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光学逆投影检测

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光学逆投影检测相关的仪器

  • 辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统采用了卓立汉光公司自行研制的SGM100摄谱仪以及CCD采集装置,可完成发射光谱的测量,尤其针对LED的光学检测,开发了一系列配套的光强、光通量测量附件(积分球)等,可方便用户简易快捷的对LED各关键参数进行测量,如: ◆ Spectral radiant flux ( W/nm ):绝对光谱 ◆ Peak wavelength (&lambda p) : 最高波长 ◆ Dominant wavelength (Hue;&lambda d ): 色域波长 ◆ Center wavelength (&lambda c): 中心波长 ◆ Excitation Purity (Chroma;%): 色纯度 ◆ Chromaticity Coordinates (x,y @1931):色坐标 ◆ C.C.T. (correlated color temperature) : 色温 ◆ C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数 辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统摒弃了传统的光纤传导设计模式,采用了无光纤设计,这种无损失直接光信号的传输方式,有效解决了光纤传导对于光的损失,且提高了测量的准确度。 辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统完全兼容CIE127-2007测量标准以及NIST标准溯源辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统 主要光学测量参数:测量速度30ms *光谱范围380-780nm测量参数IV(cd,lm,w) x, y, &lambda d, &lambda p,&lambda c,FWHM,CCT,CRI光谱分辨率2.5nm测量准确度IV:± 7%, *1 &lambda D: ± 1nm x, y: 0.005 ( Stable Lamp )测量范围5 mcd to 30000mcd or 20 mlm to 200 lm测量重复性IV:± 2% &lambda D: ± 0.3 nm x, y: 0.002 ( Stable Lamp )计算机接口USB 2.0尺寸140 mm x 80 mm x 180 mm (Spectrometer only)电源需求Supply by USB 2.0 or DC 5V *1 Directly after calibration relative to the calibration standard
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  • 卷封投影检测仪 400-860-5168转2826
    VSI-6000系列 卷封投影检测仪 CMC-KUHNKE新一代的卷封投影检测系统VSI-6000系列,采用4K高清相机,配套高转速的卷封切割静音锯,使卷封剖面结构:卷封宽度,盖钩长度,身钩长度,搭接度,卷封顶隙,非常清晰的呈现,投影图像达到史无前例的清晰度。搭接率,身钩率和盖钩率等数据也将更加准确。清晰的投影图像,配上检测软件自动取点功能,实现1秒内完成每个卷封剖面的自动取点和测量。软件还有强大的SPC功能,卷封厚度和埋头深度等手动仪器的测量数据,可自动导入到系统,系统根据客户的内控标准自动判定全部测量结果。可定制的并自动生成检测报告。精准而高效的检测,在提高检测精度的同时,降低操作人员的要求和工作量特征与技术参数特征电脑化控制,1秒内完成自动取点和测量高清的切割破面和投影图像自动判定检测数据是否超标可定制的检测报告质量趋势分析 技术参数适用于任何罐型,罐高不受限电源:220V 50 HZ分辨率:0.001mm精度:±0.005mm输出接口:USB3.0配置三丰仪表数据转换卡
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  • 光学投影法高温热膨胀仪一、简介依阳公司的CTE 101 光学高温热膨胀仪是一种非接触式材料膨胀和收缩性能测试仪器,采用了非接触位移光学投影测量技术,可以实现高温甚至超高温(2500℃以上)条件下的线性位移和变形测量。依阳公司的CTE 101 光学高温热膨胀仪采用得是试样直立束缚式结构,规避了目前国内外水平试样无约束结构存在的试样位置移动问题,使得测试结果更可靠更准确。光学高温热膨胀仪是依阳公司采用非接触光学投影测量技术的自主研发产品,使得光学热膨胀测量仪器更具有扩展性,可以根据不同要求和技术指标建立起相应的光学非接触热膨胀测试设备。光学投影系统中的光源配备的是高强度氮化镓绿色 LED,绿色光束均匀且安全并只含有极少杂波,即使在高温物体发光的背景中也能产生极高的解析度。绿色 LED 点光源经过光学系统形成平行光束,有效的防止了目标物位置改变而造成镜头放大倍率地波动,并可确保测量精度。光学探测器采用了高速CCD可以获得极高的采样速度,目标物观测器采用了CMOS 影像传感器,可提供逼真的样品影像和小巧的外形。为了保证高温和超高温的实现以及光学探测系统工作稳定性,依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪配备了恒温冷却循环系统,使得试样的起始温度和光学探测系统的工作温度总是保持恒定,有效提高了测量精度和测试数据的规范性。 光学高温热膨胀测试原理图二、技术指标(1)试样高度: 1~30mm。(2)试样截面尺寸: (矩形)3×3~10×10mm 或(圆形)φ3~φ10mm。(3)长度变化范围: 最大 29mm。(4)长度测量精度:±2 μm。(5)长度测量重复性:±0.5μm(6)采样速度:2000次/秒。(7)温度范围:RT~1400℃(其它温度范围需要定制,最低温度可到-180℃,最高温度可到3000℃)。(8)气氛环境:真空、空气和惰性气体。 三、特点 1. 依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪,由于采用了光学投影法这种非接触测量方法,并配套了相应的真空系统,基本上可以实现任何温度范围和任何气氛环境下的材料热膨胀性能测量,可以测量大多数材料的熔点,而且可以测量试样在化学反应和变化过程中的热膨胀性能,这个特点对于烧蚀类复合材料的热膨胀性能评价尤为重要。为了提高300℃以下的热膨胀测量精度,加热方式可以采用流体加热方式,如水浴、油浴。2. 依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪,采用的是束缚式竖直试样安装方式,避免了热应力对试样位置偏移的影响,保证了试验的可靠性和测量精度。试样的起始长度自动测量和保存,便于线性热膨胀系数的计算。3. 束缚式竖直式试样安装方式,结合相应的透明容器,可以实现液体、粉体、膏状物和固液相变转换过程中测量。4. 光学投影法具有很强的扩展性,除了可以满足线性位移变形的测量需要外,还可以对面内变形和位移进行测量,这个特点可以实现材料的软化点,球状、半球状及融化温度及粘度的测量,具备了高温显微镜的功能。同时,可以通过扩展光束的方法实现超大尺寸试样的测量。5. 采用了人机界面操作系统,使得整个仪器的集成化程度更高操作更简便,试验数据自动存储在U盘内,也可以通过计算机进行分析处理。6. 在不同的使用温度范围内,采用不同的温度传感器进行温度测量。1400℃以下采用热电偶温度传感器,更高温度将采用红外测试仪。四、应用1. 依阳公司CTE 101光学高温热膨胀仪常温下稳定性性考核试验真空腔体和探测器水冷温度控制设定为20℃,稳定性考核试验4天。 2. 目前国内外光学投影法位移测量应用中存在的误区(1)测试过程中“被测试样处于无接触力状态”的误区目前国际市场上的光学投影法热膨胀仪,被测试样都是水平放置形式,试样安装和固定所采用的方法是简单的将试样直接放置在均匀加热区域内,并不进行任何约束,由此测量的是试样与平行光正交的最大截面内的试样长度。水平放置试样的优点是试样整体的温度相对比较均匀,减少了重力对温度场的影响。但这种均匀并不是绝对的并有前提条件,由于不同试样材料的热导率不同,在温度变化过程中试样上还是照样会存在温度梯度,温度的均匀性只是体现在恒温状态下会更好。在测试过程中,只要试样上存在温度梯度就会产生热应力,而这个热应力往往会使得试样发生无法预料的扭曲和不规则变形,而这些扭曲和不规则变形则会改变被测试样的原始放置位置,体现在测试曲线上就是会产生跳变。如果发生微小的跳变,就说明测试是失败的。根据我们大量的试验发现,这种现象更多的是发生在复合材料和非均质材料的热膨胀性能测量中。依据我们多年的测试经验,任何热膨胀测试过程中,无论试样是水平还是竖直放置,无论是采用顶杆法还是非接触测量方法,被测试样必须进行适当约束,使得试样只在所关心的方向上发生变形,而在其它方向上受到一定的约束。(2)光学投影法测量位移是一种绝对法的误区 光学投影法是基于激光扫描法发展起来的一种测量方法,激光扫描法是通过测量激光扫描速度和激光扫描通过试样两个端面所需要的时间来计算获得试样两个端面的长度。速度和时间的测量可以进行计量校准和标定,可以进行计量溯源,因此,激光扫描法是一种绝对测量方法。光学投影法则是通过平行光投射到试样后所形成的阴影,阴影经过光学系统聚焦后成像到光电探测器上,由光电探测器检测阴影边缘并进行软硬件细分处理后,最终得到两个阴影边缘之间的距离。由此可见,光学投影法测量出的阴影长度是由光学聚焦缩小倍数、探测器物理单元分辨率和软件细分系数等众多物理量相乘的结果,而这些物理量并没有经过任何形式的计量校准,探测器的测量不确定也仅仅是对一个标准量块进行标定获得,而不是用覆盖量程范围的标准量块进行标定。非接触光学方法测试位移和变形的绝对测试方法只有激光扫描法和激光干涉法。
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  • CMC-KUHNKE新一代的卷封投影检测系统VSI-6000系列,采用4K高清相机,配套高转速的卷封切割静音锯,使卷封剖面结构:卷封宽度,盖钩长度,身钩长度,搭接度,卷封顶隙,非常清晰的呈现,投影图像达到的清晰度。搭接率,身钩率和盖钩率等数据也将更加准确。清晰的投影图像,配上检测软件自动取点功能,实现1秒内完成每个卷封剖面的自动取点和测量。软件还有强大的SPC功能,卷封厚度和埋头深度等手动仪器的测量数据,可自动导入到系统,系统根据客户的内控标准自动判定全部测量结果。可定制的并自动生成检测报告。而高效的检测,在提高检测精度的同时,降低操作人员的要求和工作量特征与技术参数特征电脑化控制,1秒内完成自动取点和测量高清的切割破面和投影图像自动判定检测数据是否超标可定制的检测报告质量趋势分析 技术参数适用于任何罐型,罐高不受限电源:220V 50 HZ分辨率:0.001mm精度:±0.005mm输出接口:USB3.0配置三丰仪表数据转换卡
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  • 中瑞祥投影立式光学计 仪 型号:H17991 光学计的主要用途是利用量块与零件相的方法,来测量物体外形的微差尺寸,是计量室、检定站或制量具、具与密零件之车间常用之量具。 它可以检定五等度量块或级度柱形量规,对于圆柱形、形、线形等物体的直径或板形物体的厚度均能测量,并可从仪器上取下光学计管,适当的装在机床上,利用量块作为控制密加尺寸之用。 二、规格 ()光学计管的参数和尺寸 目镜放大倍数 12倍 光学杠杆的放大倍数 80倍 总放大倍数 ≈1000倍 分划板分度值 0.001毫米 分划板在目镜视场中观察每分度感觉示值 ≈1毫米 分划板分度范围 ±0.1毫米 测杆自由升降距离 ≈0.4毫米 测量压力 200克±20克 光学计管配合尺寸 28d毫米 另位调节器调节范围 ±0.01毫米 (二)测量范围 测量长度: 不装投影器时 180毫米 装投影器时 120毫米 立柱边缘至平台中心距离 115毫米 (三)误差 仪器的不正确度 ±0.00025毫米 示值稳定性 0.0001毫米 测量的不正确度 ±(0.5+L/100)毫米 (四)作台的主要尺寸 圆形槽面作台直径(调节式) 88毫米 圆形平面作台直径(调节式) 88毫米 方形槽面作台长×宽(固定式) 142×130毫米 面小作台半径(固定式) R20毫米 平面小作台直径(固定式) 8毫米 圆形平面作台直径(固定式) 88毫米 (五)反光镜直径 50毫米
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  • 易于车间使用的高性价比的光学影像轮廓投影仪c-visionLite是一款易于使用的三倍放大台式光学影像轮廓投影仪。这款坚固耐用的卧式投影仪占地面积小。精密的光学元件和SNAP-X™ Compare电子叠加功能使对检测变得容易。c-visionLite提供:2英寸的大视野范围内提供低失真的精确影像远心固定或三倍镜头转台系统三个可用的光学镜头单镜头或多镜头适用于车间应用的台式系统重型工作台支持高达20公斤的载重和易于使用的界面。带有精密线性刻度和微调器的手动XY工作台运动。可选XY电动控制显示标准和自定义叠加图在比较模式下使用SNAP-X™ 软件全自动影像测量可在测量模式下使用SNAP-X™ 软件技术参数XYZ行程标准12”x5”x1.5””光学元件标准具有2英寸视野的远心、直立和校正图像可选电动三镜头转塔,中高倍率镜头照明标准轮廓灯可选同轴光斜射照明工作台标准带有燕尾槽,±7.5°调节范围,硬膜阳极氧化铝处理可选电动变速操纵杆软件SNAP-X™ 配件FixturesRotaryIndexers
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  • 罐体投影检查系统 400-860-5168转1430
    DT-W罐体投影检查系统A1.0版专门用于罐体卷封结构的三率检测,罐体投影检查系统由投影仪本体和电脑组成。罐体投影检查系统采用了现代视频技术和专门的光学系统,将罐体卷封结构经由电脑数字处理陈现在其显示屏幕上,再由专门的操作程序进行检测。罐体投影检查系统技术指标: 罐体投影检查系统放大倍率:30X 罐体投影检查系统水平视场:8 mm 罐体投影检查系统显示分辨率:0.001mm罐体投影检查系统检测精度:0.01 mm 罐体投影检查系统检测罐体直径:30mm~300mm 罐体投影检查系统电源:220V50Hz罐体投影检查系统检测罐体卷封结构的尺寸:卷封宽度W;卷封厚度H;身钩长度BH;盖钩长度CH;埋头度B;迭接长度OL;迭接率OL%;盖钩卷入度%;身沟卷入度BB%;紧密度TR%;接缝盖钩完整率JR%。 其中OL%;CB%;BB%;TR%和JR%电脑自动计算。(可以检测卷封处材料厚度)罐体投影检查系统自动判别:对检测结果电脑自动判别其数值是否合格。罐体投影检查系统数据可以进行公制合英制的转换。罐体投影检查系统储存:检测结果的数据和卷封图像都可以存储并建立档案于操作程序的数据库内。罐体投影检查系统 输出:检测报告打印输出;检测报告数据、图像另存输出。罐体投影检查系统数理分析:电脑可对检测数据进行质量统计;直方图;离散度的数理分析工作。亦可以打印或另存输出分析报告。
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  • 超大量程光学投影仪QL-30™ ContourProjector® 是一款超大量程光学投影仪,可提供大而明亮的图像并为客户节省空间,同时仍然能够处理尺寸大、重量重的零件。QL-30的屏幕直径为30英寸,更大的空间可轻松取放零件和夹具,标准的汞弧轮廓照明,旨在最需要的地方提供出色的性能。QL-30提供:标准汞弧轮廓照明可选配汞弧表面灯高精度旋转测量精密回转屏幕环长期可靠性刚性结构和重型部件全自动可选的VidiProbe影像测量和eCAD® 虚拟分划板测量功能技术参数XYZ行程标准15”x9”可选15”x10”,18”x9”,18”x10”光学元件标准10X镜片可选20X,31.25X,50X,62.5X,100X照明标准轮廓灯可选同轴灯屏幕直径为30英寸的磨砂玻璃屏幕,安装在精密的屏幕旋转金属环内、90°中心线和用于安装标准分划板的固定夹工作台标准带燕尾槽的电动重型镀镍铸铁可选±7.5°调节范围软件SNAP-X™ eChek选项/配件OverlayChartsFixtures
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  • 大量程光学投影仪QL-20™ ContourProjector® 光学轮廓投影仪是一款专为车间设计的精密仪器。QL-20具有广泛的标准功能和一系列扩展选项,允许用户配置特定测量需求的系统。QL-20具有非倒置的同步影像,以及高承载能力、铸铁基体和镀镍钢工作台。QL-20提供:快速简便的测量平视24英寸直径的玻璃屏幕,具有20英寸的可视区域和位置便利的DRO显示可调光强度控制多功能TruLight® LED照明台式配置中车间环境实现真实尺寸的理想选择高负载能力,镀镍钢工作台可轻松容纳大型、重型机加工零件和夹具全自动可选的VidiProbe视频测量和eCAD® 虚拟分划板测量功能技术参数XYZ行程标准15”x9”可选15”x10”,18”x9”,18”x10”光学元件标准10X镜片可选20X,31.25X,50X,62.5X,100X照明标准轮廓灯可选同轴灯屏幕外径24英寸,可视范围20英寸的磨砂玻璃屏幕,带有一体式遮光罩、90°中心线和用于安装分划板的固定夹工作台标准带燕尾槽的电动重型镀镍刚平台可选±7.5°调节范围软件SNAP-X™ eChekeCAD选项/配件OverlayChartsFixtures
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  • 采用先进技术的高质量、全功能14英寸光学投影仪Focus™ ContourProjector® 光学轮廓投影仪一款采用先进技术的高质量、全功能14英寸光学投影仪,提供:矢量灯光控制多功能TruLight® LED照明确保镜片安全,随时可用3工位内置透镜转台非常适合于台式配置的真实车间环境全钢结构和实心金属铸件可选VidiProbe影像测量、可选电动伺服驱动器和可选Projectron自动影像边缘探测技术参数XYZ行程标准12”x5”可选15”x5”光学元件标准10X镜头可选20X,31.25X,50X,100X照明标准轮廓灯可选同轴光斜射照明屏幕外径16英寸,可视范围14英寸的磨砂玻璃屏幕,带有一体式遮光罩、90°中心线和用于安装分划板的固定夹工作台标准带有燕尾槽,手动±6.5°调节范围,硬膜阳极氧化铝处理可选电动变速操纵杆软件SNAP-X™ eChek选项/配件OverlayChartsFixtures
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  • 易于使用的双倍率台式光学影像轮廓投影仪c-vision™ BenchtopVideoContourProjector® 是一款易于使用的双倍率台式光学影像轮廓投影仪。这款坚固耐用的卧式光学投影仪占地面积小,其坚固的设计和30公斤的负载能力使先进的自动影像测量功能可以在车间使用。精密的光学元件和SNAP-X™ Compare电子叠加图使对比检测变得容易。C-VisionBenchtop提供:3英寸的大视野范围内提供低失真的精确影像具有先进数字成像技术的远心双倍光学系统适用于车间应用的台式系统高负载能力,易于使用的界面。带有精密线性刻度和手动微调器的电动XY工作台运动显示标准轮廓和自定义轮廓带的电子叠加功能SNAP-X™ Compare软件技术参数XYZ行程标准15”x6”x2”可选18”x6”x2”光学元件远心镜头,正像影像,4英寸大视野和4X高倍镜头照明标准轮廓灯可选同轴光斜射照明工作台带有燕尾槽,±7.5°调节范围,硬膜阳极氧化铝处理软件SNAP-X™ 配件FixturesRotaryIndexers
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  • 创新、高负载、大量程的车间光学影像轮廓投影仪c-vision™ FloorModelVideoContourProjector® –创新的车间测量系统。其高负载能力使先进的自动影像测量适用于大型、重型部件。精密光学元件和SNAP-X™ Compare电子叠加功能使检测过程变得更容易。c-vision地板模型提供:4英寸的大视野范围内提供低失真的精确影像具有先进数字成像技术的远心光学系统,电动转塔双倍放大,最大4英寸大视场和3英寸大景深车间应用的便利性坚固的结构、高承载能力和适用于车间使用的大屏幕。包括一个大行程15"x9"电动XY工作台运动,带有精密线性刻度和手动微调器,以及安装在折叠托盘上的键盘和集成控制器可创建和运行测量程序,执行“边走边测”任务并实时将测量数据拟合到2DCAD以进行轮廓和GD&T分析SNAP-X™ Compare软件可显示数字CAD轮廓和自定义轮廓带的叠加影像技术参数XYZ行程标准15”x9”x2”可选15”x10”x2”18”x9”x2”18”x10”x2”光学元件标准远心镜头,正像影像,4英寸大视野和4X高倍镜头可选10X高倍数镜头代替4X照明标准轮廓灯可选同轴光斜射照明工作台标准带燕尾槽的电动重型镀镍刚平台可选±7.5°调节范围软件SNAP-X™ 配件FixturesRotaryIndexers
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  • 衍射投影套件 400-860-5168转1545
    2020夏季新品:Holoeye空间光调制器附加组件—— 衍射投影套件空间光调制器(SLM)很早已经是光学实验室必备设备之一,简单说,想要高质量光束,就需要这么一个来调整波面。现在,随着软件以及算法上的探索开发,SLM有着日益广泛的用途:比如说显示和照明设备。随着穿戴/便携显示设备的普及,越来越多的光学和非光学出身的研究人员开始关注这个领域。用于衍射成像,或者计算全息成像的SLM,特定的入射光,同时,对于出射光的处理也有一定要求。现在大家普遍都是用空间输出激光器、透镜组、分光镜等等自己搭建光路,但是这一任务对于光学专业的来说是繁琐,对于非光学的来说就是一个挑战了。因此,为了让大家可以从这一枯燥而又繁琐的任务中解脱出来,Holoeye为大家提供了衍射投影套件(Diffractive Projection Engine,DPE),用以搭配SLM使用。使用此套件仅需将液晶面板固定好,接上用以输入线偏激光的保偏光纤,上电,加载图像,就可以观察到所需的投影效果啦!就这么简单!如果激光器够小,在普通办公桌上就可以完成投影的观察。DPE套件让SLM可以走出光具桌,进入工业、生产、生活环境。高度集成化的设计让SLM得以在实验室之外发挥其高度精确以及迅速的光学调制作用。DPE套件支持现有的Holoeye Pluto、Gaea、Leto等系列液晶,以及最新的Luna系列液晶。使用以小型化为特色之一的Luna系列SLM,搭配DPE和小型光源,就可以构成非常紧凑的全息投影或者结构光源系统。应用举例: AR/VR显示设备 抬头显示设备(HUD) 结构照明 穿戴显示设备 全息投影当然,还有更多的应用领域有待开发。更多的详细信息、技术参数,以及具体的解决方案,请联系上海瞬渺光电 。
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  • 如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中,主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测: 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比,它相对缓慢,变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷,测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”,而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件,可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度,并识别 FPD 上的缺陷,这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于:影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知,包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中,我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计,在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置,以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统,经过校准之后,它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时,系统会生成数据,并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外,还可对均匀度差异进行分析,以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是: 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据,帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件,以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率,还可以降低成本。与人工视觉检测相比,使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活,重复度更高,另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系,这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列,影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据,以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列,此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取,具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术,这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析,需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括:(1) 科研级影像亮度色度计系统;(2) 基于 PC 的测量控制软件,它不仅控制影像亮度色度计,还控制待测试设备上的测试影像显示;以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此,该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括:图 1. FPD AOI 测试设置,影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型,例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究,我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 ),通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快,而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术,包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中,我们通过分析多个显示屏,演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量,分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷,如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷;其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的;屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量;分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷,如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞,则可将点缺陷归类为像素故障。但是,从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下,需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗? 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的,并在显示屏屏幕上标记,我们放大了该点,让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性,覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值,则表示检测出 Mura。但是,由于人工感知这些对比度取决于多个因素,包括视距、空间频率和方向,因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值,来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面,我们最近取得了进展,这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样,我们定义了 JND 标度,如果 JND 差异为 1,则从统计上无法察觉;在绝对标度上,JND 为 0,表示没有可视的空间对比度,JND 绝对值为 1,表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此,我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量,以创建影像的 JND 映射,其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏,经过分析后,我们在显示屏影像上识别了该缺陷,如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量,您能够找到这个缺陷吗?图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤,它会生成一个差异影像,显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意,图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先, Mura区域的大小和形状各不相同。其次,人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源,从而确定显示屏的状态,有时需要人工检测。很多情况下,例如图 3 所示的行缺陷,识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下,我们可以即时对缺陷进行分类,而且无需人工检测。而在其他一些情况下,例如某些 Mura缺陷,缺陷可能有多种原因,因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时,为了提高效率,TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速,例如专门针对需要分类的缺陷,以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷,操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息,从而快速确定该缺陷是死像素,还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术, FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量,能够通过数字方式标识缺陷特征,因而不仅可以识别显示屏缺陷,还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量,并根据用户定义的标准,自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是,它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。
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  • • 采用水平光学系统的台式投影仪。• 工作台的最大载重量为45kg,可对重型工件进行测量。• 测量范围广254mm(X)×152mm(Y)),可对大尺寸工件进行测量。(PH-3515F)• 与2D数据处理器(选件)QM-Data200组合使用可提供多种不同的尺寸测量方法。• 透射照明用于检测工件轮廓,斜向反射照明用于观察工件表面。规格型号PH-3515F货号172-868DC*1投影图像正立逆像有效直径0353mm屏幕材料磨砂玻璃屏幕旋转±360。(显示为±370。)投影屏幕角度读数数显计数器
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  • 1设备名称:冲击试样缺口投影仪 型 号:CST-503、性能说明:CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。4、 主要技术指标:1、 投影屏直径 :180mm2、工作台尺寸 :方工作台尺寸:110×125mm方工作台直径:90mm工作台玻璃直径:70mm3、工作台行程 :纵向:±10mm横向:±10mm升降:±12mm4、工作台转动范围: 0~360°5、仪器放大倍率:50X物镜放大倍率: 2.5X投影物镜放大倍率:20x6、光源(LED):24V 20W7、电源: 220V 50Hz8、外形尺寸:515×224×603mm9、重量: 20kg5、
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  • 数字投影仪 400-860-5168转6199
    JT12A-B¢300MM 数字测量投影仪 仪器用途JT12A-B¢300MM系列全数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件完全同向,正立直观。它广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业;院校、研究所以及计量检定部门。本仪器能高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状,如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成型铣刀等。 仪器特点仪器光学系统质量优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08% 坐标测量示值误差可达(3+L/75)um L为被测长度(单位:mm); 仪器规格参数: 金属台面尺寸(mm) 340 × 152;玻璃台面尺寸(mm) 196 × 96 X坐标行程(mm) 150; Y坐标行程(mm) 50Z坐标行程(mm)80(调焦) 投影屏旋转角度:0~360度; 旋转角度显示当量:1′或0。01度 物镜:10倍物镜(标配); 数显箱1台;数据处理系统:多功能数据处理系统,全中文显示可做多点采样,坐标旋转,点、线、距离、角度测量。仪器照明:透射与反射照明光源均为24V ,  150W卤素灯仪器电源:110V/ 220V(AC), 50/60HZ, 总功率400W
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  • 美国施泰力VB400立式投影仪,使用方便,效率高是一种常用的光学测量仪器。广泛用于航空、航天、 机械制造、电子行业、仪器仪表行业、科研院所、计量部门。美国施泰力VB400立式投影仪采用0.0005mm 分辨率的德国Heidenhain(海德汉)光栅尺,美国Metronics 公司的控制系统,性能经久耐用。特点: ? 全金属结构 ? 16" (400mm) 显示屏 ? 装有黄/绿滤光镜的准直式聚光镜系统, 可安装更多附件 ? X 轴和Y 轴均配备线性编码器 ( 光栅尺) ? LED 轮廓和表面照明 ? 通过Q 轴读数实现精确角度测量 ( 分辨率1' ) 的数字投影仪 ? 可安装Metlogix M1 平板电脑、M2 个人电脑触摸屏测 量软件Quadra-Chek 读数系统 ? 各轴上均有微调装置 ? X 轴上配有快速移动的机械装置技术参数: 1:工作台台面为400×225mm, 行程200×100mm, 最大工件承载能力为10公斤,在各轴上均有微无反冲力, 在X轴上配 有快速移动的机械装置。有标准工作台和重载工作台可选 2:可选马达控制或CNC控制工作台 3:轮廓照明配置:冷却风扇,可选择的强/弱照明,黄/绿滤光镜头 4:表面照明配置:双臂光纤照明 5:测量系统配置:0.0001mm分辨率的德国Heidenhain光栅尺 6:控制系统配置: Quadra-chek QC221. 供应商:美国Metronics公司,世界最大的控制器供应商。其控制器 广泛为世界各国测量设备生产商所采用。可配备自动寻边器, 可用于自动采点。*有中文操作界面可选。 7:镜头供应商:SILL OPTICALS,德国 8:镜头放大倍率误差:轮廓放大倍率:0.05%, 表面放大倍率:0.08%,为同行最高 9:测量精度:2.5+L/100um 10:镜头的可选范围:×10,×20,×25,×31.25,×50,×100 11:电源配置:110/120/230/240/250V.AC 50/60Hz 5A
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  • 河流悬移质泥沙含量(含沙量)是重要的水文参数之一,河流含沙量监测对于水利水电工程建设,水资源开发利用,水土流失治理,工农业取水用水,水文预报等意义重大。目前水文上测量河流含沙量的主要方法是:人工取样,使用烘干法测量含沙量。该方法从样品的采集到分析,均需要大量人力,物力和时间的投入,而且测量周期长,操作过程繁琐,劳动强度大,难以实时,在线监测河流含沙量的变化。近年来随着新产品新技术的不断引进,针对河流泥沙的监测积累了一些经验,取得了一些进展。目前,由我司研发的TES-91全自动泥沙在线监测系统已正式投入使用,本套系统可以实现了含沙量和输沙率的实时在线监测。TES-91泥沙在线监测系统主要由泥沙传感器、数据采集与传输系统(含RTU)、供电系统、数据管理软件和安装支架等组成。传感器满足《水利部水文仪器及岩土工程仪器质量监督检验测试中心》水文仪器特性要求。2.1系统特点:v 可直接输出测点泥沙含量值、水深、温度值;v 自动计算断面平均含沙量与输沙率,24小时连续在线监测;v 支持整合多个断面泥沙传感器数据;v 建立泥沙与水位、流量等相关的关系线;v 直接生成水文规范报表,可直接参与资料整编。本套系统所使用的传感器基于组合红外吸收散射光线法,通过逆投影成像技术,可以连续精确测定水体中的悬移质泥沙含量。按照红外散射光线技术不受色度影响测定悬移质泥沙含量,可直接输出泥沙含量数据,实现实时在线监测。
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  • 3D扫描是指利用光学技术快速捕获物体表面复杂形状,将实物快速实现三维数字化模型的技术。三维扫描仪 采用某种类型的光学投影的,比如激光或结构光,照射在物体的表面,并且通过多个相机成像,利用三角测量法,将拍摄的物体二维图像,转化为三维模型。 三维扫描首先获取物体具有三坐标值的点云,然后将点云三角化为多边形网格的STL文件,如果扫描完整无孔洞的STL模型直接可以用于3D打印。 同时三角网格模型经过进一步处理以开发用于逆向工程,可以得到3D实体模型,用于实际加工,进行在生产。如果产品本身有设计模型,则可以用于和原始设计相比较,进行三维检测。 三维扫描仪器:澳信利用各种设备提供3D扫描服务:Creaform HandyScan 700Creaform MetraScan/PROBECreaform Handscan Black EliteCreaform MaxShot我们的工程师将与客户协商确定每个项目的佳工具。 后期处理软件:青岛澳信使用业内的三维后处理软件、逆向过程软件和三维检测软件,包括三维后处理软件VXelements、Geomagic warp;三维逆向软件VXmodel、Geomagic Design X、Catia、Solidworks三维检测软件Geomagic Control、Geomagic ControlX、Polyworks通过这些强大的软件工具将原始数据集转换为高质量的3D CAD模型,或者在全面的检测报告中将零件扫描与原始设计进行比较。 技术服务方式:您可以发送零件给我们,或者我们上门进行扫描服务。便于邮递的小件,我们建议可以邮寄到我们公司,服务更加优惠。如果要扫描的产品太大或者太重,我们采用的都是完全便携的设备,允许我们的团队前往您需要的地方。不论是办公室,或者生产车间,还是室外我们都可以轻松完成扫描。
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  • 影像测量仪也叫二次元,适用于以二坐标测量为目的的一切领域。以二维平面测量为主,也能作简单三维辅助测量,升级产业为2.5次元。影像测量仪利用光学非接触式测量是小、薄、软、零部件的Z好的测量解决方案,是计量检测不可缺少的精密型实验设备之一。那么轮廓投影仪和影像测量仪的主要区别在于哪些地方?接下来妙机小编和大家简单讲解一下:  1、工作原理不同  影像测量仪是通过CCD获取数位图像,利用计算机软件运算,以满足复杂测量需要的精密仪器。  投影仪是利用光学投影的原理,将被测工作的轮廓或表面投影到观察幕(投影屏)上,作测量的一种测量仪器。  2、机台结构不同  影像测量仪:花岗岩石(硬度高,稳定性强,保证精度)  轮廓投影仪:钣金(受环境影响较大,易生锈等,影响精度)  3、镜头  影像测量仪:镜头,连续变倍镜头(20X-120X)  投影仪:标配单一变倍物镜(固定倍率)  4、光源  影像测量仪:LED(冷光源)  轮廓投影仪:卤素光(热光源,热澎胀原理对机台精度产生影响  5、显示  影像测量仪:工件的彩色影像  轮廓投影仪:工件的单色轮廓  6、测量  影像测量仪:十字线产生器,自动寻边  轮廓投影仪:十字线肉眼观察取点  以上就是我们影像测量仪厂家的内容介绍了,相信大家对此会有更深入的了解了,如有朋友需要购买的或者想了解更多关于这方面的知识,可以随时联系妙机科技咨询或者关注妙机科技了解更多。广东妙机精密科技股份有限公司(以下简称妙机科技)致力于为高科技领域提供完整的微米、奈米测量解决方案。妙机科技拥有完全自主品牌体系,从研发、生产、销售等关键环节,提供上、中、下游完整的产品供应及售后服务。
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