看到网上有黑壁微量比色皿，光程10mm，狭缝有1、2、3、4mm的，体积不等我测量了现有两台光度计打出的光束宽度，一台光束长宽5x5mm，另一台光束细长大约1x20mm以前没有用过微量比色皿，想请教，打出的光束不能完全进入比色皿，会被黑壁挡住一些，一个太宽，一个太高，这样测定有没有影响呢具体有哪些影响？谢谢！
1．1基本原理 由光源D（或W）发出的复合光，经分光器G色散为单色光，此单色光经旋转扇形镜调制为1500转/分钟的交变信号，并分成S和R两束。此两束光分别通过样品池和参比池而到达接受器B。扇形镜构造如图2-2所示，R为反射光束，S为透射光束，D为不透也不反的背景，因此，由接受器（光电倍增管）输出如图2-3所示的电信号。与扇形镜同步旋转的编码器分别控制三路信号的通断，使之依次通过放大、转换及运算处理系统，并将扣除背景D之后的透射比输出。 2．2构造 由光源D（或W）发出的光能，经反射镜M1聚焦在入射狭缝S处。入射狭缝置于准光镜M2的前焦点上，故经M2反射后的光束变为平行光束，其相对口径为D/f=1/7.5。经光栅G（1200L/mm）色散后，由M3聚焦在出射狭缝S`处。这一单色器采用了对称式布置的Zeny-Turner系统。从而保证了轴外象差的自动平衡和较低的杂散光。M2与M3是完全相同的一对球面镜，保证了光路系统的完全对称。 在入射狭缝前，置有消除高级次光谱的截止滤光片F，扫描过程中，滤光片自动切换。 通过出射狭缝的单色光，经M4反射及旋转扇形镜（CH）调制后，交替投射在反射镜M5、M6上，从而使光束分成频率为25C/S的双光束（及R和S两束光），它们经M5、M6分别聚焦在样品池和参比池上，通过样品池和参比池后，再经过M7、M8交替会聚到光电倍增管的接受面上。因为该仪器采用了双光束不等比100％T自动平衡原理，两束光是从不同角度入射到接受器靶面的。 旋转扇形镜（CH）的结构如图3-2所示，在3600范围内分作四部分，1/4为反射部分，1/4为透射部分，其余为既不透射也不反射的背景。当反射部分进入光路时，参比光束到达接受器，而当透射部分进入光路时，则样品光束到达接受器。当背景反射不可能完全为0时，将有一个很低电平的信号输出，因而接受器输出了如图3-3所示的电信号。 2．2．4光源转换 仪器光源由氘灯和溴钨灯组成，换灯波长可在340-360nm之间选择，通常情况下为360nm。本仪器的光源转换是通过转动反射聚焦镜M1实现的。M1的转动则是由微机控制步进电机驱动的。M1的转动中心线与电机轴线一致，在灯座旁设有检零片，当检零片通过光电开关时，就给出了步进电机转动的初始位置，其结构原理如图2-9所示。 2．2．5电路原理 被调制的光信号投射在光电倍增管上，转换成相应的电信号，由于光电倍增管是一种高阻抗电流器件，所以前置放大器采用高阻抗输入，以转换成电压信号，并线形地进行适度放大。被放大了的模拟信号，馈入A/D转换单元，转换成数字量，最终通过微型计算机进行适当的数据处理，并通过终端装置显示或打印出被测样品的谱图。为了提高整机系统的测光精度，A/D转换采用12bit集成电路，其转换精度达1/4096。 为了能够有效地进行信号分离工作，将产生同步信号的旋转编码器与产生调制光信号的扇形镜同步运转，这样同步信号永远地与扇形镜的调制频率同步，从而完成仪器一系列横坐标控制功能。 仪器在波长扫描过程中，自动的改变负高压电平，从而平稳地进行整机系统增益的调节，以保证仪器正常地进行工作。
今天有幸拆解一台大紫外分光光度计，其中看到了一组可调狭缝，特拍照下来，这种可调狭缝不是类似楔状刀口型的狭缝，而是用两片极薄的磷铜片固定在活动支架板上，因此无需考虑刀口型狭缝的进出光束的方向问题。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208221651_385454_1602290_3.jpg图-1 可调式三联动狭缝系统http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208221645_385452_1602290_3.jpg图-2 单个狭缝的细部结构
目前血细胞分析仪检测原理包括电学和光学两种，电学包括电阻抗法和射频电导法，光法包括激光散射法和分光光度法。电阻抗法根据Coulter原理及血细胞非传导的性质，以电解质溶液中悬浮的血细胞在通过计数小孔时引起的电阻变化进行检测为基础，进行血细胞计数和体积测定。当有细胞通过小孔时，由于电阻增加，于瞬间引起电压变化及通过脉冲。细胞体积越大，脉冲振幅越高，细胞数量越多，脉冲数量也越多。脉冲信号经过：放大、阈值调节、甄别、整形、计数而得出细胞技术结果。电阻抗法可准确量出细胞（或类似颗粒）的大小，是三分类血液分析仪的主要应用原理，并与光学检测原理组合应用于五分类血液分析仪中。激光散射法应用了流式细胞术检测原理及细胞通过激光束被照射时，产生与细胞特征相应的各种角度的散射光。对经信号检测器接受的散射光信息进行综合分析，即可准确区分正常类型的细胞。激光散射法在区别体积相同而类型不同的细胞特征时，比电阻抗法分群更加准确。故激光散射法已成为现代五分类血液分析仪的主要检测原理之一。射频电导法是用高频电磁探针渗入细胞膜脂质可测定细胞的导电性，提供细胞内部化学成分、细胞核和细胞质、颗粒成分等特征信息。射频电流是每秒变化大于10000次的高频交流电磁波，能够通过细胞壁。分光光度法是所有类型的血细胞分析仪检测血红蛋白的原理，它利用血红蛋白与溶血剂在特定波长下比色，吸光度的变化与液体中血红蛋白含量成比例。
狭缝宽度和光谱带宽的关系 看好多书上写着这两个名词，知道是什么意思，但不知道两者之间有没有必然的联系？？？重新提出这个问题，因为又出现了新的问题？看书上说：狭缝：单色器的入射狭缝起着光学系统虚光源的作用。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。 但是现在很多书和论文上混淆了这两个概念，不知道为什么，其实我现在也不是很明白。希望和大家再讨论讨论？？？有人这么回答：狭缝宽度是毫米级的，光谱带宽是nm级的，通俗的讲光谱带宽就是通过狭缝的光所包含的谱带宽度，以nm表示。所以狭缝越窄，光谱带宽越小，但不是指只要将狭缝变窄就能达到光谱带宽小，必须同时其他硬件条件（包括光源/光栅/检测器以及机械系统等）达到这个级别。 那光谱带宽和谱带宽度是不是两个概念呢？
我先说一下基本情况。1 机器有一两年没有用过了。平时只是每个月开下机，主要是担心机器长久不开会坏掉。2 产品型号为上海精密的AA320N3 我们目前的操作：A 放一个铅灯并打开开关，可以确认铅灯是正常的，B 可以 确认光束进入原子吸收器的右侧。（用白纸板放在那里可以看到红光） C 狭缝 HV 波长都调整正确 D 没有通气和乙炔，也没有点火。按照ABC的顺序我们同样做了做一个铜灯的。问题出来了： 在F2页面，S值（光束能量）值始终为0.我们的产品已经过了保修期，所以目前想自己解决下。请求高手帮我们分析分析
[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]ICP光谱仪[/b][/url]为您分析电弧/火花直读等光谱仪分光系统中除射狭缝是装在罗兰圆上的，出射狭缝能聚焦成像以形成谱线。光电直读光谱仪中，用出射狭缝及光电倍增管组成的谱线接收器来工作。因此出射狭缝在仪器中有着重要的作用。每一个光道一个出射狭缝。因此，多道光电直读光谐仪上装有很多出射狭缝。 德国斯派克直读光谱仪早先光栅，出射狭缝片刻有190个预先安排好的常用光谱狭缝。190个元素分别被安排在10片不锈钢带上进行刻制。这样安排是为了出射狭缝调整方便。如果选用0.75m光栅，凹面光栅为2010刻线/mm。它的出射狭缝共214条刻在一条不锈钢带上。 出射狭缝和谱线的相对位置对分析结果是很重要的。为保证分析结果的准确，要求谱线中心位置的极大强度峰值位置与出射狭缝的几何中心位置重合。气温变化对出射狭缝影响最大。气温变化必将使光栅收缩或膨胀，引起光棚常数的改变，也导致仪器色散率的改变，由于色散率的改变，结果使谱线偏离出射狭缝。
电弧/火花直读等光谱仪分光系统中除射狭缝是装在罗兰圆上的，出射狭缝能聚焦成像以形成谱线。光电直读光谱仪中，用出射狭缝及光电倍增管组成的谱线接收器来工作。因此出射狭缝在仪器中有着重要的作用。每一个光道一个出射狭缝。因此，多道光电直读光谐仪上装有很多出射狭缝。 德国斯派克直读光谱仪早先光栅，出射狭缝片刻有190个预先安排好的常用光谱狭缝。190个元素分别被安排在10片不锈钢带上进行刻制。这样安排是为了出射狭缝调整方便。如果选用0.75m光栅，凹面光栅为2010刻线/mm。它的出射狭缝共214条刻在一条不锈钢带上。 出射狭缝和谱线的相对位置对分析结果是很重要的。为保证分析结果的准确，要求谱线中心位置的极大强度峰值位置与出射狭缝的几何中心位置重合。气温变化对出射狭缝影响最大。气温变化必将使光栅收缩或膨胀，引起光棚常数的改变，也导致仪器色散率的改变，由于色散率的改变，结果使谱线偏离出射狭缝。
首先看看一个分光光度计的内部结构图，其中S1为入射狭缝，S2为出射狭缝。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091808_189056_1644065_3.jpg[/img]再看看狭缝的概念：狭缝：单色器的入射狭缝起着光学系统虚光源的作用。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。 以上是书上原话，我个人理解如下：首先说说虚光源，为什么把狭缝称为虚光源呢？因为从光源发出的光（我想大多数人都见过分光光度计的光源吧），是一束相对于分光系统和检测系统来说非常大的光，这么一束光是两者不可接受的，所以必须通过一种原件，在保证光的特性不损失的情况下，尽量减少光照射到分光系统的，狭缝就起到了这个作用。这样从狭缝射出来的光，就是符合分光系统（光栅或棱镜）的要求，既所谓的虚光源的说法。 也可以理解如下：对于分光光度计来说，狭缝宽度一般指的是入射狭缝的宽度。它控制进入分光光度计的光通量（简单的说就是控制单位时间内进入分光系统的光的总能量的大小），狭缝越宽进入分光系统的能量越大。狭缝宽度也影响分光光度计的分辨率，狭缝越宽，其分辨率越低。狭缝宽度也不能太小，因为检测器灵敏度有下限，进入能量太低，检测器没有相应。同时由于噪声的影响，能量太低，信噪比会很差。所以一般的入射狭缝的宽度在um-mm的量级。在满足分辨率要求的前提下，入射狭缝越宽越好（当然也不能超出检测器的量程）。下图为光栅分光的示意图：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091809_189057_1644065_3.jpg[/img]从图中可以看出入射狭缝和出射狭缝（有的书上也叫出口狭缝）的作用。下图为棱镜分光的示意图：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091810_189058_1644065_3.jpg[/img]单色器的作用是使光源发出的光变成所需要的单色光。通常由入射狭缝、准直镜、色散元件、物镜和出射狭缝构成，见上图。入射狭缝用于限制杂散光进入单色器，准直镜将入射光束变为平行光束后进入色散元件。后者将复合光分解成单色光，然后通过物镜将出自色散元件的平行光聚焦于出口狭缝。出射狭缝用于限制通带宽度。如果还有不清楚的地方，请联系我。像的概念，也就是所谓的光谱，现在像这个概念很少提及。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件（我喜欢称其为分光系统，包括光栅和棱镜，顺便说一下，现在中高档的仪器都采用光栅作为分光系统，很少采用棱镜了）分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。提出的问题：当狭缝宽度增加时存在一些像差。我个人理解是这样的：由于分光系统对来自狭缝中心点的光线和来自狭缝非中心点的光线的衍射程度不同，因此就产生了谱线的弯曲。光栅的弯曲情况如下图所示[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091811_189059_1644065_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091811_189060_1644065_3.jpg[/img]从图中可以看出分光系统随着狭缝宽度的变化，其衍射的程度也是不一样的，所以就会产生所谓的像差。
WGH-30A双光束红外波数误差简易调整 色散型双光束红外分光光度计由于价格较低，在一些要求不高的地方使用，其性价比较高。这类产品，国外已基本停产，国产的WGH-30、TJ270-30型市场占有率较高。 一台WGH-30A型红外分光光度计，使用次数不多，大约20多次，刚过了1年半的保修期，就出现波数超差故障，被技监局检定机构判为不合格。拆开机器，进行调整、校正后，恢复误差在正常范围内。一、故障现象 仪器波数准确性，在高波数3000附近，普遍高出7个波数，超过了CP2010药典规定的±5cmˉ1（傅里叶），也超过了仪器的出厂标准±4 cmˉ1波数（2000cmˉ1-4000cmˉ1）。但对于色散型双光束红外分光光度计而言，检定规程JJG681—1990并没有失效，其波数准确度2000cmˉ1-4000cmˉ1之间为≤±8cm cmˉ1。没办法，过不了技监局检定机构的关，只有进行开机调整。二、仪器工作原理（摘自厂家说明书）WGH-30A色散型双光束红外分光光度计工作原理框图如下：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411221455_524024_1807987_3.jpg 本仪器有别于普通的零点平衡式仪器，它是基于计算机直接比例记录的基本原理而进行工作。由光源发出的红外光被分为能量均等对称的两束，一束为样品光S通过样品，另一束为参比光R作为基准。这两束光通过样品室进入光度计后，被扇形镜以10Hz的频率所调制，形成交变信号，然后两束光合为一束，并交替通过入射狭缝进入单色器中，经离轴抛物镜将光平行地投射在光栅上，色散并通过出射狭缝之后
水和废水分析方法四版里面，对金属的测定，提供了一些仪器条件，推荐的狭缝大致有0.2、0.4、0.5、0.7、0.9、1.3、2.6几种，显然一台仪器具有这么多狭缝选择是不可能的http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gif，这会对大家采购仪器产生什么影响？采购的时候会据此选择型号还是完全置之不理？
对于分子荧光来说狭缝的大小会影响谱图测试的分辨率。对于定量模块中固定激发/发射波长，测试的数据与狭缝大小有必然的关系么？或是这个测试结果对实验有没有影响呢？请大家帮忙分析一下！多谢！
前几天与祥子讨论了比色皿的界面反射与光强损失问题，虽然在搞专业光学仪器人员看来，这可能只是简单的问题，但是对于我们这些“未入流”的人来说，也算是有点深度的基础问题了。讨论过程中感到祥子确实认真，善于查阅/运用资料，很有见地，真是受益良多啊！近两天，与一位搞等离子体物理方面研究的老师讨论问题，顺便到他实验室看看，见到一个演示狭缝衍射的简易装置，大概是上实验课用的。那装置里的狭缝与分光光度计单色器里的狭缝好像也差不多。回来后不由想到，我们使用的分光光度计从来没人提到过衍射问题，这会有什么问题吗？回家想试试，就随手拿张比较薄的名片纸用剪刀剪了个细缝，大约0.3mm宽度（大约相当于一些分光光度计上0.5-1nm狭缝宽度吧），用电熨斗熨平整，作为狭缝。光源要单色光，就用激光笔吧，图像就投射到墙上。一试可试出疑问来了，以下是当场用相机拍下的两个图像。狭缝是垂直放的，距离墙约80cm，因为激光是良好的平行光，因此光源与狭缝距离没什么影响：红色激光笔，波长650nmhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012012306_263697_1633752_3.jpg绿色激光笔，波长523nmhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012012309_263698_1633752_3.jpg图中，主光斑两边的衍射斑都非常明显，只是由于自剪的狭缝质量较差，其中有一些纤毛，散射了部分光线，因此上下方都能看到不少散射光。在室内灯光下，可以明显看到的衍射斑总的宽度约有5cm，关了灯看大约有7cm以上。如果将狭缝与投影墙的距离缩小到10cm，看得见的总宽度也有1cm左右。10cm距离，这个长度在分光光度计的狭缝到比色皿算个中等距离吧，有些双样品室的距离约有30cm。一般比色皿架窗口宽度大约8mm。这样问题就来了：1. 投射到比色皿上的光束是不是也有这样衍射斑，或者太暗了看不出1、2、3级衍射？我想应该有衍射。2. 被比色皿架挡住的部分衍射光是不是会增加杂散光？是不是仪器设计者应该尽可能将狭缝、比色皿、检测器距离设置得近些，减少被挡住的衍射光？3. 比色皿架位置的定位是不是变得非常重要了，因为少许定位不准，就可能造成衍射斑被阻挡情况变化，这是不是导致测试偏差大的因素？不知道各位版友，特别是熟悉仪器的版友如何看这个问题。
请问，独立式出射狭缝的意义是为了提高通过出射狭缝的光通量吗？还有其他的意义吗？出射狭缝如何进行装配校准？国内外有哪些公司的产品是独立式出射狭缝结构，麻烦懂的给予指导一下！
[b]1、激光电离技术[/b]具有一定能量的激光束轰击样品靶，实现样品蒸发和电离，即激光电离（laser ionization，L电离的概率取决于激光脉冲的宽度和能量。当选择单色光激光器作为电离源，可进行样品微区分析，样品的最小微区分析区域与激光的波长有关。分析灵敏度在10量级，分析深度为0.5um，空间分辨率1～5um。随着激光束的不断改进，剖析深度可以达到几十微米，配备数字处理系统，还可得到样品的三维离子分布图。激光电离飞行时间质谱仪就是一种典型的使用激光电离技术的质谱分析仪器。从脉冲激光束开始照射样品，到质谱分析的完成，时间很短，分析效率极高。现在，随着激光技术的快速发展和激光发生器生产成本的降低，激光电离技术已越来越多地用在不同类型的质谱仪上，得到广泛应用。[b]2、激光共振电离技术[/b]激光共振电离（laser resonance ionization，LRI）是20世纪70年代发展起来的激光电离的另一种形式，基本原理是基于每种元素的原子都具有自己确定的能级，即基态和激发态。量子力学揭示这些能级是分离而不是连续的。当某一个处于基态的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]了激光特定能量的光子，跃迁到激发态能级，便实现了共振激发。处于激发态的原子如能再吸收光子，只要两次吸收的光子能量之和大于该原子的电离能，即可使该原子电离，这一过程称为 LRI LRI的基本特征是:对被激发的元素具有非常强的选择性。LRI与质技术相结合组成的激光共振电离质谱仪（laser resonance ionization mass spectrometry，LRIMS）是20世纪后期发展起来的一种新型质谱技术，能够有效地排除其他同位素质谱测量过程中难以克服的同质异位素干扰，灵敏度、丰度灵敏度高，适合核反应过程中的低产额裂变核素测量，也为地球化学、宇宙化学研究中的稀有核素分析提供强有力的支持。Mainz大学使用该技术测量了Ca、u、Np等元素，对Ca的探测限达到10[sup]6[/sup]个原子。曼彻斯特大学采用冷端富集与激光脉冲电离方式实现了惰性气体的高灵敏度分析，对[sup]132[/sup]xe的探测限达到1000个原子
原吸 狭缝请问一下，在做原吸时，每个元素灯的狭缝是不一样的，这对测定的结果有没有直接的关系啊？这是如何设置的啊！
如题，仪器安装后的几周都在做石墨测Cr法，都没碰火焰法的。 一体化原子化器在切换过程中，移动了一小下的时候发生故障停顿，不知道为啥，重启主机，再开，按了几下前后上下可以移动后，再切换2种方法正常了，国产的玄机真大，难道还在耍脾气？ 但是发现即使一体化原子化器移动到最外端后，燃烧缝还是在光束的右边6mm左右?? 看说明书，是特别要求燃烧缝在光束正下方，要纸片法对光之类的，现在这机械性的直接不让对准了怎么办？ 机箱灯孔是固定的，又不能调节灯孔，如果调灯的位置，幅度大一点，根本就没光通过机箱灯孔了.大家分析分析下，是不是原子化器的机械部件发生了故障？ 里面也没掉进过去东西，应该不会是卡着的. 调节很正常就是到不了位置。 第一次安装时候都正常的
使用原子吸收检测时，狭缝要求为0.2nm，哪位知道0.2nm是否为物理狭缝？设备是如何做到的？
双光束解决了单光束因为光源和检测器不稳造成的漂移问题，它的补偿原理是什么？请各位老师们解惑，如果有图能说明最好了，感谢！！
1.狭缝宽度的选择狭缝宽度影响光谱通带宽度与检测器接受的能量。调节不同的狭缝宽度，测定吸光度随狭缝宽度而变化，当有其它谱线或非吸收光进入光谱通带时，吸光度将立即减少。不引起吸光度减少的最大狭缝宽度，即为应选取得适合狭缝宽度。对于谱线简单的元素，如碱金属、碱土金属可采用较宽的狭缝以减少灯电流和光电倍增管高压来提高信噪比，增加稳定性。对谱线复杂的元素如铁、钴、镍等，需选择较小的狭缝，防止非吸收线进入检测器，来提高灵敏度，改善标准曲线的线性关系。
单光束：适于在给定波长处测量吸光度或透光度，一般不能作全波段光谱扫描，要求光源和检测器具有很高的稳定性。双光束：自动记录，快速全波段扫描。可消除光源不稳定、检测器灵敏度变化等因素的影响，特别适合于结构分析。仪器复杂，价格较高。现在又出来一个假双光束：如安捷伦8453里边只有一个比色池，扫了空白后再换溶液进行扫描，这种就是假双光束的原理吗？但是仍然不明白是什么意思？
狭缝是紫外-可见检测器分光系统中的一个重要分光元件，有固定狭缝 单边可调非对称式狭缝 双边可调对称式狭缝之分，其宽度大小对检测器的灵敏度 检测限 线性范围有着不同程度的影响，其作用原理对参数设定，检测分析有着不可忽视的意义。在此根据自己的理解做一些描述和概括，不可避免的会出现错误和不足，望朋友们批评指正，以便于修改完善，防止误导。 紫外-可见吸收检测器狭缝宽度的大小决定着光的纯度和强度，狭缝越大，光强相对越大，波长范围越宽，灵敏度越高，噪音越低，检测限越小，线性范围越小，分辨率越小，信噪比越大。相反狭缝宽度越小，灵敏度越低，噪音越大，检测限越大，线性范围越宽，分辨率越大，信噪比越小。在考虑到检测限和线性范围的情况下，狭缝的宽度既不能太大，也不能太小，以牺牲线性范围来提高灵敏度是不可取的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508182055_561460_2960432_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508211443_561934_2960432_3.png一：检测器的灵敏度 检测器的灵敏度因狭缝的改变而改变，狭缝越大，灵敏度越大，狭缝越小，灵敏度越小。选择的狭缝越窄，则仪器的光学带宽越小，从而越会降低其灵敏度。光学带宽越小，光谱分离度越高。 紫外-可见检测器的灵敏度与物质分子的摩尔吸光系数有关，摩尔吸光系数表明对单色光辐射的吸收作用是物质的特性，吸光系数的大小与吸光物质的结构和波长有关，不同物质的摩尔吸光系数不同，灵敏度和信噪比也不同。这是由于物质分子中生色基和助色基的存在，当物质分子受到光的辐射时，生色基中的电子吸收光能发生能级转变， 同时伴随着振动和转动能的转变，这种能级转变需要的能量很低，在紫外-可见区就有吸收，表现出特征吸收带。助色基本身没有吸收，当与生色基相连时，表现出吸收峰位移和更强的吸收，由于助色基的存在，吸收峰会向更长的波长方向迁移。 紫外-吸收检测器的检测，要选择检测物的最大吸收波长，在检测波长下溶剂应没有吸收，以此来增加检测灵敏度和抗干扰能力，获得更大的信噪比。 狭缝宽度增大，光通量增加，检测器的透过光强增加，透过率也就增加，因此，检测器光电输出信号增加，灵敏度也就自然增加了。 同时，由于狭缝的增宽，也会使检测器入射光的单一性受到影响，使谱带增宽，造成与朗伯-比耳定律的偏离，使检测器的线性范围变差，检测限降低，分辨率同时也会降低，这时的噪音由于分辨率的降低而变小。基线的噪音减小，检测信号增强，信噪比自然也就增大了。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508211520_561995_2960432_3.png 在同一检测器上，用相应曲线的斜率表示灵敏度数值时 ，斜率越大，灵敏度越高。检测器的灵敏度与样品性质有关，不同的物质斜率不同， 同时须说明样品及用溶剂的种类。 二：检测器噪音的来源与形成 检测器的噪音受狭缝宽度的变化而改变，狭缝宽度越大，噪音越小，狭缝宽度越小，噪音越大。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508211520_561996_2960432_3.png 噪音来源于检测器的光学系统和分离系统，在没有样品通过检测器时，检测信号的大小是与波长有关的光强 光学系统传播效率 光电转换效率的函数。 当光电转换效率很低时，基线的噪音接近于光路元件的自然噪音，这时，可以通过增加光源的光强和谱带宽度得到解决，如果只提高倍数放大器，降低衰减倍数，那么噪音也会增加，信噪比也得不到提高。 检测器的光源氘灯随着使用时间的延长，由于能量在不断降低，光强不断减弱，致使噪音不断增大。 由于静电作用，环境中的尘埃会吸附在光路元件上，提高了折射和散射，降低了光学系统的传播效率，使噪音增加。 检测器光路元件的材料附层，长期处于紫外辐射而降解也会导致光路元件传播效率和转换效率的降低，也是导致噪音增加的一个方面。 流速的变化会产生流速灵敏度的改变，使用恒流泵能改变因流速发生变化而产生的灵敏度的变化。 温度的改变会造成流动相折射率的改变，折射率的改变是分离系统产生噪音的主要来源。当入射光的转播经过不同的介质时，由于不同介质的折射率不同便会产生光的折射与散射，损失光的能量而产生噪音。 温度的改变还会影响流动相的压力，压力的改变波动，使进入流动相的光发生折射与反射形成噪音。 流动相中存在的气泡类似于无数的光镜产生折射与反射，损失光能，影响光的传播形成噪音。三：检测限与线性范围 检测限和线性范围的大小因狭缝宽度的改变而变化，狭缝宽度越大，检测限越小，线性范围也越小；狭缝宽度越小，检测限越大，线性范围也越大。 检测限是被检测样品在给定的检测器和规定的波长下，所能检测出的最小样品浓度或质量。其大小与被检测样品的摩尔吸光系数有关，摩尔吸光系数越大，检测限越小。在一定的稀释倍数和进样量的情况下，其最小检测量也就越小。 检测限与灵敏度有关，灵敏度越高，检测限越低；灵敏度与摩尔吸光系数有关，摩尔吸光系数越大，灵敏度越高。 检测限实质上是信噪比，在考虑噪声影响的基础上，反映检测器所能恰好辨别的信号，因而能更全面地反映检测器的质量，是衡量检测器性能的重要指标。检测限小，说明检测器的检测能力强，性能好，检测时所需要的样品量少。检测器的噪声小，检测限也小；具有一定噪声水平的同一台检测器，灵敏度高的物质检测限小。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508182058_561461_2960432_3.png 检测器的线性范围定义为检测信号与被检测物质量呈线性关系的范围，以呈线性响应的样品量上限、下限之比值表示。线性范围的下限规定为噪声的两倍值。当样品量大于某一数值后，直线开始弯曲，检测器输出的信号不再随样品量的增加而呈线性增加。这个转折点为线性范围的上限。检测器限制了最大允许进样量，超过此限，响应信号不再与样品量成线性关系。 在线性范围之内，用输出信号的大小进行定量分析既方便又准确。若在非线性部分，以输出信号大小判断样品含量，将产生偏差。检测器有一定的线性范围，不可能在它的影响范围内完全呈线性，一般希望检测器的线性范围尽可能大些，可以同时测定大量的和痕量的组分。
光纤光谱仪狭缝问题，QE65000狭缝最宽多少？能不能不要狭缝，在降低光谱分辨率的前提下提高光能量的摄入，在需要提高分辨率时候用细光纤代替狭缝？
红外气体分析仪原理红外线气体分析仪，是利用红外线进行气体分析。它基于待分析组分的浓度不同，吸收的辐射能不同．剩下的辐射能使得检测器里的温度升高不同，动片薄膜两边所受的压力不同，从而产生一个电容检测器的电信号。这样，就可间接测量出待分析组分的浓度。１．比尔定律 红外线气体分析仪是根据比尔定律制成的。假定被测气体为一个无限薄的平面．强度为k的红外线垂直穿透它，则能量衰减的量为：I=I0e-KCL(比尔定律) 式中：I--被介质吸收的辐射强度； I0--红外线通过介质前的辐射强度； K--待分析组分对辐射波段的吸收系数； C--待分析组分的气体浓度； L--气室长度(赦测气体层的厚度) 对于一台制造好了的红外线气体分析仪，其测量组分已定，即待分析组分对辐射波段的吸收系数k一定；红外光源已定，即红外线通过介质前的辐射强度I0一定；气室长度L一定。从比尔定律可以看出：通过测量辐射能量的衰减I，就可确定待分析组分的浓度C了。２．分析检测原理 红外线气体分析仪由两个独立的光源分别产生两束红外线 该射线束分别经过调制器，成为5Hz的射线。根据实际需要，射线可通过一滤光镜减少背景气体中其它吸收红外线的气体组分的干扰。红外线通过两个气室，一个是充以不断流过的被测气体的测量室，另一个是充以无吸收性质的背景气体的参比室。工作时，当测量室内被测气体浓度变化时，吸收的红外线光量发生相应的变化，而基准光束(参比室光束)的光量不发生变化。从二室出来的光量差通过检测器，使检测器产生压力差，并变成电容检测器的电信号。此信号经信号调节电路放大处理后，送往显示器以及总控的CRT显示。该输 出信号的大小与被渊组分浓度成比例。 我们所用的检测器是薄膜微音器。接收室内充以样气中的待渊组分，两个接收室中间用一个薄的金属膜隔开，在两测压力不同时膜片可以变形产生位移，膜片的一侧放一个固定的圆盘型电极。可动膜片与固定电极构成了一个电容变进器的两极。整个结构保持严格的密封，两接收气室内的气体为动片薄膜隔开，但在结构上安置一个大小为百分之几毫米的小孔，以使两边的气体静态平衡。辐射光束通过参比室、测量室后，进入检测器的接收室。被接收室里的气体吸收，气体温度升高，气体分子的热运动加强，产生的热膨胀形成的压力增大。当测量室内通入零点气(N2)时，来自两气室的光能平衡，两边的压力相等，动片薄膜维持在平衡位置，检测器输出为零。当测量室内通入样气时，测量边进入接收室的光能低于参比边的，使测量边的压力减小，于是薄膜发生位移，故改变了两极板问的距离，也改变了电容量C。 红外线气体分析仪可以用来分析各种多原子气体,如:C2H2、C2H4、C2H5OH、C3H6、C2H6、C3H8、NH3、CO2、CO、CH4、SO2等。不能用来分析同一种原子构成的多原子气体以及惰性气体，如：N2、Cl2、H2、O2以及He、Ne、Ar等。[~189240~]
工业分析仪基本工作原理工业分析仪主要用于测定煤等有机物中的水分、灰分和挥发分的含量，其主要特点是整个测试过程由计算机控制自动完成，分析时间短，测试精度高。并且，该仪器通过采用先进采集和传输数据控制系统，使得该仪器具有很高的可靠性。该仪器自投放市场后深受广大用户和专家的好评。为了使有关人员能更好地掌握该仪器的使用和维护，我们编制了这本《自动工业分析仪使用说明书》，对如何正确使用和维护该仪器作了全面的介绍。工业分析仪基本工作原理 仪器检测原理为热重分析法它将远红外加热设备与称量用的电子天平结合在一起，在特定的气氛条件、规定的温度、规定的时间内称量受热过程中的试样质量，以此计算出试样的水分、灰分和挥发分等工业分析指标。 仪器工作过程通过计算机控制测试主机来测定试样的水分、挥发分和灰分。 测定流程 工业分析仪运行仪器的测试程序，进入工作测试菜单，输入相关的试样信息后仪器自动称量空坩埚，空坩埚称量完毕，系统自动打开上盖，提示放入试样，然后系统称量试样质量并开始加热。升温到145℃左右恒温30分钟（指按国标方法，温度与恒温时间可自定义设置）后开始称量坩埚，当坩埚质量变化不超过系统设定值（默认0.0006克）时水分分析结束，系统报出水分测定结果，此时系统会自动打开上盖，提示加坩埚盖，仪器自动称量加坩埚盖质量，然后系统控制高温炉继续升温，目标温度900℃（系统自动打开氮气阀，向高温炉内通氮气，气体流量控制在4～5L/min），高温炉温度升到900℃，恒温规定的时间后，系统会自动打开上盖开始降温，当高温炉温度降到设定值时，仪器自动称量各坩埚质量，系统报出挥发分测定结果。此时系统再次升温至845℃恒温（系统会打开氧气阀，向高温炉内通氧气，气体流量控制在4～5L/min），之后系统开始称量坩埚，当坩埚质量变化不超过系统设定值（默认0.0006克）时灰分分析结束，系统报出灰分测定结果，并打印结果或报表（如果在系统设置中设置了打印）。
4月3日，我写了一篇关于光栏的帖子，见下图：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304092055_434679_1602290_3.jpg当原吸使用石墨炉分析的时候，在原子化阶段石墨管会发出耀眼的光辉，这个耀眼的光辉就是一个强烈的杂散光，并会对测试结果产生不利的影响。为此，在许多仪器光路的设计中，让一个光栏（图中黄色圆圈里的部件）在石墨炉分析时由一个电机带动旋转切进到光路中，这样，即便石墨管在原子化发出耀眼的光，也会因光栏的切入而衰减了对单色器的干扰。但是，特别设计的光栏，无形中增加了成本和部件，同时故障率还会增加。那么能不能找到另一种既不增加部件费用成本，又能起到光栏的效果的途径呢？答案是：有！那就是利用单色器的狭缝来起到光栏的效果。见下图所示：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304092005_434670_1602290_3.jpg从上图不难看出，该狭缝共有四档，即：2.6nm ，1.3nm，0.4nm，0.2nm。在这里除了2.6nm的狭缝是一个外（这个档位仅供火焰分析使用），其余的三档狭缝均为两个一档。在每一档中，两个狭缝的宽度一样（即带宽一样），所不同的仅是高度不一致；这其中，高的狭缝是为火焰分析使用的；而那个矮的狭缝则是专为石墨炉分析时使用的。这样在石墨炉分析时，带宽既不受影响而该狭缝又能起到光栏的效果，真可谓一举两得的巧妙之举。
我用的仪器是PE3030，石墨炉法测Ni，波长232.0nm系统推荐狭缝为0.2，但是当我放入标准Ni溶液35.0ug/l时，根本不出峰，后来我换到狭缝0.7，这才出现了吸收峰。请问这是怎么回事？用宽狭缝和窄狭缝有最大区别在哪里呢？
初学者需要知道：狭缝决定分辨率，仪器其他结构已经固定（光栅的刻线数、焦距以及综合的线色散系数），分辨率的使命就留给了狭缝。对于实际使用，狭缝需要和测定的峰的半峰宽相匹配，过大，峰就变形了。狭缝决定光通量，狭缝开大一倍，经验数值：光通量大四倍。折中选取吧
我的理解狭缝宽度是控制灯通过的总能量，但空心阴极灯的发射的波长出应该很窄，而且发射的波长宽度一定要全部通过狭缝才准确，那调节狭缝宽度的意义是什么？？是不是为了降低背景？？ 还有一个问题是：能不能解析一下狭缝宽度，波长选择器的一些联系，我想知道空心阴极灯发射的光通过石墨管后，之后的走向？？大家有没有官方的解析？？具体怎么走的？检测器如何测量数据？如果采集点来进行峰行的拟合？ 谢谢！！
在计算量子产率中 荧光不同狭缝所得的荧光积分面积有倍数关系吗 狭缝3 和 狭缝5所测的罗丹明的荧光积分面积有倍数关系的
我要推广仪器
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