射线荧光分析仪原理

精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX 　　X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立，可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是，为了进一步提高测量的效率，并对应复杂的测量需求，现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量，以及线路板整体有害物质的管理等的需求，因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。 　　[SEA6000VX]大幅提升了灵敏度，实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源，更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm～10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量，现在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。 　　通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台，实现高速二维扫描。例如，对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中，仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数，大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量，从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。 　　此外，[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统，以及高精度的X-Y平台，进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。 　　精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中，既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等，加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」，可广泛对应不同的测量对象。 　　【SEA6000VX的主要特点】 　　1. 高速扫描测量 　　通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。 　　2. 宽视野高清晰度光学系统 　　可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围内进行高精度分析。 　　3. 微小区域中微量金属的高速测量 　　实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。 　　4. 无需液氮的高计数率检测器 　　作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度后节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。 　　5. 微小区域的镀层厚度测量 　　可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。 　　【上市日期】 　　2008年6月17日 　　【后注】 　　*1 RPF 　　Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。

关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》 学术交流会邀请函 随着加入WTO与国际接轨，新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域，同时，随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能，使现有的资金——购置最适用的设备；使现有的设备——发挥最出色的作用，北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会，并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下： 一、日期：2006年4月26日 二、讲课内容及时间安排： l 上午8：45－11：45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 紫外可见分光光度计部分 1． 目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 紫外可见分光光度计的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性）。 3． 如何评价（挑选）紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。 4． 如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。 l 下午1：00－2：30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 原子吸收分光光度计部分 1． 目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 原子吸收光谱仪的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。） 3． 如何比较一台原子吸收光谱仪的功能，它给分析工作带来的优越性是什么？ 4． 如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件，及提高灵敏度的方法。 l 下午2：30－4：00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲 X射线荧光分析仪部分 全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。 三、 原吸紫外主讲人： 李昌厚教授 中国分析仪器学会副理事长 中国光学仪器学会　物理光学仪器专业委员会　副主任 中国国家技术监督局　国家级计量认证评审员 中国科学院上海生物工程研究中心 仪器分析室主任、研究员、博士生导师：李昌厚教授专程主讲 X射线荧光分析仪主讲人： 田宇纮教授 中国科学院近代物理研究所 教授 X射线荧光分析仪设计与制造 专家 四、 会议地点： 唐山饭店 多功能厅 唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面) 报名联系人：孟令红 田凤 电话：13383059598 0311-86050158 五、 本次研讨会免费听取，并提供中午工作餐。 六、 到场请认真填写《会议信息反馈表》，及时交到会务组，凭此领取礼品。 七、 为提高听课质量，敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。 八、 乘车路线：唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注：具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准，如有变动不另行通知。 北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参　会　回　执 单位全称： 部门（科、室）： 通讯地址： 邮　　　　编： 参会人数： 电　　　　话： 参会人员姓名： 联 系 电 话： 其他要求： 注：因会场空间有限，名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。 另：如不方便发传真，也可电话及邮件报名 报名联系人：田凤 联系电话：0311-86050158 E-mail:hebeioffice@pgeneral.com

发售对应环境限制物质的X射线荧光分析仪「EA1000VX」 －通过高速测量和各种新功能、大幅提高了检测效率 － 株式会社日立高新技术科学（社长：池田俊幸/以下简称日立高新技术科学）是株式会社日立高新技术（社长：久田真佐男/以下简称日立高新技术）的全资子公司，生产和销售分析测量设备。日立高新技术科学面向日本国内和海外，9月10日开始发售X射线荧光分析仪「EA1000VX」。「EA1000VX」是针对欧盟（EU）的有害物质管理指令（ELV／WEEE／RoHS）等，对汽车和电气电子设备里的有害物质进行筛选检查的分析测量仪,其与以往型号的仪器相比检测更为迅速和简单。 EA1000VX 2006年7月，随着欧盟实施的RoHS指令（2002/95/EC）传播到日本、美国、中国、韩国等世界各国，很多国家也开始导入与之相同的指令。此外2011年7月实施了修正RoHS指令（2011/65/EU），新增医疗机器及监测和控制设备，从2014年7月开始依次执行。其中，与之相关的供应链里广泛的使用X射线荧光分析仪进行有害物质管理。虽然X射线荧光分析仪不需要进行样品解析等前处理即可进行简单而迅速的筛选检查，但是由于RoHS等环境规制物质检查的对象点数较多，客户需要的是能进一步缩短检查时间和更易于操作的仪器。 此次新发售的X射线荧光分析仪「EA1000VX」，与以往型号相比，检查时间大幅度的缩短至原有的1/10，也大大提高吞吐量（每小时的检查处理能力）。另外通过新追加的物料确定功能，仪器可以自动选择设定对应主成分的检测条件，防止测量者的失误也提高便利性。还可简单决定凹凸或微小的样品位置，增强样品门的开关便利性等方法来改良操作性，减轻工作人员的负担。此外，通过强化分析工具和数据的集中管理功能，提高管理人员的工作效率。通过以上功能大大帮助筛选检查的整体效率并降低成本。 RoHS指令公布已有10年历史，我们迎来了X射线荧光分析仪的更新时代。今后日立高新技术科学将对世界各国各地的电气电子机器、汽车以及汽车零部件厂家，积极推广销售。另外，2013年9月4日到6日，在日本幕张进行的「JASIS2013」（分析展/科学机器展）中，将介绍本仪器。 今后日立高新技术科学也将继续提供充分利用X射线为主的各种分析技术的分析仪器和检测仪器，为全球环境的保护做贡献。 【主要特点】 高速测定 相比以往型号「SEA1000AⅡ」，测定时间缩短为1/10（塑料，黄铜等的平均时间） 通过材料辨别功能的自动测定 仪器自动辨别材料自动进行测量 通过环境规制物质测定软件Ver.2，集中管理数据库和趋势管理 或者集中管理多台仪器的数据库，可以进行同类型仪器的过往数据库比较，也可以简单生成测量结果一览表。 除RoHS指令对象元素（ Cd,Pb,Hg,Br,Cr）以外，还可以对应 氯（Cl），锑（Sb），锡（Sn）等元素的管理。 【主要技术指标】 测量原理 能量色散型X射线荧光分析法 测量元素 原子序数Al（Z=13）～U（Z=92） X射线检测器 Vortex Si半导体检测器（不需液氮） 测量性能（塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr的测量时间） * 約30秒 样品室尺寸 370（W）× 320（D）× 120（H）mm 外形尺寸 520（W）× 600（D）× 445（H）mm 重量 约 60kg *以本公司决定的测量条件为例 以上