激光扫描测径仪原理

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

空区激光扫描仪ZDC3.0采用高性能测量装置与平板计算机结合，能够获得更高的成像解析度。空区激光扫描仪ZDC3.0适用于煤矿井下采掘工作面，回风巷道，机电峒室等工作环境。仪器采用了功能优越、可靠性高的芯片来实现整体的功能，可实现距离、面积、体积、角度的测量。具有体积小、重量轻、便于携带，使用简捷、维护方便，密封性能好、安全可靠等特点。测量终端和配套用的平板计算机通过蓝牙传输数据，两者协同使用，数据测量更便捷、准确、直观。结果可转为各种图纸文档保存转载查看，提供数据测量一体化解决方案。测量装置经国家指定的法定权威机构审查及检验。适用范围煤矿井下采掘工作面回风巷道。机电峒室特点1.蓝牙数据传输空区激光扫描仪ZDC3.0具有采集测量数据并通过蓝牙传输至平板计算机的功能；2.智能绘图具有根据上传数据绘制图纸的功能；3.多参数测量具有距离、面积、体积、角度测量功能；4.测量储存具有储存、查看、删除功能；5.音频功能具有摄像、录音、拍照及音视频播放功能

手持式激光三维扫描仪,手持式三维扫描仪,汽车三维扫描仪,汽车钣金CAV检测,汽车四门两盖扫描CAV检测,汽车厂整车三维扫描检测蔡司ZEISS T-SCAN 手持式激光扫描仪产品详情 Product Information 由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用，使得快速、直观和高度精确的3D扫描在坐标测量技术中进入全新的高度。全面革新且一体化的设计理念，包括完美匹配的辅助装置（跟踪仪、手持式扫描仪和接触式测头），为种类繁多的应用提供了最大的灵活性。高性能的软件平台colin3D能够在整个测量过程中，始终如一地保持高效并始终坚持以项目为导向的操作过程。面向用户的、人性化的系统设计和易于操作的高效数据采集 ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。可根据操作者的需求量身定制，保证了扫描过程直观、无疲劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头，该系统非常适合于数据捕获，即使最难以到达的区域也不例外。 优秀的技术特性，例如，针对各种对象的表面进行高动态范围内的数据采集，而其所具有的迄今不可见的数据速率可以达到无可比拟的扫描速度并得到精确的测量结果。手持式测头进行快速点测量 ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量点，使其成为在物体区域内进行单点测量的完美解决方案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快速。动态参考 即使在移动的物体上也能得到高精密的三维数据记录，通过采用动态参考功能，在恶劣的环境条件下可以独立执行测量工作，如振动（生产环境中，例如冲压车间或加工部件：对移动车门的密封进行测量）。通用软件接口 从数据采集到数据处理，至数据比较 - ZEISS T-SCAN系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此，可以轻松集成到现有的工艺流程中。用于不同的测量体积的光学跟踪系统 从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”，为您的个人测量应用提供理想解决方案。 ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性、ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪 ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进行优化匹配，因此开辟了广泛的测量应用领域。 极高的数据处理速率使测量具有最高的速度，有利于最大限度地减少物体扫描过程的时间。通过采用创新型扫描和跟踪相结合的独特大范围测量，您将在光学三维数字化中获得全新的视角。 现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据-手持式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围，为您进行有效的测量处理提供最大可能的运动自由。主要技术参数测量景深±50mm线宽达到125mm平均工作距离150mm激光线频率达到330Hz数据获取速率210.000点/秒重量1100g测量尺寸300x170x150mm标准电缆长度（扫描仪-PC）10m平均点间距0.075mm每行点数1312激光类型二极管波长658纳米激光等级2M软件ZEISS colin3D