平均粒度测试仪

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平均粒度测试仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品,分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利,其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用,并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务,且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来,本着“质量第一,用户至上”的原则,秉承“科技服务社会”的理念,积极引进吸收国内外的先进技术,不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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平均粒度测试仪相关的仪器

  • 产品简介HMK-22平均粒度仪是一款用来测量粉体平均粒度的实验室用分析仪器。此仪器由空气稳流泵、稳压管、干燥器、试样管、齿杆、读数板、压力计及针形阀组成。空气稳流泵产生稳定的空气流,此空气流经过稳压管稳压后,又经干燥器干燥,通过样品测试区,粉体的粒度大小决定了空气透过率的大小,从而决定压力计液面的高度,用户可以直接从读数板上数出该粉体的粒度。本仪器采用进口的美式针阀、可以对气流进行精准控制。空气稳流泵躁音小、输出压力稳定。该仪器严格按国际标准生产,准确性及重复性都达到国际标准。技术参数测量原理:费氏空气透过法测量范围:0.2-50微米重复性误差:3%准确性误差:3%孔隙度范围:0.25-0.95工作电压:220V/50Hz/110V/60Hz电流强度:0.3安培(30W)仪器重量:18公斤仪器尺寸:41.8cm W x 24.6cm D x 73.7cm H产品特点激光切割齿杆,上下移动顺畅,保证测量精度超耐磨,超静音费氏稳流泵,保证气流输出一致美式高精度针阀,可对液位进行精确调整坚固耐用压实器底座可禁受住长期压粉而不变形。样品压力标定器很容易找到被测粉末的最佳孔隙率超硬超透石英玻璃部件,不易破碎红宝石标准管可追溯至国际标准仪器安装简单,用户操作方便测量平均粒度快速,仪器性能稳定孔隙度范围进一步扩展,适应更多领域要求重复性及准确性均符合国际标准测量结果直接读取,无需换算精确测量粉体平均粒度,测量结果可精确至1微米弥补了特殊粉末无法测量的难题应用领域磁性材料、粉末冶金、硬质合金、特种陶瓷、药品、难熔金属、钨钼材料、化学品等。由于粉体自身特性无法用其它粒度分析原理进行分析的粉末。平均粒度仪汇美科
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  • 平均粒度仪 400-860-5168转4954
    AD-305型测定仪(平均粒度仪)使用说明书 一、仪器简介及应用范围AD-305第四代透过法粒度测定仪法(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89和国际标准:ISO10070-91,荣获国家发明奖。AD-305型带快速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。二、技术参数1、粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米) 2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95 3、精度:3% 4、工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃ 5、电源:∽220±22v50-60Hz 6、功率:2w 7、重量:12kg8、外型尺寸:755*400*260三、工作原理及结构 本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
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  • AD-305型测定仪(平均粒度仪)使用说明书 一、仪器简介及应用范围AD-305为第四代透过法粒度测定仪法(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89和国际标准:ISO10070-91,荣获国家发明奖。仪器带有速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。AD-305型带有游标卡尺,可测量粉末床的厚度及水柱高度,大大提高了测量范围和精度。二、技术参数1、粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米) 2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95 3、精度:3% 4、工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃ 5、电源:∽220±22v50-60Hz 6、功率:2w 7、重量:12kg8、外型尺寸:755*400*260三、工作原理及结构 本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
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平均粒度测试仪相关的资讯

  • 以技术和研发为先导 在线、高精度粒度测试仪器未来可期——访济南微纳董事长任飞
    p style="line-height: 1.5em " 2020年10月24-25日,中国颗粒学会第十一届学术年会在福建省厦门市召开。济南微纳颗粒仪器股份有限公司作为“金牌赞助单位”精彩亮相,携Winner802光子相关纳米激光粒度仪进行现场测试,并荣膺中国颗粒学会颁发的“优秀团体会员”。会议期间,仪器信息网特别采访了济南微纳颗粒仪器股份有限公司董事长任飞,探秘济南微纳今年的业绩表现及未来战略布局。/pp style="line-height: 1.5em margin-top: 10px " 与大多数同行情况类似,济南微纳第一季度受疫情影响业绩同比去年略低,任飞表示,从第二季度开始市场逐步回暖,尤其是随着一系列利好政策的出台,销售额稳定增长,第四季度进入全面冲刺阶段,业务量出现持续增长。公司持续优化结构,确保为客户提供高质量的产品与服务。/pp style="line-height: 1.5em margin-top: 10px " 当前颗粒表征与测试领域竞争日趋激烈,各大仪器厂商都在积极寻求新机遇。任飞认为,未来的市场发展机遇有两方面:一是工业产品的粒度检测会向在线测试的方向发展,二是高校科研院机构所对高精度的颗粒测试仪器需求旺盛。济南微纳以高等院校为依托,拥有30多年的技术研发团队,任飞说到:“公司将进一步加大在线测试粒度仪的研发投入,加强高精度测量技术的深入研究,以期达到国际领先水平。”/pp style="line-height: 1.5em margin-top: 10px " 更多精彩内容,请点击视频查看:/pscript src="https://p.bokecc.com/player?vid=7E6906B01689E1EB9C33DC5901307461&siteid=D9180EE599D5BD46&autoStart=false&width=600&height=350&playerid=621F7722C6B7BD4E&playertype=1" type="text/javascript"/script
  • 从纳米粒度仪、激光粒度仪原理看如何选择粒度测试方法
    1. 什么是光散射现象?光线通过不均一环境时,发生的部分光线改变了传播方向的现象被称作光散射,这部分改变了传播方向的光称作散射光。宏观上,从阳光被大气中空气分子和液滴散射而来的蓝天和红霞到被水分子散射的蔚蓝色海洋,光散射现象本质都是光与物质的相互作用。2. 颗粒与光的相互作用微观上,当一束光照在颗粒上,除部分光发生了散射,还有部分发生了反射、折射和吸收,对于少数特别的物质还可能产生荧光、磷光等。当入射光为具有相干性的单色光时,这些散射光相干后形成了特定的衍射图样,米氏散射理论是对此现象的科学表述。如果颗粒是球形,在入射光垂直的平面上观察到称为艾里斑的衍射图样。颗粒散射激光形成艾里斑3. 激光粒度仪原理-光散射的空间分布探测分析艾里斑与光能分布曲线当我们观察不同尺寸的颗粒形成的艾里斑时,会发现颗粒的尺寸大小与中间的明亮区域大小一般成反相关。现代的激光粒度仪设计中,通过在垂直入射光的平面距中心点不同角度处依次放置光电检测器进行粒子在空间中的光能分布进行探测,将采集到的光能通过相关米氏散射理论反演计算,就可以得出待分析颗粒的尺寸了。这种以空间角度光能分布的测量分析样品颗粒分散粒径的仪器即是静态光散射激光粒度仪,由于测试范围宽、测试简便、数据重现性好等优点,该方法仪器使用最广泛,通常被简称为激光粒度仪。根据激光波长(可见光激光波长在几百纳米)和颗粒尺寸的关系有以下三种情况:a) 当颗粒尺寸远大于激光波长时,艾里斑中心尺寸与颗粒尺寸的关系符合米氏散射理论在此种情况下的近似解,即夫琅和费衍射理论,老式激光粒度仪亦可以通过夫琅和费衍射理论快速准确地计算粒径分布。b) 当颗粒尺寸与激光波长接近时,颗粒的折射、透射和反射光线会较明显地与散射光线叠加,可能表现出艾里斑的反常规变化,此时的散射光能分布符合考虑到这些影响的米氏散射理论规则。通过准确的设定被检测颗粒的折射率和吸收率参数,由米氏散射理论对空间光能分布进行反演计算即可得出准确的粒径分布。c) 当颗粒尺寸远小于激光波长时,颗粒散射光在空间中的分布呈接近均匀的状态(称作瑞利散射),且随粒径变化不明显,使得传统的空间角度分布测量的激光粒度仪不再适用。总的来说,激光粒度仪一般最适于亚微米至毫米级颗粒的分析。静态光散射原理Topsizer Plus激光粒度分析仪Topsizer Plus激光粒度仪的测试范围达0.01-3600μm,根据所搭配附件的不同,既可测量在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。4. 纳米粒度仪原理-光散射的时域涨落探测(动态光散射)分析 对于小于激光波长的悬浮体系纳米颗粒的测量,一般通过对一定区域中测量纳米颗粒的不定向地布朗运动速率来表征,动态光散射技术被用于此时的布朗运动速率评价,即通过散射光能涨落快慢的测量来计算。颗粒越小,颗粒在介质中的布朗运动速率越快,仪器监测的小区域中颗粒散射光光强的涨落变化也越快。然而,当颗粒大至微米极后,颗粒的布朗运动速率显著降低,同时重力导致的颗粒沉降和容器中介质的紊流导致的颗粒对流运动等均变得无法忽视,限制了该粒径测试方法的上限。基于以上原因,动态光散射的纳米粒度仪适宜测试零点几个纳米至几个微米的颗粒。5.Zeta电位仪原理-电泳中颗粒光散射的相位探测分析纳米颗粒大多有较活泼的电化学特性,纳米颗粒在介质中滑动平面所带的电位被称为Zeta电位。当在样品上加载电场后,带电颗粒被驱动做定向地电泳运动,运动速度与其Zeta电位的高低和正负有关。与测量布朗运动类似,纳米粒度仪可以测量电场中带电颗粒的电泳运动速度表征颗粒的带电特性。通常Zeta电位的绝对值越高,体系内颗粒互相排斥,更倾向与稳定的分散。由于大颗粒带电更多,电泳光散射方法适合测量2nm-100um范围内的颗粒Zeta电位。NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一个紧凑型装置仪器中集成了三种技术进行液相环境颗粒表征,包括:利用动态光散射测量纳米粒径,利用电泳光散射测量Zeta电位,利用静态光散射测量分子量。6. 如何根据应用需求选择合适的仪器为了区分两种光散射粒度仪,激光粒度仪有时候又被称作静态光散射粒度仪,而纳米粒度仪有时候也被称作动态光散射粒度仪。需要说明的是,由于这两类粒度仪测量的是颗粒的散射光,而非对颗粒成像。如果多个颗粒互相沾粘在一起通过检测区间时,会被当作一个更大的颗粒看待。因此这两种光散射粒度仪分析结果都反映的是颗粒的分散粒径,即当颗粒不完全分散于水、有机介质或空气中而形成团聚、粘连、絮凝体时,它们测量的结果是不完全分散的聚集颗粒的粒径。综上所述,在选购粒度分析仪时,基于测量的原理宜根据以下要点进行取舍:a) 样品的整体颗粒尺寸。根据具体质量分析需要选择对所测量尺寸变化更灵敏的技术。通常情况下,激光粒度仪适宜亚微米到几个毫米范围内的粒径分析;纳米粒度仪适宜全纳米亚微米尺寸的粒径分析,这两种技术测试能力在亚微米附近有所重叠。颗粒的尺寸动态光散射NS-90Z纳米粒度仪测试胶体金颗粒直径,Z-average 34.15nmb) 样品的颗粒离散程度。一般情况下两种仪器对于单分散和窄分布的颗粒粒径测试都是可以轻易满足的。对于颗粒分布较宽,即离散度高/颗粒中大小尺寸粒子差异较大的样品,可以根据质量评价的需求选择合适的仪器,例如要对纳米钙的分散性能进行评价,关注其微米级团聚颗粒的含量与纳米颗粒的含量比例,有些工艺不良的情况下团聚的颗粒可能达到十微米的量级,激光粒度仪对这部分尺寸和含量的评价真实性更高一些。如果需要对纳米钙的沉淀工艺进行优化,则需要关注的是未团聚前的一般为几十纳米的原生颗粒,可以通过将团聚大颗粒过滤或离心沉淀后,用纳米粒度仪测试,结果可能具有更好的指导性,当然条件允许的情况下也可以选用沉淀浆料直接测量分析。有些时候样品中有少量几微米的大颗粒,如果只是定性判断,纳米粒度仪对这部分颗粒产生的光能更敏感,如果需要定量分析,则激光粒度仪的真实性更高。对于跨越纳米和微米的样品,我们经常需要合适的进行样品前处理,根据质量目标选用最佳质控性能的仪器。颗粒的离散程度静态光散射法Topsizer激光粒度仪测试两个不同配方工艺的疫苗制剂动态光散射NS-90Z纳米粒度仪测试疫苗制剂直径激光粒度仪测试结果和下图和纳米粒度仪的结果是来自同一个样品,从分布图和数据重现程度上看,1um以下,纳米粒度仪分辨能力优于激光粒度仪;1um以上颗粒的量的测试,激光粒度仪测试重现性优于纳米粒度仪;同时对于这样的少量较大颗粒,动态光散射纳米粒度仪在技术上更敏感(测试的光能数据百分比更高)。在此案例的测试仪器选择时,最好根据质控目标来进行,例如需要控制制剂中大颗粒含量批次之间的一致性可以选用激光粒度仪;如果是控制制剂纳米颗粒的尺寸,或要优化工艺避免微米极颗粒的存在,则选用动态光散射纳米粒度仪更适合。c) 测试样品的状态。激光粒度仪适合粉末、乳液、浆料、雾滴、气溶胶等多种颗粒的测试,纳米粒度仪适宜胶体、乳液、蛋白/核酸/聚合物大分子等液相样品的测试。通常激光粒度仪在样品浓度较低的状态下测试,对于颗粒物含量较高的样品及粉末,需要在测试介质中稀释并分散后测试。对于在低浓度下容易团聚或凝集的样品,通常使用内置或外置超声辅助将颗粒分散,分散剂和稳定剂的使用往往能帮助我们更好的分离松散团聚的颗粒并避免颗粒再次团聚。纳米粒度仪允许的样品浓度范围相对比较广,多数样品皆可在原生状态下测试。对于稀释可能产生不稳定的样品,如果测试尺寸在两者都许可的范围内,优先推荐使用纳米粒度仪,通常他的测试许可浓度范围更广得多。如果颗粒测试不稳定,通常需要根据颗粒在介质体系的状况,例如是否微溶,是否亲和,静电力相互作用等,进行测试方法的开发,例如,通过在介质中加入一定的助剂/分散剂/稳定剂或改变介质的类别或采用饱和溶液加样法等,使得颗粒不易发生聚集且保持稳定,大多数情况下也是可以准确评价样品粒径信息的。当然,在对颗粒进行分散的同时,宜根据质量分析的目的进行恰当的分散,过度的分散有时候可能会得到更小的直径或更好重现性的数据,但不一定能很好地指导产品质量。例如对脂质体的样品,超声可能破坏颗粒结构,使得粒径测试结果失去质控意义。d) 制剂稳定性相关的表征。颗粒制剂的稳定性与颗粒的尺寸、表面电位、空间位阻、介质体系等有关。一般来说,颗粒分散粒径越细越不容易沉降,因此颗粒间的相互作用和团聚特性是对制剂稳定性考察的重要一环。当颗粒体系不稳定时,则需要选用颗粒聚集/分散状态粒径测量相适宜的仪器。此外,选用带电位测量的纳米粒度仪可以分析从几个纳米到100um的颗粒的表面Zeta电位,是评估颗粒体系的稳定性及优化制剂配方、pH值等工艺条件的有力工具。颗粒的分散状态e) 颗粒的综合表征。颗粒的理化性质与多种因素有关,任何表征方法都是对颗粒的某一方面的特性进行的测试分析,要准确且更系统地把控颗粒产品的应用质量,可以将多种分析方法的结果进行综合分析,也可以辅助解答某一方法在测试中出现的一些不确定疑问。例如结合图像仪了解激光粒度仪测试时样品分散是否充分,结合粒径、电位、第二维利系数等的分析综合判断蛋白制剂不稳定的可能原因等。
  • 激光粒度分析仪在色釉料中的应用
    激光粒度分析仪在色釉料中的应用色釉料是陶瓷制品的&ldquo 行头&rdquo ,直接关系到陶瓷产品的&ldquo 卖相&rdquo 。随着我国陶瓷产品产量和质量的迅速提高,色釉料行业在最近10多年也迅速发展壮大,现已成为陶瓷产业的重要分支。从形貌上看,色釉料是一种粉体,其粒度分布直接影响呈色特征和呈色强度,必须准确测定并加以严格控制。目前最先进的测试仪器是激光粒度分析仪,由于其具有测量范围宽、重复性好、速度快、操作容易等显著优点,非常适合色釉料行业的使用。激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。激光粒度仪的原理和结构决定了其的性能特点:1、能给出详尽的粒度分布数据,这些数据对确定色釉料颗粒的平均大小、均匀性、配料是非常有用的。2、测量范围大,能覆盖色釉料的整个粒度范围。3、测量速度快。4、重复性好、操作方便。总体来说,激光粒度仪是迄今为止最适合色釉料行业使用的粒度测试仪器。济南微纳颗粒仪器股份有限公司是一家专注颗粒测试的企业,研究颗粒检测技术已有30多年的历史。对于陶瓷行业的检测提供了完善的服务。以坚实的质量与优质的服务实践着。在陶瓷行业受到广大客户们的一致好评。微纳在以永不停歇的脚步与客户共创美好未来。 ---------------中国颗粒测试技术的领航者---------------济南微纳颗粒仪器股份有限公司是专门研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备的高科技企业。主要产品激光粒度仪,粒度仪,粒度分析仪,激光粒度分析仪,纳米激光粒度仪,颗粒图像分析仪,喷雾激光粒度仪等。销售热线:0531-88873312 公司网站:http://www.jnwinner.com 联系地址:济南市高新区大学科技园北区F座东二单元

平均粒度测试仪相关的方案

  • 静态多重光散射技术测量粒度标准发布--- ISO TS 21357
    ISO在2022年1月发布了Turbiscan测量粒度标准《纳米技术——静态多重光散射法测量液体分散体中纳米物体平均尺寸》,文中描述了利用SMLS静态多重光散射技术测量不同样品类型(宽浓度范围)的平均当量粒径的标准方法。纳米颗粒液态分散体系被广泛应用在工业中。纳米颗粒在液体中通过各种强弱力量相互作用,可能导致絮凝或聚集(初级粒子、聚集体、絮凝体等)。因此分散状态和表观平均粒径和粒径分布可能随着生产、储存、加工、特别是在测试粒度前的稀释或超声过程中导致絮凝体、聚集体和初级粒子的破碎或变形。出于产品开发、质量控制和法规遵从的原因,行业利益相关者需要适用于样品原位状态测量粒度的分析方法。目前,主流的粒度分析方法是光散射法,其中激光衍射式粒度仪仅对粒度在5μ m以上的样品分析较准确,而动态光散射粒度仪则对粒度在5μ m以下的纳米样品分析准确。但是光散射粒度测试需要对样品进行预处理,包括稀释、超声等。而Turbiscan所采用的静态多重光散射技术可以在样品原位状态下,无需稀释,直接测试样品的平均粒径。
  • 岛津激光粒度仪在食品中的应用
    激光粒度分析仪,是指以激光作为探测光源的粒度分析仪器,通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小,已成为当今比较流行的粒度测量仪器之一,,具有测量动态范围大、测量速度快、重复性好、操作方便等优点,尤其适合测量粒度分布范围宽的固体颗粒和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测试性能优异和适用领域极广的粒度测试仪器,已经在其他粉体加工与应用领域得到广泛的应用。激光粒度进样方式分为干法、湿法两种。湿法是利用水或其它试剂将样品颗粒分散后测量,湿法又包括微量进样池和超声循环池两种附件。超声循环池具有不同的循环速度,可提供超声以增加样品的分散性,根据样品特性自由选择,可针对样品优化分散条件;微量进样池具有不同的搅拌速度,搅拌速度均匀且样品需求量小。干法测定部件采用气旋方式样品抽吸结构,抽吸与喷射2段作用,从而出色实现样品的稳定气相分散,可实现高灵敏度、高重现性、高分辨率的测定干燥样品的粒径分布。岛津激光粒度(SALD)系列包含多款产品,主要包括SALD-2300、SALD-7500nano、IG-1000、SALD-7500和DIA-10等众多型号,适合多种粒度范围测量。除光学系统,不同机型也有相应多种规格的进样器可供选用进样器,根据样品特性可以选择湿法(微量进样池和超声循环池)和干法测试样品粒径,可以帮助客户大大提高分析速度和工作效率。
  • 使用激光粒度仪测试碳化硅粉体的粒度
    使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试碳化硅粉体的粒径大小和分布,为了解碳化硅粉体的粒度信息提供参考。本法使用纯水为分散介质,在搅拌和超声条件下进行测试,样品消耗量少,分析速度快,数据稳定且重复性好,满足碳化硅样品的粒度测试要求。

平均粒度测试仪相关的资料

平均粒度测试仪相关的论坛

  • 【求助】激光衍射粒度分布测试仪

    我单位需购买一台激光衍射粒度分布测试仪,测试样品为对苯二甲酸,现用筛分法测定粒度分布,粒度从45um到大于250um,平均粒度在110--130um之间。现要求如下:1当然要准确。2分析速度快。3能同时给出体积比和重量比 4仪器操作简单,但用工作站控制。 5仪器维护方便,比如样品池易清洗,更换镜头方便或不用换镜头。初步打算选择英国马尔文公司Mastersizer 2000型或美国贝克曼LS系列。请各位老大给个建议,特别是用过的老大!!!如果那位有LS系列的详细资料请发给我邮箱zyxdbox@yeah.net谢谢!!!!

  • WLP-202平均粒径测试仪操作规程

    辽宁丹东WLP-202平均粒径测试仪操作规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=24636]WLP-202平均粒径测试仪操作规程[/url]

平均粒度测试仪相关的耗材

  • 平均粒度仪配件
    平均粒度仪技术参数l 粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米)l 孔隙度范围:0.25-0.40μm(微米)、0.40-0.80μm(微米)、0.80-0.95μm(微米)l 精度:3%l 工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃l 电源:220v/50-60Hzl 功率:25wl 重量:12kgl 外型尺寸:755*400*260l 测试原理:空气通过法l .标准: GB 11107/GB 3249l 读取方式:读数板或数显平均粒度仪特点l 采用进口美式针阀控制气体流量l 直接读取数值或由测量软件读取数值l 静音稳压泵无振动,可持续提供稳定的测试压力l 对团聚的有吸附性或磁性的粉末也可以测量(只有费氏粒度仪)l 配置DPSK针盘式扭力计获得最佳孔隙度,解决了不同操作者压制粉末试样时的力量误差,使测量数据更趋准确。 平均粒度仪简介及应用范围AODE-305系列为第四代气体透过法粒度测定仪(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89 /GB 3249-82/GBT 11107-2018/GB3249-2009和国际标准:ISO10070-91.仪器带有快速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。Aode-305型平均粒度测试仪改进了在对被测粉末试样施压时使用无科学依据的压力校正器,采用DPSK针盘式扭力计,可使任何操作人员在对粉末测试过程中均可达到相同的压制力,得到同一种佳孔隙度,消除了人为误差,使被测粉末粒径更加准确,同时本仪器配有双向扩展读数板,孔隙度范围由原来的0.80—0.40μm(扩到0.95—0.80μm、扩到0.40—0.25μm),满足了对各种粉末的测试需求。平均粒度仪工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
  • 平均粒度仪费氏粒度仪空气透过法粒度测定仪
    AODE-305费氏粒度仪参数 一、仪器简介及应用范围 AODE-305系列为第四代透过法粒度测定仪法(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89 /GB 3249-82/GBT 11107-2018/GB3249-2009和国际标准:ISO10070-91.仪器带有快速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。二、技术参数1、粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米) 2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95 3、精度:3% 4、工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃ 5、电源:∽220±22v50-60Hz 6、功率:2w 7、重量:12kg8、外型尺寸:755*400*260三、工作原理及结构 本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
  • 平均粒度仪
    PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪,是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89和国际标准:ISO10070-91,荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺,可精确测量粉末床的厚度及水柱高度,大大提高了测量范围和精度。本仪器由张瑞福先生亲自监制。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注:Dk为包络比表面粒度,也称粘性流透过粒度;Dv为全比表面粒度;Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积; Sv为粉末全比表面积,也称粉末吸附全比表面积。工作环境: 干燥,无腐蚀,温度25±12℃,相对湿度<80%电 源: 220ACV,50Hz,20W外型尺寸: 755×400×260 mm3净 重: 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
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