当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

光栅投影仪工作原理

仪器信息网光栅投影仪工作原理专题为您提供2024年最新光栅投影仪工作原理价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括光栅投影仪工作原理参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的光栅投影仪工作原理您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合光栅投影仪工作原理相关的耗材配件、试剂标物,还有光栅投影仪工作原理相关的最新资讯、资料,以及光栅投影仪工作原理相关的解决方案。

光栅投影仪工作原理相关的论坛

  • 【分享】投影仪的特征介绍

    投影仪又称投影机,是以精确的放大倍率将物体放大投影在投影屏上或墙壁上以测定物体形状、尺寸的仪器。投影仪是集光、机、电一体化的精密高效测量光学仪器。投影仪没有辐射,完全符合了安全、环保、健康等的指标。 投影仪具有操作维修方便、效率高、适用性强等优点。采用远心光路,利用光导纤维使得照明更均匀明亮,并可按不同的被测工件调节光亮度,以消除调焦误差带来的测量误差。投影仪的光学系统品质优良、物镜成像清晰、放大倍率准确。仪器采用手动定位寻边,自动寻边工具,自动影像对焦指示器,轻松获取清晰影像。还可以测量任意百方的工件,并且可以实现多角度测量。 投影仪被广泛用于机械、模具制造、五金、冲压、商务办公、仪表、电子、培训会议,课堂教学、轻工、研究所以及计量检定部门。

  • 冲击试验夏比投影仪的选购和使用

    仪器操作方便、观察试样缺口直观,效率高,同时国产化的仪器设备基本可以满足于样品检验的要求,对于一些冶金、压力容器制造、机械工程等中小型实验室可以说是很好的必备专用检测仪器。 冲击缺口投影仪作为力学性能----冲击试验机项目的检验仪器,能及时地发现试样缺口加工质量是否符合GB/T229-49《金属夏比冲击试验方法》尺寸要求,有戏地防止因缺口质量而产生的冲击试验结果不稳定的现象。一.简述: 冲击试验夏比投影仪是近些年来广泛用于金属材料夏比(V、U型)冲击试样缺口加工质量检查的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影的方法将被测的冲击试验机试样(V、U型)缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样(V、U型)缺口标准公差带样板图比对,以此来确定被检的冲击试样缺口加工质量是否合格。二、使用仪器买好了,接下来就是使用,其实冲击缺口投影仪的操作比较简单容易首先将冲击试样的缺口部位擦拭干净,去油污和毛刺,打开电源,将试样平整的放入仪器的工作台面上【未开电源的】调节工作台的上下、左右旋钮,使已放大了50倍的缺口投影图像与仪器所提供的也是50倍的冲击试样缺口标准公差带样板图进行对比以此来判定缺口的加工质量是否符合标准规定冲击缺口投影仪在使用过程中,应当经常保持清洁、光学系统(透镜)若有油污或浮灰时,可用脱脂棉沾无水乙醇轻轻擦拭三、选型流程如下:实验室(仪器各方面的咨询、了解的结果)-----报厂装备采购部(对所报仪器厂家进行核实、调研以及买卖合同签订)-----仪器生产厂家(发货、组装、培训)。对仪器前期的仪器选型、厂家、价格、仪器性能等这些情况,我们主要通过网络查找,杂志和使用该仪器的实验室进行广泛咨询。 由于企业性质的不同,我们实验室只是参与了仪器购置前期的仪器选型、厂家、价格、仪器性能等任务,而具体的谈判、合同签订、购买付款等事宜等均由厂装备采购部来完成 我单位属压力容器制造行业,每年需检验的金属原材料板材、焊接工艺评定试板以及产品试板的冲击试验机的试样近4000-5000个,加工量大,为保证试样缺口的加工质量和试验结果的准确性,做到更加标准规范,我们提出了采购冲击缺口投影仪设备的要求并报厂各有关部门。四、小结冲击缺口投影仪属于专用光学仪器,在使用维护保养上应注意现场的环境,控制好温、湿度。温度在25度左右,湿度在60%以下。另外对于该仪器投入使用后,必须要每年进行一次计量校验,以防止光路系统由于长期使用误差偏大的现象,以便给实验带来不便。

  • 请问投影仪显示没信号是什么原因?急、急、急!

    本人以前没有怎么使用过投影仪,所以对投影仪的使用很菜。前段时间公司拿来一台投影仪给我用,一开机发现投影仪显示没信号,不知道是不是哪里设置的问题(由于是香港带来的,设置版面全是英文的,很多看不懂。),现请大伙帮我分析下可能出现的原因,谢谢!投影仪是EIKI的,型号为LC-SM2。

  • 二手投影仪

    现实验需要,求购二手投影仪,价格面议,功能不需要太多,能播放PPT即可

  • 【讨论】建议版主开一个投影仪的专版!!!

    我来到仪器网后,发觉根本就没有关于--投影仪方面的资料,而投影仪在成品的检测方面又是必不可少的仪器,我想很多做橡胶、塑料等的厂家实验室也有,所以特建议版主开一个关于投影仪的专版。

  • 二次元影像测量仪与投影仪有哪些区别?

    最近几十年不仅仅是我们,乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理,在管理过程中,对半成品、成品的合格率检测是必不可少的,以机械零件加工为例,在加工完一个机械零件后,我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时,我们就需要通过检测手段,来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等,随着技术的进步,最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段,成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度:[/color][/b]  投影仪检测工件的精度一般在45μm左右,在现代化的生产加工过程中,已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右,最高可达1μm,是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率:[/color][/b]  用投影仪检测工件单次只可检测一个工件,并且需要在操作软件上定位原点,再进行一定编程工作,才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件,小微型工件甚至可以测量几十个,只要在视场范围内,一次测多少个操作员说了算,二次元影像测量仪不需要定位原点,也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板,此后测量相同的工件只需按一键测量按钮,即可得出工件的二维尺寸参数,批量测量最多可同时测量512个部位,大大提升了工作效率![b][color=#e01e2b]3.仪器体积:[/color][/b]  投影仪都是比较笨重的仪器,外形体积硕大,重达五六百千克,不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便,重量在30-40千克之间,单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作,省时省力省空间。

  • 微软增强现实投影仪:让房间变成触摸屏

    微软研究部门研发出了一个增强现实投影器,这一新科技利用多达4台的Kinect,可以让你与房间内的物品进行交互。简单的说,你可以用手与投影仪投影出的影像进行交互。 房间内的Kinect传感器可以将整个房间转换为一个数字化的空间,然后你就可以用手与这个投影仪投影出的虚拟物体进行互动。 你可以在墙上画画,或是拖动投影仪投射出的虚拟物件,你还可以克隆真实的物件并投射出来。虽然这个投影仪的分辨率不高,而且还要带着一个投影机,但至少微软在未来发展的路上有又迈进了一步。 我们也相信Kinect技术在未来将会被大规模的应用到商业中,微软计划在2012年发布Kinect的商业SDK。

  • 【第二届原创作品大赛】冲击试样缺口投影仪的选购和使用

    【第二届原创作品大赛】冲击试样缺口投影仪的选购和使用

    [color=#DC143C][size=4][font=隶书]冲击试样缺口投影仪的选购和使用[/font][/size][/color]一. 简述: 冲击试样缺口投影仪是近些年来广泛用于金属材料夏比(V、U型)冲击试样缺口加工质量检查的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影的方法将被测的冲击试样(V、U型)缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样(V、U型)缺口标准公差带样板图比对,以此来确定被检的冲击试样缺口加工质量是否合格。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/11/200911012125_179631_1622447_3.jpg[/img]【冲击试样缺口投影仪】[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/11/200911012126_179633_1622447_3.jpg[/img]【投影屏上的缺口标准公差带样板图】 冲击缺口投影仪作为力学性能----冲击试验项目的检验仪器,能及时地发现试样缺口加工质量是否符合GB/T229-49《金属夏比冲击试验方法》尺寸要求,有戏地防止因缺口质量而产生的冲击试验结果不稳定的现象。 仪器操作方便、观察试样缺口直观,效率高,同时国产化的仪器设备基本可以满足于样品检验的要求,对于一些冶金、压力容器制造、机械工程等中小型实验室可以说是很好的必备专用检测仪器。

  • 大家有了解三坐标二次元投影仪的吗?

    公司要买一台三坐标二次元的投影仪用于测量精密零部件的孔径及一些用游标卡尺不好测量或游标卡尺精度达不到的塑料件,以前没用过,搜了一下,发现有很多种,不知道买什么样的合适,大家有没有推荐的?

  • 大家对检查冲击试样缺口的投影仪上的V、U型缺口图进行检查吗?

    力学实验室做冲击试验之前,一般要用投影仪对冲击试样的缺口进行检查,主要查其缺口的角度、底部的半径、缺口深度等。现在有个问题,一般检查都是将冲击试样缺口放大450倍后,与投影仪上的图进行对比,看符合程度怎么样?但投影仪上缺口的图是购买投影仪时所带来的,也不知道这个图的准确性怎么样?如它平身就不准,那我们的检查也是不准的。不知道各位对该问题是怎么考虑的,是否自己要对该图做自校准?

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 光栅尺工作原理

    光栅尺工作原理及详细介绍光栅:光栅是结合数码科技与传统印刷的技术,能在特制的胶片上显现不同的特殊效果。在平面上展示栩栩如生的立体世界,电影般的流畅动画片段,匪夷所思的幻变效果。 光栅是一张由条状透镜组成的薄片,当我们从镜头的一边看过去,将看到在薄片另一面上的一条很细的线条上的图像,而这条线的位置则由观察角度来决定。如果我们将这数幅在不同线条上的图像,对应于每个透镜的宽度,分别按顺序分行排列印刷在光栅薄片的背面上,当我们从不同角度通过透镜观察,将看到不同的图像。 光栅尺:其实起到的作用是对刀具和工件的坐标起一个检测的作用,在数控机床中常用来观察其是否走刀有误差,以起到一个补偿刀具的运动的误差的补偿作用,其实就象人眼睛看到我切割偏没偏的作用,然后可以给手起到一个是否要调整我是否要改变用力的标准。 【相当于眼睛】 一、引言 目前在精密机加工和数控机库中采用的精密位称数控系统框图。 随着电子技术和单片机技术的发展,光栅传感器在位移测量系统得到广泛应用,并逐步向智能化方向转化。 利用光栅传感器构成的位移量自动测量系统原理示意图。该系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路以及单片机相结合来完成对位移量的自动测量,它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及温度误差修正等功能。下面对该系统的工作原理及设计思想作以下介绍。 二、电子细分与判向电路 光栅测量位移的实质是以光栅栅距为一把标准尺子对位称量进行测量。目前高分辨率的光栅尺一般造价较贵,且制造困难。为了提高系统分辨率,需要对莫尔条纹进行细分,本系统采用了电子细分方法。当两块光栅以微小倾角重叠时,在与光栅刻线大致垂直的方向上就会产生莫尔条纹,随着光栅的移动,莫尔条纹也随之上下移动。这样就把对光栅栅距的测量转换为对莫尔条纹个数的测量,同量莫尔条纹又具有光学放大作用,其放大倍数为 : (1) 式中:W为莫尔条纹宽度;d为光栅栅距(节距);θ为两块光栅的夹角,rad 在一个莫尔条纹宽度内,按照一定间隔放置4个光电器件就能实现电子细分与羊向功能。本系统采用的光栅尺栅线为50线对/mm,其光栅栅距为0.02mm,若采用四细分后便可得到分辨率为5μm的计数脉冲,这在一般工业测控中已达到了很高精度。由于位移是一个矢量,即要检测其大小,又要检测其方向,因此至少需要两路相位不同的光电信号。为了消除共模干扰、直流分量和偶次谐波,我们采用了由低漂移运放构成的差分放大器。由4个滏电器件获得的4路光电信号分别送到2只差分放大器输入端,从差分放大器输出的两路信号其相位差为π/2,为得到判向和计数脉冲,需对这两路信号进行整形,首先把它们整形为占空比为1:1的方波,经由两个与或非门74LS54芯片组成的四细分判向电路输入可逆计数器,最后送入由8031组成的单片机系统中进行处理。 三、单片机与接口电路 为实现可逆计数和提高测量速度,系统采用了193可逆计数器。假设工作平台运行速度为v,光栅传感器栅距为d,细分数为N,则计数脉冲的频率为: (2) 若v=1m/s,d=20μm,N=20,则f=1MHz,对应计数时间间隔为[font=Times New Roman

  • 自动冲击缺口测量仪与冲击投影仪的使用对比

    [color=#333333]冲击试验对于冲击试样缺口要求严格,缺口的微小变化,都会引起试验结果出现误差,为保证加工出的冲击试样缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。目前冲击缺口测量的有两种方式,第一种是传统的投影仪比对;第二种,是全自动冲击缺口测量仪,准确测量缺口尺寸。[/color][color=#333333][/color][b]概述[/b][align=left][color=#333333]随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型[/color][color=#333333]U[/color][color=#333333]型缺口冲击试验方法,[/color][color=#333333] [/color][color=#333333]日前国内很多行业如(航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械)等行业已普遍[/color][color=#333333]s[/color][color=#333333]使用夏比冲击试验。根据目前国内广大用户的实际需求和国标[/color][color=#333333]GB/T229-2007[/color][color=#333333]《金属材料夏比摆锤试验方法》[/color][color=#333333]ASTM E23[/color][color=#333333]中要求冲击试样缺口的要求而开发、开发的一种专用于检查夏比[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型[/color][color=#333333]U[/color][color=#333333]型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,是航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械等部门理化实验室的必备专用设备。满足所有种类冲击试样缺口的的检测。[/color][color=#333333][/color][/align][align=left][color=#333333]对于夏比[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型缺口冲击试验,由于试样[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型缺口要求严格([/color][color=#333333]GB/T229-2007[/color][color=#333333]试样缺口深[/color][color=#333333]2mm[/color][color=#333333]±[/color][color=#333333]0.075[/color][color=#333333]、[/color][color=#333333]45°[/color][color=#333333]角±[/color][color=#333333]2[/color][color=#333333]°且试样缺口尖端要求[/color][color=#333333]R0.25±0.025mm[/color][color=#333333])([/color][color=#333333]ASTM E23[/color][color=#333333]试样缺口深[/color][color=#333333]2mm[/color][color=#333333]±[/color][color=#333333]0.025[/color][color=#333333]、[/color][color=#333333]45°[/color][color=#333333]角±[/color][color=#333333]1[/color][color=#333333]°且试样缺口尖端要求[/color][color=#333333]R0.25±0.025mm[/color][color=#333333]),故在整个试验过程中,试样的[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是[/color][color=#333333]R0.25mm[/color][color=#333333]缺口尖端的微小变化(其公差带只有[/color][color=#333333]0.025mm[/color][color=#333333]),都会引起试验结果的偏差,尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型缺口合格,其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用光学测量检查是切实可行并能保证检查质量的方法。[/color][color=#333333]TOP-IG[/color][color=#333333]是我公司根据[/color][color=#333333]GB/229-2007[/color][color=#333333]《金属材料夏比缺口冲击试验方法》、[/color][color=#333333]ASTM E23[/color][color=#333333]中冲击试样缺口的要求与广大用户的实际需求而设计、开发的一种专用于检查夏比[/color][color=#333333]V[/color][color=#333333]型和[/color][color=#333333]U[/color][color=#333333]型冲击试样缺口加工质量的专用光学测量仪器。[/color][color=#333333][/color][/align][b]原理[/b][align=left][color=#333333]第一种:传统的冲击缺口投影仪,主要通过将被测试样缺口投影到带有模板刻度的屏上,然后调整被测试样高度、左右等与带有刻度的模板进行对比,判定冲击缺口尺寸是否合格。[/color][color=#333333][/color][/align][align=left][color=#333333]第二种,全自动冲击缺口测量仪,主要通过专用的光学系统,将被测试样缺口,采集到电脑显示器上,通过[/color][color=#333333]SMTMeasSystem_IG[/color][color=#333333]测量系统,通过特用的像素解析技术,以及专用的光学系统,将被测试样缺口清晰轮廓显示到显示器上,再通过特有的技术自动捕捉轮廓,自动测量缺口尺寸。试样摆放需刻意摆放试样,只要将缺口放置视频区范围内就可以。缺口测量只需两部完成,摆放试样——测量缺口。一切测量、捕捉都是系统自动完成,[/color][color=#333333]1[/color][color=#333333]个人测量结果和[/color][color=#333333]100[/color][color=#333333]个测量结果一样。实现无人为因素影像。[/color][color=#333333][/color][/align][b]产品优点与缺点[/b][align=left][color=#333333]第一种传统冲击缺口投影仪,主要的优点是价格是便宜,缺点是测量结果受人为影像很大,精确都不高。测量数据无法保存,日后无法进行核查。[/color][color=#333333][/color][/align][color=#333333]第二种,全自动冲击缺口测量仪,缺点就是价格相对比较高,优点,测量完全不受人为因素影响,测量精度高([/color][color=#333333]0.001mm[/color][color=#333333]),测量数据可以以[/color][color=#333333]word[/color][color=#333333]、[/color][color=#333333]EXCEL[/color][color=#333333]、[/color][color=#333333]jpg[/color][color=#333333]等格式保存,日后核查或仲裁都可以进行复查测量。[/color]

  • 【原创】关于投影仪的内校

    请帮忙啊!我的老板要求我把投影测量仪(PJ300)改成内校,我手上的标准器只有量块!~郁闷ing中啊!!我了解了要有玻璃线纹尺作为标准器才能对投影测量仪校准,那样的成本太好大了,请问哪位高手对投影测量仪的内校给点意见我呢?先谢了!ie-fg@163.com

  • 【讨论】PLC结合光栅电子尺使用的自动化控制

    【讨论】PLC结合光栅电子尺使用的自动化控制

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/04/201204270907_363661_2523522_3.jpg光栅尺的工作原理光栅尺是通过摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量的高精度位移传感器.光栅尺是由读数头、主尺和接口组成。玻璃光栅上均匀地刻有透光和小透光的线条,栅线为50线对/mm,其光栅栅距为0.02mm,采用四细分后便可得到分辩率为5μm的计数脉冲。一般情况卜,线条数按所测精度刻制,为了判别出运动方向,线条被刻成相位上相差90°的两路。当读数头运动时,接口电路的光电接收器分别产生A相和B相两路相位相差90°的脉冲波.输出信号再经过数显系统细分处理,分辨率是光栅周期除以信号细分数,经过电子信号细分处理分辨率可为5um或1um 光栅尺的适用领域:加工用的设备:车床、铣床、镗床、磨床、钻床、电火花机、线切割等 测量用的仪器:投影机、影像测量仪、工具显微镜等 也可对数控机床上刀具运动的误差起补偿作用 配接PLC,用于各类自动化机构的位移测

  • 【资料】投影机的原理及分类

    到目前为止,投影机主要通过三种显示技术实现,即CRT投影技术、LCD投影技术以及近些年发展起来的DLP投影技术。1、CRT是英文Cathode Ray Tube的缩写,译作阴极射线管。作为成像器件,它是实现最早、应用最为广泛的一种显示技术。这种投影机可把输入信号源分解成R(红)、G(绿)B(蓝)三个CRT管的荧光屏上,荧光粉在高压作用下发光系统放大、会聚、在大屏幕上显示出彩色图像。光学系统与RT管组成投影管,通常所说的三枪投影机就是由三个投影管组成的投影机,由于使用内光源,也叫主动式投影方式。CRT技术成熟,显示的图像色彩丰富,还原性好,具有丰富的几何失真调整能力;但其重要技术指标图像分辨率与亮度相互制约,直接影响CRT投影机的亮度值,到目前为止,其亮度值始终徘徊在300Lm以下。另外CRT投影机操作复杂,特别是会聚调整繁琐,机身体积大,只适合安装于环境光较弱、相对固定的场所,不宜搬动。2、LCD是Liquid Crystal Device的英文缩写。LCD投影机分为液晶板和液晶光阀两种。液晶是介于液体和固体之间的物质,本身不发光,工作性质受温度影响很大,其工作温度为-55℃~+77℃。投影机利用液晶的光电效应,即液晶分子的排列在电场作用下发生变化,影响其液晶单元的透光率或反射率,从机时影响它的光学性质,产生具有不同灰度层次及颜色的图像。下面分别说明两种LCD投影机的原理。A、液晶光阀投影机它采用CRT管和液晶光阀作为成像器件,是CRT投影机与液晶与光阀相结合的产物。为了解决图像分辨率与亮度间的矛盾,它采用外光源,也叫被动式投影方式。一般的光阀主要由三部分组成:光电转换器、镜子、光调制器,它是一种可控开关。通过CRT输出的光信号照射到光电转换器上,将光信号转换为持续变化的电信号;外光源产生一束强光,投射到光阀上,由内部的镜子反射,能过光调制器,改变其光学特性,紧随光阀的偏振滤光片,将滤去其它方向的光,而只允许与其光学缝隙方向一致的光通过,这个光与CRT信号相复合,投射到屏幕上。它是目前为止亮度、分辨率最高的投影机,亮度可达6000Lm,分辨率为2500×2000,适用于环境光较强,观众较多的场合,如超大规模的指挥中心、会议中心及大型娱乐场所,但其价格高,体积大,光阀不易维修。主要品牌有:休斯-JVC、Ampro等。B、液晶板投影机它的成像器件是液晶板,也是一种被动式的投影方式。利用外光源金属卤素灯或UHP(冷光源),若是三块LCD板设计的则把强光通过分光镜形成RGB三束光,分别透射过RGB三色液晶板;信号源经过模数转换,调制加到液晶板上,控制液晶单元的开启、闭合,从而控制光路的通过断,再经合光棱镜合光,由光学镜头放大,显示在大屏幕上。目前市场上常见的液晶投影机比较流行单片设计(LCD单板,光线不用分离),这种投影机体积小,重量轻,操作、携带极其方便,价格也比较低廉。但其光源寿命短,色彩不很均匀,分辨率较低,最高分辨率为1024×768,多用于临时演示或小型会议。这种投影机虽然也实现了数字化调制信号,但液晶本身的物理特性,决定了它的响应速度慢,随着时间的推移,性能有所下降。3、DLP是英文Digital Light Processor的缩写,译作数字光处理器。这一新的投影技术的诞生,使我们在拥有捕捉、接收、存储数字信息的能力后,终于实现了数字信息显示。DLP技术是显示领域划时代的革命,正如CD在音频领域产生的巨大影响一样,DLP将为视频投影显示翻开新的一页。它以DMD(Digital Micormirror Device)数字微反射器作为光阀成像器件DLP投影机的技术关键点如下:首先是数字优势。数字技术的采用,使图像灰度等级达256-1024级,色彩达2563-10243种,图像噪声消失,画面质量稳定,精确的数字图像可不断再现,而且历久弥新。其次是反射优势。反射式DMD器件的应用,使成像器件的总光效率达60%以上,对比度和亮度的均匀性都非常出色。在DMD块上,每一个像素的面积为16μm×16μm,间隔为1μm。根据所用DMD的片数,DLP投影机可分为:单片机、两片机、三片机。DLP投影机清晰度高、画面均匀,色彩锐利,三片机亮度可达1000lm以上,它抛弃了传统意义上的会聚,可随意变焦,调整十分便利;只是分辨率不高,不经压缩分辨率为800×600(有些机型的最新产品的分辨率已经达到1280×1024)。但由于是新技术,维修的难度及费用并不低。

  • 【分享】光栅线位移传感器的结构原理及安装与维护

    光栅数显测量系统是一种能自动检测和自动显示的光机电一体化产品,是改造旧机床,装备新机床以及各种长度计量仪器的重要配套件,是用微电子技术改造传统工业的方向之一。由于光栅数显测量系统具有精度高,安装及操作容易,价格低,回收投资快等优点而得到大量使用。为使广大用户能够更好地掌握运用好这一产品,本文以我公司生产的BG1/KG1型系列光栅线位移传感器为例,就其结构、原理、安装与维护作一介绍。一、结构 BG1/KG1系列光栅线位移传感器是我公司生产的主导产品之一,分为BG1型闭式结构和KG1型开启式结构两种类型。BG1型闭式结构的光栅尺为5线/mm,KG1型开启式结构的光栅尺为100线/mm。 KG1型开启式传感器的标尺光栅裸露在外,微型发光器件和接收器件都装在传感头里。它的精度较高,要求的工作环境条件高,通常运用于精密仪器及使用条件较好的数控设备上。BG1型闭式传感器的特点是发光器件、光电转换器件和光栅尺封装在紧固的铝合金型材里。发光器件采用红外发光二极管,光电转换器件采用光电三极管。在铝合金型材下部有柔性的密封胶条,可以防止铁屑、切屑和冷却剂等污染物进入尺体中。电气连接线经过缓冲电路进入传感头,然后再通过能防止干扰的电缆线送进光栅数显表,显示位移的变化。闭式光栅线位移传感器的结构及输出波形见图1、图2。 http://www.newmaker.com/nmsc/u/art_img1/200612/200612271602699406.gif图一http://www.newmaker.com/nmsc/u/art_img1/200612/200612271604153434.gif图二 BG1型闭式传感器的传感头分为下滑体和读数头两部分。下滑体上固定有五个精确定位的微型滚动轴承沿导轨运动,保证运动中指示光栅与主栅尺之间保持准确夹角和正确的间隙。读数头内装有前置放大和整形电路。读数头与下滑体之间采用刚柔结合的联接方式,既保证了很高的可靠性,又有很好的灵活性。读数头带有两个联接孔,主光栅尺体两端带有安装孔,将其分别安装在两个相对运动的两个部件上,实现主光栅尺与指示光栅之间的运动进行线性测量。二、基本原理 光栅位移传感器的工作原理,是由一对光栅副中的主光栅(即标尺光栅)和副光栅(即指示光栅)进行相对位移时,在光的干涉与衍射共同作用下产生黑白相间(或明暗相间)的规则条纹图形,称之为莫尔条纹。经过光电器件转换使黑白(或明暗)相同的条纹转换成正弦波变化的电信号,再经过放大器放大,整形电路整形后,得到两路相差为90o的正弦波或方波,送入光栅数显表计数显示。三、安装方式 光栅线位移传感器的安装比较灵活,可安装在机床的不同部位。 一般将主尺安装在机床的工作台(滑板)上,随机床走刀而动,读数头固定在床身上,尽可能使读数头安装在主尺的下方。其安装方式的选择必须注意切屑、切削液及油液的溅落方向。如果由于安装位置限制必须采用读数头朝上的方式安装时,则必须增加辅助密封装置。另外,一般情况下,读数头应尽量安装在相对机床静止部件上,此时输出导线不移动易固定,而尺身则应安装在相对机床运动的部件上(如滑板)。1、安装基面 安装光栅线位移传感器时,不能直接将传感器安装在粗糙不平的机床身上,更不能安装在打底涂漆的机床身上。光栅主尺及读数头分别安装在机床相对运动的两个部件上。用千分表检查机床工作台的主尺安装面与导轨运动的方向平行度。千分表固定在床身上,移动工作台,要求达到平行度为0.1mm/1000mm以内。如果不能达到这个要求,则需设计加工一件光栅尺基座。基座要求做到:①应加一根与光栅尺尺身长度相等的基座(最好基座长出光栅尺50mm左右)。②该基座通过铣、磨工序加工,保证其平面平行度0.1mm/1000mm以内。另外,还需加工一件与尺身基座等高的读数头基座。读数头的基座与尺身的基座总共误差不得大于±0.2mm。安装时,调整读数头位置,达到读数头与光栅尺尺身的平行度为0.1mm左右,读数头与光栅尺尺身之间的间距为1~1.5mm左右。2、主尺安装 将光栅主尺用M4螺钉上在机床安装的工作台安装面上,但不要上紧,把千分表固定在床身上,移动工作台(主尺与工作台同时移动)。用千分表测量主尺平面与机床导轨运动方向的平行度,调整主尺M4螺钉位置,使主尺平行度满足0.1mm/1000mm以内时,把M2螺钉彻底上紧。在安装光栅主尺时,应注意如下三点: (1) 在装主尺时,如安装超过1.5M以上的光栅时,不能象桥梁式只安装两端头,尚需在整个主尺尺身中有支撑。 (2) 在有基座情况下安装好后,最好用一个卡子卡住尺身中点(或几点)。 (3) 不能安装卡子时,最好用玻璃胶粘住光栅尺身,使基尺与主尺固定好。3、读数头的安装 在安装读数头时,首先应保证读数头的基面达到安装要求,然后再安装读数头,其安装方法与主尺相似。最后调整读数头,使读数头与光栅主尺平行度保证在0.1mm之内,其读数头与主尺的间隙控制在1~1.5mm以内。4、限位装置 光栅线位移传感器全部安装完以后,一定要在机床导轨上安装限位装置,以免机床加工产品移动时读数头冲撞到主尺两端,从而损坏光栅尺。另外,用户在选购光栅线位移传感器时,应尽量选用超出机床加工尺寸100mm左右的光栅尺,以留有余量。5、检查 光栅线位移传感器安装完毕后,可接通数显表,移动工作台,观察数显表计数是否正常。 在机床上选取一个参考位置,来回移动工作点至该选取的位置。数显表读数应相同(或回零)。另外也可使用千分表(或百分表),使千分表与数显表同时调至零(或记忆起始数据),往返多次后回到初始位置,观察数显表与千分表的数据是否一致。 通过以上工作,光栅传感器的安装就完成了。但对于一般的机床加工环境来讲,铁屑、切削液及油污较多。因此,光栅传感器应附带加装护罩,护罩的设计是按照光栅传感器的外形截面放大留一定的空间尺寸确定,护罩通常采用橡皮密封,使其具备一定的防水防油能力。四、使用注意事项(1)光栅传感器与数显表插头座插拔时应关闭电源后进行。 (2)尽可能外加保护罩,并及时清理溅落在尺上的切屑和油液,严格防止任何异物进入光栅传感器壳体内部。 (3)定期检查各安装联接螺钉是否松动。 (4)为延长防尘密封条的寿命,可在密封条上均匀涂上一薄层硅油,注意勿溅落在玻璃光栅刻划面上。 (5) 为保证光栅传感器使用的可靠性,可每隔一定时间用乙醇混合液(各50%)清洗擦拭光栅尺面及指示光栅面,保持玻璃光栅尺面清洁。 (6) 光栅传感器严禁剧烈震动及摔打,以免破坏光栅尺,如光栅尺断裂,光栅传感器即失效了。 (7) 不要自行拆开光栅传感器,更不能任意改动主栅尺与副栅尺的相对间距,否则一方面可能破坏光栅传感器的精度;另一方面还可能造成主栅尺与副栅尺的相对摩擦,损坏铬层也就损坏了栅线,以而造成光栅尺报废。 (8) 应注意防止油污及水污染光栅尺面,以免破坏光栅尺线条纹分布,引起测量误差。 (9) 光栅传感器应尽量避免在有严重腐蚀作用的环境中工作,以免腐蚀光栅铬层及光栅尺表面,破坏光栅尺质量。高创传感器公司生产的高精度位移传感器具有良好的电磁兼容性,技术指标优于国家标准,处于国内绝对领先地位。五、常见故障现象及判断方法1、接电源后数显表无显示 (1)检查电源线是否断线,插头接触是否良好。 (2)数显表电源保险丝是否熔断。 (3)供电电压是否 符合要求。2、数显表不计数(1)将传感器插头换至另一台数显表,若传感器能正常工作说明原数显表有问题。 (2)检查传感器电缆有无断线、破损。3、数显表间断计数(1)检查光栅尺安装是否正确,光栅尺所有固定螺钉是否松动,光栅尺是否被污染。 (2)插头与插座是否接触良好。 (3)光栅尺移动时是否与其他部件刮碰、摩擦。 (4)检查机床导轨运动副精度是否过低,造成光栅工作间隙变化。4、数显表显示报警(1)没有接光栅传感器。 (2)光栅

  • 帮忙下载一篇中文光栅投影法三维轮廓测试关键技术研究

    [*][作者]:[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][/url][font=&][size=13px][color=#0066cc]李恩泽[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][/b][*][题名]:[b][b][url=https://wenku.baidu.com/view/f5a80ae3524de518964b7d76?fr=xueshu_top][b]光栅投影法三维轮廓测试关键技术研究[/b][/url][/b][/b][*][b]【期刊】:CNKI[/b][*][b][/b][*][b]【链接】:[font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc]李恩泽[/color][/size][/font][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=f2e2bd2913c42043529786483b494f52&site=xueshu_se]光栅投影法三维轮廓测试关键技术研究 - 百度学术 (baidu.com)[/url][/b][font=&][size=13px][color=#0066cc]李恩泽[/color][/size][/font]

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制