多金属分析规程

到梅特勒托利多官网详细了解 金属检测机梅特勒托利多为食品、制药、日化等行业提供在线金属和非金属异物检测解决方案。帮助客户符合HACCP，FDA的认证要求和其他卫生安全标准，如IFS，BRC，进而保护品牌形象，让客户可以专注于提高生产效率和生产质量。 再严格的生产规程也无法完全杜绝人为和自然的金属和非金属污染，比如设备的磨损、零件的脱落等自然因素，以及长时间工作造成人工抽检的不可靠因素都让100%的自动化在线检测成为必需。 梅特勒托利多在线产品检测设备为食品、药品、日用品加工行业提供的金属检测机能够检测各种包装形式的产品，比如包装后的产品、散料、粉末甚至是粘稠的液体。该系统能够帮助客户符合食品安全标准和行业方针与法规。 梅特勒托利多在线产品检测设备为制药行业提供的金属检测机可以检测各种药片、胶囊和药粉，并且确保符合国家法规、校准和认证方面的要求。 R系列Signature金属检测头为您提供最高的在线检测性能，哪怕是非磁性不锈钢也可以方便地被检测。如果把物料传输系统集成起来，比如皮带传输系统，可以实现完全自动的产品检测。R系列检测头能够用于各种传输带传输的产品，包括散料、加工后的产品和包装后的产品。到梅特勒托利多官网详细了解 金属检测机 梅特勒托利多金属检测机具有以下应用：铁杂质检测：铁金属检测机能够检测金属膜包装产品中铁杂质，比如糖果和方便食品。纺织行业金属检测：用于纺织行业的铁金属检测机能够检测各种纺织物如衣服、玩具等产品中断裂的针头和其他金属异物，防止意外发生。散料金属检测：重力下落式金属检测系统能够用于各种散料，不管是精制散料还是原料，甚至是大一点的不规则的物体都可以检测。系统集成了各种剔除装置将含异物的散料剔除。包装金属检测：梅特勒托利多T系列金属检测机主要用于检测垂直包装的产品。可以检测自由落体的产品中的金属异物，典型安装位置是在称量罐装机或者包装机之前。管道金属检测：梅特勒托利多L系列和HDS管道式金属检测机主要用于食品行业，检测液态或者粘稠的产品，因为这类产品都是通过管道传输。药品金属检测：梅特勒托利多在线检测设备为制药行业提供的金属检测机能够帮助客户满足行业标准，集成的剔除装置能够为药片、胶囊和药粉等产品提供专业的检测和剔除方案。传输带金属检测：传输带系统包含多个部件，每个部件有多种类型可选，如各种驱动装置，传输带材质和类型，以及剔除装置。基本的系统配置是停机报警，有多种实用的设计来保证系统的正常运行，确保不合格产品被剔除。到梅特勒托利多官网详细了解 金属检测机欢迎拨打梅特勒托利多全国客服热线：4008-878-788

六价铬在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。水样在酸性溶液中，六价铬与二苯碳酰二肼（DPC）生成紫红色化合物，于波长540nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，利用比色计进行比色法测量，最后计算并得出六价铬的浓度值。总铬在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。水样在酸性溶液和一定的温度及压力下，水样中各种价态铬被氧化成六价铬。六价铬与二苯碳酰二肼（DPC）生成紫红色化合物，于波长540nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，利用比色计进行比色法测量，最后计算并得出六价铬的浓度值。总铜在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。仪器采用高温消解水样，将水样中的络合铜、有机铜等转化为二价铜离子。再通过还原剂盐酸羟胺将二价铜转化为亚铜，采用浴铜灵作为显色剂，亚铜离子与浴铜灵反应产生黄棕色络合物。该络合物浓度与水样中的总铜浓度成正相关。于波长470nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，比较两者之间的差异分析样品的浓度。总镍在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测，采用高温消解水样，消解试剂添加到水样中。样品被泵送至高温消化单元。样品中的总镍被消解成二价镍离子。 二价镍离子在氧化剂（过硫酸铵）的环境下，在碱性溶液中与丁二酮肟形成橙棕色有色络合物。于波长470nm 处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，比较两者之间的差异分析样品的浓度。总锰在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测，样品先被添加消解试剂，然后被泵送至高温消化单元，采用高温消解。样品中的总锰被消解成二价锰离子。样品的二价锰离子在微碱性溶液中与甲醛肟反应，并形成褐色的有色络合物于波长470nm 处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色变化的不同程度，来确定分析样品的浓度。 产品特点低废液（ 4小时测量间隔）六价铬废液的量只有1.1L/month 。总铬废液的量只有1.3L/month 。总铜废液的量只有1.4L/month 。总镍废液量只有1.9L/month 。总锰废液量只有1.8L/month。低试剂消耗1个月无需更换试剂。自动量程切换，自动稀释同时具有低量程及高量程模式。内置高温消解装置（六价铬除外）自动反冲洗样品过滤器每次检测后自动清洗自动校准5.7" 彩色液晶触摸面中文化菜单样品过滤器仪器在进样处设有样品过滤器，能够降低管道堵塞，降低人工维护量。仪器内并配有空气泵，能自动反冲洗过滤装置。同样也能减少人工维护量。自动校正功能析仪根据用户设定的校正时间和校正类型来进行校正，并有报警提示，确保仪器能够更准确测量。自清洗功能市面上的许多仪器，为了要节省每次分析时间，而减少了测试前后自动清洗。这对于仪器测量的准确性造成影响。Hach HMA重金属分析仪在每次测量前后，自动清洗管道，减少前次试剂残留。能确保每次的测量更准确，并减少人工维护量。自动量程切换仪器具有智能化高低量程切换。仪器的自动稀释功能，在高量程模式时会自动稀释水样。能根据水样浓度，自动调整到合适的量程，使测量结果更为准确。系统稳定Hach HMA重金属分析仪采用和NPW系列相同测试平台，经过长期市场使用证明。确保仪器的运行稳定。优质零部件使用，及严格生产工艺，确保仪器的低故障率。能满足无人值守，现场稳定运行。仪器外观 仪器安装仪器设计在中等灰尘度、室内以及常温下使用工作环境温度建议在10-40°C请不要将仪器安装于阳光直射的地方，并且不能有水滴滴到仪器上。仪器的设计是可以安装在墙上的。尺寸大小请参考下图 （以 mm为单位 ） 在现场方便操作的情况下，将仪器尽可能的靠近采样点安装，使得每次测量都能对采样管路内的水样进行充分更新。安装时，在仪器下方留下不小于 590mm~890mm 的空间，便于下方纯水桶及废水桶与仪器的连接。 图 现场安装示范图 订购货号基本仪器附件型号产品名称货号六价铬在线分析仪HMA-CR6总铬在线分析仪HMA-TCR总铜在线分析仪HMA-TCU总镍在线分析仪HMA-TNI总锰在线分析仪HMA-TMN纯水桶（含感应器）7321530K废液桶（含感应器）7321540K 试剂为了节省用户的运行成本，哈希 HMA 在线重金属的试剂配方将公开 给用户。便于所有使用者能自行调制试剂。详细试剂配方。请洽哈希各办事处。预处理系统 为了使仪器更稳定的运行，并增加测量准确度，降低水中杂质干扰。 哈希另外提供 HMA 配套预处理装置。详细信息请洽哈希办事处。总体语言：中文，英文安装环境：只供室内安装尺寸（高×深×宽）：900×255×600(分析仪主体)重量：60kg（不含试剂）测量方法：比色法样品要求样品流速：1～3 L/min，每次取50mL进行测量样品温度范围：10-40℃进样压力：20～50kPa样品进入：Rc1/2样品排出：Rc3/4试剂标准要求最大试剂用量：六价铬：1L/月，总铬：2L/月总铜：2.5L/月 总镍 5L/月 总锰4.5L/月 (测量间隔1小时)电源电源供应：AC220V ± 10% 50Hz电源连接：三孔插座连接，插座需可靠接地（PE）输出：模拟输出：DC4-20mA×2(频道间非绝缘)数字输出：RS-485 MODBUS-RTU、RS-232C接点输出：变压器接点×2(接点容量：AC220V、3A 及 DC24V、3A)仪器性能测量范围：根据不同参数，分别为：六价铬：0.01-2（低）, 0.02-5 mg/L（高）总铬：0.02～2（低），0.03～5mg/L（高）总铜：0.05～3（低），0.15～10 mg/L（高）总镍：0.05～3（低），0.4～10 mg/L（高）总锰：0.1～5（低），0.5～20 mg/L（高）重复性: ±3%F.S (根据国家相关检定规程)准确度: ±3%F.S (根据国家相关检定规程)零点漂移: ±5 % F.S (根据国家相关检定规程)测量时间: 根据不同参数，分别为：六价铬：25分钟总铬/总桶/总镍/总铬：50分钟自动校正周期:关闭,1 天,2 天… 7 天可选保存温度范围: 0-50℃操作范围: 10-40℃相对湿度: 85％(RH)以下(无冷凝)

产品简介XHAM-2000A大气重金属自动监测仪用于监测工业设施边界附近空气及城市复杂环境中空气悬浮颗粒物中的金属种类及浓度。监测仪通过卷轮式（reel-to-reel, RTR）滤纸带采集样品，并通过X射线荧光光谱（XRF）技术对沉积在滤纸带上的颗粒物进行无损分析。环境空气通过颗粒物粒径切割器进行采样并抽取到滤纸带上，采集的样品自动运送至检测位置，通过XRF技术对选定的金属元素进行分析。分析的同时，下一个样品的采集也同步进行。除了滤纸带运送（约20秒）及日常自动质量检查时以外，采样和分析同步连续执行。产品特点●采样，分析，接近实时报告（每15,30,60,120,180或者240分钟进行一次）；●检测限低；●自动质量检测，报警与控制；●可靠的RTR/XRF技术：已应用于海底探测，火星探测以及成千上万的β射线衰减测试；●至少同时监测23种元素，并可根据用户需求进行扩展；●内置每个分析样品的XRF标准；●每天都会自动校准和流量校验；产品优点●可用于固定或移动式监测平台；●区域及短时排放测量；●可用来建立基于健康标准的基准；●识别设备周界的危险热点；●可进行污染源头确认及化学质量平衡比对；●高灵敏度与可靠性（pg/m3 至μg/m3）；●无损分析，可样品存档；●可建立金属与风速、风向的关联；●用来监测其它标准方法无法检测到的金属浓度变化；产品应用大气重金属自动监测仪同时识别和测量环境空气中的多金属含量，并提供数据。主要应用于以下领域：●厂界监测●化学质量平衡/源解析●背景浓度的计算●识别污染源空间分布●污染源的时间分布●解决紧急突发事件●风险管理/突发事件管理

产品简介：Xact 625用于环境空气的高时间分辨率多金属监测，拥有可媲美实验室仪器的极低检测限，标准配置包括一套固定式气象传感器和专有ADAPT分析套件，该配置使 Xact 625成为在污染来源分析中最强大的设备之一。 该系统采用圈轮式滤纸带采集样品和非破坏性能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）进行分析。环境空气通过颗粒物粒径切割器抽取到滤纸带上，采集的样品自动前进至检测位置，由EDXRF对选定的金属元素进行分析。检测的同时，下一个样品的采集也同步进行。性能特点：v ADAPT数据分析软件可以通过直观的图表显示金属浓度的实时检测值和变化趋势；v 采样和分析方法通过美国环保署（EPA）的美国环保技术认证（ETV）认证； v 自动质量保证，报警与控制； v 每个样品都同时使用内标源进行XRF质量保证； v 每天自动进行XRF校验；

1、重量：1.3kg 含电池2、外观尺寸及特点：242.56 x 208.17 x 67.9 mm；一体化设计，坚固耐用，高密闭性，防水防尘抗冲击，尤其适合现场或野外使用。★3、激发源：高性能微型X射线光管，银阳极靶材；管电压6-50kV，最大50KV能最大效率激发测量更多金属元素；管电流最大500uA；匹配功率最大5W，动态可调电流，为每次分析提供最高灵敏度。★4、探测器：窗口材料升级为1μm石墨烯，探测器前新增Pro Guard网格保护，最大承受50N的力。高性能GOLDD+探测器（Geometrically Optimized Large area Drift Detector），是几何优化的大面积SDD探测器，检测速度更快，是Si-PIN（硅半导体探测器）探测器的10倍，是SDD（小型硅电子漂移探测器）的3倍；通量高达 270,000 cps 的专利探测器；典型分辨率： 150 ev（取决于所用的成形时间）

RMS-通用系列检测所有种类的金属污染物，包括铁、非铁、以及极难检测的非磁性不锈钢。 包装/无包装应用——适用所有中小包装以及无包装产品检出更多金属 多频检测兼顾不同材质金属灵敏度；成熟的相位调节技术有效抑制产品效应；高速数字信号处理技术和智能算法。满足应用 多个工作频率切换，适应不同的检测产品，包括具有较大产品信号的产品。稳定可靠 先进的自动补偿技术，保证检测性能长期稳定。可定制化 除了标准的规格，可以根据用户不同要求定制。高效运行 自动设定、快速切换产品、产品免搬运、历史数据、多语言操作系统等。

RMS-L轻便系列检测所有种类的金属污染物，包括铁、非铁、以及极难检测的非磁性不锈钢。包装/无包装应用——适用所有小包装以及无包装产品 检出更多金属 多频检测兼顾不同材质金属灵敏度；成熟的相位调节技术有效抑制产品效应；高速数字信号处理技术和智能算法。满足应用 多个工作频率切换，适应不同的检测产品，包括具有较大产品信号的产品。稳定可靠 先进的自动补偿技术，保证检测性能长期稳定。可定制化 除了标准的规格，可以根据用户不同要求定制。高效运行 自动设定、快速切换产品、产品免搬运、历史数据、多语言操作系统等。

RMS-H高荷载系列检测所有种类的金属污染物，包括铁、非铁、以及极难检测的非磁性不锈钢。包装/无包装应用——适用所有大包装以及无包装产品检出更多金属 多频检测兼顾不同材质金属灵敏度；成熟的相位调节技术有效抑制产品效应；高速数字信号处理技术和智能算法。满足应用 多个工作频率切换，适应不同的检测产品，包括具有较大产品信号的产品。稳定可靠 先进的自动补偿技术，保证检测性能长期稳定。可定制化 除了标准的规格，可以根据用户不同要求定制。高效运行 自动设定、快速切换产品、产品免搬运、历史数据、多语言操作系统等。

RMC-通用系列采用链板输送，输送面平坦光滑、摩擦力小,物料在输送线之间的过渡平稳。避免溢出，改善产品的运送过程。检测所有种类的金属污染物，包括铁、非铁、以及极难检测的非磁性不锈钢。包装/无包装应用——适用所有中小包装以及无包装产品链板输送 输送面平坦光滑、摩擦力小,物料在输送线之间的过渡平稳,可输送各类玻璃瓶、PET瓶、易拉罐等物料。避免溢出 改善产品的运送过程。清洁方便，满足食品、饮料行业的卫生要求，方便维护。检出更多金属 多频检测兼顾不同材质金属灵敏度；成熟的相位调节技术有效抑制产品效应；高速数字信号处理技术和智能算法。满足应用 多个工作频率切换，适应不同的检测产品，包括具有较大产品信号的产品。稳定可靠 先进的自动补偿技术，保证检测性能长期稳定。可定制化 除了标准的规格，可以根据用户不同要求定制。高效运行 自动设定、快速切换产品、产品免搬运、历史数据、多语言操作系统等。

RMC-H高荷载系列采用链板输送，输送面平坦光滑、摩擦力小,物料在输送线之间的过渡平稳。避免溢出，改善产品的运送过程。检测所有种类的金属污染物，包括铁、非铁、以及极难检测的非磁性不锈钢。包装/无包装应用——适用所有大包装以及无包装产品链板输送 输送面平坦光滑、摩擦力小,物料在输送线之间的过渡平稳,可输送各类玻璃瓶、PET瓶、易拉罐等物料。避免溢出 改善产品的运送过程。清洁方便，满足食品、饮料行业的卫生要求，方便维护。 检出更多金属 多频检测兼顾不同材质金属灵敏度；成熟的相位调节技术有效抑制产品效应；高速数字信号处理技术和智能算法。满足应用 多个工作频率切换，适应不同的检测产品，包括具有较大产品信号的产品。稳定可靠 先进的自动补偿技术，保证检测性能长期稳定。可定制化 除了标准的规格，可以根据用户不同要求定制。高效运行 自动设定、快速切换产品、产品免搬运、历史数据、多语言操作系统等。

型号：XL3t 700s规格：XL3t 700s品牌：美国赛默飞尼通（Thermo Scientific Niton）应用领域金属与合金检测玩具与消费品矿井勘探与生产环境分析产品特征精度高，接近实验室级的分析水平，可直观显示合金牌号和元素百分比含量（某些元素可显示到小数点后三位）及ppm含量“开机启动—瞄准测试—察看结果”，整个分析过程仅需 数秒便可完成，合金牌号鉴别只需1~2秒钟，操作简单，即使非技术人员也可轻松掌握采用坚韧的LEXAN.塑料密封外壳，重量轻，坚固耐用；密封式一体化设计，防尘、防水、防腐蚀，可在任何地方安全使用 内置一体化专用操作系统，无须外接PDA，运算速度快，具有病毒免疫功能与破坏性检测方法不同，样品在整个测试过程中无任何损坏高性能X射线探测器选项，可为不同用户的合金分析应用，提供更加专业的、极具针对性的解决方案技术参数：重量：小于1.3kg激发源：高性能微型X射线光管，金靶材；管电压6-50kV，最大50KV能最大效率激发测量更多金属元素；管电流0-200uA；匹配功率不超过2W，降低辐射量保障使用安全。探测器：高性能GOLDD探测器测试范围：Mg-U操作系统：仪器采用内置固化的工业级操作系统，系统稳定，运算速度快；非windows之类商业级或个人级操作系统。标准片：标准片内置，便于仪器自校正以及保证自校正时的安全。

金属热处理专用深冷处理设备 液氮深冷炉型号:CDW-196系列 品牌:汇富 产地：山东济南 汇富热处理专用深冷处理设备,以液氮为冷却介质,低温可达-196℃,降温速度快,可用于金属热加工工艺的冷却过程.CDW-196系列深冷设备有多种规格型号可供选择,可满足不同尺寸金属材料的深冷处理,支持定做.欢迎广大新老客户洽谈合作。 金属热处理专用深冷处理设备产品概述：金属热处理是指材料在固态下，通过加热、保温和冷却的手段，以获得预期组织和性能的一种金属热加工工艺。很多金属材料在完成热处理工艺之后，其硬度及机械性能均大大提高，但依然残存很多问题，如：残余奥氏体，组织晶粒粗大，材料碳化物固溶过饱和，残余内应力等，会影响到材料的硬度、耐磨性以及尺寸的稳定性等。经过国内外许多研究者的不懈研究，深冷及超深冷处理工艺被认为是解决这些问题的zui优方法。汇富热处理专用液氮深冷处理设备主要用于消除残留的奥氏体，完全转换成马氏体，提高材料耐磨性，长时间的冲击疲劳强度，缩小材料的延展性和内部变形，提高使用寿命。金属热处理专用深冷处理设备产品结构：汇富深冷处理设备采用人机界面+PLC+模块可编程控制方式，实时监kong箱内温度变化，具备手动和自动双操作功能。设备以液氮为冷却介质，不锈钢机箱美观耐用，采用优质高密度聚氨酯发泡保温层隔热。系统结构合理，制造工艺规范，部件布置紧凑，操作简单功能强大，人性化交流界面；低温可以达到-196℃，降温速度快。汇富金属热处理专用深冷处理设备采用液氮分散制冷技术和控温技术，使产品的恒温、降温各过程均匀稳定。金属热处理专用深冷处理设备优越性： 提升工件的硬度及强度保证工件的尺寸精度提高工件的耐磨性提高工件的冲击韧性改善工件内应力分布，提高疲劳强度提高工件的耐腐蚀性能。金属热处理专用深冷处理设备技术指标：控温范围：室温—-196℃降温速度：1—50℃温度均匀度：±2℃控制方式：触摸屏+PLC的控制方式，保温结束自动关机制冷剂： 液氮低温箱形式：卧式、井式保温材料：聚氨酯低温箱内壁：不锈钢电源： AC 380V 售后服务：汇富所售设备质量三包，免费保修期限为一年，终身维护。在三包期，供货方对设备出现各类故障及时免费维修服务。对非人为造成的各类零部件损坏，及时免费更换。保修期外设备在使用过程中发生故障，供货方及时到订货方服务，及时高效协助用户解决安装使用过程中出现的问题。

EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪-重晶石分析专家EDX8800MMAX能量色散荧光光谱仪是一种常用于分析物质成分的仪器，其中钙钛矿矿物重晶石也可以进行分析。重晶石是一种氧化铁、钛和钙的矿物，是许多金属矿物的重要载体。通过EDX8800MMAX仪器的能量色散荧光光谱技术，可以对重晶石进行非接触式分析，获取其元素成分的定性和定量信息，包括铁、钛和钙等元素的含量。ESI英飞思EDX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。EDX8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，广泛应用于：合金材料，贵金属，铁矿粉，有色金属及粉末，冶金，金属及非金属矿物矿产，耐火材料、耐火原料、钛白粉、石膏、催化剂、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行业、石英、长石、方解石、粘土、岩棉、土壤、固废、除尘灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、炉渣等生产原料及成品化学成分定性定量快速分析，快速准确无损高效环保，无需酸碱化学药剂。产品特点&bull 配备Peltier电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性。可同时选配氦气系统，实现液体和粉末样品的直接测试&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位&bull 可搭载样品自旋平台，增加样品检测面积，提高测试准确度和精密度。搭载自旋平台EDX8800 MAX结构图英飞思专用光谱仪成分分析软件英飞思软件内核-软件核心算法包括FP基本参数法，Sherman方程EC经验系数法，阿尔法α理论参数法。依托于英飞思强大而稳定的硬件系统，加载FP法核心后可以实现元素间增强吸收效应的校正。能够使用非类似标样标定测试；减少分析需要的标样数，可以用一个或几个标样来分析宽范围浓度变化的未知成分能量校准，波谱稳定，自动谱峰元素鉴别，死时间修正，和峰修正，逃逸峰修正，重叠修正，背景扣除可实时刷新测量结果光谱显示：谱峰重叠比较，可同时显示多个光谱图多种光谱强度计算方法，高斯拟合，纯元素拟合，FP拟合，净面积，全面积仪器参数仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm仪器重量: 105Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：原装进口高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器高通量计数率线性动态范围：1000-1000000cps ，包括信号增强处理模块SNE多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器，峰飘小于0.5道（24小时）X光管：原装进口高功率铍窗光管（可选配高功率复合靶材光管）高压发生装置：电压最大输出100kV样品观察系统：1000万像素高清CCD摄像头，包括样品光斑图像定位功能数据处理系统MCA：控制响应时间小于100毫秒，可同时采集9路反馈信号，实时监测包括管压，管流，基线，死时间，温度，计数率，真空度，准直器，滤光片状态信号样品腔：空气，真空，充氦气（选配）。内置高功率真空泵 ，全自动软件控制调节真空系统，双真空抽速机构，标配真空度自动稳定系统电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C可增选配置：1样品自旋系统，最大可放入样品直径90mm。2可充氦气微型样品腔。仪器配置标准配置可选配置-样品前处理系统纯Ag初始化标样磨样机真空泵（内置）手动压片机：ESI30T粉末样品杯，液体样品杯自动压片机：ESI30SUSB数据线油品专用样品杯电源线烘干箱XRF测试薄膜（粉末，液体，油品）ESI-900型光谱分析专用全自动熔样机仪器出厂和标定报告电子秤保修卡标准样品高精度交流净化稳压电源150目筛子

金属热处理专用深冷处理设备 -196度液氮深冷箱型号:CDW-196系列 品牌:汇富 产地：山东济南 汇富热处理专用深冷处理设备,可用于金属热加工工艺的冷却过程.设备采用液氮分散制冷技术和控温技术，使产品的恒温、降温各过程均匀稳定。CDW-196系列深冷设备有多种规格型号可供选择,可满足不同尺寸金属材料的深冷处理,支持定做.欢迎广大新老客户洽谈合作。 金属热处理专用深冷处理设备产品概述：金属热处理是指材料在固态下，通过加热、保温和冷却的手段，以获得预期组织和性能的一种金属热加工工艺。很多金属材料在完成热处理工艺之后，其硬度及机械性能均大大提高，但依然残存很多问题，如：残余奥氏体，组织晶粒粗大，材料碳化物固溶过饱和，残余内应力等，会影响到材料的硬度、耐磨性以及尺寸的稳定性等。经过国内外许多研究者的不懈研究，深冷及超深冷处理工艺被认为是解决这些问题的zui优方法。汇富热处理专用液氮深冷处理设备主要用于消除残留的奥氏体，完全转换成马氏体，提高材料耐磨性，长时间的冲击疲劳强度，缩小材料的延展性和内部变形，提高使用寿命。金属热处理专用深冷处理设备产品结构：汇富深冷处理设备采用人机界面+PLC+模块可编程控制方式，实时监kong箱内温度变化，具备手动和自动双操作功能。设备以液氮为冷却介质，不锈钢机箱美观耐用，采用优质高密度聚氨酯发泡保温层隔热。系统结构合理，制造工艺规范，部件布置紧凑，操作简单功能强大，人性化交流界面；低温可以达到-196℃，降温速度快。金属热处理专用深冷处理设备技术指标：控温范围：室温—-196℃降温速度：1—50℃温度均匀度：±2℃控制方式：触摸屏+PLC的控制方式，保温结束自动关机制冷剂： 液氮低温箱形式：卧式、井式保温材料：聚氨酯低温箱内壁：不锈钢电源： AC 380V 售后服务：汇富所售设备质量三包，免费保修期限为一年，终身维护。在三包期，供货方对设备出现各类故障及时免费维修服务。对非人为造成的各类零部件损坏，及时免费更换。保修期外设备在使用过程中发生故障，供货方及时到订货方服务，及时高效协助用户解决安装使用过程中出现的问题。

特点： × 无需再次激活，甚至在采集数百次样品后（亦是如此） × 无需拿样品与还原剂（反应），拿还原剂与样品（反应），没有必要进行样品转移，可以节约时间，减少样品损耗 × 可以用于任何容器如玻璃瓶、试管、酶标仪孔板的小孔和用分光光度计测量中的比色杯 × 非常小，可以说没有最小样品容量限制。可以采样50微升到5毫升。 × 在数分钟内100%转换 × 非常经济 × 可重复使用 × 在室温下使用 硝酸盐→亚硝酸盐因为硝酸盐和亚硝酸盐离子与一氧化氮信号通路有关，测定生物样品中的硝酸盐-亚硝酸盐离子引起越来越多的学者的兴趣。由于这些离子是一氧化氮的氧化产物，它们的存在可以作为一氧化氮产生的指示剂。有多种可用的直接测定或间接测定亚硝酸盐的方法。不幸的是，由于硝酸盐具有不同的化学反应性，因此在测定方面情况不同。因而，大多数含硝酸盐的分析过程都包含通过酶还原反应或通过以镉为主的还原剂将硝酸盐转化为亚硝酸盐（这一步）。这个反应过程令人厌倦，费时、昂贵、需要多种样品转换并且活性降低。我们新的硝酸盐还原剂经过特殊设计，克服了这些缺点。操作原理传统的基于两种金属混合物的还原剂以铜盘镉珠为基础，铜的存在改变了镉电子的势能，提高了硝酸盐转化率。尽管该种方法已经成功应用多年，但还是存在两个缺点。在应用一定样品量后，其催化活性会丧失，这就需要重新激活。第二个缺点与还原剂使用时镉珠的处理和应用有关，由于这些镉珠通常为柱状封装，所以必须使用小容量样本容器以避免样品稀释。我们的硝酸盐还原金属丝建立在多金属合金结构的基础上。这种多金属的结构保持还原剂的活性，可以在如下的化学反应中提高电子转换率。这种合金结构使得再次激活硝酸盐还原剂变得完全没有必要。这种还原剂金属丝形状的设计，使得其可用于非常微量的样本容量，无需将您的样品放到特殊容器中。这种还原剂有两种包装形式。人工（操作）的包装中包括6个还原剂，可以同时还原6个样品中的硝酸盐。机械（操作）的包装是还原剂和混合器的综合。混合器就是还原剂！还原剂就是混合器。非常适合难于进行搅拌的样品容器。机械（操作）的还原剂较人工（操作）的类型还原硝酸盐速度更快。机械（操作）的类型带有可拆卸的还原剂和一个微小的套管，这使得用户可以将它作为实验室中的微搅拌器使用。 人工操作的硝酸盐还原剂包装，每包6个机械操作的硝酸盐还原剂包装

ARL PERFORM' X 先进的波长色散XRF光谱仪Thermo Scientific* ARL PERFORM&rsquo X XRF光谱仪拥有独特的X射线功率选择，能够为任何应用提供高性能，性价比高的解决方案。它拥有全数控的第六代测角仪，可以提供顶级的速度，准确度和精确度，可以快速分析元素周期表中的多达90个元素。集成了这些先进性能的设计，ARL PERFORM&rsquo X仪器能够进行小斑点分析和对非均质样品或者样品中的瑕疵进行元素绘图。 当减少功率，资源消耗和样品制备时间时，通过选择功率水平能够达到预期的精度和检出限 (LoD) 动态范围极宽(从亚ppm 到 100%) 和卓越的精度简单的样品制备和无损技术分析地质，环境，石化和聚合物，贵金属，特色的合金，化学试剂和所有氧化物材料中的主量，次量和痕量成分集成了极其智能的进样器可以对大量的不同样品进行全自动处理先进的测角仪技术精确的数控技术使其拥有极长的使用寿命测角仪中的所有光学组件都采用了独一无二的莫尔条纹无齿轮技术无标样分析功能强大的OXSAS软件和无标样分析软件包QuantAS* 和 UniQuant* 提供了对完全未知且不需要任何标样的样品进行简单快速分析大量的工厂校准库覆盖了很多金属和非金属应用PetroilQuant* 预校准程序，能够定量分析各种燃料，轻重蒸馏油和润滑油中多达30个元素,分析速度快且经济划算先进的产品特点PERFORM' X光谱仪能够对材料的组成进行元素绘图和定量分析对污染物进行小斑点分析或对瑕疵进行鉴定和定量分析业界领先的液体样品识别和泄漏预防设计为您的应用选择最好的XRF解决方案 ARL PERFORM' X 2500W, 高性能，中等功率系统：不需要外部的水冷却系统ARL PERFORM' X 4200W, 顶级的功率系统：用于最苛刻的应用应用领域 地质和环境有关的应用石化产品，聚合物和化学试剂材料科学和法医原料，玻璃，陶瓷和耐火材料中的主量，次量和痕量的元素分析特色的合金，金属和矿物

ARL PERFORM'X 先进的波长色散XRF光谱仪Thermo Scientific* ARL PERFORM’X XRF光谱仪拥有独特的X射线功率选择，能够为任何应用提供高性能，性价比高的解决方案。它拥有全数控的第六代测角仪，可以提供顶级的速度，准确度和精确度，可以快速分析元素周期表中的多达90个元素。集成了这些先进性能的设计，ARL PERFORM’X仪器能够进行小斑点分析和对非均质样品或者样品中的瑕疵进行元素绘图。 当减少功率，资源消耗和样品制备时间时，通过选择功率水平能够达到预期的精度和检出限 (LoD) 动态范围极宽(从亚ppm 到 100%) 和卓越的精度简单的样品制备和无损技术分析地质，环境，石化和聚合物，贵金属，特色的合金，化学试剂和所有氧化物材料中的主量，次量和痕量成分集成了极其智能的进样器可以对大量的不同样品进行全自动处理先进的测角仪技术精确的数控技术使其拥有极长的使用寿命测角仪中的所有光学组件都采用了独一无二的莫尔条纹无齿轮技术无标样分析功能强大的OXSAS软件和无标样分析软件包QuantAS* 和 UniQuant* 提供了对完全未知且不需要任何标样的样品进行简单快速分析大量的工厂校准库覆盖了很多金属和非金属应用PetroilQuant* 预校准程序，能够定量分析各种燃料，轻重蒸馏油和润滑油中多达30个元素,分析速度快且经济划算先进的产品特点PERFORM'X光谱仪能够对材料的组成进行元素绘图和定量分析对污染物进行小斑点分析或对瑕疵进行鉴定和定量分析业界领先的液体样品识别和泄漏预防设计为您的应用选择最好的XRF解决方案 ARL PERFORM'X 2500W, 高性能，中等功率系统：不需要外部的水冷却系统ARL PERFORM'X 4200W, 顶级的功率系统：用于最苛刻的应用应用领域 地质和环境有关的应用石化产品，聚合物和化学试剂材料科学和法医原料，玻璃，陶瓷和耐火材料中的主量，次量和痕量的元素分析特色的合金，金属和矿物合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

450kV的超强微焦点射线源 XTH450LC，应用于涡轮叶片测定以及众多中小型铸件的无损检测领域，并慢慢成为一种新的重要检测标准。这个型号的机器核心450kV微焦点射线管源拥有优异的解析度以及精度。搭配晶体光栅的高性能线阵探测器更是让曲面效应以及射线散射现象等得到根本解决，在涡轮叶片以及其他众多金属零件的检测中得到近乎完美的效果。主要特点 • 独立的450kV微焦点射线源 • 最大可扫描样品的尺寸达到直径500mm，高度600mm • 可走入式的大铅房以及大型的样品舱门让样品的放置以及维护检测变得更加方便 • 五轴样品操作台最大载重可达100kg • 高效率的线阵探测器与面阵平板探测器可以同时搭载以满足不同需求。（选配） • 专门为涡轮叶片定制的质量合格判断应用程序。 引进功能 • 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测，CT重构精密解析 • 快速获取高品质图像 • 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观 • 高清晰度数字图像与图像处理 • 不需要特别外加防护的完备安全系统 • 通用于业界标准的后处理应用格式用途 • 涡轮叶片的内部构造与详细分析 • 涡轮叶片的合格与否自动判定 • 几十微米级别要求的金属零件跟铸件等的精度检测 XT H 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测， 带有高功率450kV微焦点X射线源 Metris XT H 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源，可提供超高分辨率和超高精度。 弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象，优化了X射线图像的采集，散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备，可处理小金属件到大金属件，例如叶片、铸件等 优点 可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析 快速数据采集和高质量图像 高分辨率数字成像和处理 嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志特性 独特的450kV微焦点源 测量体积可达600mm直径和600mm高度 高效线性探测器，80%量子检测有效率 五轴完全可编程托盘式操纵器，带精密滚珠丝杆和线性滑轨 特别适用于涡轮叶片的自动通过/不通过检测应用 涡轮叶片内部结构的详细分析 叶片的自动通过/不通过检测 需要微米精度的高密度部件检测（例如金属件、铸件）

薄膜无损检测系统/半导体无损检测系统姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：薄膜无损检测仪产品特点：系统使用获得专利的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性，薄膜厚度检测系统使用无接触，无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波，以此检测获得材料诸如厚度，附着力，界面热阻，热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术（without contact, no damage, no water, no Xray）不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时，系统提供附着力、热性能（纳米结构界面热阻）测量分析 多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料以及陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 薄膜无损检测仪广泛的应用中发挥作用半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积，。工业过程中厚度测量和界面表征都是确保质量的关键。尤其是半导体行业中多层/单层不透明薄膜沉积对于以上问题，我们针对提供：-高速控制检测-无损无接触测量-单层/多层测量显示行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这不断扩大的行业存在技术限制单个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致产品出现质量缺陷。对此我们可提供：- 对此类层级样品的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。接触式破坏测量对于此领域会带来特定问题，且受限于待测样品形状因素、曲率等原因，很难控制样品特性。 对此我们可以提供：不改变样品形貌无损检测（Form factor postage）快速厚度测量在线测量控制 部分合作单位

型号：ZD-CX2名称：金属材料分析系统主要技术指标• 测量范围：碳 0.00001%-10.00000% （可扩至99.999%）硫 0.00001%-5.00000% （可扩至99.99%）其他元素0-1.999A吸光度值 0-99.99%浓度值• 测量精度：符合碳：符合ISO9556-94标准 硫：符合ISO4935-94标准 其他元素符合GB/T22.3-5-88标准• 工作电源：220V士 10% 50HZ• 工作环境：温度：5°C-40°C 湿度＜80%• 分析误差：符合GB/T20123-2006 IS015350: 2000标准符合GB/T223标准• 准确度：符合国家计量检定规程JJG395-97标准主要性能指标• 该仪器是我公司研制的一款国内先进的综合性分析仪，可检测钢铁、有色金属、水泥、矿石、玻璃、陶瓷及其它金属、非金属等多种材 科中的碳、硫、镒、硅、磷、铭、镣、钳、铜、钛、镁、稀土等元素。• 整个分析程序由计算机自动控制完成，软件功能齐全，提供文件帮助、系统监测、通道选择、数据统计、结果校正、断点修正、系统诊断等 四十多项功能。• 采用微机控制及数据处理整机控制电路模块化设计，提高了仪器的可靠性，可存储无限条曲线，标准曲线可自由建立、调用、查询等可视化 操作。• 碳硫为高频燃烧，选用进口高精度红外传感检测数据，测量精度高，稳定性好，故障率低。• 配置万分之一精密电子天平，计算机自动读取样品重量。• 设计：碳硫采用大功率高频电路设计，高频功率管，减轻高频燃烧系统的负载，提高使用寿命。• 元素分析采用自家开发的新检测软件，确保了检测结果的可靠性。

VANTA系列土壤重金属分析仪 产品简介用于土壤分析和环境治理的Vanta分析仪： 坚固耐用、改进创新、高效多产Vanta分析仪是一款用于对土壤和其它材料进行筛查以探测出污染重金属的重要工具。嵌入式GPS功能可以将检测结果与其相应的GPS坐标结合在一起，从而使分析仪具有追溯样本到野外的性能。Vanta分析仪可以方便地将GPS数据和样本数据以Wi-Fi方式传输到GIS，以绘制出污染金属的映射图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。Vanta分析仪在数秒钟之内可检测出RCRA（《资源保护及恢复法案》）中所规定的危险性高含量元素、需优先考虑的污染物质，以及危险金属。Vanta手持式分析仪可用于根据以下方法或规程进行合规检测：EPA 6200（美国环境保护署的方法6200）ISO/DIS13196（国际标准化组织/国际标准草案13196）各种SOP（标准操作规程）NIOSH或OSHA方法中讲述的样本过滤分析法表面筛查分析法 技术优势坚固耐用，用于完成野外的环境评估应用Vanta分析仪是测量需优先探测的污染金属以及《资源保护及恢复法案》（RCRA）所限制金属的理想工具。需优先探测的污染金属包括银（Ag）、砷（As）、镉（Cd）、铬（Cr）、铜（Cu）、汞（Hg）、镍（Ni）、铅（Pb）、硒（Se）、铊（Tl）、锌（Zn）；《资源保护及恢复法案》（RCRA）中限制的金属包括银（Ag）、砷（As）、钡（Ba）、镉（Cd）、铬（Cr）、Hg（汞）、铅（Pb）和硒（Se）。由于Vanta分析仪在样件准备方面几乎没有什么要求，因此成为一款用于筛查大面积场地和分析袋装土壤、沉积物、岩芯、流体、尘扫物质、表面与过滤器等样品的理想工具。技术参数Vanta的技术规格外型尺寸（宽 × 高 × 厚）8.3 × 28.9 × 24.2 cm重量带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤。激励源4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳极材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。 M系列（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV C系列（Rh和W）：8 ～ 40 kV主光束过滤每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器。探测器M系列：大区域硅漂移探测器 C系列：硅漂移探测器电源可拆装的14.4 V锂离子电池或 18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 最大70 W显示800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制操作环境温度：–10 °C ～　50 °C（带可选风扇时，可连续工作）。 湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。坠落测试通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试。IP评级IP65*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷。压力校正内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正。GPS嵌入式GPS/GLONASS接收器操作系统Linux数据存储4 GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量。USB两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。 一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。Wi-Fi通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。蓝牙通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能。瞄准摄像头全VGA CMOS摄像头全景摄像头5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜。 应用领域Vanta手持式XRF：通过优化，可完成环境评估应用Vanta分析仪可为场地定性、房产评估、污染物跟踪、危险废料筛查、治理监控及合规检测等应用快速得到所需的检测结果。快速轻松地辨别各种污染物，其中包括： 铅（Pb） 砷（As） 汞（Hg） 铬（Cr）有效完成土壤筛查工作 在场地定性应用中，Vanta分析仪可以测量土壤和沉积物中的元素含量，从而有利于高效完成作为EPA方法6200的一个环节的土壤筛查工作。Vanta手持式XRF分析仪可以检测各种类型的样本，包括原地土壤、袋中土壤及完全准备好的土壤样本。Vanta分析仪是一款用于快速完成场地定性应用的性价比极高的强大工具。其在现场辨别材料化学成份的能力意味着可使用户对场地获得更深的了解，而且还减少了向现场以外的实验室运送样本的工作。

优势：? 可去除所有大小的颗粒，从可见到3-5纳米的颗粒? 可以去除碳氢化合物污染和有机残留物? 无磨损、无残留、无化学废物 – 环保型 应用领域：? 从金属，陶瓷，聚合物和玻璃中去除污染? 从Si，InP和GaAs晶片中去除颗粒和污点? 清洁光学器件，即涂层透镜，激光，IR和UV光学器件? 表面分析前（Auger，XPS，SIMS）和AFM的样品制备? 一般的实验室，生产间和洁净室的清洁? 基片制备? 许多金属和陶瓷组件的制造? 清洁真空系统部件，波纹管，电子和离子光学器件? 去除微电子和混合电路中的微粒? 艺术品清洁? 清洁望远镜镜片…...可用于半导体，磁盘驱动器，真空技术，表面分析，光学，医学，分析仪器，金属，陶瓷，望远镜，艺术修复，火损修复等众多关键和非关键清洁应用养护等。类型：标准版标准单元（K1-10）如下图所示，配有两个喷嘴 - 一个是不对称、不锈钢的文丘里喷嘴，另一个是低速喷嘴，一个开/关枪，一个10英尺的PTFE柔性材质的不锈钢钢制软管，一个气瓶接头，一个可选的0.5微米烧结不锈钢过滤器和一个可选的0-2000 psi压力表。可提供北美（CGA320或CGA716），欧洲（DIN-6），日本（JIS22R）的CO2配件。DIN-6是ISO国际标准，在许多其他国家有效。英国BS-8也可用。 高纯版高纯度单元（K4-10）如下图所示，配有用于控制二氧化碳流量的无封装电抛光不锈钢隔膜阀。图中包括文丘里喷嘴，0.01微米过滤器，10英尺的PTFE柔性材质的不锈钢钢制软管和CO2气瓶接头。这个单元的所有接头都是压缩接头，而不是上述标准单元的NPT接头。这个单元也配有两个不锈钢喷嘴，一个不对称的文丘里喷嘴和一个低速喷嘴。北美（CGA320或CGA716），欧洲（DIN-6），日本（JIS22R）的二氧化碳气瓶配件。DIN-6是ISO国际标准，在许多其他国家有效。英国BS-8也可用。我们可以为大多数国家找到合适的选择。 电磁控制版对于半自动操作，可以选择一个24VDC或电磁阀（关闭带压缩接头的阀门）来代替90度开/关阀。该装置被称为K4-10S，ia关闭电磁阀，喷嘴如下图所示。K4-10S带有文丘里喷嘴，24 V直流常闭电磁阀，10英尺的PTFE柔性材质的不锈钢钢制软管，CO2气瓶接头，24 VDC电源（可从120至250 VAC输入，经CE认证）和用于手动控制的脚踏开关。选项包括一个在线过滤器和压力表。下图显示了第一款完全便携式二氧化碳干冰清洗系统，K4-10S-Port。它可配备锂离子电池或一般的脚踏开关。 K4-10S电磁阀装置（无脚踏开关） 便携版我们有两个便携式设备，K1-Port和K4S-Port。每个设备都配有一个9盎司（.26公斤）的二氧化碳罐。K1-Port是一个简化的标准装置，不需要电源，总重量超过2磅，约1公斤。K4S-Port重量更轻，配有电池组或脚踏开关和电源。K1-10Port K4S-Port 双重气体版双重气体单元提供了一个特殊的喷嘴，是针对其他压缩气体或氮气，在二氧化碳气流喷嘴旁边。这有利于减少湿气凝结。双重气体单元是在高纯度单元（K4-10S）的基础上，附加了一个用于第二气体的塑料喷嘴。有两种型号 - K6-10DG-A使用两个电磁阀控制带双脚踏开关；K6-10DG-B对第二种干燥气体使用手动阀。 图一显示了K6-10DG-A型喷嘴区域的特写 - 有两个电磁阀，一个用于CO 2 ，另一个用于氮气或其他干燥气体。CO 2气流上通过过滤器。白色聚合物喷嘴是其他压缩气体进入和流出的地方，在CO 2气体的旁边 。图二显示了K6-10DG-B型的俯视图。手动阀控制其他干燥的压缩空气或氮气。两种气体都有可选的过滤器。每个单元都可以使用加热的第二气体来帮助降低湿度。K6-10DG-A 带一个过滤器 K6-10DG-B带两个过滤器

六价铬在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。水样在酸性溶液中，六价铬与二苯碳酰二肼（DPC）生成紫红色化合物，于波长540nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，利用比色计进行比色法测量，最后计算并得出六价铬的浓度值。总铬在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。水样在酸性溶液和一定的温度及压力下，水样中各种价态铬被氧化成六价铬。六价铬与二苯碳酰二肼（DPC）生成紫红色化合物，于波长540nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，利用比色计进行比色法测量，最后计算并得出六价铬的浓度值。总铜在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测。仪器采用高温消解水样，将水样中的络合铜、有机铜等转化为二价铜离子。再通过还原剂盐酸羟胺将二价铜转化为亚铜，采用浴铜灵作为显色剂，亚铜离子与浴铜灵反应产生黄棕色络合物。该络合物浓度与水样中的总铜浓度成正相关。于波长470nm处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，比较两者之间的差异分析样品的浓度。总镍在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测，采用高温消解水样，消解试剂添加到水样中。样品被泵送至高温消化单元。样品中的总镍被消解成二价镍离子。 二价镍离子在氧化剂（过硫酸铵）的环境下，在碱性溶液中与丁二酮肟形成橙棕色有色络合物。于波长470nm 处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色不同，比较两者之间的差异分析样品的浓度。总锰在线分析仪：仪器采用比色分光光度法检测，样品先被添加消解试剂，然后被泵送至高温消化单元，采用高温消解。样品中的总锰被消解成二价锰离子。样品的二价锰离子在微碱性溶液中与甲醛肟反应，并形成褐色的有色络合物于波长470nm 处进行分光光度测定，根据样品初始的颜色，与加入显色剂之后的颜色变化的不同程度，来确定分析样品的浓度。 产品特点低废液（ 4小时测量间隔）六价铬废液的量只有1.1L/month 。总铬废液的量只有1.3L/month 。总铜废液的量只有1.4L/month 。总镍废液量只有1.9L/month 。总锰废液量只有1.8L/month。低试剂消耗1个月无需更换试剂。自动量程切换，自动稀释同时具有低量程及高量程模式。内置高温消解装置（六价铬除外）自动反冲洗样品过滤器每次检测后自动清洗自动校准5.7" 彩色液晶触摸面中文化菜单样品过滤器仪器在进样处设有样品过滤器，能够降低管道堵塞，降低人工维护量。仪器内并配有空气泵，能自动反冲洗过滤装置。同样也能减少人工维护量。自动校正功能析仪根据用户设定的校正时间和校正类型来进行校正，并有报警提示，确保仪器能够更准确测量。自清洗功能市面上的许多仪器，为了要节省每次分析时间，而减少了测试前后自动清洗。这对于仪器测量的准确性造成影响。Hach HMA重金属分析仪在每次测量前后，自动清洗管道，减少前次试剂残留。能确保每次的测量更准确，并减少人工维护量。自动量程切换仪器具有智能化高低量程切换。仪器的自动稀释功能，在高量程模式时会自动稀释水样。能根据水样浓度，自动调整到合适的量程，使测量结果更为准确。系统稳定Hach HMA重金属分析仪采用和NPW系列相同测试平台，经过长期市场使用证明。确保仪器的运行稳定。优质零部件使用，及严格生产工艺，确保仪器的低故障率。能满足无人值守，现场稳定运行。仪器外观 仪器安装仪器设计在中等灰尘度、室内以及常温下使用工作环境温度建议在10-40°C请不要将仪器安装于阳光直射的地方，并且不能有水滴滴到仪器上。仪器的设计是可以安装在墙上的。尺寸大小请参考下图 （以 mm为单位 ） 在现场方便操作的情况下，将仪器尽可能的靠近采样点安装，使得每次测量都能对采样管路内的水样进行充分更新。安装时，在仪器下方留下不小于 590mm~890mm 的空间，便于下方纯水桶及废水桶与仪器的连接。 图 现场安装示范图 订购货号基本仪器附件型号产品名称货号六价铬在线分析仪HMA-CR6总铬在线分析仪HMA-TCR总铜在线分析仪HMA-TCU总镍在线分析仪HMA-TNI总锰在线分析仪HMA-TMN纯水桶（含感应器）7321530K废液桶（含感应器）7321540K 试剂为了节省用户的运行成本，哈希 HMA 在线重金属的试剂配方将公开 给用户。便于所有使用者能自行调制试剂。详细试剂配方。请洽哈希各办事处。预处理系统 为了使仪器更稳定的运行，并增加测量准确度，降低水中杂质干扰。 哈希另外提供 HMA 配套预处理装置。详细信息请洽哈希办事处。总体语言：中文，英文安装环境：只供室内安装尺寸（高×深×宽）：900×255×600(分析仪主体)重量：60kg（不含试剂）测量方法：比色法样品要求样品流速：1～3 L/min，每次取50mL进行测量样品温度范围：10-40℃进样压力：20～50kPa样品进入：Rc1/2样品排出：Rc3/4试剂标准要求最大试剂用量：六价铬：1L/月，总铬：2L/月总铜：2.5L/月 总镍 5L/月 总锰4.5L/月 (测量间隔1小时)电源电源供应：AC220V ± 10% 50Hz电源连接：三孔插座连接，插座需可靠接地（PE）输出：模拟输出：DC4-20mA×2(频道间非绝缘)数字输出：RS-485 MODBUS-RTU、RS-232C接点输出：变压器接点×2(接点容量：AC220V、3A 及 DC24V、3A)仪器性能测量范围：根据不同参数，分别为：六价铬：0.01-2（低）, 0.02-5 mg/L（高）总铬：0.02～2（低），0.03～5mg/L（高）总铜：0.05～3（低），0.15～10 mg/L（高）总镍：0.05～3（低），0.4～10 mg/L（高）总锰：0.1～5（低），0.5～20 mg/L（高）重复性: ±3%F.S (根据国家相关检定规程)准确度: ±3%F.S (根据国家相关检定规程)零点漂移: ±5 % F.S (根据国家相关检定规程)测量时间: 根据不同参数，分别为：六价铬：25分钟总铬/总桶/总镍/总铬：50分钟自动校正周期:关闭,1 天,2 天… 7 天可选保存温度范围: 0-50℃操作范围: 10-40℃相对湿度: 85％(RH)以下(无冷凝)

光声无损膜厚仪随着电子和纳米科学时代的兴起，电子元件的小型化已成为其几乎呈指数级性能的重要因素。将技术层和涂层减薄到纳米级，可以在各种领域取得进步。复杂的制造流程推动控制变得越来越准确。光声无损膜厚仪为这些演变相关的许多问题提供了解决方案。缺陷检测现在在许多行业中非常必要，以避免在生产过程中遇到问题并提高质量水平。我们使用的光声技术设计了光声无损测量系统。 技术源自法国CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用深入物质的核心。我们的非破坏性和非接触式技术将光转换为声频超过100GHz 的声波。 目的在于表征涂层，例如不同类型材料的厚度和附着力。特别适用于测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种光学技术不受样品形状的影响。 产品特点非破坏性和非接触式技术薄膜的表征：厚度、附着力、热性能快速且可重复的测量超精密测量许多材料可用能检测的膜厚度从 2纳米～20微米扫描方式：单点、XY扫描、表面声波测样样品种类： 不透明、半透明、透明均可测试。平坦和弯曲的样品均可 系统构成：仪器使用两个同步的超快激光器。会产生大约100飞秒的不同波长的激光脉冲。使用这些脉冲进行非破坏性和非接触式测量。这些都集中在所研究的样品表面。 能使用的材料广泛的材料及其在许多应用中的使用使这一材料方面变得非常必要。自产品问世以来，我们的技术已证明其有能力测量许多金属材料。也适用于陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 无损检测 (NDT) 具体应用案例半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积。 问题？在任何工艺过程中，不透明薄膜的沉积，无论是单层还是多层，都需要质量控制。无论是检测还是计量，厚度测量和界面表征都是确保其质量的关键问题。 我们的解决方案？- 高速控制。- 非破坏性和非接触式测量。- 单层和多层厚度测量。 显示器行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这个不断扩大的行业存在技术限制。问题？一个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致最终产品出现质量缺陷。 我们的解决方案？- 对此类层的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。 薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。问题？无论是法律限制还是技术限制，破坏性测试的采样方法通常提供不完整的答案。此外，由于形状因素、曲率等原因，很难控制3D作品。 我们的解决方案？- 非破坏性和非接触式测试- 快速测试厚度数据- 现在可以进行在线生产控制

JY-80K非金属超声检测分析仪（智型多通道）技术参数仪器实现了6.5寸触摸屏，中文汉字输入，查看储存文件方便，内置电池供电防水仪器箱携带方便；采集时可实现自发自收自动储存，自动测点提示，实现了人性化特点；仪器配有二组六个平面换能器（3个发射3个接收）按CECS 02：2005规范要求超声回弹综合法检测混凝土强度；10测区30个测点JY-80K仪器可在几分钟内检测完成，更适用于大面积，大体积检测混凝土缺陷的位置判读，效率更快更高；快速、准确的声参量自动判读可直接外接回弹仪进行超声回弹综合法测试，并分析结果得到混凝土的推定强度；功能强大的专业Windows数据分析处理软件。机外数据分析处理软件。机外数据分析软件界面友好，性能可靠，可以扥西处理直接生成报告，即可分析把分析结果导入word、Excel中，方便用户进行后期的数据处理。依据规范CECS 02：2005规范要求超声回弹综合法检测混凝土强度技术规程》JGJ106-2014《建筑基桩检测技术规程》JTG/F81-01-2004《公路工程基桩动测技术规程》GB50021-2009《岩土规程勘察规范》GB50011-2010《建筑抗震设计规范》产品用途手动声波投射法手动检测基桩完整性；超声法检测混凝土内部缺陷，如不密实区域、蜂窝空洞、结合面质量、表面损伤 层厚度等；混凝土测厚（选配）；超声-回弹综合法检测混凝土抗压强度，如采用机内回弹仪功能直接导入回弹数据；语音数显式回弹强度检测功能（选配）；超声法检测混凝土裂缝深度；单孔一发收检测岩体、混凝土等非金属材料的孔壁完整性；地质勘查、岩体、混凝土等非金属材料力学性能检测。

JY-80B非金属超声检测分析仪（单通道）技术参数仪器实现了6.5寸触摸屏，中文汉字输入，产看储存文件方便，内置电池供电，防水仪器箱携带 方便。能够手动进行单双通道基桩完整性检测，在混凝土中对测穿透距离可达12米；快速、准确的声参量自动判读可直接回弹仪进行超声回弹综合法测试，并分析结构得到混凝土的推定强度；功能强大的专业windows数据分析处理软件。机外数据分析软件界面友好，性能可靠，可以分析处理直接生成报告，即可把分析结果导入word、Excel中，方便用户进行后期的数据处理.依据规范CECS 02：2005《超声回弹综合法检测混凝土强度技术规程》CECS 21：2000《超声法检测混凝土缺陷技术规程》GB50021-2009《岩土规程勘察规范》GB50011-2010《建筑抗震设计规范》产品用途超声法检测混凝土内部缺陷，如不密实区域、蜂窝空洞、结合面质量、表面损伤层厚度等；超声-回弹综合法检测混凝土抗压强度；超声法检测混凝土裂缝深度；地质勘查、岩体、混凝土等非金属材料力学性能检测.

涡轮叶片以及大型铸件的CT扫描工作站 XT H 450世界首个450kV超强微焦点射线源 Nikon Metrology提供世界上独一无二的450kV微焦点X射线源。Nikon Metrology的320kV/450kV射线源的焦点尺寸，小到微米级别，因此可测量的部件种类更广，且可进行分辨率和精度更高的检查。XTH450LC，应用于涡轮叶片测定以及众多中小型铸件的无损检测领域，并慢慢成为一种新的重要检测标准。这个型号的机器核心450kV微焦点射线管源拥有优异的解析度以及精度。搭配晶体光栅的高性能线阵探测器更是让曲面效应以及射线散射现象等得到根本解决，在涡轮叶片以及其他众多金属零件的检测中得到近乎完美的效果。独特的CLDA技术Nikon Metrology研发的专用CLDA可优化采集穿过部件的X射线，无需采集不需要的散射X射线。CLDA可避免图像污染和因图像污染造成的对比度衰减，从而实现出众的图像清晰度和对比度。曲线二极管阵列能使X射线到二极管接收器的路径长度保持不变，进一步增强图像质量。用户可使用较长的晶体来增强X射线的灵敏度，进而提高信噪比。质量控制、缺陷分析和材料研究 在需要重视内部结构的任何情况下，X射线和CT技术可以用作提供有价值信息的有效工具。内部特性的详细拍摄和测量对于各个行业的质量控制、缺陷分析和材料研究而言至关重要。▲ 故障检测和缺陷分析▲ 复杂机构的装配检测▲ 内部组件的尺寸测量▲ 部件-CAD对比▲ 先进的材料研究▲ 生物结构的分析▲ 模型的数字化存档主要特点? 独立的450kV微焦点射线源 ? 最大可扫描样品的尺寸达到直径500mm，高度600mm ? 可走入式的大铅房以及大型的样品舱门让样品的放置以及维护检测变得更加方便 ? 五轴样品操作台最大载重可达100kg ? 高效率的线阵探测器与面阵平板探测器可以同时搭载以满足不同需求。（选配） ? 专门为涡轮叶片定制的质量合格判断应用程序。 引进功能? 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测，CT重构精密解析 ? 快速获取高品质图像 ? 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观 ? 高清晰度数字图像与图像处理 ? 不需要特别外加防护的完备安全系统 ? 通用于业界标准的后处理应用格式用途? 涡轮叶片的内部构造与详细分析 ? 涡轮叶片的合格与否自动判定 ? 几十微米级别要求的金属零件跟铸件等的精度检测 XT H 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测， 带有高功率450kV微焦点X射线源 Metris XT H 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源，可提供超高分辨率和超高精度。 弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象，优化了X射线图像的采集，散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备，可处理小金属件到大金属件，例如叶片、铸件等 优点 可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析 快速数据采集和高质量图像 高分辨率数字成像和处理 嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志特性 独特的450kV微焦点源 测量体积可达600mm直径和600mm高度 高效线性探测器，80%量子检测有效率 五轴完全可编程托盘式操纵器，带精密滚珠丝杆和线性滑轨 特别适用于涡轮叶片的自动通过/不通过检测应用 涡轮叶片内部结构的详细分析 叶片的自动通过/不通过检测 需要微米精度的高密度部件检测（例如金属件、铸件）

全球的金属加工液都面临着越来越严苛的环保和人体健康方面的挑战。金属加工液应用发展趋势、组分与添加剂、工作场合的安全与健康、废液处理等方面引起越来越多金属加工液行业人士的关注。以切削液为例，根据目前的金属加工现状来分析，未来切削液研发的重点在保障基本指标提高的基础之上向单一一种或几种特种功能方向发展，以便适应金属机加工的特定要求。防锈功能在防锈功能方面，尤其要注意在高温高湿条件下对金属工件的防锈效力（近几年由于温室效应的加剧，在夏天我国南方高温高湿现象亦成加剧态势），解决的方向应当着重放在解决切削液在金属加工表面所形成防锈膜的抗水效应上面，两个主要的解决路径，其一是要使表面钝化防锈膜的结晶体更加致密，且要有极低的溶度积常数，从而更好的防止水的渗入，以便阻断金属表面所进行的原电池反应；另外对于乳化型切削液而言，其一部分防锈效力来自乳化油的阴极防护，那么对于所形成防护膜的抗二次水溶性将是至关重要需要解决的。润滑和极压功能在润滑和极压功能方面，一般传统微乳化和全乳化切削液能基本保障现代机床的使用要求，但是由于其对于腐败变质难以控制，而且也由于在使用过程中容易出现工作液粘度逐渐变大而使得过滤困难等现象，人们更愿意寻找一种高润滑、高极压的全合成切削液，这其实也是目前在切削液研发领域里的课题之一，对于传统聚醚型水溶性润滑剂而言，较低的润滑效力和较高的价格使得这类产品基本不能满足要求，需要另辟蹊径来和成功能更强大的单体材料。废液处理在环保方面，随着国家对工业废水的强制性零排放要求的实施，对切削液工作液废水进行循环处理的可操作性和易操作性就成为摆在我们面前的现实问题，因此切削液厂家在研发产品之时就必须要考虑这一问题，应当说，阴离子的使用较非离子更易于后期处理，因此多功能强效阴离子表面活性剂的开发是极其重要的。原料成分改进方向另外对于切削液在低毒性、人体低刺激性和低气味方面，近年来人们的要求也是越来越高。在对切削液毒性方面的认识，很多人存在着错误概念，以为气味越大其毒性也越大，其实这两者之间没有必然联系，但是较明显的刺激性气味至少会给人们带来不舒适、不愉悦的感觉，因此也同样需要引起重视。研发一款好的切削液，同样需要性能优异的单体原料的供应。在近几年，虽然有不少单体原料源源不断被开发出来，但多数只是对传统原料进行分子结构上的简单修饰或是对产品进行更好的提纯而已，很少有对传统原料进行分子结构上的改进，也使得切削液新品研发受阻很大。今后切削液原料的改进方向之一将是对天然生物分子材料进行人工化学修饰，例如对天然水解蛋白质进行化学接枝，这样得到的材料不仅更安全环保，还往往赋予切削液以强大的物理和化学指标。但众多用户在切削液的使用过程中出现发臭、生锈、腐蚀等问题。其原因有二：一、切削液的选择错误不同的材质加工要选择不同的切削液二、浓度配比错误供应商推荐浓度：槽液浓度：一般：3~10％ 标准浓度：5％夏季一般选：5~10％，冬季一般选：3~5％，凡对润滑、防锈或光洁度要求高的加工过程取上限浓度或更高浓度。浓度配比在生产过程中，由供应商推荐使用浓度范围，通过生产现场的具体要求确定最终使用浓度。切削液浓度的测试方法常用切削液浓度测试方法有折光仪法、酸解破乳法、化学点滴法和特定元素计量法等。对于未注入机床里的切削液来说，每一种测试方法都能够获得较为准确的结果。但是在生产过程中，很多测试方法在现场操作中却不能便捷、有效地得出结果，只有通过手持折光仪法检测浓度相对简便一些，可是它对现场环境要求又比较苛刻。日常测试切削液浓度的方法有很多种，有折光仪法、数显手持折射仪、酸解破乳法、化学滴定法、简易实验等方法，其较为常用的是折光仪法。ATAGO（爱拓）折射计应用于测试切削液浓度在金属加工中，我们需要对切削液的浓度进行测量，其最为常用方法属折光仪法；在使用折光仪对切削液进行测试时，使用ATAGO（爱拓）MASTER 系列便携式刻度折光仪我们只需要滴1-2滴样品于棱镜表面上，使样品充分延展覆盖棱镜表面并且无任何气泡，关闭样品盖，透过棱镜可目测读出切削液测量值。日常使用目视折折射仪测量外，还有数显手持折射仪；在日常金属加工中，急需用切削液，我们就可以通过数显手持折射仪，它简单快捷的可在切削液管理者者中现在对浓度测试。在操作者对测定切削液浓度时，使用ATAGO（爱拓）便携式数显折射计 PAL-102S，只需要把被测液体滴0.2ml样品于棱镜的表面上，使样品充分延展覆盖棱镜的表面，再按开始“START”键切削液的测量值则以数字形式显示出来。金属加工中，使用含有油份的切削液，可使用酸解破乳法，该方法也是国内外均有采用的浓度测试方法，适用于组成中含有一定比例油份的切削液产品，如乳化液和微乳液。其测试方法要比前两种较为复杂；酸解破乳法是在一种有刻度长颈容量瓶中进行的，需要混合液完全破乳后读出油相的耗升数，还需要供应商提供的换算因子，方可求算出切削液的准确浓度。化学滴定法，是通过测定切削液中的碱度、表面活性剂含量或者其它特定组分的含量来测试切削液的浓度，该方法操作方便，但容易受到外来因素干扰，直接影响滴定终点的准确判断切削液的浓度。以上是实际工作经验中的部分总结，希望能对广大润滑油工作者及机床操作者能有借鉴作用。切忌，切削液的浓度不可凭个人经验目测，需用准确的测量方法，才可得出标准的切削液浓度。

上海伯东日本 Atonarp Aston™ 质谱分析仪无等离子体设计,可以实现快速, 化学特定的原位定量气体分析, 与光学发射光谱 OES 对比, Aston™ 质谱仪 的 OA% 灵敏度显示为 0.25%, 适用于半导体工艺中蚀刻计量控制, ALD, 3D-NAND 和新兴的堆叠式 DRAM.半导体蚀刻工艺挑战日益增加蚀刻是半导体制造中常用的工艺之一. 介电蚀刻用于形成绝缘结构, 触点和通孔, 多晶硅蚀刻用于在晶体管中创建栅极, 金属蚀刻去除材料以显示电路连接图案并钻穿硬掩模.连续蚀刻铝 Al, 钨, 铜 Cu,钛 Ti 和氮化钛 TiN 等工艺金属具有挑战性, 因为许多金属会形成非挥发性金属卤化物副产品（例如六氯化钨 WCl6）, 这些副产品会重新沉积在蚀刻侧壁上, 导致成品率降低（通过微粒污染或沉积材料导致短路）.随着半导体行业不断缩小关键特征尺寸并采用垂直扩展 (如 3D-NAND 存储器和全环绕栅极先进技术节点), 各种新的蚀刻挑战已经出现. 这些包括在晶圆上蚀刻更小的特征, 高展弦比 HAR 沟槽蚀刻 (具有小的开放面积百分比- OA%), 以及在新兴的非挥发性存储器和高 k介质中蚀刻金属闸极, 稀土金属等新材料. 对于先进的纳米级工艺, 如蚀刻到硅介质和金属薄膜, 选择性处理, 如原子层蚀刻 ALE 一次去除材料的几个原子层. ALE 提供了比传统蚀刻技术更多的控制. 对于 3D-NAND 和先进 DRAM 来说, 向批量生产过渡的重大挑战包括解决导体蚀刻困难的要求, 满足积极的生产斜坡和实现所需的吞吐量, 以推动成本效益.上海伯东日本 Atonarp Aston™ 质谱分析仪提供高性能, 嵌入式和可靠的原位定量分子气体计量已经成为验证工艺室和持续监测工艺化学过程的关键工具, 确保生产环境中的高产率和更大吞吐量.Aston™ 质谱分析仪提供全腔室解决方案使用上海伯东 Atonarp Aston™ 质谱仪通过实时, 定量和精确的分子传感器来解决半导体新兴蚀刻工艺技术相关的关键挑战. 通过解决传感器耐久性, 灵敏度, 匹配, 系统集成和易用性等方面的挑战, 日本 Atonarp Aston™ 质谱仪升级了传统的气体分析计量方法. Aston 是一种全室解决方案, 用于在各种工艺步骤中实时监测前体, 反应物和副产物.这些包括基准室和过程指证, 腔室清洁, 过程监测 (包括存在腐蚀性气体), 颗粒沉积和气体污染物凝结. 小的占地面积和灵活的通信接口允许在室内安装和集成到过程设备控制系统. 为了集成到半导体工艺工具中, Aston 质谱分析仪的高性能和可靠性设计用于生产晶圆的大批量生产过程控制.Aston™ 质谱分析仪半导体蚀刻计量控制半导体行业正从二维结构的扩展转向复杂三维结构的挑战性要求. 传统的离线晶圆测量已不足以实现性能和良率目标, 原位蚀刻测量传统上缺乏生产所需的鲁棒性和可重复性. Aston™ 质谱分析仪的结构中嵌入了专利技术, 使其具有卓越的分析和操作性能. 为了满足过程控制和跨工厂生产工具匹配的严格要求, Aston 从头开始设计, 高运行时间和低维护的吞吐量, 长期信号稳定性和可重复性.为了承受腐蚀和沉积过程的恶劣环境, Aston™ 引入了两个的功能: 等离子电离和自清洁 (ReGen™模式). 等离子体电离消除了由于与腐蚀性气体(如NF3, CF4, Cl2)的反应而导致的灯丝降解. 此外, 除去(正硅酸四乙酯) TEOS 等颗粒和蒸汽污染物沉积, 同时定期进行室内清洁循环, 延长了 Aston™ 质谱仪的使用寿命. ReGenTM 模式使仪器能够使用高能等离子离子清洗自身, 通过去除在膜沉积过程中可能发生在传感器和腔室壁上的沉积. 结合这两个功能, 传感器的灵敏度可维持在数百个RF(射频)小时的操作. Aston质谱仪支持的基于测量的控制, 有可能延长清洗间隔 MTBC 的平均时间. MTBC 的增加意味着工具可用性和长期吞吐量的增加. 除了等离子电离器(用于工艺), 传感器还配备了传统的电子冲击 EI 灯丝电离器, 用于基线和校准.分子传感器的分析级是使用微米级精密双曲电极的四极杆. 由高度线性射频(RF)电路驱动, Aston 质谱的HyperQuad 传感器在 2到300 amu的质量范围内具有更高的分析性能.Aston™ 质谱分析仪技术参数参数值质量分辨率0.8u质量数稳定性0.1u灵敏度(FC / SEM)5x10-6 / 5x10-4 A/Torr最低可检测的部分压力(FC / SEM)10-9 / 10-11 Torr检测极限10 ppb最大工作压力1X10-3 Torr每 u 停留时间40 ms每u扫描更新率37 ms发射电流0.4 mA发射电流精度0.05 %启动时间5mins离子电流稳定 ±1%浓度的准确性 1%浓度稳定±0.5%电力消耗350w重量13.7kg尺寸400 x 297 x 341mm高展弦比 HAR 3D 蚀刻随着多模式技术和 3D器件结构的出现, 高度密集的蚀刻和沉积过程驱动了计量需求. 3D多层膜栈, 如 NAND 存储架构, 代表复杂的, 具有挑战性的蚀刻过程, 具有关键的蚀刻角度, 统一的通道直径和形状要求, 尽管高蚀刻纵横比通道 100:1 是常见的. 对于 3D-NAND, 关键导体蚀刻过程包括阶梯蚀刻(下图)和用于垂直通道和狭缝的 HAR 掩模打开. 通过硝酸硅和氧化硅交替层蚀刻需要高速定量终点检测. 对于 DRAM, 蚀刻过程包括 HAR 门, HAR 沟槽和金属隐窝. 对于阶梯蚀刻, 关键是在整个 3D堆栈的每个介质膜对的边缘创建等宽的“步骤”, 以形成阶梯形状的结构. 在器件加工过程中, 这些步骤的大量重复要求蚀刻高吞吐量和严格的过程控制.多功能现场气体计量需要在一个工具中执行多种监测功能:• 检测和量化污染, 交叉污染, 气体杂质和工艺室内的工艺化学• 评估已开发的蚀刻过程在生产工具 / 运行的复杂功能上的性能• 测量刻蚀后的清洁 (包括先进的无晶圆自动清洁 WAC) 作为腔条件对于消除工艺漂移和确保可重复性性能是至关重要的• 快速准确的蚀刻端点检测 EPD, 通过等离子体或气体监测, 因为这是一个关键的控制功能. 举例包括一氧化碳 CO 副产物在介电蚀刻中下降或氯 Cl 反应物在多晶硅和金属蚀刻端点上升.• 全面的实时计量数据, 允许过程等离子体和反应物的动态腐蚀控制, 以管理要求的腐蚀剖面Aston™ 质谱分析仪无等离子体终点检测虽然光学发射光谱 OES 已被广泛用于蚀刻 EPD, 但低开放面积 OA 和 HAR 设计的趋势使其在许多蚀刻任务中无效. OES 技术需要等离子体'开'和发光物种. 随着昏暗和远程等离子体越来越多地用于 3D设备和原子水平蚀刻 ALE 工艺, 需要更多敏感的数据和分析技术来实现迅速和确定的 EPD. 此外, 脉冲等离子体通常用于管理 HAR 和 低 OA% 工艺的蚀刻剖面, 这使得 OES 对于 EPD 来说是一个不切实际的解决方案. 在3D 结构中, 多层薄膜和多个接触深度阻碍了每一行触点到达底部时端点的光学发射信号的急剧步进变化其他 OES 限制包括:• 在电介质蚀刻中, 在 OA 5% 的模式上进行 EPD一直具有挑战性, 因为 OES 在低浓度下具有低信噪比.在高压Si深蚀刻(例如博世工艺)中, 要求 OA% 的 EPD低于 0.3%, OES 中较大的背景噪声水平抑制了对发射种数量的任何变化的检测.• 在金属蚀刻中, OA% 可能低于10%, 这取决于所涉及的互连尺寸. 对于接触和通过蚀刻, OA 可以在0.1-0.5%之间或更低, 这取决于所涉及的特征的大小. 在钨 W 蚀刻的情况下, 随着 OA的减小, 氯 Cl 反应物的消耗减少, 由于材料运输到 HAR 蚀刻特征, 蚀刻趋于放缓. 这两个因素都降低了反应气的消耗率. 因此, 由于等离子体中反应物的耗尽, 很难看到在终点处 OES信号的显著变化.Aston™ 质谱仪可以利用蚀刻反应物和 EPD 的副产物. 此外, Aston 能够在小的, 有限体积的传感器上运行周期性清洗, 以保持其性能(灵敏度), 在延长晶圆运行次数的情况下获得更大的正常运行时间. 然而, OES 要求在腔室上有一个需要保持清洁的访问窗口，以获得足够强度的稳定信号。通常，加热石英窗用于减缓工艺产品的堆积. 使用 Aston™质谱分析仪，在低浓度下的检测不受等离子体发射的背景光谱的影响, 也不受射频功率脉冲期间等离子体强度波动的影响.图 3a/3b 显示了 CO+和 SiF3 +的副产物 OA%下降到0.25%的电介质腐蚀EPD数据数据清楚地显示了线性行为和在低浓度下的检测不受等离子体发射的背景光谱影响. Aston 质谱的 ppb 灵敏度是针对 0.1%以下的 OA性能.原子级蚀刻 ALE在三维结构中, ALE 过程中的逐层去除需要脉冲射频电源来控制自由基密度和较低的离子能量, 以减少表面损伤和保持方向性. 在这样的光源中, 等离子体的整体光强较低, 并表现出波动幅度. 通常等离子体离晶圆区很远(距晶圆区25厘米), 而且等离子体激发的副产物很少, 使得光学测量不切实际.在 ALE中, 由于每个周期都是自我限制的, 端点检测可能不那么重要. 然而, 在缺乏气体分析的情况下, 工艺工程师对监测腔室和工艺健康状况“视而不见”, 因为无法看到化学状态, 特别是在工艺步骤 (吸附/净化/反应/净化) 之间过渡时的动态状态, ALE 的自限性并不能使它不受过程漂移的影响. 此外, 由于 ALE 不是基于等离子体的, 因此过程中的化学变化不一定可以通过等离子体监测检测到.有一种误解, 认为 ALE 技术实际上是一次一个原子层 相反, 它们每循环的去除/沉积量可能比单分子膜多一点(或少一点). 由于真空泵性能, 晶圆温度或离子轰击能量 (电压) 的变化分别导致表面饱和度和表面反应性的变化, 工艺移位(Å/周期的变化)可能发生.在 ALE (下图)中,由于等离子体的使用不一致, 化学监测方面的差距就不那么明显了. 在这种情况下, Aston™ 质谱仪具有以下优点:• 在每个工艺步骤中建立一个腔室化学状态的指证. 这可以参照其自身的正常行为, 也可以参照标准腔• 描述和监控与化学变化相关的动态过程中, 从一个步骤过渡到下一个步骤• 监测在 ALE 循环第一步之后从系统中清除吸附物质的时间. 等离子体通常用于产生吸附物质(自由基), 但它是在远离晶圆片的地方产生的• 监测 ALE 循环第二步反应产物的变化. 等离子体光强通常较低, 因为它使用了低占空比的脉冲射频• 监测反应产物和反应物在ALE循环第二步后被净化的时间结论原子级蚀刻只能使用像上海伯东日本 Atonarp Aston™ 质谱仪这样的分子传感器进行真正的测量和监测. 它的高灵敏度, 速度和对等离子体强度变化的低敏感性产生可靠的定量测量, 即使在低浓度的反应物和副产物, 具有低于1% 水平的高精度, 可以监测微妙的过程漂移和过程变化效应, 提供了可用于机器学习模型的见解.利用其高扫描速度, 通过监测反应产物减少的时间来实现步进时间优化, 因为它是表面反应活性变化的指示, 增加了总体吞吐量.ALE 是先进的蚀刻技术, 上海伯东 Aston 质谱仪为 ALE 提供了先进的化学计量技术, 可以测量和控制反应及其持续时间, 为大批量生产提供了可靠的解决方案.若您需要进一步的了解 Atonarp Aston™ 在线质谱分析仪详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：上海伯东: 罗先生

泽权仪器泽权仪器是奥林巴斯（Olympus）旗下Delta/Vanta系列手持/便携式X射线荧光分析仪（XRF）和Terra系列便携式分析仪（XRD）的中国授权代理商和环境/土壤应用的授权代理商。欢迎致电4008605168-1461了解更多信息。用于土壤分析和环境治理的Vanta分析仪：坚固耐用、改进创新、高效多产Vanta分析仪是一款用于对土壤和其它材料进行筛查以探测出污染重金属的重要工具。嵌入式GPS功能可以将检测结果与其相应的GPS坐标结合在一起，从而使分析仪具有追溯样本到野外的性能。Vanta分析仪可以方便地将GPS数据和样本数据以Wi-Fi方式传输到GIS，以绘制出污染金属的映射图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。Vanta分析仪在数秒钟之内可检测出RCRA（《资源保护及恢复法案》）中所规定的危险性高含量元素、需优先考虑的污染物质，以及危险金属。Vanta手持式分析仪可用于根据以下方法或规程进行合规检测：EPA 6200（美国环境保护署的方法6200）ISO/DIS13196（国际标准化组织/国际标准草案13196）各种SOP（标准操作规程）NIOSH或OSHA方法中讲述的样本过滤分析法表面筛查分析法坚固耐用，用于完成野外的环境评估应用Vanta分析仪是测量需优先探测的污染金属以及《资源保护及恢复法案》（RCRA）所限制金属的理想工具。需优先探测的污染金属包括银（Ag）、砷（As）、镉（Cd）、铬（Cr）、铜（Cu）、汞（Hg）、镍（Ni）、铅（Pb）、硒（Se）、铊（Tl）、锌（Zn）；《资源保护及恢复法案》（RCRA）中限制的金属包括银（Ag）、砷（As）、钡（Ba）、镉（Cd）、铬（Cr）、Hg（汞）、铅（Pb）和硒（Se）。由于Vanta分析仪在样件准备方面几乎没有什么要求，因此成为一款用于筛查面积场地和分析袋装土壤、沉积物、岩芯、流体、尘扫物质、表面与过滤器等样品的理想工具。有效完成土壤筛查工作在场地定性应用中，Vanta分析仪可以测量土壤和沉积物中的元素含量，从而有利于完成作为EPA方法6200的一个环节的土壤筛查工作。Vanta手持式XRF分析仪可以检测各种类型的样本，包括原地土壤、袋中土壤及完全准备好的土壤样本。Vanta分析仪是一款用于快速完成场地定性应用的工具。其在现场辨别材料化学成份的能力意味着可使用户对场地获得的了解，而且还减少了向现场以外的实验室运送样本的工作。使用嵌入式GPS功能，可以即时绘制金属分布的映射图Vanta分析仪带有嵌入式GPS功能，因此用户可以将准确的GPS坐标与结果一起存入文件中，并绘制元素位置的映射图。将GPS数据、XRF检测结果和来自可选5百万像素全景摄像头的图像综合在一起，可以进行内容全面的归档和简洁的报告制作。用户针对目标元素，在野外绘制映射图、观察图像、评价并进行跟进调查，可以较快地作出正确的决策。坚固耐用Vanta系列分析仪坚固耐用，可以正常运行长的时间，而且其拥有成本不高。Vanta分析仪通过了美国国防部标准（MIL-STD-810G）中的坠落测试，在分析仪被撞落或挤落时，可以减少其受到损伤的危险，避免用户支付昂贵的修理费用。Vanta分析仪还符合IP65评级标准，具有防尘和防水的特性，即使在具有挑战性的环境中，也可以免受各种危险因素的侵害。*Vanta分析仪可以在-10 °C到50°C的温度范围内连续正常工作，因此可以确保分析仪实现很长的正常运行时间，因为操作人员无需浪费时间等待分析仪冷却。* M系列分析仪符合IP64评级标准。** 带有风扇。 在33 °C没有风扇的情况下，可以连续工作。 改进创新从检测开始直到结束，Vanta分析仪每次都能为用户提供准确度相同的结果。Vanta系列分析仪所特有的Axon技术，使用超低噪声电子设备，在每秒钟之内可达到X射线计数率，从而可以获得准确的结果。由于Vanta分析仪将Axon技术与新款四核处理器结合在一起使用，因而这款分析仪具有非同寻常的响应能力，在操作性能上达到新的突破，可使用户在短时间内获得值得信赖的分析结果。Axon技术的重复性不仅体现在每次检测之间，而且反映在各个仪器之间。高效多产Vanta分析仪可以提高用户的分析量，并使数据归档操作简单易行，从而可提高生产力，使用户快速得到投资回报。简单直观的用户界面（UI）可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能。根据用户的特定需求，配置用户界面。用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键。通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单；Vanta分析仪的设计目标还包括使用的云应用。Vanta的技术规格外型尺寸（宽 × 高 × 厚）8.3 × 28.9 × 24.2 cm重量带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤。激励源4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳极材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。M系列（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kVC系列（Rh和W）：8 ～ 40 kV主光束过滤每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器。探测器M系列：大区域硅漂移探测器C系列：硅漂移探测器电源可拆装的14.4 V锂离子电池或18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 70 W显示800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制操作环境温度：–10 °C ～　50 °C（带可选风扇时，可连续工作）。湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。坠落测试通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试。IP评级IP65*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷。压力校正内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正。GPS嵌入式GPS/GLONASS接收器操作系统Linux数据存储4 GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量。USB两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。Wi-Fi通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。蓝牙通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能。瞄准摄像头全VGA CMOS摄像头全景摄像头5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜。* M系列分析仪符合IP64评级标准。