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经纬仪角度测量原理

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经纬仪角度测量原理相关的论坛

  • 想了解下,仪器社区有讨论大地测量相关仪器的板块吗

    [font=&][color=#333333]大地测量仪,组合型地表测量精密仪器。由[/color][/font][font=&][color=#333333][url=https://baike.baidu.com/item/%E7%BB%8F%E7%BA%AC%E4%BB%AA/0?fromModule=lemma_inlink]经纬仪[/url][/color][/font][font=&][color=#333333]、全站仪、GPS及觇牌和激光对中器构成。可用于在野外[font=Arial, sans-serif]研究地球形状、大小、空间物体位置、重力场,确认所在地的经纬度、高程,并进行两点间的精准测距。广泛应用于地铁建设、科考,地理信息科学专业学生也会用到。[/font][/color][/font]

  • 什么是“相同测量条件下重复测量”

    什么是“相同测量条件下重复测量”

    科学网精选科普杂文[align=center]什么是“相同测量条件下重复测量”?[/align][align=center]武汉大学 叶晓明[/align] 概率论中的一个基本思维是,以大量彼此独立的随机事件的统计值去评价其中一个未知事件的概率。而测量理论则是概率论在测量领域里的一个应用。 既然是“大量彼此独立的随机事件”,这就意味着这些事件一定来自于不同条件,所以概率论中绝对没有什么“相同条件”字眼,否则,如果强调各个事件来自于相同条件,各个事件样本就完全相关,就等同于对一个事件做重复统计,那自然不是100%就是0%。但是,现有测量理论却以“相同测量条件下重复测量”作为误差类别的鉴别依据。 近年来,作者在新概念测量理论中强调,测量序列发散来自重复测量中的测量条件变化,如果以“相同测量条件下重复测量”,测量序列将不会发散,测量实践中不可能作到绝对的相同测量条件。但是,一个比较普遍的情况是,测量学家们强调“设定‘相同测量条件下重复测量’前提是个为了便于误差分类”,当我的论文证明那些实践中的重复测量实际都是不同测量条件时,他们会说我所指的不同测量条件“实际等同于现有理论中的相同测量条件,相同测量条件只是一种近似说法,不需要绝对化。”而非常奇怪的是,他们一方面非常强调要把某些不同条件近似地说成相同条件,却又另一方面禁止把某些不同条件近似说成为相同条件,而且非常反感将“相同条件”字眼更换成“不同条件”字眼。 看实际案例吧。 一台经纬仪的轴系误差的MPE(最大允许误差),来自大量不同仪器的轴系误差检测样本的统计。但是,经纬仪的轴系误差要归类为系统误差,这个不同仪器条件不能近似地说成相同条件,因为不能承认轴系误差在相同测量条件下能导致离散。 一台经纬仪的测角标准偏差,来自大量不同盘位的测点的样本统计,因为这个标准偏差属于精度(精密度,随机误差),这个不同盘位条件就需要近似地说成相同条件。 一台水准仪的高差误差的标准偏差的检测过程中,需要反复改变仪器架设高度和重新整平进行样本采样,也是来自不同条件,但因为这个检测值也叫精度(精密度),属于随机误差的范畴,这些不同的测量条件也就需要近似地说成为相同的测量条件。测绘领域水准网平差中精度来自不同路线高差观测值的发散性统计,因为属于精度(随机误差),这个不同的路线条件需要近似说成相同测量条件。 一种测距仪的乘常数误差来自仪器内石英晶体频率的误差,该误差的MPE来自大量仪器在各种不同温度条件下的样本统计,但是,测距仪的乘常数误差需要归类为系统误差,这些不同条件不能近似说成相同测量条件。 一台测距仪的综合精度的检测样本来自大量不同距离量程的样本统计,因为属于精度(随机误差),这个不同距离量程条件需要近似说成相同测量条件。 一台相位式测距仪的周期误差是距离的正弦函数规律,当误差样本来自各种不同距离量程时,很容易推证出周期误差遵循一个U形随机分布。但是,周期误差被看作是系统误差,这个不同距离量程条件就不能近似说成相同测量条件。舍入误差(四舍五入),通过任意不同量程的误差值分析,很容易推证出它遵循矩形分布。由于这个误差被看作是随机误差,所以这个不同量程条件需要近似说成相同测量条件。 电子噪声误差的分布来自大量不同时间获得的误差样本的统计,这个误差需要归类为随机误差,所以这个不同时间条件需要近似说成相同测量条件。 某卡尺的MPE为±0.02mm,这实际是大量同型号卡尺、各种不同的量程在可能的各种环境温度下的误差检测值做统计出来的。这些不同测量条件究竟应该说成相同测量条件还是不能说成相同测量条件,反正我是说不清楚了。 某品牌手表的MPE为±15秒/天,这实际是大量同品牌手表在各种不同温度环境的检测值统计出来的。这些不同测量条件究竟应该近似地说成相同测量条件还是不能说成相同测量条件,我还是说不清楚。 …… 瞧这个逻辑乱的,您能归纳出其中区分相同条件和不同条件的奥妙之处吗?相信您现在肯定一头雾水。其实,其中也根本没有什么奥妙---不过是人的主观喜好而已,目的只是为了强行把某些误差归类为系统误差而把另外某些误差归类为随机误差。但相信您已经看出,那些所谓的相同测量条件没有一个属于真正的相同测量条件;而当真正作到相同测量条件重复测量时,没有一个误差能导致发散;而当让与误差相关的测量条件变化时,所有误差(包括各种规律的误差)却又都能导致发散,表现出随机分布。 所以,相信您已经有所理解:所谓误差分类不过是选择性失明而已,需要随机误差时,就把不同条件近似地说成相同条件;需要系统误差时,就咬定严格的相同条件对一个误差做重复统计。 也相信您也感受到了新概念测量理论的一个核心概念:任何误差其实都遵循随机分布,都有方差表达其概率区间(不确定性),没有什么系统/随机类别,没有什么精密度/正确度的概念区分,误差贡献发散(随机影响)或贡献偏离(系统影响)是重复测量中测量条件的变化规则决定的,是测量原理决定的,仪器内外的所有工作状态都是测量条件。 这里举出了这么多案例,当然还可以举更多,可以看到,每个案例中的误差统计实际都是在不同测量条件下进行。这说明了什么?说明那些工作在生产科研第一线的测量工作者们其实都很清楚明白,从来就没有人蠢到用“相同测量条件”去纠缠一个孤立的误差样本做重复统计----这本来就不是一个高深的理论问题。真不知道那些测量理论工作者是怎么想的,当你明确告知是不同测量条件时,他们还要扯“近似说法”,死不认账。 就这么一个“相同测量条件下重复测量”,相同既是相同也是不同,不同既是不同也是相同,进可攻退可守,刀枪不入,顺我者昌,逆我者衰。于是,精度也是“相同测量条件下重复测量”测得值的发散性,不确定度也是“相同测量条件下重复测量”测得值的发散性。人们念念有词,如醉如痴…… 2019 6 8 于武汉大学[align=center][img=,690,413]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/06/201906091241043452_1384_2101846_3.png!w690x413.jpg[/img][/align]

  • 【转帖】电子测距仪激光技术与经纬仪的望远镜实现一体化

    [em09506]摘要:过去75年,随着摄影测量等新技术的发展,美国测绘发生了巨大变化,测量师已经从使用全站仪和钢尺进步到使用GPS,从使用对数和三角表格进步到使用膝上型电脑,从使用纸质地图进步到使用在线的数字媒体等。早期,一名测量专业的毕业生就称为优秀的土地测量师,后来,测量师需要注册资格和认可资格,要求测量专业学位或与测量专业相关的学位。概述美国早期的测量师与土地评估师没有什么区别,后来考虑到公共安全问题,开始了测量师的注册工作。各州对获得测量师的注册资格和许可资格,没有统一的规定,对关于测量师从事何种服务也没有统一的意见。早期,由于大多数大地测量由联邦政府或相关机构管理,摄影测量产品没有应用到地界测量和建筑测量等领域,所以早期测量师无须注册资格和许可资格,就可以从事大地控制测量和摄影测量制图工作。随着技术的发展,注册和许可法律等多种因素的影响,早期的测量师就不再具有从事摄影测量、遥感等相关工作的资格。目前,获得测量师许可资格比较严格,一般要有2到4年的工作经验,经过专业知识培训和测量实践,通过笔试和同行测量师的推荐,才能获得测量师许可资格。注册和许可早期,从事私营测量活动的人需要具备注册资格,而为本地、州或联邦机构工作的人无需注册资格,当测量条例中出现测量师的职责和任务时,对测量师提出了注册要求。工程师和测量师考试国家委员会(NCEES)制定了一部示范法律,形成了相应的机制,为注册和许可提供了包括土地地界法律、州的相关规章制度等笔试内容。 随着大地控制测量、摄影测量和地理信息系统的发展,以及它们不断向传统测量领域的渗透,需要在州法律条例下重新定义测量概念,关键是明确土地地界测量的成果,并不只是执行这些新型技术。在新领域中,个人获取测量许可资格比较难,除非他们在地界测量方面有足够的经验,而对那些想获得测量许可资格的人来说,他们必须放弃有利的专业地位,进行土地地界测量的实践工作。

  • 大气科学之气象观测==高空风观测

    高空风观测http://www.kepu.net.cn/gb/earth/weather/observe/images/obs00601_pic.jpg探空仪即将拖放701雷达待命工作  测量近地面直至30公里高空的风向风速。通常将飞升气球作为随气流移动的质点,用地面设备(经纬仪或雷达)跟踪气球的飞升轨迹,读取其时间间隔的仰角、方位角、斜距,确定其空间位置的座标值,可求出气球所经过高度上的平均风向风速。根据地面测风设备不同,分为如下几种:   经纬仪测风:有单经纬仪测风和双经纬仪测风两种。单经纬仪只能测出气球的仰角和方位角,气球高度由升速和施放时间推算。气球升速是根据当时空气密度、球皮等附加物重量计算出气球净带力,按照净举力灌充氢气来确定。但由于大气湍流和空气密度随高度变化,以及氢气泄漏等因素的影响,气球升速不均匀导致高度误差大,测风精度低。在配合探空仪观测时,气象站用探空仪测得的温度,气压、湿度资料计算出气球高度。双经纬仪测风是在已知基线长度的两端,架设两架经纬仪同步观测,分别读出气球的仰角、方位角,利用三角法或矢量法计算气球高度和风向风速。经纬仪测风只适用于能见度好的少云天气,夜间必需配挂可见光源,阴雨天气只能在可见气球高度内测风。

  • 【资料】有奖征集——各类计量器具的使用寿命

    [size=4][i][u][color=#fe2419][size=5]有奖征集——各类计量器具的使用寿命 [/size][/color][/u][/i]游标卡尺千分尺角度尺水准仪光学经纬仪电子天平拉力计转速表数字万用表数字绝缘电阻表照度计电子秒表光谱分析仪[/size]

  • 广东长度仪器校准实验室,准确的量值保障

    长度计量传历史最长、标准设备最全、检测维修能力最强的实验室,本室共建有量块、平直度、粗糙度、光学仪器、测绘仪器、通用量具、精密测量、三坐标测量机、圆度仪、验光标准器组等共55项社会公用计量标准,负责本地区的几何量的量值传递,提供检测和校准服务,开展各项目计量仪器的检定、校准、修理。[align=center][img]https://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190805/73fd583594f744fab6f1964fb4bd86b2.png[/img][/align]长度仪器校准实验室设有量块、精测、角度、量仪、平直度粗糙度、线纹与精密测量、通用量具等实验室,建立了社会公用计量标准。负责长度量计量标准的维护和科研开发,开展各项目几何量计量仪器的检定、校准、试验和相关计量参数的检测 长度室参与建设了重点研究精密几何计量技术应用、现代力学性能计量技术应用,进一步提升了几何量检测计量的实力,为带动经济高速发展提供准确的量值保障。仪器计量校准概略:量块:四等及以下量块、步距规、灯头、灯座量规等。线纹:线纹、带标尺放大镜、钢尺直、钢卷尺等。平面度:水平仪、平板、平尺、平晶等。螺纹类:各类公制(M)、美标(UN)、日标(JIS)、管螺纹(G)等螺纹规的检测。精测类:标准针规、标准环规、光滑极限量规、半径样板、螺纹样板等。量具类:卡尺类、指示表类、千分尺类、角度规、水平仪、测厚仪、比较仪等。测绘仪器类:工程质量检测尺、水准尺、经纬仪、建筑工程标准器等。量仪类:激光径孔仪、光学计、投影仪、测长仪、显微镜、影像测量仪、二次元、接触式干涉仪、圆度仪、坐标测量机(CMM、三次元)加工中心的检测等。

  • 【分享】热线法测量导热系数的基本原理

    测量原理:测量器包括一条热导线和一个热电偶. 一旦热线在恒定的功率的作用下放热.则热线及热线附近试样的温度将会升高.热线温度的升高将以指数级数变化.以时间的对数为X轴,相应的温升为Y轴作图,可以得到一条直线.如果试样的热导率较小,那么所得直线的角度较大 相反,当试样的热导率较大时,其相对应直线的角度也较小.因此,样品的热导率由温升随时间对数变化曲线的角度决定. 计算公式:λ=q*ln(t2/t1)/4Π(T2-T1)λ:样品的热导率〔W/mK〕 q:热流密度 〔W/m〕 t1、t2:测量时间 〔Sec〕 T1、T2:温度 〔K〕

  • 【分享】光泽的物理意义及测量角度

    光泽作为物体的表面特性,取决于表面对光的镜面反射能力,所谓镜面反射是指反射角与入射角相等的反射现象。若物体表面为光学平滑面,即表面凹陷间隙小于1/16入射波长,当入射光为平行光束时,则镜面反射光也为平行光束,且完全不受物体本身颜色的影响,入射光为白光,镜面反射光仍为白光。在理论上,光泽被定义为物体表面镜面反射能力与完全镜面反射能力的接近程度。对于镜面,入射光几乎全部沿镜面方向反射,对于“无光泽”表面,入射光在任何角度反射都一样,出现所谓漫反射现象。大多数印刷品既非完全镜面,也非完全无光泽表面,而是介于两者之间。 测量材料表面光泽需要使用到光泽度计,光泽度计是测量物体表面对光的反射率,即镜面光泽。测量时所选入射角角度不同,结果也不同。入射角越大,镜面反射率越大,光泽度越高;反之亦然。由此可见,光泽高低不仅取决于物体的表面特性,而且取决于测量角度。 至于采取何种角度测量为宜,日前还没有通用标准。一般对高光泽表面采取小角度,如20度角,对于低光泽表面则采取较大角度如75度角等进行测量。而通用型的光泽度计为60度角。目前大角度光泽度计不适合测量高光泽材料,主要受制于仪器量程不够,但林上LS192光泽度计虽是一款便携式的通用型60度角的光泽度计,但其量程可达0-1000GU,所以LS192光泽度计即可测试低光泽材料又可以测量高光泽的材料。

  • 国家质量监督检验检疫总局公告(2011年第165号)

    关于发布JJG146—2011《量块》等10个国家计量技术法规的公告 2011年第165号 根据《中华人民共和国计量法》有关规定,现批准JJG146—2011《量块》等10个国家计量技术法规发布实施。 编 号 名 称 批准日期 实施日期 备 注JJG 146—2011 量块检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 146—2003JJG 414—2011 光学经纬仪检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 414—2003JJG 877—2011 蒸气压渗透仪检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 877—1994JJG 949—2011 经纬仪检定装置检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 949—2000JJF 1318—2011 影像测量仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1319—2011 傅立叶变换红外光谱仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1320—2011 仪器化夏比摆锤冲击试验机校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1321—2011 元素分析仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1322—2011 水准仪型式评价大纲 2011.11.14 2012.02.14JJF 1323—2011 电子经纬仪型式评价大纲 2011.11.14 2012.02.14 特此公告。 二〇一一年十一月十八

  • 激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差的应用原理

    激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差的应用原理

    激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、最高测速下分辨率高等优点,结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。[align=center][img=,578,450]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201754505855_5264_3712_3.jpg!w578x450.jpg[/img][/align]  激光干涉仪最典型的应用就是测量机床精度,本文讲解如何使用激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差。  对于平移轴而言,每根轴均有两个直线度误差,因此三根轴有六个直线度误差,均可采用激光干涉仪分别测得。  原理:带有圆孔的是直线度干涉镜,其与待测轴相连一同运动;长条镜是直线度反射镜静止安装,其是对称结构,上下左右均对称。当一束激光从源头发出射入干涉镜,干涉镜将光束分成两束,形成一个很小的角度分别去往反射镜,由于反射镜上下对称,因此两束光被反射后又回到干涉镜,汇合成一股光束,去往激光头的探测器。当运动轴产生直线度误差时,会使得干涉镜相对于反射镜在水平横向方向发生相对运动,而反射镜是左右对称的(左右的镜片不在同一平面,有一定的角度),因此会使得两束分开的光束光程具有差别,根据此差别,即可测得运动轴产生的直线度误差。[align=center][img=,678,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755021895_7221_3712_3.jpg!w678x333.jpg[/img][/align][align=center]▲ 直线度测量的光路原理构建图[/align][align=center][img=,678,367]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755111914_6482_3712_3.jpg!w678x367.jpg[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的横向直线度测量示意图[/align][align=center][img=,678,367]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755345695_9383_3712_3.jpg!w678x367.jpg[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的纵向直线度测量示意图[/align]  根据直线度误差测量原理可知,测量过程中不可避免的会引入斜率误差。该误差是由于测量直线度反射镜的光学轴线最初与待测轴不平行,为调整平行而引起的。如图 所示,A 为干涉镜和反射镜的距离,B 为激光头到干涉镜的距离(其中干涉镜是固定在运动轴上的)。在一开始,反射镜的光学轴线处于旋转前的位置,而由于机床运动轴与其之间存在的夹角θ,[img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910173125514.jpg[/img][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910177031118.png[/img][/align]  因为斜率误差是稳定误差,因此可以采取上述的公式将其从直线度测量结果中分离出来,亦可以采用两端法拟合或者最小二乘法拟合将其分离出去。  两端法拟合:即是将所有采集来的数据第一点和最后一点相连决定一直线,再将所有采集来的数据去除掉拟合的直线信息,由此得出的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910170000002.png[/img][/align]最小二乘法拟合:将采集回来的所有数据通过最小化误差的平方和方式来寻找数据的最佳函数匹配,而后将采集值与匹配函数对应值相比较,剩余的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910171562522.png[/img][/align]附:SJ6000激光干涉仪直线度测量精度。[table][tr][td][align=center]轴向量程[/align][/td][td][align=center]测量范围[/align][/td][td][align=center]测量精度[/align][/td][td][align=center]分辨力[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]短距离[/align][/td][td][align=center](0.1~4.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(0.5+0.25%R+0.15M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.01μm[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]长距离[/align][/td][td][align=center](1.0~20.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(5.0+2.5%R+0.015M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.1μm[/align][/td][/tr][tr][td=5,1]注:R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m[/td][/tr][/table]

  • 大角度反射率测量疑问

    为什么使用可见光谱仪测量大角度倾斜入射光的反射率时,得到的测量结果会不准确呢?我知道S,P分量的反射率随着角度不同会有变化,但光谱仪应该是两个分量都检测,偏振对测量的影响具体是在哪里呢?加上偏振片,为什么能使得测量结果得到准确的修正呢?

  • 【转帖】从测不准原理到测量不确定度

    [color=#0166a9]为了评定测量结果的质量如何,要用测量不确定度来描述。ISO/IEC导则25指明实验室的每个证书或报告,必须包含有关评定校准或测试结果不确定度的说明,当我们给出测量结果时,应根据需要给出测量不确定度。本文从历史的角度简单介绍从测不准原理到测量不确定度的使用过程。[/color][color=#0166a9]  1927年,德国物理学家海森堡(HeisenbergWerner,1901—1976)提出了测不准关系,即测量一个微粒的位置时,如果不确定范围是ΔX,同时得出其动量也有一个不确定范围ΔP,那么ΔP和ΔX的乘积总是大于一定的数值,表示为ΔPΔX≥h/2。[/color][color=#0166a9]  这里h=h/2π,h为普朗克常数,等于6.626×10[sup]-34[/sup]焦耳秒。[/color][color=#0166a9]  这个测不准关系表明,如果要对物体的动量进行非常精密地测定,即ΔP→0,那么位置就非常不确定,即ΔX→∞。反之,要位置精密测定,动量就非常不确定。[/color]

  • RTK。全站仪。水准仪优惠大活动

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  • 大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加

  • 【原创】今日盘点世界五款知名的测绘仪器数据

    [em09506]先如今世界过大知名的测绘仪器产品多不胜数,今天我们就来分析一下最重要的六款知名仪器产品。让你们更加的了解仪器行业的信息。 一、测距仪 APRESYS测距望远镜,高品质机芯,测量迅速快,精确度高! 既是望远镜,更是测距仪!观察和测距同步进行! 提高工作效率,实现单人操作!想准确,快速的测量距离吗? 现在!您完全可以放弃那些繁琐步骤……使用APRESYS激光测距望远镜 您无须 拉皮尺,两人操作; 也无须 辛苦的推着测距轮测距;更无须 为了测量难以接近的地方的距离而烦恼不已。二、水准仪 中纬水准仪,中纬ZDL700,中纬ZDL700水准仪,中纬水准仪ZDL700,自动安平水准仪,光学水准仪,电子水准仪,国产水准仪,进口水准仪,光学水准仪,水准仪价格,徕卡水准仪价格ZDL700 数字水准仪满足二到四等水准测量精度要求高等级防尘防水,有力支持外业测量路灯照明轻松测量,更加方便快捷 五号(AA)电池供电,解决外业供电问题相位法条码识别,解决视场部分遮挡丰富的应用程序,方便您的外业测量。三、全站仪 指标差异 H配滑动基座 L配激光下对点器.性能特点:1.测角部采用欧美品牌的APD光电二极管和集成电路,性能可靠。2.测距部采用欧洲进口的人眼安全红外发光二极管。3.适用于专业测量、工程测量、教学培训、精密工业安装等方面。4.大屏幕中文界面,大字体设计,数字化键盘,操作提示直观,易学易用。5.强大的内存管理功能,具有可存贮15000(可选15000~50000)点数据大容量内存, 并可以方便地进行内存管理。6.可自动记录各种测量数据(角度数据、距离数据、坐标数据、测站数据),采用开放的通讯方式。7.可直接与计算机进行实时双向数据传输和内存双向数据传输。四、经纬仪 1.方便的读数与测量:读数方便,显示清晰 ,液晶显示16*2字符(LCD)的双面显示垂直角与水平角可用 度分秒显示.2.方便的键盘操作:功能键可以进行快速作业3.使用方便:集成化、精度高、重量轻,主机只有4.6 kg (包含电池)4.自动关机功能:使电池的使用时间更长5.角度测量与角度锁定:盘左盘右角度测量垂直角可转换成坡度百分比水平角在任何位置可置水平角锁定功能6.明亮的光学特征即使在光线条件不好的情况下也能成像清晰7.碱性电池供电充电式电池:Hi-MH2000mAh,一次充电可使用20小时左右碱性干电池:可使用25小时。五、投线仪 本产品具有自动安平功能;可产生三个激光平面(一个水平面和两个正交的铅垂面,投射到墙上产生激光线)和一个激光下对点。两条铅垂线会合,产生一个天顶点;仪器具有360°旋转及微调机构,可准确照准目标。

  • 接触角测量方法之:圆法和椭圆法,不同测量方法对应不同角度的测量

    晟鼎接触角测量仪有:切线法,宽高法,椭圆法,拉普拉斯杨法。这一篇我们重点说的是宽高法和椭圆法的区别。 宽高法,也叫圆法,也叫θ/2法,都是运用圆方程式来拟合液滴的概括形状,从而核算出接触角。以下是我们机器在用圆法测试时全自动拟合的截图:http://www.sindin.com.cn/UploadFiles/2016-06-02/14648486136308836.JPG 下图是同样的水滴,我们用椭圆法进行测量时的图片。http://www.sindin.com.cn/UploadFiles/2016-06-02/14648493801355237.JPG 宽高法是假定了液滴(截面)的形状为圆的一部分,从而用左右两个角度算下来的平均值,从而得到一个接触角度。这种方法适用范围限于球状或挨近球状的液滴。由于重力的影响,严格地讲,液滴的形状都违背球型:违背的程度随液滴的体积增大而增大;在相同的体积下,液体的比重越大,表面张力越小,违背的起伏也越大。其次,这种方法用于测试小于20度的角度,会精准一些。  留意:液滴高度/宽度法也是一整体液滴法。在核算时思考的是全部液滴的概括形状,不是局部,所以当液滴的形状遭到其它物体搅扰时,如针管置于液滴内,就会影响办法的准确性,乃至不再适用。 通常情况下,关于体积小于5微升的水液滴,其所受的重力对形状的影响被以为小到可忽略不计,此刻可用本办法核算。 经过测量液滴的高度和宽度来核算接触角的办法本来即是圆法最简略运用。目前的国家标准对于精确度的计算,都是用的宽高法。市场上80%的接触角测量仪,也是用这种方法进行拟合和计算,但是宽高法是不是完美的接触角计算方法呢,答案是否定的。因为当液滴的体积较大,或液体本身的比重很大,或液体的表面张力相对较小,形成其形状显着违背球形,而是一个椭圆形状。此刻运用宽高法可能会致使很大的测量误差,可大至几十度。所以必定要留意宽高法的局限性。 用户在实际测试的时候,相同样品和相同注液量的情况下,用圆法测试小角度较为合理。如果为疏水角度,也就是说大于20度小于120度的角度,则需要用椭圆法。 在实际操作过程中,不同计算方法导致不同测试结果的情况出现过很多次。在SDC-200接触角测试仪测试出来的数据为110度,而换了另外一台别的厂家的机器,数据变成100度了,如此大的误差究竟是什么导致的呢?我们每次都问用户几个问题: 1、是否是相同批次的样品。 2、注液精度是否一样,晟鼎的注液精度是每次2微升。不同的注液精度受重力影响会影响测试数据。 3、计算方法是宽高法还是圆法。 4、拟合时是全自动的还是需要手动找基线进行拟合。手动找基线可能出现操作者人工误差导致数据不准确。http://www.sindin.com.cn/UploadFiles/2016-06-02/14648490412292508.JPG  所以,晟鼎精密主张宽高法只用来核算接触角小于20度的液滴,或形状等于或挨近于球的液滴。大于20度的液滴可以用椭圆法。如果软件同时具备不同的测试方法,则说明软件开发合理,符合用户体验。本文原创链接:http://www.sindin.com.cn/html/xwdt/xyxw/2776.html 如需转载请注明出处!

  • 求助中文文献

    【序号】:1 【作者】:翟旭华 【题名】:车载光学仪器原位检测及衍射光学元件应用研究[D]【期刊】:长春理工大学 2009年【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10186-2009199185.htm【序号】:2【作者】:王加科 【题名】:多光谱扩径准直系统基准的研究[D]【期刊】:长春理工大学 2010年【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10186-2010080478.htm【序号】:3 【作者】:古梦瑶 【题名】:基于Wollaston棱镜的小型扫描成像光谱仪研究[D] 【期刊】:哈尔滨工业大学 2018【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10213-1018896061.htm【序号】:4 【作者】:刘凯 【题名】:新型光电自准直经纬仪关键技术研究[D]【期刊】:北京交通大学 2012年【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10004-1012355773.htm【序号】:5 【作者】:苏力 【题名】:光电自准直小角度测量系统设计[D]【期刊】:西安理工大学 2007年【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10700-2007059092.htm

  • 【分享】磁性涂镀层厚度测量仪应用原理简介

    一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关,稳频等最新技术,多种获专利的产品相继问世,精度有了很大的提高,达到1%,分辨率达到0.1µm,磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯,线圈电流的频率不高,以降低涡流效应的影响,测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化,可以辨识不同的测头,配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头,也可以用同一台仪器。可以说,适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪,原则上适用所有非导磁覆层测量,一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的,则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

  • 【讨论】何谓精密几何量计量?

    [size=3]任何一个物体都是由若干个实际表面所形成的几何实体,几何量是包含复现、测量、表征物体的大小、长短、现状和位置等几何特征量,对这些特征量的高精度计量测试统称为精密几何量计量。几何量计量工具主要包括量块、线纹、角度、平直度、表面粗糙度、齿轮、工程测量、万能量具、座标测量、经纬仪类仪器、几何量类仪器。在现实生产和装配中,人们采用最多的计量工具是国家标准下的几何量计量工具,如千分尺、标准游标卡尺等等。这些只能算是普通几何量计量工具,谈不上精密几何量计量工具。我们理解的精密几何量计量工具应该是国家或地方级、行业级计量检测中心那些专门校准和检测一般几何量计量工具的计量工具。同时还有再次计量和校准这些本身就是校准几何量计量工具的工具。精密几何量计量工具是一个相对的说法,对于误差值允许在正负1mm的工件,检验它的工具误差值是0.2mm的可以说这计量检测工具是精密的。几何量计量工具不是精度越高越好的。好域安科技经常遇到一些工件误差只是0.2mm左右的配合或加工精度,却要求开发出精度误差在0.001mm的针对此工件的几何量计量检测工具,这样的要求就是完全不合理的。计量和检测一切都应该遵循实际需要来设计和制作,什么样的行业需要什么样等级的计量精度。精密几何量计量工具从工作方式来说,无外乎两种:一种是接触式的,另外一种是非接触式的。传统的几何计量工具已经越来越不能适用于所有的现代工业生产和装配,要想提高检测速度和准确率,必须采用声学、光学、电子、计算机等新型复合技术,辅助于现代自动化技术。这些在微观世界里的细小误差的计量和检测工具才是真正的高精度。[/size]

  • 衍射仪校准角度问题

    布鲁克D8 Advance光路调零后,仪器自带标准样品35.149,测量为35.150,但测量硅粉的角度异常,28.443的测量值为28.445,88.032的测量值为88.002,高角度偏低很大,不知什么原因,请高手赐教!谢谢

  • 出具仪器校准报告

    请问,仪器经销商或生产单位(有校准资质的),能自己给自己的仪器出具第三方校准报告吗?比如工程现场的经纬仪,好多都是经销商直接出具校准报告给施工单位的。谢

  • 高精度涂层测厚仪的测量原理

    [url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器,具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下,希望可以帮助到大家。  磁感应测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。  电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。  迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料(如钢、铁、合金和硬磁性钢)等物体表面上的非磁性覆盖层厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡胶,铜,锌、铝、铬、铜等)。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。

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