对比度红外图像无缝组合FT-IR和QCL测量可在实时红外成像下实时观察样品 在所有测量模式下均可进行QCL成像：透射、反射和ATR

盲孔测量显微镜别名：激光盲孔检测仪、镭射盲孔显微镜?产品信息SN-MF300盲孔测量显微镜是一款集光机电于一体的高精密检测仪器，主要检测镭射盲孔的外观品质、孔的圆度、孔的深度测量与孔内良率，是镭射现场品检利器，可随时管控镭射机的工作状态。仪器采用先进的光学测量系统，保证测量的准确性与图像成像的高还原性。?产品特点采用全新光学设计的无限远校正光学系统，光效率高，成像质量还原性更高，图像输出稳定。三目成像结构，目视检测，直观景深更强，视野明亮宽阔。电子成像配合显微成像系统，倍率成像更大，测量功能更强大，可进行多样化与多维度测量，测量结果可视化高，测量结果可存储。紧凑稳定的机台，可在多种环境中保持仪器的测量精度与稳定性。双层XY测量工作台面，可根据需求配不同大小的工作台，应对于大面积产品的测量。XYZ三轴数显测量，使现场快速测量更快捷。 ?产品参数SN-MF300镭射盲孔检测仪名称SN-MF304SN-MF304NSN-MF304ND测量范围（mm)X400400400Y300300300Z150150150平台模式手动自动自动自动测孔无无是工作台面（mm)载物台600×500600×500600×500玻璃台450×350450×350450×350承重20kg20kg20kg测量精度测量分辨率0.001mmX/Y轴(3+L/200)umZ轴（5+L/200)um重复性0.0002mm观察与测量系统光学系统无限远校正光学系统观察光学头三目观察光学头CCD接口0.5X/1X目镜PL10X/22物镜5X/0.13（明场无限远长工作距），WD：10.8mm10X/0.30（明场无限远长工作距），WD：10.0mm20X/4.0（明场无限远长工作距），WD：4.0mm50X/0.55（明场无限远长工作距），WD：7.8mm调焦系统手动粗微调同轴/最小调节2um照明系统反射柯勒照明系统，24V/150W光纤冷光源透射5W/LED照明偏光系统反射系统起偏镜、检偏镜电源AC90-240V/50HZ仪器重量350kg配件CCDUSB相机/HDMI工业测量相机测量软件多功能测量软件，点、线、圆、角度、真圆度、3D孔深等几何测量，图像输出校正片0.01刻度尺电脑品牌电脑，2G内存，500G硬盘，19寸显示器

仪器简介：来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜OLS4100广泛应用于不同行业的质量控制，研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到画质更高的影像，大大突破了激光显微镜的界限。 特征及优势：· 非接触式、无损、快速成像和测量· 405nm短波长激光和更高数值孔径的物镜，其平面（XY方向）分辨达0.12&mu m，高度（Z方向）分辨率达10nm· 采用双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，具有不同反射率材料的样品也可以获得鲜明的影像· 全新的多层模式可实现透明样品表面的观测和测量，而且可以对多层透明样品的各层进行分析和厚度测量。· 更多的测量类型，7种测量模式提供更多的选择· 拥有DIC激光模式（激光微分干涉），能够得到接近电子显微镜分辨率的影像，实现对微小凹凸的立体观察· 具有宏观图功能，让你明白&ldquo 始终身在何处&rdquo · 图像拼接功能，不但可以形成更大范围的宏观图，还可以通过此功能手动指定所需的影像区域· 操作更加简单，可一键操作创建报表· 内置由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的&ldquo 复合减震机构&rdquo 一稳定操作环境，可在普通的桌子上进行测量作业，无需专用的防震平台· 是业界首次保证&ldquo 正确性&rdquo 和&ldquo 重复性&rdquo 的激光扫描显微镜应用实例半导体1、晶圆突起 2、导光板 3、芯片焊点 4、导光板激光点电子元件/MEMS1、光掩版 2、微透镜 3、柔性电路板接触点 4、MEMS原材料/金属加工1、电镀金刚石工具 2、碳精棒 3、极细管 4、胶带5、砂纸#400（3D） 6、砂纸#400（2D） 7、致密织物（3D）

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

仪器简介：北京德华上海公司提供相关全能型纳米表面形貌、三维轮廓测量、粗糙度平面度等多款样机演示、客户做样并根据样品效果使具体配置达到最佳性价比，欢迎咨询沟通及技术交流；相关简介：http://oecsh.cn/oecsh/2010-04-11/1270945380d344.html技术参数：德国CFP激光共聚焦显微镜测量行程Z:1000µ m测量距离:4mm可测量抛光镜头测量频率:max.1000Hz敏感及软质材料分辨率Z:20nm适于反光不同的点分辨率XY:1µ m低反射率快速测量测量角度:approx.90° ± 25° *1测量光源:semiconductorlaser,660nm,class2*2主要特点：可测量抛光光学镜头测量敏感及软质材料适于反光率不同的反光点低反射率的材料也可快速测量

Nanoscope Systems NS3800三维激光共聚焦显微镜NS-3800是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面提供多样化的解决方案。Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Dimension(尺寸）：Specification (规格）：ModelMicroscope NS-3800备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 Pinhole共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]注 1Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元PC电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮隔振系统Option

OLS5000 3D测量激光显微镜可以精确地测量亚微米级的表面形状和粗糙度。图像采集速度比我们之前的型号OLS4100快四倍，大大提高了效率。1. 捕捉任意表面形状。 2. 快速获得可靠数据。3. 操作简单—只需放置样品并按一下按钮即可。4.测量具有挑战性的样品优异的平面分辨率LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。405nm紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜无法发现的精细纹理和缺陷。专用LEXT物镜我们的专用LEXT物镜系列近期新增了提升测量性能的长工作距离物镜和普通工作距离的10倍物镜。所有专用LEXT物镜的测量性能均可获得保证。4K扫描技术—检测陡峭斜面和近纳米级台阶的形貌4K 扫描技术可在X轴方向扫描4096像素，是传统机型的四倍。由此提高了高度测量的可靠性，改善了分辨率，信噪比提升了两倍。OLS5000显微镜无需图像处理就能检测几乎垂直的陡峭斜面和极低的台阶。 可准确测量高达87.5° 的大角度斜面。快速、精确的测量——PEAK算法OLS5000 3D测量激光显微镜采用了用于 3D 数据构建的 PEAK 算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。VLSI 标准样品/ 80nm台阶 (MPLFLN10XLEXT) 简单分析简单分析功能可仅在指定测量范围内测量台阶、线宽、表面粗糙度和体积。自动检测测量结果变动的原因（如体积分析中参考平面的边缘位置和阈值）让测量结果保持稳定，不受操作员技能水平的影响。扩展架—可检测最大210毫米高度的样品载物台上可放置最大高度210毫米的样品。重复性和准确性等测量性能均确保与标准机台相同。

可调谐磁场源-用于激光实验或显微镜集成高强度磁场的应用范围从医学成像到化学分析、材料科学和粒子物理。传统上，可调谐磁场是使用大电流产生的，需要庞大的电源和冷却系统。EI开发了一种使用特殊永磁体配置的替代方法。我们FLUX系列提供了无与伦比的性能，坚固性，可靠性和紧凑性的组合。它提供高度均匀的平面内磁场，具有精确的电机控制强度和方向，并具有实时磁场显示。FLUXvario: FLUXvario是一种具有成本效益的解决方案，功能强大且用户友好。它提供平面内磁场，其强度可以随着表盘的转动而变化很大。它非常适合学校和大学的教育实验室和物理演示。FLUXuni: FLUXuni是一款高质量的仪器，旨在为科学和工业应用提供无与伦比的简单性，可靠性和坚固性。它提供了高度均匀的平面内磁场，其强度可以随着表盘的转动而变化超过一个数量级。FLUXmoto: FLUXmoto的设计符合科学和工业应用中蕞严格的标准。它提供高度均匀的平面内磁场，具有精确的电机控制强度和方向，并具有实时磁场显示。磁场强度的变化可以超过一个数量级，方向可以达到360°。可调谐磁场源应用方向：&bull 磁性材料特性&bull 晶圆测试&bull 自旋电子学&bull 量子自旋技术(如钻石显微镜)&bull 核磁共振(NMR)&bull 研究实验室磁场控制可调谐磁场源产品规格：&bull 蕞大磁场强度: 0.29 T (specified), 0.32 T (typical)&bull 蕞小磁场强度: 0.10 T (specified), 0.07 T (typical)&bull 均匀度: +-2.5% @10mm正方形区域&bull 可调谐性: 平面内的场强和方向&bull 尺寸: 150x150x100mm (WxDxH)&bull 有效样品面积: 15x15mm&bull 重量: 6.5 kg&bull 温度范围: 0-50°C&bull USB供电&bull 无需制冷可调谐磁场源特性：&bull 电动升降台控制磁场强度和方向&bull 触摸屏控制和显示磁场强度和方向&bull 平台提供方便的样品安装&bull 垂直通孔，允许从下面进入样品(例如，用于倒置显微镜或激光进入的集成）&bull 大样品空间(例如，允许使用大体积样品或与微波谐振器集成）&bull 保持架安装兼容和侧面安装，允许容易集成与其他设备可调谐磁场源可选项：&bull 高温稳定场&bull CTS:结晶热塑性样品平台请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。

C1si是一款革命性的真实光谱成像激光共聚焦显微镜。它具有令人惊叹的高性能，单次拍摄即可获取32个通道的荧光全光谱数据，带宽可达350nm。 C1si能够方便地在光谱成像模式和标准成像模式之间快速切换，使其应用范围极其广泛。通过对不同荧光标记所发出的重叠光谱进行拆分，C1si能够显著的改善对活体细胞的动态观察，并且更易于获取详细的精确数据。C1si技术领先、通用性强、扩展性高、升级方便，是一款特别适合大型综合科研平台使用的激光共聚焦显微镜。 § 速度――显著减少了图像拍摄时间,同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创） § 精度――真正的光谱图像,获取实际的荧光颜色,出色的误差及偏差校正能力（尼康独创） § 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子,具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创） § 易用性――轻松获取光谱图像 § &ldquo 可编程的荧光阻挡滤光片&rdquo § 轻松对光谱图像进行动态拍摄 § 极佳的多功能性 § 模块化设计 (1) 速度――显著减少了图像拍摄时间 ۞ 同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创） C1si采用32通道多阳极PMT，这在所有同类厂家的共聚焦显微镜中是最多的；并采用了多个高速数字转换电路以及LVDS（低压差分信号）高速串行传输技术等创新技术，通过一次扫描即可获取完整的32个通道的光谱图像。这能够显著减少成像时间，从而可以实现光谱实时观察。 ۞ 一步可获得320nm范围的光谱 可以将波长分辨率高为2.5、5以及10nm。分辨率设为10nm时，一次扫描即可获取完整的320nm范围内的光谱，这种能力是先前的光谱成像系统无法比拟的。 ۞ 对活体细胞伤害较小 仅使用一次激光扫描便能获取较广波长范围内的光谱图像，从而使激光强度和PMT增益的调节过程变得简单，快速。同时也极大的降低了激光对标本的照射时间，从而将荧光漂白及标本损害降至最低。C1si 光谱成像系统对活体细胞和组织的伤害非常小！ (2) 精度――真正的光谱图像 　 ۞ 获取实际的荧光颜色 获取的光谱具有高度的可靠性和精确度，因此能够检测到荧光光谱的峰值波长以及光谱形状的差异，既可以用伪彩色模式显示细微结构，也可以用真彩色模式进行观察。 　 ۞ 出色的误差及偏差校正能力（尼康独创） 使用高精度矫正技术确保光谱的精度，这些技术包括使用发射谱线进行波长校正以及利用NIST（美国标准技术研究院）可溯光源进行发光度校正。 同时，采用多阳极PMT灵敏度矫正技术（尼康独创）可以对每个通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正，这样研究人员便可以将设备间的测量误差和偏差降至最低。 　 ۞ 高波长分辨率（尼康独创） 波长分辨率可达到2.5nm，共有三种分辨率可选（2.5、5、10nm）且分辨率不受针孔大小影响。 (3) 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子 ۞ 具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创） C1si的光谱探测器中采用了尼康具有专利的DEES（衍射效率增强系统）进行偏光控制，使衍射效率增强50％，极大提高了亮度。通过对齐光的偏振方向，优化了衍射光栅的效率，从而获得了极佳亮度的图像。尤其是增加了长波长范围内的衍射效率，从而提高了整个可见光范围内光谱数据的亮度和线性。 　 ۞ 多阳极PMT 光谱成像探测器采用最新研发的激光屏蔽机构。不管采用哪种光谱分辨率、哪个激光管，此机构可以有效的阻挡反射后遗漏的激光，这使得C1si几乎适合使用所有类型的激光。 　 ۞ 高效荧光传输技术（尼康独创） 荧光光纤的端部和探测器表面，使用具有专利技术的防反射涂层，可将信号损失降至最低，极大提高了光的传输效率。 　 ۞ 双积分信号处理技术（尼康独创） 最新研发的DISP（双积分信号处理）技术已经在图像处理电路中采用，以便提高电路效率，防止在模数转换时发生信号损耗。信号在整个像素时间内都被采集，从而获得了更完整的数据，增强了信号，提高了信噪比。 (4) 易用性――轻松获取光谱图像 　 ۞ 快速切换探测器模式 只需打开扫描头上的开关即可从标准共聚焦成像切换至光谱共聚焦成像；EZ-C1软件的界面能够自动切换。 　 ۞ 快速设定参数 光谱探测器的每个参数都可以使用鼠标操作菜单轻松的进行设定，如激光波 长、波长分辩率或者拍摄的波长范围。设定好参数后，即可使用共用的成 像步骤执行光谱成像。您可以保存参数配置文件以备日后使用。Binning功能可以增加亮度。因此，确定目标区域时，用户可以降低激光的强度以减少对标本的伤害。 　 ۞ 一次单击即可获取光谱共聚焦图像 一旦完成光谱探测器的设定，即可通过单击"Start"(开始）按钮获取光谱共焦图像。 　 ۞ 一次单击即可拆分荧光 即便不指定参考光谱，而只在图像内确定ROI（感兴趣区域）并且单击"Simple Unmixing" (简单分离）按钮也可拆分荧光光谱。当您希望指定拆分""后每个荧光探针将显示的颜色时，请使用"Unmixing"（拆分）按钮。C1si包含一个内置的荧光探针生产商提供的光谱数据库，它可被指定为荧光拆分时的参考光谱。用户也可以将新的荧光探针的光谱信息添加至数据库。

仪器简介：功能特点测量精度高；方便快捷地分析样品的表面形貌和粗造度；分辨率高，景深大，清晰观察不同焦平面上的图像信息；共焦切层，三维重组，多角度观察；对不同时间，不同位置的图像进行无缝拼接，再现性强；可获得亚微米级的线宽、面积、体积、台阶、线与面粗造度，透明膜厚等几何参数测量数据。技术参数：原理用激光作光源,在试样表面反射进入显微镜的光线经微小的针孔(试样上点与针孔对应形成共聚焦),才能成像的光学系统,阻断干扰和杂散光来提高图像清晰度,获得大景深的显微观察方式。主要特点：应用领域微米和亚微米级部件的尺寸测量,表面形貌观察 半导体芯片表面形貌观察,非接触型的线宽,台阶深度等测量 摩擦学磨痕的体积测量,粗造度测量,表面形貌分析。

激光聚焦物镜 通常，工业激光的应用需要比最佳形式单线透镜和标准显微镜物镜更高程度的像差校正。在更大的光圈、多个波长或更宽的视场上进行校正，都可能需要使用激光聚焦物镜。我们具有各种各样的标准设计以及定制选项，以满足许多苛刻的应用。 特点：◆达到衍射极限的性能◆空气间隔高伤害阈值◆消色差和消色差设计◆理想的紫外准分子和高功率YAG激光器◆透过率大于97% 应用：◆激光微加工◆激光划片◆激光光切除◆光学/激光显微光刻法 光学部件40多年来，Special Optics制造了精密的机械支架和定位器，旨在提供激光束扩展器和聚焦目标的精确定位。我们选择的精密机械是对特种光学系列高性能激光束扩展器的极大补充。这些螺纹适配器与50-25和50-51系列光束扩展器兼容，可用于将光束扩展器直接安装到激光器或其他螺纹光学元件上。v型块安装是稳定的不可调节的安装，用于50和52系列扩展器。直径在25 - 45mm之间建议使用型号60-16-25，直径在46 - 80mm之间建议使用型号60-16-26。波片偏振特性：◆空气间隔设计◆损伤阈值(500mw /cm2)◆最小插入损耗 零波片或多波片是由两个取向的石英晶体片构成的，因此光轴是正交的。所有特殊光学零阶波片都是空气间隔设计，由两块水晶石英组成。我们的大规模生产使我们能够匹配波片的一半，因此可以在248-1600nm范围内组装任何波长的延迟板。消色差波片类似于零阶波片，但不是用晶体石英片设计的，而是由一块晶体石英和一块氟化镁(MgF2)组成。由于不同的波长依赖值由于波长变化而发生的位移将获得补偿。因为水晶石英和MgF2都有正双折射，消色差波片对对准很敏感，建议只用于准直光束。消色差波片采用空气间隔设计，比零波片或多个波片提供更宽的带宽，比聚合物波片提供更高的损伤阈值。 规格：◆AR涂层:每表面反射率 0.05%◆材料:石英◆并行度: 1 Arc Second◆延迟公差:+/- 0.005 Waves◆波前畸变:1/8 Wave 可定制的显微镜物镜Special Optics是高分辨显微镜物镜的领先设计和制造商。这些精密光学用于生命科学，量子物理，超冷原子和物理研究领域以及工业应用。除了预先设计的镜头外，还接受定制设计的镜头。 我们专注于设计和制造定制的显微镜物镜能很好的服务于科学研究以及工业制造，他们复杂的应用的需求对于市面上现成的显微镜来说是达不到的。我们的设计0.3mm至55mm的工作距离，覆盖从可见光(390-750nm)到近红外(700-1400nm)的波长，并且可以适应高湿度，油和真空环境，外壳为不锈钢，聚醚酰亚胺和钛。 所有的镜头设计都可以根据您的应用进行定制。◆特殊镜片的例子:◆高透射率(~ 350nm)用于激光显微解剖◆特殊物镜膜片钳应用于重要的脑切片，允许使用惰性浸入物镜测量单个离子通道◆红外优化多光子物镜成像深层神经元组织切片◆水、甘油、油和多次浸泡物镜，对样品介质具有正确的折射率，对较厚的样品具有无像差成像

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式

成贯仪器提供奥林巴斯OLS4500显微镜报价，同时包括奥林巴斯探针扫描显微镜OLS4500图片、奥林巴斯显微镜OLS4500参数、奥林巴斯纳米检测显微镜OLS4500使用说明书、奥林巴斯显微镜OLS4500价格、奥林巴斯显微镜OLS4500维修、奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS4500经销商价格等信息，为您购买奥林巴斯OLS4500显微镜提供有价值的产品因为有我，所以会更好，成贯专业、诚信、值得信赖成贯仪器——显微系统、光学仪器、外科手术设备、实验室耗材等供应商LEXT OLS4500是一款集成了激光显微镜和探针扫描显微镜功能于一体的新型纳米检测显微镜，可以实现从50倍到最高100万倍的超大范围的观察和测量。OLS4500为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。配有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法，不会丢失观察对象。此外，该款显微镜可以进行纳米级观测。电动物镜转换器切换倍率和观察方法涵盖了低倍到高倍观察，并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此，先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法，可以容易的发现观察对象。此外，对于光学显微镜难以找到的观察对象，还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉（DIC）观察中，可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后，所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速，正确的把观察对象移到SPM显微镜下面，所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。 一体机的机型，所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。 OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机，所以无需重新放置样品，即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能，所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法，迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源，可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜，涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长，除了最常使用的明视场观察（BF）以外，还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比，达到视觉立体效果的微分干涉观察（DIC），以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外，OLS4500上还配有HDR功能（高动态范围功能），该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成，来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差，添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金 相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。 简易偏振光照射偏振光（有着特定振动方向的光线）， 使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成，可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外，还可以强调纹理（表面状态），进行更精细的观察。 使用激光显微镜，可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜， 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉（DIC）模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。【接近】迅速发现观察对象，在SPM上正确完成观察实现了无缝观察，不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜， 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中， 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心， 所以把观察目标点对准该位置后， 只要切换到探针显微镜， 就能够正确接近观察对象。因此， 只需1次SPM扫描就能获取目标影像， 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。 不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前， 可以在向导画面上设置所需的条件， 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。 【纳米级测量】简单操作，可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头，减少了影像瑕疵OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端，所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此，新开发的小型SPM测头提高了刚性，所以与传统产品相比，减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。新开发的小型SPM测头使用向导功能，自由放大SPM影像使用向导功能，可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描， 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围， 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围 优异的分析功能，应对各种测量目的OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像，并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析（曲率测量、夹角测量）粗糙度分析形态分析（面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比）评价高度测量（指定线、指定面积）粒子分析（选项功能） 曲率测量（硬盘的伤痕）跟从向导画面的指示，可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时， 使微悬臂进行静态扫描， 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜 动态模式使微悬臂在共振频率附近振动， 并控制Z方向的距离使振幅恒定， 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。 铝合金表面 相位模式在动态模式的扫描中， 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。 高分子薄膜 电流模式对样品施加偏置电压，检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外，还可以进行I/V测量。 Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像（左）中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像（右）中显示 为蓝色（电流不经过的部分）。通过上图，可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。 表面电位模式（KFM）使用导电性微悬臂并施加交流电压， 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电， 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM（Kelvin Force Microscope）。 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布，可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。 磁力模式（MFM）在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描，检测出振动的微悬臂的相位延迟， 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM（Magnetic Force Microscope）。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。 装配了激光扫描显微镜，灵活应对多种样品 轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A.的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405nm激光性能），LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。 LEXT 专用物镜 有尖锐角的样品（剃刀） 高度分辨率10nm，轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4500达到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术，OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外， 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”（测量值与真正值的接近程度）和“重复性”（多次测量值的偏差程度）的性能。0.12μm行间距高度差标准类型B,PTB-5, Institut für Mikroelektronik,Germany,6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小，而通过设置，OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像，从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此，还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量，也可用于信息量较多的面粗糙度测量 越来越重要的表面粗糙度测量近年来，工业产品越来越趋于小型化和轻量化，所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化，除了形状测量以外，表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求，ISO规定的立体表面结构测量仪器中，添加了激光显微镜和AFM（ISO 25178-6）。因此，与传统的接触式表面粗糙度测量相同，非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中，除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点，并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的，分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。焊盘,激光显微镜的面粗糙度测量（105μm×105μm） 探针显微镜的面粗糙度测量（10μm×10μm） OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount 适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str OLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400 nm到800 nm）， 利用其反射光成像， 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品， 还可以切换观察方法， 强调样品表面的凹凸， 利用物质的特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。&bull 明视场观察 最基本的观察方法，通过样品的反射光成像进行观察&bull 微分干涉观察 给样品表面的微小凹凸添加明暗对比，使之变为可视的立体影像&bull 简易偏振光观察 照射偏振光（有着特定振动方向的光线），把样品的偏光性变为可视影像明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点 激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜（LSM:Laser Scanning Microscope)光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长，采用短波长的激光扫描显微镜（LSM）比采用可见光的传统显微镜，拥有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。激光显微镜的高精度XY扫描（示例） 卓越的Z轴测量激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。高度测量（微透镜） 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)探针显微镜（SPM）是通过机械式地用探针在样品表面移动，检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用，同时进行扫描，从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜（AFM），它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌，可以捕捉到样品最精细的一面。探针显微镜的原理 通过微悬臂扫描进行纳米观察OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指定位置，从而正确读取Z方向的微小位移。SPM传感器光路图 多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性探针显微镜拥有多种观察模式，可以观察、测量样品表面的形状，还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。&bull 接触模式：在影像中呈现表面形状（较硬的表面）&bull 动态模式：在影像中呈现表面形状（较软的表面、有粘性的表面）&bull 相位模式：在影像中呈现样品表面的物性差&bull 电流模式*：检测出探针和样品之间的电流并输出影像&bull 表面电位模式（KFM）*：在影像中呈现样品表面的电位&bull 磁力模式（MFM）*：在影像中呈现样品表面的磁性信息 * 该模式为选项功能。高分子薄膜 决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm～200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针， 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。 高精度微悬臂实现了高可靠性探针显微镜的平面分辨率由探针前端的直径决定。奥林巴斯独自开发、生产微悬臂，其探针前端的尖锐直径质量稳定，可靠性很高。此外，奥林巴斯的一系列独创设计—使探针定位更加容易的“TipView”构造、镊子型易于夹取物体的“新概念探针”等，不仅提高了观测精度，还使操作变得更加轻松。 ※微悬臂产品的详细信息，请参阅微悬臂产品目录。 OMCL-AC160TS-C3 標準标准硅胶微悬臂高Q值带来的高分辨率测量 该型号是最常使用的动态模式专用微悬臂，适用于表面粗糙度测量。 OMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶微悬臂可用于再现性较好的粘性和弹性测量该型号作为动态模式专用的硅胶微悬臂，其弹簧常数最小《2N/m(Nom.)》,适用于粘性、弹性的测量等。 OMCL-TR800PSA-1 标准氮化硅微悬臂低损耗、优异的耐久性该型号常用于接触模式，其特点是探针柔软、探针损耗较小。每个前端带有100μm和200μm长两种微悬臂。 兼容多种微悬臂。微悬臂更换方法简单而易于掌握请根据您的使用频度定期更换微悬臂。OLS4500上的电动物镜转换器、SPM测头、微悬臂支架已经被精确调整过，所以只要把已调好微悬臂位置的支架插入SPM测头中即完成更换。微悬臂和支架的位置调整需要使用专用工装夹具，所以谁都可以正确而轻松的完成操作。此外，其他各种型号的微悬臂也按照同样方法更换，提高了观察和测量的效率。 微悬臂位置调整专用工装夹具 应用DVD表面（扫描区域 5μm×5μm 3D影像） 可清楚观察到DVD刻录面的凹陷和表面状态。维氏硬度计压痕（扫描区域 20μm×20μm 3D影像）可清楚观察到从压痕顶角延伸的裂痕。 TiO2单结晶电路板（扫描区域 5μm×5μm 3D影像） 可观察到约0.3 nm的TiO2（二氧化钛）的原子台阶。IC元件圆孔（扫描区域 4μm×4μm 3D影像） 可观察到元件表面附着的微小异物（白色部分）。 高分子薄膜（扫描区域 10μm×10μm 3D影像） 可观察到薄膜表面的划痕（中间靠左）。铝合金阳极氧化膜（扫描区域 1.8μm×1.8μm 表面电位模式（KFM模式）,左：高度影像,右：电位影像）观察到铝合金阳极氧化膜的表面形状（左）的同时，观察到表面电（右）。形状影像上没有显示出来的网眼状构造，可在电位影像上清楚的看到。 彩色印刷光学显微镜（50x）彩色印刷SPM（扫描区域 5μm×5μm 3D影像）乳酸菌LSM（扫描区域 100μm×100μm）乳酸菌SPM（扫描区域 20μm×20μm 高度影像） 墨粉粒子LSM（扫描区域 80μm×80μm 右上：10μm×10μm） 主机 规格LSM部分光源、检出系统光源：405 nm半导体激光、检出系统：光电倍增管总倍率108～17,280X变焦光学变焦：1～8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下（L＝测量长度）彩色观察部分光源、检出系统光源：白色LED、检出系统：1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦：1～8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片：U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm（电动载物台）SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式（KFM）*、磁力模式（MFM）*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y：最大 30 μm x 30 μm、Z：最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位，更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg（不包含电脑桌）额定输入100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz*该功能为选项功能。物镜规格型号倍率视场工作距离（W.D.）数值孔径（N.A.）MPLFLN5X108-864X2,560-320μm20.0mm0.15MPLAPON20XLEXT432-3,456X640-80μm1.0mm0.60MPLAPON50XLEXT1,080-8,640X256-32μm0.35mm0.95MPLAPON100XLEXT2,160-17,280X128-16μm0.35mm0.95微悬臂规格用途型号类型探针数量微悬臂探针材质金属膜涂层共振频率(kHz)弹簧常数(N/m)高度 (μm）前端半径(nm）探针/微悬臂探针涂层/反射涂层动态模式/相位模式OMCL-AC160TS-C3标准硅胶2430026147Si/Si无/AlOMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶24702147Si/Si无/Al接触模式OMCL-TR800PSA-1标准氮化硅3473/240.57/0.152.915SiN/SiN无/Au表面电位模式OMCL-AC240TM-B3电气测量专用硅胶187021415Si/SiPt/Al微悬臂、探针的机械特性及尺寸均为代表值。 微悬臂非常小，请注意不要伤到眼睛或不小心吞咽。 电流模式、磁力模式中使用的微悬臂的详细信息，请咨询经销商。 除上表以外，还有其他规格的微悬臂。

NS3500三维激光共聚焦显微镜NS-3500是一种精确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Software (软件）：Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specifications：ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]注 1长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元专用 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统有源隔离器Option精细和长距离扫描仪的双重扫描模式仅适用于NS-3500-S（单镜头类型）。 注1:精细扫描由压电执行器（PZT）执行。注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量。 注 3 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（5μm间距）进行100次测量。Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

K1-Fluo Pro 多功能科研级激光荧光共聚焦显微镜 K1-Fluo Pro是韩国Nanoscope Systems 共聚焦显微镜公司为化学，医疗，生物，材料等领域而开发的一款多功能激光荧光共聚焦显微镜。 优异的光学组件，性能以及出色的性价比吸引了大批的海内外用户. 模块化的设计，开放性的设计理念使得K1-Fluo 的激光控制模块能够与Nikon,Olympus,Zeiss,Leica 的商用显微镜模块兼容Features & Benefits（性能及优势）：1. 高清晰的图像质量2. 开放式的设计模块3. 与各种商用显微镜主体兼容4. 操作简单5. 高性价比6. 可更换的模块主要功能：1.实时模式 在Live 模式下时，可通过移动物镜的位置并调节Detector Sensitivity并且可以实时观察图像的变化，以此获得高清晰的荧光图像。2. 二维图像测量 在Live 模式下时，点击Manual SNAP 可测量当前条件下的二维图像，若对当前测量的图像不满意，可再次选择测量的激光波长，调节测量条件后再次测量，可覆盖之前测量结果 。3. Z-SNAP (2D深度图像构建) 通过设置激光波长、扫描深度、光学切片的间隔，总的光学切片数等测量条件，并且通过计算机进行数据拟合，可获得一张二维图像深度照片，可以将不同深度的细胞全部显示在一张图像上。（当样品倾斜时非常适用）4. Z-STACK (3D构建） 通过设置Scan range, Interval, # of section等测量条件后，系统可以自动进行测量。 3DViewer三维图像软件可对图像的三维荧光形貌以及荧光强度进行分析， 或者可以对测量每一张测量的二维荧光图片进行单独的分析，调节LUT并导出特定区域的强度值，而且可以通过K1-image软件测量荧光部分的三维尺寸。 5. Video 功能 通过快速连续摄影的方式可以获得大量帧数的图像，通过电脑可将这些图像连接成一个视频。在对活体细胞增殖，以及研究抗癌药物对活细胞作用时非常有用。6. Stitch and EDF stitch（平面拼接与深度拼接） Stitch 是平面拼接功能，只扫描并拼接同一焦平面上的图片。 EDF stitch是在每一个扫描点同时做Z-SNAP 和Stitch(优点是可以看到深度图像，缺点是耗时比较长）7. Time lapse (延时） 通过设置拍摄的时间间隔以及需要拍摄的总张数，可以设置延时功能（特别适合追踪细胞活动以及观察细胞的增殖）8. Automatic Well Plate scanning （自动孔板扫描） 选择该功能后，根据所选的孔板类型，将会自动出现每一个对应的孔板坐标，单击每一个坐标，可将物镜自动移动到对应的孔板然后进行扫描。9. DIC 配置有微分干涉系统，可以观察细胞的干涉图像。10. 倒置/正置任意切换 配置有两套独立的正置与倒置系统，可根据使用时的需要在正置模式和倒置模式之间任意切换11. Jog Dial 配有两套独立的Jog Dial 操作控制系统，保证正置与倒置模式下的X,Y stage 相互独立运作，互不干扰。Software（软件）：Z-stack（3D 构建）：Z-STACK是利用Z轴的上下移动获得垂直方向的光学切片然后构建3D图像，选择用户想要的测量方法后（有三种测量方法可供选择：Top/bottom, Center/Range, Upper/Lower），设置Z轴的扫描范围（Scan range)，光学切片的间隔（Interval），光学切片的张数(# of section)Time lapse（延时功能）：Application field(应用领域）：Specifications（参数）：激光模块激光波长基础波长405, 488, 561nm (7mW each)可选波长445, 473, 514, 532, 637, 640, 660, 685, 705, 730, 785nm (10mW or more), selectable up to four lines扫描模块K1-Fluo RT扫描仪共振扫描器和检流镜扫描分辨率128x128 ~ 2048x2048 可选扫描速度30fps at 512 x 512 pixels (Bi-scan)15fps at 512 x 512 pixels (Uni-scan)放大范围0.7x~3x 连续扫描区域12.5mm的平方除以物镜放大倍数(场数18)扫描模式xy, xyz, xt, xyt, xyztPinhole自动切换Pinhole大小 (0.5~10 Airy size)重量7kg探测器模块探测范围400-750nm or NIR 可定制 探测范围标准高灵敏PMT低光模式超高灵敏GaAsP PMT基础模式带一个 PMT 的六轮滤光片转盘连续切换探测探测器数量Multi-ch 模式高达4个 PMTs 同步检测Emission filter自动滤片切换转轮或单个可更换滤片数据深度12bit重量1.5 kg显微镜模块正置或倒置数字显微镜体(DMB)或商用显微镜主体 带侧孔的尼康，奥林巴斯，蔡司，徕卡商业显微镜X，Y 位移台电动/手动位移台 行程范围 115x75 mm （可定制）， 可支持：载玻片，孔板，培养皿等Z-驱动自动位移台15mm行程 / 250nm 小步距.PZT 位移台 (单个物镜)400um 行程 / 1nm 步距配件Jog dialDIC(微分干涉）样品载物台（5个）磁悬浮隔振台选配：细胞孵化器物镜：支持空气物镜，油镜，水镜等多种规格的物镜气浮隔振光学平台空气压缩机重量12kg电子模块控制器电子器件 半导体激光发射器，扫描模块，探测器模块功耗: 100~240V, 450VA, 50/60Hz重量: 19kgPCPCWindows 10, 64bit功耗: 100~240V, 900VA, 50/60Hz

CTRM 700热反射式激光共聚焦显微镜CTRM700 是韩国?????所研发并由韩国Nanoscope Systems 进行商业化运营的热反射式激光共聚焦显微镜。CTRM 700 利用的是激光共聚焦扫描的方法测量样品表面或内部特定表面上温度变化引起的反射率变化的分布来获取样品的热分别图像。Principles & Benefits（性能及优势）：热反射显微镜（Thermal Reflectance Microscope) 是一种基于测量样品表面光反射率变化而测量样品温度变化的一种技术。共聚焦热反射显微技术是一种激光扫描共聚焦方法，它可以在局部区域获得比传统热成像技术（红外成像技术）更高分辨率的热成像图像。Application field（应用领域）：半导体器件热特性的测量与分析：-柔性显示面板缺陷检查-OLED内部缺陷检查-高输出功率装置发热特性的测量与分析-传感器单元的红外图像分析-氧化物薄膜晶体管的热特性-3D堆叠半导体热特性的测量分析-OLED 器件的热特性分析-气体传感器的MEMS装置的热特性测量和分析-InGaZnO薄膜晶体管的发热特性及可靠性分析Specification（规格）ModelMicroscope CTRM 700物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统测量高度 7 mm 分辨率横向分辨率0.3 μm轴向分辨率0.8 μm热分辨率1℃Image size共聚焦模式1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96热成像模式1024x768帧速率共聚焦模式10 Hz to 160 Hz热成像模式0.3 Hz激光共焦测量光源波长638 nm输出~2mW激光等级 Class 3b光学显微镜光源LED10W光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480数据处理单元PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~14 kg)控制器~8 kg

RAMAN-11是由日本Nanophoton公司推出的新一代快速、高精度、面扫描激光拉曼彩色成像系统。作为三代Raman系统的RAMAN-11，则具备的快速、高分辨率成像的特点。相对于原来的传统而言，RAMAN-11的成像速度是其他常规Raman系统的300-600倍，一般在几分钟之内即可获取样品高分率的拉曼图像.是一款具有高速、高分辨率成像功能的拉曼显微镜。创新性技术--实现高速、高分辨率拉曼成像激光束扫描 &bull 高速扫描成为可能 &bull 利用光束扫描的无震动和无漂移特点，成像更为清晰多光谱同步测量 &bull 高速、高分辨率拉曼成像通过采用线形拉曼散射光获得， 每一条扫描线都含有400个立的光谱线形照明 &bull RAMAN-11采用线性照明，产生线形RAMAN散射光 &bull Nanophoton发展了一套特殊的光学系统，确保光强的均匀分布狭缝聚焦 &bull 共聚焦光学系统实现高分辨率拉曼成像 &bull 同一共聚焦光学系统用于快速拉曼成像 RAMAN-11系统应用案例快速区分单层与多层石墨烯激光源：532nm,物镜：100X，NA=0.9，光谱数：67，600（400*169）,测量时间：5分30秒通过RAMAN-11可以对不同层数的石墨烯快速成像。以350纳米的高空间分辨率，仅用5分钟的测量时间即可识别从单层到四层的石墨烯及其分布。更多信息......高灵敏度：Si四峰的测量 良好的共聚焦光学设计保证了对焦 外空气信号的高效抑制，并使弱的 硅四峰信号也能被探测到。 高分辨率：传统拉曼系统的5.7倍在100X物镜下，RAMAN-11 的激光斑点尺寸为：350nm*500nm,是传统拉曼的1/5.7，因此在同样的样品上可以得到更加详细的信息，能够为纳米尺寸下的物质鉴别、分布等分析提供更加准确的结果材料应力分布图像分辨率：320(x)× 400(y)=128,000 Spectra，成像时间：16分钟。通过RAMAN-11可以探测到晶体结构的扭曲，如硅材料等。硅的Raman峰位于520cm-1。硅单晶中由于应力的作用，会造成晶格结构的偏离与扭曲。左图通过测量Raman峰的偏离，进而给出了硅单晶表面应力的分布。更多信息......无损伤材料组分剖面分析图像分辨率：300(x)× 120(z)=36,000 Spectra，成像时间：8 分钟上图是通过RAMAN-11的无损探测技术，对多层膜进行的深度剖析。通过联用共聚焦光学系统与面扫描技术，可以成功地探测到深度图像。更多信息......超导材料中组分分布图像分辨率：265(x)× 400(y)=106,000 Spectra，成像时间：120分钟 左图是RAMAN-11探测到的超导样品中各种材料的分布：R: Gd123/a/b oriented；G: CeO2；B: Gd123；C: Gd123/underdoped；Y: NiFe2O4 更多信息......结晶度分析图像分辨率：320(x)× 400(y)=128,000 Spectra，成像时间：27分钟。上图表示由于离子的注入而导致的结晶度的变化。结晶度可以通过Raman峰宽来进行衡量，这是由于二者之间存在一定的关联。结晶度好的样品，其Raman峰比较细窄。更多信息......材料表面各种组分的分布图像分辨率：150(x)× 400(y)=60,000 Spectra；成像时间：5分钟。左图是Raman-11给出的皮肤上某种有机物质的分布图像；相比而言，常规的光学显微镜则没有这种能力（右图）。更多信息......药品组分分析图像分辨率：400(x)× 220(y)=88,000 Spectra，成像时间：11分钟。RAMAN-11以给出药品中，不同组分的分布图像。这些组分通常是以多晶的形式存在，通过RAMAN-11的无损探测技术，可以将这些组分和每种颗粒的大小确定下来。更多信息......

K1-Fluo 激光荧光共聚焦显微镜K1-Fluo 是韩国Nanoscope Systems 共聚焦显微镜公司为化学，医疗，生物，材料等领域而开发的一款多功能激光荧光共聚焦显微镜。 卓越的光学组件，性能以及出色的性价比吸引了大批的海内外用户. 模块化的设计，开放性的设计理念使得K1-Fluo 的激光控制模块能够与Nikon,Olympus,Zeiss,Leica 的商用显微镜模块兼容 Features & Benefits（性能及优势）： 1. 卓越的图像质量 2. 紧凑的模块尺寸 3. 与各种商用显微镜主体兼容 4. 操作简单 5. 高性价比 6. 可定制的模块 主要功能：1.实时模式 在Live 模式下时，可通过移动物镜的位置并调节Detector Sensitivity并且可以实时观察图像的变化，以此获得最佳的荧光图像。2. 二维图像测量 在Live 模式下时，点击Manual SNAP 可测量当前条件下的二维图像，若对当前测量的图像不满意，可再次选择测量的激光波长，调节测量条件后再次测量，可覆盖之前测量结果 。3. Z-SNAP (2D深度图像构建) 通过设置想要的scan range，interval，number of section 可获得二维图像的深度照片（选出每张照片上最亮的点然后合成为一张二维照片，当样品倾斜时非常适用）4. Z-STACK (3D构建） 通过设置想要的Scan range, Interval, # of section后，系统利用测量的二维照片重新构建出三维图像。 通过K1-3DViewer软件可观察分析构建的三维荧光形貌， 并且可以对测量每一张测量的二维荧光图片进行单独的分析，调节LUT并导出特定区域的强度值，而且可以通过K1-image软件测量荧光部分的三维尺寸。5. Video 功能 通过测量多张连续的照片并将其连接起来，可连接成一个视频。 通过重新设置保存视频的帧数可以调节视频的大小。6. Stitch and EDF stitch（平面拼接与深度拼接） Stitch 是平面拼接功能，只扫描并拼接同一焦平面上的图片。 EDF stitch是在每一个扫描点同时做Z-SNAP 和Stitch(优点是可以看到深度图像，缺点是耗时比较长）7. Time lapse (延时） 通过设置拍摄的时间间隔以及需要拍摄的总张数，可以设置延时功能（特别适合追踪细胞活动以及观察细胞的分裂）8. Automatic Well Plate scanning （自动孔板扫描） 选择该功能后，根据所选的孔板类型，将会自动出现每一个对应的孔板坐标，单击每一个坐标，可将物镜自动移动到对应的孔板然后进行扫描。Software（软件）：3-dimensional display (Z-stack)（三维展示）：Z-STACK是利用Z轴的上下移动获得垂直方向的光学切片然后构建3D图像，选择用户想要的测量方法后（有三种测量方法可供选择：Top/bottom, Center/Range, Upper/Lower），设置Z轴的扫描范围（Scan range)，光学切片的间隔（Interval），光学切片的张数(# of section)Time lapse（延时功能）：（延时功能可以记录细胞孵化器内的细胞的增殖，死亡）图像拼接：对设定的区域执行Stitching, 为样品的大范围成像提供了便利。 用户可对Stitching后的图像进行整体分析。Application field(应用领域）：Specifications（参数）：激光模块激光波长基础波长405, 488, 561nm (7mW each)可选波长445, 473, 514, 532, 637, 640, 660, 685, 705, 730, 785nm (10mW or more), selectable up to four lines扫描模块K1-Fluo HDK1-Fluo RT扫描仪两个独立的检流镜共振扫描器和检流镜扫描分辨率128x128 ~ 4095x4095 可选128x128 ~ 2048x2048 可选扫描速度1 ~ 1000hz变量线频率 1.2fps at 512 x 512 pixels 最大.30fps at 512 x 512 pixels (Bi-scan) 15fps at 512 x 512 pixels (Uni-scan)放大范围0.7x to 7x 连续可调0.7x~3x 连续扫描区域12.5mm的平方除以物镜放大倍数(场数18)扫描模式xy, xyz, xt, xyt, xyzt针孔自动切换针孔大小 (0.5~10 Airy size)重量7kg探测器模块探测范围400-750nm or NIR 可定制 探测范围标准高灵敏PMT低光模式超高灵敏GaAsP PMT基础模式带一个 PMT 的六轮滤光片转盘 连续切换探测探测器数量Multi-ch 模式高达4个 PMTs 同步检测Emission filter自动滤片切换转轮或单个可更换滤片数据深度12bit重量1.5 kg显微镜模块正置或倒置专用数字显微镜体(DMB)或商用显微镜主体 带侧孔的尼康，奥林巴斯，蔡司，徕卡商业显微镜X，Y 位移台电动/手动位移台 行程范围 115x75 mm （可定制）， 可支持：载玻片，孔板，培养皿等Z-驱动自动位移台15mm行程 / 250nm 最小步距.PZT 位移台 (单个物镜)400um 行程 / 1nm 步距配件Jog dialDIC(微分干涉）目镜样品载物台（5个） 磁悬浮隔振台 选配：细胞孵化器物镜：支持空气物镜，油镜，水镜等多种规格的物镜 气浮隔振光学平台空气压缩机重量12kg电子模块控制器专用电子器件 半导体激光发射器，扫描模块，探测器模块功耗: 100~240V, 450VA, 50/60Hz重量: 19kgPC专用PCWindows 10, 64bit功耗: 100~240V, 900VA, 50/60HzNanoscope system K1-Fluo 激光荧光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Nanoscope system K1-Fluo 激光荧光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

激光共聚焦显微镜在样品表面同时逐点或多点扫描成像。使您可以在 x、y 和 z 轴上获得高对比度与高分辨率的光学切片。能够为生命科学领域的定量成像提供出色的图像质量。主要特点：l 高分辨率：XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nml 多通道信号检测：支持多通道同时扫描以及分时扫描l 高分辨率：可达8192 x 8192l 超强适配性：采用了标准显微镜镜体，并支持已有显微镜的升级。主要技术参数：CM4000系列共焦显微成像系统激光光源405 纳米（50mW）；488 纳米（50mW）；561 纳米（50mW）；640 纳米（50mW）；模拟/TTL电平调制；强度可调（0-100%）；单模光纤，FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜扫描像素： 8192 x 8192 pixels扫描速度： 4fps（512x512，双向），24fps（512 x 32，双向）扫描模式X-Y，X-Z，Y-Z，X-Y-Z，X-Y-Z-T

C2+共聚焦显微镜是尼康共聚焦产品系列中的一个基本型号。C2+被设计为实验室必不可少的显微镜工具，提供强大而精准的成像能力。高效率的扫描头和检测器与尼康无与伦比的光学元件相结合，可提供出众的共焦图像。高速检流式扫描振镜能以高达100 fps（8倍变焦或更大）的速率运行，可以精确捕捉心肌的快速跳动。该系统可以在一次扫描中同时采集多色荧光和DIC图像。对于需要光谱成像功能的研究，尼康的C2si+系统还提供了专用的光谱检测器单元。C2si+系统可实现高精度和高速32通道光谱成像或高灵敏度光谱成像。C2+共焦系统以卓越的稳定性和操作简便性为基础，结合卓越的光学技术，是必不可少的实验室工具。『高速采集高清图像』检流式高速扫描能够对活细胞中的快速动态事件进行共焦成像，例如心肌细胞的跳动。在传统的共焦系统中，快速双向扫描会导致像素偏移。然而，C2+共焦系统的像素偏移校正机制确保即使在快速双向扫描下也能获得最高质量的图像。▲用 Fluo-8 AM 和 MitoTrackerOrange 标记的大鼠原代心肌细胞用组胺刺激(15 fps)『高画质的图像』◣高效率的扫描头和探测器凭借便捷的小尺寸扫描头，C2+可与各种类型的尼康显微镜配合使用。C2+采用高精度镜面和光学优越的圆形针孔，将检测器分开，隔离热源和噪音源，实现低噪音、高对比度和高质量共焦成像。新开发的扫描驱动系统和尼康独特的图像校正技术允许8 fps（512 x 512像素）和100 fps（512 x 32像素）高速成像。 ◣高性能光学系统CFI复消色差Lambda S系列物镜高数值孔径（NA）物镜可在波长从紫外到红外的范围内提供色差校正，是多色共焦成像的理想选择。特别是，LWD Lambda S 40XC WI镜头具有极宽的从405 nm到近红外的色差校正范围。所有这些物镜都使用尼康独有的纳米结晶涂层技术，大大增强了光学传输性能。CFI Apochromat LWD Lambda S 20XC WI, NA0.95 CFI Apochromat Lambda S 40XC WI, NA1.25 CFI Apochromat LWD Lambda S 40XC WI, NA1.15 CFI Apochromat Lambda S 60X Oil, NA1.49CFI复消色差TIRF系列物镜TIRF系统物镜拥有前所未有的1.49数值孔径（使用标准盖玻片和浸油），这是尼康物镜中的最高分辨率。其高性能的 校正环设计可以优化点扩散函数以适应不同的环境温度，无论您是在室温还是37摄氏度下成像，均可确保最高质量的共焦图像。CFI Apochromat TIRF 60X Oil, NA1.49 (left) CFI Apochromat TIRF 100X Oil, NA1.49 (right)◣高清晰度DIC图像C2 +可以同时获得三通道荧光或同时三通道加透射DIC观察。可以叠加高质量的DIC图像和荧光图像以帮助形态分析。DIC image (left)Overlay of DIC and fluorescence images (right)『直观的操作』NIS-Elements成像软件卓越的可操作性和多样化的分析功能可以满足初学者和经验丰富的共焦用户的需求。此外，NIS-Elements不仅可以直观操作尼康显微镜，而且还可以驱动第三方外围设备展开更为广泛的实验。◣多模式功能各种成像方法，如共焦，宽场，TIRF，光活化，以及采集图像的处理，分析和呈现，都可以在一个软件包中找到。用户可以轻松学习如何使用通用界面和工作流程来控制不同的成像系统。▲直观易懂的光路设置：激光、探测器等▲扫描参数设置◣快速准确的光谱成像 | C2-DUS光谱检测器单元01 | 高速光谱成像在0.6秒内单次扫描获得32通道光谱图像（512 x 512像素），且可以24 fps捕获512 x 32像素的图像。▲光谱分析界面02 | 准确和高速的拆分准确的光谱拆分在分离紧密重叠的荧光光谱和消除自发荧光方面提供了最佳性能。高级算法和高速数据处理功能可在图像采集过程中实时拆分。▲鬼笔环肽-Alexa 488染色表达H2B-YFP的HeLa细胞的肌动蛋白用488 nm激光激发捕获500-692 nm范围内的光谱图像左：光谱图像，右：拆分后的图像(绿色：AlexaFluor488，红色：YFP)大阪大学医学院 Yoshihiro Yoneda博士、Takuya Saiwaki博士03 | 宽带光谱成像利用从最多八个波长中选择的四个激光器同时进行激励，可在更宽的频带上进行光谱成像。04 | 虚拟滤光片功能通过从32个通道中选择与使用中的荧光探针的光谱相匹配的所需光谱范围并将它们组合以执行过滤功能，可实现无滤光片强度调整◣明亮的光谱成像 | C2-DUVB GaAsP探测器单元01 | 高灵敏度的光谱图像采集通过GaAsP PMT，C2-DUVB可调谐发射检测器可灵活检测荧光信号，灵敏度更高。02 | 可变采集波长范围用户定义的发射带可以收集选定波长范围内的图像，取代固定带宽发射滤光片的需求。用户可以将发射带宽范围定义为10nm。多标记标本的光谱图像可以通过在改变检测波长的同时捕获一系列光谱图像来获取。基于该应用，可在C2-DUVB上选择虚拟带通模式和连续带通模式。▲左：VB(可变带通)模式拍摄的三色荧光图像中：VB模式支持5色荧光成像右：CB(连续带通)模式可以拍摄多达32通道的光谱图像03 | 可选第二个通道检测器可选的第二个GaAsP PMT提供灵活的检测。通过插入分色镜，用户可以将选定的波长转移到第二个固定带宽发射通道，同时利用第一个通道上用户可定义的发射波段。第二个检测器允许FRET，比率成像和其他需要同时进行多通道成像的应用。04 | 准确的光谱拆分使用参考样本的光谱或采集的图像中的光谱，可以对光谱重叠的多色图像进行精准拆分。『强大的灵活性』C2 +可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜配合使用，并可与各种高质量研究实验系统结合使用。所有这些都可以使用NIS-Elements软件进行控制。▲TIRF / Photoactivation / C2+多模成像系统凭借高效的光纤切换系统，LU-NV激光器可支持多种激光应用，如C2 +，TIRF和光激活。这使得高分辨率共焦成像，单分子成像，光敏化和光转换荧光蛋白等成像应用全部集成在同一个显微镜平台上。▲AZ-C2 +微共焦显微镜系统AZ-C2+ 宏观共焦系统可实现高分辨率大样本（ 1cm）的共焦图像采集。具有超高信噪比的全胚胎或大型组织切片的令人惊叹的大视场。此外，AZ-C2+共聚焦提供了低倍和高倍物镜，可变光学变焦和共焦扫描变焦功能的组合，可以通过一台显微镜从宏观到微观进行连续成像，使得宏观样本的体内共焦成像成为可能。

长宜光科激光共聚焦显微镜MEAGLE100的卓越性能不仅在硬件配置方面迈出了坚实的步伐，更是为科研和实验工作提供了前所未有的便捷性和精确性。相对于传统的激光共聚焦显微镜，MEAGLE100引入了一系列创新的功能和自动化装置，从而在多个关键方面提升了其性能，为用户带来了无限的便利和改进。首先，MEAGLE100的自动化拼接测量功能使成像视场更加宽广，用户能够轻松获取大范围的样本图像。这对于需要分析广泛区域或大型组织样本的细胞生物学、病理学和神经生物学研究者来说，是一项重大的突破。不再需要手动移动显微镜，而是可以通过自动化拼接获得完整的图像，从而节省时间和精力。其次，自动化Z轴层扫功能为样本的三维成像提供了支持。这项创新允许研究者获取关于样本深度结构的详细信息，有助于更全面、精确地理解样本的空间特性。这对于药理学、免疫学和其他交叉学科研究具有特别的意义，因为它们通常需要考虑细胞和组织的三维结构。此外，MEAGLE100还引入了反卷积处理技术，提高了图像的分辨率。这意味着用户可以更清晰地观察细胞和组织的微观结构，有助于更准确的定量分析。这对于药理学研究和细胞生物学研究来说，是一项重要的突破。最后，MEAGLE100还配备了AI细胞分析功能，进一步提升了科研分析的准确性。这项功能利用人工智能技术对图像中的细胞和结构进行自动识别和分析，节省了研究者大量的时间，并减少了人为误差。这对于各种研究领域都具有重要意义，特别是需要高精度分析的实验和研究项目。MEAGLE100的广泛应用领域包括细胞生物学、病理学、药理学、神经生物学、免疫学以及其他多个交叉学科。其卓越性能和多功能性使其成为科研人员的得力助手，无论是在基础科学研究、药物研发还是医学诊断领域，都能发挥关键作用。MEAGLE100的引入为科学家们提供了强大的工具，有望在各种领域的研究和应用中推动新的突破和发展。

长宜光科激光共聚焦显微镜MEAGLE 320的卓越性能不仅在硬件配置方面迈出了坚实的步伐，更是为科研和实验工作提供了前所未有的便捷性和精确性。相对于传统的激光共聚焦显微镜，MEAGLE 320引入了一系列创新的功能和自动化装置，从而在多个关键方面提升了其性能，为用户带来了无限的便利和改进。首先，MEAGLE 320的自动化拼接测量功能使成像视场更加宽广，用户能够轻松获取大范围的样本图像。这对于需要分析广泛区域或大型组织样本的细胞生物学、病理学和神经生物学研究者来说，是一项重大的突破。不再需要手动移动显微镜，而是可以通过自动化拼接获得完整的图像，从而节省时间和精力。其次，自动化Z轴层扫功能为样本的三维成像提供了支持。这项创新允许研究者获取关于样本深度结构的详细信息，有助于更全面、精确地理解样本的空间特性。这对于药理学、免疫学和其他交叉学科研究具有特别的意义，因为它们通常需要考虑细胞和组织的三维结构。此外，MEAGLE 320还引入了反卷积处理技术，提高了图像的分辨率。这意味着用户可以更清晰地观察细胞和组织的微观结构，有助于更准确的定量分析。这对于药理学研究和细胞生物学研究来说，是一项重要的突破。最后，MEAGLE 320还配备了AI细胞分析功能，进一步提升了科研分析的准确性。这项功能利用人工智能技术对图像中的细胞和结构进行自动识别和分析，节省了研究者大量的时间，并减少了人为误差。这对于各种研究领域都具有重要意义，特别是需要高精度分析的实验和研究项目。MEAGLE 320的广泛应用领域包括细胞生物学、病理学、药理学、神经生物学、免疫学以及其他多个交叉学科。其卓越性能和多功能性使其成为科研人员的得力助手，无论是在基础科学研究、药物研发还是医学诊断领域，都能发挥关键作用。MEAGLE 320的引入为科学家们提供了强大的工具，有望在各种领域的研究和应用中推动新的突破和发展。

高效型共聚焦成像利器共聚焦成像要求非常出色的成像质量。LSM 800 是一款灵活性强的高效型激光共聚焦显微镜，高灵敏度 GaAsP 探测器和快速线性扫描技术使图像质量达到更优。运用 Airyscan 技术（蔡司革新性检测理念）能够在 X/Y/Z 三个维度上获得超出传统共聚焦1.7 倍的高分辨率，实现缩小 5 倍的共聚体积。灵敏度大大增加。LSM 800 是探索高端共聚焦成像应用的必备工具。仅需要决定现在所需的系统功能，之后可随着需求的增加进行升级。 根据需求量身定制 最多可使用 3 个高灵敏度 GaAsP 探测器 执行快速线性扫描 性能高效 在活细胞成像中拥有出色的灵活性 出众的图像质量 执行精准的定量分析 运用 Airyscan 技术获得超出所有传统共聚焦系统 1.7 倍的高分辨率和高灵敏度开放式接口实现系统扩展 在实验室或中心成像平台中，可以集成活体培养模块和先进的 Axiocam 相机到系统上，充分发挥它们的性能优势 ZEN 成像软件配合“Experiment Designer”模块，能够帮助实验设计人员自动完成日常的复杂成像 轻松实现与第三方软件的数据交换 使用功能强大的开放式应用开发框架（OAD）定义您的应用 使用蔡司 Shuttle & Find 关联显微技术模块，实现 LSM 800 与蔡司电子显微镜的关联应用用于高级共聚焦成像的高效型共聚焦系统LSM 800 具备出色的实用性和经济性： 拥有极高性价比的系统，稳定耐用、操作简便 节省实验室空间和经费开支：LSM 800 拥有占地空间小、设置简单，维护和培训方便，能够自我校准及具有低功耗等特点 整个生命周期内可控制的成本蔡司 Airyscan 助您开启共聚焦成像革新时代Airyscan 是一种阵列探测器，它允许荧光显微镜能够以扩展艾里斑的形式对近似点光源成像。当缩小标准共聚焦显微镜中的针孔大小来阻止非焦平面光穿过时，图像会变得更清晰，但由于损失了大量光信号，所以图像也会变的非常暗。针孔越小，分辨率越高，同时光损失的越多。Airyscan 通过将完整艾里斑成像至同心排列的六角形探测器阵列上，从而解决了分辨率与光效率之间的难题。它由 32 个探测器元件组成，每个元件均被视作艾里装置的子针孔。共聚焦针孔本身打开且不阻止光穿过，因此可以收集整个艾里斑的所有光子。然后，将所有探测器元件的信号重新分配至正确位置，以生成一幅具有高信噪比和分辨率的图像。与其它超高分辨率技术不同，Airyscan 充分利用了共聚焦的扫描和光切片性能。因此，这项技术甚至可用于需要更强穿透度的较厚样品，如组织切片或完整动物载玻片。 具有出色灵活性的流线型光路运用 Airyscan 技术的 LSM 800 的光路拥有高效率，使用少的光元件获得高灵敏度。荧光发射光穿过具有出色激光抑制性能的主二色分光镜来提供更佳图像对比度。使用多达两个拥有专利的可变次级二色分光（VSD）来对荧光发射光信号进行光谱分光。您可以自由定义多达三个探测器：multialkali、GaAsP 或 Airyscan。强劲组合LSM 800 通过提高扫描速度来解析标记蛋白质的快速移动。图像采集速率可高达 8 帧/秒，每幅图像包含 512 × 512 像素。此款显微镜能够连续监测和校正扫描器的位置，以确保稳定平整的观察视野及在整个观察范围内保持恒定的像素曝光时间。这项获得专利的线性扫描方式可以在整个扫描区域内（包含待操作的感兴趣区域）实现恒定信噪比和均匀曝光。LSM 800 使用超过 80% 的扫描时间进行数据采集。相比于正弦扫描系统，信噪比提高了约 29%。实验总是能够提供精确的定量数据。同样，您可以随时通过平移或剪裁调整扫描区域，自由旋转以更好地匹配样品的几何形状。

尼康将共聚焦成像提高到前所未有的水平 尼康新的强大的全自动共聚焦成像系统，能够高速高灵敏度地获得细胞和分子事件的高质量共聚焦图像。前所未有的新光学电子技术创新设计使得A1拥有空前的系统质量和灵活性，是适用于广大用户的理想工具。 | 概述 尼康A1共聚焦激光显微镜系统通过新的创造使得共聚焦成像达到一个新的质量水准并具有多种功能。全自动的A1和高规格的A1R共2个型号可供选择。A1使用传统的成对检流计来获得高至4096x4096解析度的图像， A1R引入一个独特的混合扫描器系统提供贞速达30fps的512x512像素成像。可以便利的在超高速成像时得到卓绝的图像质量。此外，混合扫描器使得同步光活化和成像成为可能，这些对于揭示细胞动力学和相互作用都是至关重要的。 | 独特的混合扫描技术 ? 420fps的超高速成像 A1R加入了一个共振频率为7.8kHz的共振扫描器来达到420 fps (512 x 32像素) 的高速成像。在512X512分辨率下可达到30fps。并且，共振扫描器视野区域和检流计扫描器视野区域完全重合，常规检流计扫描器也可达到10fps（512X512）的速度。尼康独创的光学时钟产生方法在最高速度时也能实现高的图像质量。其光纤通讯数据传输系统最高传输速度可达4 Gbit/s。极高的速度可实时观察血流中细胞的移动（红色：血管；绿色：细胞核，120pfs） ? 光活化同步高速成像 高速光活化成像由于非共振扫描器和共振扫描器集成在一个单元里，不需要另配独立的用来做光活化的激光器，光活化和荧光成像就可以同时进行。拥有可以高速成像的共振扫描器使得光活化后快速变化信号的获取成为可能。光活化释放组胺而引起细胞内的钙离子浓度发生变化，上图显示Yellow Cameleon 3.60 CFP、YFP两基团发生FRET现象的过程（使用457nm激光成像，拍摄速度光活化同步成像速度30pfs）。 何为混合式扫描头 尼康独有的混合式扫描头同时配备检流计与共振式扫描装置，并允许通过超高速选择器灵活转换使用或者同时使用两组扫描装置。 ? 常规检流计扫描器获得高分辨率图像 检流计扫描器单次扫描可获得高达4096X4096分辨率。同时借助新开发的驱动与采样系统，及图像校正科技，可以10pfs（512X512）的速度高速获取图像。四色标记斑马鱼图像（蓝：胞核、绿：瞳孔、黄：神经、红：肌肉） | 增强的萤光探测效率 扫描头中的二向色镜采用平均98%透射率的低角度二向色镜，荧光强度得到30%的增强。 同时采用尼康独有的六边形针孔相对于传统的方形针孔荧光采集量可提高30%。 尼康独特的光学设计使成像更明亮。这样可以使激光曝光强度最小化，减少了细胞损伤。 | 磷砷化镓（GaAsP）高灵敏度探测器 尼康研发的磷砷化镓多通道荧光探测器配备两通道GaAsP高灵敏度检测器与两通道普通PMT检测器。检测波长范围达到400-750nm。 GaAs PMT的量子效率可提高一倍。远优于普通PMT。 GaAsP PMT的灵敏度远高于普通PMT，即使是过去所很难拍摄的弱荧光样品也可获得具有极低背景噪声的高亮度图像。 | 获取明亮清晰图像的VAAS针孔元件 尼康开发了一项称为虚拟可调孔径系统（VAAS）的创新技术，能在保持图像亮度的情况下去除模糊。针对通过针孔的光和非通过针孔的光进行去卷积，得到更明亮的图像，从而提高信噪比。 | 易用的强大功能 使用NIS-Elements C控制软件将共聚焦成像系统、显微镜及周边设备合为一体，并具备简单直观的操作界面。同时提供可靠全面的后期分析功能。基础设置光路设置 以Ti-E倒置显微镜为基础可将共聚焦系统与N-SIM/N-STORM 超分辨率系统、TIRF系统、光谱检测与完美对焦系统整合提供多模式的成像方案。同时所有的系统都可在同一NIS-Elements平台下完美工作。

苏州测量显微镜的使用方法.大家都知道不同测量显微镜虽然外观有所区别,但是他们的操作方法，功能基本相同,如苏州汇光科技的测量显微镜，是一款新型、数字化测量显微镜。主要用于生产车间、计量检测室的产品零件尺寸检测。以及半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。我司供应的测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。使用测量显微镜的方法其实很简单：1、熟知各显微镜专业术语，如工作台的直径，工作距离，测微器分度值，测量台运动范围，测量精度值等等。2、熟知显微镜专业术语后您就可以操作测量显微镜啦。具体如下：1、将被测试样放在测量工作台上，尽量放在玻璃中心位置。?2、转动显微镜调焦手轮，至视线清晰为止，用目视判断最薄点，旋转测量工作台并依靠纵横向的调节，把最薄点方向原始基准调至与十字线相重合，记录测试标志线所对应的刻度值X1.? 3、调节横向手柄，测量工作台沿X线轴向移动，记录另一侧的读数X2，X1?与X2之差即为测量值。?4、旋转测量工作台，依次测出各点读数。? 5、测量电线直径时，可用移动X、Y轴方向分别读取数值。?? 当然，在使用测量显微镜的时候还有许多注意事项,小编在这里就不多说啦，希望大家能够熟练掌握显微镜的操作方法，祝您工作顺利,谢谢！！如有疑问,您也可以直接联系我们，0512-67625945.我们将有专业的技术人员为您答疑解惑哦.

Double Laser Microscope Station双束激光显微镜平台——for ic security evaluation - fault injection用于芯片安全评估 - 故障注入

提供全新的3D形貌分析方案卓越的测量更大的样品范围轻松检测85° 尖锐角有尖锐角的样品（剃刀）采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。LEXT 专用物镜使用专用物镜时的最小象差 高度分辨率10 nm，轻松测量微小轮廓(MPLAPON50XLEXT)高度差标准 类型B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4100 达到了0.12 &mu m 的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法，例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线（请参阅第23 页），OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。 克服反射率的差异钻石电镀工具物镜：MPLAPON50XLEXTOLS4100 采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，那些具有不同反射率材料的样品，也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。 适用于透明层多层模式LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域，并将各层设为焦点，这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量，而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。观察／测量透明材料的各个层多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层，也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。 工业领域首创* 的两项性能保证 正确性和重复性通常表示测量仪器的测量精度的，有2 个指标："正确性"，即测量值与真正值的接近程度，和"重复性"，即多次测量值的偏差程度。OLS4100 是业界首次同时保证了"正确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。 追溯体系OLS4100 从物镜制造到成品全部在奥林巴斯工厂内完成，并按照一系列严格的标准进行全面的检验并确保产品的质量后方才出厂 。交付产品时，由选拔出来的技术人员，在实际使用环境中执行校正和最后的调整。 更多的测量类型高度测量可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。轮廓测量也同样可用表面粗糙度测量可以测量线粗糙度，以及平面整体的面粗糙度。 面积／体积测量根据设置在轮廓截面上的任意阈值，可以测量其上部或下部的体积。粒子测量 (选购件)可以通过分离功能使粒子自动分离，设置阈值，根据ROI 设置检测范围。 几何测量可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。膜厚测量 (选购件)可以根据测出的对焦位置，测量透明介质的膜厚。 自动寻边测量 (选购件)可以自动寻边，测量线宽和圆，减少人为的测量误差。 OLYMPUS Stream (选购件)工作流程解决方案，实现了优秀的图像分析性能对于粒子尺寸分析或非金属夹杂物级别的测量，可以使用OLYMPUS Stream 显微图像软件，该软件可以从OLS4100 直接上传。想了解更多OLYMPUS Stream相关内容 更精准的粗糙度测量LEXT OLS4100 参数作为表面粗糙度测量的新标准，奥林巴斯开发了LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 进行了与接触式表面粗糙度测量仪同样的校正，并在LEXT OLS4100 上配置了几乎所有必要的粗糙度参数和滤镜。这样，对于使用接触式表面粗糙度测量仪的用户来说，能得到操作性和互换性良好的输出结果。另外，还搭载了粗糙度专用模式，可以用自动拼接功能测量样品表面直线距离最长为100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, P&Delta q, Pmr(c), P&delta c, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, R&Delta q, Rmr(c),R&delta c, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, W&Delta q, Wmr(c), W&delta c, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str&bull LEXT OLS4100 与表面粗糙度测量仪的结果相兼容。 微细粗糙度使用接触式表面粗糙度测量仪，无法测量比探针的针尖直径更细微的表面轮廓。而OLS4100 有着微小的激光光斑直径，所以能够对微细形状进行高分辨率的粗糙度测量。 非接触式测量使用接触式表面粗糙度测量仪测量柔软的样品时，样品容易受到探针损伤而变形。另外，带有粘性的样品会粘在探针上，无法得到正确的测量结果。而非接触式的激光显微镜OLS4100，不会影响样品的表面状态，可以准确的测量样品的表面粗糙度。高分子薄膜3D 影像（上）和粗糙度测量结果（左）柔软的样品带有粘性的样品 微米级特征的测量使用接触式表面粗糙度测量仪，其探针无法进入微米级的区域，所以不能对这些区域的特征进行测量。而OLS4100 可以正确定位，能轻松测量出特定微小区域的粗糙度。焊线 高画质影像 清晰鲜明的3D 彩色影像三种类型的综合影像真彩3D 影像LEXT OLS4100 可以同时获取三种不同类型的影像信息：真彩3D 影像、激光全焦点3D 影像和高度信息影像。激光全焦点3D 影像高度信息影像 再现自然色OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相装置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以与高级的光学显微镜相媲美。2D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x）3D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x） 更加真实地再现表面, 激光DIC（激光微分干涉）微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小表面轮廓的观察方法。LEXT OLS4100 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜，将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差，生成明暗对比，从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXTOLS4100 拥有DIC 激光模式，即使是低倍率的动态观察，也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。无DIC 的激光影像（高分子薄膜）有DIC 的激光影像（高分子薄膜） 无DIC 的激光影像（5x 物镜）高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany有DIC 的激光影像（5x 物镜）高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 实际高度：6 nm 亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR（高动态范围）影像OLS4100 的高动态范围（HDR）功能结合了多张以不同曝光率获取的光学显微镜影像，并且分别控制着亮度、对比度、纹理和饱和度，因此HDR 可以以宽动态范围处理影像。OLS4100 尤其可以对纹理不明显的样品的彩色影像进行清晰地观察。无HDR 的彩色影像（致密的织物、物镜20x、变焦1x）有HDR 的彩色影像（致密的织物、物镜20x、变焦1x）算法 稳定测量和成像环境复合减震机构为了排除来自外部的影响，稳定测量和成像，OLS4100 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的"复合减震机构"以稳定操作环境。所以，可以把OLS4100 放在普通的桌子进行测量作业，不需要专用的防震平台。 直观的GUI 实现系统化的工作流程 简易的三步流程使用LEXT OLS4100，只需将样品放置在载物台上之后即可立即开始观察／测量。由于采用了简易的三步流程&mdash &mdash 成像、测量和报表&mdash &mdash 即使用户不熟悉激光显微镜，也可以快速掌握测量的流程。 始终明白"身在何处"宏观图功能OLS4100 的宏观图功能可以以低倍率显示大范围影像，并在宏观影像上显示一个矩形观察标记。该视场可以通过拼图设置为传统视场的441 倍。当配合电动六孔物镜转换器时，宏观图功能可以对载物台移动和倍率更改实现平滑、便捷的一键操作。可以精确预设齐焦和确定物镜的中心，并可通过一键移动载物台和调整倍率进行同步。快速的宏观图拼接扫描大面积区域时有两种拼接方法可用：获取实时影像时的手动模式和快速获取影像时的自动模式。操作非常快速简单&mdash &mdash 2D 拼接只需一键操作即可开始，并且可立即获得大面积的拼接影像。自动模式下有五级拼接尺寸可用，分别为：3× 3、5× 5、7× 7、9× 9 和21× 21。对于影像上不需要的部分，可以使用简单的鼠标或控制杆操作手动删除。 用于简易3D 成像的智能扫描自动3D 影像获取传统的3D 扫描需要复杂的设置，这对新手来说非常困难。LEXT OLS4100 采用了全新的智能扫描模式，即使是初次使用的用户也只需一键操作即可快速获取3D 影像。除了上下限的设置，系统也会根据要获取的影像自动设置合适的亮度。这让即使是初次使用的用户也能获得精确的高度测量和优质的影像。3D 成像自动亮度控制平面上的亮度控制一定高度范围内的亮度控制。大大缩短了获取时间 更快的扫描速度新的超快模式获取扫描影像的速度是传统快速模式的2 倍，约是精细模式的9 倍。因此，对于那些需要非常精细的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品，该模式就非常地适用，例如对刀具的尖端进行检测。相同时间内获取的影像数量：实际的扫描时间根据所用倍率和Z 获取范围而有所不同。 只在所需区域进行高速获取OLS4100 还配备了带宽扫描模式，用于测量有限的目标区域，测量性能比传统模式快1/8。全局扫描获取带宽扫描获取（1/8） 全新的高速拼接模式从大范围拼接影像中指定目标区域在宏观图中，要观察的区域可以从大范围的视图中进行指定。在自动模式中，通过设置最多625 幅影像的矩形拼接尺寸，可以自动生成区域图，所需的时间大约只需要通常的一半。下一步，在区域图上指定所需的影像并立即开始观察。拼接区域：方形（21× 3）63 片拼接区域：圆形（3 点） 手动指定所需的影像区域在实时模式中，通过在屏幕上跟踪所需的区域，可以手动选择要观察的区域。当观察的样品具有不规则的形状时，该功能非常实用。 快速影像拼接要使用智能扫描模式获取影像时，只需一键操作即可。由于智能扫描会自动调整Z 轴方向的设置，Z 轴方向的影像获取可以仅局限在所需的区域，因此可以在进行大范围大功率观察时节省很多时间。智能扫描模式传统获取模式 一键操作定制报表OLS4100 在测量后可使用一键操作创建报表，而且使用编辑功能可以定制各个报表模板。将测量结果复制和粘贴到Word 或表格应用程序也非常简单，就像从数据库取回所需的影像和报表一样。 目标的一键解决方案为用户设计的详细的向导功能取消了冗长的培训，让新手也能快速简单地进行操作。 产品已下架，可查看OLS系列其他产品。

快速获取更优数据蔡司 Airyscan 2 的全新 Multiplex 模式可以在较短的时间内获取更多的信息。智能化照明和检测方案能够突破衍射极限，以高帧频实现具有挑战性的三维样本成像，而且仍可以温和处理敏感样品。如今，通过融合逐点扫描共聚焦的全面灵活性以及 Airyscan 高灵敏面检测器的速度和低光毒性，凭借超高分辨率，可以更快的成像速度解决您的科学问题。提高科研效率复杂的活细胞共聚焦成像实验从未如此容易。全新版的 ZEN 成像软件令搭载 Airyscan 2技术的全新 LSM 980 锦上添花，软件中丰富的功能任您使用。工作较以往更为便捷，可以在尽可能短的时间内实现可重复的成果。智能设置（Smart Setup）和全新样品导航器（Sample Navigator）可帮助您快速找到感兴趣区域并对其进行成像，使您有更多的时间来采集数据。同步数据处理（Direct Processing）功能允许同时进行图像采集和数据处理。无论是在成像期间还是在后期分享整个实验的过程时，ZEN Connect 都可让您随时掌控全局，轻松叠加和排列任何来源的图像。图像灵敏度更强LSM 980 ZEISS激光共聚焦显微镜可使具有挑战性的样本成像，实现“鱼和熊掌”兼得。LSM 9 系列的照明高效光路，最多具有 34 个通道同步采样，具有全光谱灵活性。而且可以实现高灵敏度的微弱信号成像。另外，如果搭配Airyscan 2，则这一历史性的面检测器可以在较短时间内从您的样本中提取更多信息。您不必为了获得超高分辨率而缩小针孔，这样甚至会使三维成像的光效率更高。您会从不同的样本中都获得优异的数据质量。 LSM 980Airyscan SRMultiplex SR-4YMultiplex SR-8YMultiplex CO-8Y并行扫描（行）1488分辨率120/120140/140120/160共聚焦或更佳最大拍摄速度4.72547.534.4抗体标记，细微结构++++++++++++++抗体标记，拼图+++++++++++++活细胞成像++++++++++++++

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