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测量厚度显微镜
仪器信息网测量厚度显微镜专题为您提供2024年最新测量厚度显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括测量厚度显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的测量厚度显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合测量厚度显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有测量厚度显微镜相关的最新资讯、资料,以及测量厚度显微镜相关的解决方案。
测量厚度显微镜相关的方案
利用金相显微镜测量微米级膜层厚度
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量,并且精度很高,最小误差约为±0.8μm,可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。
扫描探针显微镜SPM用于氧化石墨烯的厚度表征
氧化石墨烯是石墨烯的氧化物,因经氧化后,其上含氧官能团增多而使其性质较石墨烯更加活泼,可经由各种与含氧官能团的反应而改善其本身性质,从而具有良好的润湿性能、水分散性和表面活性,将在改善材料的热学、电学、力学等综合性能方面发挥重要作用。本文参考国家标准GB/T 40066-2021《纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》,采用岛津扫描探针显微镜测试了氧化石墨烯样品的表面形貌,并通过线性拟合法计算了氧化石墨烯的厚度,希望对氧化石墨烯的研究提供一定的帮助。
岛津红外显微镜对具有厚度的的样品进行反射测量
使用自动缺陷分析系统AIM-9000,对具有一定厚度的样品进行了分析。若样本的表面暴露,可通过拆卸下部卡塞格伦镜,对样本进行切断等操作,无需前处理即可进行分析。
MC方案:用于MEMS应用的悬浮式活性硅膜厚度测量
硅基传感器因其高性能、低成本和小尺寸而广泛应用于不同的微机电系统。悬挂在图案化硅膜或基于硅绝缘体的传感器上的活性硅层的厚度确定对于最终平台[1]的性能控制至关重要。在这里,我们已经在一个微机电系统压力传感器上测量了这样的薄膜厚度,使用的是一个孔径为250μ m的FR-μ 探针工具,该工具安装在一个徕卡分模光学显微镜上。使用10X物镜进行测量,该物镜与选定的孔径大小一起对应于25μ m的光斑大小(测量区域)。
金相显微镜在电子行业的应用案例——电子连接线
12月中旬,广州明慧工程师为广东深圳一家电子产品行业公司提供显微解决方案,推荐使用金相显微镜CX40M与数码相机结合搭配,在计算机显示器观察实时动态图像,对电子连接线材料的表面形貌进行观察判断和分析,精确测量材料镀层厚度,且成像清晰。
如何使用耗散型石英晶体微天平测量质量和厚度?
在表面相互作用过程中,例如分子的结合、吸附、解吸、聚集和多层膜的堆积、分子层的质量和厚度发生变化。通过实时监测这些变化,我们可以监测分子结合的过程和重排。为了在分子尺度上测量这些变化,我们需要实时的纳米级技术。该技术就是耗散型石英晶体微天平技术(QCM-D)。QCM-D测量共振频率(f)和能量耗散(D)两个参数的变化,从这两个参数中可以得出表面质量和厚度的变化。通常,随着表面质量增加,f将减小。D值能标示出图层的柔软程度。分子层越软,D值越大。在质量损失的情况下,频率则会增加。如果图层从柔软变为刚性,则D值将减小。
如何运用一台数码 显微镜分析 经过或未 经过制备的地质样品
一百年前,偏振光显微镜就已经应用于传统的地球科学研究之中了。从那时起,随着技术的不断进步,这类显微镜在用户友好性、人体工程学以及光学性能方面逐渐改善。时至今日,仍有一方面在原地踏步:传统的偏振光(复式)显微镜仅适用于经过制备的样品,因为这类显微镜提供的工作距离不足以满足整个样品的检测。这就意味着必须切割和抛光较厚、较大的地质样品,以适应复式显微镜的有限工作距离。这些样品制备对精确度的要求极高,而在抛光片的厚度、平整度和抛光效果方面,对精确度的要求则更甚。运用带透射、偏振光 [1,2] 的复式显微镜进行检测时,标准厚度应为 30 微米。换言之,科学家检测未经制备的样品时,需要切换成工作距离较大的体视显微镜。
硬度计中的金相显微镜模块对金属材料进行定量金相分析
金相研究在金属和钢铁制造过程、航空航天和汽车工业、机械工程、建筑以及大量工业和消费品的制造中都至关重要。无论是探伤、开发新型合金材料,还是质量控制以确保钢的纯度,显微镜检查在每个金相实验室都必不可少。 在严格的标准和规范中都规定要测量某些参数(例如体积分数、涂层厚度和晶粒尺寸)。依据如下标准:晶粒度 DIN EN ISO 643, ASTM E112涂层厚度 DIN EN ISO 1463体积分数 ISO 942, ASTM E562
【设备更新】纸张厚度测量仪检测印刷纸的单层厚度
三泉中石生产的纸张厚度测量仪CHY-U适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。本文借助纸张厚度测量仪CHY-U测试纸张的厚度。
MC方案:测量厚膜的厚度均匀性
WLRS被引入用于测量厚透明膜情况下的膜厚度和均匀性。 所有测量均使用FR-Basic进行,调谐后可在400-1000nm光谱范围内进行。 样品是通过旋涂涂覆有热SiO2和SU-8膜的Si晶片。 对于参考测量,使用标准的硅晶片。
使用便携式原子力显微镜实现太阳能电池工业的在线粗糙度测量
在薄膜太阳能工业区域粗糙度参数总是需要在控制中,因为它们与电池的电效率紧密相关。在这项工作中,我们在太阳能工业典型的制造车间中测量和评价粗糙度参数。测量使用的是便携式原子力显微镜,这台仪器放置在CNC金刚石切割设备上,设备上有一被切成四块的透明导电氧化物薄膜的初始样品。通过在这个过程中得到的结果与在实验室最佳条件下得到的结果比较,证明了车间在线测量的方法是可行的。区域粗糙度参数和傅里叶光谱分析的数据具有一致性,表明使用这种类型的测量工具进行在线质量控制是可行的。这个实验测量评价过程对样品的TCO是无任何破坏的;这样100%的产品能被测试,因此改进了测量时间和成品率。
共聚焦显微镜+氮化镓晶圆+CMP后划伤
利用Lasertec显微镜,实现透明晶圆的全面自动缺陷检查、以及3D形貌测量。
共聚焦显微镜+半导体激光器+缺陷检测及尺寸测量
利用共聚焦显微镜,进行半导体激光器的晶圆缺陷检测,以及波导结构的尺寸测量
使用Clear View™ATR的红外显微镜测量洗面奶中的微粒
本申请描述了使用带有Clear view“ATR物镜(ATR-5000-ss)和 IQ Mapping的IRT-5200显微镜测量洗面奶糊状填充物中发现的黑色颗粒。
MC方案:薄膜叠层厚度测量
介绍了在电介质和半导体薄膜叠层的情况下测量薄膜厚度的WLRS。所有的测量都是在400-1000nm光谱范围内用fr-basic进行的。反射探头的有效光斑直径为1毫米。样品为Si3N4/SiO2、聚Si/Si3N4/SiO2、PMMA/聚Si/Si3N4/SiO2组成的Si晶圆。在所有测量中,使用高反射镀铝镜(NT01-913-533,Edmund光学)进行参考测量。
平板状试样厚度测量方法:培训教程视频
在各种瞬态和稳态导热系数测试方法中一般都需要矩形或正方形平板状试样,但这些平板状试样的尺寸都比较大,无法用一般的千分尺和卡尺直接进行测量。本视频就是英国国家物理实验室关于准确测量较大尺寸平板状试样厚度的培训视频教程,以能准确测量试样厚度和评价被测试样厚度的均匀性是否满足测试要求。
用MSV-5000显微分光光度计分析天然氧化膜的厚度
在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料
太赫兹技术测量车身涂层的厚度
检测方法优势:非接触式无损测厚;太赫兹对于非极性材料具有优异穿透性,可以穿透多种涂层,适配多种基底(金属、塑料和复合材料);可测多层厚度;没有电离辐射方案性能优势:快速精确—测厚精度最优1um,单点测量时间0.5-5s全层厚度—专利测厚算法,一次测量得到每一层涂层的厚度,可测层数高达5层精准定位—三角激光定位系统,结合振动补偿软件系统,保证垂直表面的法向误差小于0.2°易于自动化—测量头仅3kg,适合任何传统机械手臂集成大数据分析—专业的大数据分析平台软件,收集生产和制造过程中所有信息,可追溯,输出报告与警报通知操作简单—测量过程无需停止重新校准,有新颜色自动校准系统
生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术,Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。支架: 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘,只需在测量时旋轉支架。植入件: 在测量植入器件的涂层时,不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。导丝和导引针: 和支架一样,这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。
MC方案:薄和超薄金属薄膜的厚度测量
薄膜厚度对涂层的性能,特别是薄膜和超薄薄膜的性能至关重要。因此,采用非常精确和无损的方法来表征此类薄膜是非常重要的。薄膜厚度的光学测定方法具有非接触、无损、快速、准确、灵敏、重现性好等优点。在本应用说明中,我们使用FR工具测量金属薄膜和超薄薄膜的厚度。
饲料显微镜检中显微分析系统的应用
饲料显微镜检是以动植物形态学、组织细胞学为基础, 借助于显微镜, 依据被检样品的外部形态特征, (如形状色泽、粒度、硬度等) 和组织细胞结构特点及不同的染色特性, 对饲料样品的种类、品质进行鉴定评价的一种方法。 迅数显微图像分析系统是由高清晰度彩色CMOS、功能强大的显微图像分析软件以及显微镜组成。专业图像处理算法,分析、处理、测量、颗粒统计、编辑等超强功能,广泛适用于显微细胞图像分析、粉尘颗粒检测、动植物微观结构观察、纤维材料研究、珠宝鉴定等领域。
显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比
显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度是颗粒物清洁度测试两种主要的测试方法,关于两种测试手段的争论目前还在继续,本文主要简单介绍显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比
涂层测厚仪测量涂层厚度步骤
涂层测厚仪是一种用于测量涂层厚度的仪器,广泛应用于金属、塑料、玻璃等表面涂层的测量。
差分干涉仪和厂工作距离显微镜组合测量温度驱动边界层流动
采用LaVision公司的ImagerSX4M相机,两套Infnity K2, DistaMax型长工作距离显微镜,对3.246mm x 3.874mm的视场进行了流场测量。获得了温度驱动的边界层流动的可视化流场。
使用MSV-5000显微分光光度计分析天然氧化膜的厚度
在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料
电镀行业中材料观察检测方案(数码显微镜)
基恩士数码显微镜VHX-7000系列因具有超越肉眼的观测性能,具备进行各种分析的强大测量能力,同时具有可轻松使用的操作性,在电镀行业也被广泛应用。 VHX可以在以下方面帮助用户:减少出货检测(外观检测)中的人为偏差调查部件投诉原因管理电镀工序的品质开发全新电镀工法......
MC方案:钙钛矿薄膜厚度的测量
钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地,人们发现,当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中,我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
菌落计数与面积测量高效化检测方案(荧光显微镜)
在食品或化妆品、医药品等评价安全性的微生物检查或遗传毒性试验等中,如何高效地进行培养板的整体观察或菌落的准确分析及定量评价,是一个重要课题。另外,在再生医疗研究领域,针对使用iPS细胞(诱导性多功能干细胞:induced pluripotent stem cell)的新治疗法或治疗药的实用化,广泛开展各种实验或研究。作为其中一项研究项目,评价孔板中正在培养的iPS细胞的菌落形成的数量或形态分析时,也存在相同的课题。此次,介绍通过搭载大型电动载物平台实现孔板全孔观察的荧光显微镜以及对培养板上的iPS细胞进行菌落计数与面积测量的案例。
MC方案:精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量
FR-inLine是一种在线非接触式测厚仪,用于实时测量透明和半透明的单层或多层薄膜的厚度,以及以片状或带状形式生产的大多数材料的厚度。在本应用说明中,我们演示了使用FR工具在线测量PET薄膜的厚度。
广州明慧显微镜摄像头与奥林巴斯体视显微镜搭配组合应用案例
用户是广州某生产材料公司,用户想要对某材料的磨损、精度、密度等研究观察工作,广州明慧工程师为用户推荐了奥林巴斯体视显微镜SZ61搭配我司显微镜摄像头MHD800。可以直接电脑屏幕上测量观察,录像打印等,减少实验人员视觉疲劳,提高分析结果的准确度,帮助准确高效完成研究工作。
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