油膜厚度仪原理

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

锡箔纸SA999902 直径35mm 厚度0.010mm100片/盒 Tin disc 35 mmthickness 0.010 mm | 100/pack OEM equivalent parts:Thermo 252 08018

薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒

大连力迪流体控制技术有限公司代理比利时it4ip 径迹蚀刻膜 核孔膜，近30年进口工业品经验,常备大量现货库存,支持选型，在中国设有：上海，北京，广州，南京，成都，沈阳，长春办事处，可为您提供维修服务。售后服务工程师，可及时到现场给客户提供安装调试指导服务。一、it4ip 公司介绍比利时it4ip 成立于2006年，起源于1980年代在UCLouvain（比利时）发展起来的一家以技术为基础的私营公司，专注于开发、生产和提供径迹蚀刻过滤膜，it4ip利用径迹蚀刻技术（track-etching tenology）制造具有多种不同应用的微米和纳米多孔径迹蚀刻膜，用于石棉纤维检测、血液过滤、癌细胞筛选或微米和纳米体的合成等。It4ip 径迹蚀刻膜的特点是具有精确的过滤阈值，从10nm 到几十微米不等，具有很小的厚度和特别的表明特性。It4ip的生产和转换能力为每年150000平方米，可根据客户的要求，以卷、片、盘或其他形式提供各种产品以及OEM解决方案。 二、it4ip 径迹蚀刻膜的原理It4ip径迹蚀刻膜的原理是用高能粒子辐照聚合物薄膜，形成潜在径迹，然后通过特定的化学处理将这些径迹转化为规则的孔隙。该技术在洁净室中实施，适用于以几百米长的轧辊形式连续生产。 It4ip径迹蚀刻膜的制造包括两个步骤：即聚合物薄膜的离子光束辐照和辐照后聚合物薄膜的化学蚀刻。化学蚀刻通常在浓度和温度控制良好的碱性水溶液中进行。其主要特征是径迹蚀刻速率（Vt）和体蚀刻速率（Vg）。为了获得具有圆柱形孔的均质膜过滤器，需要高比率的Vt/Vg。径迹密度或所需孔密度由离子束的强度和薄膜的速度所决定。孔径由化学蚀刻条件决定，因此径迹蚀刻膜可以进行孔径和空密度的选择。先进的径迹蚀刻技术可应用于聚酰亚胺（PI）、聚酯(PET)和聚碳酸酯（PC）。其中聚酰亚胺的径迹蚀刻是it4ip 独有的技术。三、it4ip 径迹蚀刻膜的产品介绍It4ip轨道蚀刻过滤膜是采用优质原材料和轨道蚀刻技术制造，材料有聚碳酸酯（PC）、聚酯（PET）或聚酰亚胺（PI）薄膜。It4ip轨道蚀刻过滤膜具有均匀和精确的孔径，窄的截止孔，宽的空隙率，厚度从6μm到50μm不等。作为筛选过滤膜，其光滑平坦的表面使其适合于对残留颗粒进行精确分析的应用。It4ip具有大的制造能力， 可生产50厘米宽的卷轴（宽达50厘米，长400米），也可根据客户的要求，将窄的卷轴（宽达10毫米）转换为各种格式，例如薄片、正方形、圆盘或任何其他尺寸的样品。it4ip 径迹蚀刻膜的产品特点：孔径从0.01μm到30μm，宽的孔隙率，孔隙率达50%6-50μm的厚度，采用高质量的原材料，聚酰亚胺PI，聚碳酸酯PC 和聚酯PET孔排列及孔长度的多种选择，直的或者多角度的白色、黑色、透明等多种颜色和表面涂层大规模生产和转化能力，多形状，宽幅的，窄幅的，片状、正方的，盘状等低萃取性、低蛋白结合、可忽略吸附和吸收、生物相容性、优异的耐化学性和热稳定性It4ip 提供的径迹蚀刻膜产品包括ipPORE™ 径迹蚀刻过滤膜，ipBLACK™ 径迹蚀刻过滤膜，ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜，材料有有聚碳酸酯（PC）和聚酯（PET）两种，孔径和厚度可选，其中ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜经过专有的表面处理方法进行处理，以促进多种细胞系的生长和分化，具有优异的细胞粘附性，用于细胞培养及信号传导等研究。 it4ip轨道蚀刻膜主要产品：ipPORETM 轨道蚀刻膜过滤器、ipBLACKTM 轨道蚀刻膜过滤器、ipCELL CULTURETM轨道蚀刻膜过滤器、it4ip核孔膜、it4ip轨道蚀刻膜过滤器、it4ip径迹蚀刻膜过滤器、it4ip聚碳酸酯膜过滤器、it4ip PET膜过滤器、it4ip聚酰亚胺膜过滤器等

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

铜网厚碳支持膜主要用于在200kV或300kV的电镜下,观察纳米材料的形貌像。由于200kV以上电镜的电子束对样品的穿透能力强，同时对样品和支持膜的损伤程度也较大。碳支持膜的厚度需要更厚一些，以避免高强电子束对样品的损伤。同时，对于一些具有化学腐蚀的样品，推荐使用该产品。因此，厚碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。膜总厚度：15-30 nm 大包装100枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022a铜200目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ310223a铜230目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31023a铜300目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31024a铜400目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒中包装50枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022b铜200目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ310223b铜230目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31023b铜300目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31024b铜400目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒

油墨专用称量盘 专为涂料行业制作，适用于涂料行业做可挥发性物测定，该产品顶部包边，侧面光滑，少褶皱，底部光滑透亮，是涂料行业的理想选择。 边缘无凹槽-质轻，边缘有突起；边壁有一定倾斜度，便于堆放；特别适用于易弄脏称量盘的样品。 品用优质铝材制作，尺寸匹配各品牌水份仪，表面完全洁净无油，免洗，不污染测试样品，不失重，保证实验数据精度；外观美观挺括，耐高温；上口边缘卷边设计，强度高，无锐利锋口，使用安全、方便。 货号 底直径mm 顶直径mm 高mm 包装 HA10x0.8 98mm 100mm 8mm 50只/包 专业用在水分测定仪，现货大量供应，开票送货上门。

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度； Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： 1、U型压力计的校准 PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。五、使用与操作步骤PSI-4B型

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默克薄层层析产品默克公司薄层层析产品标识的含义：F－ 含有荧光指示剂 F254＋366－ 荧光指示剂的激发波长F254s－ 蓝色荧光指示剂 (对酸稳定) G－ 粘合剂含硫酸钙H－ 不含粘合剂 R－ 经特殊工艺进行深度纯化W－ 可被水浸润 P－ 制备薄层层析 常规薄层层析板§ 采用Silica 60为原材料，通过特有的聚合技术使其 表面覆盖紧密、光滑，拥有极好的分离效果类型产品描述规格涂层厚度包装货号价格促销价TLC Silica gel 60 F254玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05715.0001975 70010×20 cm250μm50/pk1.05729.00011271 5505×20 cm250μm25/pk1.05808.00011138 ——5×10 cm250μm25/pk1.05789.00011218 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15327.00012511 ——铝板20×20 cm200μm 25/pk1.05554.0001814 60010×20 cm200μm25/pk1.05570.00011204 ——5×10 cm200μm50/pk1.16834.00011228 ——5×7.5 cm200μm20/pk1.05549.0001385 ——TLC Silica gel 60 玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05721.00012282 75010×20 cm250μm50/pk1.05626.00011538 6005×20 cm250μm100/pk1.05724.00013101 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15326.00012436 ——铝板20×20 cm200μm25/pk1.05553.00011643 ——5×10 cm200μm50/pk1.16835.00011396 ——

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默克薄层层析产品默克公司薄层层析产品标识的含义：F－ 含有荧光指示剂 F254＋366－ 荧光指示剂的激发波长F254s－ 蓝色荧光指示剂 (对酸稳定) G－ 粘合剂含硫酸钙H－ 不含粘合剂 R－ 经特殊工艺进行深度纯化W－ 可被水浸润 P－ 制备薄层层析 常规薄层层析板§ 采用Silica 60为原材料，通过特有的聚合技术使其 表面覆盖紧密、光滑，拥有极好的分离效果类型产品描述规格涂层厚度包装货号价格促销价TLC Silica gel 60 F254玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05715.0001975 70010×20 cm250μm50/pk1.05729.00011271 5505×20 cm250μm25/pk1.05808.00011138 ——5×10 cm250μm25/pk1.05789.00011218 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15327.00012511 ——铝板20×20 cm200μm 25/pk1.05554.0001814 60010×20 cm200μm25/pk1.05570.00011204 ——5×10 cm200μm50/pk1.16834.00011228 ——5×7.5 cm200μm20/pk1.05549.0001385 ——TLC Silica gel 60 玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05721.00012282 75010×20 cm250μm50/pk1.05626.00011538 6005×20 cm250μm100/pk1.05724.00013101 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15326.00012436 ——铝板20×20 cm200μm25/pk1.05553.00011643 ——5×10 cm200μm50/pk1.16835.00011396 ——

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332