快速扫描显微镜

Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用最新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼

主要功能及特点 Bsae-SECM 是一套致力于研究的扫描电化学显微镜，技术源于德国波鸿鲁尔大学Schuhmann 教授课题组。Base-SECM 标准配置的功能已然十分强大，能满足绝大多数研究的需要。在这基础上，用户还可以购置不同的功能模块，以满足特殊的研究需要。 主要技术参数定位系统：XYZ 步进控制系统动态范围：25x25x25 mm（其他范围可选）最大线扫速率：10mm/s分辨率：20nm扫描模式Feedback Mode 反馈模式GC Mode 产生收集模式Direct Mode 直接模式AC-SECM 微区阻抗模式4D 模式Shearforce剪切力模式探针扫描：2D 扫描3D 扫描等间距扫描快速等间距扫描预设扫描自编辑电化学程序扫描 应用领域电化学动力学研究吸附/脱附现象和溶解过程的研究液/液界面，液/气界面，液/固界面以及重要的生物过程局部腐蚀过程观测催化剂活性评价传感器表面活性成像局部阻抗分析生物膜酶活性研究微纳米尺度的金属颗粒沉积(恒电流或无电沉积)在水或有机溶液中材料表面上导电聚合物局部沉积电化学刻蚀

扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析，在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来，扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加，而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此，体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm，相比SU1510型号体积减小52%，重量减轻45%，功耗减小50%，且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离，安装非常灵活。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现清晰的画质全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位大直径（30毫米2）无氮EDS检测器，可快速进行元素分析*2*1设置到桌面上时，请将机体与电源盒分离*2选项

扫描电容显微镜（SCM）是一种表征材料纳米电学性质的原子力显微镜（AFM）成像技术，它使用微波射频（RF）信号来探测半导体和其它种类样品中的电荷，载流子的位置，掺杂水平和掺杂类型（p型和n型）等。全新快速扫描电容显微镜 SCM可以在牛津仪器的 Asylum Research 的快速扫描 Cypher 和 Jupiter XR AFM 平台上使用。牛津仪器Asylum Research SCM模式的独特之处在于，它不仅可以测量微分电容（dC/dV），还可以测量分辨率低至1aF的电容，而且是可以直接测量电容。与传统的SCM相比，它具有更高的分辨率和更快的扫描速度。更高的灵敏度允许探测金属和绝缘体，以及传统半导体器件以外的非线性材料——包括那些不形成自然氧化物层的材料。图1 静态随机存储 （SRAM） 样品。所有通道同时获得了29μm扫描区域：a：形貌；b：dC/dV振幅（与掺杂浓度成反比）；c：dC/dV相位（蓝色表示p型掺杂，红色表示n型掺杂）；d：电容（与掺杂浓度有线性关系）；电容，而不仅仅是dC/dV传统的SCM模式只能提供微分电容（dC/dV）数据，这大大限制了用户从测量数据中得出的结论。牛津仪器Asylum Research全新设计的SCM模式具有独特的能力，可以提供dC/dV和电容数据，因此可以获得更完整的材料表征。电容通道对掺杂水平提供线性响应，并检测电容的变化，分辨率可达1 aF。全新的SCM模式是一个强大的工具，可以用于材料的纳米电子特性描述。更快的成像牛津仪器Asylum Research全新的高带宽SCM电路允许以高达26 Hz的扫描频率采集高质量的dC/dV和电容数据。传统的SCM模式的带宽要低得多，并且在扫描速率为1 Hz时数据质量明显退化。全新的SCM模式在高达26Hz的扫描频率下几乎没有信息丢失。这种更快的成像改进了用户体验并大大提高了工作效率。不同扫描速度比较的SRAM样品。微分电容（dC/dV）振幅图像给出了相同的5μm区域内扫描率从1 Hz到26 Hz的结果。以最快的速度数据质量几乎保持不变，但是图像只需要1秒就可以获得，而传统的SCM需要5-10分钟。图2 微分电容（dC/dV）振幅图像更高的分辨率牛津仪器Asylum Research全新设计的SCM模式显示出更高的灵敏度，因此可以获得更高的分辨率的图像。以前被认为使用SCM模式由于信号弱难以图像的样品，现在可以常规地获得图像。右侧图中，采用全新的SCM模式对单壁碳纳米管（CNT）进行成像，横向分辨率约为25 nm。图3 绝缘基板上碳纳米管的电容数据与3D形貌叠加图样品是绝缘基板上的碳纳米管。电容数据叠加在3D形貌图上。图像范围2 μm。样品由Harvard Center for Nanoscale Systems的 B.Wilson和J.Tresback提供。二维材料研究SCM在表征二维材料独特物理和电子特性有着广泛的应用前景。右边的图像是沉积在硅上的CulnS，电容信号与剥离材料厚度的具有很高的相关性，因此利用SCM模式分辨二维材料层厚度具有良好的潜力。图4 CulnS沉积在硅上的电容数据和3D形貌叠加图样品CulnS沉积在硅上，电容数据叠加在在3D形貌图上，扫描范围20μm，样品由Northwestern的University M. Cheng和V. Dravid教授提供。电池材料研究能量存储是SCM可以提供重要信息的另一个研究领域。右图中给出了一个电池的测试电极，在电容通道中可以观察到明显的对比。单个晶粒和晶界处的电容信号的变化为了解电子传导提供了依据。这些数据可以与导电AFM和电学应变显微镜相关联，以进一步了解结构和功能特性。图5 测试电池的电极，扫描范围30μm。a：形貌图；b：电容图；技术指标

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

1.产品概述：PVA TePla SAM系列的超声波扫描显微镜使用简单，操作方便，是一款用于过程控制和质量保证，以及研究应用的无损检测设备。SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。2.产品优势：SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。凭借我司精密制造的高频和换能器技术，我们的超声波扫描显微镜能够在高达400MHz的超声频率范围内进行详细的声学分析。这些设备可以广泛应用于材料科学、生物医学、电子工业等域，帮助用户实现快速且准确的无损检测。无论是对材料中的缺陷进行定位和分析，还是对样品结构和表面形貌进行观察和评估，我们的超声波扫描显微镜都能提供可靠且高分辨率的成像结果。同时，我们还提供灵活多样的配置选项，以满足不同用户需求和实验要求。我们致力于为客户提供高性能和可靠性的超声波无损检测解决方案，以满足不断发展的科学研究和工业生产的需求。SAM系列系统是门用于质量和过程控制的无损检测工具，借助高达400兆赫的新射频和换能器技术实现详细的声学调查。简单而强大的图形界面确保了终用户可以充分使用该系统性能和功能。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可单独自定义，可选择以下扫描范围配置250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到420mm x 420mm模块化设计的功能，如穿透式扫描、动态穿透式扫描、或"双探头 “和 “四探头 “扫描仪配置等，大大优化了扫描成像结果。

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

产品描述显微镜自动平台控制系统自动平台主要技术指标一）X，Y方向自动平台1．外形尺寸： 191mmx164mm2．X方向行程：≥40mm3．Y方向行程：≥30mm4．重复定位精度：≤3um5．最小步距： ≤2um6．限位开关X，Y标准（四个）7．手动控制支持8．移动速度五档可调二）Z方向调焦机构9．调焦步距（分辨率）：0.25um10．手动控制支持三）自动平台控制器 11．通讯方式RS232串口通讯12．电动控制操纵杆控制13．电源交流220V自动平台控制及大图拼接软件主要功能定位移动：平台直接移动到指定位置全景扫描：沿试样表面平移，浏览试样全景定点拍照：按设定轨迹移动平台，同时拍摄镜下图像自动回位：多点位置记忆功能，精确快速回位大图拼接：定点拍照，同步拼接，自动生成大视野全景图片自动聚焦：控制Z轴上下移动，自动找到最佳焦面

一、产品概述：扫描声学显微镜（SAM）是一种高分辨率的成像设备，用于分析材料内部结构和缺陷。该仪器利用超声波探测技术，可以获得微米级别的分辨率，广泛应用于材料科学、半导体和生物医学等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描声学显微镜主要用于检测和分析材料内部的缺陷、应力和微观结构。工程师和研究人员可以利用该仪器进行材料的质量控制、故障分析和新材料的研发，以确保材料在实际应用中的可靠性和性能。工作原理扫描声学显微镜通过发射超声波信号到样品中，并接收反射回来的信号来工作。仪器内部使用高灵敏度的探测器和信号处理技术，将反射信号转换为图像，显示样品内部的结构和缺陷。用户可以调整扫描参数，以获得不同深度和细节的成像，从而进行深入的材料分析和研究。三、主要技术指标：1. 为了识别沿封装微电子应用中小和细微的缺陷，ECHO VS包括标准功能，如用于佳声耦合的热水、用于有效捕获有用数据的灵活TAMI、用于提高信噪比的波形平均、ICEBERG用于提高图像质量，MFCI用于在苛刻的应用中增强图像质量。ECHO VS是用于成型倒装芯片、CSP、MCM、叠片、MUF和其他先进封装技术的终超声波无损检测设备2. 检测薄至0.01μm的空气缺陷，并在空间上解决低至5μm的缺陷3. 图像优化，提高复杂模制倒装芯片（MUF）和具有聚酰亚胺层的封装的图像质量

Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建，以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜超软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强，可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜（SICM）-热性能扫描热感显微镜(SThM)

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-VSTMSONIX ECHO-VS 是专为更高精度要求，更复杂元器设计的新一代设备。广泛应用在Flip chips, Stacked die,Bumped die,Boned Wafers等。&bull 高分辨率下，扫描速度是传统超声波扫描显微镜的2.5倍&bull 独有的波形模拟器（Waveform Simulator)及波束仿真（Beam Emulator）&bull 扫描分辨率小于1微米&bull 水温控制系统及紫外细菌系统超高频状态工作下，信号更稳定

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜。光遗传学（optogenetics）是一项整合了光学、软件控制、基因操作技术、电生理等多学科交叉的技术。自2005年，斯坦福大学Karl Deisseroth实验室通过在神经细胞中表达光敏蛋白，响应不同波长的光刺激实现对神经功能的调控，宣布人类正式拥有了操控大脑的工具。长久以来，我们对复杂的神经网络连接的理解仅停留在相关性上，有了光遗传学，我们终于有能力，微创地探究特定的神经环路和大脑功能之间的关系。为您介绍目前市场上专业的商业化多光子声光偏转器随机扫描成像，AOD多光子随机扫描显微镜AOD多光子随机扫描显微镜： 可用ASAP3进行神经动作电位成像全场成像非机械超快速扫描 10KHz/line在整个视场中的停留时间恒定且可调光遗传学双光子扫描：ROI成像可自由选择ROIsROIs之间的飞行速度为10us光遗传学扫描检测系统：任意访问点可自由选择的POIs高达100KHz/POI低于10nm的指向和可重复性光遗传学双光子扫描：随机访问区域超快速局部体积激发（ULOVE)20KHz/Vols全息体积扩展减少活体运动伪影提高光遗传学刺激效率目前世界范围内大多神经类仪器都是检测钙离子为主，而我们不仅仅是钙离子成像，还能做到神经电压指示器成像。这在市场上的其他厂家是无法做到的。AOD多光子随机扫描显微镜系统真正意义上的对神经动作电位进行扫描检测，有了光遗传学双光子扫描，终于有能力探究特定的神经环路和大脑功能之间的关联。法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜结合了多光子声光偏转器扫描，声光随机扫描使这一切都变成可能。

PAN式低温扫描探针显微镜系统 Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：- PAN STM/AFM扫描头体积小（2.96”X1.55”)- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针与样品更换- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体- 与RHK新全数字R9控制器一同使用适用于拓扑缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。 主要技术参数:- 工作模式：STM与非接触式AFM- 温度范围：300mK RT VT HT- X-Y-Z位移范围：5mmX5mmX10mm - 扫描范围：5umX5um （RT）- 样品尺寸：10mmX10mm- 扫描头尺寸：40mmX70mm 结构紧凑，体积小：内置减震系统、可水平或垂直放置 Pan式低温扫描探针显微镜结构其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流阻尼减震系统；根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；初次之外，它兼容常用的低温恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。原位样品与探针更换：操做简单、快速；性能可靠 在低温和超高真空环境中，样品和针的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针更换装置，并提供了多个样品与针的放置室。Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加热、样品剥离、样品轰击等等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。 兼容各种磁体和恒温器为充分满足科学家的要求，RHK与磁体和恒温器制造商紧密合作，开发了低温扫描探针显微镜整机系统和立扫描头模块系统，根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案。 RHK公司将上先进的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中，集中研发力量，推出了噪音低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。应用案例： Si(111)表面7X7重构，4KBi2Se3表面形貌，4K部分用户名单： - University Of Texas- University of Maryland- University of Chicago- Columbia University- Technischen Universitat Berlin- Academica Sinica (2)- Georgia Institute of Technology- Weizmann Institute of Science- Indian Association for the Cultivation of Science......

1.产品概述：PVA TePla 超声扫描显微镜SAM Premium系列结合了声学显微镜和光学显微镜。它使超声扫描平台与倒置光学显微镜或反射式光学显微镜相结合。SAM Premium系列所使用的技术是以融合了生产和研究技术的核心平台为基础。SAM Premium系列旗下各个系统均具有高产量、高灵活性和宽广的扫描范围等特性。此外，各系统还可以根据客户的要求进行扩展，并用于多样化的应用。2.产品优势：高频和换能器技术：高频和换能器技术可支持各类特定研究和工业应用，其中高频范围可高达400 MHz，并提供5 MHz和400 MHz之间的可选择频率范围。此外，每个换能器都配备了门的自动对焦功能。其特征在于，该系统可通过特殊的音爆高频单元升到1000MHz的声学成像。一直以来，PVA TePla致力于为企业客户及科研单位提供无损检测设备，满足客户要求。目，我们的SAM系列应用于工业域及多个高科技行业，如半导体行业、电子/电气行业等等。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可以单独自定义，可选择以下扫描范围配置: 250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到502mm x 502mm如HiSA（高速扫描轴）、或动态穿透式扫描等，可实现高性能扫描成像结果。HiSA（高速扫描轴）跟随样品弓形，具有动态聚焦功能。动态穿透式扫描可在25MHz至100MHz的频率范围内使用。

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-LSTM超声波扫描模式：A-Scan(点扫描)、B-Scan(截面扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、T-Scan (穿透式扫描)、Tray-Scan(盘扫描)、Jump-Scan(跳跃扫描)、HTS(高速扫描),TAMI-Scan(断层显微成象扫描)最大分辨率：10000X10000像素最大扫描区域：350mmX350mm最高扫描速度、加速度：1000mm/s，10000mm/s2超声波探头频率 ：10-300MHz设备尺寸 ：W 31" x D 31" x H 48"

仪器简介：活体样本 ASOM中的快速扫描镜代替了许多显微镜应用中用到的传统扫描环节。由于不需要移动样品，在利用ASOM技术进行活体样本成像时，可以在检测的环境中植入传感器或控制器。ASOM同时还消除了机械平台的移动，而这种移动会限制扫描速度，并会引发许多活体样品使用的液体和粘滞介质产生破裂性振动[2]。由于图像到图像之间的移动时间小于5ms，使ASOM的移动速度可以达到机械移动显微镜的100倍，并且使用高速CCD相机 可以使合成图像的帧传输速率达到100帧/秒。高扫描速率的潜在应用包括毒品检测和大规模筛选等。 最初为望远镜开发的技术大大提高了显微镜的性能，使之具有微米级的分辨率和更广的有效视场。 光学系统设计者们越来越多地使用主动元件，推动着光机电一体化领域的持续快速发展。主动元件包括转换器和传感器、主动和自适应光学元件，以及实时微处理控制器等。这种高动态光学仪器的性能和应用潜力，甚至远远超出了仅由静态光学元件构成的仪器的理论极限。 就自适应光学而言，天文学是其发展的最初推动力，1953年Horace Babcock建议采用主动光学补偿来解决穿过大气成像的内在挑战[1]。不同密度的大气层之间的湍流会产生动态的折射率梯度和随时间变化的入射光光程。如果不采取任何校正措施，在电磁波的波前上产生的振幅和相位畸变就会导致在形成的图像上产生闪烁的亮区或暗区，这严重地限制了地基望远镜的角分辨率。尽管Babcock建议的在一个带静电电荷的镜面上涂上一层油来改变局部油层厚度的方法从来没有实现过，但他的基本设计思想在现今的许多自适应光学应用中仍在使用。目前，可由计算机控制表面面形的变形镜被普遍用于校正由大气湍流引起的波前畸变。 由Ben Potsaid 和Scott Barry领导的Thorlabs/RPI研究小组设计并构建的ASOM系统包含Nova Phase公司生产的定制扫描透镜组、一个定制的高速转向镜（该转向镜是Boston Micromachines公司生产的有140个静电控制器的MEMS变形镜）和一个Thorlabs公司的CCD相机。 20世纪60年代，自适应光学的早期发展是由国防工业资助的，然而直到80年代，自适应光学才因为改善了地基望远镜的性能而在天文学领域找到了用武之地。自适应光学中最基本的设计包括利用波前传感器（Shack-Hartmann干涉仪或可变剪切干涉仪）进行波前的实时测量和波前校正（变形镜和液晶空间光调制器）。结合以前发展的技术，目前自适应光学的应用已经扩展到其他领域。主要特点：2005年，伦瑟勒理工学院自动控制技术和系统中心（CATS）的Ben Potsaid、John Wen和Yves Bellouard开发了一种自适应扫描光学显微镜（ASOM），它基于MEMS变形镜来校正物镜的离轴波前像差。 成像镜扫描透镜的输入通光孔就可获得扩大的视场，其潜在的应用包括跟踪移动的样品，以及对突发事件成像。 这种新型的显微镜设计，配合高速物镜后振镜式扫描镜、空间光调制器和扫描透镜，就会产生具有微米级分辨率和较大有效视场的图像，因而提供了一种相对经济的办法来获得高质量图像，而传统上这只能通过很高分辨率的显微镜才能实现。在后来由Thorlabs/RPI小组设计的ASOM中，总的合成视场超过1250 mm2，分辨率为1.5祄 在ASOM系统中设计一个远心扫描透镜用于获得具有40mm视场的有限共轭像。透镜组由七个光学元件组成，后向焦距为19mm，数值孔径为0.20。一个定制的75mm快速MEMS转向镜在3.3mm2的通光孔上分布着140个静电控制器。科学级CCD相机具有1024 768个像素，栅距为4.7祄。 传统的显微镜由于物镜的限制，其视场相对较小。为了得到大尺寸样品的高分辨率图像，物镜就必须对样品进行扫描（或者移动显微镜，或者移动样品）。在ASOM中，其扫描机制是一个质量较轻的高速转向镜，它可以通过物镜扫描整个视场。 在这种结构中，离轴光线经过物镜后会发生显著的波前畸变，一般情况下会导致图像模糊，但是通过利用一个可实时控制的变形镜，系统会补偿波前畸变，因而能得到具有均匀分辨率的衍射图像。对样品扫描后再进行图像重构就会得到放大的视场。这在生物领域是非常有用的，因为在生物应用中常常需要获得细胞级的分辨率（约为1祄），同时还需要保持一个大的视场在厘米尺度上监测总的解剖信息，或者观测那些可能&ldquo 游到&rdquo 视场外的活生物体

超声波扫描显微镜品牌：JIONSUN型号：UTScan400产品简介：扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能。因此，被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。应用领域：■ 半导体器件及封装检测：分立器件（IGBT/SiC）、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。■ 材料检测：陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。■ IGBT功率模组产品检测：实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测，在进行功率循环后，通过SAM测试，准确找到 IGBT 模块材料、焊料层，打线等工艺中出现的问题，筛选不合格产品，并促进 IGBT 模块的封装质量提升。

泽攸科技 自主研发的台式扫描电子显微镜来了，众所周知以前购买台式扫描电子显微镜，都是向国外采购，现在不同了，我们国家越来越强大，科研力量越来越强，我们有能力自己研发国产台式扫描电子显微镜，我们有很强的研发团队做支撑，只要你需要我们都能够实现。ZEM台式扫描电子显微镜已服务各大高校，下面给大家看看ZEM15台式扫描电子显微镜产品及参数安徽泽攸科技有限公司是台式扫描电子显微镜生产厂家，关于台式扫描电子显微镜价格请联系(微信同号)原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

高速扫描电子显微镜HEM6000是一款先进的分析仪器，它结合了高速扫描技术和高分辨率成像能力，为用户提供了一个强大的工具来观察和分析各种样品的微观结构。该产品采用了最新的电子光学系统，能够实现纳米级别的表面分析，适用于材料科学、生物学、半导体工业等多个领域的研究和质量控制。HEM6000具备以下特点：1. 高速扫描：采用最新的扫描技术，能够快速完成大面积样品的扫描，大幅提高工作效率。2. 高分辨率：提供卓越的图像分辨率，即使在高倍放大下也能清晰地观察样品的细节。3. 易于操作：配备直观的用户界面和自动化功能，使得操作简便，即使是初学者也能快速上手。4. 多功能应用：适用于多种样品类型，包括但不限于金属、陶瓷、聚合物、生物组织等。5. 高性能数据处理：内置先进的数据处理软件，能够对扫描结果进行快速分析和处理。6. 稳定可靠：采用高稳定性的设计，确保长时间运行的可靠性。HEM6000电子显微镜是科研人员和工程师在材料分析、质量检测等领域不可或缺的高端设备。当然，以下是对HEM6000产品介绍的进一步扩展：7. **卓越的能谱分析能力**：HEM6000不仅提供出色的形貌成像，还集成了能谱分析（EDS）功能，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分及分布的分析。这为用户提供了更全面的样品信息，助力深入研究和理解材料的微观结构与性能之间的关系。8. **高级样品台设计**：为了满足不同样品的观察需求，HEM6000配备了高级样品台，支持五轴精密移动和倾斜，以及多种样品夹持方式。这种设计使得用户可以灵活调整样品位置，轻松捕捉到感兴趣区域的最佳图像。9. **环境扫描功能**（如适用）：部分HEM6000型号可能还具备环境扫描功能，允许在接近大气压或特定气体环境下对样品进行观察。这对于需要保持样品原始状态或进行原位反应观察的研究尤为重要。10. **远程控制与协作**：HEM6000支持远程控制和数据共享功能，用户可以通过网络连接，远程操作显微镜并实时查看图像数据。这不仅提高了设备的利用率，还促进了科研团队之间的协作与交流。11. **定制化解决方案**：金山办公与合作伙伴致力于为用户提供定制化的解决方案。根据用户的具体需求，我们可以对HEM6000进行个性化配置，包括但不限于软件升级、附件添加、特殊样品台设计等，以确保设备能够最大限度地满足用户的科研需求。12. **完善的售后服务**：我们提供全面的售后服务支持，包括设备安装调试、操作培训、定期维护以及快速响应的技术支持等。我们致力于确保用户在使用HEM6000过程中得到最佳的支持和体验。综上所述，高速扫描电子显微镜HEM6000是一款集高性能、多功能性、易用性和可靠性于一身的先进分析仪器。它将在科研和工业领域发挥重要作用，助力用户探索微观世界的奥秘并推动科技进步。

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

低温超高真空扫描隧道显微镜STM（Ultrascan LT-100）扫描探针显微镜（STM）为代表的超高真空设备广泛应用于科学研究中，主要进行对表面有关或者在表面发生的所有物理化学现象进行原子尺度的研究。卓聚创新研发的超高真空低温（4K）STM系统包含关键技术如压电陶瓷步进马达、低温STM探头、超真空液氦双层杜瓦等。 应用案例检测样品表面形貌,成功获取原子级分辨率选取B级高定向热解石墨为样品，常温常压下，本底噪音低于500pA。可以清晰地得到石墨表面的台阶和有序排列的碳原子。低温超高真空扫描隧道显微镜STM参数探头类型潘式6足压电陶瓷结构，以惯性滑移的方式进行粗逼近压电陶瓷团队自研的低温技术，在4K下仍可达成快速逼近，典型粗逼近耗时10min真空度快速进样室 1.5×10 -4mbar制备室 3.0×10 -10mbar分析室 3.0×10 -10mabr扫描范围室温5×5μm77K1×1μm4K0.6×0.6μm分辨率横向0.1?纵向0.01?热漂移率常规0.2pm/h优化后0.1pm/h系统噪音水平电子学噪音 500fA机械噪音 2pm针尖 – 样本样本针尖可随时更换，间距可调范围达10mm，方便进行原位的蒸发或者增加其他的特殊功能机构 研发推出的超高真空低温扫描探针显微镜系列产品，除了高性能STM、调频AFM、TERS等设备外，还可将核心部件模块化，集成化，针对科研用户，定制开发所需功能和设备。目前国内此领域尚无成型商业产品，研发团队形成品牌的形象，在行业内具有很强的竞争力，是应用于科研前沿材料的表征。 以上就是东莞市卓聚科技有限公司提供的低温超高真空扫描隧道显微镜STM的介绍，了解更多直接咨询：原文： 随着微电子、纳米科技和人工智能等领域的进一步发展，精密定位不仅在实验室用途广泛，工业界的应用也越来越多。该团队在以往研究基础上，发展出一系列具有自主知识产权的超精密定位产品，填补了国产空白。一个火柴盒大小、外壳包覆金属的小方块，通过电压控制能够实现纳米级别的精密位移，可以用于对精密度要求超.高的科学实验、精密制造和半导体工业等领域。日前，在松山湖材料实验室高.端科研设备产业化团队的实验室内，团队负责人许智展示了该团队拥有核心技术的压电驱动纳米位移台。

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

一、产品概述：扫描隧道显微镜（STM）是一种高分辨率的表面分析工具，能够以原子级别观察和操纵材料表面的结构和电子特性。该仪器利用量子隧穿效应，通过探针与样品表面之间的电流变化实现高精度成像，广泛应用于纳米技术、材料科学和表面物理等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描隧道显微镜主要用于研究材料表面形貌、电子性质和原子结构。工程师和科学家可以利用该仪器进行纳米级别的表面分析、缺陷检测和材料特性评估，以推动新材料的开发和应用。工作原理扫描隧道显微镜通过将一个极细的探针靠近样品表面，利用量子隧穿效应来测量探针与样品之间的电流。探针在样品表面上进行扫描时，仪器实时记录电流的变化，从而生成表面的三维图像。通过调节探针与样品之间的距离，STM能够获得高分辨率的表面结构信息，甚至可以操控单个原子，实现精细的纳米操作和研究。三、主要技术指标：1. 自 1996 年推出以来，我们的低温 STM 已经为 LHE4 浴室冷冻器 STM 的稳定性、性能和生产率设定了标准。 在推出 LT STM 超过 20 年之后，低温 SPM 技术在广泛的活跃科学域的重要性仍然没有突破。2. 分子光谱学、原子操纵、碳、超导体、半导体、金属上的气体和磁性学，只是研究充分利用低温 SPM 的几个例子。 在所有这些域，我们的 LT STM 出版物比所有其他商业低温 SPM 的合并要多。3. 近年来，这些出版物突出了 LT STM 提供的行业先 QPlus® AFM 性能。 随着我们继续推出新的 STM 平台表格，Scienta Omicron 也很高兴地宣布推出新的第三代仪器，进一步提高了 LT STM 的性能和生产力。4. 第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。 这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。 新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 LT STM 始终提供的稳定性。

InspectTM系列满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准确、快速的数据收集：将表面形貌和成分图像与快速元素分析结合，确定材料特性及其化学元素组成。在众多领域，高分辨率和高电流 FEG 扫描电镜的价值在于有助应对生成高品质图像和实施快速分析的挑战。Inspect系列是这些基础研究应用领域主流而灵活的解决方案。用户界面简单、易学且灵活，足以应对复杂环境内不同项目个别研究需求不同的挑战。例如，标准导航功能包括样品台移动双击控制和拖放变焦。SmartSCANTM技术采用针对困难样品的智能扫描策略，可减少噪声，提供zui优质的数据。该仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正超越仅有“易用性”的产品。许多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可实现特定的表征。诸如射束减速等新功能可将传统 FEG 扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。Nav-Cam&trade 彩色图像导航和新探测器令 InspectTM系列 具备更大的灵活性。更优质的数据、更大的灵活性、更高的效率，InspectTM 可实现快速简单的操作，迅速获知答案，实现投资价值。

同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）具有很高的分辨率，实用性强，从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置，仪器成本合理，适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统，测量准确性，而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时，从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品，都可进行实验操作，且获得原子级分辨率，测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件；替换探针或样品等操作简便易行；集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统，可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计，包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台，超低噪音电子器件，都做了优化，具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置，对样品均可准确测量，高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面，包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件，都做了优化，得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，达到对尺寸均可准确测量，而不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像，并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外，闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描，而不用更换扫描器，且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转，图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用：您的应用是什么—Innova都已准备好：• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征

WITec alpha 300S独特的悬臂式扫描近场光学显微镜alpha 300S一款操作简易的扫描近场光学显微镜（SNOM），采用独特设备的中空悬臂式近场探针实现超越衍射极限的光学分辨率。alpha 300S系统也具备优越的兼容性和扩展性，可与共聚焦光学/拉面显微镜及原子力显微镜集成在同一台仪器上，仅需旋转物镜转轮即可实现不同模式切换。WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。 由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。 关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM技术参数：1）工作模式：近场显微镜，共聚焦显微镜，原子力显微镜三种工作模式； 2）近场光学显微镜分辨率：为50nm 3) 共聚焦拉曼显微镜分辨率：200nm 4) 扫描台扫描范围：100 x 100 x 20 μm 5）探测器：光电倍增管（PMT）或雪崩二极管（APD）