发热的分度及标准

TUV 南德意志集团联手CQC华南实验室举办 EN60335-2-9/A13:2010新标准研讨会 　　中山2011年9月21日电 /美通社亚洲/ -- 近日，TUV 南德意志集团南中国区联合 CQC 华南实验室在中山家电创新中心举办了关于“EN60335-2-9/A13:2010发热类产品新标准要点及解决方案”研讨会。格力、美的、雅乐思、汉威泰等100多名企业代表参加了本次研讨会。此次研讨会旨在帮助中国企业了解发热类产品的最新标准，共同关注技术更新趋势，推动产业升级。　　 研讨会现场 　　日前，欧洲电工技术标准化委员会(CENELEC)正式发布了家用烧烤类器具 EN 60335-2-9标准的A13增补件，该增补件要求从今年10月1日起在欧盟各成员国开始实施，过渡期到2013-10-01。从新增补件的要求变化上来看，新标准 A13与旧标准 A12的区别主要体现在：对警告标志和说明书的要求描述进行了细化 在电击和运动部件防护方面，增加了新试验值的要求 大范围地改变了对温升测试的要求，如在特定的试验中增加了对于三明治炉、烤面包机和烘烤器等器具的表面温升要求，同时还大范围地提高了测试部件的温升限值要求。 　　近年来，欧盟关于烧烤类器具产品的相关技术性贸易措施日益严格。2007年，欧盟出台的 EN 60335-2-9标准的 A12增补件一度使相关企业的出口产品受到一定程度的影响，A13增补件这一新的措施的出台又将使相关出口企业面临新的考验。为了符合新标准的要求，绝大部分的产品需要更改原有的结构，这将会造成生产成本的大幅增加。对此，TUV SUD 南中国区小家电部刘先生表示，“新标准的实施，对生产此类产品的企业无疑是一次严苛的考验。TUV SUD 作为权威检测认证机构，希望通过 TUV SUD 先进的德国技术、专业及高效的全球一站式服务帮助外贸企业优势与企业共度难关，提高企业在全球产业链中的竞争力。” 　　此次 TUV SUD 南中国区与 CQC 华南实验室在珠三角地区首次就电器类产品为主题举办研讨会。通过此次研讨会为众多客户提供了相互交流，探讨技术的平台。参加的企业代表们表示希望今后能多举办这类技术型讲座，为企业的技术水平创新提供可操作性的指导建议，帮助企业提升整体技术水平，提高出口产品的国际竞争力。

评 测 电 子 产 品 的 发 热 电子产品因技术发展，复杂的功能和缩小的体积对产品的散热及系统可靠性提 出了更高的要求，本文介绍使用红外热像仪快速拍摄电子产品表面的温度分布， 并通过软件对检测区域进行温度分析，直观、准确地反映出产品的发热状态和散 热效果，为产品的质量保证提供科学的依据。特别说明：本文以笔记本电脑和手机为例，介绍使用Fluke红外热像仪对产品的发热情况进行的案例，文中检测的 各型电子产品，仅显示在不同状态下的温度数据，而不对其性能及其他方面做出评论。案例一：三款智能手机的发热测试，HTC新渴望V(左)、小米（中）、 华为Honor(右) 刚开机时，室内温度在27.6℃左右，各款手机机身平均温度均在29.4℃，随后运行同一个电影文件，音量均为75%。 测试10分钟时的发热 测试30分钟时的发热 电子产品为什么需要进行温度测评？ 目前电子产品的主要失效形式就是热失效。据统计，电子设备失效有55%是温度超过规定值引起，随着温度增加，电子设备 失效率呈指数增长。一般电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感，器件温度在70-80℃水平上每增加1℃ ，可靠性会下降 5%；现在日常使用的手机、平板电脑、笔记本电脑等产品均有可能因整体温度过高而影响正常运行。 手机运行同一款游戏：水果忍者，为避免人体对手机温度的影 响，将手机置于桌面，仅用操作的手指接触手机屏幕，右图为 连续使用12分钟后的各型发热情况。在电子产品发热测评中原先使用什么仪器？ 对电子产品的发热测评一般使用温度数据采集器。 使用温度数据采集器进行检测有什么缺点，热像仪的优势在哪里？ 温度数据采集器在评测中进行温度探头的布点检测，但该方法存在布点效率低、无法检测整体的温度分布、温度反应慢 等缺点，容易造成高温部分的漏检；而使用红外热像仪可以瞬间拍摄电子产品表面的整体温度分布热像图，在软件中对 检测的产品进行温度分析、比对，各部位的发热均一目了然。 案例二：ThinkPad X1 Carbon笔记本电脑温度检测 开机状态持续10分钟 浏览网页半小时 观看高清电影半小时 操作区：控制在40℃以内 控制在40℃以内 最高温度不超42℃ 机身底部：比操作区温度略低 升温较快，最高达到43.8℃ 平均温度稍高，最高温度不超过42℃使用红外热像仪检测电子产品发热的注意事项1. 注意不同材料的发射率，特别是金属材质外壳的电子产品，必要时建议使用在外壳上涂漆、贴胶带、涂导热硅脂等 提高发射率的手段； 2. 光亮的塑料外壳也会反射照明光源、检测人员及其他热源的辐射能量，检测时尽量垂直，最好将热像仪至被测目标 间的光路进行遮挡； 3. 部分电子产品的发热不明显（特别在刚开机的情况下)，建议将“范围”调整为“手动”，按照目标的温度分布进行 设置。 4. 在0.15米至0.46米之间进行拍摄，红外和可见光图并不能完全融合，在SmartView软件中进行可见光标注时请注意位 置误差，必要时进行位置调整。 行业应用 各大、中型电子产品制造企业（如家电、数码产品、小家电等），使用部位为研发部及品质管理部。

英斯特朗，全球领先的材料和构件物性测试试验机制造商近期宣布，旗下最新研发的试样自行发热控制模块（Specimen Self-Heating Control 简称SSHC）将被添加到具有广泛用途的Instron ® WaveMatrix&trade 软件包中以对聚合物和复合材料进行动态疲劳测试。它可以把试样的温度保持在一个极小的变动区间内以助于在质量控制测试实验室以及开发和优化复合配方的过程中节省时间、成本和精力。 在循环加载或高温情况下，聚合物和复合材料会显著地产生自行发热效应，因此疲劳试验通常是在相对较低的频率下进行。试样自行发热控制（SSHC）扩展模块利用试样连续记录温度和预先指定的温度目标以最大限度地提高在一个闭环测试中的频率。对于用比较小的载荷加载，所预期的循环到断裂数值大，该系统可以运行在一个较高的频率上以大大减少测试时间。对于大载荷加载，即使在测试后段也能保持一致的试样温度，但以往情况下，自热效应在固定的测试频率中会导致试验温度显著升高。 Peter Bailey博士，英斯特朗英国动态测试系统专家说到：&ldquo 对于复合材料结构，一个5 摄氏度的温度转变通常会比测试频率变化二倍产生的影响还要大，因此严格控制试样温度的好处远远超过在测试频率中的变化。试样自行发热控制允许测试始终运行在最高频率，同时尽可能保持样品温度恒定。通过这种方式，我们可以通过提高产量和最小的能源消耗来提供优化的成本效益。此外，对于以前试验温度无法达到一致的情况，此方法可以为聚合物和复合材料提供更好的一致性。 此温度信号可以通过任何标准的传感器系统提供，例如：通过USB热电偶集成和任何0-10 Volt模拟输入，包括红外传感器。用户指定的温度窗口可以达到的公差的仅有± 0.5 C。试样自行发热控制功能适用于任何只要可以安装试样温度传感器的几何形状测试，并且也兼容高低温试验箱测试。 最后，试样自行加热控制（SSHC）扩展模块可以适用于所有英斯特朗动态测试系统并提供安装8800数字控制器，同时还支持最新版本的WaveMatrix&trade 软件。 值得期待的是，10月16日-18日期间，来自英斯特朗的动态测试系统专家Peter Bailey博士将亲临北京中国国际展览中心（新馆），2013北京国际风能大会暨展览会（英斯特朗 E140号展台）上，为中国用户带来更多英斯特朗在复合材料方面的最新研究成果和介绍，欢迎莅临现场沟通和交流。 Instron ® WaveMatrix&trade 软件