反射式膜厚仪原理

反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

透射反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口，可实时监控实验室，实验工厂和全自动的工艺控制。产品应用：实时反应监测 / 实验在线分析（PAT）/ 结晶过程的监测 / 特性分析 / 生物制药分析 / 生物燃料的开发与生产产品特点：* 在液体中长距离传输在线光谱；* 紫外、可见至中红外光谱透过率高；* 恶劣工业环境工作稳定；* 使用光谱仪/自动化控制接口兼容产品示意图：产品技术参数：UV-Vis石英红外 Vis-NIR硫系玻璃CIR间隙直径,mm2 5 10 20 2 5 10 2 5 10 2 5 10 0.05 – 2.0 温度范围≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm 探头类型透射半透反射式光谱范围,μm0,2 – 1,3 0,4 – 2,2 0,2 -1,30,4 – 2,2 1,6 – 5,5 光纤类型石英紫外 UV-Vis石英红外 Vis-NIR石英紫外 130 mm总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *轴长230mm (其它选项: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护管材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA FC/PC ST兼容工艺接口Ceramat-FOS或SensoGate-FOS*直径可以根据客户要求定制

气室透反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 系列包括可以用于任何光谱仪、光度计的新一代传输红外光纤探头。气体传输光纤探头的设计是基于一个分叉的光纤束。由于气体的准直光束设计，使得双通低的中红外衰减（或多通）气室需要增加光路长度10–40cm。本设计是由准直物镜和反射镜单元的平均来实现的。产品应用： 实时反应监测 / 特性分析 / 废气监测 / 溶剂蒸发监测 / 相关石油气监测产品特点：* 在液体中在线传输光谱；* 近红外/中红外光谱段透过率高；* 灵活稳定的工业应用；* 兼容各种光谱仪产品技术参数：探针类型双通道气相传输传输范围0,5 – 2,2μm1,6 – 5,5μm3 – 18μm光纤类型SiO2硫化物光纤CIR银化物光纤PIR温度范围-50°C +200°C-50°C +90°C-50°C +140°C灵敏度1ppm根据不同的光路，光谱仪性能，测试气体总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *传输长度100mm (其它选项: 5 – 200mm) *传输直径25mm轴材料不锈钢, Hastelloy C22保护套材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA **直径可以根据客户要求定制

反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块，LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

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ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

NIRS 金反射器，2 mm 总层厚订货号: 6.7420.010对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

尺寸100mmx152mm(4inx6in)；设计遵循ISO-16067-1标准。测试卡包括兰多尔特环，字母数字分辨率和倾斜的侧图；灰阶补丁、水平，垂直和倾斜郎奇模块（6-40c/mm），再加上应用T-100数字电子像素的目标。外形尺寸：152.4x152.4mm（6x6"）Size 100mm x 152mm (4in x 6in) Designed to ISO-16067-1 specifications. Includes Landolt Ring, alphanumeric resolution and slant edge charts gray step patches, horizontal, vertical and slanted ronchi patterns (6 - 40 c/mm) plus the APPLIED T-100 Digital Electronic Pixel target.Overall Size: 152.4 x 152.4 mm (6 x 6in)1、厂家货源正品 官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码 机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。3、关于颜色 本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。 4、关于客服 可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时，也可以拨打我们的热线电话 陈工：13310057372（技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后 我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

NIRS 金反射器，1 mm 总层厚订货号: 6.7420.000对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

NIRS 金反射器，4 mm 总层厚订货号: 6.7420.020对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

NIRS 金反射器，4 mm 总层厚NIRS gold diffuse reflector, 4 mm total pathlength订货号：6.7420.020对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：● NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）● NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）● NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

NIRS 金反射器，1 mm 总层厚NIRS gold diffuse reflector, 1 mm total pathlength订货号：6.7420.000对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：● NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）● NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）● NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

NIRS 金反射器，2 mm 总层厚NIRS gold diffuse reflector, 2 mm total pathlength订货号： 6.7420.010对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用：● NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）● NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）● NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数，镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式，控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量，特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡，从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大，反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料：熔炉石英，UVFS或BK7梯度反射率镜类型：平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径：19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度：6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度：&lambda /10高斯反射镜光洁度：20-10 scratch & dig变反射率镜平行度：10 arc sec梯度反射率镜净孔径：90%变反射率镜镀膜损伤阈值：10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务：请直接在如下的询问栏里填写您的要求，然后复制后Email给我们，您会收到及时的报价回复。 Material 材料 Dimensions, mm尺寸 Thickness, mm厚度 Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscus Radius of Curvature, mm 曲率半径 Center wavelength, nm 中心波长 Wedge 倒角 Ro, % 中心反射率 Wm, mm Gaussian order, k 高斯级数 Quantity

镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

型号规格：TL011-1000品牌：PIKE30度Spec&trade 镜反射附件适用于用镜反射法测量薄膜样品。样品仅简单地铺在附件样品罩上，即可快速得到红外光谱。30度角镜反射附件包括3/8",1/4"和3/16"样品罩。得到的高质量光谱即可用于分析涂层结构又可用于测量涂层厚度。光路设计简单有效，光通量大。通用型设计，可直接用于Bruker、thermo、PE、Varian、Shimadzu以及国产红外光谱仪上。

变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件，变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜，透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜，薄膜厚度测量，反射系数测量。实际应用决定入射角的选择，30度的入射角用于测量比较常见的样品，而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜，80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知，那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII，它的可变角度范围为30-85度，适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件，这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角，并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

双线激光反射镜又名双激光谱线反射镜,是英文Dual Laser Line reflecting mirrors 的翻译。双线激光反射镜用于在两个不同的波带上实现进行高反或高透应用，入射角一般为45度。百分之百进口，质优价廉。双激光谱线反射镜采用多层镀膜，当可以在两个激光波长上实现最高的激光反射率。双线激光反射镜采用了离子束溅射技术（Iom Beam Sputtering, IBS)或电子束蒸发技术进行镀膜，这些镀膜技术非常成熟，并且采用多层镀膜技术可以保证双线激光反射镜高功率应用。双激光谱线反射镜,Dual Laser Line reflecting mirrors 技术指标基片尺寸公差：+0/-0.1mm基片波前畸变：基片表面质量：20/10 SD 40/20SD(曲面）镀膜粘附性和耐久性：Per MIL-C-675A净孔径： 90%镀膜反射率：R99,5% @ 0o Rs99,3% and Rp98,5% @ 45deg激光损伤阈值:3-5J/cm2 for 10 ns pulses @1064nm进The measured transmission curve for dual wavelength HR coating (HR @ 515+1030 nm)双线激光反射镜,双激光谱线反射镜,Dual Laser Line reflecting mirrors 询问服务：请阁下根据如下格式选择和填写您需要的镜片和镀膜参数，然后复制后直接通过Email发送给我们，您会收到及时的报价回复。Substrate material 基片材料 Shape 基片形状RectangularRound 请选择圆形或方型Dimensions 尺寸mm 如果是圆形就填写直径大小Thickness 厚度mm Type 类型Plano-ConcavePlano-ConvexOtherFlat/Flat如果您选择曲面镜片，请填写曲率半径 eg ROC1=-50mm ROC2=+1000mmSurface figure L/4 L L/2 L/8Surface quality 20/1040/2060/40Parallelism error10arcsec1arcmin3arcminWedgeNo wedge30arcmin1deg2deg3degCentral wavelenghs: eg. 1064nm+532nm Angle of incidence (AOI)deg Comments

SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸：Φ 150mm×厚10mm高度：垂直可调高度80mm材质：铝合金表面处理：亚光发黑适配产品： QR系列反射光纤用途：专为反射光纤测量而设计，能有效固定光纤探头，防止因抖动等人为因素影响检测效果。

STD-M 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。复享科技的STD-M标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成，能够提供紫外-可见-近红外（200-2500 nm）宽光谱谱段大于95%的高反射率。高反射率表面复享标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。3、外壳铝材料，蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STD-M 标准反射镜反射率图谱更多信息访问：http://www.ideaoptics.com产品性能产品参数 项目 值波段：200-2500 nm外壳：镜面的熔融石英镀膜；高稳定性外壳铝材料；蓝色阳极氧化铝壳并拧上盖过为保护； 镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射，镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STD-M *STD-M铝膜由一层熔融石英镀膜保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面，以避免污染和破坏。清理 STD-M表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头 的表面。然后单向在镜面拖动，之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 *裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STD-M时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。更多促销信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=STD-M产品特点 1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦，耐高温，性能稳定，避免铝和空气氧化；2、高反射率铝镜； 直径： 内径30 mm，外径40 mm；重量：33.5 g反射率：250-800 nm，80%-90%；800-2500 nm，85%-98%；

30°镜面反射附件特点 30°固定入射角 便捷的水平样品台(20.8mm 小孔总直径) 适用于粉末样品 适用于色散光及高光强FT-IR 最小对齐网格30°镜面反射附件镜面反射是通过检测光滑或平坦样品表面类似镜面的反射光的一种无损分析技术。当入射光和反射光角度相同时认为是镜面反射。反射光强度和入射光角度、样品折射率、表面粗糙程度及样品吸光能力相关。固定角镜面反射附件P/N GS19820提供固定的30°角射向固体表面的入射光以得到任何平坦样品表面上的光谱信息。(此方法不能用于液体或凝胶的分析)固体样品由附件顶部的小孔加入。入射光由一片固定的镜片反射到样品表面，通过镜面反射到镜片上，最后到达检测器。使用参比镜片(推荐)收集参比光谱随后得到样品的光谱。我们提供两种不同直径的小孔塞(5/10mm)减小样品表面的研究面积。样品在小孔塞及样品室大小的限制下保持平整，适宜集中研究。应用： 表面涂层分析(光学高分子材料) 缺陷及杂质局部分析 易碎样品订购信息GS19820 30°角镜面反射附件包含以下配件：光学元件，镜面反射镜片，样品小孔塞(直径5/10mm)

一种可以改善您的分析应用的并可扩展的漫反射附件。 Selector 漫反射附件采用优化的偏轴光路，可以选择性地收集漫反射信号，而且漫反射信号最大化，而镜反射信号最小化。 为了便于样品研究，提供各种不同的样品杯，包括一个直径为11mm的样品杯、一个直径为4mm的微量样品杯以及一个斜杯。 如果需要，可以使用斜杯来收集所有的信号（包括漫反射和镜反射信号）。 另外，还有直径为12mm的摩擦垫，样品与摩擦垫摩擦，样品就分散在摩擦垫上，然后将摩擦垫放在样品架上，并放在Selector漫反射附件采样区域。 Selector根据光谱仪光束方向的不同，有不同光束方向相匹配的设计，并安装在相应的底板上。明确了要配套的光谱仪，Selector底板会随Selector漫反射附件一起提供。 The Environmental Chamber原位样池则使Selector漫反射部件得到更进一步的扩展。 特 点 具有漫反射和全反射功能 最小的校准工作量 简单的样品处理 备有大量杯、微量杯及斜杯 Diabraze摩擦垫上样 应 用 粉末样品 难处理的固体样品 可分散到KBr中的液体样品 适合光谱仪品牌型号 Analect FX6200, RFX40/65 Biorad FTS7,40,60,65,100,135,155,165,175,185,Excalibur Bomem M100 series (110,120) Bomem MB100 series (155,157) Bruker IFS25, 45, 55, 48, 66, 85, 88, Vector 22 Bruker IFS113 Jasco (All Jasco models) Jeol (All Jeol models) Mattson Alpha, Polaris, Cygnus, Sirius Mattson Galaxy Series 1000, 1020 (As Unicam Analytical (Philips) 9600) Mattson Galaxy Series 2000, 3000, 4000, 5000, 6000, 7000, Genesis Series, RS, Infinity Mattson 8000(Old) (3&rdquo beam height) Mattson 8000(New) (3.5&rdquo beam height) Midac (All Midac models) Nicolet 500, 700, 710, 740, 800, 5PC, 5SXC, Magna, Protege, Avatar, Nexus Nicolet 6000, 60DX, 60SX, 60SXB, 170SX Nicolet 205 Nicolet 5DX, 5SX, 1MX, 5MX,10DX Nicolet Impact 400 Perkin Elmer PE1700, PE1800 Perkin Elmer PE1700 with Shuttle Perkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GX Perkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GX Perkin Elmer PE1600 External Bench Perkin Elmer PE Spectrum One Shimadzu 8000, 8100, 8200, 8300, 8400, 8500, Prestige 21 Unicam Analytical (Philips) 9600 (As Mattson 1000 series) Unicam Analytical (Philips) 9800 (As Nicolet 500 series etc) Any Other Spectrometers 详细资料请联系我公司！