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射线衍射仪验收标准
仪器信息网射线衍射仪验收标准专题为您提供2024年最新射线衍射仪验收标准价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括射线衍射仪验收标准参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的射线衍射仪验收标准您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合射线衍射仪验收标准相关的耗材配件、试剂标物,还有射线衍射仪验收标准相关的最新资讯、资料,以及射线衍射仪验收标准相关的解决方案。
射线衍射仪验收标准相关的方案
奥龙集团:利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
一、实验目的1.概括了解X射线衍射仪的结构及使用。2.练习用PDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。图实2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样( )及探测器(2 )进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
矿物的X射线衍射测试报告
本实验中,使用浪声映SHINE型X射线衍射仪进行测试,将岩石制成150-200目的粉末样品,在给定的测试条件下,用X射线衍射仪对样品进行扫描 ,取得相应岩石的X射线衍射图谱 ,利用软件进行矿物定性解 译和半定量分析。
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
GNR X射线衍射仪(XRD)对石棉的测试
APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X射线管具有优良的重现性和稳定性;创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作,双重安全电路保护设计。
X射线衍射仪与电子探针联用检测汽车制动衬片中石棉
联合使用X射线衍射仪及电子探针显微分析仪对某送检制动衬片样品进行检测,根据其衍射峰特征及微观形态,可快速、准确判定样品中是否含有石棉。
布鲁克X射线衍射仪 | 轴承滚珠应力深度分布应用报告
在轴承滚珠的加工生产工艺中,表面的处理非常重要,通过渗碳等热处理工艺, 希望在滚珠的表面产生合适的残余压应力。同时工艺标准还要求在滚珠表面以下特定深度具有特定的残余应力。X射线衍射是无损测量残余应力的十分有效的方法。其测量速度快,精度高。是测量残余应力的标准方法之一。
“安保卫士”?“排爆专家”?奥林巴斯X射线衍射技术“拍了拍”自己!
目前利用X射线光谱的相关检测技术已经逐渐成熟,并被广泛使用。奥林巴斯的X射线衍射仪(XRD)有助于执法人员顺利完成工作,因为这些衍射仪可以对各种物质进行定性和定量的相分析,可分析的物质包、爆炸物/危险物,以及需由法医专家和海关人员分析的材料。这款分析仪带有一个用于处理样品的独特系统,因为无需完成复杂的样品准备工作,因此操作人员可以方便地将分析仪运送到不同的地点。
岛津X射线衍射内标法测定烧结矿中FeO含量
X射线衍射仪(XRD)是一种应用广泛的结构分析手段,除了能够对烧结矿样品进行物相定性分析,还可以利用内标法对FeO含量进行定量;相较于常规的看火法和化学分析法,X射线衍射法操作简便、定量准确度较高。
X射线衍射仪对药品的动态研究
X射线衍射是用于医药产品结构和物相表征的金标准。是药物发现到预配制、配方,再到稳定性、质量控制等一系列过程中常见的表征技术。在研究原料药的固体剂型、结晶度和生物利用度等方向都有具体的应用。具体的说,XRD通常会被应用于特定原料药的多晶型、盐和共晶的研究。此外,XRD还用于跟踪产品的结晶过程,用于测定最终产品的结晶度、配方的稳定性以及在受控环境下的反应活性。根据应用范围和测量需求,应当选用不同类型的XRD仪器和配置。例如:在QA/QC实验室中,台式XRD仪器将是多晶型和盐筛选问题最经济有效的解决方案,并且可以用于确定物质的结晶度;而立式高分辨率XRD则更加适用于药物的广泛研究。
奥龙集团:Y-2000型X射线衍射仪测定钛铁矿中金红石含量的一种方法
99.5%),配制成一定比便的混合样品,使加入的纯金红石型二氧化钛在混合样品中所占一定的比例R′。3 试验条件本试验使用的钛铁矿样品为广西某矿。试验在国产X射线衍射仪上进行,试验参数:扫描方式:连续扫描 波长:1.54178KX滤光片:Ni 驱动方式:双轴联动扫描速度:0.01度/秒 单色器:石墨弯晶单色器 X光管:Cu靶 发散狭缝:1° 探测器:正比探测器 管电压:30KV 防散射狭缝:1° 起始角度:22° 管电流:20mA 接收狭缝:0.2° 终止角度:30°4 试验结果 本试验所配的混合样品R′为2%,对钛矿粉和混和样品分别有X射线衍射仪进行检测,得出X射线衍射图谱。由峰型处理软件得出IR,I R′,代入公式中,计算出钛矿中的金红石含量,结果如下:R′IRI R′金红石含量(R)2%1 9501 9551.9%2%1 9231 9401.9%2%1 9641 9731.9%5 结论 随着钛白行业的日益发展,钛铁矿资源日趋紧张,矿的质量也参差不齐,结生产带来了不稳定因素,尤其是某些矿中含量不定的少量金红石,对生产的收率和操作难度都带来了较大的影响。 本方法是作者从事质检工作的过程中发现的,试验在丹东射线仪器有限责任公司生产的Y-2000型X射线衍射仪上进行,虽然检测的为微含量物质,系统误差影响较大,但本试验采用净积分强度计算的方法,有效地降低了杂峰的影响,使测定的准确度有了进一步的提高,并且结果且有较高的可信度,在我厂的生产实践中也证明了这一点。目前,已用这种方法进行了多次检测,取得了较好的效果。
SC-XRD应用分享 | 粉末X射线衍射(PXRD)在药物晶型研究中的应用
药物大部分以晶体的形式存在,利用X射线衍射,我们可以获得每种不同的晶型的药物特征的衍射信息。
X射线衍射法测定药用滑石粉中的石棉
使用岛津X射线衍射仪,按照中国药典要求,测定药用滑石粉中石棉含有情况,并对绿泥石对温石棉的干扰做了说明。
普析:X射线衍射(XRD)法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究
通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征,本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比。求解峰高比时改进测定方法,采用定点测量的方法,减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/ ,使定量更准确。从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能,便于建立工艺条件。
晶体日记(十八)- 寻找反常和有趣- X射线衍射XRD
既然Domain功能并没有达到预期,肯定是有原因的。回到起初学习的方式,按部就班的手动分离衍射点下来,并且把共有的衍射点都分配到两组衍射点里。自然发现了其中的问题所在。
【2D-GIWAXS平替】实验室桌面型二维X射线衍射仪
锂影科技在丹东浩元DX2800衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器,加上锂影科技开发的配套测试软件,组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时,结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势,为该款机型配备了多种测试模块,薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台(手套箱内组装好保持惰性氛围测试)和原位气氛处理台(支持大多数溶剂)。
奥龙集团:应用X射线衍射仪分析铝基氧化铜吸附剂的硫化性能
介绍了制备DS01 型铝基氧化铜脱硫剂的方法。对脱硫剂进行了烟气循环脱硫2再生的实验 ,采用 X射线衍射分析了铝基氧化铜对硫氧化物的吸附性能。热态实验和测试分析表明 ,DS01型铝基氧化铜吸附剂硫化性能稳定 含量 6.2%CuO 的吸附剂在 X2射线衍射图谱上没有发现 CuO晶相 ,表明吸附剂表面出现单层分散 使用该脱硫剂进行烟气多次循环脱硫,CuO微晶粒并没有发生明显的团聚现象,表明吸附剂多次循环使用其活性不减。
便携台式X射线衍射仪高分子材料分析
高分子材料在现代社会中有着广泛的应用,从包装到航空航天工程。当然,不同类型的应用对性能的要求也不同,而性能是由高分子产品的结构决定的。对于高分子材料而言,不仅高分子的类型(如聚乙烯-PE或聚丙烯-PP),而且结晶度 (DOC) 也是重要的观察指标。在高分子材料中,可以观察到类似于普通金属合金(如钢)中的微观结构,这些微观结构也会影响这些材料的力学性能。向高分子基质中添加添加剂或燃料是一项众所周知的应用,可调节光学或物理性质等。在高度工业化的环境中,对于用户和生产者来说,快速筛选产品的后一种特性同样重要。对于质控/质保 (QC/QA) 或研究相关应用,X 射线衍射仪 (XRD) 和完整图像 Rietveld 精修技术相结合使用是一种快捷且方便的方法。
SC-XRD应用介绍 | 单晶X射线衍射在药物晶型研究中的应用
不同于粉末XRD在药物研发后期和生产中的广泛应用,单晶X射线衍射技术则在药物研发的早中期发挥着重要的用途。
使用X射线衍射仪和能量色散X射线荧光能谱仪研究 5G 天线开发中的陶瓷材料
随着对无线数据传输需求的逐年增长,人们对传输速度和存储容量的需求也在不断扩大。考虑到 6 GHz 以下的传输频段已经过于拥堵,因此,人们正在研究将 10 GHz 以上的大部分未使用的频谱用于第五代无线数据传输平台 (5G)。为确保产品的质量和性能,控制混合物和原始化合物的化学和结构组成都至关重要。对于常规质量控制/质量保证 (QC/QA) 过程,以及在研究实验室中进行的更为复杂的分析,最简单、最方便的解决方案是将能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 和X射线衍射仪 (XRD) 组合使用。
普析:X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究
由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1小时烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20~30℃)吸水16至24小时;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比。该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本。
浪声映SHINE便携式X射线衍射仪(土壤版)在土壤粘粒矿物研究中的应用
土壤质量检测在现代农业生产中是一项很重要的工作,通过土壤检测我们可以知道土壤的成分、养分含量、酸碱度、污染情况等等与土壤品质相关的数据。土壤检测所得的这些数据对于农业生产都是至关重要的。近几年来X射线衍射分析技术发展迅速,XRD越来越受到广大科研人员的重视。XRD技术理论和XRD实操在土壤质量检测中被广泛应用。本次实验将大家分享XRD对土壤粘粒矿物的应用研究。
晶体日记(十九)- 给使用OMIT完整的证据链- X射线衍射XRD
近期听到一个有意思的词,“离群衍射点”,指的是精修时发现的(Fo vs Fc)误差值过大的衍射点,or Most Disagreeable Reflections。虽然听到时是个乌龙,被当成了Q峰。当然这是常见的概念上的混乱和张冠李戴,这个就不吐槽了,太费神。
石墨负极材料的X射线衍射分析
石墨化度是用于衡量其从无定型碳结构重排后晶体结构接近完美石墨的程度。锂离子电池中负极材料石墨越接近理想石墨,晶格缺陷越少,电子迁移阻力越小,电池的动力学性能越好。在石墨制成电极片后,石墨层状结构的排布方向(即石墨电极的取向性)对锂离子迁移也有较大影响。马尔文帕纳科高性能台式衍射仪Aeris目前已经可以根据用户需求进行石墨材料石墨化度和石墨电极取向性的全自动测量计算。
晶体日记(二十二)- 次品?垃圾?- X射线衍射XRD
一个折腾了学生很久的晶体结构,怎么都解不出来.如果不看衍射图,只看hkl文件的话,数据确实看起来还不错,分辨率也有0.9 A.然而即便是听了我的非常规的晶体教学课,也始终找不到问题在哪里,从晶胞到数据还原都是正常的.
马尔文帕纳科电池研究的X射线分析解决方案
Empyrean X射线衍射仪用于电池充放电循环过程中原位X射线衍射测试,实时获得电池内部正负极材料的结构和物相变化信息,从而更好地理解电化学机理,并最终改进电池设计,提升电池性能。同时采用银靶辐射及市场上超高性能的硬射线探测器GaliPIX对纳电极材料进行对分布函数分析(PDF),研究钠在层状结构中的局部排序。
SC-XRD应用分享 | 药物晶型的原位X射线研究
由于X射线可以对样品进行无损的检测,现代的X射线衍射仪可以对药物样品进行普遍的原位分析。
《固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法》标准解读
山东省市场监督管理局发布了《固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β 射线法》(DB37/T 3785—2019)(以下简称“山东地标”),该标准已于2020年1月24日正式实施。
马尔文帕纳科软包电池原位充放电衍射分析
马尔文帕纳科X射线衍射仪Empyrean采用穿透能力最强的银靶辐射,构建适用于软包电池测试的光路系统,可以对全封闭软包类型电池和工业原型电池样品直接进行原位老化过程分析,无需预先拆卸处理。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
X射线衍射成像技术(XRDI)在半导体退火制程中进行晶圆破裂和缺陷形成机理诊断的应用
X射线测量技术已经被逐步应用于半导体集成电路芯片的生产制程中。在半导体生产制程中,硅晶圆内部的不可视缺陷 (NVD, Non-Visual Defect) 以及晶圆破片(Wafer Breakage)是器件生产中面临的严重问题,导致良率降低、制造成本增加、生产机器诊断和维护成本增加等。晶圆内部出现的不可视微裂纹可能会导致晶圆的破片,位错和滑移带等类型的内部晶格缺陷会降低电子设备的性能和良率。
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丹东奥龙射线仪器集团有限公司
依科视朗(北京)射线设备贸易有限公司上海分公司
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