光谱响应测试仪原理

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

北京卓立汉光仪器有限公司自主研制一款医用内窥镜拉曼光谱测试仪，采用高灵敏度透射光栅光谱仪和专用医用拉曼探头的高光通量与高灵敏度透射式光栅光谱仪和专用医用拉曼探头，配合深制冷CCD，打造了临床外科手术中病变实时拉曼检测系统。 系统内部采用卓立自主研发的Omni-iSpecT 光谱仪具有收光效率高、信噪比好等特点，与深度制冷的高灵敏度CCD探测器完美结合，为可见光和近红外波段的微弱光信号采集应用提供了最佳的解决方案。Omni-iSpecT 整体设计紧凑且光学元件固化封装，稳定性高，对于外界振动敏感度极低，不但适合科学研究，更加适合工业与恶劣环境下的现场应用。系统采用医用专用拉曼探头，广泛适用于各种高灵敏需求，如消化道检测、开颅手术脑肿瘤检测，采用医用尼龙光纤包层和不锈钢探头封装， 除常规的2.1mm内窥镜探头外，可定制1.65,0.9mm 超细探头，用于动脉血栓的检测。即插即用光纤接口，无需任何调节内窥镜拉曼探头 探头直径2.1mm，长6.5mm，安装500um 焦距大F数微透镜，可直接进入内窥镜活检孔，配合内窥镜进行消化道肿瘤浅表拉曼信号的采集。拉曼信号为多组信号平均值，去荧光背景，以及噪声处理正常肠道组织，阶段性肠炎，溃疡性肠炎拉曼信号比对肠道拉曼内窥镜系统示意图 体外多功能拉曼探头探头尖端2.1mm，安装500um焦距大F数微透镜，适用于皮肤，脑外科手术等临床探测。多功能探头为体外探头，广泛用于神经外科，皮肤科，口腔科等检测。除拉曼以外，额外增加一进一出两根光纤，可用自发荧光谱（IFS）或漫反射谱（DS）辅助拉曼进行结果判定。肌肉与脂肪的拉曼光谱差异正常脑组织和脑肿瘤拉曼光谱的差异透射式成像光谱仪主要技术特点超高的光收集效率F/# ：F/2.3完美的光纤耦合能力：能够100% 收集NA0.22 光纤导入的光信号超高的光通量高透射VPH 光栅保证了高衍射效率，增透镀膜透镜确保了最大的通光效率，从而实现了可见或近红外最大的通光量宽波段范围大面阵CCD 相机实现的宽光谱采集范围极高的衍射效率VPH 光栅-- 具有平滑且极高的衍射效率衍射效率@532 光栅衍射效率@785 光栅紧凑坚固的设计所有部件作为一个整体模块进行预调校，光路稳定，不会受到运输过程中的碰撞影响高光谱分辨率几乎完美的光谱成像质量与传统的C-T 模式光谱仪相比，在30mm 像面上进行了出色的光学像差校正，获得了极佳的图像质量，从而获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率，也保证了近轴多通道采集的最小串扰和拉曼偏移成像模式下的氖灯光谱测试条件：20 芯光纤束 / 100μm 芯径参数表

半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍：载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色：光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块，可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长：半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用：有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。

产品简介：探测器是采用具有光电效应的材料制作的光电转换器件。由于不同类型的材料具有不同的光谱选择特性，因此探测器光谱响应测试对探测器的生产、检测、应用和研究等都有重要的意义。SSC-DSR探测器光谱响应测试系统可以方便、简捷地对探测器的光谱性能进行检测。系统符合国家计量技术规范 JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应度校准规范》规定的测试方法和测试要求，是探测器光谱响应测试的首选设备。测试项目：绝对光谱响应曲线（A/W或V/W）；相对光谱响应曲线；内/外量子效率曲线（%）；等效噪声功率（NEP） 比探测率（D*） 响应时间（s）；线性度，以及暗电流（A）。偏置电压下的光谱响应度及外量子效率，指定波长下的I-V特性测试。 主要特点：1. 光谱范围宽，适用面广 宽光谱范围可适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器；响应在可见光的太阳能电池；响应在近红外的光纤传感器；响应在中远红外的光电传感器，都可以在本系统上测量光谱响应度。2. 监视光路，方便样品定位 采用监视光路，使用高精度显微镜配合CCD 相机实现对微小器件的可视化控制，可清楚观察暗室内测试光斑与样品有效区域的位置关系，配合精密位移台实现样品精确定位。3. “TurnKey”理念，“OneKey”应用，系统集成度高。 秉承“交付即使用”的“TurnKey”理念，我们将系统设计为高度集成结构。在保留模块化系统兼容性高和升级空间大的前提下，将众多调整环节整合，达到无需多加调整即可使用。为免除定标的繁琐操作，本系统采用替代法进行测试。替代法作为现行的国家级计量部门通用的测试方法，与传统方法相比避免了对系统中各相关部件分别定标的繁琐以及多项误差的引入，具有更准确，更方便的特点。 4. 针对不同器件的结构特点，配置不同的测试模式，配合两种不同的光路形式。4.1.有效面积小的样品，需要通过照度法进行响应度的测试。采用积分球匀质光路设计，光均匀度高。 在宽光谱范围的光学设计中，采用积分球实现光的匀质输出是一种常用的手段。积分球内设置合理的挡板可有效防止入射光的直接出射，保证输出光的匀质要求。4.2.有效面积大的样品，可采用通量法进行响应度的测试。采用全反射式成像光路，可提高光利用率，增大测试信噪比。 在宽光谱范围的光学设计中，反射式光路要比透射式光路具有更高的成像质量。透射式光学系统中影响成像的重要因素是色差，其来源是不同波长的辐射在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。在反射式的光学系统中，由于不涉及折射，所以不存在色差。因此采用反射式光路，成像质量会优于透射式光路。反射式汇聚光斑成像光路示意图测试系统暗箱内部测试系统样品室采用暗箱避光设计结构，同时便于取放样品或进行调整操作。样品室内上方为主光光源出光口，出光口角度出厂前已调整好，可准确照射在样品及探测器上；通过CCD相机对暗箱内进行可视化控制，可清楚的观测光斑效果，使样品精准定位；下方为可调整样品台，样品台可按需定制为手动或电控驱动，搭配我公司多种的探针台或其他配件。这种模块化的灵活搭配方式，适合工业、科研用户建立多种类样品的测试平台。系统参数：光谱范围200nm~2500nm内可选波长准确性±0.2nm光谱分辨率±0.1nm光谱带宽0.2nm~10nm可调光电源电流漂移＜0.04%/h系统重复性 1%系统框图： 系统软件：a) 集成分光系统、滤光片轮、数据采集器等参数设置功能b) 测量项目选择，扫描参数设置c) 自动扫描、信号放大、A/D、数据采集d) 粗大误差的自动去除，通过统计学的数据处理手段进一步提高了系统测试结果的准确性e) 多组数据对比功能f) 图、表文件自动生成与显示 g) 多种格式的数据和图片备份和打印输出功能 相关组件：氘灯光源氘灯光源主要用于紫外，可到真空紫外界限195nm，并且波长越短，亮度越高，在360nm以下比一般卤钨灯的辐亮度高。氘灯光源室内置长寿命氘灯灯泡，用户可自行更换。可用作独立的紫外光源，荧光光源的激发光源，或与我公司生产的单色仪、光谱仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统。 卤钨灯光源卤钨灯光源室内置德国OSRAM原装进口灯泡及灯座，使用寿命长，用户可自行更换灯泡。光源具有色温高，光效高，光通稳定的特点，灯泡寿命终止时的光通量为开始时的95~98%，可基本保持恒定。输出光通量波动仅为0.12%~0.2%。该光源可与我公司生产的单色仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统，也可单独作为照明光源使用。 氙灯光源氙灯光源室内置德国OSRAM原装进口高压短弧氙灯，亮度高于国产灯源数倍，寿命长，更换方便。光源室的F/#连续可调，且高压触发器置于光源室内部，避免光源室与电源之间传递高压造成安全隐患。关闭电源后，风冷系统继续工作保证光源室和电源充分冷却以延长各零组件寿命。 光栅扫描单色仪光栅扫描单色仪，配置滤光片轮，消除二次色散设计，有效抑制杂散光；单色仪采用多光栅塔台式分光结构，可根据需求灵活配置多块光栅；集成式软件可自动控制光栅转换、滤光片更换和波长扫描，实现全自动宽光谱测试；单色仪产品可与我公司光源、探测器等产品灵活组合搭建，广泛应用于我公司各光谱测试系统。 光学斩波器光学斩波器是一种高精密的光学设备，主要作用是将连续光调制成为有固定频率的光，同时输出调制频率；通常是与锁相放大器配合使用；光学斩波器一般由如下几个部件构成：控制单元、斩波装置、斩波片和连接线等 锁相放大器锁相放大器是用来检测极微弱的AC信号（可低至nV级）的高灵敏数据采集器，即使在噪声高于信号数千倍的情况下，也可得到精确的测量；锁相放大器是使用PSD相位敏感检测器的技术，只有存在于特定参考频率的信号可被挑选出来，而其他频率的噪声则不会被检出。系统需求确认表：SSC-DSR系统需求确认表(****单位****老师），请勾选填写后发到邮箱ssc@shinsco.cn1光谱范围（nm）（200-2500nm）2测试内容绝对光谱响应、量子效率、等效噪声功率NEP、暗电流pA级、最大反向电压，短路电流，开断电阻，暗电流-反向电压，暗电流-环境温度，响应温度系数，增益，一致性（Mapping)3样品种类（光电二极管、雪崩二极管等）4样品材质（硅、铟镓砷、锗等）5样品极数（二级、三级）7样品封装方式（裸片、TO5、TO8等）8光敏面尺寸9是否需要电偏置电偏置电压范围（V）10测试模式（交流、直流、交/直流切换；电动、手动）11附件需求 （平台，电脑，打印机，备用灯泡等）12是否提供电池样品、照片或尺寸图等13其他要求根据不同的需求进行配置，报价区间25-80万元左右。应用案例：江苏某高校探测器光谱响应测试系统深圳某高校探测器光谱响应测试系统大连某高校探测器光谱响应测试系统长春某高校探测器光谱响应测试系统中国航天某院探测器光谱响应测试系统新疆某高校探测器光谱响应测试系统

美国Microvision 成立于1993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD投影机等，应用于R&D, QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬。 系统功能说明：Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析。 RTM-3:SS400 显示响应时间测试仪应用领域- LCD电视和显示器 - PDP显示屏 - 3D眼镜 测量：- 动态模糊和伪像 - MPRT - 响应时间和闪光 - 灰阶转换时间 - 超量百分比 - 延时时间反应 - 消光系数（3D显示屏） 特征：- 全钥匙系统-系统控制器包括在内 - 全自动 - 可定制化装置 - 独特的滤波技术，精度高 - 动态范围大（无需ND滤镜） - 数据包括了文本文件，CSV文件，2D和3D图） - BNC连接原数据（到示波器） 系统简介：RTM模块是一款选配的测试模块，可集成到Microvision任何一款的SS400系列系统。RTM模块同时也可单独购买作为单独设备使用，包括了一台电脑，Microvision专属的软件和Win 7平台。RTM传感器包括了各种焦距和孔径镜头系统融合到低噪音、快反应光电二极管。光电二极管输出是经过滤化，然后以不同的样品率输入到16位元 AD卡。 响应时间功能是专门设计于测量Rise(Ton)和Fall(Toff)时间的发光目标正如在ISO-13406-2 和VESA FPDM 2.0, 305-1章的标准。同时还可以进行自动灰阶转换时间测量。响应时间模块可以自动测量出从0-255之间的灰阶阵列。 Microvison新一代RTM已经为时域测量加入了多个增强版功能，包括了更快的样品采集和提高了灵敏度。我们专属的滤镜算法是在测试行业中高精度的。我们加入了许多新颖和创新特征到响应时间比如自动大小调整达到高灵敏度，叠加输出（原数据和滤镜数据在同一个图允许了用户观察到滤波的效果），以及自动测量更加快速。 这是测量时域性能强大、灵活的测量设备。RTM规格参数：光学类型:Low Noise, Fast Response Photo Diode样品率：50 kHz Max. (500kHz optional) 分辨率：16 bit 探测器响应：20kHz (filtered) 转换时间：Measures .05 ms to 4 s 镜头：25mm “C” mount, f1.6 to f22 adjustable 同步：Software and external options 操作系统：PC / Laptop included with Win 7 重复率：3% 输入和输出接口：USB ADC attached to MV Computer

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

高度集成双光束一体化设计光谱响应测量系统，自动程序化控制测量，整合了Natural卤光灯光谱、Constant Energy恒定能量和Content Photon恒定光子测量模式，用来测试各种不同的电池器件光谱响应SR/光电转换效率IPCE。主要特点高度集成一体化设计双光束技术：测试样品的同时实时检测光强变化光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量一键实现自动化测试无需繁琐的参数设置，操作便捷蓝牙通讯可远程实现所有控制一个电源键实现系统开机100%信号处理技术+快速傅里叶转换自动化样品安装台，样品精密对准技术规格测量方式：IPCE和SR波长范围：340nm~1000nm光源：3400K 卤光灯光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量样品接收到的单色光功率：1~100uW(400~1000nm范围)测量技术：双光束技术，同步样品信号和检测器信号快速采集处理滤光片：多达5个高阶滤光片偏置光：LED白光光源，输出功率软件可控用户界面：人性化设计，操作简单便捷，测试数据txt输出通讯方式：蓝牙设备功率要求：100~240VAC（50~60Hz）设备尺寸：91cm×47cm×29cm重量：20kg软件控制界面IPCE测试光谱响应SR测试IV Data分析FFT傅里叶转换光照模式：Natural卤光灯光谱● 照射光功率光照模式：Constant Energy 恒定光功率● 绿线为10uW的恒定光功率光照模式：Constant Photon 恒定光通量● 绿色线为1.0E13 /s 恒定光通量

JB-5型比表面积测试仪，采用氮吸附动态法测定粉体比表面积，4个工作分析站，同时可以测试4种样品，适合产量大、品种多的生产企业。分析范围：0.0005m2/g～无上限；测试精度高、重现性好。采用双气源动态气相色谱法，以氦气作为载气，氮气为被吸附气体作为测试气体，对不同样品的固体表面进行分析，能快速测试各行业粉体、颗粒等材料的比表面积。 应用领域：各种粉末、颗粒的比表面积分析，比如：石墨、钴酸锂、氢氧化镍、锰酸锂、钛酸锂、碳酸锂、医药粉、催化剂、吸附剂、水泥、陶瓷原材料等。参数指标测量范围0.0005m2/g～无上限测量原理气相色谱、低温动态氮吸附原理参照标准ISO-9277/GB/T19587-2004等标准测试精度采用标准物质校准，测量误差≤±1%样品试管优质耐温GG材料的U型样品管测试气体高纯氦气作为载气，吸附气体为高纯氮气作为测试气体测试工位4个工作台，每次同时测4个样品测试方法单点测试、多点（BET）、对比测试。测试步骤将样品装入样品管，样品预处理后，在电脑控制下自动完成测试分析测试效率每测试一个样品约5～7分钟，换样测试操作方便，可以不关机连续测试分析软件软件功能齐全，实时显示测试结果，方便对比分析，保存或打印操作系统运行Windows XP/win7/ win10仪器尺寸700mm×300mm×600mm （因产品不定期升级，尺寸仅供参考）工作电源AC220V ±22V 50Hz±0.5Hz JB-5性能特点1、4个工作站，有效提高测试效率，每测试1个样5-7分钟左右，测试时间短效率高。2、高灵敏度探测器，工作温度低寿命长，探测器不会因气体成份的改变而损坏。3、高精密稳流稳压阀，保证了测试气体均匀稳定，保证测试结果准确。4、杜瓦瓶采用大口径容量500mL，真空玻璃内胆，保温时间长。5、软件功能齐全，方便测试结果对比分析，支持在线保存、查看或打印。6、仪器结构合理、性能稳定、精度高、测试速度快，对使用环境无特殊要求。

TH-100光电雾度透光率测试仪的测试原理是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。适用于塑料、薄膜、玻璃、手机盖膜、钢化膜、LCD面板、触摸屏等透明半透明材料的雾度、透过率一站式测量解决方案。TH-100光电雾度透光率测试仪介绍：1、符合以下测试标准：GB/T 2410标准、ASTM D 1003标准、ISO 13468标准、ISO 14782标准2、满足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种标准照明光源下的雾度与全透过率测量3、满足补偿法测试，可提供更准确的测试结果。4、拥有开放式的测量区域，可以满足任意大小的样品测量。5、采用5.0寸TFT显示屏，拥有良好的人机交互界面。6、拥有竖放和横放两种放置状态，方便样品放置7、采用LED光源，寿命长，十年无需更换8、无需预热，开机校准后即可测试，测试用时时间短，3秒即可9、体积小，重量轻，方便携带。TH-100光电雾度透光率测试仪技术参数：光源CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种光源遵循标准ASTM D1003/D1044,ISO 13468/ISO 14782,JIS K 7105,JIS K 7361,JIS K 7136,BG/T 2410-08测量参数雾度(HAZE),透过率(T)光谱响应CIE光谱函数Y/V光路结构0/d测量口径照明/样品孔径16.5mm/21mm量程0-100雾度分辨率0.01单位雾度分辨率0.01单位雾度重复性≤0.1单位样品大小厚度≤150mm显示5英寸TFT液晶屏存储数据20000个数值接口USB接口电源DC 24V工作温度10-40摄氏度储藏温度0-50摄氏度尺寸310*215*540mm

该测试系统为自动测试系统，具有测试快速准确、操作简单、可靠性高度特点，能实现了200-250nm范围内绝对光谱响应度、量子效率、归一化探测率、信号电压、噪声电压、响应时间等参数随波长、频率、外加偏压的变化曲线的全自动测试。技术指标 光谱范围：200-2500nm（可根据实际需要选择）光电源电流漂移： 0.04%/h波长准确度：± 02nm光谱分辨率：± 0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调光斑：15mm,各点不均匀性1%偏压源：电压：200uV-505V；电流：20fA-200mA系统噪声： 2mV系统重复性： 2%激光监视光路：CCD 图像监视，可对极小光电探测器进行精确定位。

CCD光谱响应测量系统，半导体光谱响应测量系统 该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统，使该系统能够在恒定的光强下，在样品表面连续照射均匀度高的单色光。规格：目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身波长范围:300 - 1300 nm光源:氙灯/卤素灯有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸8英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度 3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移 行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fA TLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸12英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度 3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移 行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fA TLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

优势特点1)符合 ASTM E1021-12，IEC60904-8，GB/T6495.8-2002 等国内外最新测试标准。2）“一键式”全自动化测试，自动切换标准件和被测件，测试过程无需任何人工参与。3）高稳定、大功率、长寿命连续单色光照明，保证准确性和重复性。4）高稳定、长寿命连续白光偏置，保证准确性和重复性。5）分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小。6）样品室采用全反射式光路，避免透射元件的多重反射造成测试不准确。7）采用美国 Keithley数字表，保证信号测试准确性和高采集速度。产品应用适用电池：染料敏化类太阳电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池。测试数据：绝对光谱响应、量子效率或光电转化效率 IPCE 以及标准太阳 AM1.5G、短路电流密度详细介绍依据染料敏化电池工作基本原理，染料敏化电池需要经过一系列的氧化-还原反应才能实现将光转化为电。染料敏化电池中染料的氧化-还原反应是由一系列复杂的反应所构成，其氧化-还原速率直接影响该电池的稳定性、转换效率和响应速度。氧化-还原速率则受到染料种类、染料浓度、电解质种类、电解质离子扩散速度等多种因素的影响。一般情况下，形成稳定的转换体系所需要的时间在“秒”量级上，也就是说染敏类电池的响应速度是比较慢，如果采用调制的交流测试模式，频率需低到 1Hz 以下，实践中很难实现。因此，直流测试模式更适用于染料敏化电池的 IPCE 测试。IPCE 测试与 I-V 测试不同，是将单色光照射于电池表面，并且要准确的测试出该单色光的强度。因此在 IPCE 测试中，需要可以进行光强标定的标准器件，且要求单色光照射在标准器件和被测样品时的强度一致。因此在测试过程中，单色光的光斑，应同时小于标准器件和被测样品的有效区域，以保证测试结果的准确性。而染料敏化电池的结构特点又决定了只有处于光照下的区域才产生敏化反应，而导电带和电解液却是完全分布于整个电池的有效区域，因此会加大电子被复合的几率，从而导致电池表现为输出电流降低。为保证 IPCE 测试的准确性，应在测试过程中保证电池的全部有效区域处于工作状态，以减少“内耗”情况的发生，而最有效的办法就是在测量时给电池加上偏置光。参考相关国内外标准和测试经验，确定偏置光的强度在约 0.5 个 SUN（AM1.5）的水平最适合。规格参数指标参数适用电池染料敏化类太阳电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源标配1路，进口白光/氙灯单色仪焦距300mm、150mm可选

Ⅰ.Model: QTEST HIFINITY 5太阳电池光谱响应/量子效率(QE)/IPCE 测试系统 Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemQTEST HIFINITY 5可以测试太阳能电池的光谱响应，IPCE，量子效率等特性，具有AC 交流测试模式，DC 直流测试模式，EQE 外量子效率；能满足各种硅电池，薄膜电池，染料敏化电池及光电器件的光谱响应测试。可扩展为光解水制氢测试系统。 规格参数:光谱测量范围:基本测量范围: 300-1100nm 选项1.紫外可扩展至选项200nm 选项2.红外可扩展至选项1800nm 选项3.红外可扩展至选项2500nm系统测量精度: 优于 0.15% (在信号满刻度的情况下)系统测量准确度: 200 λ 400 nm 优于 2.0% 400 λ 450 nm 优于 0.8% 450 λ 950 nm 优于 0.7% 950 λ 990 nm 优于 2.0% 990 λ 1100 nm 优于 6.0%系统测量模式： 交直流模式可完全自动切换，两种模式亦可单独选配。 模式1.交流模式 信号采集为数字锁相放大器； 模式2.直流模式 信号采集为数字多用表。光源： 标准配置： 150W钨灯（光谱范围300-2500nm）； 选 配：30W氘灯（光谱范围185nm-400nm）。如果两种灯都配置的情况下测试时可自动切换。 AC模式参数： 灵敏度：2 nV to 1 V， 电流输入：106 or 108 V/A， 频率范围：1mHz~102kHzDC 调制频率：4 Hz to 3.7 kHzDC模式参数： 电流灵敏度: 10 nA 直流电压灵敏度:100 nV 标准配置为交直流双模工作方式（两种模式可自动切换) 选配1.可减为直流测试模工作方式 选配2.可减为交流测试模块工作方式5具备额外的信号输出接口，可以使用为其他外置放大器提供信号。测量样品载台： 可任意变换放置姿态，实现入射光相对与样品由上至下，由下至上，水平入射等多种入射方式。 样品电极接触的信号导出，如探针，鳄鱼夹，极板等多种方式组成，样品可采用负压吸附装载，可适合各种有照光面与背光面电极的样品。标准探测器与样品之间的切换： 选配1.标准探测器与样品之间自动切换。 选配2.样品控温制冷。偏置光： 选配1.白光偏置。 选配2.多结电池测试偏置。波长分辨率: 0.1nm杂散光: 10-5狭缝宽度: 标准配置： 2.4mmx 4.0mm 选 配： 0.6mmx 4.0mm, 1.2mmx 4.0mm（其他尺寸可按用户要求定制。） 根据使用者需要可选配：偏置电压；小尺寸样品针孔；内量子测试模块；积分球；标准白板；内量子支架。 控制: 自动扫描、电动狭缝、光栅更换、滤光轮控制、数据采集。数据: 光谱校准、曲线绘制、数据分析、数据保存、打印报告。

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸4英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆 探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式 三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°测试案列功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流； 产品示意图：产品选型： 产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度 漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

适用电池：单晶硅、多晶硅太阳能电池；交流分析模式下的材料性能分析测试项目：绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，光谱反射率（选配），内量子效率（选配）、标准太阳 AM1.5G 照射下的短路电流密度、表面均匀度等。 1）外量子效率测试： 利用太阳电池光谱响应的测量，可以得出太阳电池的量子效率 η(λ)，2）光谱反射率测试：将单色仪输出的单色光输入积分球，分别将已知光谱漫反射率的标准白板和被测太阳能电池放到积分球的一个开口处，测量积分球另一开口处的探测器的输出光谱电流，通过比对得到绝对光谱反射率曲线。3）光谱透过率测试：测试样品室内放入样品和不放入样品时标准探测器的光谱电流/电压值，相比得到样品的透过率，可以测量太阳能电池的光谱透过率，也可以测量玻璃的光谱透过率4）内量子效率测试：扣除反射率对外量子效率的影响部分就得到了内量子效率。 测试原理光源在不同波长的辐射能量不同，探测器在不同波长的响应度也不同，因此，所测得的响应电流也会有较大的不同。假设系统噪声 N 不变，响应电流 S 大时，系统信噪比（S/N）大，不会影响测量精度，如果响应电流很小，甚至小于系统噪声，使 S/N1，此时测量的精度就会受到极大影响。为解决这个问题，系统采用了相关检测法，利用信号在时间上的相关性，把深埋于噪声中的周期信号提取出来。具体做法是：将光源经过斩波器调制成具有固定频率（参考频率）的周期信号，则探测器也输出具有相同频率的电信号，经过锁相放大器将含有参考频率的电信号检出，而其它频率的信号（噪声）则被抑制掉，从而提高了系统的信噪比，保证了测量准确度。主要技术指标：指标参数适用电池单晶硅、多晶硅、半导体材料控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式交流模式AC、斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路单色仪焦距300mm、150mm可选 实测光谱响应曲线 实测量子效率曲线

光谱透过率测试仪 描述YOA-8405-01系列透过率测试仪主要用于快速测量曲面或者平面材料样品的透过率，并能实时显示曲线，透过率，半高宽等数据。该仪器提供CMOS、CCD和InGaAs等多种探测器以支持在400-1700nm光谱范围内定制，并配置二次开发包，支持用户集成开发。特点多种探测器可供选择支持400-1700nm范围内的定制开发智能化的软件设计，操作简单支持系统集成和SDK二次开发典型测试数据塑料样品的光谱透过率应用滤光片和光学镜片的透过率测量面板透光孔的透过率测量弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜和平行平板的透过率测量技术参数更多精彩内容，请关注下方！

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点： &bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用 &bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式 通用参数：样品台尺寸6英寸 样品台行程110X110mm位移精度3um 漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率 0.003mm直线度0.002mm驱动误差 20°测试案列功能应用：&bull 光谱响应度； &bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

CEL-QPCE2010太阳能硅电池光谱响应系统（QE/IPCE）适用电池：单晶硅、多晶硅太阳能电池；交流分析模式下的材料性能分析测试项目：绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，光谱反射率（选配），内量子效率（选配）、标准太阳 AM1.5G 照射下的短路电流密度、表面均匀度等。 l 外量子效率测试： 利用太阳电池光谱响应的测量，可以得出太阳电池的量子效率 η(λ)，l 光谱反射率测试：将单色仪输出的单色光输入积分球，分别将已知光谱漫反射率的标准白板和被测太阳能电池放到积分球的一个开口处，测量积分球另一开口处的探测器的输出光谱电流，通过比?

仪器简介：光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能，软件功能强大.技术参数：光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能，软件功能强大.

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

产品介绍：医药包装性能测试仪工作原理是依据2015年药包材标准方法设计，是包装类破裂强度性能检测的仪器，其各项性能参数和技术指标符合YBB《药用铝箔》等标准规定。仪器操作简单、性能可靠、技术先进，是科研单位、造纸厂家、包装行业、质检部门的理想设备。测试原理：医药包装性能测试仪工作原理原理：将试样装夹在全自动耐破强度测试仪两个夹头之间弹性胶膜上,上下夹头紧紧夹住试样周边，使试样与胶膜一起自由凸起，当液压流体以稳定速率泵入，使胶膜凸起直至铝箔试样破裂时，所施加的压力即为试样耐破强度。医药包装性能测试仪工作原理应用于药品包装用破裂强度试验，是物理强度性能检测的基本仪器，本检测仪器采用全自动控制模式，用户只需将裁好试样放置于上下夹具之间，仪器将自动夹样，自动冲压测试并打印，人为影响非常小。全自动耐破强度测试仪是一款高性能全自动破裂强度仪，被广泛应用于药包材生产厂家、制药企业、药检机构等单位。主要参数： 测量范围：40-1600KPa（分辨力： 0.01KPa） 示值准确度： 示值误差：±0.5%FS，示值变动性：≤0.5% 加压(送油)速度：95±5)ml/min 胶膜阻力： 凸起高度：9mm， 胶膜阻力值：（25～35）KPa 试样夹持力：430 KPa（可调节） 测试系统密封性：1min内压降10%Pmax 压力表设定压力：（2.5~3）Kg/cm2 外形尺寸：400mm×350mm×500mm(长宽高) 重 量：43Kg 气源压力：0.5-0.7MPa (气源用户自备) 环境温度：5 -50℃ 相对湿度：≦80%，无凝露 工作电源：220V 50Hz

北京卓立汉光仪器有限公司自主研制一款医用内窥镜拉曼光谱测试仪，采用高灵敏度透射光栅光谱仪和专用医用拉曼探头的高光通量与高灵敏度透射式光栅光谱仪和专用医用拉曼探头，配合深制冷CCD，打造了临床外科手术中病变实时拉曼检测系统。 系统内部采用卓立自主研发的Omni-iSpecT 光谱仪具有收光效率高、信噪比好等特点，与深度制冷的高灵敏度CCD探测器完美结合，为可见光和近红外波段的微弱光信号采集应用提供了最佳的解决方案。Omni-iSpecT 整体设计紧凑且光学元件固化封装，稳定性高，对于外界振动敏感度极低，不但适合科学研究，更加适合工业与恶劣环境下的现场应用。系统采用医用专用拉曼探头，广泛适用于各种高灵敏需求，如消化道检测、开颅手术脑肿瘤检测，采用医用尼龙光纤包层和不锈钢探头封装， 除常规的2.1mm内窥镜探头外，可定制1.65,0.9mm 超细探头，用于动脉血栓的检测。即插即用光纤接口，无需任何调节内窥镜拉曼探头 探头直径2.1mm，长6.5mm，安装500um 焦距大F数微透镜，可直接进入内窥镜活检孔，配合内窥镜进行消化道肿瘤浅表拉曼信号的采集。拉曼信号为多组信号平均值，去荧光背景，以及噪声处理正常肠道组织，阶段性肠炎，溃疡性肠炎拉曼信号比对肠道拉曼内窥镜系统示意图 体外多功能拉曼探头探头尖端2.1mm，安装500um焦距大F数微透镜，适用于皮肤，脑外科手术等临床探测。多功能探头为体外探头，广泛用于神经外科，皮肤科，口腔科等检测。除拉曼以外，额外增加一进一出两根光纤，可用自发荧光谱（IFS）或漫反射谱（DS）辅助拉曼进行结果判定。肌肉与脂肪的拉曼光谱差异正常脑组织和脑肿瘤拉曼光谱的差异透射式成像光谱仪主要技术特点超高的光收集效率F/# ：F/2.3完美的光纤耦合能力：能够100% 收集NA0.22 光纤导入的光信号超高的光通量高透射VPH 光栅保证了高衍射效率，增透镀膜透镜确保了最大的通光效率，从而实现了可见或近红外最大的通光量宽波段范围大面阵CCD 相机实现的宽光谱采集范围极高的衍射效率VPH 光栅-- 具有平滑且极高的衍射效率衍射效率@532 光栅衍射效率@785 光栅紧凑坚固的设计所有部件作为一个整体模块进行预调校，光路稳定，不会受到运输过程中的碰撞影响高光谱分辨率几乎完美的光谱成像质量与传统的C-T 模式光谱仪相比，在30mm 像面上进行了出色的光学像差校正，获得了极佳的图像质量，从而获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率，也保证了近轴多通道采集的最小串扰和拉曼偏移成像模式下的氖灯光谱测试条件：20 芯光纤束 / 100μm 芯径参数表

北京卓立汉光仪器有限公司自主研制一款医用内窥镜拉曼光谱测试仪，采用高灵敏度透射光栅光谱仪和专用医用拉曼探头的高光通量与高灵敏度透射式光栅光谱仪和专用医用拉曼探头，配合深制冷CCD，打造了临床外科手术中病变实时拉曼检测系统。 系统内部采用卓立自主研发的Omni-iSpecT 光谱仪具有收光效率高、信噪比好等特点，与深度制冷的高灵敏度CCD探测器完美结合，为可见光和近红外波段的微弱光信号采集应用提供了最佳的解决方案。Omni-iSpecT 整体设计紧凑且光学元件固化封装，稳定性高，对于外界振动敏感度极低，不但适合科学研究，更加适合工业与恶劣环境下的现场应用。系统采用医用专用拉曼探头，广泛适用于各种高灵敏需求，如消化道检测、开颅手术脑肿瘤检测，采用医用尼龙光纤包层和不锈钢探头封装， 除常规的2.1mm内窥镜探头外，可定制1.65,0.9mm 超细探头，用于动脉血栓的检测。即插即用光纤接口，无需任何调节内窥镜拉曼探头探头直径2.1mm，长6.5mm，安装500um 焦距大F数微透镜，可直接进入内窥镜活检孔，配合内窥镜进行消化道肿瘤浅表拉曼信号的采集。拉曼信号为多组信号平均值，去荧光背景，以及噪声处理正常肠道组织，阶段性肠炎，溃疡性肠炎拉曼信号比对肠道拉曼内窥镜系统示意图体外多功能拉曼探头探头尖端2.1mm，安装500um焦距大F数微透镜，适用于皮肤，脑外科手术等临床探测。多功能探头为体外探头，广泛用于神经外科，皮肤科，口腔科等检测。除拉曼以外，额外增加一进一出两根光纤，可用自发荧光谱（IFS）或漫反射谱（DS）辅助拉曼进行结果判定。肌肉与脂肪的拉曼光谱差异正常脑组织和脑肿瘤拉曼光谱的差异透射式成像光谱仪主要技术特点超高的光收集效率F/# ：F/2.3完美的光纤耦合能力：能够100% 收集NA0.22 光纤导入的光信号超高的光通量高透射VPH 光栅保证了高衍射效率，增透镀膜透镜确保了最大的通光效率，从而实现了可见或近红外最大的通光量宽波段范围大面阵CCD 相机实现的宽光谱采集范围极高的衍射效率VPH 光栅-- 具有平滑且极高的衍射效率衍射效率@532 光栅衍射效率@785 光栅紧凑坚固的设计所有部件作为一个整体模块进行预调校，光路稳定，不会受到运输过程中的碰撞影响高光谱分辨率几乎完美的光谱成像质量与传统的C-T 模式光谱仪相比，在30mm 像面上进行了出色的光学像差校正，获得了极佳的图像质量，从而获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率，也保证了近轴多通道采集的最小串扰和拉曼偏移成像模式下的氖灯光谱测试条件：20 芯光纤束 / 100μm 芯径参数表

优势特点1）大功率连续光源，输出光谱平缓无尖峰，保证测量重复性；2）配备偏置光源和偏置滤光片；3）专利分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4）相关检测法处理弱信号，有效提高信噪比，保证测量精度；5）独特样品夹具设计，适合各种规格的薄膜电池，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小；6）完整的全自动化专用系统软件。产品应用对于多结电池，在测量其中一节电池时，需要对其它节电池进行偏置光照射，使其处于完全导通的状态，一般来讲，需要根据电池光谱响应的范围来选择偏置光的波段，在哪个波段电池有响应，就选哪个波段的光来导通电池，这样被测节电池所产生的电流才可以顺利输出。标准配置只含一个偏置光源，用户可以根据需要选配两个偏置光源，每个偏置光源可以独立工作，对于三结以上的太阳能电池可以采用分别偏置的方法来测量，解决了免某些波段的滤光片很难配套的问题，这在目前市场上的太阳能测试系统中属于比较独特的设计。详细介绍太阳能电池的光谱响应和量子效率对分析太阳能电池的工艺问题以及研究电池片的性能有重要的参考价值。CEL-QPCE2030多结薄膜太阳能电池光谱性能测试系统可以将多结薄膜太阳能电池各节的绝对光谱响应（Spectral Response）和量子效率(Quantum Efficiency)分别测出来，并计算得到整个电池片的绝对光谱响应和量子效率。同时还可以分别计算顶电池和底电池的电流密度，以及电池总的电流密度（AM1.5G 条件下）。规格参数指标参数适用电池单结、双结、三结, 多结薄膜太阳能电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1700nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC、交流模式AC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路,氙灯/卤素灯单色仪焦距300mm、150mm可选偏置电压±3V，设置精度：±1mV偏置滤光片短波通 3 片（进口），长波通 4 片

产品关键词：噪声、探测器瞬态响应时间、探测器上升下降时间、比探测率D*、3dB、噪声等效功率NEP、线性动态范围LDR、响应度R、噪声频谱密度、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）暗电流、光电流、开关比、外部量子效率（EQE）、噪声电流、响应带宽3db截止频率▌ 产品简介FineDet 990是东谱科技针对光电转换器件开发的综合性能测试平台，适用于光电导、光伏、光探测器等各种类型的器件。FineDet 990作为行业中第一款匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台，具有丰富的测试功能，可以得到这些器件全面的性能参数，包括光谱响应参数（光谱响应度、内量子效率、外量子效率、探测率等）、瞬态响应参数（响应时间、3dB截止频率等）、噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）、伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、稳定性测试参数等。▌ 产品特点匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台□ 测试功能丰富：√ 太阳能电池/光探测器光谱响应度标定系统；√ 太阳能电池/光探测器量子效率测量系统；√ 光探测器噪声测量系统；√ 太阳能电池/光探测器伏安特性测量系统；√ 光探测器瞬态响应测量系统□ 设备集成度高，主机集成单色仪、光学调制部件、电学检测部件等，使用便捷，测试效率高；□ 配置高清可视化系统，通过摄像头方便看到测试光照射器件情况，调整样品的光斑照射位置；□ SolarYield测试软件，参数设置、数据采集、位置调整、能量标定、存储等均通过软件完成。具有模块化适配特征□ 针对太阳能电池，可以选配AM1.5G光谱响应测试模块；□ 针对微小器件，可以选配显微探针测试模块；□ 针对变温场景，可以选配MagicK变温测试模块；□ 针对空气老化样品，可以选用HiSam多功能测试夹具。▌ 产品功能□ 外量子EQE、IPCE、内量子IQE、□ 光谱响应度；□ 噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）；□ 伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、□ 探测率、比探测率等；□ 瞬态响应参数（线性动态范围LDR、响应时间、3dB截止频率、瞬态光电流TPC、瞬态光电压TPV等）；□ 稳定性测试参数等。▌ 规格型号▌ 产品应用□ 光电导器件□ 太阳能电池器件√ 硅基太阳能电池√ 有机太阳能电池√ 钙钛矿太阳能电池√ 铜铟镓硒太阳能电池√ 碲化镉太阳能电池等 光探测器√ 光电二极管√ 光电晶体管等 光催化器件 其它光电转换器件。▌ 测试案例