污垢热阻测试仪原理

产品介绍Neosens提供了一个创新的方案来连续监控结垢现象（生物膜、水垢… … ）。传感器在水处理过程中连续监测污垢厚度，优化水处理过程并确保其有效性。Skidsens 探头可安装在旁路监测系统上或控制器上。Skidsens监测仪实时监视沉积物：l 确保水处理效率l 在生物膜/水垢异常增加的情况下触发警报l 了优化和减少化学物质排放l 减少军团菌的风险产品特征l 降低运营成本l 减少化学排放l 延长工业设备寿命产品优势l 实时，连续和现场监测污垢l 无需维护产品应用l 冷却塔l 过滤和膜处理l 水处理l 热交换器技术参数技术规格探头尺寸D28 mm x 190 mm连接?″T型接头线缆1.5 m认证CE材料PVC，316L不锈钢输出1个4~20 mA模拟输出（最大250 W)，测量污垢电势供电24 Vdc / 50 mA测量单位和运行条件污垢电势0~1 u.a.工艺条件流体温度压强最小流速（基于直径1英寸的管道）最高0~60 ℃最高32~140 °F最大5 bars最大72.52 psi1000 L/h4.4 gal/min最大温度斜率10 ℃/min50°F/min外部运行条件外部温度5~50℃ (41~122°F)相对湿度0~90 %

应用： 管道结垢分析 阻垢剂筛选 阻垢剂浓度优化PSL公司生产的阻垢剂测试仪（是Differential Scale Loop）一套全自动实验室设备，用于模拟管道结垢沉积效应以及管道阻垢剂的筛选以、优化阻垢剂的最佳浓度。如果用管道输送含水流体，或者加压输送含盐蓄水池水，硫酸钡会在管道内逐渐结垢，尤其是盐类物质和蓄水池中的水混合时，结垢现象更加明显。 阻垢剂检测仪是特别开发用来观察在现实环境中的结垢过程，仪器可以完成三个步骤。 评价结垢沉积风险。 用于选择正确的管道阻垢剂、结垢抑制剂。 评价管道阻垢剂效果，获取管道阻垢剂的最佳浓度。为完成这个任务，我用了三个HPLC(液相色谱)泵，阴离子和阳离子的两种溶液被第三种已知抑制剂浓度的溶液混合，混合后的溶液被输入管道模型，然后调节不同的压力。也可以根据需要更换不同直径以及长度的管道模型去模拟不同的现场条件。样品量500ml左右就足够实验使用，为模拟不同条件，测试最高温度可以达到250 ° C (482 ° F)和最大51.7 bar (739.7 psi)的压力。软件WinDSL 可以编制复杂的不同抑制剂浓度测试时间表，在完成实验以后，仪器有自动清洁功能，所以一般实验无需更换模型管道。 技术参数：1.温度范围： 30℃～+250℃2.压力范围： 3.4 bar ... 51.7 bar3.流速： 单泵: 0.001 ... 9.99 ml/min 总共: 29.97 ml/min4.模型管道： 长度: 2m 外径: 1/16", 内径: 0.88 mm，这个是标准配置， 可根据客户需要选配不同直径、不同长度的模型管道。

EY50 热阻湿阻测试仪是目前比较专业,先进的热阻湿阻测试产品，具有完全模拟人体皮肤机构的发热盘，不发霉，容易清洁。配备有高精度的自动供水系统，不需要做任何调节，就能保证供水稳定，而且不渗漏。独立一体化设计，测试主机和环境实验箱完全分离设计，用户可以使用自购环境实验箱，方便维修校准而且减少用户负担。 风道结构可以简单拆卸下来，可以外接风罩，满足无风速的静态测试标准。主机技术参数 l 热阻（RCT）范围:0.002~2.0 m2.K/Wl 分辨率：0.0001 m2 .K/Wl 湿阻(Ret)范围：0~1000 m2.Pa/Wl 分辨率：0.001 m2Pa/Wl 测试板温度范围：20℃~50℃可调l 温度控制精度：±0.03℃l 温度分辨率：±0.01℃l 风速：0-1.5m/秒 连续可调风速控制精度：±1%l 测试样品厚度：0-50mml 试验板面积：254mm×254mml 试样面积：512mm×512mml 热护环宽度：127mml 外型尺寸：73×61×35cm(L×W×H) (不包括环境实验箱）l 重量：60Kg(不包括环境实验箱）l 主机电源:AC220V±10%,100W或AC110V±10%,100W支持标准 GB/T11048,ISO11092,ASTMF1868-09,BS8515,ASTMD1518-2014,JIS L1096-2010,ASTM F 1868-02产品运用 热阻湿阻测试，衣物，棉被，保暖服装的舒适性能的测试，纺织面料人体舒适度测试等。

半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点超高精度：温度(T )分辨率0.01℃℃，1MHz变频采样:技术领先：第三代瞬态热测试技术，可输出结构函数进行热结构分析行业领先：具备4路高速高精度采集模块，采样速度，精度均达到行业顶尖水平架构领先：采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制，实现智能化 瞬态监测：连续采集加热和冷却区的结温变化，同步采集温度监控点数据 NPS技术：同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据，形成数据关系矩阵。ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”产品品牌天士立产品型号ST-HeatX产品名称半导体热特性测试系统主要功能适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出试验对象DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC试验标准符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求试验模式DIODE模式SAT模式IGBT模式RDSON模式HEMT模式门控电源数量 4 输出方式 隔离输出 输出范围 -10V ~ 20V 输出误差 ≤0.1V + 0.5%set 分辨率 0.01VNTC/PTC数据同步采集NTC测量范围 250kΩ 〜 100Ω PTC测量范围 100Ω 〜 250kΩ 最高采样频率 1MHZ 同步时间误差 ≤1μs栅极漏电测量量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA加热电源量程 30A / 10V 电流输出误差 ≤0.05A + 0.1%set 电流设定分辨率 0.01A 开关速度1μs测温电流源（主）量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 分辨率 1mA 误差 ≤2mA + 0.5%set测温电流源（辅）量程 0 ~ 100mA / 10V 分辨率 0.01mA 误差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 误差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set测量通道数量 4 动态电压测量范围 ±5V(差分模式) 动态电压测量误差 ≤1mV + 0.5%set 动态电压量程 100mV、200mV、400mV、800mV 动态电压分辨率 1.6μV 采样频率 最高1MHz 采样模式 连续变频采样

大功率热阻测试仪ENR0620 热阻测试系统系统概述近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大量生产及低成本的方向。组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品可靠度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中常用也是重要的考量标准之一就是热阻（thermal resistance）西安易恩电气ENR0620 热阻测试系统，本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法）运用实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类 IC（包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。测试功能测试器件测试功能IGBT瞬态阻抗(Thermal Impedance)从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。MOSFET二极管稳态热阻(Thermal Resistance)包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断向外扩散，达到了热平衡，得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。三极管可控硅线形调压器装片质量的分析主要测试器件的粘接处的热阻抗值，如果有粘接层有气孔，那么传热就要受阻，这样将导致芯片的温度上升，因此这个功能够衡量粘接工艺的稳定性。LEDMESFETIC可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。内部封装结构与其散热能力的相关性分析多晶片器件的测试SOA Test浪涌测试配置 /系统单元配置组成单元项目配置主机平台软件功率2A/10V 采样单元测量控制软件测试延迟时间（启动时间）1us 数控单元结果分析软件采样率1us 功率驱动单元建模软件测试通道数2（最大 8 个）测试通道1-8个功率放大器提高驱动能力10~100 倍扩展选件电性规格系统特征加热电流测量精度 低电流测量02A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)●测试启动时间仅为 1 s，几分钟之内就 可以得到器件的全面热特性；●先进的静态实时测量方法，采样间隔最快可达 1 s， 采样点高达 65000 个，有效地保证了数据的准确性和完备性；高电流测量02A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)●市场上最高的灵敏度 FoM=10000 W/℃，很高的灵 敏度 SNR4000，结温测试精度高达 0.01℃；加热电压测量精度±0.25% ，0~50V 热电偶测量精度(T 型)典型 ±0.1°C , 最大±0.3°C●强大的测试软件和数据分析软件保证了后期扩展功能的提升。交流电压220VAC，5A，50/60Hz电压（标配）50V电流（标配）20A（选配）200A,400A,800A,1000A节温感应电流1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配)测试原理根据IEDEC静态测量原理，改变器件输入功率，使器件温度发生变化，在达到热平衡之前，ENR0620以1uS的高速采样率实时记录温度随着时间变化的瞬态响应曲线；在得到温度响应后，根据R_thiA=T / P 计算稳态热阻；将上述瞬态响应转换为结构函数形式，方便用户分析器件热流传导路径上的各层结构。系统未采用“脉冲方法”。因为“脉冲方法”采用延时测量技术，限制了测量精度，且“脉冲方法”在测量瞬态温度响应市应非实时记录数据。而是通过人为构建脉冲加热功率来模拟瞬态过程，测试结果的精确性无法保证。

适用于纺织品、服装、床上用品、睡袋、室内装饰物、薄膜、涂层材料、泡沫、皮革、多层织物组合的纺织品等平面材料的热阻和湿阻测试。检测精度远高于标准，满足测定纺织品生理舒适性方面热湿性能指标的理想仪器。其加热核心部分采用了发明专利技术（专利号：200610154833.9）。“自动补水的织物热湿阻测试仪”获实用新型专利（专利号：ZL201120114014.8）。“一种织物热湿阻测试仪”获实用新型专利 专利号：ZL201120111945.2。“织物热湿阻测试仪”获国家实用新型专利专利号：ZL201120112006.X

仪器简介：热阻湿阻测试仪，亦被称为“皮肤模型”，用于测试面料及其它材料在常态下的热阻与湿阻性能。主要特点：准确性 湿度防护和加热板均由烧结多孔青铜制成 - 精确模拟人体皮肤 加热板的高度由电机控制，确保加热板始终保持水平 带槽保护板允许简单和精确的样品装载调湿箱精心设计的气候箱确保了最严格的控制和监测：空气温度空气流速相对湿度加热器功率消耗三节加热板 测试板 防护板 底板 每块板都由电加热并独立地维持在一个恒定的温度范围（33到36摄氏度）位于样品正上方的空气速度传感器 其他用于气候控制的传感器包括：相对湿度环境空气温度功能强大 可以测试面积为250mm×250mm，厚度为70mm的测试样品 该仪器模拟干湿皮肤条件，提供完整的样品信息精密性测试参数以设定的增量显示在仪器的全彩显示屏上，由操作员控制。热阻（Ret）湿阻（Rct）热板温度防护板温度测试剩余时间直观性装有控制和分析软件的笔记本电脑 控制方便，清晰地报告所有的关键设置 红/绿指示灯使测试条件一目了然 直观的软件可控制所有测试标准的实时结果的显示与储存

DRL-III导热系数测试仪（热流法）一、产品概述 该导热系数仪采用热流法测量不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔。测量参照标准 MIL-I-49456A薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准,D5470-06,ASTM E1530 ，ASTM C 518, ISO 8301, JIS A 1412, DIN EN 12939, DIN EN 13163 与 DIN EN 12667 等相关国际标准。 能够测量 Ф10～30mm 的样品，厚度范围可从0.02～20mm。全部测试功能自动完成；马达控制的平板移动；样品夹在两个热流传感器中间测试，温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量，所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。该仪器用于测试高分子材料，陶瓷，绝缘材料，复合材料，非金属材料，玻璃，橡胶，及其它的具有低、中等导热系数的材料。仅需要比较小的样品。薄膜可以使用多层技术准确的得到测量。二、主要技术参数：1：热极温控： 室温～200℃, 测温分辨率0.01℃2：冷极温控：0～99.99℃，分辨率0.01℃3：样品直径：Ф30mm，厚度0.02-20mm；4：热阻范围：0.000005 ～ 0.05 m2K/W5：导热系数测试范围： 0.010-50W/mK， 6：精度 ≤±3%7：压力测量范围：0～1000N8: 位移测量范围：0～30.00mm9：实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、老化可靠性测试。10：配有完整的测试系统及软件平台。11：操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告打印输出。三、仪器配置：1.测试主机 1台, 2.恒温水槽 1台， 3.测试软件 1套，4.胶体粉体样品框1个，*4.计算机（打印机）用户自备典型测试材料：1、金属材料、不锈钢。2、导热硅脂。3、导热硅胶垫。4、导热工程塑料。5、导热胶带(样品很薄很黏，难以制作规则的单个样品，一边用透明塑料另外一边用纸固定)。 6、铝基板、覆铜板。 7、石英玻璃、复合陶瓷。8、泡沫铜、石墨纸、石墨片等新型材料。

热阻测试仪 Analysis Techlnc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的专家.发表了很多关于热阻测试与分析，热导率及焊点可靠性方面的论文。 Analvsis Techlnc,在美国有独立的实验室提供技术支持在全世界热阳测试仪这套设备有几百家知 名客户. Phase12 的功能： PHASE12 可以测试Rja，Rjc，Rjb Rjl 的热阻（测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法） 图 一 Phase12 测试来的数据，将产生上图。左上角的数字说明这个器件有四个层次（为了可以清楚的了解不同层次，可以将这个图转换成图三）。其中第一个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面 Tau 是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一个拐点都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，对不同厂家同类产品而言，可以让我们选择热阻值非常好的厂家；同时它也可以检测同一厂家，同类产品，不同批次质量的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。 1） 瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试，可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。见上图 2） 稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试，其包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断地向外扩散，最后达到了热平衡，这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。 3） 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。 图 二 4） 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)，可以通过将类似的图一转换成下面所示的曲线分析图（热容与热阻关系图），这样更能体现不同结构下热阻，以 LED 为例从图中可以看出 LED 器件散热能力的瓶颈所在，对 LED 封装工艺的改进和封装材料的选择有很大帮助。下图为两种不同封装结构的LED 样品的分析图。 不只 LED 器件可以得到这个分析图，而且其他的器件也可以得到这个图。并且也可以得到这种分析。 图 三 从图中可以看出黑色曲线的 LED 热阻低于绿色曲线的 LED 热阻，这也从客户那里得到确认，黑色曲线的 LED 在芯片粘接与散热方面的工艺得到很大改进。 5） 装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation). 主要测试器件的粘接处的热阻抗值，如果有粘接层有气孔，那么传热就要受阻，这样将导致芯片的温度上升，因此这个功能能够衡量粘接工艺的稳定性。 图 四 6） 多晶片器件的测试。 以两个晶片为例：先给其中的晶片 1 加电使其节温升高然后测试出热阻 R11 和功率Q1同时给另一晶片 2 供感应电流然后测出感应热阻 R21.再给晶片 2 加电使其节温升高然后测试出热阻R22 节温和功率 Q2, 同时给另一晶片 1 供感应电流然后测出感应热阻 R12。根据热阻的定义R=(Tj-Tr)/P 即 R=△T/P 根据上述测试数据做矩阵 △ T1=R11xQ1+R12xQ2 △T2=R21xQ1+R22xQ2 此双晶片模块的热阻 R=〔△T1+△T2〕/2*〔Q1+Q2〕两个晶片以上的模块测试方法和上述方法相同7）SOA Test 8）浪涌测试 三、设备附件介绍3.1 Device Calibration Bath校准浴锅技术特征：由集成在热阻分析仪中的模块直接进行温度控制使用有陶瓷镀层的磁力搅拌器带有冷却风扇的坚固底盘能够控制升温速率并保证安全性有盖的四升不锈钢水浴锅悬挂结构支持部件被校准四升绝缘良好导 矿物油，对环境无害并能重复使用完整的说明及保证用来得到节压和节温的函数关系即K值3.2 EVN-12 静止空气测试箱 EVN-12 是用于在标准化的静止空气环境下测试元件。自然对流条件下的热阻测量会 对实验室里的不期望的空气流动非常敏感。这套静止空气测试箱可以排除这种潜在的产生测试错误的因素。(里面的红外探测头及支架是选项，不是标配)3.3 JEDEC RJC 测试夹具 器件的最大的供电电压： 30V（标配）器件的最大的供电电流： 18 安培(标配)，选配（100A,200A,400A,800A,1000A及更高电流）节温的感应电流：1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配)数据采样频率1MHz结温精度±0.1°C 分辨率：±0. 007°C 五．测试数据1. 下图是器件1260 和2530的节温校准图表，从中可以得到节温和节压的函数关系（线性关系）。根据热阻的定义 R=(Tj-Tr)/P Tj---节温 Tr---参考点温度 P---给器件所加的功率 Tr ---可用电热偶测出来，P--- 软件会自动测试出来用电学方法来测节温（通过测节压，根据节温和节压的函数关系软件会自动换算成节温。这样软件会根据测试出来数据自动换算成我们所要的热阻值2. 器件 1260 和 2530 的Rja 和那颗模组 Rjc 的测试数据如下。Rja---芯片到测试环境温度的热阻Rjc---芯片到器件管壳的热阻1.2530 RthjaTest #1 of 1Recal : [Ch2:3.3] 02-24-2009 13:57 Calib : [Ch1:-469.5,327.3]Sense I : 10 mAWind : no air S/N:1070703Ch# |Power(W)| Tj(℃) | Vj(V) | Tr(℃) | Ts(℃) | Tt(℃) | I-Rjx(℃/W) | A-Rjx(℃/W)1 | 3.503 | 125.6 | 0.437 | 23.1 | | | 29.20 | 28.95 span="" style="box-sizing: border-box "POWER: (VportV, VportI, IportV, IportI) = 16.58V, 0.212A, 6.56V, 0.012AMeas. Delay: 20 μecs Test Duration: 19.50 min.Rthja=28.95℃/W 2.1260 RthjaTest #1 of 1Recal : [Ch1:4.1] 02-24-2009 13:33 Calib : [Ch1:-425.0,270.9]Sense I : 10 mAWind : no air S/N:1070703Ch# |Power(W)| Tj(℃) | Vj(V) | Tr(℃) | Ts(℃) | Tt(℃) | I-Rjx(℃/W) | A-Rjx(℃/W)1 | 3.473 | 124.5 | 0.354 | 22.0 | | | 29.53 | 29.42 span="" style="box-sizing: border-box "POWER: (VportV, VportI, IportV, IportI) = 16.58V, 0.209A, 6.25V, 0.011AMeas. Delay: 20 μecs Test Duration: 11.00 min.Rthja=29.42℃/W 3.1260RthjcTest #1 of 1Recal : [Ch1:7.7] 02-24-2009 16:27 Calib : [Ch1:-425.0,270.9]Sense I : 10 mAWind : no air S/N:1070703Ch# |Power(W)| Tj(℃) | Vj(V) | Tr(℃) | Ts(℃) | Tt(℃) | I-Rjx(℃/W) | A-Rjx(℃/W)1 | 22.06 | 125.1 | 0.361 | 31.1 | | | 4.254 | 4.256 span="" style="box-sizing: border-box "POWER: (VportV, VportI, IportV, IportI) = 16.38V, 1.348A, 7.08V, 0.013AMeas. Delay: 30μ ecs Test Duration: 12.50 min.Rthjc=4.256℃/W2530Rja=28.95 ℃/W 1260 Rja= 29.42 ℃/W模组Rjc=4.256 ℃/W 3. 器件 2530 的加热曲线图，结构功能图和占空比与热阻关系图如下。 加热响应曲线 结构函数曲线该器件在不同占空比条件下测出的阻抗与热阻值冷却响应曲线与理想模型曲线器件各层热阻和热容的分析结果JEDEC51-14 Rjc 测试热阻的测试过程近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大量生产及低成本的方向。组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品可靠度降低，因而热管理（thermal management）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中最常用也是重要的评量参考是热阻（thermal resistance），以 IC 封装而言，最重要的参数 是由芯片接面到固定位置的热阻。其公式如下：RJA 示意图 RJC 示意图 热阻值一般常用θ 或是R 表示，其中Tj 为芯片的温度，Tr 为参考点的温度，P为输入的发热功率。热阻大表示热不容易传递，因此组件所产生的温度就比较高，由热阻可以判断及预测组件的发热状况。电子系统产品设计时，为了预测及分析组件的温度，需要使用热阻值的资料，因而组件设计者则除了需提供良好散热设计产品，更需提供可靠的热阻资料供系统设计之用。对于遍布世界各地的设计及制造厂商而言，为了要能成功的结合在一起，必须在关键技术上设定工业标准。单就热管理技术而言，其中就牵涉了许多不同的软硬件制造厂商，因此需透过一些国际组织及联盟来订定相关技术标准。本文中将就热阻的相关标准发展、物理意义及测量方式等相关问题作详细介绍，以使电子组件及系统设计者了解热阻相关的问题，并能正确的应用热阻值于组件及系统设计。 ΨJB 是结到电路板的热特性参数，单位是°C/W。文章 JESD51-12–Guidelines for Reporting and Using Package Thermal Information，明确指出热特性参数与热阻是不同的。与热阻ΘJB 测量中的直接单通路不同，ΨJB 测量的元件功率通量是基于多条热通路的。由于这些 ΨJB 的热通路中包括封装顶部的热对流，因此更加便于用户的应用。关于ΨJB 参数的更多详细说明请参考JEDEC 标准的JESD51-8 和 JESD51-12 部分。 利用绝热油浴的方法来测定二极管温敏参数校正曲线。在通以感应电流结还未产生明显生热时，如果给定足够的时间，结温和壳温将达到等温平衡，到时的壳温将非常接近结温。将热偶直接连接到器件表面在数据采集时，油浴将充分保证器件的温度稳定并且使热偶采集的温度等于感应结温。 油浴法测温敏参数校正曲线(Bath Method of Device Calibration)按以下装置将待测器件固定测出K 曲线后就可以加偏置进行热阻的测试 对不同封装的器件设计不同的Rjc测试夹具。3.4 Rjb 测试夹具3.5 风洞3.6 Power Booster(电源放大器)可给待测器件提供200A,400A,800A,1000A及更高的工作电流 附：此热阻测试仪运行稳定可靠，所以无须备件和耗材四、设备电性规格：加热电流测量精度±0.25%加热电压测量精度: ±0.25% ，0~30V热电偶测量精度(T 型): 典型 ±0.1°C K系数校准设定温度范围室温到180°C交流电压：220VAC，5A，50/60Hz

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪 FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求. 本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

T3Ster热阻测试仪产品概述T3Ster热阻测试仪 是Mentor Graphics公司研发制造的先进的热瞬态测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster基于JEDEC JESD51-1标准先进的静态测试方法，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。配合专为LED产业开发的选配件TERALED可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。产品特点● T3Ster符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。● T3Ster兼具JESD51-1定义的静态测试法（Static Mode）与动态测试法（Dynamic Mode），能够实时采集器件瞬态温度响应曲线（包括升温曲线与降温曲线），其采样率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，结温分辨率高达0.01℃。● T3Ster既能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。● T3Ster的研发者MicRed制定了全球第**个用于测试LED的国际标准JESD51-51，以及LED光热一体化的测试标准JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯*满足此标准所规定的光热一体化测试要求的。● T3Ster独创的Structure Function(结构函数)分析法，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能（热阻和热容参数），构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。● T3Ster可以和热仿真软件FloEFD无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入仿真软件进行后续仿真优化。 T3Ster热阻测试仪——应用范围● 各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。● 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。● 各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。T3Ster热阻测试仪——主要功能● 半导体器件结温测量。● 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。● 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。● 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。● 材料热特性测量（导热系数和比热容）。● 接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。 测试方法——基于电学法的热瞬态测试技术寻找器件内部具有温度敏感特性的电学参数，通过测量该温度敏感参数（TSP）的变化来得到结温的变化。TSP的选择：一般选取器件内PN结的正向结电压。 测试技术：热瞬态测试当器件的功率发生变化时，器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态，我们的仪器将会记录结温在这个过程中的瞬态变化曲线。一次测试，既可以得到稳态的结温热阻数据，也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线。瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息（热阻和热容参数）。 配置介绍 T3Ster热阻测试仪主机 计算机控制接口 USB接口，满足数据传输提取方便的要求 测试时间以分钟为单位计 结温测试分辨率 0.01℃*大加热时间不限*小测试延迟时间1us(用户可根据需要在软件中调节1us~10000s不限)RC网络模型级数2-100个加热电流源-2A~2A加热电压源-10V~10V测试电流源（4路）-25mA~25mA *小测试延迟时间（tMD）1μs*小采样时间间隔（ts）1μs每倍频采样点数400个（典型值）*大采样点数65000个测量通道2个（*大可扩展至8个）电压变化测量档位400mv/200mv/100mv/50mv电压测量分辨率12μV（以50mV量程计算） 温度控制设备 T3Ster为客户提供了三种温度可控的恒温设备，包括：干式温控仪、湿式温控仪以及液冷板。这三种恒温设备除了能控制待测器件的温度以测试器件的K系数，同时还能作为结温热阻测试时器件的散热环境，帮助控制器件的壳温。干式温控仪干式温控仪采用热电致冷芯片(Peltier单体)来控制器件的温度。计算机控制接口COM恒温槽尺寸52*52*10 mm3温度控制范围5 - 90 oC温度控制精度± 0.2 oC温度过载保护95 oC散热功率8W 湿式温控仪湿式温控仪采用油浴的方式来控制待测器件的温度，使用时将待测器件浸没在液体中以获得恒温环境。此外T3Ster提供的湿式温控仪还可以作为一个动力泵，驱动外接的液冷板以控制液冷板的温度。型号温度范围（℃）温度稳定性（℃）加热功率（KW）制冷功率20℃（KW）油槽尺寸（W×L/D cm）F25-HE-28~200±0.0120.2612×14/14F32-HE-35~200±0.0120.4518×12/15F34-HE-30~150±0.0120.4524×30/15 液冷板液冷板的作用：与湿式温控仪配套使用，可以控制冷板的温度，为测试器件的结温、热阻提供恒定的温度环境。（1）外观尺寸：550*160*110 mm；（2）单板尺寸：540*140*20 mm； （3）材质：硬级铝。 T3Ster-Gold ref/热测试仪校正样品（Golden Reference）性能稳定的半导体器件，方便用户定期检测测试主机的功能是否正常。 标准静止空气箱（still-air chamber）1）满足JEDEC JESD 51-2要求2）尺寸：1立方英尺 热电偶前置放大器1）方便T3Ster主机与J, K或 T 型热电偶的联接。2）T3Ster主机可以方便地测试热电偶接触点的温度随着时间变化的曲线。大功率BOOSTER高电流模式单通道38A/40V50A/30V200A/7V测试电流：0~200mA测试电流：0~200mA测试电流：0~500mA栅极电压源：15V双通道38A/40V50A/30V [1]三通道200A/7V [2] 注解：【1】通过双通道并联，输出电流*高可达100A 【2】通过三通道并联，输出电流*高可达600A单通道高电流booster双通道高电流booster 高电压模式单通道10A/100V10A/150V10A/280V测试电流：0~200mA测试电流：0~200mA测试电流：0~200mA双通道10A/150V10A/280V单通道高电压booster 双通道高电压booster TeraLED1）完全符合CIE 127-2007关于LED光测试的要求。2）配合T3Ster可以满足JESD 51-52规定的LED光热一体化测试的要求。3）整套系统包括：Φ300mm或Φ500mm积分球1个，参考LED1个，多功能光度探头1个，TERALED控制系统1套，恒温基座1个。 数据分析软件(T3Ster Master)T3Ster热阻测试仪的数据分析软件T3SterMaster提供了数据的分析功能，几秒钟内，软件就可以将采集的数据以结构函数的形式表现出来。测试结果包括：测量参数（Record Parameters），测量得到的瞬态温度响应曲线（Measured response），分析后的瞬态温度响应曲线（Smoothed response），热阻抗曲线（Zth），时间常数谱（Tau Intensity），频域分析（Complex Locus），脉冲热阻（Pulse Thermal Resistance），积分结构函数以及微分结构函数。产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

变压器直流电阻速测仪,感性电阻测试仪,直流电阻测试仪铁路专用直流电阻测试仪,地铁专用感性电阻测试仪,机车用感性电阻测试仪华宝牌变压器直流电阻速测仪,直流电阻测试仪,感性电阻测试仪怎么样？华宝电气研制生产的变压器直流电阻速测仪,直流电阻测试仪,感性电阻测试仪功率大重复性好抗干扰能力强，在全国各个电压等级的使用中得到肯定与推荐HB-ZRZ100A，, QQ11231349681、高速单片机控制，自动化程度高，操作简便。 2、全新电源技术，电流档位多，测量范围宽，适合大中型变压器的直流电阻测量。3、保护功能完善，能可靠保护反电势对仪器的冲击，性能更可靠。 4、具有声响放电报警，放电指示清晰，减少误操作。5、响应速度快，可在测量状态直接转换有载分接开关，仪器自动刷新数据。6、智能功率管理技术，仪器总工作在最小功率状态，有效节能，减少发热。7、320X240点阵的超小像素点的65K真彩色液晶，8、仪器自带万年历时钟和掉电存储，可存储1000组测试数据，可随时查阅9、仪器配备RS232和USB接口，可和计算机通讯以及U盘存储10、出口机型，中英文操作界面可定做11、稳定性、准确性在许多供电局发电厂变压器厂得到验证12、技术指标1、输出电流：100A、50A、20A、10A、5A2、最小分辨率：0.1μΩ3、量程：100A： 50μΩ～100mΩ 50A： 100μΩ～200mΩ 20A： 200μΩ～800mΩ 10A： 500μΩ～2Ω 5A： 1mΩ～4Ω 4、准确度：±(0.2%+2字)5、工作温度：0～406、工作湿度：90%RH，不结露7、外形尺寸:长400mmX宽225mmX高350mm重量：15KG 不含测试线关键词：变压器直流电阻速测仪,感性电阻测试仪,大功率直流电阻测试仪铁路专用直流电阻测试仪,地铁专用感性电阻测试仪,机车用感性电阻测试仪详情请登录：或或查询。 HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

饲料的水分检测是饲料加工过程中为重要的质量控制指标之一， 同时还影响着饲料的购销和储管， 因此保证饲料产品质量的关键因素之一就是有效地控制饲料中的水分。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪检测饲料水分快速、精准、快速！水分控制， 就是根据不同的情况在整个生产的过程中综合控制各种因素， 从而使饲料加工产品的终水分含量达到生产者所规定的预期目标。　　为了提高企业的经济效益，降低能耗成本，在饲料加工过程中就必须有效地、地控制出厂成品的水分含量。一方面，可有效防止在产品保质期内发生氧化霉变等影响产品质量的情况；另一方面，可有效地控制饲料加工过程中的因水分丢失而导致粉尘外逸所造成的不必要损耗。因此，本文旨在探讨饲料加工过程中影响水分含量的各因素，为生产各种不同水分含量的饲料产品提供有效的解决方法。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪技术指标:　　 1、称重范围：0-60g　　 2、水分测定范围：0.01-**　　★★JK称重系统传感器　　 3、样品质量：0.5-60g　　 4、加热温度范围：起始-180℃　　★★加热方式：应变式混合气体加热器　　★★微调自动补偿温度15℃　　 5、水分含量可读性：0.01%　　 6、显示7种参数：　　★★ 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值　　★★红色数码管独立显示模式　　 7、双重通讯接口：RS 232（打印机）　　 RS 232（计算机）　　 8、外型尺寸：380×205×325(mm)　　 9、电源：220V±10%　　 10、频率：50Hz±1Hz　　 11、净重：3.7Kg　　深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪是一种新型高精度的快速水分检验仪器，采用热解重量原理设计的，仪器测量样品重量同时，卤素加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品。在干燥过程中，仪器持续测量并即时显示干燥过程中样品丢失的水分含量％，干燥完成后，终测定的水分含量锁定，按显示键可观察水分值，重量初始值，起始值，测试时间等数据。

CDE 四探针电阻率电导率测试仪 Resmap168Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠，准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能，从提高了产品的产量，从而降低导电材料产品的成本。提供NIST标准片6片!产品特点：操作简单、快速精确电阻测量范围：1 mΩ/方块 - 5 MΩ/方块典型应用：非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。Resmap168测试性能指标：探针材料 WC探头寿命 500W次测量： 168，178和273的区别：成功案例-美国CDE四探针测试仪感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一，购买美国CDE 四探针测试仪的单位非常多。 最近购买用户 科研客户：清华大学,天津大学,浙江大学 中山大学 浙江师范大学 ?复旦大学 北京师范大学 河北大学 。。。。。。 企业客户：上海超日太阳能 卡姆丹克太阳能 南玻光伏 荣马新能源 山东润峰电力 江苏腾晖电力 晶澳太阳能 海润光伏 常州比太 苏州阿特斯 西安隆基 高佳太阳能 江西旭阳雷迪 无锡尚德 武汉珈伟光伏 苏州中导光电 常州天合 。。。。。。

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最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

导电材料电阻测试仪BEST-300C一、导电橡胶电阻测试仪适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 二、导电橡胶电阻测试仪特点本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。 三、导电橡胶电阻测试仪功能本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求 四、导电橡胶电阻测试仪电阻测量范围： 1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、电 阻：1×10-5～2×105Ω电导率：5×10-6～1×108ms/cm分辨率： 最小1μΩ 测量误差±5%2、测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, ⑶误差：±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ 7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。 五、导电橡胶电阻测试仪 售后服务培训：1、仪器安装调试期间，厂家安排工程技术人员在业主现场进行技术指导和培训，包括：仪器构造，工作原理，仪器操作使用，样品分析，日常的维护保养等方面的内容，直到业主操作人员能够独立使用，进行维护保养并提供仪器操作规程为止。2、厂家工程师根据业主要求进行定期回访，每年不少于2次（dianhua或上门），对维修人员进行专业仪器维修培训，并对仪器的常见故障的诊断及处理提出建议。售后服务：1、自仪器调试验收合格签字之日起， 北京北广精仪仪器设备有限公司 免费提供三年的现场保修服务（回访），解决排除故障，保证良好正常使用。质保期限自双方签字验收之日起计算。2、零备件乙方保证在10年内以优惠的价格提供给业主。3、如产品软件升级,乙方为甲方免费进行软件的升级。4、保修期过后至10年内，仪器出现故障，需要更换零件时，甲方支付零部件的成本费；需要乙方工程师前往维修时，维修费用包括乙方工程师的差旅费和食宿费，免除人工费用。若甲方因设备急需，乙方应能及时提供所需零配件，保证设备正常运行。六、其他相关产品BDJC-50KV电压击穿强度试验仪BEST-212体积表面电阻测试仪GDAT-A介电常数介质损耗测试仪GDAT-C高频介电常数 测试仪BQS-37A工频介电常数介质损耗测试仪BDH-20KV耐电弧试验仪BLD-600V低压漏电起痕测试仪BLD-6000V高压漏电起痕测试仪CZF-5水平垂直燃烧测试仪BWK-300热变形维卡测试仪BRT-400Z熔融指数测试仪BWN-50KN拉力试验机M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪 七、公司简介北京北广精仪仪器设备有限公司 注册资金2000万，是集研发、设计、生产、销售、服务、管理于一体的高科技企业。拥有一支专业从事研发、制造、安装、调试及售后服务的团队，主要致力于绝缘材料、橡胶塑料、薄膜塑料、陶瓷玻璃、树脂、电线电缆料等固体材料的电压击穿试验仪、介电强度测试仪、电气强度测试仪、击穿强度测试仪、表面电阻率测试仪、介电常数测试仪、介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪、氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、热变形维卡温度测定仪，熔体流动速率测定仪、电子拉力试验机、制样机等仪器设备的研发与制造，积极采用先进的设计理念，依据国家标准、国际标准、德国标准、日本标准、美国标准，研发出更加精密、精zhun的仪器。公司自创建以来，一直保持着健康稳定的发展态势，并以超过30%的年均增长速度快速持续发展，完善的客户服务体系，确保了北京北广产品的设计先进，质量稳定，供货及时和服务周到。八、产品维护保养1 .使用者的维护为了防止意外发生，请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件， 不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生，请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其指定的经销商给予维护。2. 使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件，如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改，将机器的电路和零件修复回原来设计的状态，并收取修护费用。3.测试工作站3.1工作位置工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所，使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时，必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站”。如果工作站与其它作业站非常接近时，必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中，非工作人员请勿靠近” 4.输入电源输入：220V±10% 使用频率：50Hz4.3.3工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。4.3.6衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝dui不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。4.5安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题，请立即关闭电源并及时处理故障原因。九、使用说明1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.

烟叶质构测试仪1、 烟叶测试仪背景介绍烟叶是卷烟生产的原料，其物理特性对贮存工艺，烟叶加工、卷烟配方设计等均有及其重要的影响，是烟叶品质、加工性质及经济性的关键评价指标。烟叶的力学特性不仅是其主要物理特性之一，也是判断烟叶耐加工性能的重要依据。为使烟叶耐加工性能达到状态，需要对烟叶的相关力学特性进行研究。目前，关于烟叶力学特性的研究主要集中在烟叶拉力、抗张强度、抗破碎指数等与烟叶品质的相关性分析方面。随时卷烟加工工艺水平的不断提高，可以通过质构仪建立烟叶柔软性、粘附力、穿透力、剪切力及质构特性等烟叶力学特性检测方法，丰富了烟叶力学研究的内容。2、 保圣烟叶测试仪产品介绍保圣烟叶测试仪又称物理特性测试仪，主要通过模拟人的触觉对烟叶、烟草进行检测分析，是一种精确的感官量化测试仪器。保圣烟叶测试仪操作简单科学，不受人为因素干扰，检测灵敏度高，不仅可对烟叶、烟草的主要物理特性做出数据化的表述，还能有效解释样品在储藏、运输及加工过程中的物性变化。3、 保圣烟草烟叶测试仪物性测试仪在烟叶中的应用： 保圣科技烟叶柔软性检测：烟叶的柔软性与烟叶外观品质、物理特性、化学成分均显著相关，可作为判断烟叶品质好坏的重要依据；烟叶柔软性与颜色、油分、色度呈极显著正相关，与成熟度、叶片结构、身份、总分呈极显著负相关保圣科技烟叶粘附力检测：烟叶黏附力主要指烟叶细胞内溢出的、具有黏性的液体或半液体脂类等大分子物质附着于烟叶表面的能力。烟叶黏附力与其含水率、环境温度密切相关，且随含水率、环境温度的上升呈先增大后减小的趋势，通过分析烟叶黏附力与其含水率、环境温度的关系，可为打叶复烤过程中打叶水分、温度的设定提供数据支撑。烟叶的油分，值越大表明油分越充足。有研究指出，烟叶油分含量与烟叶品质呈正相关关系保圣科技烟叶脆性测试：可为烟叶加工过程中的造碎提供数据支持脆性越大，抗碎性降低；脆性越小，不易造碎；保圣科技烟叶拉力检测：烟叶的拉力可以反映烟叶韧性的重要指标，与烟叶的成熟度密切相关，成熟度好的烟叶，穿透力、拉力较大，柔韧性较好，烟叶的耐打性也越好；保圣科技烟叶强度检测：烟叶的剪切力则反映烟叶结构的疏松程度，与烟叶厚度密切相关，烟叶越厚、越紧密，其剪切力越大；保圣科技烟叶质构检测：烟叶质构指标主要包括硬度、黏聚性、咀嚼性、回复性。其中，硬度可以反映烟叶的坚实度；黏聚性反映样品在经过一次压缩后对第二次压缩的抵抗能力，即烟叶叶肉或主脉抵抗受损并使结构保持完整的性质；咀嚼性反映了烟叶对咀嚼的持续抵抗性；回复性反映烟叶的回弹能力；烟叶质构与其组织结构、形态结构、内在成分及可用性密切相关，是品质评定的重要构成因素。4、烟叶质构测试仪仪器特点：1.操作简单科学，检测灵敏度高。2.采用高性能、无级调速驱动系统，可根据实验需求设定测试速度。3.软件自带多种算法，实验数据即时显示，实验结果自动汇总，历史数据随时读取。5、烟叶质构测试仪仪器参数：1、 力量感应元：20kg；(1kg、5kg、10 kg、20 kg、30 kg、50kg、100Kg可选）2、 力量感应元精度：＝0.001 g（精度同时同步到软件显示上）。误差小于0.001%；3、力量感应元校准：可以通过国际标准砝码进行验证和校正；4、力量感应元保护：标准砝码的超标预警在软件内自定义设置。具有力量感应元超负荷保护功能。同时软件里可以设置力量感应元的保护范围，更好保护力量感应元；5、位移精度：0.001mm（精度同时同步到软件显示上）；6、升降臂全距：0-320mm；7、升降臂移动速度：0.001-40 mm/sec，软件操控移动，可将升降臂移动全距0.01-350 mm内任意位置设定为默认移动位置，默认位置可以根据需要自主设定；8、速度解析度：0.001mm/s；9、软件数据采集率：可调 20、50、100、200、400、500组/秒。每组4个通道同时读取；10、测试方法：软件内含测试方法多种，包括：单次测试、黏度测试、全质构分析测试(TPA)、松弛测试、衰减度测试、循环测试，下压保持测试，蠕动测试，等。软件自动进行曲线的结果分析，用户只需根据自己的需要选择所要结果。同时曲线和结果可以同一个界面显示。测试指标包括 硬度(Hardness)、粘性（Adhesiveness）、弹性（Springiness）、粘聚性（Cohesiveness）、胶着性（Gumminess）、咀嚼性（Chewiness）、回复性（Resilience）等，软件必须提供著作权证书；11、仪器硬件功能：仪器带有软键盘，脱离软件进行上下控制，硬件部分含紧急停止装置、上下极限控制装置、机器有足够宽敞的样品放置台面；12、仪器自带软件功能：软件自带动画视频，适合教学和学生学习；带有各种方法库，测试方法直接调用，测试曲线颜色显示和数据显示可以根据需要进行选择。13、仪器操作：软件曲线和测试结果同时显示在一个界面上，上面是曲线，下面对于测试数据。测试数据如力，时间，距离，样品高度在测试过程中同步显示到的软件。软件页面中英文可调，操作简单容易上手，数据分析时不需另外撰写分析程序，用户可直接勾选所要的参数，软件即可自动计算结果。结果数据及曲线可以汇出Excel文档及图片；14、技术支持：自带不少于300种测试方法库，方法包括具体测试的样品名称，样品测试前准备方法，测试参数设置，测试后如何分析结果；另外仪器带有应用方法库手册。6、烟叶质构测试仪仪器用户：河北中烟工业有限责任公司、浙江中烟工业有限责任公司、安徽中烟工业有限责任公司、河南中烟工业有限责任公司7、烟叶质构测试仪参考文章：1、质构仪在烟叶力学特性检测中的应用进展；2、基于质构仪的造纸法再造烟叶柔软度评价方法；3、基于质构仪穿刺模式的烟叶脆性定量评价方法；4、质构仪法测定烟叶的粘附力。

产品概要：瞬态热阻测试仪是一种用于材料科学领域的仪器。基本信息：技术优势：1、温控设备参数：冷媒：硅油；温度范围：-20°C ~ 150°C；温度误差：≤0.1°C；显示分辨率：0.01°C；支持所有工位同时测量2、标定控制：自动温度稳定判断；自动样品电压稳定判断；支持用户设定稳定容判据；支持迟滞消除；支持用户设定标定点数；支持所有测量通道同时标定3、历史数据保存：保存标定过程数据&bull 设定温度VS时间&bull 实际温度VS时间&bull 样品电压VS时间；通过历史数据记录可4、输出结果： K系数标定数据（电压VS温度）；包括NTC/PTC的拟合结果；支持多种数据拟合方式；各个K系数拟合度R2值；支持多个K系数曲线对比5、支持全测量通道同步温度系数标定：可对样品芯片电压温度特性进行标定；可对样品模块中的NTC/PTC进行标定；完整记录测试过程中所有采集参数应用方向：主要应用于半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试，具体包括：测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻（积分、微分曲线结构函数等）。

四探针 方阻 电阻率测试仪双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 四探针 方阻 电阻率测试仪规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针 方阻 电阻率测试仪FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester一.应用说明Widely used：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述Description：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-3471.方块电阻sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivityFT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪.型号及参数Models and technical parameters规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率范围Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×105Ω-cm6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方至9次方；，双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方，单电测四探针测试仪-5次方到5次方，我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪器双电测四探针测试仪

建筑隔热涂料等效热阻测试仪（JP-ARZ80）测试方法：DGJ32/J 23-2006《民用建筑节能工程现场热工性能检测》；DGJ32TJ169-2014 江苏省居住区和单位绿化标准；GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料；JGJT 287-2014 建筑反射隔热涂料节能检测标准；JG/T235-2014《建筑反射隔热涂料》；GB/T9780-2013 建筑涂料涂层耐沾污性试验方法；GB/T16422.3-1997荧光紫外灯（UV）ISO4892-3_1994；GB/T1865-2009/ISO11341:2004 色漆和清漆人工气候老化和人工辐射暴露（滤过的氙弧辐射）；GB/T 25968-2010 材料太阳透射比、太阳吸收比试验方法；航天部QJ1954-1999太阳电磁辐射标准；GJB2502.2-2006《航天器热控涂层试验方法》第二部分：太阳吸收比测试，光谱法（绝对法）；GJB2502-1996《卫星热控涂层试验方法 光谱法（绝对法210）》。主要特点 ：1.强劲的仪器性能：先进的电子学系统，高水准的机械系统，保证了高精度PID温度控制及24位电压数字采样。2.稳定可靠的品质：T型热点偶保证仪器的稳定可靠和长寿命。3.精准的测量：采用工业器件及先进个性化设计，进一步降低仪器的不确定度，使仪器分析更加准确4.轻松高效的人机对话：基于Windows环境设计的JP系列隔热涂料的太阳光反射比、半球发射率、隔热涂料的污染后太阳光反射比变化率、隔热涂料的人工气候老化后太阳光反射比变化率等中文操作软件，提供了丰富的仪器控制和操作功能，简单易用，灵活高效，轻松满足使用者的分析需求。技术参数：

Resmap 273 在178型的技术基础上，ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能，实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧，坚固耐用，准确性和重复性好。提供NIST标准片6片!产品特点：操作简单、快速精确电阻测量范围：1 mΩ/?? - 5 MΩ/??典型应用：非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。测试性能指标：探针材料 WC探头寿命 500W次Resmap168，178，273区别：四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值： RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT；其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT是所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。四探针法通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后，变得十分普及，命名为四探针法。成功案例-美国CDE四探针测试仪感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一，购买美国CDE 四探针测试仪的单位非常多。 最近购买用户 科研客户：清华大学,天津大学,浙江大学 中山大学 浙江师范大学 ?复旦大学 北京师范大学 河北大学 。。。。。。 企业客户：上海超日太阳能 卡姆丹克太阳能 南玻光伏 荣马新能源 山东润峰电力 江苏腾晖电力 晶澳太阳能 海润光伏 常州比太 苏州阿特斯 西安隆基 高佳太阳能 江西旭阳雷迪 无锡尚德 武汉珈伟光伏 苏州中导光电 常州天合 。。。。。。不能一一列举敬请谅解

Resmap 273 在178型的技术基础上，ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能，实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧，坚固耐用，准确性和重复性好。提供NIST标准片6片!产品特点：操作简单、快速精确电阻测量范围：1 mΩ/?? - 5 MΩ/??典型应用：非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。测试性能指标：探针材料 WC探头寿命 500W次Resmap168，178，273区别：四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值： RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT；其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT是所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。四探针法通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后，变得十分普及，命名为四探针法。成功案例-美国CDE四探针测试仪感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一，购买美国CDE 四探针测试仪的单位非常多。 最近购买用户 科研客户：清华大学,天津大学,浙江大学 中山大学 浙江师范大学 ?复旦大学 北京师范大学 河北大学 。。。。。。 企业客户：上海超日太阳能 卡姆丹克太阳能 南玻光伏 荣马新能源 山东润峰电力 江苏腾晖电力 晶澳太阳能 海润光伏 常州比太 苏州阿特斯 西安隆基 高佳太阳能 江西旭阳雷迪 无锡尚德 武汉珈伟光伏 苏州中导光电 常州天合 。。。。。。不能一一列举敬请谅解

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

LST-331四探针方阻电阻率测试仪 一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本. 二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四、.型号及参数 规格型modelLST-3311.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□ 2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度≤0.3%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量 8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤4%（标准样片结果） 10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 五、标准配置外订购明细：序号型号品名 单位数量备注1340-CSX测试线 套1209A标准电阻个 1-5选购规格和数量306A四探针测试平台套 1含探头1个406B四探针探头个 1方型或直线型选购5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组7340-RJ分析软件套1 8PC电脑+打印机套1依据客户要求配置9300-JL检测技术服务份1计量证书1份 10WDCGQ温度传感器套1常温-125度 331-YB延保服务 年1-3

产品介绍：医药包装性能测试仪工作原理是依据2015年药包材标准方法设计，是包装类破裂强度性能检测的仪器，其各项性能参数和技术指标符合YBB《药用铝箔》等标准规定。仪器操作简单、性能可靠、技术先进，是科研单位、造纸厂家、包装行业、质检部门的理想设备。测试原理：医药包装性能测试仪工作原理原理：将试样装夹在全自动耐破强度测试仪两个夹头之间弹性胶膜上,上下夹头紧紧夹住试样周边，使试样与胶膜一起自由凸起，当液压流体以稳定速率泵入，使胶膜凸起直至铝箔试样破裂时，所施加的压力即为试样耐破强度。医药包装性能测试仪工作原理应用于药品包装用破裂强度试验，是物理强度性能检测的基本仪器，本检测仪器采用全自动控制模式，用户只需将裁好试样放置于上下夹具之间，仪器将自动夹样，自动冲压测试并打印，人为影响非常小。全自动耐破强度测试仪是一款高性能全自动破裂强度仪，被广泛应用于药包材生产厂家、制药企业、药检机构等单位。主要参数： 测量范围：40-1600KPa（分辨力： 0.01KPa） 示值准确度： 示值误差：±0.5%FS，示值变动性：≤0.5% 加压(送油)速度：95±5)ml/min 胶膜阻力： 凸起高度：9mm， 胶膜阻力值：（25～35）KPa 试样夹持力：430 KPa（可调节） 测试系统密封性：1min内压降10%Pmax 压力表设定压力：（2.5~3）Kg/cm2 外形尺寸：400mm×350mm×500mm(长宽高) 重 量：43Kg 气源压力：0.5-0.7MPa (气源用户自备) 环境温度：5 -50℃ 相对湿度：≦80%，无凝露 工作电源：220V 50Hz

GB1410电阻率测试仪 体积电阻 volume resistance 在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商，不包括沿着试验表面的电流，在两电极上可能形成的极化忽略不计。 注：除非另有规定，体积电阻是在电化一分钟后测定。 体积电阻率volume res~stivity 在绝缘材料里的直流电场强度和稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。 注；体积电阻率的Si单位是Ω。m。实际上也使用Ωcm这一单位。 GB1410电阻率测试仪 电阻的作用：电阻在电路中的作用：利用的欧姆定律可以利用电阻控制电路中的电压、电流。电阻的主要物理特征就是可以变电能为热能，因此热水器中的发热元件、电灯泡、电烫斗就是利用了电阻的作用制成的。另外电阻有怕热的特性，当导体材料温度升高时材料的电阻率会增大（有些材料则表现为减小），因此利用电阻的这种特性可以制作温度测量计（不知道你看见过没，插一根“铁丝”就能测量温度的方法就是利用了这种电阻材料作用的）。另外一些材料的电阻还会受到光线照射的印象，而利用这样的材料可以制成光敏电阻，利用这点作用可以方便的设计光控电路以及光的测量和光电转换等领域。 电阻单位电阻的基本单位：欧姆（Ω），也可直接简称为“欧”，为了方便的较大数值电阻的书写，这个单位也和电流、电压一样常常会被简写，有千欧（KΩ）和兆欧（MΩ），它们之间与欧的转换关系是：1MΩ=1000KΩ、1KΩ=1000Ω提示：在电工实际工作中计算数值时K通常表示1000（特别是在元器件标示上很常用） 具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。 本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流 测量指标电阻测量范围： 1×104Ω ～1×1018Ω。电流测量范围： 2×10-4A～1×10-16A内置测试电压： 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V（任意切换）基本准确度：1% (*注)使用环境： 温度：0℃～40℃，相对湿度80%供电形式： AC 220V，50HZ，功耗约5W仪器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm质量： 约5KG 应用范围 ： a 材料高阻测试测量如防静电产品（防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计 算机房防静电活动地板等）电阻值的检测；b 材料体积电阻(率)和表面电阻(率)测量；c 电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究 d 微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。 报告报告应至少包括下述情况：a) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）关于材料的说明和标志（名称、等级、颜色、制造商等）；b) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）试样的形状和尺寸；c) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）电极和保护装置的形式、材料和尺寸；d) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）试样的处理（清洁、预干燥、处理时间、湿度和温度）等；e) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）试验条件（试样温度、相对由度）；f) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）测量方法；g) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）施加电压；h) 电阻率测试仪（电阻率测定仪）体和、电阻率（需要时）；注1：当规定了一个固定的电化时间时，注明此时间，给出个别值，并报告中值作为体积电阻率。 为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压？在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压，无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流，这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的（分布）电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低，当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压，在确保被测量物体不会因电压过高击穿时，要先将量程开关拨到104档后关闭电源，再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的，即电压与电流是不符合欧姆定律，有改变电压时由于电流不是线性变化，所以测量的电阻也会变化。 标准配置：1,测试仪器：1台2,电源线：1条3,测量线：3根（屏蔽线,测试接线,接地线）4,使用说明书：1份 为什么测量时仪器的读数总是不稳？一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流，有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律，所以在测量时其读数不稳。这不是仪器的问题，而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好，对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。 主要特点：体积小,重量轻,准确度高电阻,电流双显示性能好稳定,读数方便所有测试电压(10V/50V/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。本仪器既能测超高电阻又能测微电流，具有精度高,显示迅速,性好稳定,读数方便等特点 为什么在测量同一物体时用不同的电阻量程有不同的读数？ 这是因为测量电阻时为防止过电压损坏仪器，如果出现过量程时仪器内保护电路开始工作，将测试电压降下来以保护机内放大器。在不同的电压下测量同一物体会有不同的结果。而且当测量电阻时若读数小于199，既只为三位数且di一位数为1 时，其准确度要下降。所以在测量电阻时当di一次读数从1 变为某一读数时，不应再往更高的量程扭开关以防对仪器造成过大的电流冲击。在实际使用时，即读数位数多的比读数位数少的准确度高。 工作原理根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差,分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变而变,所以,即使测量电压,被测量电阻,电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高,从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用5、售后管理：我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护6、物流情况：及时提供货源，确保全国范围内2-10内到货，持续稳定地为代理商做全面服务工作，提供合理的运作空间。公司有专业的技术人员为您安装指导。7、软件升级：终生免费提供新版本控制软件。8、安装培训:仪器包装内附有说明书，专业培训人员为客户指定操作者讲解仪器正常操作流程、操作注意事项及仪器的日常维护要求；也可以根据客户要求提供上门培训服务。

产品名称：塑料薄膜表面电阻测定仪/橡胶表面电阻测试仪产品型号：BEST-121符合国标：GB/T1410-2006 ASTM D257-99测量范围：0.01×104Ω～1×1018Ω显示方式：液晶显示、直读电阻、电流测试方法：三电极法符合标准：GB1410《固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法》 ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》 一、概述 既可测量高电阻，又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前国内测量范围zui宽，准确度zui高的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ～1×10-16Ａ。机内测试电压为10/50/100/250/500/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便， 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。固体绝缘材料体积/表面电阻率测定仪除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。三、技术指标 序号项目参数1电阻测量范围1×104Ω ～1×1018Ω2电流测量范围2×10-4A～1×10-16A 3双表头显示3.1/2位LED显示4内置测试电压10V、50V、100V、250、500、1000V5基本准确度2%6使用环境温度：0℃～40℃，相对湿度80%7机内测试电压10/50/100/250/500/1000V 任意切换8供电形式AC 220V，50HZ，功耗约5W9仪器尺寸285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm10质量约2.5KG四、工作原理 根据欧姆定律，被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出，由于电流I是与电阻成反比，而不是成正比，所以电阻的显示值是非线性的，即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其电压V也会有些变化，所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。 本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以，即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高()，从理论上讲其误差可以做到零，而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 六、典型应用 1．测量防静电鞋、导电鞋的电阻值 2、测量防静电材料的电阻及电阻率 3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值 4、测量绝缘材料电阻(率) 5、光电二极管暗电流测量 6、物理,光学和材料研究 七、标准配置： 序号配置数量单位1测试仪器台12电源线条13测量线根34使用说明书份1 八、其他相关产品：BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪BWN系类电子拉力试验机 九、售后服务承诺：一、服务承诺1、质量保证：北京北广精仪仪器设备有限公司作为设备供应商，我公司对所提供的产品均为厂家原厂原包装，符合国家标准，并提供产品技术资料(包含安装说明书，产品装箱目录、产品中文使用说明书、合格证及保修凭证等)。2、产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。3、保修承诺：北京北广所有产品质保三年，我司对本次协议供货有效期内所提供的所有产品保质期 ，有效期内所提供的产品，提供正常工作日全天侯服务，终身技术服务支持。4、响应时间：保修期内，产品若发生故障，在接到贵公司报修后，24小时内帮客户解决问题。5、服务体系：作为设备供应商本公司对本次招标所提供的产品提供保障体系： 当设备出现故障，必要时将派指定的专业技术员在规定时间内上门维修或寄修，产生的运费由本公司承担。6、上门调试：在货物到达客户指定地点后，需要安装调试的我单位会派一名专业技术人员到现场进行免费安装培训。二、产品价格承诺1、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以zui优惠的价格提供给贵方。2、在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏，保修期外零部件的损坏，提供的配件只收成本费，由需方人为因素造成的设备损坏，供方维修或提供的配件均按成本价计。三、售后服务保证公司实力保障：本公司有完善的售后服务体系 四、投诉体系及1、 如果您对我们的服务有意见，请向技术部调度员或维修部投诉。2、 对用户所投诉的问题，核实是我们责任的，将对管理人员及经办人员进行不同程度的惩处。如不是我司的责任，相关人员也将向用户 为什么选择我们的北广仪器？ 价格、价格、还是价格！受产品成本限制，我们的仪器价格不一定是zui低！但是jue对优惠！绝不卖低价格低质量的设备给客户！服务、服务、还是服务！1.我们的仪器备货足，客户付款后，第YI时间发货，时间就是金钱；2.沟通及时，设备发送之前任何变故及时沟通，第YI位保护客户利益！3.服务专业、送货单、相应文件，客服会及时跟您沟通，安排到位！ 4.每天9小时以上在线客服，无论是技术问题还是其他，只要跟设备相关，我们都尽力为您排忧解难！ 【我公司专业生产、销售TOC总有机碳分析仪、过滤器完整性测试仪、微机控制电子式电子试验机，周到的服务流程让您满意，及时的售后流程让您安心，现货发货】

适用范围：DRK255纺织品热阻湿阻测试仪适用于各种纺织织物，包括产业用织物、非织造布以及各种其他平面材料。仪器功能：DRK255纺织品热阻湿阻测试仪用于测量纺织品（及其他）平面材料热阻（Rct）、湿阻（Ret）等指标的仪器。该仪器是用来符合ISO 11092、ASTM F 1868和GB/T11048-2008《纺织品 生物舒适性 稳态条件下热阻和湿阻的测定》标准的全自动检测仪器。技术参数：1、 热阻测试范围： 0-2000×10-3 (m2 &bull K/W) 重复性误差小于： ±2.5% （出厂控制在±2.0%以内） （相关标准在±7.0%） 分辨率： 0.1×10-3 (m2 &bull K/W)2、湿阻测试范围： 0-700 (m2 &bull Pa / W) 重复性误差小于： ±2.5% （出厂控制在±2.0%以内） （相关标准在±7.0%）3、试验板温度调节范围： 20-40℃4、试样表面上方空气的速度： 标准设定1 m/s（可调）5、平台可升降范围（试样厚度）： 0-70mm6、测试时间设定范围： 0-9999s7、温控精度： ±0.1℃8、温度示值分辨率： 0.1℃9、预热周期： 6-9910、试样尺寸： 350mm×350mm11、试验板尺寸： 200mm×200mm12、外形尺寸： 1050mm×1950mm×850mm（L×W×H）13、电源： AC220V±10%　　3300W　　50Hz 使用环境：仪器应安放在温湿度较稳定处，或有一般空调房内，当然在恒温恒湿房zui佳，仪器左右需留有各50cm以上，使进出空气流畅。4.1环境温湿度：环境温度：10℃到30℃；相对湿度：30%到80%，有利于小气候箱内的温湿度的稳定。4.2电源要求：仪器必须良好接地！AC220V±10%　3300W 50 Hz ，zui大通过电流为15A。供电处的插座应能承受15A以上电流。 4.3周围无振源、无腐蚀性介质，无较大空气流动。仪器特征：5.1 重复性误差小；该款仪器的核心部分——加热控制系统是一个自主研发的特别装置，理论上彻底消除了由热惯性造成检测结果不稳定，这一技术的发明zhuanli已被*zhuanli局批准并授权：（纺织品保温性能检测方法 ZL2006 10154833.9）使重复性检测的误差远小于国内外相关标准，目前国际上“热传递性能”类的测试仪器大都重复性误差在±5%左右，本公司现已达到±2%，可以说解决了保温类仪器长期存在重复性误差大的*难题，达到了国际*水平。5.2 结构紧凑，整体性强；热、湿阻测试仪是一款主机与小气候箱融为一整体的设备，无需外接任何装置*可独立使用，适应环境较强，为降低使用条件专门研发的一款热、湿阻仪。5.3 实时显示“热、湿阻”数值试样在预热后到结束之间能够实时显示整个“热、湿阻”值稳定过程，这样解决了做热、湿阻实验时间较长而不能了解整个过程的问题。5.4 高仿真 皮肤出汗效应；仪器具有高仿真人的皮肤出（隐）汗效应，有别于仅有数个小孔的试验板，满足试验板各处水汽压力均等，有效试验面积准确，从而测得“湿阻”更为接近真值。5.5 多点独立标定；由于热、湿阻测试量程范围大，多点独立标定能有效改善非线性造成的误差，保证测试的准确性。5.6 小气候温湿度与标准控制点一致；与同类仪器相比较，采取小气候温湿度与标准控制点一致更加符合“方法标准”，同时对小气候的控制要求更高。