光束分析仪原理

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  • 激光光束分析仪 400-860-5168转1545
    Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片）激光光束分析仪,激光光斑分析仪,M2分析仪,光束质量分析仪,相机式光束质量分析仪,狭缝扫描式光束分析仪,M方测量仪
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    厂商： 瞬渺科技（香港）有限公司
    品牌： Duma Optronics
    型号： BeamOn U3
    价格： 1万 - 5万元
  • 激光光束分析仪 400-860-5168转1451
    狭缝扫描波长范围： 190-1100nm 800-1800nm 1.5-3.5um分辨率 2umzhui小光束 100um扫描区域 5*7mm-Si 3mm-Ge 3mm-InGAS结合二维运动台 23*43mm典型应用à 激光/二极管激光表征à 激光组件开发、对准、表征、生产测试和品控。à 如下应用的激光器和激光器组件：- 磁盘/晶圆表征- 激光打印/打标- 医疗激光- 条形码扫描仪等。即时的：à X-Y 轮廓测量à 发散角à 椭圆、质心、高斯拟合à 相对功率特征：à 光束尺寸 100um至 45 mmà 分辨率 2um 或 范围的0.5 %à 190 nm 至 3.5um 可项à M2 测量附件à 符合 ISO 11146à 适用于密闭空间的窄探头à 前置光阑à 宽动态范围à 功能强大、直观的软件à 升级选项，BeamScope-P7 至 USB 2.0配件和选项à M2 测量附件-USB 2.0à UV - NIR 选项 190 至 3.5 μmà 2-D 扫描平台，用于 23 x 45 mm 轮廓分析 BeamScope-P8 系统包括：一个紧凑测头、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 线缆、用户手册和适用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的软件。工作原理：线性扫描探头带有单个针孔、单个狭缝或正交 X-Y 狭缝。这种线性扫描满足 ISO 11146 激光轮廓标准的严格要求。穿过狭缝的光落在硅（190 至 1150 nm）或锗（800 至 1800 nm）探测器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析仪之前，没有市售的狭缝扫描或刀刃扫描光束分析仪符合 ISO 11146 标准。该标准要求在与传播轴正交的平面上进行扫描。鼓式扫描仪不符合标准。 DataRay 独特的线性扫描探头的设计完全符合标准。]获取狭窄区域的光束轮廓BeamScope-P8 使曾经难以测量的光束轮廓的测量不仅成为可能，而且变得简单。独特的探头式扫描头可轻松观察透镜、反射镜和滤光片之间狭窄的轴向间隙。它能够探测窄至 12 毫米的沿轴空间，开创了一个全新的应用场景。没有来自光学元件或滤光片的光束失真光束不会因辅助光学元件或滤光片而失真，因为 BeamScope-P8 在分析大多数类型的激光器时不需要它们。 AUTO GAIN 功能可以连续调整探测器放大器增益，以确保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范围。可以从单个扫描头测量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。结合新的 2-D 运动台附件扫描高达 23 x 45 mm 的光束区域。前置光阑前置光阑使您能够准确地看到光束被测量的位置。如果您可以靠近光源，快速发散和快速聚焦的光束很容易捕获。现在测量激光二极管阵列、微透镜源、宽条纹激光器等比以往任何时候都更容易。可用的光阑可以在针孔孔径上容纳高达 100 W/mm2 的功率密度。 （zhui大总功率 = 0.5 W）在几分钟内将孔径从狭缝变为针孔。这赋予了 BeamScope-P8 成为光束分析仪中良好的价值。带 USB 2.0 的笔记本电脑便携性BeamScope 将接口插入您的笔记本电脑上的 USB 2.0 端口，以提供占用空间小的便携式设备。 研发、品控和生产的良好选择研发用户将感受全面的分析功能。 QA 和生产工程师会喜欢将测试配置保存为 JOB 文件并在屏幕上指示通过/失败的功能。良好的 M2 测量BeamScopeTM P8 可选 M2DU-P8 附件不同于市场上的任何其他附件。没有复杂的调整，但用户可以实现高度可重复的测量。该软件会自动在腰部区域进行更频繁的测量，以准确确定真实的束腰直径。23 x 45 mm 2-D 扫描台DataRay 新的光束分析创新技术可在高达 23 x 45 毫米的光束区域上提供非凡的 0.2%（512 x 512 像素）分辨率，小至 5 x 5um (HxV)。二维扫描结果显示在用于区域图像分析的集成成像软件中。光束范围P8产品规格 [如有更改，恕不另行通知.]可测得对象CW 或脉冲激光 5kHz 脉冲重复率 @ 5% 占空比。 PRR越高越好。测量光束功率请参阅下面注释中的图表。 例如。 6 uW 至 3 W，对于 1 mm 直径 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm，5um 狭缝。光学动态范围55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0的衰减片]最大扫描形状区域针孔（PA系列）单狭缝（SS系列）X-Y 狭缝（XY 系列）二维运动台 (M2B) 重要提示：为了准确测量，光束宽度应 0.5 x 扫描尺寸使用 /EPH 扩展探头时，以下 23 毫米的尺寸变为 35 毫米。形状 交叉扫描 x 扫描长度线扫描 针孔直径 x 23 mm矩形 7* x 23 毫米，（* 5 用于 Ge，3 用于 InAs）梯形 5* x 15/5 mm，（* 3 用于 Ge，2 用于 InAs，3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5）矩形 45 x 23 毫米扫描区域图像。 在该区域扫描针孔。可测量的光束直径/宽度100um 至 ~ 25 毫米。 定义为 1/e2 直径，= 高斯光束峰值的 13.5%）测量分辨率2um 或测量光束直径的 0.5 %，以较大者为选项测量精度±±2um或者测量光束直径的 ±2%测量的光束轮廓 X & Y 线性和对数轮廓显示模式测量的轮廓参数高斯光束直径高斯拟合二次力矩光束直径刀口光束直径质心的相对和绝对位置，椭圆度 + 主轴方向光束漂移显示 显示的配置文件仅 X、仅 Y、X 和 Y二维图（10,16 或 256 色）重构见注 13-D 绘图（10,16 或 256 色）重构见注 1 更新率1 到 2Hz。 取决于 PC 处理器速度、扫描的配置文件和选定的选项数据分析通过/失败平均标准差 在所有测量参数上，在屏幕上，以可选的通过/失败颜色显示 光束直径运行平均和累积平均选项 在累积平均屏幕上功率测量单位为 mW、dBm、dB、% 或用户输入（相对于用户提供的参考测量。）光源到狭缝距离最小 1.0 毫米孔径大小狭缝针孔 重要提示：有关可测量的光束尺寸，请参见扫描区域（前述），请参见注释 2 2.5、5、10、25 和 100um 宽 7 毫米长（5 um 狭缝的平面版为 5 毫米长）5, 10, 25 和 50um 直径（更大或更小的针孔，特殊订单）见注 2 波长范围硅探测器锗探测器砷化镓 190 to 1150 nm 800 to 1800 nm 1.5 to 3.5 μm安装?-20 & M6 螺纹安装孔温度范围（包括附件）操作贮存 10oto 35℃5 to 45℃最低电脑要求 PC 或 Intel-MacUSB2.0 端口，Windows XP、Vista 或 Windows 7； 1024 MB 内存； 10 MB 硬盘空间； 1024 x 768 显示器。 注：1. 2-D 和 3-D 轮廓是通过 X-Y 扫描“重建”的，假设测量的 X 光束轮廓对于所有 Y 值都相同，并且测量的 Y 光束轮廓对于所有值X都相同。2. 在单缝或针孔模式下，缝/针孔宽度应小于等于被测光束直径的1/3。对于倾斜±45° 的 X-Y 狭缝对，该比率约为 1/5。3. 在刀刃模式下，狭缝宽度应大于等于光束直径的 3 倍。对于以±45° 倾斜的 X-Y 狭缝对，该比率是不小于光束直径的4.3 倍。功率限制。该图允许您简单地确定 BeamScope 可以在没有额外衰减的情况下测量的近似最大光功率。该限制是探测器电流限制。PxS 是以瓦特为单位的功率限制。计算激光波长的功率极限：该图显示了直径为 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狭缝的近似饱和光束功率（以 mW 为单位）与波长的关系。1) 确定波长的标绘值 PS mW。 （例如 633 nm 时为 70 mw）2) 对于不同的狭缝或光束，将 PS 乘以：0.05.(光束直径，μm)/(狭缝宽度，μm)3) 对于针孔，将 PS 乘以0.05 x（光束直径，μm）2 /（针孔直径μm）2
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    厂商： 科艺仪器有限公司
    品牌： DATARAY
    型号： BeamScope-P8
    价格： 5万 - 10万元
  • 激光光束分析仪 400-860-5168转3512
    激光光束分析仪(Laser Beam analysis)除了激光功率 / 能量外,激光在传输方向横截面的强度分布以及激光的传输特性,也是激光器应用中决定性的因素:绝大多数应用需要根据激光的传输特性(M2 )来设计光路；定量科学实验和高品质激光加工都需要实际测量激光焦点的分布。同时,很多激光器在使用中,泵浦源或光学器件衰减首先体现在激光光斑的变化上,定期测试激光光斑有助于提前发现衰减倾向,及早维护,降低维护成本、缩短停机时间,预防激光器性能突变导致产线灾害。激光的截面强度分布的测量(光斑分析)通常采用光束分析仪,而传输特性通常用 M2 表征,由 M2 测试仪按照 ISO 标准进行测量。Spiricon 公司是业内久负盛名的激光光束分析仪和 M2 生产厂家,自上世纪十年代末开始研发提供激光光束品质分析仪,并参与制定了光斑测量的ISO11146-3 标准。产品种类覆盖 CCD 相机式光束分析仪、InGaAs 面阵相机光束分析仪、热释电晶体面阵光束分析仪、狭缝扫描式光束分析仪、全自动M2 测量仪、高功率激光聚焦测试仪等,波长覆盖 13nm ~ 3000μm,广泛应用于激光器制造、激光精密加工、光通讯、太赫弦、激光科学研究等领域。Spiricon 公司 2006年加入 OPHIR 集团,使后者成为激光测量全系解决方案的供应商。相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器, 直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像, 传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析 仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成:&bull 相机相机确定了可测量的波长范围:硅基 CCD 相机通常为 190nm ~ 1100nm；InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；热释电面阵相机则可覆盖 13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的最大尺寸,而像素尺寸则决定了能够测量的最小光斑尺寸；通常需 要 10 个像素体现—个光斑完整的信息。&bull 光束分析软件软件除了采集数据并按照各种数学模型进行分析计算外,更为重要的是确保光束分析计量的准确性。Spricon 公司采用 Ultra CALTM 技术扣除 相机的起伏背景,确保在各种强度下得到的光斑都具备定量准确性；丰富的光斑识别、手动及自动选区功能,避免光斑品质计算中引入过大 误差甚至出现伪结果:例如对多模(多瓣)光束的自动分析。&bull 附件几乎所有的激光器的强度都超过相机的饱和强度甚至损伤國值,高品质的衰减附件可确保在保持光束品质的情况下衰减强度；扩束、缩束、放大、 投影成像等高品质成像系统使得尺寸—定的传感器可以适应不同的光斑。硅基CCD 相机主要特点&bull 相应灵敏度高&bull 不同感光面尺寸可供选择&bull USB2.0/USB3.0/ Gigbit Ethernet 三种接口方式&bull C-Mount 接口，可选择衰减片、分光片等多种附件主要应用领域&bull 半导体/ 光纤等激光器光斑分析&bull 激光加工设备&bull 生物医疗激光分析等相机型号SP300SP928LT665L11059波长范围190-1100nm190-1100nm190-1100nm190-1100nm芯片尺寸7.1mmX5.3mm12.5X10mm35mmX24mm像元大小4.4μm X4.4μm4.54μmX 4.54μm9.0μm X9.0μm分辨率1928X14481928X14482752X21924008X2672动态范围56dB56 dB54 dB59 dB灵敏度1.2nW/cm21.2nW/cm20.3nW/cm20.17nW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )0.15mw/cm2软件配置BeamGage Pro接口方式USB3.0USB3.0USB3.0USB2.0特点通用 / 高动态 范围高动态范围 / GigaE大面阵 / 高分辨率超大面阵镀磷光材料 CCD 相机硅材料 CCD 相机的长波截止波长为 1100nm (对于较强的光可响应至 1300nm ) 。通过在芯片表面镀上转换磷光材料,能够探测光通讯广泛使 用的 1550nm 左右激光主要特点反斯托克斯磷层吸收1440-1605nm 近红外光，进而产生的可见光在硅基芯片上进行成像。主要应用领域光通讯，OPO 激光等。相机型号 主要参数SP928-1550LT665-1550波长范围1440-1605nm1440-1605nm芯片尺寸7.1mm根5.3mm12.5mm根10mm像元大小4.4μm 根4.4μm4.54μm 根4.54μm分辨率1440根16052752根2192动态范围30 dB30 dB灵敏度50μW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )软件配置BeamGage STD or PRO接口方式USB3.0红外信号上转换至可见光信号的过程是非线性的，也即针对这类镀磷的相机，芯片感测到的信号并不正比于输入的红外光强信号。Spiricon基于大量的实验测量了转换效率的非线性特性，研究了校正算法并将这一算法植入BeamGage 软件中，确保软件的到的结果真实可靠。近红外 InGaAs 相机　　　XC-130　SP1201/1203主要特点：量子效率高, 暗电流小, 灵敏度高, 爆光时间范围宽。主要应用领域：空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、红外成像制导、 光电对抗等。相机型号SP1203SP1201XC-130波长范围900 - 1700nm芯片尺寸9.6根7.6mm像素大小15μm 根15μm30μm 根30μm分辨率640根512320根256动态范围68dB59dB68dB( 低增益 )/ 60dB(高增益 )　12.6uW/cm212.6uW/cm2　饱和强度@1064nm@1064nm1.3uW/cm2 @ 1550nm　8.9uW/cm28.9uW/cm2　　@1550nm@1550nm　芯片制冷TEC 制冷TEC 制冷TEC 制冷强制散热顺率60Hz60Hz100Hz爆光时间10μs - 50ms150μs - 10ms1μs - 400s软件配置BeamGage ProBeamGage ProBeamGage Pro接口GigaEGigaEUSB2.0YAG 激光 红外光纤出光 THz 激光 自由电子激光
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    厂商： 上海尖丰光电技术有限公司
    品牌： OPHIR
    型号： 激光光束分析仪
    价格： 1元
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  • 血细胞分析仪检测原理

    目前血细胞分析仪检测原理包括电学和光学两种，电学包括电阻抗法和射频电导法，光法包括激光散射法和分光光度法。电阻抗法根据Coulter原理及血细胞非传导的性质，以电解质溶液中悬浮的血细胞在通过计数小孔时引起的电阻变化进行检测为基础，进行血细胞计数和体积测定。当有细胞通过小孔时，由于电阻增加，于瞬间引起电压变化及通过脉冲。细胞体积越大，脉冲振幅越高，细胞数量越多，脉冲数量也越多。脉冲信号经过：放大、阈值调节、甄别、整形、计数而得出细胞技术结果。电阻抗法可准确量出细胞（或类似颗粒）的大小，是三分类血液分析仪的主要应用原理，并与光学检测原理组合应用于五分类血液分析仪中。激光散射法应用了流式细胞术检测原理及细胞通过激光束被照射时，产生与细胞特征相应的各种角度的散射光。对经信号检测器接受的散射光信息进行综合分析，即可准确区分正常类型的细胞。激光散射法在区别体积相同而类型不同的细胞特征时，比电阻抗法分群更加准确。故激光散射法已成为现代五分类血液分析仪的主要检测原理之一。射频电导法是用高频电磁探针渗入细胞膜脂质可测定细胞的导电性，提供细胞内部化学成分、细胞核和细胞质、颗粒成分等特征信息。射频电流是每秒变化大于10000次的高频交流电磁波，能够通过细胞壁。分光光度法是所有类型的血细胞分析仪检测血红蛋白的原理，它利用血红蛋白与溶血剂在特定波长下比色，吸光度的变化与液体中血红蛋白含量成比例。

  • 实验室分析仪器--质谱仪其他类型的电离技术及原理

    [b]1、激光电离技术[/b]具有一定能量的激光束轰击样品靶，实现样品蒸发和电离，即激光电离（laser ionization，L电离的概率取决于激光脉冲的宽度和能量。当选择单色光激光器作为电离源，可进行样品微区分析，样品的最小微区分析区域与激光的波长有关。分析灵敏度在10量级，分析深度为0.5um，空间分辨率1～5um。随着激光束的不断改进，剖析深度可以达到几十微米，配备数字处理系统，还可得到样品的三维离子分布图。激光电离飞行时间质谱仪就是一种典型的使用激光电离技术的质谱分析仪器。从脉冲激光束开始照射样品，到质谱分析的完成，时间很短，分析效率极高。现在，随着激光技术的快速发展和激光发生器生产成本的降低，激光电离技术已越来越多地用在不同类型的质谱仪上，得到广泛应用。[b]2、激光共振电离技术[/b]激光共振电离（laser resonance ionization，LRI）是20世纪70年代发展起来的激光电离的另一种形式，基本原理是基于每种元素的原子都具有自己确定的能级，即基态和激发态。量子力学揭示这些能级是分离而不是连续的。当某一个处于基态的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]了激光特定能量的光子，跃迁到激发态能级，便实现了共振激发。处于激发态的原子如能再吸收光子，只要两次吸收的光子能量之和大于该原子的电离能，即可使该原子电离，这一过程称为 LRI LRI的基本特征是:对被激发的元素具有非常强的选择性。LRI与质技术相结合组成的激光共振电离质谱仪（laser resonance ionization mass spectrometry，LRIMS）是20世纪后期发展起来的一种新型质谱技术，能够有效地排除其他同位素质谱测量过程中难以克服的同质异位素干扰，灵敏度、丰度灵敏度高，适合核反应过程中的低产额裂变核素测量，也为地球化学、宇宙化学研究中的稀有核素分析提供强有力的支持。Mainz大学使用该技术测量了Ca、u、Np等元素，对Ca的探测限达到10[sup]6[/sup]个原子。曼彻斯特大学采用冷端富集与激光脉冲电离方式实现了惰性气体的高灵敏度分析，对[sup]132[/sup]xe的探测限达到1000个原子

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  • ML4515 M2激光光束质量分析仪
    ML4515 M2激光光束质量分析仪1秒内的M2激光光束质量分析仪是用于测量连续及脉冲激光光束质量参数M2的。它运用高分辨率数字摄像头精确的测定激光光束直径。 beamlux II高级软件包里新M2模块评测出M2为± 3%精度。为预调整产品且易于匹配。当高测量率 5Hz时，激光的测试，调整及优化都可在线进行。规格 CW-扫描测量激光线的整套系统CW扫描系统包括beamlux II CW扫描软件，ML3743摄像头，ML8010电机控制器及一个线型工作台。 FM100焦点监测器适用于高功率密度激光光束及激光光斑FM 100焦点监测器是一个小型光束质量分析仪系统，它由标准ML3743摄像头，ML1201 beamlux II 高级软件及高功率衰减器组成。可高精度地评估高达100W的激光光束及激光光斑。中性密度滤光镜可轻易的变换，以便降低功率来适应CCD摄像头的标准（滤光轮可选）。放大率在5x, 10x, 20x的近场透镜适用于Nd Yag和准分子激光器。特点高功率激光器适用高功率密度激光光斑适用紧凑型装置中性密度滤光镜可互换高放大倍数及高数值孔径的近场透镜规格
    供应商： 筱晓（上海）光子技术有限公司
    品牌： 完美光子
    价格： 面议
  • Beam Analyzer高精度光束分析仪
    Beam Analyzer高精度光束分析仪筱晓光子供应以色列Duma Optronics公司的Beam Analyzer高精度光束分析仪，是一种高精度多刀片光束质量分析仪，系统组成包括：探测器、滤光片、USB2.0控制盒、支架、CD操作软件。该系列高精度光束分析仪用于测量激光器的如下参数：强度分布、光束宽度、光束形状、光束位置、激光功率。ModelDescriptionsBA3-Si-USB350-1100nm, 3-blades, Si detector 5mm circularBA3-Si-SAT350-1100nm, 3-blades, Si detector 5mm circular with Touch screenBA7-Si-USB350-1100nm, 7-blades, Si detector 9mm squareBA7-Si-SAT350-1100nm, 7-blades, Si detector 9mm square with Touch screenBA3-UV-USB190-1100nm, 3-blades, Si detector 5mm circularBA3-UV-SAT190-1100nm, 3-blades, Si detector 5mm circular with Touch screenBA7-UV-USB190-1100nm, 7-blades, Si detector 9mm squareBA7-UV-SAT190-1100nm, 7-blades, Si detector 9mm square with Touch screenBA3-IR3-USB800-1800nm, 3-blades, InGaAs detector 3mm circularBA3-IR3-SAT800-1800nm, 3-blades, InGaAs detector 3mm circular with Touch screenBA3-IR3E-USB1200-2700nm, 3-blades, InGaAs detector 3mm circularBA3-IR3E-SAT1200-2700nm, 3-blades, InGaAs detector 3mm circular with Touch screenBA7-IR3-USB800-1800nm, 7-blades, InGaAs detector, 3mm circularBA7-IR3-SAT800-1800nm, 7-blades, InGaAs detector, 3mm circular with Touch screenBA7-IR3E-USB1200-2700nm, 7-blades, InGaAs detector, 3mm circularBA7-IR3E-SAT1200-2700nm, 7-blades, InGaAs detector, 3mm circular with Touch screenBA3-IR5-USB800-1800nm, 3-blades, InGaAs detector, 5mm circularBA3-IR5-SAT800-1800nm, 3-blades, InGaAs detector, 5mm circular with Touch screenBA7-IR5-USB800-1800nm, 7-blades, InGaAs detector, 5mm circularBA7-IR5-SAT800-1800nm, 7-blades, InGaAs detector, 5mm circular with Touch screenOptional accessoriesBA-FiberFiber adapter Attachment with FC connector for BA headSAM3-BBeam sampler with mounting adapter for Beam AnalyzerSAM3-HPBeam Sampler for High Power lasers (consult factory)
    供应商： 筱晓（上海）光子技术有限公司
    品牌： Duma Optronics
    价格： 面议
  • 现货供应2B Technologies / 美国model205-model-205双光束紫外光臭氧分析仪
    现货供应2B Technologies / 美国model205-model-205双光束紫外光臭氧分析仪，现货，直销，特价，特点：销售热线，15300030867，张经理，欢迎您的来电咨询！l 分别使用单光束或双光束254nm紫外光吸收法l 高精度及分解度，量程由1ppbv至250ppmvl 最佳响应时间仅需2秒，较同类型产品优越l 低电量消耗，能以12V DC (5.0W)外置电源操作l DewLineTM 技术减低水气对仪器的干扰l 内置数据记录功能及实时时钟显示。并有3组模拟讯号输出l 以RS-232输出时间、日期、臭氧浓度、仪器内温度、气压及另外3组补充输入讯号，例如外置温度、湿度及气压l 数据可通过软件下载现货供应2B Technologies / 美国model205-model-205双光束紫外光臭氧分析仪，现货，直销，特价，特点，205型现货供应2B Technologies / 美国model205-model-205双光束紫外光臭氧分析仪，现货，直销，特价，特点，应用：l 在重量轻巧及体积细小的气球、风筝、遥控车辆及小型飞机上放置臭氧分析仪，要求测量出不同高度中高分辨率的臭氧浓度。l 在一些限量电源供应的地点作长时间并遥距监测臭氧。l 工业生产中需要迅速监测臭氧浓度的变化l 建立城市监测网络l 室内空气质量监测现货供应2B Technologies / 美国model205-model-205双光束紫外光臭氧分析仪，现货，直销，特价，特点，规格：规格205光学台单光束紫外光吸收法范围/分辨率1ppb～250ppm/0.1ppb10秒检测时间的准确度及精度±1.0ppb或读数的2%检测下限2σ2.0ppb采样流量1.8L/min基线漂移1ppb/天，5ppb/年灵敏度漂移1%/天，3%/年测量时间10秒平均值时间2,10秒,1,5分,1小时臭氧单位ppb,pphm,ppm,μg/m3,mg/m3温度/气压修正有操作温度范围0～50℃或升级-20～50℃操作高度约0～30km电源12Vdc,415 mA,5watt尺寸/重量9x21x29cm/2.1kg数据记录器14,336行数据模拟信号输入3组0～2.5V输入RS232输出有数据传送波特率1200，2400，4800，19200USB输出需连接外置转换器模拟信号输出0～2.5V,需升级4～20mA继电器没有
    供应商： 北京宏昌信科技有限公司
    品牌： 德图
    价格： ¥50000
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  • CINOGY光束质量分析仪—角度响应校准：应用于大角度发散角的激光光束测量
    Cinogy光束质量分析仪—角度响应校准：应用于大角度发散角的激光光束测量1.1 应用范围有不同种类的应用需要考虑角度响应。这些应用大多使用(非常)发散的光束。在这种情况下，我们在一幅图像中有连续的入射角范围。照相机的灵敏度取决于激光束的入射角，这是由过滤器和传感器造成的。1.2 角度线性原因1.3过滤器这里，我们将只考虑吸收滤波器。如果光束没有垂直入射到滤光器上，则通过滤光器的路径较长。较长的路径导致较强的吸收，因此相机(滤光片和传感器)的响应较低。与过滤器相关的效果是各向同性的。但是，如果滤光器相对于传感器倾斜(取决于相机型号)，则会在滤光器倾斜的方向上产生各向异性。入射角αin的线性透射可以用数学方法描述，如果透射指数为垂直光束T0和折射率n已知。因为对吸收性滤光片来说，T0与波长有很大的线性关系，与入射角度有关的相对透射率Trel也与波长密切相关。1.4 传感器角度响应取决于传感器技术、传感器类型、波长和微透镜。通常它不是各向同性的。图1:KAI-16070对单色光(未知波长)的角度线性灵敏度。参考:KAI-16070的 数据表图2 CMX4000白光的角度线性灵敏度如这些示例所示，对于不同类型的传感器，角度响应可能完全不同。因为这种效应还 取决于波长和单个传感器(每个传感器表现出稍微不同的行为)，取决于波长的校准是必要的。两个传感器都显示出各向异性。为了考虑校准中的各向异性，需要比仅在x和y方向上更复杂的测量。2 涂层通过一种特殊的涂层，我们可以消除(主要是抑制)传感器本身的角度产生。剩余的影响角度的灵敏度是由滤波器引起的。这产生了以下主要优点:1）剩余的角度响应是各向同性的，这意味着它不再取决于入射角的方位角。2）剩下的角度响应的校正系数更小，因此更不容易出错。下面的图表显示了CinCam cmos Nano 1.001在940nm下的两个角度响应测量值，前面有CMV4000传感器和OD8吸收滤光片。第1张图表中的摄像机采用默认设置，没有特殊涂层。图3:CMV 4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应，前面有OD8吸收滤光片，在940nm处测量。上半部分显示相对角度响应，下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。第二张图中的相机是用特殊涂层制作的。图4:CMV 4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应，该传感器具有特殊涂层，前面有OD8吸收滤光片，在940纳米处测量。上半部分显示相对角度响应，下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。这里，角度响应是各向同性的、平滑的，对于大角度，下降效应不太明显。CinCam CMOS Nano Plus-X针对传感器和外壳正面之间的极短距离进行了优化。这使得入射角度高达65°时的角度响应测量成为可能。3 角度响应的拟合函数拟合函数是Zernike2多项式，其中入射角的正弦用于半径。这些多项式为入射角的任意方向提供了x和y方向的简单插值。用这种方法，我们可以用少量的系数描述高达±60度的测量结果。4 均匀性由于生产原因，涂层并不在任何地方都具有完全相同的厚度。这导致照相机灵敏度的不均匀性增加。这个缺点通过进一步的均匀性校准来补偿。图5:940纳米无涂层传感器(紫色)和均匀性校准后(绿色)的相对灵敏度。5 精度整体精度取决于以下几点:1）拟合精度。2）角度响应的各向同性。3）垂直光束位置(x，y)的精度。4）顶点到传感器的光学距离的精度(z)。5）蕞大角度下的角度响应下降。通过特殊的涂层，我们可以提高拟合精度和角响应的各向同性。此外，大角度灵敏度的相对下降要弱得多。6 RayCi中的校正要求为了根据角度响应校正图像数据，必须满足以下要求：1）角度响应校准数据必须可用于每个波长。该数据由蕞佳拟合的Zernike多项式系数组成。2）为了生成从每个像素到相应入射角的映射，必须知道光束垂直的x和y传感器位置。3）需要传感器和激光焦点位置之间的光学距离。4）CINOGY Technologies提供外壳和传感器之间的光学距离作为额外的校准数据。5）外壳和焦点之间的距离必须由用户提供。6）软件版本必须是RayCi 2.5.7或更高版本。 昊量光电提供的德国Cinogy公司生产的大口径光束分析仪，相机采用CMOS传感器，其中大口径的CMOS相机可达30mm，像素达到惊人的19Mpixel。是各种大光斑激光器、线形激光器光束、发散角较大的远场激光测量的必不可少的工具。此外CinCam大口径光束分析仪通用的C/F-Mount 接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。超过24mm通光孔径的大口径光束分析仪CinCam CMOS-3501和CinCam CMOS-3502更是标配功能齐全的RayCi-Standard/Pro分析软件，该软件可用于光束实时监测 、测量激光光斑尺寸 、质心位置、椭圆度、相对功率测量（归一化数据）、二维/三维能量分布（光强分布） 、光束指向稳定性（质心抖动） 、功率稳定性 （绘制功率波动曲线）、发散角测量等 ，支持测量数据导出 ，测试报告PDF格式文档导出等。主要特点： 1、芯片尺寸大，可达36mm 2、精度高，单像元尺寸可达4.6um 3、支持C/C++, C#, Labview, Java语言等多种语言二次开发主要技术指标：RT option: CMOS/ccd-xxx-RT：响应波长范围：320~1150nmUV option:CMOS/CCD-xxx-UV：响应波长范围：150nm~1150nmCMOS/CCD-xxx-OM：响应波长范围：240nm~1150nmIR option:CMOS-xxx-IR：响应波长范围：400~1150nm + 1470nm~1605nm 关于昊量光电昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！
    时间： 2022-07-21
    作者： 昊量光电
  • 激光器光束质量分析检测技术介绍
    如今，激光器已经广泛应用于通信、焊接和切割、增材制造、分析仪器、航空航天、军事国防以 及医疗等领域。激光的光束质量无论对于激光器制造客户还是激光器使用客户都是重要的核心指标之 一。许多客户依赖激光器的出厂报告，从而忽略了对于激光器光束质量测试的重要性，往往在后面激 光器使用过程中达不到理想的效果。通过下方的对比图可以看出，同样的功率情况下（100W），如果焦点产生微小的漂移，对于材 料加工处的功率密度足足变化了 72 倍！所以，激光器仅仅测试功率或能量是远远不够的。对于激光光束质量的定期检测，如激光光斑尺寸大小、能量分布、发散角、激光光束的峰值中心、几何中心、高斯拟合度、指向稳定性等等，都是非常必要的。我公司对于激光光束质量的测试有着丰富且**的经验，对于不同波长、不同功率、不同光斑大小的激光器都可以提供具有针对性的测试系统和方案。相机式光束分析仪相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器，直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像，传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析仪是目前使用*多的光斑分析仪，可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光，可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成：（1）相机针对用户激光波长以及光斑大小不同的测量需求，SPIRICON 公司推出了如下几类面阵相机：● 硅基 CMOS 相机通常为 190nm ~ 1100nm；● InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；● 热释电面阵相机则可覆盖13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的*大尺寸，而像素尺寸则决定了能够测量的*小光斑尺寸；通常需要 10 个像素体现一个光斑完整的信息。相机型号SP932ULT665SP504S波长范围190-1100nm340-1100nm芯片尺寸7.1×5.3mm12.5×10mm23×23mm像.大.3.45x3.45μm4.54×4.54μm4.5x4.5μm分.率2048x15362752×21925120×5120相机型号 XC-130 Pyrocam III HR Pyrocam IV波长范围900-1700nm13-355nm&1.06-3000µ m13-355nm&1.06-3000µ m芯片尺寸9.6*7.6mm12.8mm×12.8mm25.6mm×25.6mm像元大小30*30um75µ m×75µ m75µ m×75µ m分辨率320*256160×160320×320灵敏度64nw/pixel(CW)0.5nJ/pixel(Pulsed)64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)饱和度 1.3 μW/cm2 @ 1550 nm3.0W/cm2 (25Hz)4.5W/cm2（50Hz））3.0W/cm2 (25Hz)4.5W/cm2（50Hz）） （2）光束分析软件Spiricon 光斑分析软件BeamGage 界面人性化，操作便捷， 功能强大，其Ultra CAL**逐点背景扣除技术，可将测量环境中的杂散背景光完全扣除掉，使得测量结果真实，得到更精准的ISO 认证标准的光斑数据（详情见 ISO 11146-3-2004）。（3）附件针对用户的特殊要求或者激光的特殊参数设定，SPIRICON 公司推出了一系列光束分析仪的附件，如：分光器、衰减器、衰减器组、扩/缩束镜、宽光束成像仪、紫外转换模块等等。对于微米量级的光斑，传统面阵相机受到像素的制约，无法成像或者无法显示完整的光斑信息。我们有两类光束分析仪可供选择。狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪，源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR 可提供完备的光束分析解决方案。扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。扫描式光束分析仪的优点 :● 取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；● 采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；● 适应弱光和强光分析；扫描式光束分析仪的缺点 :● 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；● 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备独特的优势。自研自产的焦斑分析仪系统及附件STD 型焦斑分析系统● 功率密度 / 能量密度较大，NA 小于 0.05（约 3°），且焦点之前可利用距离大于 100mm，应当考虑使用本型号。● L 型焦班分析系统的标准版，采用双楔，镜头在双楔之间。● 综合考虑了整体空间利用率、对镜头的保护等因素。● 可进一步升级成为双楔在前的型号，以应对特别大的功率密度 /● 能量密度。● 合适用户 : 科研和工业的传统激光用户，高功率高能量激光用户， 超长焦透镜用户，小 NA 客户。02 型焦班分析系统● 功率密度 / 能量密度较小，或 / 和 NA 大于 0.05（约 3°），或 / 和焦点之前可利用距离小于100mm，应当考虑使用本型号。● 比 STD 更好调节；物镜更容易打坏。● L 型焦班分析系统，采用双楔，镜头在双楔之前。如遇弱光，可定制将双楔换为双反射镜。● 02 型机架不用匹配镜头尺寸，通用，可按需选择镜头。● 非常方便对焦。● 合适用户 : 使用小于 100mm 透镜甚至显微镜头做物镜的用户（表面精密加工）；LD/ LED+ 微透镜的生产线做质检附件STA-C 系列 可堆叠 C 口衰减器&bull 18mm 大通光孔径。&bull 输入端为 C-Mount 内螺纹，输出端为 C-Mount 外螺纹。&bull 镜片有 1°倾角，因而可以堆叠使用。&bull 标称使用波段 350-1100nm。VAM-C-BB VAM-C-UV1 可切换式衰减模组&bull 18mm 通光孔径。&bull 标准品提供两组四片可推拉式切换的中性密度滤光片。&bull 用于需要快速改变衰减率的测量过程。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供 1+2、3+4 两组四片中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供 0.1+0.2、0.3+0.7 两组四片中性密度滤光片镜组。LS-V1 单楔激光采样模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull 内置单片 JGS1 熔石英楔形镜采样片，易于拆卸和更换的楔形镜架。&bull 标称使用波段 190-1100nm。其他波段可定制。&bull 633nm 处 P 光采样率 0.6701%；S 光采样率 8.1858%。&bull 355nm 处 P 光采样率 0.7433%；S 光采样率 8.6216%。&bull 前端配模组母接口；后端配模组公接口及 C-Mount 外螺纹接口。DLS-BB 双楔激光采样模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，无需考虑偏振方向。&bull 标称使用波段 190-1100nm，其他波段可定制。&bull 633nm 处采样率 0.05485%。&bull 355nm 处采样率 0.06408%。&bull 后端可配 C-Mount 外螺纹接口。SAM-BB-V1 SAM-UV1-V1 采样衰减模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 前端配模组母接口；后端配 C-Mount 外螺纹接口。DSAM-BB DSAM-UV1 双楔采样衰减模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，633nm 处采样率 0.05485%；无需考虑偏振方向。&bull BB 表示宽波段，即 400——1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350——400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 后端配 C-Mount 外螺纹接口对于大功率激光器客户，如增材制造应用以及光纤激光器客户，我们还有专门的光束分析仪系统BeamCheck 和 BeamPeek 集成 CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。BeamCheck 可持续测量不大于600W 的增材加工激光，BeamPeek 体积更为小巧，可测量*大1000W 的增材加工激光不大于2 分钟，然后自然冷却后进行下一轮测试。 型号BeamCheck BeamPeek波长范围1060-1080nm532nm 1030-1080nm功率测试范围0.1-600W10-1000W可持续测试性持续测试焦点漂移准确度±50µ m接口方式GigE Ethernet仪器尺寸406.4mm×76.2mm×79.4mm
    时间： 2023-08-11
    作者： 先锋科技
  • 普析PF7原子荧光光度计：开启双光束原子荧光仪器时代
    ——访北京普析通用仪器有限责任公司原子光谱产品事业部总经理宋雅东此前，备受业内关注的“食品检测仪器竞赛”落下帷幕，最终普析PF73原子荧光光度计获得金奖。那么普析这款产品何以在其中脱颖而出？仪器本身又有哪些值得大家关注的地方？带着这些疑问仪众国际记者来到普析通用，面访了普析通用原子光谱产品事业部总经理宋雅东。首创双光束原子荧光光度计据宋总介绍，PF7原子荧光产品开发项目公司投入了大量的人力物力，开发周期历时两年，最终成功开发出这款产品。其实，PF7产品开发项目包含PF5和PF7原子荧光光度计以及SA5和SA7原子荧光形态分析仪四大系列，十个型号的产品。这四个系列产品的面世大大丰富了普析原子荧光的产品线，使之生产线更加丰满，竞争力也大大提升。而且与此前PF6系列产品相比，PF7主要面向中高端市场，可以说这次无论从仪器性能还是用户感受都有了很大的突破。北京普析通用仪器有限责任公司原子光谱产品事业部总经理宋雅东谈起PF7开发过程，宋总讲到：“当时我们没有意识到双光束的作用，起初做的也是现在市场上普遍应用的单光束技术产品，当我们做出这款样机以后，分析人员用了将近两个月测试仪器的性能指标，他们认为我们在产品结构设计等各方面完成了任务书的目标，但是发现长期稳定性指标还是不尽人如意。因为仪器使用的元素灯不是我们自己生产，这些部件的质量是我们不能把控的。分析人员每天从上午测试到下午，仪器工作一段时间后汞、砷等元素灯就开始漂移，这些漂移对我们的指标影响很大。早上做的很好，但临近下班时就发现指标偏差很大了。”“所以当时虽然产品出来了，但是在长期稳定性方面还是没达到我们的预期，最后我们又推翻了原始设计，重新做，经过工程师反复研究讨论提出了用双光束扣除元素灯漂移的技术方案。因为我们是做光学仪器出身的，我们的光学底蕴还是很雄厚的，我们的紫外等设备都是双光束，所以我们敢于研发双光束原子荧光仪器。这样又通过两个多月的努力，我们将双光束技术应用到了PF5以及PF7系列产品中。这时候再测试就发现稳定性得到了质的提升。”而之所以在比赛中胜出，宋总认为最大的原因就在于双光束技术和气源流路技术的应用，双光束技术保障了元素灯的稳定性，气源流路技术保障了氢化物反应系统的稳定性。宋总表示将双光束单检测器技术应用在原子荧光产品上可以说是普析首创，因为其是单检测器，测量光和参比光具有相同的变化量，元素灯的参比光和测量光的漂移量就被扣除了，从这次比赛中砷、汞的长期稳定性指标就可看出它的优势。另外宋总也指出原子荧光是我们的民族品牌，最早起源于中国。欧美国家为什么没有推出原子荧光产品，是因为没有相关标准支撑。目前国外大量采用氢化物原子吸收法，所以一般都是用我们的原子吸收产品配氢化物物发生器。但是我们也注意到普析原子荧光产品的出口数量逐年递增，我相信在不久的将来随着行业标准的推广，原子荧光这个民族品牌会越来越被国外所接受。“两免三更加”普析产品一直以贴近市场，方便用户著称。而此次普析推出PF7系列新一代原子荧光光度计，研发过程中在市场调研与用户体验方面做了大量的工作。宋总指出普析产品研发过程中都执行IPD流程，IPD流程起源于美国，主要是IBM等一些大企业先期使用的。多年实践证明这一流程还是非常有效的，所以普析也引进了IPD流程管理。PF7产品开发项目立项时就成立了PDT产品开发团队，这一开发团队由各代表组成，有研发代表、服务代表、市场代表、测试代表、制造代表以及客户代表等，这些代表通过调研提出各种需求，他们共提出了178项需求，而PDT产品开发团队采用了177项。在用户感受方面，客户代表更能清晰的表达客户夙愿。宋总讲到：“这个项目中的客户代表是一个专家级的分析人员，但也不是他自己做的需求报告，他作为代表要收集操作者的需求。我记忆最深的是，当时我们在概念阶段都设计好了原理样机，他突然又提出一个需求，就是有的分析人员认为PF7与PF6的高度相同，元素灯太高了不便于观察。所以我们又重新推翻之前的结构设计，将元素灯的位置下调了15公分，还有用户提出换泵管麻烦，我们就采用气源流路技术，用氩气压力及流量输送液体，这样一来流路就变成了无磨损流路系统了。这些都是用户提出意见，而我们的研发人员都尽最大努力实现以满足用户需求。从这方面看，我们是十分重视用户体验与感受的。”
    时间： 2014-10-27
    作者： 普析
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