四探针方阻仪原理

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四探针方阻仪原理相关的仪器

  • 四探针 方阻仪 方阻计 400-827-5552
    FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针
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    厂商： 宁波瑞柯微智能科技有限公司
    品牌： 瑞柯/ROOKO
    型号： FT-331
    价格： 5001 - 9999元
  • 四探针方阻测试仪 400-827-5552
    四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针
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    厂商： 宁波瑞柯微智能科技有限公司
    品牌： 瑞柯/ROOKO
    型号： FT-334
    价格： 7648元
  • 四探针方阻电阻率测试仪 400-860-5168转4249
    LST-331四探针方阻电阻率测试仪 一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四、.型号及参数 规格型modelLST-3311.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度≤0.3%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 五、标准配置外订购明细：序号型号品名单位数量备注1340-CSX测试线套1209A标准电阻个1-5选购规格和数量306A四探针测试平台套1含探头1个406B四探针探头个1方型或直线型选购5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组7340-RJ分析软件套18PC电脑+打印机套1依据客户要求配置9300-JL检测技术服务份1计量证书1份10WDCGQ温度传感器套1常温-125度331-YB延保服务 年1-3
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    厂商： 北京中航鼎力仪器设备有限公司
    品牌： 中航鼎力/zhonghangdingli
    型号： LST-331系列
    价格： 2.2万元
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  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

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四探针方阻仪原理相关的耗材

  • 四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂；晶圆 ITO薄膜电阻探头
    四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件，我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上，稳定性和一致性十分优秀；无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌，打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数： A，探头主体材料及外形尺寸 B，针尖半径 C，针头的间隔 D，针头的负载 E，针头排列，线型，或者正方形。 F，连接方式： 连接器，或导线联接及长度主要的应用领域： 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。
    供应商： 中山市新微细线电子有限公司
    品牌： Anasys
    价格： 面议
  • 全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针
    全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年，公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂，在AFM、纳米级、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外，我们还与著名高校：University of Tampere (UTA)，école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)许多领先的研究团队合作，密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥，两个可变电阻在悬臂上，两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号，从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上，带有一个小的连接器，用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针，用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。常规自感应悬臂梁探针（针尖材质Si）Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的尖端，尖端半径小于15纳米。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active)和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing)型号列表：PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。共同特点Common针尖锐度Silicon tip radius (rtip)长宽Cantilever length, width (l/w)l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHPPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针尖锐度Silicon tip radius(rtip)长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m自感应悬臂梁（不含针）Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂，没有探针针尖，可将自己设计制造的针尖粘在其上或者直接粘上样品，满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量，以及更多的应用。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active)和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing)型号列表：PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。共同特点Common长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHPPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/mPRS-L450-F30-TL-PCB/CHPPRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m自感应基础套件（DYI必备）Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测，无法直接用于普通AFM设备里，需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置，可以立即开始使用自感应悬臂（探针）。自感应基础套件包含以下内容： ★ 低噪声悬臂信号前置放大器（下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备（锁定放大器，AFM控制器等）的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂（4)
    供应商： QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司
    品牌： SCL
    价格： ￥1000
  • 通用型四探针探测仪
    主要特征：由于下降速度的控制可高度重复针头的接触条件，可在控制器上单独控制针尖压力。运动针制导系统使用精密红宝石球探针和抛光碳化钨实心针，具有精确的圆角针间距精度±0.01mm，无侧隙。探针在原位制导设备中进行更改和改变，不用担心乱序或者精度值下降，或在指导单位下完成探针的更换。千分尺控制片位移来测定余斜面片的电阻率梯度和连接点钢铰链式盖板，在测量过程中消除光电干扰。速度控制：空气阻尼器控制探针下降速度，从而保证了每次探针测量的接触条件相同。弹簧是用于升降杆，倾向于降低针头。该阻尼器与杆相连接，导致杆被活塞延缓升降速度。技术指标探针材质碳化钨，Φ=0.5mm，L=26mm，450夹角，针尖曲率R=25μm（大到500μm）探针间距1.00mm，1.27mm，1.59mm，公差±0.01mm行程4mm针尖绝缘电阻500V时，2*105Ω针尖压力0~100g（通过特别的张力计可调）待测样品薄片，Φ≤76mm安装表球轴承坐标表0~25mm*0.01mm螺纹千分尺（其他可供预定）带有旋转工作台Φ=76mm，H=14mm真空切片适配器包装尺寸480mm*320mm*320mm（H）净重7kg毛重9kg
    供应商： 上海瞬渺光电技术有限公司
    品牌： jandel
    价格： 面议
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  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述：四点探针法，全自动化运行测量系统，PC软件采集和数据处理；参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择；真空环境，可显示：方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等；半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数： 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5～2×10^5Ω10^-6～2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5～2×10^5Ω/□10^-6～2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm10-7～2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA， 10mA，100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围：探针压力可调范围：软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%圆头铜镀金材质，探针间距1mm；2mm；3mm选配，其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性：重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：100W 16.选购项目电脑和打印机创新点：仪器采用全自动操作，抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
    时间： 2020-11-20
    作者： 新品发布
  • 化学所在新型细胞原位荧光探针研究中取得进展
    荧光探针具有敏感性高、选择性好、响应时间短、易于直接观测、便于实时监测等优点，可以在一些特殊的应用体系和生物活性物质的检测等方面发挥重要作用，其基础研究和应用开发受到了广泛关注，特别是新原理的开发和新型探针材料的设计、合成，成为了近年来光功能材料的研究热点之一。　　在科技部、国家自然科学基金委和中国科学院的支持下，中国科学院化学研究所光化学院重点实验室的课题组多年来致力于荧光传感材料的设计合成及其新型器件的研究，他们设计、合成了一系列高效的新型荧光探针分子，包括ESIPT类化合物、分子内电荷转移化合物和一类新型的三芳基硼类发光分子，并应用于纯水体系中氟离子和汞离子的检测(Angew. Chem. Int. Ed. 2010, 49 (29), 4915-4918， Anal. Chem. 2013, 85 (8), 4113-4119.)、宽范围温度的检测等领域(Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50 (35), 8072-8076 Adv. Funct. Mater. 2013, 23 (3), 340-345 Chem. Comm. 2014, 50, 2778-2780.)和细胞内的pH值检测等(Chem. Comm. 2014，50, 8787&mdash 8790)。　　最近，在前期对三芳基硼化合物的特性研究基础上，研究人员通过分子设计，合成了一种含有咪唑盐和醚链的水溶性三芳基硼化合物。该化合物遇ATP后可发生有限的聚集，导致三芳基硼基团周围的环境极性发生显著降低，使三芳基硼的荧光大大增强。该化合物对ATP选择性好、细胞毒性小、渗透细胞膜能力强，并且在细胞内的分散性好，因此可作为活细胞内的ATP探针，对ATP的分布及示踪开展研究。通过荧光显微成像及荧光寿命显微成像等技术，研究人员利用该荧光探针研究了NIH/3T3细胞中ATP的分布及浓度。相关研究结果发表于近期的《德国应用化学》(Angew. Chem. Int. Ed. 2014, 53 (30), 7809-7813.)。　　图1 利用荧光探针进行ATP 检测原理示意图　　图2 共聚焦显微荧光成像，检测细胞内ATP的分布
    时间： 2014-09-22
    作者： 丰收秋天
  • 扫描探针显微镜系统的系列创新——访朱良漪分析仪器青年创新奖获得者郇庆
    p　　2018年8月8日，由中国仪器仪表学会分析仪器分会、长三角科学仪器产业技术创新战略联盟主办的“第五届中国分析仪器学术年会”(ACAIC 2018)在苏州召开。主办方于当晚颁发2018年“朱良漪分析仪器创新奖”，中国科学院物理研究所郇庆博士荣获“青年创新奖”。仪器信息网于次日采访了郇庆博士，介绍其在扫描探针显微镜研制及产业化的创新成果。/pp　　“朱良漪分析仪器青年创新奖”评审组认为：郇庆在超高真空高精尖仪器的研发方向做出了国际前沿水平的工作。从科学研究读对高精尖科学仪器的需求出发，针对进口科研仪器性能上的不完全匹配，通过一系列核心原理及器件的创新，不仅研制了高性能的仪器并在多家科研单位推广，且以仪器为依托支撑了高水平科研成果的产出。/pp　　团队在高精尖仪器的研发上取得了多项成就，如对扫描探针显微镜成套系统进行改进和研制，研发了电子束加热蒸发源在内的多项关键部件，扩展了分子束外延联合系统的等。据了解，中科院物理研究所今年也将成立专门的高新技术企业，将以更商业化的模式来推广这些研究成果。/pp　　更多详情，点击视频查看：/pscript src="https://p.bokecc.com/player?vid=1C812ECDD29A59529C33DC5901307461&siteid=D9180EE599D5BD46&autoStart=false&width=600&height=490&playerid=2BE2CA2D6C183770&playertype=1" type="text/javascript"/scriptpbr//p
    时间： 2018-08-24
    作者： weidy
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