光学膜厚仪测试原理

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

光学平台防尘罩1CB专业为光学平台配备的防尘空间，它高效空气过滤器和欧洲高级无味塑料帘组成完整钢框架,使得光学平台成为层流工作站，快速为任何实验室或车间提供局部干净的操作环境。 光学平台防尘罩特点 风机声音超低 50dBA 无味塑料窗帘 高效空气过滤器 垂直层流工作站工作原理 对于激光实验,激光制造,光学器件制造,激光器修复或研究等应用而言需要一种比较洁净的操作空间，避免光学器件吸入灰尘颗粒。但在大多数实验室中，数以百万计的粒子将可能落在光学器件表面，或者被激光束的能量捕获到光学器件表面。一旦光学器件表面上有微粒，激光束会聚集能力烧毁光学镀膜，造成激光腔内能量的衰减。而且，被烧毁的颗粒将吸收更多的能量使光学表面局部发热。局部发热将引 起热透镜效应和光学镀膜的进一步损伤。光学平台防尘罩1CB直接安装到光学平台可以有效清除灰尘颗粒，保护光学器件免受这一问题影响。。 光学平台防尘罩订购 示范模型1cb- 08-20-TS结合了已验证蜂窝光学台面1HT08-20-20 (800 x 2000 x200mm) ，坚固的1TS05-12-06-AR光学台支承和新型配置了窗帘的1CT-08-20 空气过滤器。订购隔振系统1VIS (1CB-08-20-VIS) 代替静态刚性支承1TS，可以提高性能和稳定性。光学台面的具体信息可以访问隔振系统和镜头光学台支承装置页面。 如果您已经有了光学台装置，也想要购买过滤器装置，Standa公司可以根据您的要求定制过滤器尺寸。根据您的应用程序大小配置相应的HEPA高效过滤器数量。请注意，该过滤器支撑钢框架有横梁，就在光学台面下方，订购时，请确保光学台面下方有可用的垂直空间。 层流台面工作站功能如下： 光学平台防尘罩1CB防尘过滤系统 采用铰接式框架1cb-mm安装的监控器 6 个欧式插座1cb-es 日光灯（冷白）1cb-wl 在光学台1cb-pcs下面的计算机 特殊单元可以单独订购。 OEM版本提供了进一步的定制-你也可以定义完全或部分覆盖（任何大小）的屏蔽空间。 过滤器规格： 低声音，低瓦，低姿态，低运行成本。 三速开关功能低，中，高设置；标准的所有2英尺×4英尺（600毫米×1210毫米）和2英尺×3.5英尺（600毫米×1057毫米）单位。 固态速度控制标准的2英尺×2英尺（600毫米×600毫米）和2英尺×3英尺（600毫米×905毫米）单位。 前向离心式风机。 高效微粒空气（HEPA）UL 900过滤器：99.99%微米高效@ 0.3。 极其安静的 50分贝 卡在预过滤器可以方便更换和维护。 轧机成品铝外观。 IEST推荐RPC标准测试。 UL认证（120V，240V，277v）与标准UL 900滤波器。

产品介绍烟密度测量的主要原理是在特定的空间内，线缆或材料在特定的燃烧或辐射条件下产生烟雾，光束穿过烟雾后会产生衰减，测量光束的透光率并计算得出比光密度和烟密度。泰思泰克烟雾密度箱依据 ISO5659 相关标准设计研发。与锥形辐射炉配合使用，可使箱内的热通量高达 50 kW/m2，并可横向定位样品，测试样品质量损失率。这也符合最新 IMO 测试条款。测量样品，在密闭空间内有/无前锋火焰时，垂直暴露于放射性热源 25 kW/m2 的情况下，产生的烟雾密度。使用ISO 5659 锥型辐射加热炉，用户可以将加热条件由10 ?/㎡ 任意调整为 50?/㎡ 或者 70kW/㎡。型号： TTech-GBT8323.2参考标准：? GB/T8323.2-2008? ISO 5659-1:塑料-生烟-第1部分：光密度试验原则? ISO 5659-2 : 塑料的烟生成 -Part 2: 单体箱测试获得材料的光密度箱体结构：1、测试箱有箱体、样品盒、辐射锥、点火器、透光和测量装置及其他相关控制装置组成；2、人机工程学的结构设计与控制设计；箱体采用全开门的设计方式 门锁设计便于一次性关闭箱门；优化操作流程；3、测试箱门可完全打开，方便装卸样品和清洁箱体 4、前门铰链安装，配有视窗及可遮挡视窗的活动不透明遮光板，以避免光线进入密封箱；5、控制器位于箱体侧面，方便操作。箱门关闭时也不影响查看控制器；6、安全熄火板，更换简易，操作更安全；7、可提供气体测量口，用于测试气体毒性；8、测试箱体的涂层易于清洗且抗化学腐蚀； 燃烧装置：1、 加热锥：功率2600W,输入温度范围在0~1000℃，50分钟内可稳定在±2℃之内，可提供10KW/m2-50KW/m的辐射照度。2、 使用质量流量控制器和压差传感器可提升测压计的精确度和实现自动泄露测试3、 点火器配有自动点火装置；火焰长度30mm±5mm 按照标准规定蓝色火焰，顶端带有黄色； 烟密度测量系统：1、 烟雾密度和温度均以数码显示，查看更简便，数值更精准2、 光电探测组件包括光电倍增管、放大滤光片、光闸、滤光片、中性滤光片、透镜、光学窗口等组成；3、 光源为6.5V白炽灯光源；4、 箱体顶部安装光学暗盒，光源接受为侧窗型光电倍增，透光率精度可达到0.001%5、 消色差透镜 6、 硅光电池片 7、 高增益低噪音放大器控制电路 控制系统1、自动完成测试 各种信号自动采集；2、品牌电脑、3、打印机为选配4、电压：220V 功率4KW；5、丙烷气客户自备；

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

德国MN生产铜测试盒方源仪器铜测试包 深圳市方源仪器有限公司提供的德国MN生产铜测试盒方源仪器铜测试包有多种不同测试范围型号，可满足不同环境下铜的含量。世界范围内铜含量的值为：淡水平均含铜3μg/L，海水平均含铜0.25μg/L。铜的主要污染来源有电镀、冶炼、五金、石油化工和化学工业等部门排放的含铜废水。 德国MN生产铜测试盒方源仪器铜测试包参数： 铜测试盒型号：914034测试范围：0.1-0.2-0.5-1.0-2.0-3.0mg/l Cu测试次数：100次每盒有效期：2年测试原理：Comp比色法产品补充试剂盒型号：914234 注意：何为产品补充试剂盒，产品补充试剂盒是延伸了本产品以外的试剂，为了帮客户节约购买成本而制造的试剂盒。在第一次购买产品快要使用完时，里面附带针筒、试管、固定架、标准比色卡等配件千万不可随意扔掉。因为在第二次乃至以后购买本产品时你只需要购买该产品的补充试剂盒版即可接着使用测试，大大节约了你购买的成本。 铜测试盒型号：920050测试范围：0.0-0.04-0.07-0.10-0.15-0.20-0.25-0.30-0.40-0.50mg/l Cu测试次数：150次每盒有效期：2年测试原理：HE比色法产品补充试剂盒型号：920150 铜测试盒型号：931037测试范围：0-0.1-0.2-0.3-0.5-0.7-1.0-1.5mg/l Cu测试次数：100次每盒有效期：2年测试原理：ECO比色法产品补充试剂盒型号：920150 测试步骤：1． 用待测样品溶液冲洗比色试管多次，然后加入样品溶液至10ml 刻度处。2． 加入5 滴铜-1 试剂并混合均匀。3． 加入5 滴铜-2 试剂并混合均匀。4． 5 分钟后把比色器背光放在与眼睛平行的高度, 将溶液反应后的颜色与比色器上相应的，颜色进行对比，读取铜的含量。铜的浓度较低时，为了方便读数，可将一张白纸放在，比色器后面5-10 厘米的位置观察读数。玻璃试管和补偿试管在使用完毕后立即用大量的水冲洗干净。 中国代理商：深圳市方源仪器有限公司

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

FTE 4000 可变光学衰减器用于光纤测试-VOAThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features? Integrated Power Meter? Up to 80 dB Attenuation? Typical Insertion Loss 2dB (40dB Model)? Remotely Program Sweep Settings? Adjustable step sizes? USB PC Interface w/Remote Operation? Absolute/Relative Attenuation Settings? Calibrated at 1310/1550? Sealed Rugged Case? Lowest Cost Hand Held VOA? 4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion Loss2 dBReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual

公司简介： Hellma德国成立于1922年。Hellma着重于研究与开发度光学元件，以配合瞬息万变的科技领域。Hellma一直以来和研究院、国际著名检测仪器制造商等保持密切的合作，为他们设计所需的比色皿与光学元件。Hellma现提供1700多种石英比色皿；Excalibur XP光学探头有一个弹性体密封的石英测量头，具有非常高的透射率。这种设计可实现特别准确和可靠的测量结果。此类别的基本型号有 12 毫米、20 毫米和 25 毫米的直径。您可以通过转到“自定义配置”来调整下面提到的标准配置以适应您的个人过程条件德国Hellma光学探头XP 12。德国Hellma光学探头应用领域：实验室、工艺、原材料工厂、过程分析特点：小体积 、 高传输、 具有高重现性的测量、非常高的路径长度精度、出色的传输、粗糙的工艺条件 、高压和高温； 德国Hellma光学探头1、测量原理：传输2、测量原理：反射式-法尔卡塔3、测量原理：反射-格拉迪斯4、测量原理：衰减全反射 (ATR)5、测量原理：荧光6、测量原理：拉曼

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪，使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点，硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。 硬度测试仪配件特点 专用于配套SHORE A，SHORE D型橡胶硬度计， 其测试原理更科学，结构更紧凑、合理，使测试的稳定性和准确度进一步得到提高 使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。 硬度测试仪配件参数 E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机； 外形尺寸： 100*212*250(mm) 便携式硬度测试仪参数 可选配SHOR结构更紧凑、合理，操作简单 净重：10 Kgs 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计，硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 北京宏昌信科技有限公司销售部 唐海红 13120400643 15321361385 010-59481385 仪器简介： 最新推出的YSI ProODO 采用不消耗氧气的荧光寿命检测技术，可以提供更稳定、重复性更高、更敏感的溶解氧检测数据，可有效减少传感器的漂移。 广泛应用于水环境常规测量和应急测量、污水处理的溶解氧测量、高校和科研机构的教学和研究、水族馆、水产养殖业的水质测量、生态环境调查以及其它领域内的溶解氧测量。 技术参数： YSI ProODO 系统规格（主机、电缆和传感器） 参 数 测量范围 分辨率 准确度 溶解氧 %空气饱和度 0至500% 0.1% 0至200%：读数之± 1% 或 1%空气饱和度，以较大者为准； 200至500%：读数之± 15% 溶解氧 毫克/升 0至50毫克/升 0.01 或 0.1毫克/升 (视量程自动切换) 0至20毫克/升：读数之± 1% 或 0.1毫克/升，以较大者为准； 20至50毫克/升：读数之± 15% 温 度 -5至70℃ 0.01℃ ± 0.2℃ 气 压 50至110千帕 0.01千帕 ± 0.2千帕（0至50℃） YSI ProODO 主机规格 存储温度 -20至70℃ 尺 寸 21.6厘米（长）× 8.3厘米（宽）× 2.3厘米（厚） 重 量 475克（含电池） 探头尺寸 19厘米（长），2.4厘米（直径） 电 源 2节2号碱性电池，在手动模式下约可使用80小时 电 缆 备有1、4、10、20、30、40、50、60和100米标准电缆可供选择 接 口 带锁扣的MS军方规格防水接口 保 修 期 主机三年；电缆两年；探头两年；传感器盖一年 盐度输入范围 0-70ppt（手动输入值自动补偿） 数据内存 可存储2000组数据（含传感器数据、日期、时间、站点和用户自定义的信息） 搅拌依赖性 无 反应时间 T90@25s，T95@45s 校 准 溶解氧：一点或带0％的两点校准；气压：一点校准 通过认证 RoHS、CE、WEEE、C-Tick、VCCI、IP67和1米跌落测试 通讯连接 USB2.0，包括通讯底座和USB线 数据管理 Data Manager中文软件，可自定义100个文件夹和站点名 用户密码 为保证数据安全，用户可自设密码 GLP功能 保存校准记录，符合ISO9000认证实验室的需求 主要特点： · 测量范围（0-500％）较其它品牌光学溶解氧传感器更宽广 · 智能数字传感器技术能将校准数据存储在传感器中，探头即使安装在任一没有校准过的ProODO主机上，也可正常运行 · 适配300毫升BOD瓶 · 用户可在野外自行更换传感器 · IP67防水等级，电池仓与仪器电路仓各自独立分隔并密封，即使电池仓进水也不影响或损坏仪器电路 · 外敷橡胶的防滑浇注外壳，抓握更容易，使用寿命更长 · 存储2000组数据（含传感器数据、日期、时间、站点和用户自定义信息） · 借助标配的USB线连接ProPlus主机和计算机，不仅能为主机供电，亦可运用易于操作的Data Manager软件设置主机、管理分析数据以及查看图形数据与表格数据 · 两种测量模式：自动/手动采样模式/连续实时测量模式 · 夜光键盘和背景光显示屏便于在昏暗环境下操作 · 用户可自选电缆长度，最长可达100米；电缆整理套件帮助整理4米或更长的电缆 · MS军方接头，快速插拔，防水，连接可靠稳固 · 接头的电缆部分可耐受30万次弯折，经久耐用 · 内置气压计 · 超长保修期：主机三年，电缆两年，探头两年 光学溶解氧传感器所具有的优势： · 不受流速限制，无流速或搅拌依赖性 · 无需预热时间 · 低漂移和长期稳定，不必经常校准 · 不受硫化氢或其它气体的影响 · 更低的维护量：无需清洁电极、更换溶液，只需一年更换一次敏感元件 YSI 6820V2 / 6920V2型 多参数水质监测仪 YSI 6600V2型 多参数水质监测仪 YSI 600OMS V2 光学监测仪 ，YSI 600OMS V2 光学监测仪 外形小巧、轻便耐固、耗电低，一个光学端口，可随时安装、更换YSI出品的光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT和蓝绿藻中的任一传感器，以满足各种应用需求。这是一款使用灵活、操作方便的光学监测仪，既是理想的便携测量仪，又可用于长期野外监测。 YSI 600XLV2/600XLMV2 多参数水质监测仪 YSI 6820/6920型 多参数水质监测仪 YSI 6820EDS/6920EDS型 常规五参数水质 YSI 600XLV2/600XLMV2 多参数水质监测仪，600XLM V2 是6600V2-4的精简型，同样可精确测量电导率、温度、酸碱度/氧化还原电位、水位，但在同一时间只能监测光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT与蓝绿藻中的一个参数。配有电池室与非散失性内存。为长期现场监测与剖面分析提供了一个低成本方案。 YSI 6920DW/600DW型 饮用水多参数安全监测仪 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 YSI 58型 实验室溶解氧测量仪 YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 YSI ProPlus型 手持式野外/实验室两用测量仪，多种参数选择：溶解氧、BOD、pH、ORP、电导率、氨氮、硝氮、氯化物和温度 YSI 9600型 硝酸盐监测仪 YSI 6500 是水质监控的一种经济有效的选择，有效替代多台单参数设备，可减少安装和操作所需的人力物力 连续监测溶解氧、电导率、温度和酸碱度 YSI 6500与YSI 6系列多参数仪主机连接，可以提供不间断的数据。 YSI 650MDS型 多参数显示和记录系统 用来记录实时数据、校准6系列仪器、设置仪器以及上传数据到计算机等，专为野外使用而设计。YSI 650MDS配有防撞击外壳，符合IP67防水标准，即使掉入水中也能自动浮起。 YSI 600QS可同时测量溶解氧（%空气饱和度和毫克/升浓度）、温度、电导率、酸碱度、氧化还原电位（可选）、深度（可选） YSI 600LS型 高精度水位仪 可精确测量水位、流量、温度和电导率，可与YSI 650MDS、便携式电脑或数据采集平台配合使用。 YSI 600xlm/600xl多参数水质监测仪，各参数为：溶解氧（%空气饱和度与毫克/升浓度）、温度、电导率、比电导度*、盐度*、酸碱度、氧化还原电位、深度或水位、总溶解固体*和电阻率* YSI 600TBD型 浊度监测仪 是在YSI 600OMS光学监测系统平台上，以YSI 6136型 浊度传感器 为核心的浊度监测系统，用于河流、湖泊、池塘、河口及饮用水源水中悬浮固体状况的研究、调查和监测。该监测仪亦可同时测量温度、电导和深度或透气式水位。 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 是在YSI 600OMS光学监测系统平台上，以YSI 6025型 叶绿素传 感器为核心的叶绿素监测系统，用于河流、湖泊、池塘、海洋调查、养殖业、饮用水源、藻类和浮游植物状况的研究、调查和监 测。该监测仪还可同时测量温度、电导和深度或透气式深度。 YSI 6820EDS/6920EDS型 常规五参数水质监测仪 是一个特别设计直接投放在水体中用于长期在线监测的五参数仪。该常规五参数仪既可单独使用，亦可作为水质在线自动监测标准站的五参数仪部分集成到系统中。 YSI 6920DW/600DW型 饮用水多参数安全监测仪 应用于城市自来水供应管网系统中，连续采集水质数据以确认饮用水安全送达社区。 YSI 6820/6920型 多参数水质监测仪 是一个适用于多点采样、长期现场监测与剖面分析的经济型数据记录系统。用户可以自定数据采集的时间间隔期，存储读数可达150,000个。 YSI 6600主导型 多参数水质监测仪，巡测和剖面分析应用的最佳选择 YSI 6600是一款适用于多点采样测量、长期现场监测与剖面分析的多参数仪器，可同时监测多达17个参数。具有90天电池寿命与9组探头结构，其中包括两个供浊度、叶绿素或罗丹明探头同时安装的光学口。操作水深达200米 YSI Level Scout 水位跟踪者 ，透气 或 非透气式 不锈钢 或 钛合金材料 2MB或4MB内存 YSI Level Scout 水位跟踪者 拥有高精度的水位传感器技术，并融合了高精度的压力传感器技术与电源稳定微机电路系统 YSI 556MPS型 多参数水质检测仪，多探头系统成功地结合了便携式仪器与多参数系统的特点，其性能如下： 可同时测量温度、电导、盐度、溶解氧、酸碱度和氧化还原电位以及总溶解固体；所有数据同时显示在屏幕上 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，3米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 YSI 85D型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪（不带探头） YSI 55型 溶解氧、温度测量仪 ，手提式操作，亦可肩挂或腰悬 ，不锈钢探头，能抵御更严峻的野外条件；另外，金属的重量让探头更易于沉入水中 ，备有3.7米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 另有低电量显示 YSI 手提式酸度测量仪（60型、63型）是特别为野外测量而设计的专业酸度测量仪器，它克服了一般酸度计电极在野外应用的缺点。 使用特殊电缆屏蔽设计，突破传统酸度计电缆长度的限制，测量水深范围达30米 电极接头全封闭防水，整个探头可插入水中测量 探头加固保护，可抵抗轻度的碰撞 可更换式电极，经济、便于现场维护 ；检测酸度，盐度，电导，温度 YSI 550A 便携式溶氧仪，采用全水密（IP67防水等级）、防撞击仪器外壳，并启用创新性可于野外更换的溶解氧电极模块。使用YSI久经考验的极谱法技术和YSI全球高精密温度典范的热敏电阻法技术，可同时测量溶解氧和温度。新一代PE盖膜提供更快的反应时间和更低的搅拌依赖性。 YSI DO200便携式溶氧，温度测量仪， YSI公司最新推出一系列轻巧、便携式水质测量仪器，以高性价比提供准确的数据。仪器的人机界面友好，操作简单方便（可单手操作）。YSI DO200 可同时测量溶解氧（空气饱和度与毫克/升浓度）与温度。 YSI 58实验室溶解氧测量仪， 系统规格 溶解氧 (%空气饱和度) 测量范围分 辨 率 准 确 度 0至200%空气饱和度 0.1%空气饱和度 ± 0.3%空气饱和度 YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 YSI ProPlus型 手持式野外/实验室两用测量仪，多种参数选择：溶解氧、BOD、pH、ORP、电导率、氨氮、硝氮、氯化物和温度 YSI 9600型 硝酸盐监测仪 YSI 6500 连续监测溶解氧、电导率、温度和酸碱度 YSI 6500与YSI 6系列多参数仪主机连接，可以提供不间断的数据。YSI 6500 是水质监控的一种经济有效的选择，有效替代多台单参数设备，可减少安装和操作所需的人力物力。 YSI 650MDS型 多参数显示和记录系统 用来记录实时数据、校准6系列仪器、设置仪器以及上传数据到计算机等，专为野外使用而设计。YSI 650MDS配有防撞击外壳，符合IP67防水标准，即使掉入水中也能自动浮起。

HL-6301 土壤湿度测试仪 HL-6301 土壤湿度测试仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的湿度,无需电池.工作原理: 通过土壤中有机营养物质的电解值测出植物土壤水份情况, 把探针插入根部就可读出,无需电池.精确有效的测出植物土壤里的湿度；准确掌握各种植物生长的适宜条件；把探针插入根部土壤中就可读出准确的土壤湿度,MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

棉混纺保护袋用于Ø 1/2英寸或Ø 1英寸光学元件Ø 1/2英寸光学元件保护袋：1英寸 x 1英寸，无带盖Ø 1英寸光学元件保护袋：2英寸 x 2英寸，含带盖以10件套出售这些棉混纺保护袋可以将Ø 1/2英寸或Ø 1英寸光学元件装入其中，使光学元件在不使用时不受到环境因素带来的损坏。这些非织物保护袋不含粘合剂、化学品或裂缝，故不会对存放在其中的光学元件造成损坏。棉混纺材料不会损坏光学元件的表面或任何附着在元件表面的镀膜。*每套保护袋都含有10个空白不干胶标签，便于光学元件的辨识。右图显示了一个Ø 1/2英寸光学元件装在一个Ø 1/2英寸的保护袋中，上面贴有对应的标签。*警告：请不要用棉混纺保护袋存放我们的增透膜ND滤光片。相关测试显示棉混纺保护袋会污染滤光片上的镀膜。请使用我们的独立光学镜片存放箱子对其进行存放。不能使用这两种保护袋存放薄膜分束器、光栅或激光二极管，否则会损坏这些产品。带标签的BAG05CB中存放了一个Ø 1/2英寸的透镜

欧洲进口的开口闪点测试仪配件用于测定石油产品的闪电,具有自动程序温度控制功能，LCD显示,自动气压标定可用于火焰，点燃探测并自动打印结果数据，非常快捷而方便。开口闪点测试仪配件按照国标GB/T3536的"石油产品闪电和燃点测定法”和T0651"沥青山顶和燃点测试" （Cleveland Open cup method)。开口闪点测试仪配件特点用于测定石油产品和沥青材料的的闪点（低于79摄氏度），具有自动程序温度控制功能，LCD显示,自动气压标准，自动打印结果数据，非常快捷而方便。开口闪点测试仪配件参数电力要求：AC220V， 50Hz， 功率不高于500W温度测量范围：室温到300摄氏度；重复精度：=8摄氏度分辨率：0.1摄氏度精度：百分之0.5温度上升速度：符合GB/T3536标准点燃模式：电火焰全自动开口闪点测试仪,开口闪点测试仪由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度； Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： 1、U型压力计的校准 PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。五、使用与操作步骤PSI-4B型

德国HOLOEYE衍射光学元件（DOE） 衍射光学在工业中的应用越来越广泛。从印刷，材料处理，传感，非接触式测试，生物科技到光学技术和光学测量，衍射光学为激光系统提供了更多的增值。通过在激光光束的光场中使用使用衍射光学元件（DOE），激光光束的“形状”可以被控制灵活的调整到各种应用需求。 DOE元件表面的微结构，在光子自由空间传播的过程中扮演着路由的作用，衍射光学元件通过使用表面的微结构来实现光学函数。表面微结构浮雕有2个或多个台阶。表面结构一般刻蚀在熔融石英或者玻璃表面，或者刻蚀在各种聚合物材料上。HOLOEYE提供的衍射光学元件： 激光分束、平顶整形、图像生成光束整形元件线条衍射元件、十字线衍射元件 衍射透镜（菲涅尔透镜、微透镜阵列、柱透镜）光栅（振幅、相位、闪耀光栅）随机相位图波前生成定制衍射元件第一步是给出一个包含了所有参数的规格书，在一些情况下，需要进行可行性验证，HOLOEYE提供多种现成的衍射光学元件。这些产品的验证试验通常有助于规范的推导，另外，作为一个空间光调制器（SLM）的供应商。HOLOEYE拥有使用SLM设备来证明DOE光学性能的能力。 解决方案：系统分析可行性研究通过标准DOE或SLM进行试验性研究根据客户的要求定制衍射元件制作原型样品用于DOE复制的模板衍射元件复制光学性能测试

CP-Chirasil Val分离光学活性化合物氨基酸Agilent J&W CP-Chirasil Val 色谱柱专为分离光学活性化合物而设计，尤其适合氨基酸的分析。CP-Chirasil Val具有比其他固定相更低的流失水平，最高使用温度为 200 ℃，可实现等温和程序升温洗脱。同时提供两种对映体固定相。在 Chirasil-L-Val 色谱柱上，D-氨基酸比 L-氨基酸更快洗脱，而在 Chirasil-D-Val 色谱柱上，洗脱顺序则相反。这尤其适用于测定化合物的光学纯度。如果选择的色谱柱可使微量组分在主要对映体之前洗脱，可以获得最低的检测限。1、CP-Chirasil Val为分离光学活性化合物包括氨基酸而设计2、同时提供两种对映异构体固定相（D 和 L），满足最广泛的用途3、CP-Chirasil Val固定相稳定，超过 50% 实现交联，使用寿命超长4、专为氨基酸对映异构体设计并经过了测试，数据可靠性毋庸置疑5、低流失注：在 Chirasil-L Val 色谱柱上，D-氨基酸在 L-氨基酸之前洗脱，而在 Chirasil-D-Val 色谱柱上，洗脱顺序则相反。这尤其适用于测定这些化合物的光学纯度。如果选择的色谱柱可使微量组分在高浓度的对映异构体之前洗脱，可以获得最低的检测限。Agilent J&W CP-Chirasil Val 的配置选择毛细管柱内径 (mm)0.25 mm长度（m）25 m膜厚（μm）0.08 – 0.12 μm温度限 (℃)200/200 ℃

全自动酶标仪配件是一款光吸收酶标仪,提供光度吸收范围为0.000-4.000Abs，全自动酶标仪配件是用途广泛的酶联免疫分析仪器,根据酶标记原理，根据呈色物的有、无和呈色深浅进行定性或定量分析。 全自动酶标仪配件可应用于单克隆抗体筛分、凝血分、抗生素灵敏度检验，以及其它需要进行比色的分析工作中,适用于临床检验、微生物学、流行病学、免疫学、 内分泌学以及农林科学等领域。 全自动酶标仪配件特色： * 计算机控制操作， Windows Xp系统 *8通道光纤系统可读取5个参数 *双向彩色测量，计算模式包括： ABS， Cut off, Curve, Linear-log, exponential regression. * 一个微板可做高达12种不同测试 *强大的实验室管理软件，可存储100种程序命令和100,000测试结果 *强大的质量控制（QC)功能：Westguard多规则，自动报警等； 全自动酶标仪配件参数 型号：FP-UT6100, 标准产品容纳96孔微板 测量原理：吸收光谱法 光度范围：0.000-4.000Abs 分辨率：0.001Abs(显示),0.0001Abs(计算） 精度： +/-0.5% or +/-0.005Abs 微板类型： 标准96孔板或其它类型 波长： 405nm,450nm,492nm,630nm 测量范围： 0.0000-2.5000Abs 光学系统：8 通道光学系统 光源：汞灯 波长精度： +/-1nm 宽带：8nm 计算方法：ABS，cut off, curve, multi-percent, percent log, linear, exponential, power, 4PL regression 读取速度：5秒，96孔板，单波长 摇板： 摇晃时间和速度可调 内存： 100测试协议，100000个测试结果 接口：RS-232, USB 读取速度： 单波长，5秒钟测96孔试管 输出：外置打印机（可选） 重量： 7kg 尺寸：L454xW295xH146mm 电力供应：AC110-240V，50-60Hz 孚光精仪是全球领先的进口精密科学仪器领导品牌服务商，拥有包括酶标仪，洗板机在内的齐全精密科学仪器品类，具有全球领先的制造工艺和质量控制体系。 我们国外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 更多关于全自动酶标仪价格等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

唐海红 13120400643 美国YSI 600OMS V2光学监测仪 美国YSI 600OMS V2光学监测仪 产品介绍YSI 600OMS V2 光学监测仪 外形小巧、轻便耐固、耗电低，一个光学端口，可随时安装、更换YSI出品的光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT和蓝绿藻中的任一传感器，以满足各种应用需求。 这是一款使用灵活、操作方便的光学监测仪，既是理想的便携测量仪，又可用于长期野外监测。 YSI 600OMS V2传感器规格 参数 测量范围 分辨率 准确度 光学溶解氧1 (%空气饱和度) 0-500% 0.1% 0-200%：读数之± 1%或1%空气饱和度，以较大者为准； 200-500%：读数之± 15% 光学溶解氧1 (毫克/升) 0-50毫克/升 0.01毫克/升 0-20毫克/升：读数之± 1%或0.1毫克/升，以较大者为准；20-50毫克/升：读数之± 15% 温度 -5至50℃ 0.01℃ ± 0.15℃ 深度(浅水) 0-9米 0.001米 ± 0.018米 深度(中水) 0-61米 0.001米 ± 0.12米 深度(深水) 0-200米 0.001米 ± 0.3米 透气式水位 0-9米 0.001米 ± 0.003米 浊度1 0-1,000NTU 0.1NTU 读数之± 2%或0.3NTU,以较大者为准3 罗丹明WT1 0-200微克/升 0.1微克/升 读数之± 5% 或1微克/升，以较大者为准 参数 测量范围 检出限 分辨率 线性 叶绿素1 0-400微克/升 叶绿素a 0.1微克/升 叶绿素a 4 0.1微克/升 叶绿素a；0.1RFU R2＞0.99997 蓝绿藻－藻蓝蛋白1 0-280,000细胞/毫升；0-100RFU 220细胞/毫升5 1细胞/毫升；0.1RFU R2＞0.99998 蓝绿藻－藻红蛋白1 0-200,000细胞/毫升；0-100RFU 450细胞/毫升6 1细胞/毫升；0.1RFU R2＞0.99999 1.所有光学探头的最大测量深度为61米 2.可同时提供比电导度（修正至25℃的电导率）、电阻率和总溶解固体的数据输出，这些参数是根据水和污水测试行业标准(Standard Methods for the Examination of Water and Wastewater)的方程式由电导率计算出来 3.使用AMCO-AEPA聚合物标准 4.通过萃取确定的海洋藻和叶绿素a的值 5.铜绿微囊藻培养的估计值 6.含有蓝绿藻的藻红蛋白培养的估计值 7.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-500微克/升) 8.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-400微克/升) 9.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-8微克/升)。

产品介绍： LT-03A泄漏与密封强度测试仪专业适用于各种热封、粘接工艺形成的软、硬金属、塑料包装件、无菌包装件等各封边的封口强度、蠕变、热封质量、以及整袋胀破压力、密封泄漏性能的量化测定，各种塑料防盗瓶盖密封性能、医用湿化瓶、金属桶及封盖的量化测定，各种软管整体密封性能、耐压强度、帽体连接强度、脱扣强度、热封边封口强度、扎接强度等指标的量化测定；同时也可对软包装袋所使用材料的抗压强度、耐破强度等指标，瓶盖扭力密封指标、瓶盖连接脱扣强度、材料的应力强度、以及整个瓶体密封性、抗压性、耐破性等指标进行评估分析。产品特点：● 智能全自动、功能齐全、高精度、高效率● 最大量程＞1.8Mpa，符合最新国标要求（需定制）● 系统采用正压法测试原理，膨胀抑制、膨胀非抑制双重试验方法，满足多重任务● 防盗瓶盖脱离、泄漏、端盖脱离、瓶体耐内压、软包装破裂测试、蠕变测试、蠕变到破裂测试多种试验模式满足用户不同的测试需求● 专利设计，有效避免过冲● 自带针式打印机、结果永久保存● 双重压力保护，安全稳定● 试验量程可选，非标夹具可定制产品配置：标准配置：主机、测试架选购件：测试附件（约束板试验装置；开口包装试验装置；塑料防盗瓶盖密封性能试验装置；圆柱型复合罐端盖脱离装置；软管密封性能试验装置；气雾剂阀门密封性能试验装置）、药用泡罩密封性试验等装置备注：本机气源接口为Φ6 mm 聚氨酯管；气源用户自备

大连力迪流体控制技术有限公司代理比利时it4ip 径迹蚀刻膜 核孔膜，近30年进口工业品经验,常备大量现货库存,支持选型，在中国设有：上海，北京，广州，南京，成都，沈阳，长春办事处，可为您提供维修服务。售后服务工程师，可及时到现场给客户提供安装调试指导服务。一、it4ip 公司介绍比利时it4ip 成立于2006年，起源于1980年代在UCLouvain（比利时）发展起来的一家以技术为基础的私营公司，专注于开发、生产和提供径迹蚀刻过滤膜，it4ip利用径迹蚀刻技术（track-etching tenology）制造具有多种不同应用的微米和纳米多孔径迹蚀刻膜，用于石棉纤维检测、血液过滤、癌细胞筛选或微米和纳米体的合成等。It4ip 径迹蚀刻膜的特点是具有精确的过滤阈值，从10nm 到几十微米不等，具有很小的厚度和特别的表明特性。It4ip的生产和转换能力为每年150000平方米，可根据客户的要求，以卷、片、盘或其他形式提供各种产品以及OEM解决方案。 二、it4ip 径迹蚀刻膜的原理It4ip径迹蚀刻膜的原理是用高能粒子辐照聚合物薄膜，形成潜在径迹，然后通过特定的化学处理将这些径迹转化为规则的孔隙。该技术在洁净室中实施，适用于以几百米长的轧辊形式连续生产。 It4ip径迹蚀刻膜的制造包括两个步骤：即聚合物薄膜的离子光束辐照和辐照后聚合物薄膜的化学蚀刻。化学蚀刻通常在浓度和温度控制良好的碱性水溶液中进行。其主要特征是径迹蚀刻速率（Vt）和体蚀刻速率（Vg）。为了获得具有圆柱形孔的均质膜过滤器，需要高比率的Vt/Vg。径迹密度或所需孔密度由离子束的强度和薄膜的速度所决定。孔径由化学蚀刻条件决定，因此径迹蚀刻膜可以进行孔径和空密度的选择。先进的径迹蚀刻技术可应用于聚酰亚胺（PI）、聚酯(PET)和聚碳酸酯（PC）。其中聚酰亚胺的径迹蚀刻是it4ip 独有的技术。三、it4ip 径迹蚀刻膜的产品介绍It4ip轨道蚀刻过滤膜是采用优质原材料和轨道蚀刻技术制造，材料有聚碳酸酯（PC）、聚酯（PET）或聚酰亚胺（PI）薄膜。It4ip轨道蚀刻过滤膜具有均匀和精确的孔径，窄的截止孔，宽的空隙率，厚度从6μm到50μm不等。作为筛选过滤膜，其光滑平坦的表面使其适合于对残留颗粒进行精确分析的应用。It4ip具有大的制造能力， 可生产50厘米宽的卷轴（宽达50厘米，长400米），也可根据客户的要求，将窄的卷轴（宽达10毫米）转换为各种格式，例如薄片、正方形、圆盘或任何其他尺寸的样品。it4ip 径迹蚀刻膜的产品特点：孔径从0.01μm到30μm，宽的孔隙率，孔隙率达50%6-50μm的厚度，采用高质量的原材料，聚酰亚胺PI，聚碳酸酯PC 和聚酯PET孔排列及孔长度的多种选择，直的或者多角度的白色、黑色、透明等多种颜色和表面涂层大规模生产和转化能力，多形状，宽幅的，窄幅的，片状、正方的，盘状等低萃取性、低蛋白结合、可忽略吸附和吸收、生物相容性、优异的耐化学性和热稳定性It4ip 提供的径迹蚀刻膜产品包括ipPORE™ 径迹蚀刻过滤膜，ipBLACK™ 径迹蚀刻过滤膜，ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜，材料有有聚碳酸酯（PC）和聚酯（PET）两种，孔径和厚度可选，其中ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜经过专有的表面处理方法进行处理，以促进多种细胞系的生长和分化，具有优异的细胞粘附性，用于细胞培养及信号传导等研究。 it4ip轨道蚀刻膜主要产品：ipPORETM 轨道蚀刻膜过滤器、ipBLACKTM 轨道蚀刻膜过滤器、ipCELL CULTURETM轨道蚀刻膜过滤器、it4ip核孔膜、it4ip轨道蚀刻膜过滤器、it4ip径迹蚀刻膜过滤器、it4ip聚碳酸酯膜过滤器、it4ip PET膜过滤器、it4ip聚酰亚胺膜过滤器等

产品详情 XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜，以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度：下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上，使用两种材料：聚酯（聚酯薄膜）和聚丙烯（商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”，例如以“lene”结尾的，通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜）。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料，聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体（例如水、聚乙二醇和高沸点油）。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析，因为它没有主要成分其中的污染。相比之下，聚酯薄膜含有不需要的磷和钙（3.5 µmMylar 对应于纯油（例如清洁白油）中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜，例如Hostaphan（带有硅污染的聚酯）或聚碳酸酯（不含污染，首选用于燃料分析）受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明，因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。

双轴电动位移光学安装架可以安装直径1英寸的光学元件，配备的是光电耦合限位开关，非常适合电动远程控制镜片,是尖端的光学安装架,光学调整架。双轴电动位移光学安装架8MTOM2-1由5TOM2-1 XY光学平移安装架和 8CMA20-8/15 紧密型电动促动器组成。还提供真空模型版本。 双轴电动位移光学安装架规格分辨率 全步进 1.25μM 1 / 8步 0.156μM光学元件直径 25,4mm通孔 23mmXY平移距离范围 ±2mm丝杠螺距 0.25mm安装的促动器 2 x 8CMA20-8/15电缆 长度2m,包括在包装内电机连接器 HDB15(M)（接线图）重量 0,8 kg控制器 推荐 8SMC4-USB 8SMC3-RS232 8SMMC2光耦端限位开关 2/促动器极性转换开关 推动“开放 ”

可变线性光栅测试靶, 提供90根线条，分布总宽度是100mm。分辨率从1.25线对/毫米到250线对/毫米,该测试靶主要用来确定光学系统的分辨率。线条长度变化可以帮助数数。由低反射率、真空溅射的铬电镀到厚0.175mm厚的聚酯膜上。欢迎登陆海德网站或来电获取详细信息。 订购信息：货号产品描述规格R72可变线性光栅（R72 Sayce Logarithmic Test Chart）个 价格仅供参考，详情请电询

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

自动克里夫兰开口闪点测试仪配件国产自动克利夫兰开口杯闪点测试仪按照国标GB/T3536-2008的"石油产品闪电和燃点测定法”（克里夫兰开口法)，用于测定石油产品和沥青材料的的闪点（高于79摄氏度）,不适合燃油。自动克里夫兰开口杯闪点测试仪配件参数电力要求：AC220V， 50Hz， 功率不高于400W 温度测量范围：室温到400摄氏度；重复精度：=4摄氏度 分辨率：0.1摄氏度精度：百分之0.5温度上升速度：符合GB/T3536标准点燃模式：电火焰自动克里夫兰开口杯闪点测试仪配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！

流程简述： 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台，利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程，通过3D仿真实验装置交互式操作，产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验，观察实验现象，记录实验数据，验证公式、原理定理。另外，该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络，教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主，兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺：1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热（水-蒸汽）实验1.5 、传热（空气-蒸汽）实验1.6 、精馏（乙醇-水）实验1.7 、精馏（乙醇-丙醇）实验1.8 、吸收（氨-水）实验一1.9 、吸收（氨-水）实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置：学员站：CPU：奔腾E2140或更强的CPU（或AMD Athlon X2 4000）内存：1G以上显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows XP SP2/SP3教师站：CPU：奔腾E5200或更强的CPU（或AMD Athlon X2 5000）内存：1G以上（推荐2G以上）显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows Server 2003 SP2网络要求：网络必须稳定通畅(统一式激活)

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。