光学影像仪测试原理

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光学影像仪测试原理相关的仪器

  • 快速安装和快速部署可以帮助您加快上市时间。SG-A系统是世界第一个用于CMOS图像传感器测试仪。可以提供最全面的CMOS图像传感器参数表征,如全谱量子效率QE、整体系统增K、时间暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和主光线角CRA。被测设备可以是多种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此,SG-A CMOS图像传感器测试仪可以于晶圆级光学检测、工艺参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束(1°)可以克服传统光学传统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测难题。这些工艺包括小像素( 1 um)、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等。特性:无损光学检测。高度准直樑角 / 高准直波束角 0.05 度, 0.1 度, 0.5 度 ,1 度, 3 度 (不同型号)高均勻光束点:≥ 99%。光的不稳定性≤1%。高动态范围测试能力:80dB ~ 140dB(不同型号)。可测试 CMOS 图像传感器参数:量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流非均勻性)、PRNU(光响应)非均勻性)、CRA(主光线角)。全光谱波長范围:300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm(PTC)。波长可扩展至 1700nm 以上。DUT 封裝:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有 / 无微透镜。SG-A 和 DUT 之间的 “直接” 或 “握手” 通信協议。定制的測试夾具和平台(手动或自动,最多 6 軸)。強大的分析软件 ARGUS。应用:指纹识別(CIS + Lens、CIS + 准直器、TFT-array sensor)CIS 微透镜设計、晶圆级光学检测、CIS DSP 芯片算法开发、Si TFT 传感器面板、Time-of-Flight 相机传感器、Proximity 传感器(量子效率、灵敏度、线性度、SNR 等)、d-ToF 传感器、i-ToF 传感器、多光谱传感器、环境光传感器 (ALS)、显示屏下指纹 (FoD) 传感器。 可针对影像传感器,或影像探测器晶片或模组进行以下参数量测量子效率Quantum efficiency)系统增益Overall system gain)暂能暗杂讯Termporal dark noise)信号杂讯比Signal to noise ratio绝对灵敏度阈值Absolute sensitivity threshold饱和容量Satuation capacity动态范围Dynamic range空间非均匀性(暗像素偏移,亮像素偏移)Spaturation nonuniformity(DSNU,PRNU)线性度误差Linearity error主光线角CRA
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  • 显微光学影像系统 400-860-5168转2812
    仪器简介: SCI-302型显微光学影像系统将传统的测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将颗粒在显微镜下的图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。SCI-302型显微光学影像系统融合了当今先进的图像处理和分析技术,产品设计符合国际标准ISO-13322-1,可完成几十项颗粒几何形态学的参数测量和图像几何形状的测量。软件同时配备专用的数据报表,可直接按颗粒的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。技术参数: 1.量程范围:1~3000μm;2.最大光学放大倍数:1600倍。3.显微镜:光学显微镜4.最大分辨率:0.1μm/像素;5.准确性及重复性误差:<3%;6.数字摄像机(CCD):500万像素;7.自动分割速度:≤1秒;8.分割成功率:≥97%;配置参数: 三目生物显微镜:平场目镜:10X、16X 消色差物镜:4X、10X、40X、100X (油) 总放大倍数:40X-1600X应用范围: 适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析软件功能及报告格式:1、 可以对图像进行多种处理。如:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节等几十种功能2、 具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量3、 可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性方式绘出分布图数据输出: 周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、中间径(D50)、有效粒径(D10)、限定粒径(D60)、D30、D97、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。
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  • 显微光学影像系统 400-860-5168转2438
    仪器简介: SCI-302型显微光学影像系统将传统的测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将颗粒在显微镜下的图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。SCI-302型显微光学影像系统融合了当今先进的图像处理和分析技术,产品设计符合国际标准ISO-13322-1,可完成几十项颗粒几何形态学的参数测量和图像几何形状的测量。软件同时配备专用的数据报表,可直接按颗粒的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。技术参数: 1.量程范围:1~3000μm;2.最大光学放大倍数:1600倍。3.显微镜:光学显微镜4.最大分辨率:0.1μm/像素;5.准确性及重复性误差:<3%;6.数字摄像机(CCD):500万像素;7.自动分割速度:≤1秒;8.分割成功率:≥97%;配置参数: 三目生物显微镜:平场目镜:10X、16X 消色差物镜:4X、10X、40X、100X (油) 总放大倍数:40X-1600X应用范围: 适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析软件功能及报告格式:1、 可以对图像进行多种处理。如:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节等几十种功能2、 具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量3、 可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性方式绘出分布图数据输出: 周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、中间径(D50)、有效粒径(D10)、限定粒径(D60)、D30、D97、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。
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光学影像仪测试原理相关的方案

光学影像仪测试原理相关的论坛

  • 西安光机所研制成功高速“医用光学相干断层影像仪”

    中科院西安光学精密机械研究所研究团队近日成功研制完成高速“医用光学相干断层影像仪”(OCT)。该样机可高速、无损采集人眼视网膜活体断层影像,分辨率比现有眼科超声高10倍以上,并可快速重建出3D眼底结构图,为疾病更早期、更准确的诊断提供了便利。 OCT是一种高分辨率的生物活体成像技术,其原理是利用光进入生物体后被不同密度的组织反射回来,干涉后进行信号解调而成像。OCT检查过程中无须任何外加显影剂、无辐射、无创、分辨率高,安全性高。在眼科临床方面,主要用于眼底黄斑区及视神经疾病的诊断,特别对于老年性黄斑变性、青光眼、糖尿病视网膜病变、高度近视性眼底病变,拥有CT或超声无法替代的功能,俗称眼科CT。 OCT系统融合干涉光学,弱信号探测,色散补偿,图像处理多种技术,是典型的交叉学科和系统工程。特别是其中高速光谱信号解调模块,决定着整体系统的成像速度及图像信噪比。西安光机所科研团队通过改善各个环节的光学及硬件设计,在保证图像信噪比前提下,实现了每秒5万次的线扫描,超过国外同类高端眼科OCT的最快速度,为在硬件上为实现快速3D扫描奠定了基础。 在后端数据处理方面,当前国外产品多采取电路或CPU方式实现并行数据处理,开发周期长,性价比低。该团队另辟蹊径,结合近年来发展迅速的图像显卡处理单元(GPU)技术,利用成熟的显卡做并行数据计算,对比使用CPU运算方案,计算速度提高了100倍以上,配合之前的高速扫描硬件,顺利实现了眼科图像的3D快速成像。 借助该设备,医生只需简单操作,即可在1秒之内扫描出一幅人眼视网膜的三维断层影像,医生可在该影像数据基础上对病人的视盘、黄斑等参数进行数字化分析,使诊疗更加精准。

  • 直读光谱光学系统手动描迹的原理

    直读光谱光学系统手动描迹的原理

    【为什么要进行直读光谱光学系统的描迹功能】: 入射狭缝是分光系统的重要组成部分,由于环境的温度、湿度及震动的影响,引起入射狭缝的漂移,直接影响光谱仪的照度和分辨率。入射狭缝一般为20微米左右,通常安装在一个带有螺杆的驱动装置上,转动鼓轮带动螺杆移动,可将确定入射狭缝的中心位置。【直读光谱光学系统手动描迹的原理】: 转动描迹鼓轮,检测器记录下选定通道的光强,光强呈钟形分布(如图所示)。为定位更准确,不是直接找光强的最大值(Point1),而是选定距离最大值等距离的两点(Point3、Point4),然后计算平均值,确定入射狭缝的中心位置(Point6)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667443_1841897_3.png

  • 光学3D表面轮廓仪测量磨损定量的原理

    “摩擦,摩擦,在这光滑的地上摩擦…..”还记得庞麦郎的一首《我的滑板鞋》风靡大街小巷,广场上卷起了一股溜滑板鞋的浪潮。尔今浪潮已退,但摩擦声却未消失,作为一柄对社会发展起着双刃剑作用的武器,各大高校和科研机构一直都在对摩擦学进行着持续的研究,而中图仪器[b]SuperView W1光学3D表面轮廓仪[/b],就是该领域最时尚的滑板鞋,载着研究人员疾驰,手持武器,所向披靡。  摩擦学是一门研究物体相对运动时其表面摩擦、润滑、磨损三者间相互关系的交叉学科,摩擦学实验研究的重点和难点之一在于对磨损量的定量分析。磨损量涵盖了磨损区的轮廓尺寸、粗糙度、体积这线、面、体三个维度方面的参数,量级从纳米到毫米不等,又由于不可破坏性测量,传统的低精度接触式轮廓仪和影像仪无法适用,而以白光干涉为原理、具备高精度、非接触式测量能力的光学3D表面轮廓仪登上了摩擦学研究的舞台。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238760989.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808231572145.jpg[/img][/align][align=center]图1 工作中的CSM摩擦磨损测试仪[/align]  上图展示的是一款工作中的CSM摩擦磨损测试仪,经过十数小时的摩擦,铜板表面出现了一圈圈摩擦痕迹,即为磨损区域,对磨损区域进行尺寸上的定量分析,是研究的重要组成部分,下面我们使用中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪对一块经过摩擦试验处理的铜板进行线、面、体三个维度的定量分析。一、一维:线_轮廓尺寸  取一块摩擦处理过的铜板,使用SuperView W1光学3D表面轮廓仪对其中未摩擦过的光滑区域和摩擦过的磨损区域进行扫描,获取其3D图像。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808239913954.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808234541029.jpg[/img][/align][align=center]图5 磨损区的剖面轮廓曲线[/align]  从图中可以看到,相对光滑区细致较浅的划痕,磨损区充满了坑坑洼洼的槽,在磨损区3D图像上提取一条剖面轮廓曲线,可以获取槽深和槽宽的轮廓尺寸数据。二、二维:面_粗糙度  分别在光滑区和磨损区选取若干点,测量分析显示经过摩擦磨损试验过的区域线粗糙度和面粗糙度均增大了至少十几倍。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808235791766.jpg[/img][/align][align=center]图6 光滑区域粗糙度[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808237197020.jpg[/img][/align][align=center]图7 磨损区域粗糙度[/align]三、三维:体_体积[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238604911.jpg[/img][/align][align=center]图8 磨损区3D图像&孔洞体积测量[/align]  如右上图,利用分析工作“孔洞体积”对磨损区进行区域体积分析。在选择的分析区域中,位于基准面(蓝色方框)上面的顶点区域显示为红色,位于基准面下方显示为绿色,利用“孔洞体积”分析工具可直接获取该区域内上下两部分的面积、体积、深度数据。  一线二面三体,中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪能让研究人员掌握三个维度精确的数据信息,从而对摩擦磨损区进行全面的分析判断,如同穿上了酷炫的滑板鞋,在摩擦学研究这个舞台秀出华丽的舞步。

光学影像仪测试原理相关的耗材

  • 光学平台防尘罩
    光学平台防尘罩1CB专业为光学平台配备的防尘空间,它高效空气过滤器和欧洲高级无味塑料帘组成完整钢框架,使得光学平台成为层流工作站,快速为任何实验室或车间提供局部干净的操作环境。 光学平台防尘罩特点 风机声音超低 50dBA 无味塑料窗帘 高效空气过滤器 垂直层流工作站工作原理 对于激光实验,激光制造,光学器件制造,激光器修复或研究等应用而言需要一种比较洁净的操作空间,避免光学器件吸入灰尘颗粒。但在大多数实验室中,数以百万计的粒子将可能落在光学器件表面,或者被激光束的能量捕获到光学器件表面。一旦光学器件表面上有微粒,激光束会聚集能力烧毁光学镀膜,造成激光腔内能量的衰减。而且,被烧毁的颗粒将吸收更多的能量使光学表面局部发热。局部发热将引 起热透镜效应和光学镀膜的进一步损伤。光学平台防尘罩1CB直接安装到光学平台可以有效清除灰尘颗粒,保护光学器件免受这一问题影响。。 光学平台防尘罩订购 示范模型1cb- 08-20-TS结合了已验证蜂窝光学台面1HT08-20-20 (800 x 2000 x200mm) ,坚固的1TS05-12-06-AR光学台支承和新型配置了窗帘的1CT-08-20 空气过滤器。订购隔振系统1VIS (1CB-08-20-VIS) 代替静态刚性支承1TS,可以提高性能和稳定性。光学台面的具体信息可以访问隔振系统和镜头光学台支承装置页面。 如果您已经有了光学台装置,也想要购买过滤器装置,Standa公司可以根据您的要求定制过滤器尺寸。根据您的应用程序大小配置相应的HEPA高效过滤器数量。请注意,该过滤器支撑钢框架有横梁,就在光学台面下方,订购时,请确保光学台面下方有可用的垂直空间。 层流台面工作站功能如下: 光学平台防尘罩1CB防尘过滤系统 采用铰接式框架1cb-mm安装的监控器 6 个欧式插座1cb-es 日光灯(冷白)1cb-wl 在光学台1cb-pcs下面的计算机 特殊单元可以单独订购。 OEM版本提供了进一步的定制-你也可以定义完全或部分覆盖(任何大小)的屏蔽空间。 过滤器规格: 低声音,低瓦,低姿态,低运行成本。 三速开关功能低,中,高设置;标准的所有2英尺×4英尺(600毫米×1210毫米)和2英尺×3.5英尺(600毫米×1057毫米)单位。 固态速度控制标准的2英尺×2英尺(600毫米×600毫米)和2英尺×3英尺(600毫米×905毫米)单位。 前向离心式风机。 高效微粒空气(HEPA)UL 900过滤器:99.99%微米高效@ 0.3。 极其安静的 50分贝 卡在预过滤器可以方便更换和维护。 轧机成品铝外观。 IEST推荐RPC标准测试。 UL认证(120V,240V,277v)与标准UL 900滤波器。
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 塑料烟密度测试仪GB/T8323.2-2008、 ISO 5659
    产品介绍烟密度测量的主要原理是在特定的空间内,线缆或材料在特定的燃烧或辐射条件下产生烟雾,光束穿过烟雾后会产生衰减,测量光束的透光率并计算得出比光密度和烟密度。泰思泰克烟雾密度箱依据 ISO5659 相关标准设计研发。与锥形辐射炉配合使用,可使箱内的热通量高达 50 kW/m2,并可横向定位样品,测试样品质量损失率。这也符合最新 IMO 测试条款。测量样品,在密闭空间内有/无前锋火焰时,垂直暴露于放射性热源 25 kW/m2 的情况下,产生的烟雾密度。使用ISO 5659 锥型辐射加热炉,用户可以将加热条件由10 ?/㎡ 任意调整为 50?/㎡ 或者 70kW/㎡。型号: TTech-GBT8323.2参考标准:? GB/T8323.2-2008? ISO 5659-1:塑料-生烟-第1部分:光密度试验原则? ISO 5659-2 : 塑料的烟生成 -Part 2: 单体箱测试获得材料的光密度箱体结构:1、测试箱有箱体、样品盒、辐射锥、点火器、透光和测量装置及其他相关控制装置组成;2、人机工程学的结构设计与控制设计;箱体采用全开门的设计方式 门锁设计便于一次性关闭箱门;优化操作流程;3、测试箱门可完全打开,方便装卸样品和清洁箱体 4、前门铰链安装,配有视窗及可遮挡视窗的活动不透明遮光板,以避免光线进入密封箱;5、控制器位于箱体侧面,方便操作。箱门关闭时也不影响查看控制器;6、安全熄火板,更换简易,操作更安全;7、可提供气体测量口,用于测试气体毒性;8、测试箱体的涂层易于清洗且抗化学腐蚀; 燃烧装置:1、 加热锥:功率2600W,输入温度范围在0~1000℃,50分钟内可稳定在±2℃之内,可提供10KW/m2-50KW/m的辐射照度。2、 使用质量流量控制器和压差传感器可提升测压计的精确度和实现自动泄露测试3、 点火器配有自动点火装置;火焰长度30mm±5mm 按照标准规定蓝色火焰,顶端带有黄色; 烟密度测量系统:1、 烟雾密度和温度均以数码显示,查看更简便,数值更精准2、 光电探测组件包括光电倍增管、放大滤光片、光闸、滤光片、中性滤光片、透镜、光学窗口等组成;3、 光源为6.5V白炽灯光源;4、 箱体顶部安装光学暗盒,光源接受为侧窗型光电倍增,透光率精度可达到0.001%5、 消色差透镜 6、 硅光电池片 7、 高增益低噪音放大器控制电路 控制系统1、自动完成测试 各种信号自动采集;2、品牌电脑、3、打印机为选配4、电压:220V 功率4KW;5、丙烷气客户自备;

光学影像仪测试原理相关的资料

光学影像仪测试原理相关的资讯

  • 科众精密仪器-光学接触角测量仪原理
    科众精密-光学接触角测量仪原理 接触角是液体在液固气三态 交接处平衡时所形成的角度,液滴的形状由的表面张力所决定,θ 是固体被液 体湿润的量化指标,但它同时也能用于表面 处理和表面洁净的质量管控,表面张力 液体中的分子受到各个方向 相等的吸引力,但在液体表面的分子受到液体分子的拉力会大于气体分子的拉力,所以 液体就会向内收缩,这种自发性的收缩称之为表面张力 γ。对于清洗性,湿润度,乳化作用和其它表面相关性质而言,γ 是一个相当敏感的指标 悬垂液滴量测法悬垂液滴测量能提供 一个非常简便的方法来量测液体的表面张力 (气液接口) 和两个液体之间的接口张力 (液液接口) ,在悬垂液滴量测法中,表面张力和界面张力值的计算是经由分析悬吊在滴管顶端 的液滴的形状而来,接触角分析可依据液滴的影像做 杨氏议程计算 表面张力和接口张力。这项技巧非常的准确,而且在不同的温度和压力下也可以量测。 前进角与后退角使用在固体基板上的固着液滴可以得到静态的接触角。另外有一种量测方式称之为动态接触角,如果液固气三态接触的边界是处于移动状态,所形成的角度称之为前进角与后退角,这个角度的求取是由液滴形状的来决定。另外,固体样品的表面张力无法被直接量测,要求取这个值,只要两种以上的已知液体, 就可求得固体表面的临界表。以下是通过接触角测量仪测量单位济南大学材料学院设备序号5设备名称接触角测定仪 数量1调研产品(品牌型号)科众KZS-20共性参数1. 接触角测量范围:0~180°,接触角测量分辨率:±0.01°,测量精度±0.1°。2. 表界面张力测量范围和精度:0.01~2000mN/m,分辨率:±0.01mN/m。3. 光学系统:变焦镜头(放大倍率≧4.5倍),前置长焦透镜,通光量可调节。4. 高清晰度高速CCD,拍摄速度可达1220张图像/S,像素最高可达2048 x 1088。5. 光源:软件可调连续光强且无滞后作用的光源。6. 注射体积、速度可以软件进行控制;注射单元精度≤0.1uL;注射液体既可通过软件,亦可通过手动按钮控制液体注射。7. 注射单元调节:注射单元可进行X-、Y-、Z-轴准确调节;8. 整个注射单元支架可以旋转90°调整。9. 滚动角测量:自动倾斜台(整机倾斜),可调节倾斜角度范围≥90°,可测量滚动角。10. 接触角拟合方法:宽高法、椭圆法、切线法、L-Y法11. 动态接触角计算:全自动的动态接触角测量,软件控制注射体积、速率、时间,自动计算前进角和后退角。12. 表面自由能计算:9种可选模型计算固体表面自由能及其分量,分析粘附功曲线、润湿曲线。13. 具有环境控温功能,进行变温测试(0-110 oC), 分辨率0.1K。14. 品牌计算机: i7 4790 /8GB内存/1TB(7200转)硬盘/2G独立显卡/19英寸液晶显示器/DVD刻录光驱。15. 必备易耗品(供应商根据投标产品功能提供)16. 另配附件,要求:进口微量注射器3个,备用不锈钢针6根,一次性针头100根、适合仪器功率的稳压电源(190-250V)1台、配置钢木结构实验台( C型钢架、钢厚≥1.5mm,长2m、宽0.75m,板材采用三聚氰胺板,铝合金拉手,铰链采用国际五金标准,抽屉三阶式静音滑轨、抽屉负重≥25KG,含专用线盒,可安装5孔或6孔插座,优质地脚)。17. 售后服务:自安装调试验收完毕后之日起24个月内免费保修;每年提供至少一次的免费巡检。
  • 西安光机所研制成功光学相干断层影像仪
    日前,高速光学相干断层影像仪(OCT)由中科院西安光学精密机械研究所研制成功。   据研发人员介绍,该样机可高速、无损采集人眼视网膜活体断层影像,分辨率比现有眼科超声高10倍以上,并可快速重建出3D眼底结构图,为疾病更早期、更准确的诊断提供便利。借助该设备,医生只需简单操作,即可在1秒之内扫描出一幅人眼视网膜的三维断层影像。医生可在该影像数据基础上对病人的视盘、黄斑等参数进行数字化分析,使诊疗更加精准。   OCT是一种高分辨率的生物活体成像技术,其原理是对进入生物体后被不同密度的组织反射、干涉的光加以信号解调,进而成像。OCT检查无需任何外加显影剂,具有无辐射、无创、分辨率高、安全性高的特点,主要用于眼底黄斑区及视神经疾病的诊断,特别适用于老年性黄斑变性、青光眼、糖尿病视网膜病变、高度近视性眼底病变等疾病,拥有CT或超声无法替代的功能,俗称眼科CT。   OCT系统融合干涉光学、弱信号探测、色散补偿、图像处理等多种技术,是典型的交叉学科和系统工程。西安光机所科研团队通过改善各个环节的光学及硬件设计,在保证图像信噪比前提下,实现了每秒5万次的线扫描,超过国外同类高端眼科OCT的最快速度,在硬件上为实现快速3D扫描奠定了基础。
  • 粒子束成像设备的分辨能力测试原理和测试方式
    一、测试原理粒子束成像设备如SEM、FIB等,成像介质为被聚焦后的高能粒子束(电子束或离子束)。以扫描电镜(SEM)为例,通过光学系统内布置的偏转器控制这些被聚焦的高能电子束在样品表面做阵列扫描动作,电子束与样品相互作用激发出信号电子,信号电子经过探测器收集处理后,即可得到由电子束激发的显微图像。图1:偏转器的结构示意(左);电镜图像(右)基于以上原理,一台粒子束设备在进行显微成像时,其分辨能力与下落至样品表面的粒子束的束斑尺寸相关,束斑的尺寸越小,扫描过程中每个像元之间的有效间距即可越小,设备的分辨本领越高。当相邻的两个等强度束斑其中一个束斑的中心恰好与另一个束斑的边界重合时,设备达到分辨能力极限(图2)。图2:分辨能力极限示意图不考虑粒子衍射效应时,经聚焦后的粒子束截面可视为圆形(高斯斑),其束流强度沿中心向边缘呈高斯分布(图3)。以扫描电镜为例,在光学设计和实验阶段,通常使用直接电子束跟踪和波光计算(direct ray-tracing and wave-optical calculations)方法,来获得聚焦电子束的束斑轮廓。该过程是将电子束的束流分布采用波像差近似算法来计算图像平面上的点展宽函数PSF(Point Spread Function),基于PSF即可估算出包含总探针电流的某一部分(如50%或80%)的圆的直径,从而得到设备的分辨能力水平。图3:高斯斑的截面形状和强度分布示意图但是在设备出厂后,由于粒子束斑尺寸在纳米量级,无法直接测量,因此行业通常使用基于成像的测试方法,测试粒子束设备的分辨能力。 锐利物体边界的边界变化率法是行业目前达到共识的测试粒子束斑尺寸的方法,即使用粒子束成像设备对锐利物体(通常是纳米级金颗粒)进行成像,沿图像中锐利物体的边缘绘制亮度垂直边缘方向的变化曲线,并选取曲线上明暗变化位置一定比例对应的物理距离,来表示设备的分辨率(图4)。为了保证测试准确性,可以在计算机帮助下取数百、数千个锐利边界的亮度变化率曲线求取均值,以获知设备的整体分辨能力。图4:金颗粒边界测量线(上图红线);测量线上的亮度变化(下左);取多条测量线后得到的设备分辨率示意(下右)边界变化率曲线上亮度25%-75%位置之间的物理距离d,可以近似认为是粒子探针束流50%时所对应的粒子束斑直径,在粒子束成像设备行业通常用此距离d来最终标识设备的分辨能力。图5:边界变化曲线与高斯斑直径对应示意图二、测试方式「 样品的选择 」金颗粒通常采用CVD或者PVD等沉积生长的方法获得,由于颗粒形核长大的过程可以人工调控,因而最终得到的金颗粒直径的大小可以被人工控制,所以视不同用途,金颗粒的规格也不同。以Ted Pella品牌分辨率测试金颗粒为例,用于SEM分辨率测试的标准金颗粒有五种规格,其中颗粒尺寸较小的高分辨、超高分辨金颗粒(如617-2/617-3)通常用于测试场发射电镜的分辨能力;颗粒尺寸较大的金颗粒(如617/623)通常用于测试钨灯丝或小型化电镜的分辨能力,详细的颗粒尺寸和适用设备见图6。测试时,不合适的金颗粒选择无法准确反映一台电镜的分辨能力。图6:Ted Pella品牌金颗粒规格及适用机型「 SEM光学参数的设置 」分辨率的测试旨在测试设备在不同落点电压下的各个探测器的极限分辨能力,因此,与电子光学相关的成像参数设置需要注意以下内容:(1)视场校准:保证放大倍数、视场尺寸的准确;(2)目标电压:这里特指落点电压,即电子束作用在样品上的真实撞击电压;(3)探测器:不同探测器收取信号的能力不同,因此获得图像的极限分辨能力不同,因此都要测试,通常镜筒内探测器ETBSE;(4)光阑/束斑:通常在每个电压下使用可以正常获得图像的最小光阑(以获得极限分辨能力);(5)工作距离:通常在每个电压下使用可以正常获得图像的最小工作距离(以获得极限分辨能力)。「 SEM图像采集条件 」(1)合理的测试视野/放大倍数测试时,所选用的测试视野(放大倍数)需要根据设备的分辨能力做出调整,一般放大倍数取每个像素的pixel size恰好与真实束斑尺寸接近即可。比如:对于真实分辨能力约1.5nm的设备,调整放大倍数使屏幕上每个像素对应样品上的真实物理尺寸为1.5nm,即在采集1024*1024像素数的图像进行测试的前提下,选择不大于1024*1.5nm≈1.5um的视野进行测试即可。表1:分辨率测试的FOV及放大倍数估算表(2)合理的亮度、对比度采集金颗粒图像时,亮度和对比度的选择也需要合理,也就是通常所讲的不要丢失信息。在不丢失信息的前提下,图像亮度对比度稍微偏高或偏低,只要边缘变化曲线的高线和低线均未超出电子探测器采集能力的上限或者下限,曲线虽然在强度方向(Y方向)出现的位置和差值有所变化,但距离方向(X方向)及变化趋势均不改变,因此使用25%-75%变化率对测量出来的分辨率数值d基本没有影响(图7)。然而,当使用过大的亮度、对比度设定后,当边缘变化曲线的高线和低线至少一边超出电子探测器采集能力的上限或者下限,再使用25%-75%变化率对测量出来的分辨率数值d就不再准确,这时测出的分辨率数值无效(图8)。图7:合理的亮度对比度及边界变化率的曲线图8:不合理的亮度对比度及边界变化率的曲线三、总结基于上述图像学进行的分辨率测试,是反映粒子束设备整体光学、机械、电路、真空等全面综合性能的关键手段。该测试在设备出厂交付时用于验证设备的性能指标,在设备运行期间不定期运行该测试以关注分辨率指标,可以快速帮助使用人员和厂商工程师快速发现设备风险,从而及时制定维护、维修方案,以延长设备的稳定服役时间。 钢研纳克是专业的仪器设备制造商,同时提供完善可靠的第三方材料检测服务、仪器设备校准服务,力求在仪器设备产品的开发、生产、交付、运行全流程阶段遵循行业标准和规范,采用统一的品质监控手段,保证所交付产品品质的稳定可靠。参考文献[1] J Kolo&scaron ová, T Hrn&ccaron í&rcaron , J Jiru&scaron e, et al. On the calculation of SEM and FIB beam profiles[J]. Microscopy and Microanalysis, 2015, 21(4): 206-211.[2] JJF 1916-2021, 扫描电子显微镜校准规范[S].本技术文章中扫描电镜图像由钢研纳克FE-2050T产品拍摄。

光学影像仪测试原理相关的试剂

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