部高低温测试机

inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710E 实现高低温冲击测试上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-710E-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ATS-710E 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710E-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特点自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板: Windows® 系统温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持数据存储配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710 实现电源管理芯片高低温冲击测试若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

仪器简介：高低温环境测试机技术参数：高低温环境测试机详细说明 ◇型号规格及主要技术参数 产名 名称 型号 规格 工作室尺寸 温度 范围 温度均 匀度 温度波 动度 温度 偏差 高低温试验箱 HC-80 400× 500× 400 -0℃ -20℃ -40℃ -70℃-150℃ 2℃ ± 0.5℃ ± 2℃ HC-120 500× 600× 400 HC-150 500× 600× 500 HC-225 500× 750× 600 HC-408 600× 850× 800 HC-800 1000× 1000× 800 HC-1000 1000× 1000× 1000 HC-306 600× 750× 800 产名名称 型号 规格 降温 速度 功率 (KW） 电源 电压 备注 高低温试验箱 HC-80 1.0-1.2℃/min 2 AC220V 50HZ 1、数显仪表及进口制冷压缩机 2、内胆为不锈钢，外壳为冷轧钢板喷涂。 3、配备超温、超压和断相的报警保护装置。 HC-120 3 HC-150 4 AC380V 50HZ HC-225 5 HC-408 8 HC-800 9 HC-1000 12 HC-306 6主要特点：高低温环境测试机

产品特点：高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。试料槽完全静止，可由测试孔外加负载配线。蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低）。可选择始动位置，高温或低温开始循环。具有预约起动功能。可设定循环次数及自动除霜。可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。有异常或故障显示及排除方法说明。欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行产品用途： 高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。 蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家执行满足标准及试验方法GJB150.5 温度冲击试验GJB360.7温度冲击试验GB/2423.22 温度冲击试验温度范围：低温（F：-40；X：-55；S：-65）~高温+150℃高温区：+60℃~+200℃低温区：-10℃~-75℃ 升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃内外部材质：内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理，外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料控制器：原装进口韩国“TEMI” 或日本“OYO”牌 通讯功能：RS-232接口　　　压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"制冷剂：美国R23和R404环保制冷剂冷却系统：全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)系统：P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器加热器、冷却器：镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器气动气缸：高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用冷却循环水：水压：0.2～0.4Mpa 水温≤30℃压缩空气：0.6～0.8Mpa安全保护装置：无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、压缩机过热、过载、过流保护，冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器、漏电保护器，风机过热保护，相序保护，超温保护，排气阀，压缩空气调节开关，保险丝。配件：上下可调隔层两片、电缆测线孔、脚轮、水平支架电源：AC380V 50HZ/60HZ重量(大约) 450Kg 500Kg 550Kg 600Kg 700Kg

上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。其中的光收发一体模块 Transceiver，是光纤通信系统中重要的器件。光收发模块在电工作时本身就会产生高热，加上其安装的环境通常在户外，故温度过高或过低时，光模块是否可正常运作，是生产企业必须解决的问题！光模块高低温测试客户案例：上海伯东客户浙江某光收发模块制造商，生产 40G Transceiver 光模组，此次采购高低温测试机用于服务器内部光模组的高温冲击测试。因为光收发模块在电工作时本身就会产生高热，所以对高温的冲击测试要求很高，经过我司技术推荐采购 inTEST ThermoStream ATS-545-M 高低温测试机，可提供测试温度 -80°C 至 +225°C。inTEST 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个光模块，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光模块高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将待测光模块放置在测试腔中，根据操作员设定喷出和设定温度相差±1℃的冷热交替循环气流，从而进行光模块高低温测试。鉴于信息保密，更详细的光模块高低温测试方法欢迎拨打电话：上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

价格货期电议inTEST ATS-535 热流仪全球唯一集成空压机的高低温冲击机 上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是目前全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机 ( 热流仪 ),整机噪音 70 dBA, 不需要额外安装空压机即可完成各类芯片的高低温冲击试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动性方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 完美解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.inTEST Temptronic ATS-535 高低温测试机特性： 自动升降温，不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却。 旋钮式控制面板 过热温度保护：出厂设置温度 +225°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。 加热模式下,冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232 LabViewTM 驱动数据存储 热流罩提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结CE相容 不含CFC：inTEST-Temptronic ATS-535 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境inTEST ATS-535 高低温冲击机参数高低温冲击范围-60至+ 225°C变温速率-40至+ 125°C 12秒+125至-40°C 40秒系统气流输出*5scfm（2.4l / s）固定流量 温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时）DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶：T＆K型电源制冷机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 16amp压缩机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 30amp工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸194.7cm（76.7inch）X 61.7cm（24.3inch）X 108.6cm（42.8inch）重量249.5kg（550lbs）inTEST ATS-535 尺寸inTEST ATS-535 高低温冲击机典型应用:上海伯东某主要研发生产电源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 公司, 因场地噪音限制, 严禁使用空压机, 通过伯东推荐采购 ATS-535 成功实现电源管理芯片的高低温冲击试验. 经过测试的芯片广泛应用于卫星通讯, 定位系统, 安防等领域.inTEST ATS-535 高低温冲击机测试过程1. 将待测芯片放置于已做好的工装中.2. 将 sensor 一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触3. 将 ATS-535 热流罩转到工装平台并下压固定4. 启动 ATS-535 高低温冲击机加热至需要测试的温度点5. 启动芯片测试设备对芯片在 -55度及 +125度下进行性能测试并记录数据inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。 上海伯东版权所有，翻拷必究！ 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

价格货期电议inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.功率器件高低温测试案例一:上海伯东美国 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通过使用 inTEST 可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 Keysight 分析仪与 inTEST 热板连接在一起.上海伯东美国 inTEST HP289-PM 是一个温控平台, 可以与 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析仪联用. 该平台允许自动控制板温度, 从外壳环境温度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 DUT 温度控制4. 本地和远程操作功率器件高低温测试案例二:inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.上海伯东美国 inTEST ThermalStream 热流仪搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, ThermoStream 具有快速的热循环和精确的温度控制,是高功率器件可靠性测试和表征的理想选择.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 (DUT) 温度控制4. 本地和远程操作5. 无霜测试环境6. 节能模式功率器件高低温测试案例三:某企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET \ MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.inTEST Thermal Plate 热台 (环境温度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士,分机107现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST 高低温冲击测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；旋钮式控制面板，支持测试数据存储。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310和Thermonics T-2820 全新升级款！~高低温冲击测试机 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数： 型号 温度范围 °C 输出 气流量 变温速率 温度 精度 温度显示分辨率 温度 传感器 远程 控制 ATS-545-M -80 至 +225 4 至 18 scfm 1.8至 8.5 l/s -55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s ±1℃ ±0.1℃ T型或 K型 热电偶 IEEE 488 RS232 inTEST 高低温冲击测试机功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却旋钮式控制面板温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。温度冲击测试方法：inTEST-Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机ATS-545-M 基本参数 尺寸 cm 款x深x高 61 X 72.4 X 108 重量kg 236 最高 cm 160 最高操作高度 cm 130.3（可选的扩展高度 188） 最低操作高度 cm 69.1（可选的扩展高度 81.3） 噪音 65 dBA 提供inTEST ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST ATS-710-M 高低温冲击测试机中国总代理！温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；触摸屏式控制面板，防静电设计，具备自动除霜功能。inTEST ATS-710-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~Temptronic ThermoStream ATS-710-M 技术参数： 型号 温度范围 °C 输出 气流量 变温速率 温度 精度 温度显示 分辨率 温度 传感器 远程 控制 ATS-710-M -75至+225 50Hz -80至+225 60Hz 4 至18 scfm 1.8至 8.5l/s -55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s ±1℃ ±0.1℃ T型或 K型 热电偶 IEEE 488 RS232 Temptronic ThermoStream ATS-710-M 功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却预防结霜：干燥气流循环吹扫测试表面，防止水汽凝结(气体流量0.5至3scfm)自动待机：空闲或加热模式下，inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜：快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板：Windows® 系统温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet，IEEE-488，RS232；支持测试数据存储配置 USB、键盘、鼠标、打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结Temptronic ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1、主机 ATS-710-M2、4.5或5.5 英寸热流罩3、耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东美国inTEST 高低温测试机应用：1、光纤收发器高低温测试：适用于40G/100G Transceiver2、闪存高低温测试：适用于Flash、EMMC

美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机上海伯东中国总代理上海伯东代理美国 Temptronic ThermoStream ATS 系列高低温测试机，测试温度范围 -100 ℃ 至 +300 ℃ 。Temptronic ThermoStream 提供快速、准确的高低温测试。适用于半导体芯片温度测试、PCB 电路板温度测试、电子元件温度测试、通讯元件温度测试、集成电路 IC 卡等高低温试验、冲击试验、半导体失效分析、可靠性测试等。与传统高低温试验箱对比，Temptronic ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快，每秒可快速升温/降温 18度2、温控精度：±1℃；3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。美国 Temptronic ThermoStream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。上海伯东 Temptronic ThermoStream 高低温测试机客户应用案例：1、Temptronic ATS-505 半导体芯片高低温失效测试2、Temptronic ATS-535 集成电路 IC 卡高低温失效测试3、Temptronic ATS-545-M 收发器高低温测试上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST 高低温循环测试机 日本 NS离子蚀刻机等。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗女士

上海伯东 inTEST 高低温循环测试机闪存温度测试应用闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。闪存温度测试原因为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务闪存温度测试方法:透过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行温度循环测式，将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存温度测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。更详细的温度测试操作方法欢迎致电 021-5046-3511inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供超高速高低温循环气流冲击设备，系列产品包含 THERMOSTREAM® ，thermochuck，Chiller。其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的高低温循环测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于安捷伦(Agilent)、台积电(TSMC)、IBM 等半导体、PCB、光通讯行业。上海伯东作为 inTEST 大中华地区总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务 上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。上海伯东版权所有，翻拷必究！

上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温测试机用于光通信收发器(transciever)温度测试光通信收发器(transciever)温度测试原因：光通信器件在出厂前需要做元件级测试，主要包括对光纤收发器内部关键器件在电工作的电性能测试，失效分析、可靠性评估等。inTEST ThermoStream 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个收发器，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光通信收发器(transciever)客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的光通信生产企业，经过技术选型，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于光通信收发器的高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，配套自动机械手臂，测试温度范围：80°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。收发器温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测收发器和温度传感器放置在客户定制的测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-545-M 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的光通信收发器(transciever)温度测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 : 上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

型号※1TC/TH180TC/TH400TC/TH600TC/TH800TC/TH1000性能※2温度范围-70～+150℃湿度范围※320～98%RH温度波动度※40.5℃温度偏差±2℃湿度偏差±3.0%RH（＜75%RH）；±5.0%RH（≥75%RH）温度变化速率※55℃/分，10℃/分，15℃/分，20℃/分，25℃/分（线性或非线性变化）温度变化速率范围-55℃～+125℃内部尺寸（mm）W60081080010001000H60071095010001000D5006708008001000※1 无湿热功能的型号为TC。※2 室温为+25℃和循环水温+25℃、无试样条件下测得的数值。※3 有湿度才有此功能。※4 波动度按GB/T5170.2-2008规则表示，如按GB/T5170.2-1996表示为±0.25℃。※5 可选配液氮辅助制冷系统，降温速率可达30℃/min。详细参数以对应产品规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。 宏展TC-180高低温循环测试机实拍：

冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机产品用途：高低温冲击试验箱用于测试材料瞬间极高温至极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的物理变化。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机特点：1、采用气动控制，提篮在高低温室内切换转移，2、转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，3、采用两箱法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。4、既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。5、备有高档万向滚轮，方便在实验室内移动。6、真空双层加热观察窗，自带照明。7、多数据接口，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程操作。冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机技术参数1、提篮有效容积 27L2、规格尺寸：外宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm3、提篮尺寸：300×300×300mm4、高温预温度范围：60℃～+180℃5、低温预温度范围：-10℃～-60℃6、温度冲击范围：-40℃～+120℃7、提篮转换时间：≤10S8、温度恢复时间：≤5min9、温度波动度：≤±0.5℃10、温度均匀度：≤2℃11、温度偏差：≤±2℃12、高温预热时间：20℃～180℃≈30min、13、低温预冷时间：20℃～-60℃≈75min14、总功率：≈12kw15、运行功率：≈8KW16使用电压：AC220 50Hz规格提篮尺寸外形尺寸27L300×300×300750×2100×190080L400×400×5001200×2500×1800150L500×500×6001500×2600×1850210L600×500×7001700×2650×1900510L800×800×8002500×3200×21001000L1000×1000×10003000×3500×2100温度参数高温预温度范围60℃～+200℃低温预温度范围-10℃～-80℃冲击范围-40、-50、-65℃～120、150℃ 按要求选定温度恢复时间≤5min温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤2℃温度偏差：≤±2℃提篮运行运动方式气动提篮转换时间≤10S安全保护 漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆 满足标准及试验方法GB11158-2008高温试验箱技术条件GB10589-2008低温试验箱技术条件GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验

价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本！在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃～125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究

LED 液晶显示屏环境温度测试上海伯东美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。LED 液晶显示屏环境温度测试原因： 一般液晶显示器的工作温度是 20-50 度，液晶显示器内部有很多发热电子元件，为保障电子元件在低温和高温极端环境下正常运行，厂家在出厂前都需要进行 LED 环境测试，主要测试项目包含冷热循环 Thermal cycle 与冷热冲击 Thermal stock。 LED 液晶显示屏客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的显示屏生产企业，结合实际生产需要，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于显示屏高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，测试温度范围：80°C 至 +225°C，操作直观。LED 液晶显示屏温度测试方法：客户采用美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。采用 ThermoStream ATS-545-M Air Mode 模式测试：1、通过管路将高低温测试机 ATS-545-M 与 DMS 803 直接相连2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温4、高低温测试机 ATS-545-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度，而且自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

温度冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障助手。 温度冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区*静止，采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 温度冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

PW-UCS128-40 高低温拉力试验机用途:专门为在不同环境测试材料力量所改良之机型，拉力机加装高低温试验箱，可在不同的温度环境测试材料之拉力，压力，撕裂，剪力，剥离力，解卷力，环型初粘力等物理特性。一：拉力机配置参数：容量选择:10N、20N、50N、100N、200N、500N、1KN、2KN（选配一组)显示方式:电脑显示方式力量分辨率:1/500,000力量精度:0.3%行程分辨率:1/500,000控制方式:全电脑操作方式实验行程:650mm实验宽度：￠140mm实验速度:0.001～500mm/min 电脑设定, 附夹具上下快速调节按钮单位转换:kgf，N，Ibf，g，ton，Mpa停机模式:过载停机、、紧急停止键、试件破坏自动停机、上下限设定自动停机、自动复位功能通讯接口：USB机台动力:伺服马达驱动，同步轮及精密滚珠丝杆传动机台功率:400W使用电力:220V 50/60HZ 标准配置:180度夹具1组、环形初粘力夹具1组、电脑软件、USB电脑连线二：高低温试验箱参数：有积容积128L内箱尺寸W(宽)400 mm*H(高)400 mm*D(深)800 mm测试箱外箱尺寸W(宽)1000mm*H(高)2800mm*D(深)1200mm温馨提示：外部尺寸请依最终设计确认三视图为准！温度范围-40~+150℃ 温度波动度±0.5℃ / 温度偏差≤±2℃ / 75%RH:≤±3%RH温度均匀度≤2℃ 准备时间由常温到达恒定温度条件约30分钟，空载时升降温过冲≤±3℃ 噪音≤68dB（A声级,恒定时,测试方法依JB/T9512-1999）内箱ＳＵＳ＃３０４不锈钢板

价格货期电议ECO-560 热流仪, 高低温冲击测试机 上海伯东美国 inTEST ECO-560 经济型高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -60 °C 至 +150 °C, 适用于对各类元件,零件, 混合件, 模块,子组件和 PCB 电路板进行快速和精确的温度冲击. 无需使用液氮 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 即可实现超低温.ThermoStream ECO-560 热流仪技术参数：高低温冲击范围-60 至+ 200°C, 50/60Hz变温速率-40 至+ 150°C 15秒+125 至-40°C 35秒系统气流输出*4 至 18scfm (1.9 至 8.5 l/s)温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C (根据美国 NIST 标准校准)DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶: T＆K型电源200 - 250 VAC (230V nominal) 50/60Hz 30 amp, 1phase (21A Act.) 60Hz 20 amp, 1phase (18A Act.)工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸宽 46.4 厘米 x 深 66.7 厘米x 高 142.2 厘米重量主机: 181 千克 含包装: 227 千克噪音57 dBA inTEST ThermoStream ECO-560 功能特点:自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟氯氢和氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却 预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量 0.5至 3scfm, 0.25 to 1.5 l/s） 支持可定制和存储的测试设置 操作员可根据实际需要设置高低温限制点.支持本地和远程控制: 远程控制通讯端口: Ethernet, IEEE-488, RS232 LabViewTM & LabWindows® 驱动与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:1. 变温速率更快2. 温控精度: ±1℃ 3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台 load board 上的 IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度 若您需要进一步的了解 inTEST 高低温测试机详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C技术参数型 号DR-H201-80DR-H201-100DR-H201-150DR-H201-225DR-H201-408DR-H201-800DR-H201-1000内部尺寸W×D×H(cm)40×40×5050×40×5050×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外部尺寸W×D×H(cm)68×135×16578×135×16578×149×17278×161×18588×185×195128×187×210128×202×210温度范围高温：150℃（180℃/200℃特殊定制）低温：RT+15℃~-70℃（更低温可特殊定制）湿度范围20%— 98% R.H.（10%～98%R.H）；（5%～98%R.H为特殊选用条件）湿度解析精度/温度0.1%R.H/0.1℃湿度波动度±0.5℃升温/降温速率升温：2.0~4.0℃/min非线性空载 降温:0.7~1.0℃/min非线性空载内外部材质内箱：SUS304#不锈钢板制 外箱：电解板表面烤漆处理或SUS304不锈钢保温材质耐高温高密度聚氨酯PU材料冷却系统风冷式/法国泰康压缩机/自主开发控制系统安全保护装置无熔丝开关、压缩机过载保护、冷媒高低压保护、超湿度超温度保护、保险丝、故障警告系统、缺水报警保护配 件操作孔内置玻璃门（选购），记录器（选购），观视窗，50mm测试孔，PL箱内灯，隔板，干湿球纱布，脚轮，水平脚架电 源AC220V ±5%V/50±0.5Hz/单相三线+保护地线；AC380V±5%V/50±0.5Hz、三相五线+保护地线使用环境德瑞检测 高低温老化试验箱DR-H201-408A温度：25℃+5℃ 相对湿度：≤85%节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C主要特征满足多项国际安全规格要求。温度范围：-70～180℃/10%～98RH；内容积：220L～1000L。新型压缩机的使用，实现了大范围、高精度的温湿度控制。基于ESPEC专利的平衡调温调湿控制系统（BTHC），双PID及水蒸气分压控制，技术成熟、精度极高。产品绿色环保、省耗节能。通过相关接口均可进行网络控制及数据采集。标配左右电缆孔、便于试样实施通电连线、进行多项测量。40模式可编程温度控制器、具有多种语言选择（简/繁体中文、英语）、试验数据U盘存储。加宽型产品可以对应大尺寸试料的试验要求。通过提供内槽尺寸特殊对应改造方案，满足客户对更多不同尺寸的试料的试验需求。节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C设备使用环境1.环境温度：5℃～＋35℃（24小时内平均温度≤28℃）；2.环境湿度：≤85%；3.电源要求：AC380（ ±10%）V/50HZ 三相五线制；4.操作环境需要在室温28度以下而且通风良好；5.机器放置前后左右各留空80公分，保持空气流通不可放置东西；

高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机产品用途：用于检测出产品在快速温度变化和极限温度情况下的性能。适用于电子、电工产品整机及零部件进行温度快速变化或渐变条件下的适应性试验，特别是针对于电子电工产品的环境应力筛选(ESS)试验。满足150~4600L标准容积和其它型号非标定制其他名称：快速温度循环箱，环境应力筛选试验箱，线性温度变化试验箱，非线性快速升降温试验箱，快速温变箱,快速温度变化箱，温度瞬变试验箱，温度快速变化箱。高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机产品特点1.适用电子电工产品环境应力筛选(ESS)试验，和在温度快速变化或渐变条件下对测试件温度应力检测、温湿度筛选、可靠性测试、性能测试、耐候试验、高低温储存等。2.产品满足温度定值变化（线性升降温方式）和非线性升降温。3.满足5~30℃/min温变速率要求。4.可按需定制（湿度）测试要求，满足150L至4600L标准容积和其它型号非标定制新型伺服流量调控技术：1.节能30%左右；2.蒸发器不易结霜（长期高湿、低温）；3.线性机型更方便实现 4.温度均匀度更好控；5.压缩机不易结霜，寿命更长；6.非标设计更方便 高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机主要参数内容积150 L225 L512 L1000 L2400 L3400 L4600 L线性温度范围℃及线性温度速率min/℃-40～125℃（AX线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃ AF非线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）AX2、AX5、AX10、AX15、AX20、AX25 , AF2、AF5、AF10、AF15、AF20、AF25 比如AX15：线性15℃，线性范围-40～125℃；；AF15：非线性（平均）15℃，非线性范围：-40～125℃。非线性（平均）温度范围℃及非线性（平均）温度速率min/℃-55～125℃（CX线性2℃/5℃/10℃/15℃ CF非线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）CX2、CX5、CX10、CX15，CF2、CF5、CF10、CF15、CF20、CF25；比如CX10：线性10℃，线性范围-55～125℃；CF10：非线性10℃（平均），非线性范围：-55～125℃。环境要求风冷环境温度要求+5～+30℃/水冷环境温度要求+5～ +40℃（水冷需要装水塔或冰水机）温度范围-70℃～+150℃温度均匀度≤2.0℃温度偏差≤±2.0℃温度波动度 ≤±0.5℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）电源AC380V±10%,50Hz±1三相四线+接地线（3/N/PE），接地电阻小于4Ω湿度范围10%RH～98%RH（5%～98%R.H；为特殊条件需定制）湿度均匀度≤3.0%RH湿度偏差+2.0%RH～-3.0%RH（±3.0％RH 按 GB/T 2423.3-2008 表示）湿度波动度≤±2.0%RH标准配置观察窗（双层中空钢化导电玻璃）1个，测试孔Φ50/Φ100mm（位于左边）1个，样品架2层，箱内照相灯（LED灯）1条，供水箱1个，湿球用气象带1个，小脚轮4个，电源线1条。满足试验标准：GB/T 2423.1 低温试验方法 GJB 150.3 高温试验GB/T 2423.2 高温试验方法 GJB 150.4 低温试验GB/T2423.34 湿热循环试验法 GJB 150.9 湿热试验IEC60068-2 温湿度试验法 MIL-STD-202G-103B湿度测试兼容的测试标准：IEC-60749-25：半导体器件——温度循环IEC-60068-2-14 Nb：环境测试——温度变化IEC-61747-5：液晶和固态显示设备——环境、耐久性和机械测试方法JESD22-A105-C：固态器件，测试质量和可靠性——功率和温度循环SAE-J1211：汽车部件 - 电子设备设计的推荐环境实践IPC-9701：表面贴装焊接附件的性能测试方法和资格要求

上海伯东 inTEST ThermoStream 高低温测试机用于光通信收发器(transciever)温度测试光通信收发器(transciever)温度测试原因：光通信器件在出厂前需要做元件级测试，主要包括对光纤收发器内部关键器件在电工作的电性能测试，失效分析、可靠性评估等，例如温度循环测试 Thermal cycle 与温度冲击测试 Thermal stock。inTEST ThermoStream 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个收发器，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光通信收发器(transciever)客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的光通信生产企业，经过技术选型，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于光通信收发器的高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，配套自动机械手臂，测试温度范围：80°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。收发器温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测收发器和温度传感器放置在客户定制的测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-545-M 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的光通信收发器(transciever)温度测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511

简单介绍Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。快速高低温循环冲击热流仪 的详细介绍捷龙高低温冲击系统热流仪Froilabo公司成立于1918年，总部位于法国的里昂，距今已有100多年的历史，是法国杰出的温控设备制造商。通过和广东宏展科技有限公司的合作，现Froilabo品牌已成功进驻中国、亚洲等多国市场。Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。产品介绍:捷龙是一种快速、控温**的高低温冲击系统，温控范围从-80℃到250℃，适用领域涵盖国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业。通过使用捷龙高低温冲击系统能够对电子元件和材料进行热试验和表征，进而提高它们的可靠性，方法应用非常简便。主要特点： 1.快速、精准的温度控制系统，控温范围从-80℃至250℃ 2. 空气流量控制：2.2至8.4升/秒 3. 快速升/降温速率：-55℃至+125℃=7s；+125℃至-55℃=14s 4. 温度调节精度：+/-0.1℃ 5. 3种工作模式：手动，自动和可编辑模式 6. 触摸屏控制，操作简便 7. 存储多达45个温度程序，每个温度程序*多可设定20个步骤 8. 可进行国际标准JEDEC和MIL-STD 883及750有关的温度循环测试应用

一、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0产品简介：液槽冷热冲击试验箱是用于在短时间内再现试验结果的有效试验装署。采用ESPEC共通的触掉式彩色液晶操作屏。对应美军标MIl-STD-883F(Method No.1011.9)等试验标准,液槽冲击试验箱采用搅拌对流液体介质代替循环流动空气介质就行热传递，可以满足严酷的试验要求。系统结构可分为高温液槽(预热区)。低温液槽(预冷区)二部分，通过控制机械传动部件将测试样品交替置入高，低温液槽的方式来模拟高温和低温之间的瞬间变化环境。液槽冲击试验箱适用于模拟评估航空工业，国防工业，自动化零部件，汽车零部件，电子电器仪表零组件，半导体等相关产品及材料在周围温度急剧变化条件下的适应能力，从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格，通过试验提供预测和改进产品的质量和可靠性依据。二、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0技术参数：1、标称容积：2.1L/5L2、高温液槽温度范围:+60℃～+200℃3、低温液槽温度范围:-65℃～0℃4、温度恢复时间:1min5、温度波动度:≤±0.5℃6、温度均匀度:≤2.0℃三、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0工作原理：试样的平滑移动，采用空气气缸方式及新的入槽方式，减少对试样造成的振动影响，避免不必要的应力影响。传导媒液消费量的大幅度减少，通过提高试验区的气密性，防止浆发，采用水分离滤网分离水份,消费量比旧型号下降65% (与旧型号一样通过阀门的切换选择使用一液或二液)。备有专用的传导媒液再生装置(选购件〉。同旧型号相比,设置面积减少15%以上，重量减少18%以上。四、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0主要特点：■高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。■采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽，往返冲击方式。■氟油采用单一相同液体于高低温槽内，降低经常换液体之成本。■采用原装LCD中英文集成彩色液晶触控屏主脑控制器■本设备配合现场需要，可选择水冷或气冷之冷却方式■本冷热冲击机构移动时间为10秒内■浸液式温度冲击，试件直接浸入高低温液体介质，相比空气冲击试验箱，可向试件施加更大温度应力；■外形紧凑，与其它品牌同规格产品相比，可节约占地空间多；■自主制冷，技术优良，采用自主研发的单压缩机制冷技术，突破常规制冷技术瓶颈，可实现-100℃至+150℃大温区温度冲击；系统精简，可靠性及维护性高。■节能静音，制冷系统可有效降低系统能耗，静音环保；一机多用，可进行温度冲击试验、高温暴露试验、低温暴露试验及常温暴露试验等多种试验模式；稳定的驱动装置，实现平稳传动，双向电动驱动，实现平稳冲击。

高低温湿热试验箱 GDS系列主要技术参数Specifications以下是小型高低温湿热试验箱（容积50升-250升）型号GDS-50A(B/C)GDS-100A(B/C)GDS-150A(B/C)GDS-250A(B/C)内胆尺寸:mm400×350×400500×450×500500×500×600600×520×800外型尺寸:mm820×860×1400920×960×1500920×1050×16701020×1050×1870电压/功率A型：220V/2.5KWA型：220V/3KWA型：220V/3.5KWA型：380V/4.5KWB型：220V/3KWB型：220V/3.5KWB型：220V/5KWB型：380V/6KWC型：220V/4KWC型：380V/5.5KWC型：380V/6KWC型：380V/6.5KW温度范围：A型-20℃～+150℃或B型 -40℃～+150℃或C型 -70℃～+150℃以下是大型高低温湿热试验箱（容积500升-1500升）型号GDS-500A(B/C)GDS-800A(B/C)GDS-1000A(B/C)GDS-1500A(B/C)工作室尺寸:mm800×700×900800×1000×10001000×1000×10001500×1000×1000外型尺寸:mm1220×1230×20401280×1500×20301420×1530×22001980×1530×2200电压/功率A型：380V/5KWA型：380V/5.5KWA型：380V/7KW,A型：380V/8KWB型：380V/7KWB型：380V/7.5KWB型：380V/8KWB型：380V/9KWC型：380V/8KWC型：380V/8.5KWC型：380V/9KWC型：380V/12KW温度范围：A型-20℃～+150℃或B型 -40℃～+150℃或C型 -70℃～+150℃高低温湿热试验箱 GDS系列介绍Product Introduction 高低温湿热试验箱（GDS系列）特点：适用于仪器仪表材料、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、航空航天产品及其他相关产品零部件在高低温湿热的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验设备主要适用于工业产品恒定、湿热交变的可靠性试验，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。高低温湿热试验箱结构高低温湿热试验箱主要由箱体、加热系统、制冷系统、空气循环系统以及控制系统组成。试验箱体设计采用数控机床加工成型，并采用无反作用把手，操作容易。箱门密封采用精制硅橡胶，从而在高、低温下不易老化及硬化现象。内胆为进口SUS304不锈钢板，外壳为A3板喷塑处理，更显光洁、美观。保温系统采用超细玻璃纤维或硬质聚胺脂发泡填充保温区，以保证箱体内部温度。独立的加温与制冷系统使设备更有效的升温、降温，制冷系统为全自动控制与安全保护协调系统。采用多翼式强力送风循环，可使测试区域内温度分布均匀。空气循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回温时间快。温湿度控制采用韩国进口“TEMI360”智能可编程控制仪，3.5寸“TFT真彩触摸薄屏中文/英文可选菜单，程式编辑：可编辑120组程式，每组程式大可编辑100段通讯接口RS485，产品显示清晰直观，可编程控制系统操作灵活方便，性能稳定，工作更高效 湿度范围 ：30～98％R.H湿度偏差 ： +2 -3%％R.H温度偏差 ： ±2℃波动度/均匀度 ：≤±0.5℃/≤2℃升温速率 ：1.0～3.0℃/min降温速率 ：0.7～1.0℃/min外箱材料:A3钢板静电喷塑/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理内箱材料:进口SUS304不锈钢板保温材料:超细玻璃纤维保温棉/硬质聚胺脂发泡箱门密封:双层耐高、低温防老化及硬化精制硅胶密封条控制仪:3.5英寸韩国进口“TEMI360"智能可编程触摸屏控制器精度范围:温度±0.1℃ 显示精度：温度±0.1℃温度传感器:铂金电阻PT100Ω/MV循环系统:耐温低噪音型电机，加长轴、不锈钢多叶式离心风叶供水方式:采用电子液位控制器自动控制.且可回收余水.带缺水报警加湿方式:外置隔离式，全不锈钢电热式蒸汽发生加湿方式除湿方式:采用凝露法蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式加热方式:镍铬合金电加热式加热器冷却器:法国“泰康”多级膜片式蒸发器压缩机:法国“泰康”全封闭制冷压缩机/法国“泰康”全封闭制冷压缩机组安保装置 电源超载、漏电、超温、缺水保护（带声讯提示）、快速保险丝、压缩机过压保护标准配置 耐高、低温钢化玻璃内热式中空玻璃观察窗：220×180(mm)一个, 照明灯一只,测试引线孔￠50mm一个，样品架2付，测试引线孔1个，脚轮一套使用环境温度5℃高低温湿热试验箱符合标准GB/T2423.1-2001 电工电子产品基本试验规程 试验A:低温试验方法GB/T2423.2-2001 电工电子产品基本试验规程 试验B:高温试验方法GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验方法 试验Cab：恒定湿热试验GB2424.1-89 电工电子产品基本环境试验规程 高温低温试验导则GB/T2324.2-1989.GB/T2423.1-1989.GB/T2423.4-1993等标准注： 1、“GDS”为高低温湿热试验箱型号。 2、技术参数均在环境温度≤25℃.工作室空载条件下测得。 3、以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型。 4、可根据用户的具体要求定做非标型“高低温湿热试验室”。 5、外形尺寸的高度不含箱体底部脚轮高度。

价格货期电议inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试微控制器 MCU 芯片广泛应用于消费电子 (手机, 打印机), 计算机网络, 工业控制, 医疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中, 汽车是 MCU 芯片最大的应用市场, 传统汽车单车会平均用到 70个左右, 而新能源汽车则需要用到 300多个, 应用领域包括 ADAS, 车身, 底盘及安全, 信息娱乐, 动力系统等, 几乎无处不在. 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的 MCU 芯片高低温测试难题.微控制器 MCU 芯片需要进行温度测试以工作温度为例, 车规级要求 MCU 可承受工作温度范围为 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工业级为 -40℃ 至 85℃, 而消费级只要保证 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可过关, 因此消费级产品在常温时工作状态与工业级 / 车规产品差异不大, 但在高低温时, 则容易出现问题, 严重的可能会导致整个系统停机. 因此工业级或车规级 MCU 在出厂之前需要专门针对严苛应用环境做针对性设计与筛查, 从而达到工业设备或汽车对于元器件高可靠与低缺陷的要求.MCU 芯片高低温冲击测试案例国内某本土 MCU 厂商从成立之初就将工控和车载作为研发方向, 经上海伯东推荐, 采用美国 inTEST ECO-710E 对其 MCU 产品进行高低温冲击测试, 并且满足汽车电子协会 Automotive Electronics Council 的通用标准, 例如目前广泛采用的集成电路失效机理的应力测试条件的 AEC-Q100.车载 MCU 芯片的工况环境决定其温度等级, 根据其测试标准, 芯片的温度测试要求如下:MCU 芯片温度等级等级工作温度范围备注Level 0- 40℃～150℃最高范围Level 1- 40℃～125℃一般等级Level 2- 40℃～105℃一般等级Level 3- 40℃～85℃最低范围针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 MCU 芯片高低温测试解决方案ECO-710E 测试的温度范围 -80 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, inTEST 高低温测试机 ECO-710E 搭配 delta design 测试机共同进行微处理器芯片测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等. inTEST 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的芯片高低温测试难题.微处理器芯片高低温测试方法:1. 将待测微处理器芯片放置在玻璃罩中2. 操作员设置需要测试的温度范围3. 启动 ThermoStream ECO-710E, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温, 气流通过热流罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前温度.inTEST 热流仪技术规格型号ATS-545ATS-710EECO-710EATS-535温度范围 °C-75 至 + 225-75至+225-80 至 +225-60 至 +225变温速率-55 至 +125°C 约 10 S+125 至 -55°C 约 10 S-55 至 +125°C 约 10 s+125 至 -55°C 约 10 s-55 至 +125°C, ≤ 10S125 至 -55°C, ≤ 10S-40至+ 125°C 12 s+125至-40°C 40 s空压机额外另配额外另配额外另配内部集成空压机控制方式旋钮式触摸屏触摸屏旋钮式气体流量 scfm4 至 184 至 184 至18 SCFM5温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时）电源200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase220±10%VAC, 50/60Hz, 30A微控制器 MCU 在生活中的应用非常广泛, 各种家电设备, 消费电子, 工业品和车载电子几乎都离不开 MCU 芯片, 工业级（或车规级）MCU 与消费级 MCU 最大的区别之一是可靠性要求不同, 工业与车载应用环境对产品可靠性要求更高, 需要更高的抗静电能力, 更高的抗浪涌电压与浪涌电流能力, 更宽的工作温度范围, 以及更长的寿命. 若您需要进一步的了解 MCU 芯片高低温测试详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

高低温冲击测试机 inTEST ThermoStream ATS-750E上海伯东美国 inTEST ATS-750E 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ThermoStream ATS-750E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-750-85至+300 50Hz-90至+300 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232温度显示精度：±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作LabView&trade 驱动CE相容 不含CFC加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分低温时热模式自动减少电力待机时自动节省电力提供 inTEST ATS-750E-M 机械手臂版本ATS-750E-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.有意向者欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

步入式温湿度环境舱实验室 大型高低温老化测试机技术参数型号DR-H202-8VDR-H202-10VDR-H202-15VDR-H202-V20DR-H202-V25DR-H202-V30内箱尺寸WxHxD(mm)2000x2000x20002500x2200x20003000x2000x25004000x2000x25004000x2500x25004000x2500x3000外箱尺寸WxHxD(mm)3100x2300x22603600x2300x22604100x2300x27605100x2300x27605100x2800x27605100x2800x3500温度范围-60℃～+80℃(80℃以上为特殊订做)（D:-40℃ G:-70℃）湿度范围20%～95%R.H.(10%-98%R./5%～98%R.H为特殊选用条件)温湿度解析精度/均匀度0.01℃；0.1%R.H./±1.0℃；±3.0%R.H.温湿度控制精度/波动度±1.0℃；±2.0%R.H./±0.5℃；±2.0%R.H.升温/降温时间约3.0℃/分钟；约1.0℃/分钟（每分钟下降2℃～15℃以上为特殊选用条件）内外部材质外箱为SUS304#不锈钢表面条纹处理或冷轧钢板烤漆处理，内箱为SUS304#不锈钢保温材质耐高温高密度聚酯胺硬质发泡绝缘体材料冷却系统10立方米以下可选风冷式/水冷式，10立方米以上均为水冷式保护装置无熔丝开关、压缩机过载保护开关、冷媒高低压保护开关、超湿度超温保护开关、保险丝、故障警告系统配件记录器(选购)、观视窗、50mm测试孔、PL箱内灯、隔板、干湿球纱布控制器液晶LCD可程式控制器（可选）压缩机步入式温湿度环境室DR-H202-V25使用原装进口“泰康”、“博客”、“比泽尔”（选用）电源3Φ380VAC±10%50/60Hz 备注10立方米以下可选择制作为整机结构可移动式或库板组装式结构，10立方米以上均为库板组装式结构步入式温湿度环境舱实验室 大型高低温老化测试机是专业为科研单位，大型企业，如汽车整车试验，TCL液晶显示屏，蓄电池批量生产，LCD灯等批量产品进行检测高温、低温、湿度检测试验设备。步入式环境实验室_步入式试验室特点：1.步入式环境试验室可提供产业界大型零件、半成品、成品进行温湿度环境测试，其主要由控制面板、配电盘、保温库板、送风机、加热器、加湿器、冷冻机组合而成，主要规格区分七种标准室内尺寸及28种不同条件测试规范。2.采用离心送风方式之水平扩散垂直热交换循环系统，避免死角使室内温湿度分布均匀。3.可程式控制器可以由界面与电脑连接，使用者可以在电脑上设计程序，收集测试资料与记录，呼叫程序执行、遥控机器开关机等功能。4.发生异常时，控制器屏幕及时显示故障情况，切断电源开关，并提供故障排除方法。5.冷冻机采用欧美原装进口德比比泽尔压缩机，并使用环保冷媒，冷冻系统采用二元式低温回路系统设计，并于不同温域采用不同压缩机作功，以增加设备使用寿命。步入式温湿度环境舱实验室 大型高低温老化测试机冷冻配置：1、冷冻机采用欧美原装进口压缩机，并使用环保冷媒R134A、R404、AR23A2.冷冻系统采用采用二元低温回路系统设计，并于不同温域采用不同压缩机做功，以增加设备使用寿命。3.利用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区内温湿度分布均匀。4.风路循环采用侧吹出风回风设计，风压、风速皆符合试验标准，并可使开关瞬间温湿度回稳时间快。5. 升温、降温、加湿、除湿系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，降低故障率。步入式温湿度环境舱实验室 安装服务※ 送货至贵司指定地点并进行安装调试包装运输：※ 1．提货：交货时用户可以采取自提或由本公司代办托运，运费由环仪仪器公司承担※ 2．包装：本公司产品采用外包装或木箱包装，广东省地区以内为保护膜包装技术培训：※ 1．详细介绍和演示系统的功能和操作。※ 2．对需方使用人员进行技术讲解操作指导直至受培训人员完全掌握为准。※ 3．系统设备日常保养及维护的培训验收和服务：※ 1．预验收：发货前在供方处进行预验收试验，检验整个系统的运行指标。※ 2．终验收：在货到达用方安装调试完毕后，按国家标准或产品试验进行最终验收，验收通过，签订验收合格。同时，合同规定的保修期开始。※ 3．在设备保修期结束以后运行过程中，供货商有义务提供技术支持及售后服务。在设备投入使用过程中，如果出现任何故障，供方在接到使用方需要维修的通知后保证在最快时间内赶到设备现场进行维修。 ※ 4． 供方会对该设备进行不定期的走访和检测机器的使用效果

型号CTL-50CTL-120CTL-180CTU-50CTU-120CTU-180CTS-50CTS-120CTS-180HxWxD(mm)内300x460x350500x610x400600x660x450外2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温度暴露范围﹢60℃ ～ ﹢200℃预热温度上限200℃升温时间R.T→﹢200℃约40min低温室温度暴露范围0 ～ ﹣75℃预热温度下限﹣75℃降温时间R.T→﹣70℃约60min提篮温度范围CTL：﹣40 ～ 150℃CTU：﹣55 ～ 150℃CTS：﹣65 ～ 150℃温度波动度≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）温度偏差≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）转换时间≤5S温度回复时间≤5min结构外箱材质冷轧钢板表面喷塑（象牙白）内箱材质#304镜面不锈钢（1.2mm）隔热材料非危废类环保型玻璃纤维保温层制冷制冷方式风冷（A）或水冷（W）制冷机进口压缩机温度传感器铠装铂电阻控制器西门子PLC模块（含宏展环境试验设备嵌入式PLC控制软件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶触摸控制屏（含宏展环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件PlatinumV1.0）数据存储于功能接口USB数据接口：设备带有USB存储接口，存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数，存储格式为.csv格式，此文件可由宏展公司上位机通讯软件直接生产曲线，该USB接口不支持热插拔及下载功能，如要用U盘存储试验数据，需一直让U盘处于正常联接状态。 TCP/IP通讯接口：试验箱带有RJ45数据接口，后期如购买上位机通讯功能后（含宏展环境试验设备嵌入式计算机监控软件PlatinumV1.0），即可联接此接口以实现计算机管理功能，单台试验箱支持5台计算机同时访问、上位机软件可管理32台试验箱装机功率（KVA）19.73236电源AC380V 50Hz三相四线制+接地线标配配置产品使用说明书、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、隔板2层、带脚轮满足标准GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2详细规格以对应规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。高低温冲击测试机实拍：