光纤端面干涉仪标准

产品概述BINNA2是维度科技研发的一款自动检测干涉仪，该设备继承了维度科技多年的干涉仪丰富经验，在SANA2的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，是单芯干涉仪功能集大成者。 BINNA2采用全新的软件设计、全新的夹具平台结构和夹具结构设计,进一步提升了设备的抗震能力； 夹具的使用寿命以及测量稳定性也空前提升。主要特性光纤高度达 -1000~1000nm角度自动调节自动对焦、自动校对、一键测量0.5s 完成单个连接器测试抗震性能力强-1000~1000nm 光纤新高度BINNA2 自动检测干涉仪采用全新光路设计， 光纤高度测量范围高达 -1000~1000nm，适合各种复杂工况的使用。 夹具自动居中功能BINNA2 干涉仪夹具采用全新设计，安装在干涉仪上后无需做任何硬件调整，只需在软件界面上点击”图像居中”按钮，软件将自动导引完成定位光标的定位工作。 一键测量BINNA2 夹具平台正面配备了一键测量快捷键，夹具锁紧感应结构能够自动获取当前夹具的锁紧状况，在每次夹具锁紧时软件进行自动测量。 全自动对焦、全自动校准BINNA2 采用维度最新的软硬件平台，在 SANA2 的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，让整个测量过程 100% 自动完成。极快的检测速度BINNA2 优秀的软硬件设计极大的提高了测试的速度，能够在 1.5s 内完成 包含端面分析与表面形貌测量的工作，最快可在 0.5s 内完成单个连接器的测试。角度自动调节BINNA2 实现 0~12°超广角度的全自动调节，0.003°的调节精度让 APC 角度测量更加精准。 自适应锁紧力度的夹具设计BINNA2 夹具采用自适应锁紧力度的结构设计，依靠弹簧自动调节锁紧陶瓷插芯的力度，保证每次锁紧力度一致，减少夹具的磨损并延长使用寿命。稳定的数据连接及无与伦比的抗震性能BINNA2 沿用干涉仪系列的锁紧式 USB 3.0 数据线，保证任何情况下都有稳定高速的 数据连接 独特的硬件结构设计，能搞保证 在震动极大的工厂环境中依然能够获得稳定的测试结果和测量精度。 裸光纤切割角度测量维度科技根据客户需求在 BINNA2 集成了多 种产品测量功能。BINNA2 可以测试光纤的切割角度。性能参数 * 再现性：重复插拔 50 次计算后获取的 sigma 数值重复性：不插拔重复测量 50 次计算后获取 sigma 数值主要应用用于抛光和组装过程中检查光纤插芯，跳线，尾纤和裸光纤。

一, ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µ m的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于连接器，提供预装支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器支架。还有一个可选的通用v形槽夹具组件可用于检查裸光纤。可根据需要提供定制的支架或夹具。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与切割机、抛光台、超声波清洁器和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并供电，由外部PC（不包括在内）托管。ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um),ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)产品特点For end fac适用于直径为 220 至 1200 μm 的端面2D 和 3D 地形PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式通过自动角度估计，检测速度非常快可选择使用通过/失败半径和角度指示检查端面特性，如平面度、垂直度、锯齿和污染抓取并保存 2D 和 3D 图像以及连接器数据通用参数技术参数尺寸:86(宽) x 127(长) x 93(高) mm86(宽) x 140(长) x 97(高) mm (包括， 对焦旋钮和橡胶脚)重量:1.2 kg电源供应:通过USB端口接口:超高速USB (USB 3.0) Type-A, 2米数据线环境:工作温度:10℃~ 40℃存储温度:-20℃~ 50℃湿度:5% ~ 95% RH(无冷凝)光纤直径:220 µ m – 1200 µ m视野:~ 1300 µ m分辨率:2560 x 1920 (4.92 MP)传感器:互补金属氧化物半导体(单色) 图像文件格式:JPEG, PNG, TIFF, GIF系统采集范围和精度高度, 峰谷波值:15 µ m角度, 220 µ m 光纤:高达 3.9°角度, 400 µ m 光纤:高达 2. 1°角度, 720 µ m 光纤:高达 1.2°角度, 1200 µ m 光纤 :高达 0.7°jue对精度 : (1)0.03°标准偏差 (400 µ m, ROI = 90%)0.02° 标准偏差 (400 µ m, ROI = 90%)相对精度: (1)5% 高达 2°(1) 采用软件标定补偿。系统要求电脑:装有英特尔i5(或更高版本)的个人电脑USB: (2)一个免费的USB 3.0接口(超高速)内存:4GB内存(推荐16GB内存)磁盘空间:100 MB (建议500MB)操作系统:Windows 8/8. 1/10 64位(使用,net Framework 4.8或更高版本)显卡:支持3D图形(推荐专用GPU)显示分辨率1920 x 1080 (推荐双监控系统)输入设备:键盘和三键滚轮鼠标(或同等设备)(2) 仅使用直接连接到 PC 主板的 USB 3.0 端口（即不带内部延长线的端口）。型号及包装产品型号 #数量NorthLab ProView&trade XD –用于SMA 连接器IF-12-01001NorthLab ProView&trade XD – 用于FC/PC 连接器IF-12-01002NorthLab ProView&trade XD – 用于ST/PC 连接器IF-12-01003NorthLab ProView&trade XD – 用于LD80 连接器IF-12-01004标准包装USB 3.0线缆N/A1用户手册和PC软件N/A1配件和备件通用v形槽夹IF-90-01004SMA 连接器座IF-90-01010FC/PC 连接器支架IF-90-01011ST/PC 连接器支架IF-90-01012LD80 连接器支架IF-90-01013显微镜视图 ,干涉仪视图角度图视图 ,曲线图视图3D 模型视图 ,3D 模型视图二, ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µ m的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。该软件自动指示端面的角度、平面度和坡度方向。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了劈裂角检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于光纤支架的产品配有通用v形槽夹具组件，该组件可容纳FITEL或藤仓的标准光纤支架，但也允许使用裸光纤。还有可选的支架可用于检查标准SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器。可根据要求提供定制夹具或适配器。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与熔接机、切割机和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并通电，由外部PC（不包括在内）托管。ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um),ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)产品特点适用于 220 至 1200 μm 的光纤包层直径2D 和 3D 地形PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式通过自动角度估计，检测速度非常快可选择使用通过/失败切割角度指示检查端面特性，如平面度、垂直度、锯齿和污染抓取并保存 2D 和 3D 图像以及切割数据通用参数技术参数尺寸:86(宽) x 127(长) x 93(高) mm86(宽) x 140(长) x 97(高) mm (包括，对焦旋钮和橡胶脚)重量:1.2 kg电源供应:通过USB端口PC 接口:超高速USB (USB 3.0) Type-A, 2米数据线环境:工作温度:10℃~ 40℃存储温度:-20℃~ 50℃湿度:5% ~ 95% RH(无冷凝)光纤直径:220 µ m – 1200 µ m视野:~ 1300 µ m分辨率:2560 x 1920 (4.92 MP)传感器:互补金属氧化物半导体(单色)图像文件格式:JPEG, PNG, TIFF, GIF系统采集范围和精度高度, 峰谷波值:15 µ m角度, 220 µ m 光纤:高达 3.9°角度, 400 µ m 光纤:高达 2. 1°角度, 720 µ m 光纤:高达1.2°角度, 1200 µ m 光纤:高达0.7°jue对精度: (1)0.03° 标准偏差(400 µ m, ROI = 90%)0.02° 标准偏差(400 µ m, ROI = 90%)相对精度: (1)5% 高达 2°(1) 采用软件标定补偿。系统要求电脑:装有英特尔i5(或更高版本)的个人电脑USB: (2)一个免费的USB 3.0接口(超高速)内存:4GB内存(推荐16GB内存)磁盘空间:100 MB (500 MB recommended)操作系统:Windows 8/8. 1/10 64位(使用,net Framework 4.8或更高版本)显卡:支持3D图形(推荐专用GPU)显示分辨率:1920 x 1080 (推荐双监控系统)输入设备:键盘和三键滚轮鼠标(或同等设备)(2) 仅使用直接连接到 PC 主板的 USB 3.0 端口（即不带内部延长线的端口）。型号及包装产品型号 #数量NorthLab ProView&trade XD – 用于光纤支架IF-12-01000标准包装FITEL (S712) F/H 平台IF-90-010011FITEL (S713) 和 Fujikura F/H 平台IF-90-010021垫片（100、400、600、800、1000 um）IF-90-010031USB 3.0 电缆N/A1用户手册和 PC 软件N/A1配件和备件通用V型槽夹具IF-90-01004SMA 连接器支架IF-90-01010FC/PC 连接器支架IF-90-01011ST/PC 连接器支架IF-90-01012LD80 连接器支架IF-90-01013FITEL/FUJIKURA纤维支架平台显微镜视图 ,高度图视图 ,干涉仪视图 以及三维模型视图三, ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机ProCoater 是一款超紧凑型光纤涂覆机适用于各种纤维直径和涂层化合物。ProCoater 专门用于设计时考虑到易用性和灵活性，使其成为生产和研究的理想选择开发应用程序。 可用于方形塑料或硅基模具，具体取决于树脂类型。 塑料模具设计用于适应最常见的高指数树脂，尺寸有 250、400、500、600 和 900 µ m。 可根据要求定制尺寸。 硅模具的设计可容纳低指数树脂，尺寸有 250、400、550、650 和 750 µ m。 为了确保非常快的循环时间，ProCoater 使用高功率和波长适应的紫外线阵列LED 的典型固化时间小于 3秒。 ProCoater 可以编程为四种不同的重涂程序，可通过触摸面板轻松选择。 重涂程序和所有常规设置均可通过外部 PC 程序访问和修改。 由外部电源供电电源或内部可充电电池。重涂机超紧凑的设计和电池供电使其非常适合便携式使用或空间有限的地方。ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机,ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机产品应用不一样的方形塑料和硅基适用于高指数和低指数树脂的模具灵活性、纤维直径范围广轻质、超紧凑的设计非常快的固化时间 3 秒使用内置可充电电池或外部电池供电电源通用参数技术参数尺寸125(W) x 65(D) x 62(H) mm重量0.8 Kg电源内置可充电电池或外部电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）固化方法紫外光@ 365nm纤维涂层塑料模具 250—900um硅胶模具 250—750um订购信息:ProCoater 交付时不带模具，模具根据树脂类型和情况单独订购涂层直径。塑料模具：塑料模具是消耗品，作为完整的预组装套件交付。 操作员可以在几分钟内轻松更换塑料模具。硅模具：为了能够使用硅模具，需要硅模具支架和合适的光纤导向器（这些不是消耗品）。 硅胶模具是消耗品，以 10 个模具的包装交付。 操作员可以在几秒钟内轻松更换硅模具。型号及包装NorthLab ProCoater，不包括。 模具RC-10-10000标准包装电源 x1CL-90-90002欧盟电力电缆 x1TBA美国电力电缆 x1TBAUSB电缆 x1TBA六角扳手 1.5 毫米 x1RC-01-01020硅胶垫（5片） x1RC-01-01030用户手册（pdf塑料模具（全套）模具 250μm，塑料RC-01-01001模具 400μm，塑料RC-01-01003模具 500μm，塑料RC-01-01004模具 600μm，塑料RC-01-01005模具 900μm，塑料RC-01-01008硅胶模具支架和光纤导轨硅胶模架RC-10-10050光纤导管，250um（1 对）RC-10-10051光纤导管，400um（1 对）RC-10-10052光纤导管，550um（1 对）RC-10-10053光纤导管，650um（1 对）RC-10-10054光纤导管，750um（1 对）RC-10-10055硅胶模具（10个/包）模具250um，硅胶（1包）RC-01-01011模具400um，硅胶（1包）RC-01-01013模具550um，硅胶（1包）RC-01-01014模具650um，硅胶（1包）RC-01-01015模具750um，硅胶（1包）RC-01-01016塑料模具，完整的光纤导轨 、模具支架、硅胶模具四, 光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400umNorthLab线性拉伸测试仪是一款适用于包层直径在80-400µ m之间的光纤的自动拉伸测试仪。光纤夹可容纳直径高达1000µ m的涂层。它结合了简单的单按钮纤维加载和自动拉伸测试过程。内置LCD报告可接受的“合格”结果和张力测试期间施加到纤维上的Max. 张力，单位为牛顿（N）或Kpsi。它还支持通过拉伸和显示实现的Max. 张力进行破坏性测试。内置的LCD和键盘确保了独立操作，并在10个用户可选择和自定义的张力程序中为操作员提供了轻松访问软件可调节的夹紧压力、Max. 张力、张力速率和验证测试保持时间的机会。这些特点与紧凑的设计相结合，可在实验室或生产环境中使用，具有极高的便携性和灵活性。它包括一个通用的AC-12V DC电源，不需要额外的外部连接，例如用于操作的空气或用于配置的PC。可用的RS-232端口提供了更新固件的能力，并支持从任何适当配置的计算机进行数据选择。光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400um,光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400um产品特点电动夹紧系统无需外部供气易于维护的台式设计内置图形 LCD 控制（无需 PC）最多可存储 10 个程序通用参数规格尺寸240(W) x 187(D) x 142(H) mm重量5,2 Kg电源100 - 240 V AC, 50/60 Hz支持的光纤缓冲器:160 - 1000 μm拉伸试验:25 N分辨率(Resolution)0,1 N牵引速度：200—1000 μm/sec产品及包装型号NorthLab 线性拉伸试验机RCT-01-0001标准包装电源 x1SPT-01-1243电源线 x1FPU-02-003五, ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um)ProCleave LD II 是一种自动且高度先进的光纤 用于直径达 550μm 的大直径光纤的切割刀。 切割刀是专门设计用于易于使用、处理速度和 高产量至关重要的生产线。 切割刀同时非常适 合研发环境。 ProCleave LD II 可生成非常平坦的端面和低劈裂 角度（典型0.5°）具有高重复性。 为了实现z佳的切割性能和一致性 自动监测和控制关键参数。 ProCleave LD II 具有不一样的通用夹具 根据所应用的纤维直径自动调节的机构， 无需外部零件或附件。 ProCleave LD II 可以编程为四种不同的 切割程序，可通过触摸面板轻松选择。 ProCleave LD II由外部电源供电或内置 充电电池ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um),ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um)产品特点自动切割过程可实现z佳切割质量和可重复性通用光纤夹紧机构专为125 至550 的光纤包层直径而设计低切割角，端面非常平坦，典型值0.5°可用电池或外部电源供电支持Fujikura、Fitel、3SAE 或不使用光纤支架的可用平台通用参数技术规格尺寸:150(W) x 90(D) x 60(H) mm150(W) x 90(D) x 80(H) mm （包括杠杆）重量:1.1 kg电源:内置可充电锂离子电池或外部电源电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）支持光纤包层:125 - 550μm支持纤维涂层:250 - 900μm型号与包装型号NorthLab ProCleave LD II CL-01-01000标准包装电源CL-90-90002 1Fitel/Fujikura 光纤支架平台 CL-01-010011裸光纤适配器 * CL-01-01002 1工具包CL-01-010041用户手册（pdf）-可选组件备用金刚石刀片CL-90-90001推荐用于裸光纤。 要放置在Fitel/Fujikura 光纤支架平台 (CL-01-01001)。六,ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割)ProCleave HS 是一款先进的电子光纤切割刀，适用于 纤维直径可达 250μm。 该切割刀专门设计用于生产 线易于使用、处理速度快、精度高产量也至关重要。 同时切割刀也很适合研发环境。 ProCleave HS 采用先进的超声波金刚石划线技术可实现z佳的切割性能和一致性。 切割刀生成非常平坦的端面，低切割角度（典型 0.5°）刀片侵入Min. 。 为了易于使用并考虑处理速度，ProCleave HS 具有专门设计的夹紧机构。由外部电源供电或内置充电电池,可与熔接机的光纤支架一起使用 （适用于所有主要熔接机品牌*）。ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割),ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割)产品特点电子切割工艺可实现z佳切割质量和可重复性专为80 至250 µ m 的光纤包层直径而设计低切割角，端面非常平坦，典型值 0.5°（125µ m，SMF28）可用电池或外部电源供电附带支持 Fujikura、Fitel 和 3SAE 光纤支架的平台通用参数技术规格尺寸:150(W) x 94(D) x 47(H) mm150(W) x107(D) x 51(H) mm（包括杠杆和橡胶脚重量:0.91 kg电源:内置可充电锂离子电池或外部电源电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）支持光纤包层:80 – 250* μm支持纤维涂层:取决于光纤支架* 光纤包层直径从 ~180 – 250μm 可能需要可选的 LD 夹具 (CL-03-01002)型号与包装型号NorthLab ProCleave&trade HSCL-03-01000标准包装电源 + 电源线 欧盟/美国CL-90-900051工具包CL-03-010011USB 2.0 电缆N/A1用户手册和 PC 软件（USB记忆棒)N/A1可选组件备用金刚石刀片CL-90-90001LD夹具 用于光纤包层 ~180 – 250μmCL-03-01002典型的切割角分布 250 次切割的测试系列（125µ m，SMF28）

一, 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)法布里－珀罗干涉仪（英文：Fabry–Pérot interferometer），是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时，它也被称作法布里－珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗）标准具因为平板反射率高，多光束等倾斜干涉条纹极窄，所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱（纵模、横模）成分.中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um),中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)通用参数(F-P)干涉仪 标准具的FSR测量 技术参数产品特点适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um，中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda；近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50；近红外60-40管壳铜精细度(FSR)0.012cm-1二, ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14)筱晓光子的热稳定滤波器基于先进的 ETALON 技术， 同时运用独te的光学及机械设计，采用先进的封装技术,保证该款滤波器的波长在极端环境条件下的稳定性,包括温度和湿度。我们拥有独te的Zhuan利技术，用以保证该滤波器在所有环境下波长的目标精度在 ITU + / -1.25GHz 以内可供选择。这款对准 ITU 过滤器可用于波分复用(WDM)系统信道监测和波长锁定。我们还有特殊的技术可供顾客选择特定波长对应精度。该款滤波器根据使用方式的不同分为透射式和反射式,独te的设计可以保证标准具精细度、通道间距和工作波长拥有较宽的选择范围。面向客户设计的热稳定滤波器可以很好的兼容于多种光谱应用，包括电信、波长参考和校准及光纤传感系统,测试计量、激光波长稳定控制。ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14),ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14)技术参数产品特点● 优良的热稳定性● 低插入损耗● 封装牢固● 光纤一端出纤易于盘纤产品应用● FBG 传感系统● 监控系统● 测试测量设备● 仪器仪表指标单位参数备注波长范围nm1525~1565可制定插入损耗dB3.0偏振相关损耗dB0.1偏振相关精度GHz+/-0.1通道间隔（FSR）GHz100可定制50G或200G热稳定性GHz≤+/-0.8精细度714可定制其他精细度带宽@3dBGHz≤16≤9对比度dB≥13≥18回波损耗dB≥20最大光功率mW500工作温度℃-5~70可定制更宽温度范围存储温度℃-40~85光纤类型N/ASMF-28e+尺寸（长x宽x高）mm30x21.5x8.5备注：*.有所指标皆为未不含接头指标，切仅在以上波长，偏振态和温度下确保有效 **.指标若有更改，恕不另行通知。测试光谱图

光纤法布里-珀罗干涉仪光纤法布里-珀罗干涉仪系列产品基于具有平滑、均匀间隔传输峰的固定干涉仪设计。FFP 的设计简洁优雅的关键在于其无透镜全光纤结构。没有准直光学器件或透镜，消除了其他法布里-珀罗元件技术的缺陷，包括未对准、环境敏感性和外来模式。FFP 波器遵循 Airy 函数。工程师可以将其设计到 OEM 系统中，因为他们知道它将提供非常接近理论数学模型的结果。FFP-I由一个无透镜的平面FabryPerot干涉仪和一个位于两个高反射多层反射镜之间的单模光纤波导组成。FFP-I是直接用光纤制造的，所以不需要对齐或模式匹配。自由光谱范围(FSR)可以完全按照客户的规格制造，TEC包可用于热稳定性和中心带通频率的小调整。FFP-TF 和 FFP-TF2 是多功能可调谐滤波器，由全光纤 Fabry-Perot 超腔组成，采用坚固、快速调谐的 Tecordia 合格封装。Luna Innovations 的光纤法布里-珀罗 (FFP) 可调谐滤波器在坚固的封装中实现了高精细度并保持低损耗。FFP-TF2 设计提供改进的标准具校准，以实现稳定的长期、高可靠性和符合 Telcordia 标准的性能。几种标准的低成本配置可随时用于快速交付。定制的高性能多频段配置也可用于特殊应用。 光纤法布里-珀罗干涉仪的主要特征：频谱切片源国际电联过滤器校准波长参考激光稳定波分复用仿真全光纤平台高分辨率和低损耗设计超腔精巧抗振动和抗冲击光纤法布里-珀罗干涉仪FFP-I参数： 光纤法布里-珀罗干涉仪FFP-TF2参数： picoWave是Micron Optics的多波长基准，可实现picometer精度的实时波长校准。结合均匀的频率间距FFP-I，光纤布拉格的波长标记光栅，内置热稳定性TEC, picoWave是理想的校准波长参考。FFP-I和FBG可以配置在串联或并联。 光纤法布里-珀罗干涉仪的应用：光学性能监控光谱分析可调谐光噪声滤波超DWDM的可调信道下降可调的来源光学传感关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

产品概述MT Pro 是一款集单多芯一体的双光源干涉仪。结合Dimension高科技自主研发且拥有专利技术的光学系统，提升检测视场大小，多芯采用非接触式白光扫描测量，单芯采用红光相干原理而研制。能够快速一键全自动准确检测连接器表面3D形貌的各项指标参数，并显示保存测量结果。配备多款高性能检测夹具，广泛应用于实验室及生产制造。主要特性图像分辨率高达 1.5μm测量速度快，单芯 0.5s，12 芯 5s重复性高采用 0.1nm 精度激光干涉仪标定，测量结果准确Ferrule 夹具外框定位支持检测单芯，多芯（2~72 芯）测量视场 4.3*3.3mm 可测量单排 16 芯连接器自动对焦、自动测量功能自动调整校准参考镜0~8°夹具角度快速调节，无需更换夹具软件操作界面更直观图像分辨率高达1.5umMT Pro 针对多芯连接器测量设计了新的光学系统能够准确还原光纤连接器端面细节及形貌。保证后续计算得到准确结果。 多芯多模光纤表面 多芯单模光纤表面单芯光纤检测新高度MT Pro干涉仪采用全新光路设计，光纤高度测量范围单芯高达 -1000~1000nm，适合各种复杂工况的使用。 数据重复性好以下是同一个连接器连续测量 10 次的结果。光纤高度测量重复性纤芯凹陷测量重复性测量结果准确MT Pro使用了精度高达0.1nm的激光干涉仪对系统进行了准确的标定。确保 MTP/MPO 测量的ROC、Fiberheigh和 Coredip等参数准确性和一致性。自动对焦功能MT Pro 在每次测量时都启动了自动对焦保证从最佳位置开始面型扫描，从而能够最大范围还原出各种连接器的表面形貌，即使端面形状不是很理想的连接器也能够被准确测量。自动对焦功能大大简化了测量操作，特别是 APC 连接器。自动校准参考境维度科技的干涉仪校准方案是采用自动调整参考镜，而非手动调整夹具平台或用数据补偿的方案。这样做的优点是：独特MT Ferrule 外框定位测量夹具维度科技外框定位测量技术拥有技术专利，优点显著。1. 外框定位 MT Ferrule 可用于 MT4，MT8， MT12 ,MT16 ，MT24，MT32 ，MT48 ，MT72全系列 ferrule 测量无需更换夹具。2. 保证了 Ferrule 角度测量的准确性和重复性3. 长寿命不易损伤4. 避免了对被测件 PIN 孔的损坏5. 有助于分析研磨夹具角度的准确性 足够大的视场能够测量 MT160~8°夹具角度快速切换MT Pro 的独特夹具平台设计 , 能够快速实现 0~8°的宽广角度调节，无需更换夹具再次校准，能够保证更高的重复性和再现性，可检测全类型的多芯 PC 和 APC 产品。 PC ,APC测量模式切换快速简便一键式操作一键式全自动的测试流程，只需一次点击鼠标即可自动对焦、自动扫描、自动分析、自动计算，数秒内完成测量及报告存储。简洁的软件界面和卓越的3D还原能力MT Pro 干涉仪测量 软件界面采用简洁的模块化显示，直观便于操作。实时图像清晰，3D 还原图，表面粗糙度图、剖线图，及各个参数测量结果同相关信息一目了然。测量操作和设置简单易行，单多芯测量一键切换。主要规格参数注：1） X,Y 端面角度 *（°）参数针对外框夹具；2） * 重复性和再现性数值为 sigma 统计值；3） 重复性是 50 次不动连接器进行测量得到的统计值；4） 再现性是 50 次重复插拔连接器得到的统计值。主要应用用于抛光和组装过程中检查光纤插芯，跳线，尾纤和裸光纤。

产品概述FUTURE 是维度科技新研发的全新全自动光纤端面干涉仪，该设备是维度科技多年光纤检测设备研发生产经验的结晶。FUTURE 是一款具备自动端面判定、自动对焦、自动校准、自动调节角度、3D自动检测的全能型自动光纤端面检测设备，FUTURE 能够在2s内完成包含端面分析与表面形貌测量的工作。全新设计的硬件结构提供了无与伦比的抗震能力和超长的夹具寿命，FUTURE是光纤连接器端面检测的终极方案。主要特性具备端面分析和端面几何形貌同时测量的能力全自动测量，自动对焦、自动校准功能0~12 度 APC 角度全自动调节自适应锁紧力度的夹具设计检测速度仅需 1S，同时测量仅需 2S自动保存测量数据便于数据管理和质量控制0~12°APC角度全自动调节FUTURE 的独特夹具平台设计 , 可自由实现 0~12°的宽广角度调节范围，满足客户对于连接器特殊角度的测试需求。FUTURE 的夹具平台可提供 0.003°的调节精度，并且每次测量软件都提供角度补偿功能，使得角度的测量达到更高精度。自适应锁紧力度的夹具设计FUTURE 夹具采用自适应锁紧力度的结构设计，依靠弹簧自动调节锁紧陶瓷插芯的力度，保证每次锁紧力度一致，减少夹具的磨损并延长使用寿命。端面和干涉同时测量功能FUTURE 精心设计的结构和独特的光路能够实现同时对端面图像分析和几何参数测量的功能，自动对焦、自动触发、自动校准等功能准确度极高，您仅需点击测量，FUTURE 将会为您找到干涉环并给出准确的测量结果，并自动保存进入Excel 表格，FUTURE 将是您非常简单舒畅的工作伴侣。极快的检测速度FUTURE 优秀的软硬件设计极大的提高了测试的速度，能够在 2s 内完成包含端面分析与表面形貌测量的工作，最快可在 1s 内完成单个连接器的测试。稳定的数据连接及无与伦比的抗震性能FUTURE 沿用干涉仪系列的锁紧式USB 3.0 数 据线，保证任何情况下都有稳定高速的数据连接 独特的硬件结构设计，能搞保证在震动极大的工厂环境中依然能够获得稳定的测试结果和测量精度。性能参数主要应用用于抛光和组装过程中检查光纤插芯，跳线，尾纤和裸光纤。

主要特点：光干涉仪 特点： 波长范围：1064nm-1550nm 用于激光相位噪声测量、频率噪声测量和传感器 可通过前面板BNC连接器由PZ1普通型光纤拉伸器驱动

法布里珀罗干涉仪 FPI 法布里珀罗干涉仪（Fabry-Perot Interferometer，FPI 100）是一款共聚焦扫描 FPI，它自带光电探测器单元，设计用于测量和控制连续波激光器的模场分布。其主要特点有： 激光模式分析简单方便可选八种反射镜用于波长范围 300 到 3000 纳米自由光谱范围 1GHz 或 4GHz标准反射镜反射率 99.8%，对应 finesse 大于 400可选配光纤耦合器套件 – 方便使用 FC/APC 光纤接头进行耦合光电二极管更换套件 – 可见光/近红外/红外，通过内置聚焦透镜自动对准用户规定 finesse 值扫描选项 – 集成光电二极管放大器的独立扫描发生器 miniScan 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：网址： /邮箱：

干涉仪和光纤拉伸器OPTIPHASE是一家超高性能干涉系统和光纤拉伸器的供应商，产品用于精密测试和测量仪器以及光纤传感系统。干涉仪内部采用的是他们自己研制的PZ1小尺寸的光纤拉伸器，内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。?干涉仪特点：应用：低插入损耗激光器相位、频率噪声测试零光路失配干涉型光纤传感系统模拟BNC调制接口光路失衡干涉技术指标：?光纤拉伸器特点：高性能低成本外形小巧特有的光纤绕盘技术技术指标：期待您的咨询我们的地址：上海市闵行区都会路399号3栋2层201室电话：021-64903967联系人：龚女士15900924336期待您的咨询

剪切干涉仪 特性定性的光束准直测试，适用于直径为Ø 1-Ø 50毫米的光束磁性耦合可调设计，允许快速更换剪切板英制和公制螺纹安装孔SI系列剪切干涉仪可用于确定相干光束是否准直。该设计包括一个45度安装的楔形光学平板，和一块位于中间的带刻度参考线的散射屏。散射屏用于观察由光学平板的前后表面的菲涅尔反射产生的干涉条纹。如果光束已经准直，干涉条纹会平行于带刻度的参考线。除了准直度以外，干涉条纹还对球差、慧差和像散敏感。楔形光学平板是由未镀膜的紫外熔融硅。每个板尺寸的楔角优化到可接受光束尺寸的范围；详情请看规格标签。由于光在板上的入射角为45度，条纹图案的强度取决于极化光。当偏振垂直于入射面时会产生最大强度。为了观察到的干涉条纹，入射的光的相干长度必须长于由剪切板引起的光程长度的变化。规格标签的更多信息，请参阅下表脚注。构造剪切干涉仪由三部分组成一套：一个底座，一个带有楔形光学平板的板，和一个带有扩散屏幕的板。建立该干涉仪用4-40螺丝和六角键连接观察屏幕板与底座。楔形光学平板通过磁力夹持就位，使它能够很容易地换成带有不同楔形光学平板的板。该底座是由经阳极氧化处理的铝和带有安装Ø 1/2英寸接杆的螺纹孔组成。在楔形光学平板后面的底座上有一个孔，这样光可以毫无阻碍地穿过光学平板。右边的横截面图的说明剪切干涉仪的构造和光束传播。附件对与小直径光束，相应的干涉条纹图样也小，这样就不利于观测。对于这种情形，可以购买SIVS放大观察屏配件，它可以代替标准的散射观察屏，从而增大散射屏上条纹的尺寸。SIVS包括一个已安装的发散透镜和散射屏，这种屏适合观察直径为1至10毫米的光束。该板含有可以单独提供的楔形光学平板，使各种光束的尺寸可以用一个单一的底座单元测试。点击放大上图是UVFS在光正入射时的透过率曲线。其中UVFS样品未镀膜，厚度为1毫米，数据也包含表面反射。剪切干涉仪Zoom Click to Enlarge楔形光学平板通过三个磁块夹持就位。提供5种型号，用于光束直径从1到50毫米范围定性的确定光的准直性磁铁球将平板固定在底座上可用的光束直径刻在板上根据剪切板的不同，剪切干涉仪可用于直径小到1毫米，大到50毫米的入射光。剪切干涉仪产生的干涉图样对光束发散很敏感，因此可以用来定性的确定光是否准直。如右图所示，剪切板有三个钢球，以磁性吸附的方式固定在板的底面上。当采用不同直径的光束时，这种磁性保留机制易于更换不同的平板。兼容的平板和底座型号请查看规格标签。此外，底板的背面钻有通孔，因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫无阻碍地传播。底板，散射屏和剪切板包装在一个铝制手提箱内。替换剪切板Zoom 提供5种型号，光束直径从1毫米到50毫米 剪切板兼容多种剪切干涉仪主体 磁性钢球将板固定在底座上 可用的光束直径刻在板上Thorlabs提供五种可交换的剪切板，这些剪切板设计用于1毫米到50毫米的入射光束直径。这些板的磁性耦合可调设计，使得剪切板能够准确的固定在剪切干涉仪上。同一底座兼容多种剪切板（关于兼容性的详情请看规格标签），因此如果用于特殊实验的光束直径变化时，剪切板很容易进行替换。带有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。配件Zoom 用于光束直径从1毫米到10毫米 增大散射板上的条纹尺寸用于光束直径从1毫米到10毫米增大散射板上的条纹尺寸SIVS配件有助于观察由小光束直径产生的条纹图样。通过用该配件替换SI035，SI050，SI100或SI254*上的标准散射板观察屏，干涉条纹的尺寸会增大，从而使得确定光是否准直变得更容易。SIVS带有两个1/16英寸的螺丝，因此可以固定在剪切干涉仪上。如果需要，SIVS的安装板可以单独购买（SITST）。SITST具有标准的Thorlabs的SM1 (1.035英寸-40)螺纹，与任意SM1螺纹组件兼容。

干涉仪ZMI™ 系列–位移测量干涉仪ZYGO的标准干涉仪配置支持多种类型的测量方案。大多数干涉仪可以支持直通或直角测量方向，并且可以在真空中工作。线性干涉仪该装置会测量回射器目标，用于跟踪主要在一个线性维度上移动或围绕一个固定点旋转的物体。ZYGO提供标准和紧凑尺寸的线性干涉仪，以满足不同的空间限制要求。例如：十字刻线台、龙门系统、转向镜平面镜干涉仪该装置会测量平面镜目标，用于跟踪在多个线性维度上移动且旋转次数有限的物体。ZYGO的平面镜干涉仪具有高稳定性，可减少热误差。例如：晶圆台、堆叠工作台系统波长补偿器该装置会测量折射率的变化，用于补偿其他测量轴。ZYGO的紧凑型波长补偿器提供了高精度的折射率变化反馈，可在环境条件下实现最佳的位移测量性能。配件通过将光束从激光器传输到干涉仪，并最终传输到测量电子装置，完善测量系统。ZYGO提供各种标准的转折镜、分光镜、光纤耦合器和光纤电缆，方便您灵活配置测量系统。定制干涉仪设计ZYGO专业生产用于OEM应用的定制多轴干涉仪。定制设计允许在空间有限的应用中进行合并光束传输。它还减少了对准系统所需的时间，可在生产过程中实现更快的集成。

Optiphase-光纤干涉仪-MFI-10-50产品型号：MFI-10-50产品介绍：OPTIPHASE的核心竞争力是高性能动态干涉光纤询问器的设计制造。OPTIPHASE是高性能干涉测量系统的领头供应商，提供用于测试和测量仪器以及光纤传感系统的光纤干涉仪。这些干涉仪由我们自己的PZ1低剖面光纤拉伸器驱动，通过前面板BNC连接器进行增强调制。Michelson和Mach-Zehnder干涉仪的波长范围为1064至1550nm。每个干涉仪都有一个“零米”路径失配，这提供了改变延迟长度的灵活度，以匹配不同的测试应用。装运的标准长度为50米。我们还生产定制干涉仪。性能特点：可靠性参数：产地：美国 工作波长：1064 nm纤维类型：HI-1060光学接口：FC/APC光功率限制：250 mW尺寸和重量：10.2英寸长X 6.3英寸宽X 3.5英寸高；6磅。是否进口：是封装：厂家制定性能：良好可靠性：高

中图仪器SJ6000机床校准激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点，在机床加工领域有着广泛的应用。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，还可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。测量原理SJ6000机床校准激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品优势1、激光干涉仪具有非常高的测量精度和重复性。2、激光干涉仪可以实现非接触式测量，不会对被测量物体造成损伤。3、激光干涉仪具有实时性测量能力，能够同时测量多个位置或参数，提高测量效率。产品应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过SJ6000机床校准激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

Data-Pixel-干涉仪-DAISI-V3产品型号：DAISI-V3产品介绍：用于测量单光纤连接器端面几何形状的干涉仪，配备 “无外部移动部件”机械设计。该装置结合了 x400 显微镜和干涉仪，以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。借助 Blink 软件，操作员可以以简单的方式生成定制控制报告。DAISI-V3 完全兼容行业测量标准。性能特点：PC和APC连接器、套圈和裸光纤的测量真相移干涉仪非接触测量智能自动对焦，仅在需要时对焦用于自动Apex校准的受控参考镜坚固的电机驱动自动法兰锁定机构轻松快速地从PC切换到APC，无需更换光纤支架符合干涉仪测量的行业标准直观的BLINK软件，具有数据库连接兼容台式电脑、笔记本电脑、平板电脑参数：产地：法国视野（mm）：0.7 x 0.5扫描模式：红光和蓝光半径（mm）：3至平面顶点偏移（µ m）：0至500光纤高度（nm）：±160光纤切割角度（度）：0到12测量速度（秒）：1放大倍数：X 400输出：USB 3.0和USB 2.0电源：外部12V尺寸高x宽x长（mm）：133 x 171 x 244重量（kg）：8.6

产品简介：PG150-PC激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于平面类光学元件检定和校准光学平晶（包括玻璃、金属、陶瓷等），配备高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面 标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，可实现高精密平面光学元件的测量。 产品型号PG150-PC激光平面干涉仪技术参数测量方式:菲索干涉原理有效口径:150mm光源:半导体激光 635nm连续变倍:固定倍率显示方式:电脑软件或独立显示器平面标准镜:精度PV ≤λ/20电源:AC100-240V 50/60Hz产品规格仪器尺寸:40cm x 40cm x 90cm 仪器重量:75kg标准配件标准镜材料:石英 康宁7980

产品简介中图激光干涉仪机床校准仪sj6000集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，其寿命可达50000小时；采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高速干涉信号采集、调理及细分技术，可实现高4m/s的测量速度，以及纳米级的分辨率；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；采用高性能计算机控制系统及软件技术，支持中文、英文和俄文语言，友好的人机界面、向导式的操作流程、简洁化的记录管理。中图激光干涉仪机床校准仪sj6000具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床加工领域的应用利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。 机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿中图激光干涉仪机床校准仪sj6000非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。

OCT共路干涉仪特性低插入损耗平坦的波长响应带有源抗混叠滤波器的集成平衡信号探测用于660纳米对准光束输入紧凑型设计；带电源INT-COM-1300干涉仪可用于扫频源系统内部，用于共路OCT应用。它集成了光纤耦合网络，与外部共路干涉仪探头一起使用。这种耦合器为实现平坦波长响应，以及非常低的偏振相关耦合损耗进行了优化。集成的高增益平衡探测器包括了有源抗混叠滤波器，将数字条纹信号中的混频产生降至最小，从而提高成像质量。Item #INT-COM-1300Optical Wavelength Range1250 - 1350 nmFiber TypeCorning SMF28eFiber PortFC/APCInsertion Loss: 1300 nm IN to Probe* Insertion Loss: 1300n m IN to VOA IN* Insertion Loss: 660 nm IN to Probe Port* ElectricalDetector Material/TypeInGaAsDetector Wavelength Range800 - 1700 nmMaximum Responsivity (Typical)1.0 A/WOutput Bandwidth (3 dB)DC - 15 MHzTransimpedance Gain51 kV/ADC-Offset ± 5 mVSaturation Power**70 uW @ 1300 nmMaximum Input Power (Damage Threshold)**20 mWOutput Impedance50 Ω Optical ConnectorsFC/APCElectric Outport PortSMAPower Supply± 12 V, 200 mAGeneralSize 120 mm x 80 mm x 21 mm(4.42" x 3.15" x 0.827")*) 在中心波长测量，包含接头损耗**) 耦合进探头或者VOA输出端口 下面的图1给出了INT-COM-1300内部光学网络和一个基本的OCT应用装置的原理图。图1：INT-COM-1300原理图 INT-COM-1300的内部光纤网络是为扫频傅里叶域OCT系统设计的，该系统中干涉仪的参考臂和样品臂信号都沿着共路配置传播。这两个臂的反射光合束产生干涉条纹，被集成的平衡探测器中的一个通道探测到。探测器的第二个通道可能被用来补偿干涉信号中的直流成分，并用一个外部可变光学衰减器（VOA）来控制到达探测器第二个通道的光通量。95/5光纤耦合器用于把输入光分为两部分，其中95%的光束被传输到一个环行器内，然后通过WDM耦合器。WDM耦合器把入射的1300纳米光和瞄准激光合在一起，方便对准。光从WDM耦合器的探测端口出射，用于样品观察。从样品反射回来的光再次经过WDM耦合器，然后通过环行器，被平衡探测器的一个通道探测到。来自入射光分光的5%光通过一个斜率补偿耦合器传输到VOA IN端口。这个额外的耦合器用于补偿波长相关耦合比。这两个耦合器的设计使VOA IN信号几乎不依赖OCT激光器的波长，能实现宽带直流偏置补偿。这在下面的波长响应曲线中给出。图2是从1300纳米输入到探测端口测量的INT-COM-1300耦合率，而图3是从输入端口到VAO端口输入端测量的耦合率。图2：从输入耦合到探测端口的波长响应图3：从输入耦合进VAO输入端口的波长响应

白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。 3D光学轮廓仪组合l白光干涉仪l旋转盘共聚焦显微镜 l暗视野显微镜l明视野显微镜 主要平台规格 产品规格l标准电动平台150x150mm（可选210x310mm）l标准转塔，电动转塔可选l垂直范围可达100mml倾斜阶段6度lXY平台分辨率0.1uml自动拼接楷模lSigma头 - 仅限白光干涉仪lLambda头 - 白光干涉仪+共焦+暗场+明场 应用 ●粗糙度 ●体积磨损 ●台阶高度 ●薄膜厚度 ●形貌 测试图像示例 DLC涂层球 粗糙涂层表面 圆球磨斑 金刚石 生物膜 微流体通道 聚合物涂层 墨痕 硬币 研磨垫 铝的失效痕迹 划痕 涂层失效痕迹 芯片通道 晶圆以上为双模式三维表面轮廓仪拍出的样品形貌。在同一平台上结合使用多种光学技术，测试仪可以测量几乎任何类型的nm分辨率样品。 该表面轮廓仪配有功能强大的分析软件，符合多种标准。双模式三维表面轮廓仪能够在同一测试平台上运行多种测试，产品的组合可根据不同的技术应用要求而改变。针对样品的同一区域可进行不同模式的实验检测，模式切换可实现自动化。多项技术的整合能够使不同技术在同一检测仪上充分发挥各自的优势。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。

Zygo激光干涉仪红外干涉仪适用于高精度红外成像应用的测量方法光学成像的应用广泛，种类繁多。在系统的设计波长下进行测试对开发、最终对准和鉴定至关重要。用于航空航天和国防的夜视、红外和热成像系统、光刻子系统、遥感望远镜和外来材料鉴定对波长有不同的要求，而它们都受益于在红外干涉仪系统在设计波长下的测试。ZYGO长期以来被公认为是世界上干涉测试仪器的先行者，已经设计和制造了许多特殊装备的干涉仪系统，包括NIR、SWIR、MWIR和LWIR波长的系统。ZYGO还设计和制造了一系列用于这些波长的参考光学器件（透射球面镜和透射平面镜）。主要特点工作波长范围广：NIR：1.053μm&1.064μmSWIR：1.55μmMWIR：3.39μmLWIR10.6μm基于工作波长的QFAS十字快速对准视图简化了红外测试系统和组件的设置。ZYGO独有的QPSI™ 采集技术，可在振动较常见的环境中实现可靠的测量，NIR、SWIR和MWIR型号均配有这种技术。可选的DynaPhase™ 瞬时数据采集技术，对振动不敏感，可在最恶劣的环境中进行测量。

皮米精度位移激光干涉仪（可试用）姓名：谷工(Givin)电话：（微信同号）邮箱： 昊量光电推出的皮米精度位移干涉测量仪quDIS是对纳米级别的位移波动进行量测的理想仪器，基于其独特的测量原理，相对距离的重复精度达到了前所未有的50皮米。quDIS可同时支持三个测量通道，使其可以适用于任意的多轴测量中。quDIS在原理上同样采用激光干涉法，不过与传统激光干涉仪相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及饱和吸收气室（GC）作为频率校准参考，通过激光波长调谐扫描，比较两种不同的干涉图样，可以实现其它设备所不具有的绝对距离测量，基于这种测量方式，使得quDIS相对其他产品测量距离可以达到20M的同时保持高精度，且与信号对比度和强度无关，由于使用整个干涉模式来提取位移信息，因此不存在非线性误差。此外，quDIS不仅可以获得位置、速度和加速度等信息，折射率、反射率或表面倾斜度等信息也可以从实时信号中提取得到。独特的法珀腔+饱和吸收气室构造 波长的线性变化的引入在此构造下使得绝对距离的测量成为可能！干涉传感头 激光束的成型是通过不同的传感器头来实现的，根据反射目标的不同，不同的应用都需要不同的准直、聚焦和光束剖面约束。quDIS的传感器头均基于光纤设计。quDIS为常规情况下的使用提供标准准直仪和定焦传感头，同时根据具体的需要以及恶劣环境下的应用，也设计了响应的特殊传感头。 用于测量高温漂移物体的传感器头的设计 镍铁合金制造的低热膨胀系数准直头产品特点： 多维度多通道位移干涉器，操作简单，即插即用 相对距离和绝对距离测量 完善的全套系统配置 实时输出数字化图像 针对不同应用提供各种传感接头及反射模块组合解决方案 长期使用保证稳定性 兼容真空与各种恶劣环境独特优势： 绝对距离高精度测量！ 不存在非线性及周期性误差！ 相对距离信号稳定性0.05nm！ 工作距离最大20m（与传感头相关） 目标最大速度1m/s 三个传感接口，可实现多设备同步 探测器分辨率达到1pm应用领域： 极限环境下振动分析 缓慢漂移及热膨胀检测 精密设备位置控制 纳米级位移测量 层状结构中间隙和边缘的测量 位移和振动精度评估皮米精度位置测量仪参数列表：干涉仪传感头光源DFB激光器分辨率1pm功率400uW相对距离稳定性 0.05nm波长1535nm绝对距离精度0.2nm/mm线宽5MHz带宽25kHz传感器通道3工作距离0.1—20m光纤输入端口FC Narrow-Key-Slot目标速度1m/sMating Sleeves传感头真空同步多台设备同步低温

中图仪器SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 中图高分辨率3d白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：在3C领域，可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度；在LED行业，可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度；在光纤通信行业，可以测量光纤端面缺陷和粗糙度；在集成电路行业，可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度； 在EMES行业，可以测量台阶高度和表面粗糙度；在军事领域，可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜ 恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展而来的一种外差式干涉仪。传统单频激光干涉仪采用单频技术，容易受到外界环境干扰，微小的空气湍流都会引起直流电平变化从而影响测量结果，这是单频干涉仪的一个根本弱点。在测试环境恶劣或测量距离较长时，这一缺点十分突出，而双频激光干涉测量仪正好克服了这一缺点。双频干涉仪使用双频激光，其干涉信号是一个频率约为1.5-8 M H z的交流信号，当可动棱镜移动时，双频干涉仪的干涉信号只是使原有的交流信号频率增加或减少了△f，结果依然是一个交流信号。这个交流信号频率的改变取决于可动棱镜位置的变化，不受直流光平和电平变化的影响，因此抗干扰能力强，适合在各种环境条件下开展检测作业。 双频激光干涉测量仪采用外差技术，对环境干扰不敏感，先天具有抗干扰性好，工作稳定的特点，适合在车间生产环境中使用。镭测科技推出的LH3000双频激光干涉仪，基于清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室多年研发的核心技术，拥有自主知识产权，技术指标达到或优于国外产品同等水平。LH3000双频激光干涉仪通过与不同的光学组件结合，可实现对线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何量的检测，是高精度线性位移测量、数控机床校准、三坐标机校准、光学平台校准的高效率量测工具。 系统组成： LH3000双频激光头及附件 LC-2000环境补偿单元 Leice Measure测量软件、Leice Analysis 分析软件 线性位移测量镜组（选配：角度、直线度、垂直度、平面度测量镜组等） 光学调整附件 三脚架及其他测量附件产品优势： 采用双频激光，测量精度高 紧凑设计，适合外出服务携带 抗干扰能力强，大型机床长距离检测时也能保证稳定精准 自动环境补偿，不同温度、湿度、压力环境中也能精确检测 符合测校国家标准的测量分析软件 自动生成测量数据报表和误差校正补偿文件。 典型频差7±0.5MHz，测速高达2m/s。（欲了解更多单频与双频干涉仪的性能特点和差异，请阅览本网站解决方案栏目中的：双频激光干涉仪）

仪器简介： ML10 Gold 高性能激光干涉仪是机床、三坐标测量机及其它定位装置精度校准 用的高性能仪器。由于采用了独特的专利设计及最新的光电子技术，使ML10 Gold 激光干涉仪比市场上其它型号的激光干涉仪具有更高的性能和更先进的任选功能。 ML10 Gold 激光干涉仪提供有进行机器位置、几何精度测量的全套光学器件。 ML10 Gold 激光测量系统所有功能都设计与Laser 10 软件配合使用。除了测 量和分析诊断功能外，此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测 量和电子水平仪及千分表程序接口模块。 该激光干涉仪系统由激光头ML10 Gold、环境监测补偿器EC10，计算机接口卡 PC10* 或PCM20* 及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内， 一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定，大大改善了激光干涉仪的便携 性。 该激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机（包括笔记本计算机）连接， 在灵活、直观的软件控制下进行自动测量，既节省了测量时间，又避免了人为误 差，并能按国际上通行的标准进行数据分析处理，如ISO230-2、JIS-B6330、 VDI3441、VDI2617、ASME B89等并适用中国国家标准GB17421-2000等，以便于按 不同标准进行机床精度的评定和比较。 技术参数： 1.线性测量分辨率: 0.001&mu m 2.线性测量范围： 40m（或任选80m） 3.线性测量精度: ± 0.7ppm 4.最高测量速度： 60m/min 5.长期稳频精度： ± 0.05ppm 主要特点： ML10 Gold是全球最畅销的用于长度计量的激光干涉仪,其最大的优点是所有测量功能均采用激光干涉原理,性能稳定,使用可靠,功能扩展性强,价格适中.

上海瞬渺提供的全光纤全光纤迈克逊干涉仪（Fiber Michelson Interferometer）不但可以用来作为精密的测试测量仪器，还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器（参见PZ1光纤拉伸器产品资料），内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。 全光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计，用于方便用户根据不同的测试应用来改变光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米，我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪，请联系我们的销售人员。产品特点： 低插入损耗 零光路失配 BNC调制接口 裸光纤型光纤干涉仪可选（无封装）应用领域 激光器相位噪声测试 激光器频率噪声测试 干涉型光纤传感系统模拟 科研实验室应用技术指标参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度（无延迟）m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060（或指定）SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APCFC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7延迟光纤线圈指标可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC应用举例1.激光器相位/频率噪声测试被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。OPD-4000解调输出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上，作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出，数字信号输出通过PC进行后续处理，模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。通过为PZ1型光纤拉伸器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置（Quadrature Bias）。输出光信号由光接收机接收处理，输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈，延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息：MFI-10-50： 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50： 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50： 1550nm光纤迈克逊干涉仪需要定制的光纤延迟长度或者其他的要求，请联系我们的销售人员。

上海瞬渺提供的全光纤全光纤迈克逊干涉仪（Fiber Michelson Interferometer）不但可以用来作为精密的测试测量仪器，还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器（参见PZ1光纤拉伸器产品资料），内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。 全光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计，用于方便用户根据不同的测试应用来改变光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米，我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪，请联系我们的销售人员。产品特点： 低插入损耗 零光路失配 BNC调制接口 裸光纤型光纤干涉仪可选（无封装）应用领域 激光器相位噪声测试 激光器频率噪声测试 干涉型光纤传感系统模拟 科研实验室应用技术指标参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度（无延迟）m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060（或指定）SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APCFC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7延迟光纤线圈指标可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC应用举例1.激光器相位/频率噪声测试被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。OPD-4000解调输出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上，作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出，数字信号输出通过PC进行后续处理，模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。通过为PZ1型光纤拉伸器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置（Quadrature Bias）。输出光信号由光接收机接收处理，输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈，延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息：MFI-10-50： 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50： 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50： 1550nm光纤迈克逊干涉仪需要定制的光纤延迟长度或者其他的要求，请联系我们的销售人员。

1. 产品概述用于SENTECH Instruments等离子系统的SENTECH SLI激光干涉仪端点监测器与聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿过等离子系统的顶部视口，并被样品反射。反射光照射到检测器上并测量强度。2. 主要功能与优势用于蚀刻和沉积工艺的自动激光终点检测使用SENTECH SLI激光干涉仪进行原位测量特别适用于监测透明层的终点检测、透明层界面的终点检测以及蚀刻不透明薄膜和在界面上停留的终点检测。多层模式顺序端点配方多终点配方包括 EPD 的多个条件，这些条件按顺序执行，从而可以在多层蚀刻过程中根据单个薄膜特性更改等离子体工艺参数。与SENTECH操作软件SIA集成的终点检测SENTECH SLI激光干涉仪可以与SENTECH操作软件SIA集成，用于特定的终点检测配方，通过使用简单的行业标准命令行直接参数化终点监测。3. 灵活性和模块化SENTECH SLI 激光干涉仪原位光学计量终点监测仪可与整个系列的 SENTECH 等离子蚀刻和沉积处理系统一起使用，它与穿过等离子系统顶部视口的聚焦相干激光束一起工作，然后被样品反射以准确测量强度。单独的照明 （LED） 和 CCD 摄像头用于观察样品和调整激光光斑。整个终点监视器由自动 x y 载物台移动，允许使用 SENTECH SIA 操作软件系统轻松进行点调整。使用 SENTECH SLI 激光干涉仪进行自动原位测量非常适合在蚀刻或生长透明层或层状结构时监测层厚度。

仪器简介：复旦大学研究中心利用&ldquo 全光纤白光干涉技术&rdquo ，在5项专利技术的基础上，成功研制出多功能光纤教学实验仪。其核心在于采用标准化、模块化的组合架构，通过共享主机、根据不同实验要求选用不同功能模块，灵活搭配，组装出不同功能的教学实验。系统的开放性特点还意味着易于拓展功能，便于将来升级。同时，系统还配备专门利用LABVIEW软件开发平台和数据采集卡开发的信号处理软件，结合物理量，提供强大的数据采集、存储、分析能力。 通过变换组件开发的实验均属于光纤应用技术范畴，覆盖了目前先进的光纤通信、传感技术。测试的物理内容在20项以上，一套综合实验系统的功能与20套分散的实验仪器实现的功能相当。此外，仪器还具有稳定光源、光电转换电信号放大器等独立功能。利用多功能光纤干涉教学实验仪主机，并配置相应配件，可实现下列实验功能： 1. 全光纤音频信号录入、传输、解调功能； 2. 双向音频传输系统（光纤电话） 3. 激光外调制、解调技术； 4. 光在介质中传播速度的测量； 5. 光纤长度测量； 6. 光纤定点应变测量； 7. 全光纤声纳测试实验 8. 全光纤振动测试实验 实验教学内容包括 （1） 光纤传感器的特性及其应用；光纤通讯；声光调试；迈克尔逊干涉仪 （2） 速度、加速度测定；力学传感器（位移、应力速度、加速度&hellip ）与其应用；振动模式研究；傅里叶频率合成；电信号的傅里叶分析 （3） 声光调试； （4） 激光在实时测量中的应用；激光的倍频与混频 （5） 纳米材料制备与测量；光纤应用；仿真物理仪器。 （6） 半导体激光器特性的研究；光的色度研究；虚拟仪器在物理实验的应用 （7） 声速的测定；激光在实时测量中的应用； （8） 光纤通讯（全光通信）；声光调试；白光干涉仪 提供完整的实验解决方案 利用&ldquo 多功能光纤干涉实验教学仪&rdquo 和辅件，能够完成以上八个实验的实验教学功能。完整的实验解决方案包括以下实验配置： 编 号 设 备 名 称 功 能 1 多功能光纤干涉实验教学仪（2台） 全光纤白光干涉 2 光纤光功率分配器（4支） 光功率分配 3 光纤跳线（6条） 光路连接 4 光纤准直器（1支） 光发射、接收 5 标准振动台(1台) 提供标准振动源 6 声源（2个） 提供声音 7 放音器（2套） 播放声音 8 声光调制器（1支） 光纤外调制 9 数据采集卡（1张） 信号采集 10 信号处理软件平台（1套） 分析信号测试特征 11 全光纤送话器（2个） 声音采集 12 单模光纤（2 12公里） 测试、传输用 13 光纤反射器（2个） 光纤中光波反射 14 信号发生器（1台） 提供信号源 15 示波器（1台） 看转化为电信号后的光信号的波形技术参数：多功能光纤干涉教学实验仪的优势 1、 实验再现的物理概念清晰 实验仪成功再现了&ldquo 白光干涉技术&rdquo ，光的干涉通过不断的完善，已经形成了传统的干涉方式，主要有：（1）迈克耳逊干涉；（2）F-P干涉；（3）M-Z干涉等。在上个世纪九十年代，出现了&ldquo 全光纤白光干涉技术&rdquo ，该技术作为一种全新的干涉方法与传统的干涉方法相比，具有更大的实用价值。但是，在全国范围内，所有的实验都未涉及&ldquo 白光干涉&rdquo 实验。&ldquo 多功能光纤干涉教学实验仪&rdquo 填补了&ldquo 全光纤白光干涉原理&rdquo 的实验空白，具有较高的学术价值和实用价值。同时，实验仪能够测量的物理量包括： （1） 光波在光纤中的传播速度 （2） 光纤等效折射率 （3） 振动速度、加速度和位移 （4） 水中声波传播特性 （5） 光纤弹光效应 （6） 光波相位调制、解调 （7） 光纤分布传感技术 （8） 振动信号频谱分析 （9） 光纤长度测量主要特点：2、 实验方式灵活 通过共享一套主机，结合不同的功能模块，能够按照需要组装不同的实验。通过该方式，能够充分发挥学生的主动性，在节约财力的情况下，完成了以往多套实验仪器设备才能完成的实验功能；同时，很好地培养了学生的主动性，一改传统实验内容过于死板，学生主动参与性不强的缺点。 3、 系统性能好不同实验通过一套系统来实现，节约了大量的财力， 4、 实验内容和方法包含的技术新颖 不同的实验内容都来自最新的专利和文章，包含的方法和内容属于新的科研成果，使得整个实验的学术水平属于国内领先水平，其中利用低频信号测试光速等实验在全国来说属于首次提出，国际上未见文献报告；保密通信利用了量子通信等先进技术，在国内也属于创新实验。 5、 实验内容贯穿理论-应用-推广应用这一过程 对明确的原理概念首先通过基础实验学习理论，通过工程应用实验学会该原理的工程应用，最后通过大型系统实验巩固物理概念、锻炼学生动手能力和拓展学生思维。通过实验学习理论知识，而不是通过学习理论知识来重复实验，是&ldquo 多功能光纤干涉教学实验仪&rdquo 开设实验的强度教学功能。 开设的实验介绍

迈克尔逊型干涉仪 特性偏振相关耦合比（PDCR）的波动最小带有源混叠的集成平衡型信号探测指示光束输入（660纳米）以辅助对准包含干涉仪电源 迈克尔逊型INT-MST-1300B干涉仪组件设计用于波长范围在1250到1350纳米内，带有平衡探测装置的光学相干层析成像系统中。为了使用更快的扫描激光器，集成探测器的带宽已经增大到高达100MHz。该模块包括用于迈克尔逊干涉仪的光纤耦合网络，输出为参考臂和样品臂。内部所用的耦合器已经进行优化，具有平坦的波长响应和非常低的偏振相关耦合损耗。光纤的长度是与干涉仪的两臂均匹配，误差在0.2毫米以内，同时为了提高系统的坚固性和易用性，还配有FC/APC带角度的光纤适配器。为了抑制数字条纹信号中降低成像质量的混频的产生，集成的高增益的平衡型探测器（带宽100MHz）包含了一个有源的混叠滤波器。 为了支持将INT-MST-1300B对准到光学系统中，在组件中包含了一个660纳米指示激光器的附加输入，和一个专门设计的组合了扫描激光光源（1300纳米）和准直激光器（660纳米）的WDM耦合器。Item #INT-MSI-1300BOpticalInterferometer Wavelength Range1250 - 1350 nmFiber TypeSMF-28e+Input/Output PortFC/APCInsertion Loss*from 1300 nm IN to Sample Armand to Reference Arm Insertion Loss*from 660 nm IN to Probe4.5 dB MaxPath Length Difference0.2 mm MaxElectricalDetector Material/TypeInGaAs/PINTypical Responsivity Max1.0 A/WOutput Bandwidth (3 dB)DC - 100 MHzTransimpedance Gain100 kV/ASaturation Power**35 µ WMaximum Input Power**250 mWElectrical OutputSMADC Offset Power Supply± 12 V, 200 mA(PICO M8 con.)General Size4.72" x 3.15" x 0.827"(120 mm x 80 mm x 21 mm)* 包括输入和输出尾纤的接头损耗，在中心波长处测量。** 使用高阻抗负载，半值为50欧的阻抗，来测量相对输出功率的跨阻抗增益。图1显示了在时域OCT系统中的INT-MSI-1300B的示例装置。中心波长为1300纳米的输入宽带光源，通过一个环形器和宽带50/50熔融耦合器。来自干涉仪样品臂和参考臂的背反射光在50/50熔融耦合器中合束，产生干涉条纹，经过环形器和WDM耦合器后输入到平衡探测器。平衡探测器的输出信号被数据采集装置获取，经过处理后得到重建的OCT图像。图2描述了通过将参考臂的移动反射镜替换为固定式反射镜，IN-MSI-1300B如何集成到频域OCT系统中。图1: 在时域OCT设计中的INT-MSI-1300B的示意图图2: 在示例傅里叶域OCT设计中的INT-MSI-1300B的示意图干涉仪两臂的内部光纤长度匹配在0.2毫米以内，同时50/50熔融耦合器和平衡探测器的输入之间的光程也经过匹配，以获得最佳的噪声抑制（即最大的共模抑制比CMRR）。内部耦合器已经进行了优化，具有平坦的波长响应和非常低的PDCR（偏振相关耦合比），这使得探测信号几乎与输入的偏振变化无关。图3显示了在参考臂端和样品臂端输入功率的百分比。在1300纳米（中心波长）测量的两个端口的功率相等。图 3： INT-MSI-1300B在1300纳米测量的IN端口到样品臂和参考臂端口的耦合效率

专为光刻机配套开发的高精度测量系统；通过国家重大专项“极大规模集成电路制造技术及成套工艺”项目验收。采用直接输出线偏振光的双频激光器；非线性高精密测量系统，测量更精准；可提供1~20MHz频差内任意频差产品，满足各种测量速度需要。光源和测量信号接收单元分体式设计，方便搭建XY位移台等多轴测量系统；精巧的测量信号光纤接收头，即使空间狭小也能方便安装；标准光刻机干涉仪安装尺寸和数据接口，可直接替换现有产品。型号频差(MHz)最小出光功率(μW)光斑尺寸(mm)稳频精度(ppm)LH1000A1.5±0.55006±0.02LH1000B2.5±0.5 5006±0.02LH1000C3.5±0.5 5003, 6, 9±0.02LH1000D4.5±0.55006, 9±0.02LH1000DL5.5±0.5 5006, 9±0.02LH1000EL6.5±0.55006±0.02LH1000FL7.5±0.55006, 9±0.02LH1000GL8.5±0.5 5009±0.02LH1000H9.5±0.5 5003, 6, 9±0.02LH1000I10.0-20.0(按需定制) 5003, 6, 9±0.02

武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！GEMINI是一款新颖的紧凑型干涉仪，入射光所产生的两束复制光之间具有极高的稳定性。其卓越的性能可以被应用于许多科研领域，比如时间/频率分辨荧光探测，相干拉曼光谱，泵浦探针，二维光谱以及单分子的研究。主要特点高光通量，高灵敏度(1cm通光孔径，没有任何光栅或输入/输出孔径狭缝)宽光谱范围：标准版400-2300nm、超宽带版250-3500nm≈1阿秒稳定性（对两束复制光）自定义扫描范围对振动不敏感尺寸紧凑（176 x 44 x 54.5mm）轻便（≈400g）应用领域：干涉测量 激光对产生GEMINI在探测端时间/频率分辨荧光泵浦探针光谱相干拉曼光谱GEMINI在激发端单分子表现特征 和TCSPC探测器组成的时间/频率分辨荧光系统实验配置：GEMINI干涉仪放置于和TCSPC连接的单光子探测器之前，可以在保证时间分辨的同时获得荧光的波长信息。 相干拉曼（受激拉曼散射）和泵浦探针光谱实验配置：GEMINI干涉仪置于探针/斯托克斯光束入射样品后方，可以测量受激拉曼散射和MHz调制频率的泵浦探针光谱。单分子激发-发射图GEMINI干涉仪可以在短时间内以异常高的精确度和灵敏度获得单分子的特征描述 技术规格UV-SWIRVIS-MIDIR光谱范围200-3500nm500-5000nm延时稳定性小于1阿秒运行模式阶跃扫描或连续扫描尺寸10×8×8cm重量750g 武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！