布鲁克台阶仪标准

布鲁克公司直接留言，请将以下链接拷贝到浏览器地址栏（强力推荐） 通过测量固态脂肪含量来确定脂肪结晶度是脂肪工业实验室中应用的一种重要分析方法。从1970年开始, 布鲁克公司和他的用户一起致力于使用NMR的方法来确定固态脂肪含量以及进行其它小核磁应用方面的研究。The minispec 团队通过六代minispec 的发展已经基本满足了用户的需求。最新的一代产品——mq系列，作为质量控制和质量保障的分析工具已经第二次获得了权威的R&D100奖。 Bruker的SFC校准样品最初的固态脂肪标样伴随着第一代the minispec 的出现同时发展起来。布鲁克光谱公司（德国）有一系列最新的保管良好的SFC校准的标准样品。这些样品用于校准相关的SFC分析仪，然后用来计算用户样品的固态脂肪含量。The minispec 需要定期校正，通过三个认证的标准样品产生准确的SFC值，然后样品根据布鲁克的建议方法或采用官方的SFC方法进行处理。官方的 SFC 方法1993年在第一版美国油脂化学家协会标准方法中发表了关于使用低分辨率NMR进行SFC测定的方法（AOCS Official Method Cd 16b-93）。布鲁克公司全面支持NMR协会及其它们的工作。 AOCS的官方方法◆1999年修订的AOCS Cd 16b-93 直接测量◆1999年修订的AOCS Cd 16-81；间接测量 温控方法: 一系列相对平行方法使用两种不同的温控序列来测量脂肪样品。假如样品数量受到一定限制就很有必要依据这个系列方法，否则就要使用更快的平行方法。通过这两种温控序列方法获得的SFC值是不同的，由于一个直接放入40℃的回火浴中的脂肪样品和一个通过一个逐级升温到达40℃的样品，它们有不相同的加热史。 直接和间接测量方法的对比两种用来SFC的测量的脉冲NMR方法:直接法和间接法。直接法测量包含固体和液体组分的信号，而间接方法只测量液体信号，然后和一个完全溶解的样品产生的信号进行比较。 应用和软件◆熟悉的 Windows程序 (9x /NT 相兼容)◆用户所需的专业的SFC软件界面◆符合GLP/CE要求◆自动进行仪器校验◆终端通过网卡与计算机连接 ◆样品信息的输入、输出和准备样品的数据库/数据表 ◆指导用户顺利测量的信息库 ◆快速的仪器诊断和符合GLP的数据采集库 ◆结果的实时统计分析

操作简便，性能优越，可媲美其他分析技术 依托数十年优质核磁共振仪器的研发经验，布鲁克最新推出了经济高效、性能卓越的紧凑型核磁共振波谱仪：Fourier 80 台式核磁共振波谱仪。 Fourier 能提供可与其他分析技术相媲美的优质数据，且操作简单、软件易用，即使不是核磁共振波谱专家，也能获取相关核磁共振的明确结果。 最重要的是，Fourier 可以安装在通风柜或工作台上，不需要另建基础设施。 有了布鲁克核磁共振台式系统，任何科学家或技术人员都能成为核磁共振专家。获取核磁共振相关化学结果，从未如此轻松Fourier 采用现代化直观 GoScan 软件，只需轻触按钮，即可获取优质样品数据。Fourier 还可使用布鲁克著名的专业软件 TopSpin&trade 。 为了帮助科学家借助核磁共振获得独特且明确的答案并加以利用，布鲁克一直在针对多个应用领域的特定分析难题开发工作流程。用户还可以轻松创建自己的工作流程和协议，利用核磁共振的强大功能，在自己的专业领域提供清晰、优质的结果。Fourier 80 台式核磁共振波谱仪

布鲁克高性能MRI台式系统令 MRI 为每个人所用主要特征用于分子影像和临床前小动物磁共振成像永磁台式系统可用于常规成像和教育系统低运行成本场地要求低方便的动物处理和安全操作丰富软件包，适合广泛的最新临床前 MRI 应用先进的数字射频结构无噪音运行全新的 Icon? 是易于使用的 1 特斯拉台式 MRI 扫描仪，适用于大鼠和小鼠等啮齿类动物，将简洁大方与紧凑体型基于一身，令磁共振成像 (MRI) 技术可为每个人所用。借助其创新的无冷冻剂、Aspect Magnet Technologies 永磁设计和高性能 AVANCE? III 光谱仪技术，以及布鲁克公司行业领先的 MRI 软件 ParaVision?，Icon 能够以极具吸引力的价格提供强大性能。

仪器简介：2001年，布鲁克公司磁共振中国部骄傲地宣布,中国第一台超低温探头日前已经在北京微量化学研究所安装成功,通过用户的签字验收,并投入正常的工作。从那时起到现在，布鲁克公司已经在国内安装成功了3台超低温探头，第4台（中科院北京生物物理所）也准备安装。创造了中国核磁又一项第一布鲁克发展了世界上独一无二的高场超低温探头。超低温探头通过降低前放和探头线圈温度，线圈的功效得到了极大的改善，前置放大器和探头线圈的温度噪声大大降低，提高了S/N信噪比。比较传统的探头，超低温探头S/N信噪比可以提高四倍，实验时间可以减少16倍或者样品浓度减少4倍。超低温附件包括： 超低温探头 超低温平台 液氦压缩机 氦气瓶以及传输管线等附件 超低温探头主要特性：有效的提高S/N信噪比（同样适合有 一定盐份的样品）杰出的射频均匀性脉冲宽度窄死时间短具有线性功率特性强大的水峰抑制能力梯度场特性二维实验中极佳的稳定性超低温探头包括双频探头或三共振 　　 探头所有的探头配备2H锁电路，可以带 Z梯度场超低温平台的主要作用是为超低温探头的操作需要提供超低温冷却单元。其优势是： 使用简单 只须一个按钮控制，可无人连续操作 成为AVANCE系列NMR标准附件。 标准的超低温耦合器连接所有布鲁克超低温探头。超低温平台带有超低温冷却单元，超低温控制器和氦气压缩机。超低温冷却单元的冷却系统中心是一个Gifford McMahon超低温冷却器，由氦气压缩机提供氦气增压驱动。通过传输软管进行闭合的氦气流动来冷却超低温探头。氦气只有在最初加灌时才有消耗，以后将循环使用没有损耗。超低温控制器在整个使用过程中由专门的电路监视和控制整个系统，具有自动错误处理和安全关闭功能。氦气压缩机有水冷却和空气冷却两种，可以安装在核磁实验室外面，通过超低温控制器远程控制。

solariX MRMS高场 MRMS 质谱平台在 12T 或 15T 磁场强度下工作 —— 用于高度复杂混合物分析，如石油和溶解性有机物。常规的同位素精细结构（ IFS ）获得明确的结果常规的 IFS: 通过 XR 技术实现 高可信度: 准确的分子式结果 MRMS 技术:使您的研究走在前沿通过 XR 技术实现 IFS 日常化与其它 MRMS 技术相比，solariX 和 solariX 2xR 结合了磁共振质谱、和谐阱分析池和磁场离子轨迹控制技术，这是实现超高的质量分辨率的先决条件，由此获得宽质量范围同位素精细结构（ IFS ）常规测定的结果。专利的 ParaCell 检测器 ParaCell 是 solariX XR 和 2xR 的核心技术之一。此检测器采用了与传统 MRMS 检测器结构完全不同的离子控制设计，提供其它检测器无法获得的宽质量范围稳定性，实现分辨率性能的数量级飞跃。ParaCell 和 AMP 吸收模式信号处理相结合保证了同位素精细结构（ IFS ）的常规化分析。2xR 技术实现科学目标并提高效率布鲁克 2xR MRMS 采用了控制离子运动的优化技术和更高的灵敏度、低噪声前置放大器，实现了科学家长久以来追求的和谐检测方案的目标，从而在不损失分辨率的情况下提高了分析速度和效率。 可选的 ESI/MALDI 双源模式solariX 系列质谱仪可以进行 ESI/MALDI 双离子源模式工作。这个可选择的双离子源配置，既可以使用电喷雾电离（ ESI ）模式分析液体样本，也可以使用 MALDI 模式分析经过处理的样本。这种高灵敏度的 MALDI 源使用了布鲁克专利的 smartbeam-II 激光技术，提供不同尺寸的激光聚焦，满足不同样品制备的各种应用。MALDI 和 ESI 操作通过软件控制快速切换，甚至可以进行程序化的 ESI/MALDI 交替工作。探索未知信息的能力明确的分子式测量IFS 提供了其它类型质谱仪测定数据中丢失的额外信息。利用 solariX XR 和 solariX 2XR 卓越的 IFS 检测能力，不仅可以获得待分析物的精确质量，还可以确定其元素组成。结合布鲁克 SmartFormula 算法，可以在最大置信度下给出明确的分子式。 把 MRMS 的先进技术应用到您的研究工作中7T solarix XR MALDI 质谱仪独特的 ESI/MALDI 双离子源，是非标记小分子 MALDI 成像分析的高标准。该系统可用于研究药物和代谢物在组织中分布，并将组学研究和空间位置关联。7T solariX 2XR 和流动注射分析的 FIA-MRMS 工作流程不需要连接耗时的色谱，简化了仪器方法并提高了表型组和非目标代谢组研究的分析通量。了解石油的分子组成可以预测其表现和性质以及环境特征。采用 15T 高场磁共振质谱仪可以进行复杂分子分类，解决了石油加工中的问题。发现隐藏信息和寻找真相布鲁克超高分辨率的磁共振质谱（ MRMS ）技术使科学家能够看到重要的 “ 隐藏 ” 信息，这些信息在其它类型质谱仪的分析中难被发现的。这项先进的技术与专家在各个重点领域的需求一致，即为他们的分析问题找到高效和精确的解决方案。这项技术的独特性在于获得同位素精细结构（ IFS ），消除了化合物鉴定时的猜测和不可靠性。

新一代的超高分辨磁共振质谱仪scimaX MRMS布鲁克于ASMS2018上推出改变游戏规则的scimaX™ 磁共振质谱仪（MRMS）。scimaX MRMS以更小的占地面积提供超过两千万（R 20,000,000）的超高质量分辨率，无需任何液态致冷剂。scimaX 采用新的磁体设计和双阶段冷却技术, 新设计使用氦气钢瓶而无需液氦和液氦补充, 氦气的消耗量低于台式GC-TQ。可放在普通实验室中使用, 免液氦特点带来更安全的操作使用和方便的维护。可配置在线切换ESI和MALDI源, 同时具备选择离子持续累加CASI和多种裂解如ECD、EID、ETD、CID、EDD、SORI-CID、MALDI-ISD、NETD等功能。布鲁克的新型超导冷却Maxwell™ 磁体技术实质上使磁体“缩水”，并允许在标准质谱实验室中使用超高性能的MRMS。这种极端的MRMS分辨率允许同位素精细结构（IFS）分析，轻松确定复杂混合物中精确的元素组成，无需任何色谱分析。利用这种独特的功能，scimaX实现了全分子组成的流动注射分析（FIA-MRMS）的新型工作流程，每天可完成多达200个样本的高通量表型研究。生物制药用户可以使用MRMS进行高级天然蛋白质和基于片段的药物发现研究，MRMS在最近的科学文献中被称为天然蛋白质分析的“写实”平台。凭借可选的MALDI源，制药客户已经证明了MRMS用于药物开发中PK/PD研究的无标记质谱成像的卓越功能。威尔康奈尔医学院教授Steve Gross说：“布鲁克的新型scimaX MRMS系统改变了超高分辨率质谱仪的游戏规则。由于不再使用液体制冷剂降低了运行成本负担，仪器安装不再受场地限制而要求对实验室改造，scimaX可用于任何需要超高质量分辨率的质谱实验室来解决高影响力的科学问题。”主要应用领域石油组学表型组学和代谢组学的复杂体系分子组成高分辨质谱成像

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT实现了高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子，半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。单拱门结构设计使 DektakXT 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量 10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以无与伦比的可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

产品简介：布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5&angst 。详情页介绍德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5&angst 。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术，更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。产品优势台阶仪DektakXT能实现： 1、使用温度条件：10-30℃；2、无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃3、Single-arch设计提供扫描稳定性4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准5、新硬件配置使数据采集时间缩短6、64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度高了10倍7、频率，操作简易8、直观的Vision64用户界面，操作简易9、针尖自动校准系统 11、单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得表面测量 数据采集和分析速度直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。

布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT实现了高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子，半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。 单拱门结构设计使 DektakXT 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量 10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。 DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以无与伦比的可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 产品特点一、Bruker公司的双摄像头控制系统1.通过点击实时视频更快锁定到关注点2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平）3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件新增软件功能使Dektak XTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 Dektak XTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 产品应用一、晶片应用：沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度蚀刻速率测定 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲）二、大型基板应用：印刷电路板（凸起、台阶高度）窗口涂层晶片掩模晶片卡盘涂料抛光板三、玻璃基板及显示器应用：AMOLED 液晶屏研发的台阶步级高度测量 触控面板薄膜厚度测量 太阳能涂层薄膜测量四、柔性电子器件薄膜：有机光电探测器印于薄膜和玻璃上的有机薄膜触摸屏铜迹线

探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。 布鲁克公司的新型DektakXTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 探针式轮廓仪系统DektakXTL产品特性 一、Bruker公司的双摄像头控制系统 1.通过点击实时视频更快锁定到关注点 2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平） 3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作 1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。 2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集 1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化 2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征 3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析 4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件 新增软件功能使DektakXTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 DektakXTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 应用 一、晶片应用： 二、大型基板应用： 沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度 印刷电路板（凸起、台阶高度） 抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度 窗口涂层 蚀刻速率测定 晶片掩模 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲） 晶片卡盘涂料 抛光板 三、玻璃基板及显示器应用： 四、柔性电子器件薄膜： AMOLED 有机光电探测器 液晶屏研发的台阶步级高度测量 印于薄膜和玻璃上的有机薄膜 触控面板薄膜厚度测量 触摸屏铜迹线 太阳能涂层薄膜测量

海思科技 吴先生 探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围规格：测量技术：探针轮廓仪DEKTAK XT测量功能：二维表面轮廓测量/可选三维测量样品视景：可选放大倍率，1to4mmFOV探针传感器：低惯量传感器（LIS3）探针压力：使用LIS3传感器：1至15mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50nm至25μm；高径比（HAR）针尖：10μm×2μm和200μm×20μm；可按客户要求定制针尖样品X/Y载物台：手动X-Y平移：100mm(4英寸）；机动X-Y平移：150mm（6英寸）样品旋转台：手动，360°旋转；机动，360°旋转计算机系统：64-bit多核并行处理器，Windows7；Optional23英寸平板显示器软件：Vision64操作及分析软件；应力测量软件；缝合软件；三维扫描成像软件减震装置：减震装置可用扫描长度范围：55mm（2英寸）每次扫描数据点：最多可达120000数据点最大样品厚度：50mm(2英寸）最大晶圆尺寸：200mm(8英寸）台阶高度重现性：＜4埃，1sigma在1μm垂直范围下）输入电压：100-240VAC，50-60Hz温度范围，运行范围：20到25℃湿度范围：≤80%，无冷凝系统尺寸及重量：455mmW×550mmD×370mmH（17.9in.W×22.6in.D×14.5in.H)；34公斤（75磅）；附件：550mmL×585mmW×445mmH（21.6in.L×23in.E×17.5in.H)；21.7公斤（48磅

探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

DektakXT台阶仪-第十代探针式表面轮廓仪布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5?。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak 体系技术创新的顶峰，更加稳固了其行业中的领先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用使得 DektakXT 的功能更强大，操作更简便易行，检测过程和数据采集也更加完善。第十代 DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。DektakXT 技术参数台阶高度重复性 5?—单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性—先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标准—新的硬件配置使数据采集能力提高了 40%—64 位的 Vision64 同步数据处理软件，将数据分析速度提高十倍。功能卓越，操作简易—直观的 Vision64 用户界面操作流程简便易行—自对准式探针设计使得更换探针的步骤简便易行探针轮廓仪业界翘楚，无可匹敌的价值— 性能优异, 物超所值— 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量DektakXT 技术规格参数：技术创新四十余载，不断突破勇攀高峰过去四十多年间，布鲁克的台阶仪研制和生产一直在理论和实践上不断实现创新性成果——首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到 3D 测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm 台阶仪——DektakXT 延续了这种开创性的风格，全新的 DektakXT 成为世界上第一台采用具有单拱龙门式设计配备全彩 HD 摄像机，并且利用 64 位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。世界范围内有成千上万台 Dektak 系列产品应用于各个领域，它们以优质，可靠，高效等诸多特性而得到赞誉。人们为了得到精确无误的台阶高度和表面粗糙度信息，首选使用 Dektak 来进行测量。这里，我们通过介绍DektakXT 的各项功能，帮助您可靠高效地完成表面测量工作。DektakXT设计完美，性能卓越台阶仪性能优劣取决于以下三方面: 测量重复性, 测试速度和操作难易程度，这些因素决定了实验数据的质量和实验操作的效率。DektakXT 采用全新的仪器系统构造和最优化的测量及数据处理软件来实现可靠、快速和简易的样品检测，达到最佳的仪器使用效果。提高操作的可重复性DektakXT 的多处领先设计保证了其无人能及的表现,达到优于 5 埃的测量重复性. 使用单拱龙门结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时，Bruker 完善了仪器的智能化电子器件，提高了其工作性能的稳定性，降低温度变化对器件的影响，并且采用最先进的数据处理器。在控制器电路中使用智能敏化电子器件,会把系统和环境噪音引起的测量误差降到最低。因此采用DektakXT 测量系统，能够更稳定可靠地扫描高度小于10nm 的台阶，获得其形貌特征。单拱龙门结构和智能器件的联用，大大降低了基底噪音，增强了稳定性，使其成为一个极具竞争力的表面轮廓仪。提高测量和数据分析速度首次采用独特高速的直接驱动扫描样品台, DektakXT 在不牺牲分辨率和基底噪音水平的前提下,大大缩短了每次描的间隔时间。这一改进，提高了进行大范围 3D 形貌表征或者表面长程应力扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下，可以将数据采集处理的速度提高 40% 。另外，DektakXT 采 用 Bruker 具 有 64 位数据采集同步分析的Vision64，它可以提高大范围 3D 形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快数据滤波和多次扫描数据库分析的速度。Vision64 还具有最有效直观的用户界面，简化了实验操作设置，可以自动完成多扫描模式，使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁.简便易行的实验操作系统为了便于操作可供多用户使用的系统，一个必要条件就是能够迅速简便地更换不同模式所需要的探针。DektakXT 新颖的探针和部件自动对准装置，可以尽量避免用户在装针的过程中出现针尖损伤等意外。这一改进使原来费时耗力的实验步骤变得简便易行。为尽可能满足所有应用的需求，布鲁克提供各种尺寸的标准探针和特制探针，其中包括专为深槽测量定制的高深宽比的探针。完善的数据采集和分析系统与 DektakXT 的创新性设计相得益彰的配置是 Bruker Vision64 操作分析软件。Vision64 提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能板块，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。简明的测量窗口集参数设定与硬件控制于一体，极富逻辑性，既可使不常使用仪器者轻松回忆起如何操作，又可使操作老手不至于为过多的基本重复步骤而烦恼或分心。数据获取后，软件的自动调平，台阶识别分析，以及数据分析模块的各种滤波功能等使得分析简便快捷。使用数据分析模块，不论是通过一个程式来处理单次扫描结果的标准分析，还是尝试使用多种滤波设置和计算，使用者都可以清晰地看到数据处理结果以及其他可用的分析手段。Vision64 随时为用户提供系统状态的信息。比如，如右图所示，软件界面上显示了得到整幅 3D 形貌图像的过程，同时可获得线性扫描的数据，可视化窗口还提供针尖在样品表面实时扫描的情况，以及完成整幅图像所需剩时。这一系列可视化的设置，帮助操作者迅速全面地得到所需的实验室数据。DektakXT在各个领域完成重要数据的采集处理薄膜监测 — 高效率的保证对于半导体制造行业而言，及时监测镀膜膜厚和刻蚀速率的均匀性以及薄膜应力，能节省宝贵的时间和金钱。不均匀的膜层或过大的应力，将导致差的优良率和不合格的终端产品性能。DektakXT 易于设定、测量快捷，通过不同位置的多点自动测量可确认整片硅表面上薄膜的准确厚度，其精度可达纳米级别。DektakXT 卓越的测量重复性为工程师们提供准确的薄膜厚度和应力测量，使其可以精确调节刻蚀和镀膜工艺来提高产品的优良率。 测量表面粗糙度 — 确保材料质量在自动化，航空航天，医药领域等各行各业，如果需要精确测量材料表面的粗糙度，DektakXT 是一个非常理想的检测仪器。比如在整形手术中需要植入的假体，在其背面涂覆的羟基磷灰石，它的表面粗糙度会影响假体植入到体内后的黏附性和手术效果。使用 DektakXT 快速检测材料表面的粗糙度，可以获悉晶体材料的生长是否符合工程师的要求，或者手术所需的植入体是否通过医学审核允许使用。使用 Vision64 软件中的数据库功能，设定合格/淘汰条件，品管人员可以轻松确定植入体是否需要再加工还是定为合格品。 太阳能电池栅线分析——降低生产成本在太阳能领域，Dektak 已被作为测量单晶和多晶硅电池上主栅、银线特征尺寸的首选设备。栅线的高度、宽度和连续性都直接影响了太阳能电池的能量传输能力。生产过程中的最佳方案是节约贵金属银的使用量，同时又保证银浆的量足够覆盖在电池板上，完成最佳的电导特性。 DektakXT 可使用线条分析功能为用户提供栅线的特征尺寸，以确保足够的银浆覆盖，导电良好。Vision64 的数据分析方法和自动操作功能使这一检验核实的过程可以通过特定设置后自动完成。 微流体- 确保符合设计和质量要求Dektak 是市场上唯一可以测量敏感材质上高达 1mm 垂直台阶的台阶仪，而且测量重复性在埃米级别。DektakXT 为微机电系统和微流体工业的研究者提供了关键尺寸测量的可靠手段，以确保器件符合规格要求。超微力测量，Nlite+，可以保证在测量敏感材质时轻触其表面而不破坏样品表面，得到台阶高度或表面粗糙度数据。

Dektak 150 台阶仪集40多年的探针轮廓技术创新于一身，该系统在行业内的表现遥遥领先，以重现性最佳和标准扫描范围最大而著称。它提供各种各样的配置和附加选项，用于程序化测量、低探针力表征和细节分析台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格：测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，USB；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（LIS 3）探针压力：使用LIS 3传感器：1至15 mg使用N-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动X/Y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选Y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选X-Y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：Dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维Vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm(2.1英寸)每次扫描数据点最多12万数据点最大样品厚度高达90 mm (4英寸)，取决于配置最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um(0.02英寸)；可选1mm垂直分辨率：最大1A（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ

Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。 台阶高度重复性优于5埃（5 ?） 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆操作简便，高效易用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球ling dao者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述 布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。 台阶高度重复性优于5埃（5 ?） 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆操作简便，高效易用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球ling dao者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障二、历史：技术创新四十余年过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以优质、可靠、高效等特性广受赞誉。

Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。 台阶高度重复性优于5埃（5 ?） 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆操作简便，高效易用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球ling dao者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障二、历史：技术创新四十余年过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以优质、可靠、高效等特性广受赞誉。设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！网址：

Bruker DektakXT 探针式表面轮廓仪（台阶仪）(一)、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界ling xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。台阶高度重复性优于5埃（5 ?） 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆操作简便，高效易用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球ling 导 zhe 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障 (二)、历史：技术创新四十余年过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以优质、可靠、高效等特性广受赞誉。

台阶仪dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格： 测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，usb；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（lis 3）探针压力：使用lis 3传感器：1至15 mg使用n-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动x/y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选x-y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm（2.1英寸）每次扫描数据点zui多12万数据点zui大样品厚度高达90 mm （4英寸），取决于配置zui大晶圆尺寸 150 mm（6英寸）台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um（0.02英寸）；可选1mm垂直分辨率：zui大1a（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120vac/200-240vac, 50-60 hz无论是用于科学研究还是工业生产，dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内的表现性能，zui高的测量重复性以及zui大的扫描范围。dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于windowsxp的软件用户界面，使用户迅速掌握dektak 150。分析功能齐全，界面直观，包括从简便的一键"进针即测量"，到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以*地扩充仪器的功能。

台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格： 测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，USB；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（LIS 3）探针压力：使用LIS 3传感器：1至15 mg使用N-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动X/Y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选Y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选X-Y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：Dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维Vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm(2.1英寸)每次扫描数据点最多12万数据点最大样品厚度高达90 mm (4英寸)，取决于配置最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um(0.02英寸)；可选1mm垂直分辨率：最大1A（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ无论是用于科学研究还是工业生产，Dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内最好的表现性能，最高的测量重复性以及最大的扫描范围。Dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于WindowsXP的软件用户界面，使用户迅速掌握Dektak 150。分析功能齐全，界面直观，包括从简便的一键"进针即测量"，到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。

探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。 布鲁克公司的新型DektakXTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 探针式轮廓仪系统DektakXTL产品特性 一、Bruker公司的双摄像头控制系统 1.通过点击实时视频更快锁定到关注点 2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平） 3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作 1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。 2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集 1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化 2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征 3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析 4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件 新增软件功能使DektakXTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 DektakXTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 应用 一、晶片应用： 二、大型基板应用： 沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度 印刷电路板（凸起、台阶高度） 抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度 窗口涂层 蚀刻速率测定 晶片掩模 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲） 晶片卡盘涂料 抛光板 三、玻璃基板及显示器应用： 四、柔性电子器件薄膜： AMOLED 有机光电探测器 液晶屏研发的台阶步级高度测量 印于薄膜和玻璃上的有机薄膜 触控面板薄膜厚度测量 触摸屏铜迹线 太阳能涂层薄膜测量

德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术，更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。 台阶仪DektakXT能实现： 1、 使用温度条件：10-30℃； 2、无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃 3、Single-arch设计提供扫描稳定性 4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准 5、新硬件配置使数据采集时间缩短 6、64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度高了10倍 7、频率，操作简易 8、直观的Vision64用户界面，操作简易 9、针尖自动校准系统 10、布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能 11、单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围 建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得表面测量数据采集和分析速度 直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。

探针式表面轮廓仪布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪”）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台阶仪适用面极广，为用户提供准确性高，重复性佳的测量结果。 在教育、科研领域和半导体制程控制，Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年，Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场最优越的测试工具，也被许多主要的光伏太阳能电池制造商所认可。Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm最优性能检测布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可最大限度提高生产量。 Bruker布鲁克Dektak XTL 测针轮廓仪系统大尺寸晶片和面板测量 全新的Dektak XTL™ 探针式轮廓仪优异的精确度、可重复性和再现性广泛应用于大尺寸晶片及面板制造业。该系统可容纳多达350mm x 350mm的样品，使得传奇性的Dektak系统可以实现从200mm到300mm的晶片制造。DektakXTL运算符v1 Dektak XTL具有占地面积小和带联锁门的集成隔离功能，非常适合当今苛刻的生产车间环境。其双摄像头架构可增强空间意识，其高度自动化可提高制造吞吐量。布鲁克的独家Vision64高级生产界面带有可选的模式识别功能，使数据收集变得直观，可重复，并最大程度地减少了操作员之间的差异。 新的软件功能使Dektak XTL成为功能最强大，最易于使用的手写笔探查器。该系统使用与布鲁克光学轮廓仪系列完全兼容的Vision64软件。 Vision64软件可使用数百种内置分析工具来实现无限制的测量站点，3D映射和高度定制的表征。 还可以使用Vision Microform软件来测量形状，例如曲率半径。使用模式识别可最大程度地减少操作员错误并提高测量位置精度。数据收集以及2D和3D分析在一个软件包中，具有直观的流程。每个系统都带有Vision软件许可证，可以将其安装在装有Windows 7 OS的单独PC上，以便可以在您的办公桌上创建数据分析和报告。 DektakXTL Vision64屏幕截图Dektak XTL已经针对持续生产工作时间和最大生产量在工艺开发和质量保证与质量控制应用方面进行了全面优化，将本产品设计为业界最易使用的探针式轮廓仪。 技术细节：无与伦比的性能和优于5埃（ 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆高效率且易于使用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球领导者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

探针式表面轮廓仪布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪”）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台阶仪适用面极广，为用户提供准确性高，重复性佳的测量结果。 在教育、科研领域和半导体制程控制，Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年，Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场最优越的测试工具，也被许多主要的光伏太阳能电池制造商所认可。DektakXT 桌面型探针式表面轮廓仪布鲁克DektakXT台阶仪设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达4埃。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak体系技术创新的顶峰，更加稳固了其行业中的领先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用是的DektakXT地功能更强大，操作更简便易行，检测过程和数据采集也更加完善。技术的突破也实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。 探针式轮廓仪的黄金标准DektakXT探针式轮廓仪 性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得DektakXT实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。技术创新四十余载，不断突破用攀高峰 Dektak品牌是首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到3D测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm台阶仪。现在，全新的DektakXT延续了这种开创性的风格，成为世界第一台采用具有具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。 提高测量和数据分析速度首次采用独特高速的直接驱动扫描样品台，DektakXT在不牺牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大缩短了每次扫描的间隔时间，将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用布鲁克具有64位数据采集同步分析的Vision64，可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快数据滤波和多次扫描数据库分析的速度。提高操作的可重复性使用单拱龙门结构设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。DektakXT会把系统和环境噪音引起的测量误差降到最低，能够更稳定可靠的扫描高度小于10nm的台阶，获得其形貌特征。 完善的数据采集和分析系统 与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是布鲁克Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能板块，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。 简便易行的实验操作系统 DektakXT新颖的探针的部件自动对准装置，可以尽量避免用户在装针的过程中出现针尖损伤等意外。为尽可能满足所有应用的需求，布鲁克提供各种尺寸的标准探针和特制探针。 高效率的保证DektakXT卓越的测量重复性为工程师们提供准确的薄膜厚度和应力测量，使其可以精确调节刻蚀和镀膜工艺来提高产品的优良率。 技术细节 Close up photograph of Dektak stylus tip measuring features on a silicon wafer. Photograph of tip exchange on DektakXT. Tip exchange assembly makes changing tip sizes easy.DektakXT仪器特性无与伦比的性能和优于4埃（4 ?）的测量重复性 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆高效率且易于使用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球领导者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障过去四十多年间，布鲁克的台阶仪研制和生产一直在理论和实践上不断实现创新性成果——首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到3D测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm台阶仪——DektakXT延续了这种开创性的风格，全新的DektakXT成为世界上第一台采用具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。应用： 薄膜检验—确保高产量 DektakXT_Hybrid_Circuit.png 在半导体制造中，严密监控沉积和蚀刻速率的均匀性以及薄膜应力可以节省宝贵的时间和金钱。薄膜层的不均匀或应力过大，会导致良率下降和最终产品性能下降。 Dektak XT提供了快速，轻松地设置和运行自动多站点测量程序的能力，以验证整个晶圆表面的薄膜精确厚度，直至纳米级。 Dektak XT的无与伦比的可重复性为工程师提供了准确的膜厚和应力测量值，以精确调整蚀刻和沉积过程以提高产量。 太阳痕量分析-降低制造成本 在太阳能市场上，Dektak已成为测量银迹线（街道）的临界尺寸的首选解决方案，银迹线（街道）是单晶和多晶太阳能板上的导线。银迹线的高度，宽度和连续性与太阳能电池的导电能力有关。理想的生产状态是施加足够的银浆以获得最佳的导电性，同时又不浪费昂贵的银。 Dektak XT采用痕量分析程序，可报告街道的关键尺寸，以验证是否存在足够的导电材料。 Vision64中的数据分析器配方和自动化功能在自动化此验证过程中具有影响力。 DektakXT_Solar_Trace.png 微流体技术—验证设计和性能 DektakXT_Microfluidics.png Dektak是唯一的测针轮廓仪，可测量具有埃级重复性的敏感材料（高达1mm高）的大型垂直特征。 MEMS和微流体行业的研究人员可以依靠Dektak XT进行关键测量，以验证其零件是否符合规格。低力测量功能NLite +对敏感材料轻触即可准确测量垂直台阶和粗糙度，而不会损坏样品表面。 表面粗糙度验证-确保性能 Dektak XT非常适合常规验证精密加工零件的表面粗糙度，适用于各种行业，包括汽车，航空航天和医疗设备。例如，整形外科植入物背面的羟基磷灰石涂层的粗糙度会影响其一旦植入后的粘合性能和功效。使用Dektak XT对粗糙表面进行快速分析，可以确认是否已达到所需的晶体生长以及植入物是否可以通过生产要求。使用具有通过/失败标准的Vision64数据库，质量保证人员可以轻松地识别要返工的植入物或验证植入物的质量。

规格：测量技术：探针轮廓仪DEKTAK XT测量功能：二维表面轮廓测量/可选三维测量样品视景：可选放大倍率，1to4mmFOV探针传感器：低惯量传感器（LIS3）探针压力：使用LIS3传感器：1至15mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50nm至25μm；高径比（HAR）针尖：10μm×2μm和200μm×20μm；可按客户要求定制针尖样品X/Y载物台：手动X-Y平移：100mm(4英寸）；机动X-Y平移：150mm（6英寸）样品旋转台：手动，360°旋转；机动，360°旋转计算机系统：64-bit多核并行处理器，Windows7；Optional23英寸平板显示器软件：Vision64操作及分析软件；应力测量软件；缝合软件；三维扫描成像软件减震装置：减震装置可用扫描长度范围：55mm（2英寸）每次扫描数据点：最多可达120000数据点最大样品厚度：50mm(2英寸）最大晶圆尺寸：200mm(8英寸）台阶高度重现性：＜4埃，1sigma在1μm垂直范围下）输入电压：100-240VAC，50-60Hz温度范围，运行范围：20到25℃湿度范围：≤80%，无冷凝系统尺寸及重量：455mmW×550mmD×370mmH（17.9in.W×22.6in.D×14.5in.H)；34公斤（75磅）；附件：550mmL×585mmW×445mmH（21.6in.L×23in.E×17.5in.H)；21.7公斤（48磅

布鲁克bruker轮廓仪 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%，同时保持行业的性能。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。单拱门结构设计使 布鲁克bruker轮廓仪 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5&angst 。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。台阶仪Dektak XT能实现： 台阶高度重现性低于4埃 Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性 先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准 新硬件配置使数据采集时间缩短40% 64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍 频率，操作简易 直观的Vision64用户界面，操作简易 针尖自动校准系统 布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能 单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围 40多年不断创新 建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及表面测量 提高数据采集和分析速度 利用直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。 参数： 测试技术探针式表面轮廓测量技术（接触模式）测量范围二维表面轮廓测量可选择三维测量以及数据分析样品观测可选择放大倍数，视场（FOV）范围：1~4mm探针传感器低惯性量传感器 （LIS 3）探针作用力LIS 3 传感器中 1~15mg低作用力模式N-Lite+ 低作用力 0.03~15mg探针选项探针曲率半径 50nm~25um高径比针尖（HAR）10um×2um 和200um×20um ；也可以采用客户定制针尖样品 X/Y 载物台手动 X/Y（4英寸）：100mm*100mm，可手动校平自动 X/Y（6英寸）：150mm*150mm，可手动校平样品载物台手动，360度连续旋转自动，360度连续旋转计算机系统64位多核并行处理器，Windows 7 系统；可选配23英寸平板显示器软件Version 64 操作分析软件，应力测量软件，悬臂偏转测试软件；选配：缝合软件；3D应力分析软件；3D测量软件隔振系统多种隔振方案可供选择。扫描长度范围55mm 2英寸）单次扫描数据采集点120，000样品厚度50mm (2英寸)晶片尺寸200mm (8英寸)台阶高度重复性5&angst , 1sigma on 0.1μm step垂直方向扫描范围1mm (0.039英寸.)垂直方向分辨率分辨率可达1&angst (在6.55um测量范围内 输入功率100 – 240 VAC, 50 – 60Hz温度范围可以操作温度为20~ 25°C (68~77°F)湿度范围≦80%，无凝结系统尺寸和重量455mm W x 550mm D x 370mm H (17.9in. W x 22.6in. D x 14.5in. H) 34kg (75lbs.) 隔离罩：550mm L x 585mm W x 445mm H (21.6in. L x 23in.W x 17.5in. H) 5.0kg (11lbs.)