布鲁斯特显微镜

可信计量、逼真成像、清晰结果?逼真成像与可信测量数据的结合?简易直观的操作界面提供良好的用户体验?更快速地解决复杂研究和生产要求下的各种挑战布鲁克Contour Elite™ 三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上，进一步增强Vision64® 软件的用户易用性，创新性加入全新的成像软硬件，拓展高保真成像能力。在要求极高的研发、质量控制领域，Contour Elite™ 可为用户提供高速、准确和重复性极佳的测量结果。同时，它为用户提供在通常共聚焦显微镜下能得到的成像与显示效果，如彩色影像等。建立在Wyko® 专有白光干涉仪基础上，历经三十多年软硬件的积累与创新，布鲁克Contour Elite系统提供了直观可视化的操作界面，丰富的用户自定义方式，自动化程序控制功能，以及最快速、广泛适用的表面三维形貌的高保真成像与准确测量，来保证各种领域研发、生产应用的测试需求。 Contour Elite K高稳定性，具备一定防震性能设计的桌面式型号 Contour Elite I全自动，有集成防震垫设计的桌面式型号 Contour Elite X全自动，集成落地式防震台的型号

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：

布鲁克始终致力于使任何技术水平的用户都能更轻松地使用先进技术。LUMOS II 傅立叶变换红外显微镜始终秉承这一信条。它的硬件、软件和用户界面都是围绕这个理念构建的，即使是初学者也可以在最短的时间内获得出色的结果。为什么？因为傅立叶变换红外显微成像技术的普遍适用性提供了太多的优点，这些优点即使使用复杂设备也很难获取。LUMOS II 使傅立叶变换红外显微和成像更快、更容易、更好 — 而且更有趣！技术事实焦平面阵列 (FPA) 检测器凭借无与伦比的速度和准确度，FPA 检测器在红外光谱成像方面奠定了最高基准。 PermaSure+ 优势PermaSure+ 可确保稳定的性能并持续监控所有光谱仪参数。此外，它通过逐像素激光波数校准（专利申请中）提高了仪器的效率。 可视化检查LUMOS II 令人印象深刻的是它的视野有 1490 x 1118 μm2,也提供了一种亚微米 0.6 μm /像素的空间分辨率。 检测器灵活性LUMOS II 配有三个检测器位置。TE-MCT 非常灵敏，不需要液氮。当然，也可以使用 DTGS 和液氮冷却的 MCT 检测器。 自动化为了实现最高精度，LUMOS II 完全由电机驱动，通过软件控制。只需单击一下即可切换光阑、检测器或测量技术，并确保您的硬件完全准备好进行分析。 无需吹扫在许多工作环境中供应干燥空气或氮气可能非常麻烦。LUMOS II 光学元件紧密密封，能够抵御环境变化，无需干燥空气吹扫。标准的 ZnSe 光 学元件使 LUMOS II 可以完全抵抗高湿度。 无需液氮也许并不是所有 FTIR 显微镜用户都能方便的使用液氮。这就是为什么LUMOS II 配备了 TE-MCT 检测器，它不需要液氮，但与DTGS相比仍然为灵敏的单点测量提供了卓越性能。 低功耗现代精密电子元件和硬件组件降低了 LUMOS II 的功耗和运行成本。各组件使用寿命长LUMOS II 只使用最高质量的材料。这就是为什么我们能为中央光谱仪组件（干涉仪、激光器、光源）提供延长保修的原因。 占用体积小，易于取放样品LUMOS II 不仅采用最新技术。此外，它还针对拥挤的实验室环境进行了优化，并提供了非常方便的取样进出通道。真正的通用抽样LUMOS II 提供了为显微镜制备样品所需的所有配件。即使是复杂而敏感的样品也可以快速进行分析。例如，特殊的锗半球可以获得特别粘稠、易脆或柔软材料的 ATR 成像。用不同类型的支架可以分析片剂、红外透明窗片、过滤片、层压板或非常大的样品。LUMOS II 可轻松处理高达 40 mm 的样品。由于可自由取放的样品台，您几乎可以将任何东西放在显微镜下，仍然可以获得完美的结果。除此之外，它还配备了标准的目视分析工具，如偏振器、暗场照明和其他对比度增强功能。FTIR 显微技术和成像的应用多样性非常显著。无论是产品开发，故障分析还是识别古代文物的成分，LUMOS II 都能以优雅和高效的方式完成所有工作。 符合药品法规LUMOS II 及其软件满足 cGMP、所有主要药典的严格要求，并遵循 ALCOA+ 原则。此外，广泛的用户和签名管理功能使管理变得简单，而所有数据都以其原始形式安全存储，并符合 21 CFR 第 11 部分。