我单位新购置了一台X荧光光谱仪,请教各位,该仪器在塑料测试方面,能建立什么样的方法?多谢!
天瑞活动X荧光光谱仪原理应用及维护书籍的确不错,看完后受益匪浅,虽然有些原理比较深奥难懂,但对设备有了更多的了解;希望后续还有这方面活动 书籍学习[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09505.gif[/img]
1 、什么是原子荧光?基态原子吸收特定波长光辐射的能量而被激发至高能态,受激原子在去激发过程中发射出的一定波长的光辐射被称为原子荧光。2 、什么是原子荧光光谱仪?根据原子荧光原理制作的用来进行元素定量分析的光谱仪器被称为原子荧光光谱仪,又称作原子荧光光度计。3 、原子荧光光谱仪是如何分类的?从方法上分为氢化法原子荧光光谱仪与火焰法原子荧光光谱仪。氢化法:通过氢化物发生(或蒸汽发生)的方式将含被测元素的气态组分传输至原子化器并在氩氢火焰中原子化后进行检测的方法,简称为氢化法。(该法测试的元素种类虽少但灵敏度高,干扰少,具有很好的专属性。)火焰法:利用雾化器将含被测元素的样品溶液雾化形成气溶胶后,与燃气混合传输至原子化器并在燃气火焰中原子化后进行检测的方法,简称为火焰法。(该法大大拓宽了原子荧光光谱仪所能检测元素的范围。)4 、氢化法原子荧光光谱仪的进样方式与信号采集方式有哪些?1)断续流动进样方式:被测样品溶液进入样品管后,通过载流(空白)将样品带入氢化物发生器的方式称为断续进样,包括间歇进样和顺序注射。此种进样方式是由手动进样方式改进而成的自动进样方式。 信号采集:从反应开始到反应结束,对峰面积进行积分。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406031547_501136_467_3.jpg测试数据时间:样品第一次测试时间为60-90秒,重复测试一次仍需60-90秒,连续几次重复测试时,时间为(60-90)s + (60-90)s……测试过程:样品—空白,样品—空白的交替进行。测试重现性:RSD<1%(用10.00 ng/mL As标准溶液检测)2)连续流动进样方式:被测样品溶液直接进入氢化物发生器的方式称为连续流动进样方式。此种进样方式克服了传统进样方式测试速度缓慢和测试稳定性较差的缺点。信号采集:测试信号达到最大值时连续采集峰高的平均值。测试过程:样品—样品的连续过程测试数据时间:样品第一次测试时间为20-25秒,重复测试一次只需增加5秒,连续几次重复测试时,时间为(20-25)s + 5 s+5 s……测试重现性:RSD<0.6%(用1.00 ng/mL As标准溶液检测)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406031547_501137_467_3.jpg5 、如何判断一台原子荧光光谱仪的级别与档次?首先要判断一台原子荧光光谱仪的级别。技术指标是决定一台原子荧光光谱仪级别高低的根本。技术指标越好,其级别越高。其次,在同等级别的基础上要衡量比较仪器的配置与功能。功能多,配置高的仪器在相同级别下档次就高。这里,一个选购误区是非常值得注意的,就是以某个系统部件的性能来断定整台仪器的级别。这种以偏概全的断定方式是不科学的,也是非常不可取的。因为一台原子荧光光谱仪是由多个系统所组成,只有在各系统良好的配合使用下,仪器才能达到最佳的使用效果。类似于木桶原理的短板效应。中华人民共和国计量检定规程JJG939规定,强制检定的指标有(以砷为例),1)检出限/ng:≤0.4ng,各元素的检出限越低越好。2)重复性:≤3%,RSD值越小越好。3)道间干扰:±5%,双道同时测试时各道间的相互干扰越小越好。4)线性范围:r≥0.997,线性范围越宽越好。以上4项主要技术指标是判断一台原子荧光光谱仪级别的唯一标准。※检定项目和技术指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406031547_501138_467_3.jpg6、选购原子荧光光谱仪需要考虑的因素有哪些?[font=
下列说法哪个是错误的?( 2 ) ——-为什么要选择2呢?(1)荧光光谱的最短波长和激发光谱的最长波长相对应(2)最长的荧光波长与最长的激发光波长相对应(3)荧光光谱与激发光波长无关(4)荧光波长永远长于激发光波长楼主分析:荧光光谱:使激发光的波长和强度保持不变,让荧光物质所发生不同波长和强度的荧光;以荧光波长为横坐标,以荧光强度为纵坐标作图,即为荧光光谱,又称荧光发射光谱。激发光谱:让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光,而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上,然后以激发光波长为横坐标,以荧光强度为纵坐标,所绘制的图即为荧光激发光谱,又称激发光谱。根据定义,荧光光谱与激发光波长无关,选项3不选。原子荧光分为3类:共振荧光、非共振荧光、敏化荧光非共振荧光又可分为:直跃线荧光、阶跃线荧光、反斯托克斯荧光共振荧光:荧光波长和激发波长相同直跃线荧光、阶跃线荧光:荧光波长都比激发波长要长反斯托克斯荧光:荧光波长比激发波长要短由此可见,选项4并不正确。荧光光谱:荧光波长——荧光强度激发光谱:激发波长——荧光强度没有看出来选项1和2是否正确呀!!
[b]新上讲座:食品中镉元素测试新方法-火焰原子荧光光谱仪 举行时间:[/b]2017年10月16日 10:00 [b]报名链接:[/b][url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_2982.html[/url] [b]主要内容:[/b] 近期镉大米事件层出不穷,如何有效检测食品中的镉元素就是很多检测人员共同关注的问题了。一般应用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]石墨炉法或者氢化物发生原子荧光光谱法或者是[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]法测试食品中的镉,但由于样品中铝元素或是钙元素的干扰会对测试结果造成干扰。这些问题要如何解决呢?今天金索坤为您分享一种测试食品中镉元素的新方法—火焰原子荧光光谱法,可有效避免上述问题,轻松搞定样品测试。 [b] 讲师简介:高树林[/b] 北京金索坤技术开发有限公司技术总工程师,有近20年原子荧光技术研发经验,对于原子荧光仪器原理、操作及样品前处理方法开发等有着丰富的经验。
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大家好,对于薄膜样品,X射线荧光光谱仪的X射线能进入薄膜多厚呢,测试结果反映的是表面的信息呢,还是薄膜体层的信息呢。谢谢
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=42365]全反射X—射线荧光光谱的原理和应用[/url]
前言:无论是湿法化学测试分析设备如ICP,AAS,GCMS等的前期购买费还是后续维护费,又或是前处理室设备及分析化学试剂费、人员费用等,这些对中小型企业来说都是不小的开销,中小型企业为了节约成本,一般很难舍得投资这么多资金来建立完整全套的化学测试实验室,而随着国内和国际的环保法规如RoHS指令,《电器电子产品有害物质限制使用管理办法》等的实施和加严,对产品和物料进行监控又是必不可少,此时X射线荧光光谱仪的作用就很明显,不仅容易操作,测试速度快,而且是无损筛选测试,样品前处理简单;主要是设备费用适中,许多中小型企业都能接受。正文: 欧盟IEC62321-3-1,国标GB/T 26125测试方法,都有提及X荧光光谱仪筛选测试,说明X荧光光谱仪测试方法是有得到验证和认可的,从欧盟通报的电子电器产品环保异常案列来看,物料中的PB铅元素异常占比很高;而X荧光光谱仪能针对单独元素进行测试,所以公司采用 X荧光光谱仪对物料和产品进行监控测试是可取的。图一:[img=,464,188]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808201036327052_8694_1678646_3.jpg!w464x188.jpg[/img]X荧光光谱仪在电子行业常见的测试元素是Cd,Pb,Hg,Cr,Br,Cl;在筛选测试结果异常的情况下,可以结合第三方湿法化学分析进行确认验证如ICP,AAS,GCMS等图二:[img=,633,218]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808201036480176_6730_1678646_3.png!w633x218.jpg[/img]在电子行业工厂因产品不同,主要涉及的材料有五金,塑胶,电子元件,纸,液体溶剂等,前处理工具因材料各异,工厂相对比较简单常见如剥线钳,起子,斜口钳,剪刀,尖嘴钳等。X射线荧光光谱仪按规模分有大型,小型,微区,便携式X荧光光谱仪 ;按原理分有波长色散和能量色散型等;电子行业公司选择比较常见的是桌上型或手持式能量色散型X荧光光谱仪;国产和进口品牌各有优点。图三:[img=,656,170]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808201036570145_4778_1678646_3.png!w656x170.jpg[/img]由于X射线荧光光谱仪属于高科技精密设备,对操作环境要求比较高,主要硬件如光管等对湿度很敏感,湿度过大容易造成光管损坏。建议工作温度时15-28℃;湿度控制在35%~70%RH,放置设备场所需配备空调,除湿机。放置设备台面要平整,避免震动;避免突然停电对设备和数据造成损坏,建议配备UPS不间断电源。总结:小投入,大回报的事,大家都喜欢,特别是随着EN50581或是即将实施的IEC63000对支持文件的要求,越来越多公司采用添购X射线荧光光谱仪+第三方测试机构的模式,达到管控风险的基础上节约成本,是个共赢的选择方式。
新上讲座:热分析仪器在化学品安全领域的应用 举行时间:2017年10月16日 10:00 报名链接:[url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_2982.html[/url] 主要内容: 近期镉大米事件层出不穷,如何有效检测食品中的镉元素就是很多检测人员共同关注的问题了。一般应用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]石墨炉法或者氢化物发生原子荧光光谱法或者是[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]法测试食品中的镉,但由于样品中铝元素或是钙元素的干扰会对测试结果造成干扰。这些问题要如何解决呢?今天金索坤为您分享一种测试食品中镉元素的新方法—火焰原子荧光光谱法,可有效避免上述问题,轻松搞定样品测试。 讲师简介:高树林 北京金索坤技术开发有限公司技术总工程师,有近20年原子荧光技术研发经验,对于原子荧光仪器原理、操作及样品前处理方法开发等有着丰富的经验。
求助《EDX-720型荧光光谱仪测试规范》和有关数据处理方法的资料
X荧光光谱仪(XRF测试仪)由激发源(X射线管)、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。工作原理 X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。注:X射线荧光(X Ray Fluorescence)是一种电磁波,是原子内层电子受到激发,在跃迁的时候,产生的一种电磁辐射。lXRF:X射线荧光(XRayFluorescence) 通常把照射在物质上的X射线的原级X射线和照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光。 X射线,激发被测物料,受激发的物料中不同元素发出的特征波长的X射线和能量差。 X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)更多相关文献: 请点击
请问X荧光光谱仪测试面积是多大?帕那克l仪器样品杯30,测试样品时的测试面积是多少?钢铁样品多厚可以理解为无限厚?谢谢!
X射线荧光光谱仪测试黄金白银的标准物质的成色,需要几个点,每个点的成色是多少另外,我测试黄金,白银样品,还需要哪些标准物质
求助为什么足金、千足金样品的X荧光光谱仪测试只做Ag,Cu和Zn,而不做其他元素
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=176768][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]和荧光光谱原理.rar[/url]
X荧光光谱仪的EC法和FP两种测试方法在贵金属检测中的区别以及如何取舍
便携式X荧光光谱仪(EDX P-930 手持式土壤分析仪)的辐射剂量率测定摘要:本文旨在通过对手持式X荧光光谱仪的辐射剂量率测定,消除检测人员对辐射的恐慌心理和正确做好相关的辐射防护。一、测试对象:EDX P-930手持式土壤分析仪 该仪器主要用于土壤,沉积物以及淤泥等中重金属元素的快速测试分析。属不需样品前处理的非破坏性分析,能在极短的时间内完成快速分析和现场直接测定。其测试原理是:元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,通过测出荧光X射线的能量,就可以知道元素的种类,且荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系。 EDX P-930手持式土壤分析仪激发源为40KV/50uA-银靶端窗一体化微型X光管。
合金分析就是采用XRF(X射线荧光光谱)分析原理来分析合金元素成份/含量以及合金牌号,XRF分析原理是目前世界最先进的合金分析原理,相比传统的化学分析方法来说,XRF分析可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位.逐渐取代传统化学分析方法. X射分析原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析元素成份,每种原子都有其特定的能量光谱图.x射线是1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时,偶然发现距离玻璃管两米远的地方,一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验,用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书,都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是,当用手去拿这块发荧光的纸板时,竞在纸板上看到了手骨的影像。 当时伦琴认定:这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理,不明它的性质,故借用了数学中代表未知数的“X”作为代号,称为“X”射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。此名一直延用至今。后人为纪念伦琴的这一伟大发现,又把它命名为伦琴射线。
一、两者分析原理 直读火花光谱仪工作原理则是用电弧(火花)的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长,用光栅分光后,成为按波长排列的“光谱”,这些元素的特征光谱线通过通过出射狭缝,射入各自的光电倍增管,光信号变成电信号,经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换,然后由计算机处理,并打印出各元素的百分含量。 而X荧光光谱仪工作原理介绍用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。二、分析特点差异 火花直读光谱仪要求试样具有导电性,且只能是固体样品,简单地说就是火花直读只能分析金属固体样品中的元素。 而X射线荧光光谱仪由计算机控制,自动化水平高,分析速度快,它对样品要求不高,可以分析粉末样品、固体样品、熔融样品、液体样品,不需要样品具有导电性,金属及非金属样品均可分析。从这点看出X荧光光谱仪适用范围更广。
请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么?
X射线荧光衍射:利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。 X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。 X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。 X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。 X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。
新的X 射线荧光光谱仪安装调试结束后, 需要对仪器的技术性能进行测试验收, 仪器经过一段时间运行, 由于维修或其他原因使仪器状态发生变化时, 也需要对其性能进行测试。本实验室于1998 年购置了一台SRS3400 型X 射线荧光光谱仪, 合同中规定按澳大利亚关于波长色散型X 射线荧光光谱仪精密度测试的标准方法[ 1 ]验收, 仪器调试完毕即按该标准进行技术性能测试, 获得了令人满意的结果, 验收合格后, 按中国国家计量检定规程[ 2 ]进行计量检定, 通过了CC IBLAC 认可委员会的现场评审。澳大利亚标准包括4 个方面: 1、测试的频率 2、计数器测试, 包括分辨率和流气计数器窗膜的导电率 3、光谱仪精密度测试, 包括各个部件的到位精密度和仪器的稳定性 4、确定计数器的死时间。国家计量检定规程包括外观和技术性能两部分, 技术性能指仪器的精密度和稳定性, 计数器的计数率、分辨率和计数线性, 与澳大利亚标准在很多方面是相似的, 考虑到计数器的死时间已在仪器出厂前由仪器公司设定, 故本文主要介绍计数器性能和仪器的精密度与稳定性测试方法。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77584]波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍[/url]
发射谱,通常称为荧光谱。在特定激发波长情况下,一段发射波长和该波长荧光强度对应曲线。如果是扫描光谱仪,激发波长选择后,发射侧光栅扫描,发射单色仪的波长对应检测器强度的曲线;如果是CCD检测器,就是对应像素的波长和强度的关系。光栅可能也需要扫描来侧高分辨率的宽范围的图谱。测量时为了提高信噪比,可以在激发侧加带通滤光片来最大限度抑制杂散光,在发射侧添加高通滤光片(低通,上转换时候)来消除二次散射光。通常设定激发波长后,发射范围设定不要包括激发波长,当然,PLQY特殊测试要求除外。要考虑检测器的响应线性区间。
X射线荧光光谱分析的基本原理 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
我公司是以生产铜基和银基钎料为主,欲购一台荧光光谱仪,用来检测,铜磷银合金中的磷、银含量和银铜锌锡合金中的银、锌、锡含量,以及一些微量的杂质元素如铅、镉、铋、铁、硅等等。那位大虾告诉小弟像我们这种情况买那个类型或型号的荧光光谱仪比较合适。那位兄弟姐妹能提供一些荧光光谱仪的资料,例如荧光光谱仪的原理、结构、荧光光谱仪都有哪些技术参数,等等。谢谢
我公司是以生产铜基和银基钎料为主,欲购一台荧光光谱仪,用来检测,铜磷银合金中的磷、银含量和银铜锌锡合金中的银、锌、锡含量,以及一些微量的杂质元素如铅、镉、铋、铁、硅等等。那位大虾告诉小弟像我们这种情况买那个类型或型号的荧光光谱仪比较合适。那位兄弟姐妹能提供一些荧光光谱仪的资料,例如荧光光谱仪的原理、结构、荧光光谱仪都有哪些技术参数,等等。谢谢
请问各位:谁有能量散射X射线荧光光谱(EDXRF)相关的资料,例如原理,怎样测定元素含量,怎样了解测试的图谱等方面的知识,本人不胜感激.[em09] [em09] [em09]
各位:有没有热心人发一下X荧光光谱仪内部结构图,并说明各部件的原理或作用?
X荧光光谱仪产品的9大特点: 1、X荧光光谱仪体积小,重量轻,携带方便,便于户外作业。 2、采用美国最新型,Si-PinX射线探测器。 3、X荧光光谱仪独有的镭射定位装置,准确定位样品测试区域。 4、国内首家采用自动调节滤波器,多达四种滤波器组合。 5、X荧光光谱仪采用惠普品牌PDA,4英寸超大屏幕,并配备大容量SD存储卡。 6、自主研发的手持式合金分析专业软件,界面友好,操作简单。 7、X荧光光谱仪软件集成大量的合金牌号数据库并可根据用户需要自由添加。 8、基于铝合金材质的光路结构一体化设计,散热性能更优异,辐射防护级别属于同类产品最高级,保证数据长期测试稳定性。 9、X荧光光谱仪空测自动关闭激发源,保护人身安全。