成像椭圆光度仪原理

1. 产品概述SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 椭圆偏振法分别测量高达 2,500 nm 或 3,500 nm 的近红外光谱。它提供宽的光谱范围、佳的信噪比和高的可选光谱分辨率。可以测量厚度达 200 μm 的硅膜。FTIR椭圆偏振仪的测量速度与二管阵列配置相比，二管阵列配置也可选择高达1,700 nm。2. 主要功能与优势宽的光谱范围和高的光谱分辨率SENTECH SENresearch 4.0 椭圆偏振光谱仪覆盖从 190 nm（深紫外）到 3,500 nm（NIR）的宽光谱范围。该器件具有高光谱分辨率，可使用 FTIR 椭圆偏振法分析厚度达 200 μm 的厚膜。无运动部件，符合 SSA 原理在数据采集过程中没有移动的光学部件，以获得佳测量结果。步进扫描分析仪 （SSA） 原理是 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪的一个功能。通过创新的 2C 设计实现全 Mueller 矩阵通过创新的 2C 设计扩展了 SSA 原理，可以测量完整的 Mueller 矩阵。2C 设计是一种可现场升且经济高效的配件。3. 灵活性和模块化电动金字塔测角仪的角度范围为 20 度至 100 度。光学编码器确保了高精度和角度设置的长期稳定性。光谱椭圆仪臂可以独立移动，以进行散射测量和角度分辨透射测量。该工具根据步进扫描分析仪 （SSA） 原理运行。SSA将强度测量与机械运动分离，从而可以分析粗糙的样品。在数据采集过程中，所有光学部件都处于静止状态。此外，SENTECH SENresearch 4.0 包括用于映射和原位应用的快速测量模式。SENresearch 4.0 的定制椭圆仪可以针对标准和高应用进行配置。例如介电层堆栈、纹理表面以及光学和结构 （3D） 各向异性样品。为各种应用提供了预定义的配方。

1. 产品概述SENTECH SENpro 椭圆偏振光谱仪具有操作简单、测量速度快、不同入射角椭偏振测量的组合数据分析等特点。它的测量光谱范围为 370 nm 至 1,050 nm。该工具的光谱范围与先进的软件 SpectraRay/4 相结合，可以轻松确定单片薄膜和复杂层叠的厚度和折射率。2. 主要功能与优势离散入射角SENTECH SENpro 光谱椭圆仪包括一个角测角仪，其入射角以 5° 步长 （40° – 90°） 进行，以优化椭圆测量。步进扫描分析仪原理SENpro具有的步进扫描分析仪原理。在数据采集过程中，偏振器和补偿器是固定的，以提供高精度的椭圆测量。速度和准确性该工具注于测量薄膜的速度和准确性，无论它们应用于何处。应用范围从 1 nm 的薄层到高达 15 μm 的厚层。 可重复且准确的结果经济高效的台式 SENTECH SENpro 包括 VIS-NIR 椭圆仪光学元件、5° 步进测角仪、样品平台、激光对准、光纤耦合稳定光源和检测单元。SENpro 配备光谱椭圆仪软件 SpectraRay/4，用于系统控制和数据分析，包括建模、模拟、拟合和数据呈现。即用型应用程序文件使操作变得非常容易，即使对于初学者也是如此。SpectraRay/4 支持计算机控制的均匀性测量映射。

保圆光纤（Spun Fiber） 保圆光纤（Spun fiber）是一种圆偏振保持光纤，它是通过在光纤拉制过程中通过旋转预制棒制作而成，这种高速旋转可以使原本具有高双折射率的光纤保持圆偏振的传输。这种特殊的性能，使保圆光纤（Spun fiber）广泛应用在光纤电流互感器（FOCT）中。 IXBlue通过优化旋转速率（Spinning rate）来尽可能降低温度以及震荡对输出偏振光状态的影响，确保圆偏振对的保持。 椭圆芯的结构设计也可以降低温度的影响。保圆光纤（Spun Fiber）特点：作用波长：1310nm & 1550nmElliptical Core & Tiger Core 包层直径：80um or 125um匹配PM 光纤（for 电流传感器）保圆光纤（Spun fiber ）应用： 光纤电流传感保圆光纤规格参数（可定制）：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

总览我们的椭圆芯PME1300-10光纤提供了高偏振消光和对弯曲和扭转应力不敏感。与传统的PM光纤不同，椭圆波导的双折射具有较低的热依赖性(比Panda低10倍)。由于椭圆芯的几何形状，与传统的圆芯光纤(SMF、Panda)之间的耦合是有损耗的，圆形-全椭圆光纤耦合的拼接损耗是-0.5dB，椭圆到圆形的损耗为2.5 dB。低双折射旋转光纤 600-900nm,低双折射旋转光纤 600-900nm通用参数产品特点：高消光比低耦合损耗低温依赖性产品应用：光纤陀螺仪.光学电流传感器.光纤放大器技术参数：型号LB650LB1060LB1300LB1300RCPME1300-10工作波长600 - 900 nm900 - 1100 nm1300 - 1600 nm 11300 - 1600 nm1300 - 1600 nm截止波长 580 nm 915 nm 1280 nm 1280 nm 1280 nmBeatlength 拍长4 mm7 mm13 mm13 mm9 mm自旋周期3 mm3 mm3 mm3mm-衰减6 dB/km6 dB/km4 dB/km5 dB/km8 dB/km模场直径6 um8 um9 um9 um13 x 8 um包层直径125 um125 um125 um80 um125 um涂层直径250 um250 um250 um200 um250 um芯包同心度 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um包层偏移量 5 um 5 um 5 um 5 um 5 um涂层材料丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂拉力测试100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi弯曲半径 20 mm 20 mm 20 mm 12 mm 20 mm

1. 产品概述SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。2. 主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑，覆盖全谱段，利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高，安装维护简便5. 一键式操作软件，快速简单6. 自动MAPPING扫描，分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围：450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术，可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解：1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题

一、产品介绍： 椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块主要用于检定、校准系列圆度仪仪器的放大倍数。我公司在生产过程中采用了特殊工艺，结构简单合理，形状为正椭圆柱，尺寸测量带稳定，表面光洁度高，只需一次调心找正后即可多次重复测量。 国家质量技术监督局在2000年8月发布的《国家计量检定规程JJG429-2000圆度、圆柱度测量仪》中，将其列为主要检定工具之一。二、产品特点：1、正椭圆柱；2、长短轴之差公称尺寸为：1μm、2μm、4μm、8μm、10μm、20μm；3、热处理HRC60-64，冷处理，时效，尺寸稳定；4、椭圆柱工作面三、结构图：标准椭圆柱别名：椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块

1. 产品概述SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。2. 主要功能与优势亚埃精度稳定的氦氖激光器保证了 0.1 &angst 的精度，用于超薄单层的薄膜厚度测量。高速SENTECH SE 401adv 激光椭偏仪的测量速度使用户能够监测单片生长和终点检测，或绘制样品的均匀性图谱。测量的椭圆角具有高稳定性和再现性原位椭偏仪 SE 401adv 可用于监测反射样品表面不同环境因素的生长和蚀刻过程。它测量椭圆角度 Ψ 和 Δ 的时间依赖性，并实时计算厚度和折射率 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪可用于从可选的、特定于应用的入射角表征单个薄膜和基板。自动准直望远镜可确保在大多数具有平坦反射表面的吸收性或透明基材上进行精确测量。集成的多角度测量支持（40° – 90°，步长为 5°）可用于确定层堆叠的厚度、折射率和消光系数。SENTECH SE 401adv是用于超薄单膜厚度测量的激光椭偏仪。SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪的选件支持微电子、光伏、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工以及更多沿技术中的应用。SENTECH SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：&le 1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：&phi 10-&phi 140mm，厚度&le 16mm 偏振器方位角范围：0° - 180° 读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：± 1nm和± 0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20° - 90° 精度为0.05° 主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

QXLC系列椭圆齿轮流量计是用来测量液体流量的精密仪表。系直读累积式仪表，是计量流经管道内液体流量总和的容积式流量计。椭圆齿轮流量计可选用机械显示表头和电子显示表头两种计数机构，显示表头具有显示累积流量、瞬时流量及回零功能，可实现现场显示和远传控制。对于不同的测量介质酸、碱、有机液、油品、食品等，流量计可以选用不同的材料铸钢、不锈钢和316制造，适用于化工、石油、医药、电力、冶金和食品等工业部门的流量计量工作。带发讯功能的椭圆齿轮流量计能与本公司的QX -908系列流量积算仪等仪表配套，便于集中检测，输出标准信号，作自动控制和数据处理等用，并可直接与计算机联网。产品特点：1、测量精度较高：0.2级与0.5级；2、机构简单、坚固、运行可靠；3、特别适合于测量粘度较高的介质，而且对被测量液体粘度的变化不敏感；4、安装容易。流量计前后不需直管段，即使流量计靠近阀门、弯管、缩管、扩大管，也无需加装直管段。5、QX LC-a型铸铁椭圆齿轮流量计，广泛用于各种油品及对铸铁不腐蚀液体介质的计量6、QX LC-e型铸钢椭圆齿轮流量计，用于高压、低腐蚀性介质的计量7、QX LC-b型广泛用于有较强腐蚀性液体介质，如酸、碱、盐及有机化合物等的计量8、为了防止流量计的齿轮被杂质卡死，在流量计的上游必须安装过滤器9、防爆等级：ExiaIICT6◆技术数据

我公司生产的椭圆齿轮流量计，适用于对管道中的液体流量进行连续的高精度计量。具有结构简单、使用可靠、准确度高、量程范围大、压力损失小、粘度适应性强、能测量高温高粘度液体、标定方便、安装简易、被测介质的粘度范围很宽广等特点。为容积式流量计的代表产品，特别适用于油品燃油的计量。我公司生产的椭圆齿轮流量计，装有现场指针显示、字轮累积计数器等装置。可以直接显示管道内的液体累积流量。广泛应用于石油、化工、医药、交通、船舶、食品等工业及商业部门的液体流量检测。

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

1. 产品概述SENTECH SENDIRA 为红外 （FTIR） 而设计。这款紧凑的台式仪器包括吹扫椭偏仪光学元件、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 检测器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光谱范围内提供出色的精度和高分辨率。2. 主要功能与优势测量灵活性SENTECH SENDIRA 椭圆偏振光谱仪可测量散装材料、单层和多层堆叠的薄膜厚度、折射率、消光系数和相关特性。该工具可用于覆盖在可见范围内不透明的层下方的层，使其可用于测量。可以分析材料的组成以及较大分子基团和链的取向。椭圆振动光谱利用红外光谱中分子振动模式的吸收带分析了薄层的组成。此外，载流子浓度可以用这种FTIR光谱椭偏仪测量。适用的傅里叶变换红外对于 Thermo Fisher Scientific 光谱仪的商用 FTIR iS50，安装了红外椭偏仪光学元件。它也可用于一般振动光谱法。精确的测量和准确的结果SENTECH SENDIRA注于薄层的振动光谱分析。应用范围从介电薄膜、TCO 和半导体到有机层。SENDIRA 由 SpectraRay/4 软件操作。另外还提供FTIR软件。

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

J.A.Woollam椭圆仪M-2000产品型号：M-2000产品介绍：M-2000系列椭圆偏振仪专为满足薄膜表征的各种需求而设计。先进的光学设计、宽光谱范围和快速数据采集结合在一个 强大和多功能的工具中。M-2000 兼具速度和准确性。我们获得专利的 RCE 技术将旋转补偿器椭圆偏光仪与高速 CCD 检测相结合，可在几分之一秒内通过各种配置收集整个光谱（数百个波长）。M-2000 是一款擅长从现场监测和过程控制到大面积均匀性映射和通用薄膜表征的所有方面的椭圆仪。没有其他椭圆仪技术能够更快地获取全光谱。性能特点：◆先进的椭圆仪技术M-2000 利用我们获得专利的 RCE（旋转补偿器椭偏仪）技术来实现高精度。◆快速光谱检测RCE 设计与先进的、经过验证的 CCD 检测兼容，可同时测量所有波长。◆宽光谱范围收集从紫外线到近红外的 700 多种波长——全部同时进行。◆灵活的系统集成M-2000 采用模块化光学设计，适合直接连接到您的处理室或配置在我们的任何桌面底座上。◆准确性先进的设计可确保对任何样品进行准确的椭圆偏光测量。参数：◆光谱范围D：193-1000 nmX-210：210-1000 nmX：245-1000 nmU：245-1000 nmV：370-1000 nm+I：增加 1000-1690 nm◆波长数D：500个波长X-210：485个波长X：470个波长U：470个波长V：390个波长+I：增加190个波长◆探测器：感光元件◆入射角45°-90°（自动角度底座）20°-90°（立式自动角度底座）65°（固定角度底座）65°（测试底座）◆数据采集率（完整频谱）：0.05 秒（典型值为 2-5 秒）◆max基材厚度：18mm◆电源要求：100/240 伏交流电，47-63 赫兹，1 安培◆产地：美国应用：M-2000是一款多功能的光谱椭偏仪，适用于多种不同的样品类型。涂层可以是电介质、有机物、半导体，甚至是薄金属。◆光学镀膜◆化学/生物学◆导电有机物◆半导体◆光伏◆原位

日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服?光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。◆规格型号M-210M-220M-230M-240M-550ELC-300测量方法PEM双重锁定方式、光伺服/光参照控制方式分光器-双单色器 自动波长驱动装置双单色器（260～900nm） 单单色器（900～1700nm） 自动波长 驱动装置单单色器 自动波长 驱动装置双单色器 自动波长 驱动装置测量波长He-Ne激光 (632.8nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源(240～700nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 卤素灯(900～1700nm)Xe光源 (350～800nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)入射 　角范围40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）45゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）膜厚测量范围0～99999?测量时间1msec以上20μsec～16sec测量准确度*屈折率　±0.01膜厚　±1?消衰係数　±0.01*准确度是指测量时间100msec以上。另外、根据表面状态、膜质不同准确度也不同。样品室样品垂直放样品水平放样品垂直放检测器检光子（Glan-Taylor棱镜） 紫外可见区域：光电子倍増管　近红外区域：InGaAs-PIN光电二极管（M-240）

OI200X7系列光纤是多芯多模导能光纤，采用7芯200μm光纤设计，输入端为圆型排布，输出端为线型排布。光纤耦合效率＞80%，多次插拔一致性好。线转圆光纤应用场景为配合光纤光谱仪使用，提供光谱收光效率设计。产品简介OI200X7系列光纤，是多芯多模导能光纤，采用7芯200μm光纤设计，输入端为圆型排布，输出端为线型排布。线转圆光纤应用场景为配合光纤光谱仪使用，提供光谱收光效率设计。 产品特点? 多芯多模导能光纤；? 7芯光纤设计；? 光谱收光效率设计；规格参数型号OI200X7系列光纤多芯光纤200μm*7芯传输波长VIS-NIR/UV-VIS数值孔径0.22护套蓝色凯夫拉铠甲端口接头SMA905

Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集，双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点，使得数据采集分析更加简便，易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验，UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制，可用于各种样品的精确测量，最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍，从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计，可灵活拓展，以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商，UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术，相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90，Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus：190 - 885 nmUVISEL Plus NIR：190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动：55º - 90º，步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器

1. 产品概述多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波长为 632.8 nm 时，在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶硅片上进行测量。2. 主要功能与优势粗糙表面分析高灵敏度和超低噪声检测允许在非理想的、引起杂散光的表面上进行测量，这些表面是纹理化单晶硅和多晶硅太阳能电池的典型特征。非凡的准确性由于稳定的激光光源、温度稳定的补偿器设置和超低噪声检测器，SENTECH SE 400adv PV 激光椭偏仪的主要特点是具有非凡的高稳定性和准确性。精密涂层评估SENTECH SE 400adv PV激光椭偏仪可以特别分析SiN涂层x、ITO、TiO2和SiO的薄钝化层2和 Al2O3.可以在光滑的基板上分析双层堆叠。该工具是一款紧凑的仪器，可快速启动和运行。SENTECH易于使用，以配方为导向的软件包括一个全面的预定义应用程序包，可满足生产环境中的研发和质量控制要求。

世界上第一款能够在36 000转/分转速下达到27位分辨率的绝对式直线光栅。真正的绝对式精细栅距光栅系统，具有优异的抗污能力和超凡的技术指标。雷尼绍的RESOLUTE绝对式直线光栅和圆光栅可以满足全球各地的太阳能电池板制造商一直在寻找一种有助于增加输出量、提高产量并尽量缩短停机时间的编码器这些要求。 实际上，位置反馈的安全性是RESOLUTE系统的一项突出优点。光栅运行两种独立算法：一种用于确定绝对位置，另一种用于检查测量结果。这些内置位置检查算法可以独立校验位置，确保报告位置的保真度并可防止轴的非受控运动。因此大大降低了制造过程中电池或轴受损的几率。RESOLUTE已被世界领先的外科手术机器人公司采用，这足以说明该集成功能的有效性和可靠性！ 进一步信息.请访问

TONiC&trade 是Renishaw推出的新款超小型非接触式光栅，在线性和旋转应用中均可达到10 m/s的速度和高至5 nm的分辨率。TONiC&trade 显著提高了Renishaw现有高速非接触式光栅的性能，同时进一步改善了信号稳定性和长期可靠性，产品拥有成本低，简便性无与伦比。 运动系统设计通常要在速度和精度之间取得一个平衡。TONiC&trade 光栅尺解决这一难题，即使在高至0.1 µ m的分辨率下采用各种直线光栅和圆光栅均可达到 3 m/s以上的速度。该产品包括一种新型Renishaw柔性镀金钢带光栅尺，光栅尺具有备受推崇的用户自选IN-TRAC&trade 光学参考零位，利用按钮即可自动调节相位。独特的IN-TRAC&trade 参考零位直接刻入增量信号通道中，这在最大程度上防止了扭摆引起的相位偏移，此外，确保了整个速度和温度范围内相位保持一致。 Renishaw的光栅系列产品因安装快捷简单而得到广泛认可。除了INTRAC&trade 双向参考标记之外，新型TONiC&trade 光栅还具有自动校正功能和一个包含两个内置诊断LED的读数头，将简便性提高至新的水平。 新型TONiC&trade 读数头体积虽小，但读数头内含动态信号处理功能，进一步提高了信号的纯度和稳定性，细分误误差小于± 30 nm。系统设计者可以使用读数头直接输出1 Vpp模拟信号，或从具有细分和诊断功能的15针D型插头输出数字信号。Renishaw 经过实践检验的光学滤波系统新增自动增益控制 (AGC)，可输出稳定的信号，具有极强的抗污能力，如灰尘、轻度油渍和划痕等，进一步确保了长期操作可靠性。 与所有Renishaw光栅一样，TONiC&trade 光栅系统还能够适应恶劣的操作环境，能够耐70 ° C的温度。此外，该产品符合最高的环境标准即WEEE和RoHS的要求。 进一步信息.请访问

薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µ m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。产品特点 1、可分析单层或多层薄膜2、分辨率达0.1nm3、适合于在线监测操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。查找n和k值可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。应用NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。

一、产品型号：SPA-4000二、所属品牌：Sairon Tech三、产品简介： SPA-4000棱镜耦合仪利用波导耦合原理可以测量薄膜或体块材料的折射率和薄膜厚度以及其热光系数，波导损耗等。对于许多薄膜及光波导用途，提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。四、产品特性： 1. 中/厚膜膜厚折射率(尤其是光波导)的优质选择 2. 可同时高分辨测量薄膜厚度或者光损 3. 可测量双膜结构中的单膜厚度及折射率 4. 独特的气压耦合方式,不需要加耦合液 5. 无需预先知道膜厚与折射率。 6. 体材料或基底材料的高精度折射率测量 7. 各向异性/双折射测量（TE和TM能力） 8. 快速表征 9. 可用于波长范围内的许多激光器（632.8nm~1550nm）五、技术指标： 测量指标范围折射率折射率测量范围1.0 to 2.45折射率精度0.001折射率分辨率±0.0005厚度厚度测量范围0.4?-20?厚度精确度±（0.5%+50?）厚度分辨率±0.01?体材料(仅测折射率)折射率精度0.0005折射率分辨率±0.0001三维折射率样品旋转台范围-90°至90°折射率分辨率±0.0025厚薄膜厚度测量范围2?-150?液体(仅测折射率)折射率测量范围1.0 to 2.4折射率精度± 0.0005热光系数温度测试范围室温－150℃波导损耗测量测量限度below 0.05dB/cm六、应用范围：§ 光通信系统的光学元件 - 光学开关 - 用于WDM的可变光衰减器（VOA）（波分复用） - 低光传播损耗§ 塑料光纤（POF） - 用于光通信的塑料光纤放大器（POFA） - 用于波导的高温聚合物§聚合物 - 研究聚合物的铬性质 - 信息显示和处理 - 存储材料§ 纳米器件：MEMS，微电子

一、型号：SPA-4000二、品牌：韩国Sairon Tech公司三、产品简介： SPA-4000棱镜耦合仪利用波导耦合原理可以测量薄膜或体块材料的折射率和薄膜厚度以及其热光系数，波导损耗等。对于许多薄膜及光波导用途，提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。四、产品特性： 1. 中/厚膜膜厚折射率(尤其是光波导)的优质选择 2. 可同时高分辨测量薄膜厚度或者光损 3. 可测量双膜结构中的单膜厚度及折射率 4. 独特的气压耦合方式，不需要加耦合液 5. 无需预先知道膜厚与折射率 6. 体材料或基底材料的高精度折射率测量 7. 各向异性/双折射测量（TE和TM能力） 8. 快速表征 9. 可用于波长范围内的许多激光器（405nm~1550nm）五、技术指标： 测量指标范围折射率折射率测量范围1.0 - 2.45折射率精度±0.0005(最高±0.0001)折射率分辨率±0.0003(最高±0.00005)厚度厚度测量范围0.4um - 30um厚度精确度±（0.5%+5nm）厚度分辨率±0.03%体材料(仅测折射率)折射率精度±0.0005折射率分辨率±0.0001三维折射率样品旋转台范围-90°至90°折射率分辨率±0.0025厚薄膜厚度测量范围2um - 150um液体(仅测折射率)折射率测量范围1.0 to 2.4折射率精度± 0.0005热光系数温度测试范围室温－150℃波导损耗测量测量限度0.05dB/cm六、应用范围：§光通信系统的光学元件 - 光学开关 - 用于WDM的可变光衰减器（VOA）（波分复用） - 低光传播损耗§塑料光纤（POF） - 用于光通信的塑料光纤放大器（POFA） - 用于波导的高温聚合物§聚合物 - 研究聚合物的铬性质 - 信息显示和处理 - 存储材料§纳米器件：MEMS，微电子

产品名称：Metricon棱镜耦合器2010-M产品型号：2010-M产品介绍：Metricon 2010/M 型棱镜耦合器利用先进的光波导技术快速准确地测量介质和聚合物薄膜的厚度和折射率/双折射率以及散装材料的折射率。性能特点：◆通用性Model 2010/M 数据分析软件是完全通用的，几乎可以测量任何薄膜，而无需了解薄膜或基材的光学特性。◆折射率精度、分辨率和稳定性棱镜耦合技术为薄膜测量提供比任何其他薄膜测量技术更高的折射率精度和分辨率。此外，由于折射率测量仅对棱镜的耦合角和折射率敏感（不随时间变化），因此棱镜耦合测量随时间推移非常稳定，无需定期校准 2010/M。◆对折射率随波长变化引起的误差不敏感每张薄膜的折射率随波长变化。在依赖分光光度法（干涉与波长）的技术中，如果不能准确了解整个波长范围内薄膜的折射率变化，将会导致很大的误差。此外，许多薄膜的折射率与波长曲线高度依赖于薄膜沉积条件。对于此类胶片，Model 2010/M 的单色测量具有明显的优势。如果确定各种波长的折射率，则 2010/M 型可以配置多达五个激光器，并且可以在不到五秒的时间内从单个折射率测量中生成连续的折射率与波长曲线。◆相对于椭圆仪的优势由于椭圆仪数据随薄膜厚度呈周期性变化，单波长椭圆光度法需要预先了解薄膜厚度，精度为 ±75 至 ±125 nm，具体取决于薄膜指数。直接进行厚度测量的 Model 2010/M 不需要事先了解薄膜厚度。此外，在某些周期性厚度范围内，使用单波长椭圆光度法进行折射率测量是不可能的。使用 2010/M，一旦薄膜厚度超过某个min阈值（通常为 300-500 nm，取决于薄膜/基材类型），就可以获得全精度指数测量值。多波长椭圆偏振仪为准确的薄膜测量提供了可能性，但数据分析非常复杂，通常只有在对样品的光学参数有广泛的了解的情况下才能获得好的结果。◆材料色散的简单“光谱”测量2010/M 型测量离散激光波长的指数，通常配备 1-5 个激光器。对于具有三个激光器的系统，Metricon 开发了专有软件，使用新颖的拟合技术计算（在短短几秒钟内）在扩展波长范围（例如 400-700 nm 或 633-1550 nm）内极其准确的折射率与波长曲线。四个或五个激光系统分别在 400-1064 和 400-1550 nm 范围内提供准确的色散曲线。在大多数情况下，在中间波长下计算的指数值提供的准确度实际上与用激光在该波长下测量的指数相同。◆透明基材的测量2010/M 型可用于测量透明基材上的薄膜，即使薄膜和基材之间的折射率匹配相对接近。此外，棱镜耦合技术对来自基板背面的反射不敏感，而这对于椭圆偏光法和其他薄膜测量技术来说通常很麻烦。◆内部自洽性检查如果膜厚超过 500-750 nm，则对膜厚和指数进行多次独立估计，并显示这些多次估计的标准差。只要测量标准偏差很低（厚度通常为 0.3%，折射率通常为 0.01%），就不太可能出现明显的误差。没有其他技术可以对每个测量的有效性提供类似的“置信度检查”。◆更轻松、更准确地测量散装材料的折射率 2010/M 可以在 x、y 和 z 方向测量从 1.0 到 3.35 的折射率，并且测量是全自动的，并且没有传统折光仪常见的操作员主观性。2010/M 不需要使用脏乱、有毒或腐蚀性的匹配液，可以处理光学平整度或抛光度相对较差的样品（甚至可以测量轻微倒圆的铸造“斑点”）。参数：◆指数精度：±.0005（差情况）。折射率精度主要受到确定测量棱镜的角度和折射率的不确定性的限制。对于具有合理光学质量的样品，如果使用高分辨率台并且用户愿意对每个棱镜执行简单的校准程序，则可以实现 ±.0001-.0002 的折射率精度。NIST、熔融石英和其他标准可用于指数校准。◆索引分辨率：±.0003（坏情况）。对于具有合理光学质量的样品，使用高分辨率旋转台可将折射率分辨率提高至 ±.00005。◆厚度精度：±(0.5% + 5 nm)◆厚度分辨率：±0.3%◆工作波长：低功率 (0.8 mw) He-Ne 激光器 (632.8 nm)，CDRH II 类。可选择用于测量较薄薄膜的较短波长（405、450、473、532、594 nm）和用于光纤/集成光学应用的近红外（830、980、1064、1310、1550 nm）波长。可选来源将 CDRH 安全等级更改为 IIIa 或 IIIb。◆典型测量时间：标准表 10-25 秒，高分辨率表 20-75 秒。◆测量面积：当胶片和测量棱镜在大约 8 平方毫米的面积上接触时，实际测量的胶片面积只有 1 毫米直径。◆折射率测量范围：使用标准棱镜，可测量折射率2.65及以下的薄膜和块状材料。可以使用专用棱镜进行高达 3.35 的折射率测量。◆产地：美国应用：◆光波导◆散装/基底材料/液体的折射率测量◆表面等离子体激元 (SPR) 和波导传感器◆纳米材料的表征◆测量色散◆聚合物/聚酰亚胺/光致抗蚀剂◆薄膜和本体聚合物材料的折射率/双折射率/取向◆显示技术材料◆LED材料◆环氧树脂、凝胶和其他折射率匹配材料的折射率测量◆磁性薄膜磁头材料◆厚膜测量◆等离子体氮化物或氮氧化物◆多层膜◆金属和其他半导体上的薄膜

| 产品概述光学平台罩壳设计用于为对灰尘、光线等外界干扰敏感的仪器设备提供保护空间。 有小型遮光（防尘）罩和大型遮光（防尘）罩可供选择。材质：遮光材料杂散光会给探测器和实验带来不利的影响。对于高增益探测系统，由于信号在房间自然光情况下极易饱和，遮光材料尤其有益。在椭圆光度法和某些偏振测量技术中，背景光的调制信号对于精密测量有不利影响，遮光材料是消除这种影响的理想材料。暗箱提供了一个不透光的操作空间，可以在里面进行图像测量、感光操作或者其它需要黑暗空间的光学测量、光路搭建。

光学暗室暗室提供了一个不透光的操作空间，可以进行图像测量、感光操作或者其它需要黑暗空间的光学测量、光路搭建。产品特点：产品为钢管框架结构，四周配有黑色遮光布，遮光窗帘为手拉导轨式，方便工作人员操作。杂散光会给探测器和实验带来不利的影响。对于高增益探测系统，由于信号在房间自然光情况下极易饱和，遮光材料尤其有益。在椭圆光度法和某些偏振测量技术中，背景光的调制信号对于精密测量有不利影响，遮光材料是消除这种影响的理想材料。产品用途：简单地设置图像测量，感光试验，光学计量，激光应用，洁净实验室、X 射线和紫外线等必不可少的暗室空间。SPL-ZG系列光学暗室门配套光学平台设计，有效防止实验室外面的光干扰影响等作用，可拆卸，方便实验室使用。型号规格*SPL-ZG-303000mm，配套长3000mm平台使用SPL-ZG-242400mm，配套长2400mm平台使用* 可根据要求定制

Thorlabs 变形棱镜对 PS870 其它通用分析特性改变光束形状的椭圆度以形成圆或椭圆输出提供未安装或安装在Ø 1英寸外壳中的棱镜对放大倍率2.0 - 4.0未镀膜或镀适用于350 - 700 nm、650 - 1050 nm或1050 - 1700 nm的增透膜Thorlabs变形棱镜对通过一维放大椭圆光束将激光二极管的椭圆光束变成近似圆形光束。它们也可将圆形光束变成椭圆光束。这些变形棱镜对可选未安装版本或安装在一端带SM05(0.535"-40)螺纹的Ø 1英寸外壳中，提供未镀膜版本(只有未安装)和镀增透膜的版本，可选350－700 nm、650－1050 nm或1050－1700 nm三种镀膜范围。已安装棱镜的放大倍率从2.0 到4.0。如果光束以布儒斯特角入射棱镜对并且每个表面镀有适合入射波长的增透膜，则可实现95%的平均光通量。已安装棱镜对的设计可让光线以布儒斯特角入射，因此，只有我们未安装的棱镜对需要手动定向才能实现上述平均光通量。此外，为了最大限度地减少背反射，在如下所示的配置中使用时，p偏振光应入射到棱镜上。请注意最大入射光束宽度是棱镜宽度的90%。对于已安装棱镜，最大入射光束高度由入射处的开口高度5.1 mm决定。柱面透镜也能用于光束的一维整形。