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薄膜应力测试仪原理

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薄膜应力测试仪原理相关的耗材

  • 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、剥离机
    薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍:LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示,加上电脑可实现微机操作,参数随意设定,可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy: 30KN(任意选) 2、荷重元精度Load Accuracy: 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy: ± 0.5% 4、操作方式Control: 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width: 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke: 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy:: ± 0.5%以内; 9、位移测量精度Stroke Accuracy: ± 0.5%以内; 10、变形测量精度Displacement Accuracy: ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device: 电子限位保护,紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight : 约140kg
  • 残余应力测试仪器
    JHMK多点残余应力测试仪器JHMK多点残余应力测试仪器是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统,在软件进行设置后,自动实时计算残余应力,并实时显示和保存应力应变数值,使测量直观明了,精度高。JHMK多点残余应力测试仪器应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求,对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力:各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器,可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求,仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共,软件多种补偿方式,稳定性好。5.适合各种应变花,设置简单方便,并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡,不损失测量范围,程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线,并生成残余应力报告;8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息,可搜南京聚航网查看详情,电联聚航。
  • 泄漏与密封强度测试仪
    产品介绍: LT-03A泄漏与密封强度测试仪专业适用于各种热封、粘接工艺形成的软、硬金属、塑料包装件、无菌包装件等各封边的封口强度、蠕变、热封质量、以及整袋胀破压力、密封泄漏性能的量化测定,各种塑料防盗瓶盖密封性能、医用湿化瓶、金属桶及封盖的量化测定,各种软管整体密封性能、耐压强度、帽体连接强度、脱扣强度、热封边封口强度、扎接强度等指标的量化测定;同时也可对软包装袋所使用材料的抗压强度、耐破强度等指标,瓶盖扭力密封指标、瓶盖连接脱扣强度、材料的应力强度、以及整个瓶体密封性、抗压性、耐破性等指标进行评估分析。产品特点:● 智能全自动、功能齐全、高精度、高效率● 最大量程>1.8Mpa,符合最新国标要求(需定制)● 系统采用正压法测试原理,膨胀抑制、膨胀非抑制双重试验方法,满足多重任务● 防盗瓶盖脱离、泄漏、端盖脱离、瓶体耐内压、软包装破裂测试、蠕变测试、蠕变到破裂测试多种试验模式满足用户不同的测试需求● 专利设计,有效避免过冲● 自带针式打印机、结果永久保存● 双重压力保护,安全稳定● 试验量程可选,非标夹具可定制产品配置:标准配置:主机、测试架选购件:测试附件(约束板试验装置;开口包装试验装置;塑料防盗瓶盖密封性能试验装置;圆柱型复合罐端盖脱离装置;软管密封性能试验装置;气雾剂阀门密封性能试验装置)、药用泡罩密封性试验等装置备注:本机气源接口为Φ6 mm 聚氨酯管;气源用户自备
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米; 波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 光源:使用显微镜光源 光斑大小:由显微镜物镜决定 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口; 尺寸:120x120x120mm 重量:1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
  • 残余应力测试仪品牌
    JH-30残余应力检测仪应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力定量测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求,对零件有轻微的破坏。3.适合于各种环境下工厂和工程现场测量。JH-30残余应力检测仪特点1.数码管显示应变和残余应力高亮8位数码显示,可通过面板按键切换显示,实时查看应变和残余应力值及方向。2.操作简单只需输入被测工件的材料相应的释放系数A,B值,即可自动计算残余应力。自带温度补偿装置,自动清零,无需复杂的软件设置。3.在线打印在线油墨打印测量应变值和残余应力数据,可作为检验依据长期保存。JH-30残余应力检测仪技术指标1、工作环境:a) 温度:-20-40℃ b) 相对湿度:42%-92%;2、应变测量范围:±12800με3、应力测量范围:±2688MPa4、分辨率:1με/字,测量精度高达0.1MPa;5、适用应变片阻值:120Ω±0.56、供桥电压:DC2V,纹波小于0.1mV;7、灵敏系数:±9.999线性可调;8、基本误差限:≤±0.2%9、零漂:≤±2με/小时10、读数值变化:±0.13με/小时11、温漂:≤±0.02%F.S/℃12、可以根据被测工件的材料随意设置相应的释放参数;13、仪器采用八位高亮数码管显示,可任意切换显示应变和应力;14、配有智能打印机。可实时打印三个方向的应变值及计算后的残余应力值δ1、δ2及主应力方向角度θ;15、设有RS232接口,可方便以后软件升级;16、可配置JHZK残余应力精密打孔装置提高测量精度;17、钻孔直径:φ1.0~φ3.0mm18、电源:交流50HZ 220V±10%
  • 高温纸垫薄膜 其他物性测试仪配件
    高温纸垫薄膜
  • James Heal 酚黄测试聚乙烯薄膜泛黄测试聚乙烯薄膜
    James Heal 纺织品酚黄测试用聚乙烯薄膜泛黄测试聚乙烯薄膜用途:纺织品酚黄测试,黄变测试,泛黄测试James Heal酚黄 (泛黄) 变测试膜400X200mm 100片/包 706-792ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试膜酚黄 (泛黄)变测试套件酚黄(泛黄)变测试纸100X75mm706-720酚黄(泛黄)变测试纸100X30mm706-709酚黄(泛黄)变测试膜400X200mm 706-792James Heal酚黄 (泛黄) 变测试纸100X75mm 50/包 706-720ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试纸James Heal酚黄 (泛黄) 变控制布100X30mm 25片/包 706-709ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变控制布
  • XRF荧光光谱仪专用测试薄膜
    产品详情 XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜,以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度:下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上,使用两种材料:聚酯(聚酯薄膜)和聚丙烯(商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”,例如以“lene”结尾的,通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜)。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料,聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体(例如水、聚乙二醇和高沸点油)。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析,因为它没有主要成分其中的污染。相比之下,聚酯薄膜含有不需要的磷和钙(3.5 µmMylar 对应于纯油(例如清洁白油)中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜,例如Hostaphan(带有硅污染的聚酯)或聚碳酸酯(不含污染,首选用于燃料分析)受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明,因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。
  • 硬度测试仪配件
    硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪,使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点,硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。 硬度测试仪配件特点 专用于配套SHORE A,SHORE D型橡胶硬度计, 其测试原理更科学,结构更紧凑、合理,使测试的稳定性和准确度进一步得到提高 使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。 硬度测试仪配件参数 E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机; 外形尺寸: 100*212*250(mm) 便携式硬度测试仪参数 可选配SHOR结构更紧凑、合理,操作简单 净重:10 Kgs 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计,硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
  • 阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪
    阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪介绍: QJ212微机控制万能材料试验机实现微机全程控制,可对整个材料500KN以内力值的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验,可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪主要技术: 1、最大负荷:10、20、30、50、10、20、30、50、100、200、300、500KN; 2、力试验力分辩率为± 1/250000,内外不分文件,且全程分辨率不变; 3、有效试验宽度:500mm; 4、有效拉伸空间:600或800mm; 5、试验速度::0.001~1000mm/min任意调; 6、速度精度:示值的± 1%以内; 7、位移测量精度:示值的± 0.5%以内; 8、变形测量精度:示值的± 0.5%以内; 9、试台升降装置:快/慢两种速度控制,可点动; 10、试台安全装置:电子限位保护; 11、试台返回:手动可以最高速度返回试验初始位置,自动可在试验结束后自动返回; 12、超载保护:超过最大负荷10%时自动保护; 13、功率: 1.5KW; 14、主机尺寸:960*650*2000mm; 15、主机重量:1200kg;
  • 动态应力应变测试
    JHDY动态应力应变测试系统应用范围1.适用于测点相对集中,被测物理量快速变化的试验中。2.主要用于动态应力分析及动载荷研究中测量结构及材料任意点的动态应力应变测量。3.接入不同的传感器,可完成应力应变、振动(加速度、速度、位移)、冲击、温度、压力、流量、力、扭矩等各种物理量的测量。4.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、旋转构件等结构动载荷测试,疲劳测试。5.可用于实验性测量,也可用于长期监控测量。JHDY动态应力应变测试系统特点1.模块化设计,自选通道数,可扩展仪器集桥路和采集通讯为一体,无需各类适配器和平衡箱,结构紧凑简洁,采用模块化结构,可根据客户要求搭载通道数为8的倍数的采集模块,单机最多64通道,软件可同时控制多台仪器并联使用,可达数百通道,并保持同步。2.全数字电路,抗混滤波,精度高,稳定性好仪器采用全数字电路,每通道独立AD、独立MCU,采用了先进的DDS数字频率合成技术,保证了多通道采样速率的同步性、准确性和稳定性。所有通道同步采样,采样频率软件设置,不随通道数递减,最高可达10KHz。采用独特的硬件隔离技术,系统具有极强的现场抗干扰能力。系统精度高,可以达到0.2%±1με。3.低电压,低功耗,低噪声电路设计仪器采用高精度进口元器件,采用低电压,低功耗,低噪声电路设计,确保了仪器长时间测量稳定性,显示精度可达0.1。同时在加装锂电后,可长期待机测量。4.配合不同传感器实现多种物理量测量,功能强大,性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器,实现你所需要的物理量的测量,操作简单方便。5.具有多种补偿方式,能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、软件多种补偿方式,稳定性好。尤其是软件补偿方式,可方便快捷的选择模块上所有通道进行同时补偿,避免了繁琐的桥路补偿,节约测量成本和时间。6.仪器连接简单,设置方便,操作快捷,海量存贮仪器与计算机usb接口连接,即插即用。仪器与各类传感器通过航插连接,方便可靠。可连接各种应变花和传感器,仪器桥路和配置采用菜单式设计,只需选择测量类型,软件控制仪器完成自动配置和清零,全量程自动平衡,不损失测量范围,无需复杂专业的测前设置。可进行不间断长时间在线测量,数据存储量取决于计算机硬盘大小。7.简洁的面板设计,闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方,具有通讯和电量指示,每个模块的状态高亮指示灯闪烁指示,一目了然。8.具有标准模拟量电平输出,可与其他控制采集单元互联9.具有远程同步触发控制端口,可各种仪器实现同步采样控制10.具有掉电自动保存测量数据功能JHDY动态应力应变测试系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作,所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置,程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数,触发类型,完成信号的实时采集、处理、分析等功能,具有多种显示方式,可实时在线进行频谱分析和应力计算。2.多通道同时实时显示曲线,可直接显示所需物理量多通道实时显示时域曲线和频域曲线。根据传感器的输出灵敏度,完成被测物理量单位量纲的归一化,并直接显示被测物理量。无需复杂的变换计算。3.测量数据高度实时同步,自动保存,自动生成报表,功能多样软件可对历史数据回放浏览,具有多样的浏览工具、截图工具,浏览中可对数据进行去直流、去趋势、频谱分析、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告,在线打印。4.根据测量需求灵活设置参数,满足不同的测试需求可根据不同需要对各通道参数独立设置工程单位、测量类型、控制参数等。5.任意通道间X-Y绘图功能,可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能,对历史数据进行滤波,微分和积分计算,数据统计等数据处理功能。
  • ChemplexXRF测试薄膜
    XRF样品膜、XRF测试薄膜、、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜美同达提供chemplex各种样品薄膜和样品杯,如有需要,请。 Chemplex样品杯是使用方便简捷,无污染的测试用样品杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品详情: 1、1000系列:样本杯与SPECTROSULFUR分析仪杯,TRIMLESS套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus 与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。 产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。 2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。 3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。 4、1500系列:双开口端XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。 产品编号:1530双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540双开口端。 5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。 样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。 6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1730咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。 7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1830ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。 8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风 ,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。 9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。 产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2双开口端。 10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。 11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。 产品编号:2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。 12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形) 样本杯技术。 产品编号:3106、3110、3115、3120。
  • 粉末流动性测试仪
    Aode-308智能粉末流动性测试仪智能粉末流动性测试仪Aode-308简介智能粉末流动性测试仪Aode-308是丹东奥德仪器有限公司研发生产的测试粉末流动性和休止角的一款仪器。仪器可以通过漏斗流出的粉堆自动测试出粉堆的休止角、粉末流动时间、粉堆的堆密度、粉堆体积和流动时间的对应质量来综合评价粉体的流动性,软件会自动计算出粉体的流动性评价和流动性指数,同时可以生成流速和质量的曲线图。
  • 铝箔耐破强度测试仪
    产品介绍:AF-01铝箔耐破度测试仪专业应用于各类药用铝箔耐破强度试验,是铝箔强度性能检测的基本仪器,是食品、药品 包装厂家、商检、科研等部门的理想检测设备。产品特征:● 液晶屏显示,PVC控制面板,人性化操作设计 ● 全自动测试过程,自动判断破裂度、自动退压 ● 微电脑处理系统,测试压力值微电脑实时采集数据,记忆测试结果 ● 微型打印机打印输出,方便数据快速输出 ● 采用同步电机传动,传动平稳、准确,使输出压力更精确技术参数:测量范围 50~1600kpa 准确率 ≤±0.5% 分辨率 0.01kpa 油压速度 95±5ml/min 上夹环孔内径 φ30.5±0.05mm 下夹环孔内径 φ31.5±0.05mm 试样夹持力 430kpa 外形尺寸 340*400*450mm 重量 45kg执行标准:YBB00152002、GB12255-90 产品配置:主机、甘油、微型打印机、校正片、橡皮膜
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • HL-6301 土壤湿度测试仪
    HL-6301 土壤湿度测试仪 HL-6301 土壤湿度测试仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的湿度,无需电池.工作原理: 通过土壤中有机营养物质的电解值测出植物土壤水份情况, 把探针插入根部就可读出,无需电池.精确有效的测出植物土壤里的湿度;准确掌握各种植物生长的适宜条件;把探针插入根部土壤中就可读出准确的土壤湿度,MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何测量湿度 1.将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时,不要使探棒离植物过近,以免伤及植物根系; 2.在探棒插入被测土壤的过程中,你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定,这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果; 3.读取结果; 4.将探棒从被测土壤中取出,请不要拉、拽白色连接线,以免使用时出现接触不良等故障; 5.用棉布将探棒完全擦净,以备下次使用。 如何读取结果 1.湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求,在此情况下您不需继续浇水;若结果低于规定要求,提醒您应立即浇水。 2.浇灌次数(参考说明书): &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3.特殊水分要求 以下数字代表: i 每天向叶面洒水; ii 不要让土壤变干; iii 保持土壤湿润,但不应过于潮湿; iv 土壤应始终保持湿润; v 在浇灌间隙可令土壤变干; vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干; vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量; viii 将水倒入盆栽托盘中;不需洒水在叶子表面。
  • 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix
    产品介绍: PMT-05 医药包装物理性能测试仪是针对医用材料物理性能测试开发的一款多功能集成仪器,可进行器身密合性检测(预灌封注射器密合性检测)、铝塑瓶盖开启力、安瓿瓶折断力、胶塞穿刺力、注射针刚性、针座结合牢度、铝箔板材拉伸以及定力值和定位移测试。扩展还可进行其他项目测试。本仪器应用于注射剂瓶和输液瓶铝盖、丁基胶塞、铝塑组合盖、聚丙烯组合盖、薄膜、复合膜、药用铝箔、PVC硬片、预灌封注射器、一次性注射器等药品包装材料,进行接桥链接力、穿刺力、滑动性、开启力、拉伸强度、热合强度、人体内导管导丝摩擦力等试验。 医药包装物理性能测试仪采用进口品牌高精度传感器,测试结果精确稳定,无极调速可满足不同实验对试验速度的要求。仪器支持多种试验模式,配合不同试验夹具可满足不同实验要求,夹具更换方便快捷。广泛应用于药检机构、药包材生产企业、制药企业、医疗器械生产企业等单位。 产品特点:● 进口微型计算机控制技术,开放式结构,友好人机界面操作,使用简单方便● 多种操作模式任意选择,增加定力值、定位移模式,操作更简单方便● 精密丝杆传动,优质不锈钢导轨及合理布局,确保仪器运行平稳● 采用进口高精度测力传感器,测量精度为 0.5 级● 采用精密微分电机驱动,传动更平稳,噪音更低,定位更准确,测试结果重复性更好● 液晶中文显示,全自动测量,具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机输出,打印快速,噪音低,不需更换色带,更换纸卷方便● 内置专用校准程序,便于计量、校准部门(第三方)对仪器进行校准● 高清彩色大屏幕显示曲线、文字,视觉更清晰● 可配备电脑软件,双向操作 技术参数:测量范围 5kg 25kg 50kg (任选一个或多个)测量单位 N kg ib测量精度 0.5 级试验行程 1000mm测试模式 开启力测试、折断力测试、穿刺力测试、拉压力测试、针管刚性测试、定力值测试、定位移测试、剥离力测试、活塞滑动性能测试、器身密合性测试、人体内导管导丝摩擦力测试试验速度 1-600mm/min 无级变速外形尺寸 470(L) X 450(B) X 970(H) mm重 量 约 90kg电 源 AC220V±22V,50Hz标准配置 主机 、拉伸夹具选购配置 开启力夹具、穿刺夹具、折断力夹具、滑动性能夹具、电脑软件、电脑设置标准:YBB00242004-2015、YBB00402003-2015、 YBB00042005-2015、YBB00052005-2015、 YBB00332004-2015 、YBB00332002-2015、YBB00112004-2015、GB-14232.1-2004、GB-15811-2016、GB-15810-2001、GB/T-1962.1-2001、GB-2637-1995、ASTM D882医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix
  • ROHS环保测试仪器专用Chemplex样品杯
    美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产,是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程,Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与Chemplex样品杯组合使用,可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品,适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。产品介绍:独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的高密度聚乙烯! 样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。样品盒,3571型(每包100个)ROHS环保测试仪器专用样品杯、用于测试液体和粉末样品。用于聚酯或聚丙烯薄膜。实验室分析仪器专用双开口端产品规格加工定制否品牌XRF仪器专用型号219-85000-55尺寸31.6mm;V:10ml材质高密度聚乙烯用途用于液体和粉末样品测试
  • 焊接残余应力检测方法
    金属材料在机械加工和热加工的过程中都会产生不同的残余应力。残余应力的存在对材料的力学性能有着重大的影响,因此,残余应力的检测对于热处理工艺、表面强化处理工艺、消除应力工艺的效果及不良品的控制分析等都有很重要的意义。南京聚航科技有限公司技术先进,服务周到,可针对各类试件、工件提供专业的残余应力检测技术服务。服务方式可根据客户情况,选择将试件邮寄或者我方人员上门两种方式。聚航科技为您提供专业的盲孔法残余应力检测、环芯法残余应力检测、切条法残余应力检测、磁测法残余应力检测等测试服务。根据客户所述说的残余应力检测需求专门为客户提供详尽的检测方案。并根据国内外相关标准,提供测试报告,为客户进行应力分析。我公司所用的测试仪器经省级计量机构检定精度达到0.1级。南京聚航科技有限公司残余应力检测事业部推出的残余应力检测服务是针对机械制造行业中产品毛坯-粗加工-热处理-半精加工-精加工-成品等全过程或某重要工艺的残余应力参数检测服务,金属非金属都可,可以帮助客户建立起一套属于自己产品的残余应力数据库,完善企业产品合格检测标准,让客户充分了解到工艺全流程或重点工艺加工处理后的产品残余应力水平,缩短产品研发时间、优化产品结构和工艺、改善产品安全性能、保证质量、降低成本、完善产品质量管控手段、提高客户产品的成品率、增强产品竞争力。 南京聚航科技有限公司遵循保密原则,充分保障客户的商业、技术秘密。南京聚航科技有限公司残余应力检测技术服务行业有:航空:航空飞行器的框架、发动机机匣、涡轮盘、薄壁件等;航天:航天飞行器薄壁件、舱体、支架等; 兵器:装甲钢、铝合金车体、齿轮箱、弹壳、雷达等;轨道交通:车体、转向架、底架横梁等; 其他行业:汽车、机械、船舶、电子等。
  • YSI 60 酸度、温度测试仪
    北京宏昌信科技有限公司 总代理美国YSI 60 酸度、温度测试仪---价格优惠 YSI 60 酸度、温度测量仪 · 手提式野外酸度、温度测量仪 YSI 手提式酸度测量仪(60型、63型)是特别为野外测量 而设计的专业酸度测量仪器,它克服了一般酸度计电极在野外应用的缺点。 · 使用特殊电缆屏蔽设计,突破传统酸度计电缆长度的限制,测量水深范围达30米 · 电极接头全封闭防水,整个探头可插入水中测量 · 探头加固保护,可抵抗轻度的碰撞 · 可更换式电极,经济、便于现场维护 针对野外测量而设计的特点 完全按照人体工学设计,不论手持、阅读、操作还是携带等细节上均考虑到野外测试的特殊需要 特大液晶显示屏,另有背景加光功能,在昏暗的环境下仍能清晰读数 探头使用不锈钢制造,电极端外加塑料保护套,确保坚固耐用。另外金属的重量让探头更易于沉入水中 所有电缆接头均装有应力舒缓器,减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 内置探头存贮室,方便携带并保存探头的正常工作状态,亦可作溶解氧的校准室。 全按键式操作,一切运作均由微处理器操控。 自动功能检查:确保开机时系统均正常工作。 内置非散失性记录器,可储存50组数据,读数不会因断电而丢失。 耐固野外探头 复合式玻璃电极,自动温度补偿 全水密BNC电极接头 电极可于野外自行更换 酸度探头保修期一年 可更换式电极,防水密封BNC接头 YSI 60 系统规格 测量参数技术指标 参数 测量范围 分辨率 准确度* 酸度 0至14 0.01 ± 0.1(校准温度10℃内)* ± 0.2(校准温度20℃内)* 温度 -5℃至+75℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* * 仪器规格包括仪表和头的总误差,仪器本身的酸度准确度为± 0.02 仪器规格 酸度校准 1点、2点或3点校准选择,自动缓冲液识别 电缆长度 3米、7.5米、15米和30米 酸度电极 复合式玻璃电极 温度补偿 全自动 量程选择 自动或手动电导量程选择 电源 6节5号碱性电池,操作寿命约100小时 附低电量显示 防水等级 超越IP65标准 尺寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重量 0.73公斤(3米电缆) 选购指南 仪器 60-10 60-25 60-50 60-100 YSI 60型 酸度、温度测量仪,3米电缆 YSI 60型 酸度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 60型 酸度、温度测量仪,15米电缆 YSI 60型 酸度、温度测量仪,15米电缆 配件 131133 5050 5520 酸度更换电极 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 校准标准液 3821-1 3822-1 3823-1 5580-1 pH 4 缓冲液(475毫升) pH 7 缓冲液(475毫升) pH 10 缓冲液(475毫升) 酸度、电导、ORP多参数检查液(475毫升)
  • YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型
    唐海红 13120400643 YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型 YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升) YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型
  • HF-9薄膜测试附件
    HF-9薄膜测试附件用于塑料、橡胶等样品检测(含硅片)
  • chemplex 样品薄膜 迈拉膜100
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国**商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m: 100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • 休止角测试仪
    休止角测定仪Aode-309 休止角安息角测试仪简介 Aode-309休止角测定仪是丹东奥德仪器有限公司研发生产的通过测试粉安息角来判定粉末流动性的一款仪器,仪器的设计符合国家标准GB/T 21060-2007国际标准 ISO 4324 标准。仪器可以连接到电脑上,测量数据可上传至电脑的软件中,软件可以计算出粉末堆的休止角并根据测试结果给出流动性的指数和流动性评价,避免了人工测量和计算产生的误差。同时配有搅拌杆对流动性不好的粉末加以辅助流动,使流动性差的粉末也能参与检测。休止角测试仪特点:仪器配有软件可以自动计算出粉堆的休止角,测试所有数据由软件自动计算完成,自动生成报告,并根据休止角给出流动性评价。测试数据可保存打印,以备日后处理和查找。操作简单方便、测量速度快、直观。仪器主体由304不锈钢制成,便于清洗,永不上锈简单快速地自动测定休止角,通过休止角自动判定粉体的流动性仪器配有搅拌扒,可以帮助流动性不好的粉末测试 休止角测试仪技术参数:电源: 5v尺寸: 280*280*600重量: 8kg 漏斗容积:520ml漏斗出口尺寸:4 6 8 10 13 15 18 20毫米多种可选材质:由304不锈钢和铝合金构成休止角测试说明:在自然环境中将粉末倾倒在平面时,会形成一个堆积的圆锥体,圆锥体的底角我们通常称作休止角或安息角,圆锥体的高度和底角的大小与粉末颗粒的形状、大小、粘附性、静电、密度、等有着高度的关联,所以能够精确的测量出粉末圆锥的高度计算出休止角有着重要的意义。它决定了粉末样品的重要物理性质信息。应用场合适合非金属粉末颗粒测试适合在投产前测试出存在问题的样品适合制药、塑料颗粒、工业、制模等。
  • chemplex样品薄膜迈拉膜
    chemplex样品薄膜型号:090,250品牌:chemplex产地:美国 一、产品介绍: 在用x荧光光谱仪进行rohs检测,weee检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料?适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础: 使用方便快捷; 避免造成待测样品污染; 优越的分析物透射比与强度; 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是x射线光谱仪(xrf)配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商,提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪(xrf)的检测实验消耗产品!我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器:德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)thermo,瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma,venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。(适用x 射线荧光光谱仪品牌型号:所有x射线荧光光谱仪包括:尼通(niton):xlt797z 、xlt794、xlt898 ;伊诺斯(innov-x):alpha6000;牛津(oxford):met-5000;帕纳科(panalytical):minipal4、 minipal2;精工(seiko):sea1000a;斯派克(spectro):xepos、midex m;热电(thermo):arl quant’x;日本电子(jeol)jsx-3400r;horriba等。) 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世,在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外,薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成,托框能够在组装过程中自动分离,留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时,薄膜物质并不会被直接处理,这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时,薄膜将自动从托架上分离,留下绷紧的无皱样本支撑窗。
  • 薄膜、样品膜、光谱仪膜、麦拉膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
    透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: 与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:0.5 mm,薄膜厚度:30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:50 nm) 边框厚度: 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度: 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 表面平整度: 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整, TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为:0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性: 该窗格呈疏水性,如果样品取自水悬浮液,悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理,可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试,但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格,但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸,适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,(薄膜直接沉积在窗口上)。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询:021-35359028/ admin@instsun.com
  • 粉体物性测试仪休止角测定仪安息角测试仪
    休止角安息角测试仪简介Aode-309休止角测定仪是丹东奥德仪器有限公司研发生产的通过测试粉安息角来判定粉末流动性的一款仪器仪器的设计符合国家标准GB/T 21060-2007国际标准 ISO 4324 标准。仪器自身带电子数显测量尺,测量尺可以连接到电脑上,测量数据可上传至电脑的软件中,软件可以计算出粉末堆的休止角并根据测试结果给出流动性的指数和流动性评价避免了人工测量和计算产生的误差。同时配有搅拌杆对流动性不好的粉末加以辅助流动,使流动性差的粉末也能参与检测。
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