光学影像仪工作原理

[b]一、仪器工作原理及结构[/b]1、工作原理：影像座标测量仪是通过连续变倍物镜、彩色 CCD，通过透射光或表面光照明将被测工件放大后成像在显示器上的视频放大测量系统。利用专用测量软件对精密光学尺传输的数据进行处理，而对工件完成测量工作。2、 仪器总体结构(如图)：[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvY1o1UzVIbzdHZFp6YXNuTDlSSE1PRXNlR1drNUFpZkhHenpUeTlHcnVLOGd4Y2w4N0ZPcXJndW1pTV95SW9RZGE1WUxseUIxWDJ3Ym1BOHU1Q1ZJX2xBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][/align][align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvNHdlYXpteTNEbDRoNnYwMjNpd1FhbEJHdUpvNjQ0WUNKNVFwZVRzS2JWdmFZNHRoTWt4UVBfcEhQUEFrcVZBM2dxU2ota3YyN2djTTNUb3dZVzdoakZBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][/align][b]二、仪器的安装[/b]1、仪器使用环境① 仪器放置的工作桌面需牢固、可靠、不得摇晃；②放置地点需远离各种震源；③环境温度保持在 20℃-5℃，湿度≤75°RH。④放置环境应避免大量灰尘。⑤供电电源必须有接地保护。2、仪器的安装：① 打开仪器的外包装和内包装，请先阅读本节。② 仪器搬运时要小心谨慎，轻拿轻放。③仪器放置完毕后，将水平仪放置在工作台面上，调节仪器底脚，使仪器保持水平。④松开工作台固定板（X、Y 轴各一块，）、Z 轴固定板（传动组下部），配重紧定螺钉（立柱左侧面）。[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvWXRlVG44S1pmejRKS3hkZXdIeVNPcDJqQWxYZ2NtRXdrOVVrTzJPWVJ6RFhZTncxOERCNVZ6U0o5bEZKdTRDeHlndzN1amJVTlNrLTNXSlpqVmV4U1ZBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][/align]⑤测绘软件安装。⑥通讯卡、视频卡、硬件、软件安装。⑦插上电源线，打开电源，按仪器使用方法及软件操作步骤开始操作⑧最后由工程人员进行 X 轴、Y 轴、Z 轴、光栅尺校正，即可完成安装。⑨仪器安装完成后，请不要随便搬动机台。[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvY1o1UzVIbzdHZFp6YXNuTDlSSE1PQ1BSZzVqS2dfSG43aWZoemNsUnFGdWF2eTVxbHJBY2hLN3BYOVpEMDRtdDRiWGRodFBkSFJZQUhEcmEwSzZVWlZfNl9ya2oxaXk1bVZqR01XNzhoSjQ9[/img][/align][b]三、仪器使用方法[/b]1、先检查工作台是否复位，再打开电源开关，打开电脑运行测量软件。2、旋转连续变倍物镜的倍率调节圈，选择适当的放大倍率。3、将被测工件置于工作台玻璃中心位置附近，打开表面光源或透射光源，并调节至合适的亮度。3.4 在软件上通过鼠标移动 X 轴和 Y 轴使被测工件需测量的部分，成像在显示器上，通过鼠标调节 Z 轴升降，使工件成像清晰。通过测量软件，即可对工件的各尺寸参数进行测量。注：如果需要视频测量请先选取比例尺（比例尺的选取方法详见软件使用手册），且测量过程中，不可改变变倍物镜的放大倍率！否则会出现错误的测量结果。如果改变变焦物镜的大倍率就必须重新选取比例尺！[b]一、仪器工作原理及结构[/b]1、工作原理：影像座标测量仪是通过连续变倍物镜、彩色 CCD，通过透射光或表面光照明将被测工件放大后成像在显示器上的视频放大测量系统。利用专用测量软件对精密光学尺传输的数据进行处理，而对工件完成测量工作。2、 仪器总体结构(如图)：[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvY1o1UzVIbzdHZFp6YXNuTDlSSE1PRXNlR1drNUFpZkhHenpUeTlHcnVLOGd4Y2w4N0ZPcXJndW1pTV95SW9RZGE1WUxseUIxWDJ3Ym1BOHU1Q1ZJX2xBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][size=14px][color=#909090]点击添加图片描述（最多60个字）[/color][/size][font=iconfont !important][size=14px][back=#ffdd00][/back][/size][/font][size=14px][color=#ffffff][back=rgba(0, 0, 0, 0.55)]编辑[/back][/color][/size][/align][align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvNHdlYXpteTNEbDRoNnYwMjNpd1FhbEJHdUpvNjQ0WUNKNVFwZVRzS2JWdmFZNHRoTWt4UVBfcEhQUEFrcVZBM2dxU2ota3YyN2djTTNUb3dZVzdoakZBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][size=14px][color=#909090]点击添加图片描述（最多60个字）[/color][/size][font=iconfont !important][size=14px][back=#ffdd00][/back][/size][/font][size=14px][color=#ffffff][back=rgba(0, 0, 0, 0.55)]编辑[/back][/color][/size][/align][b]二、仪器的安装[/b]1、仪器使用环境① 仪器放置的工作桌面需牢固、可靠、不得摇晃；②放置地点需远离各种震源；③环境温度保持在 20℃-5℃，湿度≤75°RH。④放置环境应避免大量灰尘。⑤供电电源必须有接地保护。2、仪器的安装：① 打开仪器的外包装和内包装，请先阅读本节。② 仪器搬运时要小心谨慎，轻拿轻放。③仪器放置完毕后，将水平仪放置在工作台面上，调节仪器底脚，使仪器保持水平。④松开工作台固定板（X、Y 轴各一块，）、Z 轴固定板（传动组下部），配重紧定螺钉（立柱左侧面）。[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvWXRlVG44S1pmejRKS3hkZXdIeVNPcDJqQWxYZ2NtRXdrOVVrTzJPWVJ6RFhZTncxOERCNVZ6U0o5bEZKdTRDeHlndzN1amJVTlNrLTNXSlpqVmV4U1ZBRjQ1ZDFwUFhPNkpTMW92VWFlakE9[/img][size=14px][color=#909090]点击添加图片描述（最多60个字）[/color][/size][font=iconfont !important][size=14px][back=#ffdd00][/back][/size][/font][size=14px][color=#ffffff][back=rgba(0, 0, 0, 0.55)]编辑[/back][/color][/size][/align]⑤测绘软件安装。⑥通讯卡、视频卡、硬件、软件安装。⑦插上电源线，打开电源，按仪器使用方法及软件操作步骤开始操作⑧最后由工程人员进行 X 轴、Y 轴、Z 轴、光栅尺校正，即可完成安装。⑨仪器安装完成后，请不要随便搬动机台。[align=center][img]https://res.mp.sohu.com/djEvY1o1UzVIbzdHZFp6YXNuTDlSSE1PQ1BSZzVqS2dfSG43aWZoemNsUnFGdWF2eTVxbHJBY2hLN3BYOVpEMDRtdDRiWGRodFBkSFJZQUhEcmEwSzZVWlZfNl9ya2oxaXk1bVZqR01XNzhoSjQ9[/img][size=14px][color=#909090]点击添加图片描述（最多60个字）[/color][/size][font=iconfont !important][size=14px][back=#ffdd00][/back][/size][/font][size=14px][color=#ffffff][back=rgba(0, 0, 0, 0.55)]编辑[/back][/color][/size][/align][b]三、仪器使用方法[/b]1、先检查工作台是否复位，再打开电源开关，打开电脑运行测量软件。2、旋转连续变倍物镜的倍率调节圈，选择适当的放大倍率。3、将被测工件置于工作台玻璃中心位置附近，打开表面光源或透射光源，并调节至合适的亮度。3.4 在软件上通过鼠标移动 X 轴和 Y 轴使被测工件需测量的部分，成像在显示器上，通过鼠标调节 Z 轴升降，使工件成像清晰。通过测量软件，即可对工件的各尺寸参数进行测量。注：如果需要视频测量请先选取比例尺（比例尺的选取方法详见软件使用手册），且测量过程中，不可改变变倍物镜的放大倍率！否则会出现错误的测量结果。如果改变变焦物镜的大倍率就必须重新选取比例尺！

[size=15px][b]工作原理：[/b][/size][b]辐射高温计[/b]是根据物体在整个波长范围内的辐射能量与其温度之间的函数关系设计制造的，用辐射感温器作为一次仪表，电子电位差计作为二次仪表，它属于透镜聚焦式感温器，具有铝合金外壳，前部是物镜，壳体内装有热电堆补偿光栏，在靠紧热电堆的视场光栏上有一块调档板，档板的作用是调节照射到热电堆上的辐射能量，使产品具有统一的分度值，在可拆卸的后盖板上装有目镜，借以观察被测物体的影像。辐射感温器把被测物体的辐射能，经过透镜聚焦在热敏元件上，热敏元件把辐射能转变为电参数，由已知的热电势与物体温度之间的关系通过二次仪表测出热电势，显示出温度值，这个温度值须用物体的全辐射黑体系数予以校正或用铂铑10—铂热电偶直接插入高温盐浴炉中配以直流电位差计测量温度，然后与仪表显示温度对比，用以校准高温计测量温度的准确程度。[b]光纤温度计[/b]，光导纤维简称光纤: 它以高速、高可靠性传送大量信息，具有不受电磁干扰、绝缘性好、安全防爆、损耗低、传输频带宽、容量大、直径细、重量轻、可挠曲和耐腐蚀等优点，被应用到信号检测领域. 目前采用最多的光纤为玻璃光纤，是用比头发丝还细的石英玻璃丝制成的 。由导光的纤芯及其周围的包层组成，包层的外面常有塑料或橡胶等保护套。[size=15px][color=white][back=#3c40eb][b]安装要求：[/b][/back][/color][/size]仪表为固定安装式，感温器可在10～80℃的环境下使用，在环境温度超过80℃或空气介质中含有水蒸汽，烟雾时可借助于水冷，通风等辅助装置来降低环境温度，吹净测量通道中的烟气，以减少测量误差。感温器辅助装置分轻型和重型两种。重型是使用在环境较恶劣的情况下，为了防止被测炉窑中的火焰或高温炉气从测量通道喷出而灼伤仪器，设置了火焰防炉装置，能在发生危险时自动动作，保护仪器并发出报警信号。

中科院西安光学精密机械研究所研究团队近日成功研制完成高速“医用光学相干断层影像仪”（OCT）。该样机可高速、无损采集人眼视网膜活体断层影像，分辨率比现有眼科超声高10倍以上，并可快速重建出3D眼底结构图，为疾病更早期、更准确的诊断提供了便利。 OCT是一种高分辨率的生物活体成像技术，其原理是利用光进入生物体后被不同密度的组织反射回来，干涉后进行信号解调而成像。OCT检查过程中无须任何外加显影剂、无辐射、无创、分辨率高，安全性高。在眼科临床方面，主要用于眼底黄斑区及视神经疾病的诊断，特别对于老年性黄斑变性、青光眼、糖尿病视网膜病变、高度近视性眼底病变，拥有CT或超声无法替代的功能，俗称眼科CT。 OCT系统融合干涉光学，弱信号探测，色散补偿，图像处理多种技术，是典型的交叉学科和系统工程。特别是其中高速光谱信号解调模块，决定着整体系统的成像速度及图像信噪比。西安光机所科研团队通过改善各个环节的光学及硬件设计，在保证图像信噪比前提下，实现了每秒5万次的线扫描，超过国外同类高端眼科OCT的最快速度，为在硬件上为实现快速3D扫描奠定了基础。 在后端数据处理方面，当前国外产品多采取电路或CPU方式实现并行数据处理，开发周期长，性价比低。该团队另辟蹊径，结合近年来发展迅速的图像显卡处理单元(GPU)技术，利用成熟的显卡做并行数据计算，对比使用CPU运算方案，计算速度提高了100倍以上，配合之前的高速扫描硬件，顺利实现了眼科图像的3D快速成像。 借助该设备，医生只需简单操作，即可在1秒之内扫描出一幅人眼视网膜的三维断层影像，医生可在该影像数据基础上对病人的视盘、黄斑等参数进行数字化分析，使诊疗更加精准。

“摩擦，摩擦，在这光滑的地上摩擦…..”还记得庞麦郎的一首《我的滑板鞋》风靡大街小巷，广场上卷起了一股溜滑板鞋的浪潮。尔今浪潮已退，但摩擦声却未消失，作为一柄对社会发展起着双刃剑作用的武器，各大高校和科研机构一直都在对摩擦学进行着持续的研究，而中图仪器[b]SuperView W1光学3D表面轮廓仪[/b]，就是该领域最时尚的滑板鞋，载着研究人员疾驰，手持武器，所向披靡。　　摩擦学是一门研究物体相对运动时其表面摩擦、润滑、磨损三者间相互关系的交叉学科，摩擦学实验研究的重点和难点之一在于对磨损量的定量分析。磨损量涵盖了磨损区的轮廓尺寸、粗糙度、体积这线、面、体三个维度方面的参数，量级从纳米到毫米不等，又由于不可破坏性测量，传统的低精度接触式轮廓仪和影像仪无法适用，而以白光干涉为原理、具备高精度、非接触式测量能力的光学3D表面轮廓仪登上了摩擦学研究的舞台。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238760989.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808231572145.jpg[/img][/align][align=center]图1 工作中的CSM摩擦磨损测试仪[/align]　　上图展示的是一款工作中的CSM摩擦磨损测试仪，经过十数小时的摩擦，铜板表面出现了一圈圈摩擦痕迹，即为磨损区域，对磨损区域进行尺寸上的定量分析，是研究的重要组成部分，下面我们使用中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪对一块经过摩擦试验处理的铜板进行线、面、体三个维度的定量分析。一、一维：线_轮廓尺寸　　取一块摩擦处理过的铜板，使用SuperView W1光学3D表面轮廓仪对其中未摩擦过的光滑区域和摩擦过的磨损区域进行扫描，获取其3D图像。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808239913954.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808234541029.jpg[/img][/align][align=center]图5 磨损区的剖面轮廓曲线[/align]　　从图中可以看到，相对光滑区细致较浅的划痕，磨损区充满了坑坑洼洼的槽，在磨损区3D图像上提取一条剖面轮廓曲线，可以获取槽深和槽宽的轮廓尺寸数据。二、二维：面_粗糙度　　分别在光滑区和磨损区选取若干点，测量分析显示经过摩擦磨损试验过的区域线粗糙度和面粗糙度均增大了至少十几倍。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808235791766.jpg[/img][/align][align=center]图6 光滑区域粗糙度[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808237197020.jpg[/img][/align][align=center]图7 磨损区域粗糙度[/align]三、三维：体_体积[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238604911.jpg[/img][/align][align=center]图8 磨损区3D图像&孔洞体积测量[/align]　　如右上图，利用分析工作“孔洞体积”对磨损区进行区域体积分析。在选择的分析区域中，位于基准面（蓝色方框）上面的顶点区域显示为红色，位于基准面下方显示为绿色，利用“孔洞体积”分析工具可直接获取该区域内上下两部分的面积、体积、深度数据。　　一线二面三体，中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪能让研究人员掌握三个维度精确的数据信息，从而对摩擦磨损区进行全面的分析判断，如同穿上了酷炫的滑板鞋，在摩擦学研究这个舞台秀出华丽的舞步。

请问二阶非线性光学的原理网上哪里有介绍，有什么仪器可以测量二阶非线性光学的性质

红外测温技术在产品质量控制和监测、设备在线故障诊断、安全保护以及节约能源等方面发挥了正在发挥着重要作用。近二十年来,非接触红外测温仪在技术上得到迅速发展,性能不断提高,适用范围也不断扩大,市场占有率逐年增长。比起接触式测温方法,红外测温有着响应时间快、非接触、使用安全及使用寿命长等优点。 　　Baytek(雷泰)公司非接触红外辐射测温产品包括便携式、在线式和扫描式三大系列,并备有各种选配件和相应的计算机软件,每一系列中又有各种型号及规格。在不同规格的各种型号测温仪中,正确地选择红外测温仪型号对用户来说是十分重要的。这里仅提出如何正确选择测温仪型号的思考步骤,供购买者参考。 外测温仪工作原理 　　了解组外测温仪的工作原理、技术指标、环境工作条件及操作和维修等是为了帮助用户正确地选择和使用红外测温仪。 　　一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射特性一辐射能量的大小及其按波长的分布一与它的表面温度有着十分密切的关系。因此,通过对物体自身辐射的红外能量的测量,便能准确地测定它的表面温度,这就是红外辐射测温所依据的客观基础。 黑体辐射定律: 　　黑体是一种理想化的辐射体,它吸收所有波长的辐射能量,没有能量的反射和透过,其表面的发射率为1。应该指出,自然界中并不存在真正的黑体,但是为了弄清和获得红外辐射分布规律,在理论研究中必须选择合适的模型,这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。 物体发射率对辐射测温的影响： 　　自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率,就知道了任何物体的红外辐射特性。 影响发射率的主要因素在： 　　材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。 　　当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量,然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例:双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。 红外系统: 　　红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路,并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。 选择红外测温仪可分为三个方面： 　　性能指标方面,如温度范围、光斑尺寸、工作波长、测量精度、响应时间等 环境和工作条件方面,如环境温度、窗口、显示和输出、保护附件等 其他选择方面,如使用方便、维修和校准性能以及价格等,也对测温仪的选择产生一定的影响。随着技术和不断发展,红外测温仪最佳设计和新进展为用户提供了各种功能和多用途的仪器,扩大了选择余地。 确定测温范围: 　　测温范围是测温仪最重要的一个性能指标。如Raytek(雷泰)产品覆盖范围为-50℃-+3000℃,但这不能由一种型号的红外测温仪来完成。每种型号的测温仪都有自己特定的测温范围。因此,用户的被测温度范围一定要考虑准确、周全,既不要过窄,也不要过宽。根据黑体辐射定律,在光谱的短波段由温度引起的辐射能量的变化将超过由发射率误差所引起的辐射能量的变化,因此,测温时应尽量选用短波较好。 确定目标尺寸： 　　红外测温仪根据原理可分为单色测温仪和双色测温仪(辐射比色测温仪)。对于单色测温仪,在进行测温时,被测目标面积应充满测温仪视场。建议被测目标尺寸超过视场大小的50%为好。如果目标尺寸小于视场,背景辐射能量就会进入测温仪的视声符支干扰测温读数,造成误差。相反,如果目标大于测温仪的视场,测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响。 　　对于Raytek(雷泰)双色测温仪,其温度是由两个独立的波长带内辐射能量的比值来确定的。因此当被测目标很小,没有充满现场,测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡对辐射能量有衰减时,都不会对测量结果产生影响。甚至在能量衰减了95%的情况下,仍能保证要求的测温精度。对于目标细小,又处于运动或振动之中的目标 有时在视场内运动,或可能部分移出视场的目标,在此条件下,使用双色测温仪是最佳选择。如果测温仪和目标之间不可能直接瞄准,测量通道弯曲、狭小、受阻等情况下,双色光纤测温仪是最佳选择。这是由于其直径小,有柔性,可以在弯曲、阻挡和折叠的通道上传输光辐射能量,因此可以测量难以接近、条件恶劣或靠近电磁场的目标。 确定光学分辨率(距离及灵敏) 　　光学分辨率由D与S之比确定,是测温仪到目标之间的距离D与测量光斑直径S之比。如果测温仪由于环境条件限制必须安装在远离目标之处,而又要测量小的目标,就应选择高光学分辨率的测温仪。光学分辨率越高,即增大D:S比值,测温仪的成本也越高。 确定波长范围： 　　目标材料的发射率和表面特性决定测温仪的光谱响应或波长。对于高反射率合金材料,有低的或变化的发射率。在高温区,测量金属材料的最佳波长是近红外,可选用0.18-1.0μm波长。其他温区可选用1.6μm、2.2μm和3.9μm波长。由于有些材料在一定波长是透明的,红外能量会穿透这些材料,对这种材料应选择特殊的波长。如测量玻璃内部温度选用10μm、2.2μm和3.9μm(被测玻璃要很厚,否则会透过)波长 测量玻璃内部温度选用5.0μm波长 测低区区选用8-14μm波长为宜 再如测量聚乙烯塑料薄膜选用3.43μm波长,聚醋类选用4.3μm或7.9μm波长。厚度超过0.4mm选用8-14μm波长 又如测火焰中的C02用窄带4.24-4.3μm波长,测火焰中的C0用窄带4.64μm波长,测量火焰中的N02用4.47μm波长。 确定响应时间: 　　响应时间表示红外测温仪对被测温度变化的反应速度,定义为到达最后读数的95%能量所需要时间,它与光电探测器、信号处理电路及显示系统的时间常数有关。bytek(雷泰)新型红外测温仪响应时间可达1ms。这要比接触式测温方法,快得多。如果目标的运动速度很快或测量快速加热的目标时,要选用快速响应红外测温仪,否则达不到足够的信号响应,会降低测量精度。然而,并不是所有应用都要求快速响应的红外测温仪。对于静止的或目标热过程存在热惯性时,测温仪的响应时间就可以放宽要求了。因此,红外测温仪响应时间的选择要和被测目标的情况相适应。 信号处理功能： 　　测量离散过程(如零件生产)和连续过程不同,要求红外测温仪有信号处理功能(如峰值保持、谷值保持、平均值)。如测温传送带上的玻璃时,就要用峰值保持,其温度的输出信号传送至控制器内。 环境条件考虑： 　　测温仪所处的环境条件对测量结果有很大影响,应加以考虑、并适当解决,否则会影响测温精度甚至引起测温仪的损坏。当环境温度过高、存在灰尘、烟雾和蒸汽的条件下,可选用厂商提供的保护套、水冷却、空气冷却系统、空气吹扫器等附件。这些附件可有效地解决环境影响并保护测温仪,实现准确测温。在确定附件时,应尽可能要求标准化服务,以降低安装成本。当烟雾、灰尘或其他颗粒降低测量能量信号，双色测温仪是最佳选择。在噪声、电磁场、震动或难以接近环境条件下,或其他恶劣条件下,光纤双色测温仪是最佳选择。 　　在密封的或危险的材料应用中(如容器或真空箱),测温仪通过窗口进行观测。材料必须有足够的强度并能通过所用测温仪的工作波长范围。还要确定操作工是否也需要通过窗口进行观察,因此要选择合适的安装位置和窗口材料,避免相互影响。在低温测量应用中,通常用Ge或Si材料作为窗口,不透可见光,人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标,应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料,如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料,如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。 操作简单，使用方便： 　　红外测温仪应该是直观的,操作简单,易于被操作人员使用,其中便携式红外测温仪是一种集测温和显示输出为一体的小型、轻便、由人携带进行测温的仪器,在显示面板上可显示温度和输出各种温度信息,有的可通过遥控或通过计算机软件程序操作。 　　在环境条件恶劣复杂的情况下,可以选择测温头和显示器分开的系统,以便于安装和配置。可选择与现行控制设备相匹配的信号输出形式。 红外辐射测温仪的标定： 　　红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差,则需退回厂家或维修中心重新标定。 请继续阅读：红外测温仪工作原理及应用（二）[em0809]

显微镜的光学原理

手持式折射仪的工作原理：因为含糖溶液的折光率比例于浓度的原理而设计的糖量折光仪可以用来直接测定含糖溶液的含糖量。只要在检测棱镜的镜面上放入2-3滴试液就可以。糖量折光仪用于快速测定含糖溶液的溶度、果酒密度;通过换算还可以测量其它非糖溶度或折射率，是制糖、食品、饮料、酿酒、农业科研、纺织及矿山机械等行业必不可少的检测仪器。　　折射计折光的理论：如果你放置一杯水的一支铅笔,顶端将会显得弯曲的. 然后如果你在一个杯子中放置糖水并且试相同的实验,铅笔的顶端应该显得甚至更弯曲的. 这是折光率现象的一个例子. 折射计由于采用新型的光学系统放到一种实际的使用. 通过溶液的折射率与其溶度的对应关系的换算来测量试液的溶度.当物质的密度增加 (举例来说. 当糖在水被溶解的时候物质的溶度增加),它的折射率引相称地升高.

扫描电镜的特点结构及工作原理扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力，尤其是随着电子工业技术水平的不断发展，到1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来，扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，促进了各有关学科的发展。一．扫描电镜的特点和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点：（一）能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二）样品制备过程简单，不用切成薄片。（三）样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四）景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。（五）图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。（六）电子束对样品的损伤与污染程度较小。（七）在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

请教光学显微镜的原理，谢谢

光刻机通过一系列的光源能量、形状控制手段，将光束透射过画着线路图的掩模，经物镜补偿各种光学误差，将线路图成比例缩小后映射到硅片上，不同光刻机的成像比例不同，有5:1，也有4:1。然后使用化学方法显影，得到刻在硅片上的电路图（即芯片）。一般的光刻工艺要经历硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻胶、软烘、对准曝光、后烘、显影、硬烘、激光刻蚀等工序。经过一次光刻的芯片可以继续涂胶、曝光。越复杂的芯片，线路图的层数越多，也需要更精密的曝光控制过程。现在最先进的芯片有30多层。http://www.whchip.com/upload/201608/1471850877761920.png 上图是一张光刻机的简易工作原理图。下面，简单介绍一下图中各设备的作用。测量台、曝光台：承载硅片的工作台，也就是本次所说的双工作台。光束矫正器：矫正光束入射方向，让激光束尽量平行。能量控制器：控制最终照射到硅片上的能量，曝光不足或过足都会严重影响成像质量。光束形状设置：设置光束为圆型、环型等不同形状，不同的光束状态有不同的光学特性。遮光器：在不需要曝光的时候，阻止光束照射到硅片。能量探测器：检测光束最终入射能量是否符合曝光要求，并反馈给能量控制器进行调整。掩模版：一块在内部刻着线路设计图的玻璃板，贵的要数十万美元。掩膜台：承载掩模版运动的设备，运动控制精度是nm级的。物镜：物镜由20多块镜片组成，主要作用是把掩膜版上的电路图按比例缩小，再被激光映射的硅片上，并且物镜还要补偿各种光学误差。技术难度就在于物镜的设计难度大，精度的要求高。硅片：用硅晶制成的圆片。硅片有多种尺寸，尺寸越大，产率越高。题外话，由于硅片是圆的，所以需要在硅片上剪一个缺口来确认硅片的坐标系，根据缺口的形状不同分为两种，分别叫flat、notch。内部封闭框架、减振器：将工作台与外部环境隔离，保持水平，减少外界振动干扰，并维持稳定的温度、压力。

3.红外测温 　　3.1红外测温仪器的种类 　　红外测温仪器主要有3种类型：红外热像仪、红外热电视、红外测温仪（点温仪）。60年代我国研制成功第一台红外测温仪，1990年以后又陆续生产小目标、远距离、适合电业生产特点的测温仪器，如西光IRT－1200D型、HCW－Ⅲ型、HCW－Ⅴ型；YHCW－9400型；WHD4015型（双瞄准，目标D 40mm，可达15 m）、WFHX330型（光学瞄准，目标D 50 mm，可达30 m）。美国生产的PM－20、30、40、50、HAS－201测温仪；瑞典AGA公司TPT20、30、40、50等也有较广泛的应用。DL－500 E可以应用于110～500 kV变电设备上，图像清晰，温度准确。红外热像仪，主要有日本TVS－2000、TVS－100，美国PM－250，瑞典AGA－ THV510、550、570。近期，国产红外热像仪在昆明研制成功，实现了国产化。 　　3.2红外测温仪工作原理 　　了解红外测温仪的工作原理、技术指标、环境工作条件及操作和维修等是用户正确地选择和使用红外测温仪的基础。红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。 　　一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布——与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。　 　　黑体辐射定律：黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。应该指出，自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。 　　物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。 　　影响发射率的主要因纱在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。 　　当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。 　　红外系统：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。 　　3.3红外测温仪性能 　　红外测温仪是通过接收目标物体发射、反射和传导的能量来测量其表面温度。测温仪内的探测元件将采集的能量信息输送到微处理器中进行处理，然后转换成温度读数显示。在带激光瞄准器的型号中，激光瞄准器只做瞄准使用。其性能说明如表1。 　　 　　　　测温范围　　-32℃--400℃　　显示分辩率　　　0.1℃(199.1℃时 ) 　　　　精度　　　　23 ℃时±1%　　工作环境温度范围　　0--50 ℃ 　　　　重复性　　　23 ℃时±1%　　相对湿度　　　　　30 ℃时 10—95% 　　　　响应时间　　500ms　　　　　电源　　　　　　　　9V 　　　　响应光谱　　7 -18micron　　尺寸　　　　　　　137 × 41 × 196mm 　　　　最大值显示　Have　　　　　 重量　　　　　　　270g 　　　　发射率　　　0.95Preset　　 防水　　　　　　　　根据消防部队要求特殊制作 表1红外测温仪性能　　为了获得精确的温度读数，测温仪与测试目标之间的距离必须在合适的范围之内，所谓“光点尺寸”（spot size）就是测温仪测量点的面积。您距离目标越远，光点尺寸就越大。右图所示为距离与光点尺寸的比率，或称D：S。在激光瞄准器型测温仪上，激光点在目标中心的上方，有12mm（0.47英寸）的偏置距离。 　　测量距离与光点尺寸 　　在定测量距离时，应确保目标直径等于或大于受测的光点尺寸。右图所标示的“1号物体”（object 1 ）与测量仪之间的距离正，因为目标比被测光点尺寸略大一些。而“2号物体”距离太远，因为目标小于受测的光点尺寸，即测温仪同在测量背景物体，从而降低了读数的精确性。 4.红外测温仪正确选择 　　选择红外测温仪可分为3个方面： 　　（1）性能指标方面，如温度范围、光斑尺寸、工作波长、测量精度、窗口、显示和输出、响应时间、保护附件等； 　　（2）环境和工作条件方面，如环境温度、窗口、显示和输出、保护附件等； 　　（3）其他选择方面，如使用方便、维修和校准性能以及价格等，也对测温仪的选择产生一定的影响。 　　随着技术和不断发展，红外测温仪最佳设计和新进展为用户提供了各种功能和多用途的仪器，扩大了选择余地。其他选择方面，如使用方便、维修和校准性能以及价格等。在选择测温仪型号时应首先确定测量要求，如被测目标温度，被测目标大小，测量距离，被测目标材料，目标所处环境，响应速度，测量精度，用便携式还是在线式等等；在现有各种型号的测温仪对比中，选出能够满足上述要求的仪器型号；在诸多能够满足上述要求的型号中选择出在性能、功能和价格方面的最佳搭配。 　　4.1确定测温范围 　　确定测温范围：测温范围是测温仪最重要的一个性能指标。如Raytek（雷泰）产品覆盖范围为-50℃- +3000℃，但这不能由一种型号的红外测温仪来完成。每种型号的测温仪都有自己特定的测温范围。因此，用户的被测温度范围一定要考虑准确、周全，既不要过窄，也不要过宽。根据黑体辐射定律，在光谱的短波段由温度引起的辐射能量的变化将超过由发射率误差所引起的辐射能量的变化，因此，测温时应尽量选用短波较好。一般来说，测温范围越窄，监控温度的输出信号分辨率越高，精度可靠性容易解决。测温范围过宽，会降低测温精度。例如，如果被测目标温度为1000摄氏度，首先确定在线式还是便携式，如果是便携式。满足这一温度的型号很多，如3iLR3，3i2M，3i1M。如果测量精度是主要的，最好选用2M或1M型号的，因为如果选用3iLR型，其测温范围很宽，则高温测量性能便差一些；如果用户除测量1000摄氏度的目标外，还要照顾低温目标，那只好选择3iLR3。 　　4.2确定目标尺寸 　　红外测温仪根据原理可分为单色测温仪和双色测温仪（辐射比色测温仪）。对于单色测温仪，在进行测温时，被测目标面积应充满测温仪视场。建议被测目标尺寸超过视场大小的50%为好。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进入测温仪的视声符支干扰测温读数，造成误差。相反，如果目标大于测温仪的视场，测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响。对于比色测温仪，其温度是由两个独立的波长带内辐射能量的比值来确定的。因此当被测目标很小，不充满视场，测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡，对辐射能量有衰减时，都不对测量结果产生重大影响。对于细小而又处于运动或震动之中的目标，比色测温仪是最佳选择。这是由于光线直径小，有柔性，可以在弯曲、阻挡和折叠的通道上传输光辐射能量。 　　对于Raytek（雷泰）双色测温仪，其温度是由两个独立的波长带内辐射能量的比值来确定的。因此当被测目标很小，没有充满现场，测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡对辐射能量有衰减时，都不会对测量结果产生影响。甚至在能量衰减了95%的情况下，仍能保证要求的测温精度。对于目标细小，又处于运动或振动之中的目标；有时在视场内运动，或可能部分移出视场的目标，在此条件下，使用双色测温仪是最佳选择。如果测温仪和目标之间不可能直接瞄准，测量通道弯曲、狭小、受阻等情况下，双色光纤测温仪是最佳选择。这是由于其直径小，有柔性，可以在弯曲、阻挡和折叠的通道上传输光辐射能量，因此可以测量难以接近、条件恶劣或靠近电磁场的目标。 　　4.3确定距离系数（光学分辨率） 　　距离系数由D：S之比确定，即测温仪探头到目标之间的距离D与被测目标直径之比。如果测温仪由于环境条件限制必须安装在远离目标之处，而又要测量小的目

一、 光学显微镜的发展历史　　早在公元前一世纪，人们就已发现通过球形透明物体去观察微小物体时，可以使其放大成像。后来逐渐对球形玻璃表面能使物体放大成像的规律有了认识。　　1590年，荷兰和意大利的眼镜制造者已经造出类似显微镜的放大仪器。1610年前后，意大利的伽利略和德国的开普勒在研究望远镜的同时，改变物镜和目镜之间的距离，得出合理的显微镜光路结构，当时的光学工匠遂纷纷从事显微镜的制造、推广和改进。　　17世纪中叶，英国的胡克和荷兰的列文胡克，都对显微镜的发展做出了卓越的贡献。1665年前后，胡克在显微镜中加入粗动和微动调焦机构、照明系统和承载标本片的工作台。这些部件经过不断改进，成为现代显微镜的基本组成部分。　　1673～1677年期间，列文胡克制成单组元放大镜式的高倍显微镜，其中九台保存至今。胡克和列文胡克利用自制的显微镜，在动、植物机体微观结构的研究方面取得了杰出成就。　　19世纪，高质量消色差浸液物镜的出现，使显微镜观察微细结构的能力大为提高。1827年阿米奇第一个采用了浸液物镜。19世纪70年代，德国人阿贝奠定了显微镜成像的古典理论基础。这些都促进了显微镜制造和显微观察技术的迅速发展，并为19世纪后半叶包括科赫、巴斯德等在内的生物学家和医学家发现细菌和微生物提供了有力的工具。　　在显微镜本身结构发展的同时，显微观察技术也在不断创新：1850年出现了偏光显微术；1893年出现了干涉显微术；1935年荷兰物理学家泽尔尼克创造了相衬显微术，他为此在1953年获得了诺贝尔物理学奖。　　古典的光学显微镜只是光学元件和精密机械元件的组合，它以人眼作为接收器来观察放大的像。后来在显微镜中加入了摄影装置，以感光胶片作为可以记录和存储的接收器。现代又普遍采用光电元件、电视摄像管和电荷耦合器等作为显微镜的接收器，配以微型电子计算机后构成完整的图像信息采集和处理系统。　　目前全世界最主要的显微镜厂家主要有：蔡司、徕卡、奥林巴斯、尼康。国内厂家主要有：麦克奥迪、江南、重庆光电、奥特光电等。二、 显微镜的基本光学原理（一） 折射和折射率　　光线在均匀的各向同性介质中，两点之间以直线传播，当通过不同密度介质的透明物体时，则发生折射现像，这是由于光在不同介质的传播速度不同造成的。当与透明物面不垂直的光线由空气射入透明物体(如玻璃)时，光线在其介面改变了方向，并和法线构成折射角。（二） 透镜的性能　　透镜是组成显微镜光学系统的最基本的光学元件，物镜目镜及聚光镜等部件均由单个和多个透镜组成。依其外形的不同，可分为凸透镜(正透镜)和凹透镜(负透镜)两大类。　　当一束平行于光轴的光线通过凸透镜后相交于一点，这个点称”焦点”，通过交点并垂直光轴的平面，称”焦平面”。焦点有两个，在物方空间的焦点，称”物方焦点”，该处的焦平面，称”物方焦平面”；反之，在像方空间的焦点，称”像方焦点”，该处的焦平面，称”像方焦平面”。　　光线通过凹透镜后，成正立虚像，而凸透镜则成正立实像。实像可在屏幕上显现出来，而虚像不能。（三） 凸透镜的五种成像规律1. 当物体位于透镜物方二倍焦距以外时，则在像方二倍焦距以内、焦点以外形成缩小的倒立实像；2. 当物体位于透镜物方二倍焦距上时，则在像方二倍焦距上形成同样大小的倒立实像；3. 当物体位于透镜物方二倍焦距以内，焦点以外时，则在像方二倍焦距以外形成放大的倒立实像；4. 当物体位于透镜物方焦点上时，则像方不能成像；5. 当物体位于透镜物方焦点以内时，则像方也无像的形成，而在透镜物方的同侧比物体远的位置形成放大的直立虚像。三、 光学显微镜的成像（几何成像）原理　　只有当物体对人眼的张角不小于某一值时，肉眼才能区别其各个细部，该量称为目视分辨率ε。在最佳条件下，即物体的照度为50~70lx及其对比度较大时，可达到1’。为易于观测，一般将该量加大到2’，并取此为平均目镜分辨率。　　物体视角的大小与该物体的长度尺寸和物体至眼睛的距离有关。有公式y=Lε距离L不能取得很小，因为眼睛的调节能力有一定限度，尤其是眼睛在接近调节能力的极限范围工作时，会使视力极度疲劳。对于标准(正视)而言，最佳的视距规定为250mm(明视距离)。这意味着，在没有仪器的条件下，目视分辨率 ε=2’的眼睛，能清楚地区分大小为0.15mm的物体细节。　　在观测视角小于1’的物体时，必须使用放大仪器。放大镜和显微镜是用于观测放置在观测人员近处应予放大的物体的。（一）放大镜的成像原理　　表面为曲面的玻璃或其他透明材料制成的光学透镜可以使物体放大成像，光路图如图1所示。位于物方焦点F以内的物AB，其大小为y，它被放大镜成一大小为y’的虚像A’B’。放大镜的放大率Γ=250/f’式中250--明视距离，单位为mmf’—放大镜焦距，单位为mm该放大率是指在250mm的距离内用放大镜观察到的物体像的视角同没有放大镜观察到的物体视角的比值。 。。。。。。。。。。。。。。　[URL=http://www.microscopeline.com/art.asp?id=252&did=56]...........[/URL]资料来源[URL=http://www.microscopeline.com]显微在线[/URL]

红外热像仪的工作原理红外线是一种电磁波，具有与无线电波和可见光一样的本质。红外线的发现是人类对自然认识的一次飞跃。利用某种特殊的电子装置将物体表面的温度分布转换成人眼可见的图像，并以不同颜色显示物体表面温度分布的技术称之为红外热像技术，这种电子装置称为红外热像仪。　　 红外热像仪是利用红外探测器、光学成像物镜和光机扫描系统接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元上，在光学系统和红外探测器之间，有一个光机扫描机构（焦平面热像仪无此机构）对被测物体的红外热像进行扫描，并聚焦在单元或分光探测器上，由探测器将红外辐射能转换成电信号，经放大处理、转换或标准视频信号通过电视屏或监测器显示红外热像图。　　 这种热像图与物体表面的热分布场相对应；实质上是被测目标物体各部分红外辐射的热像分布图由于信号非常弱，与可见光图像相比，缺少层次和立体感，因此，在实际动作过程中为更有效地判断被测目标的红外热分布场，常采用一些辅助措施来增加仪器的实用功能，如图像亮度、对比度的控制，实标校正，伪色彩描绘等高线和直方进行数学运算、打印等　　 红外热像仪在军事和民用方面都有广泛的应用。随着热成像技术的成熟以及各种低成本适于民用的红外热像仪的问世，它在国民经济各部门发挥的作用也越来越大。在工业生产中，许多设备常用于高温、高压和高速运转状态，应用红外热成像仪对这些设备进行检测和监控，既能保证设备的安全运转，又能发现异常情况以便及时排除隐患。同时，利用热像仪还可以进行工业产品质量控制和管理。　　 此外，红外热像仪在医疗、治安、消防、考古、交通、农业和地质等许多领域均有重要的应用。如建筑物漏热查寻、森林探火、火源寻找、海上救护、矿石断裂判别、导弹发动机检查、公安侦察以及各种材料及制品的无损检查等。

1.结构：　　标本的放大主要由物镜完成，物镜放大倍数越大，它的焦距越短。焦距越小，物镜的透镜和玻片间距离（工作距离）也小。油镜的工作距离很短，使用时需格外注意。目镜只起放大作用，不能提高分辨率，标准目镜的放大倍数是十倍。聚光镜能使光线照射标本后进入物镜，形成一个大角度的锥形光柱，因而对提高物镜分辨率是很重要的。聚光镜可以上下移动，以调节光的明暗，可变光阑可以调节入射光束的大小。　　显微镜用光源，自然光和灯光都可以，以灯光较好，因光色和强度都容易控制。一般的显微镜可用普通的灯光，质量高的显微镜要用显微镜灯，才能充分发挥其性能。有些需要很强照明，如暗视野照明、摄影等，常常使用卤素灯作为光源。光学显微镜是由光学放大系统和机械装置两部分组成。光学系统一般包括目镜、物镜、聚光器、光源等；机械系统一般包括镜筒、物镜转换器、镜台、镜臂和底座等。2.原理：　　显微镜的放大效能（分辨率）是由所用光波长短和物镜数值口径决定，缩短使用的光波波长或增加数值口径可以提高分辨率，可见光的光波幅度比较窄，紫外光波长短可以提高分辨率，但不能用肉眼直接观察。所以利用减小光波长来提高光学显微镜分辨率是有限的，提高数值口径是提高分辨率的理想措施。要增加数值口径，可以提高介质折射率，当空气为介质时折射率为1，而香柏油的折射率为1.51，和载片玻璃的折射率（1.52）相近，这样光线可以不发生折射而直接通过载片、香柏油进入物镜，从而提高分辨率。显微镜总的放大倍数是目镜和物镜放大倍数的乘积，而物镜的放大倍数越高，分辨率越高。

一、红外光谱仪的种类　　红外光谱仪的种类有：　　①棱镜和光栅光谱仪。属于色散型，它的单色器为棱镜或光栅，属单通道测量。　　②傅里叶变换红外光谱仪。它是非色散型的，其核心部分是一台双光束干涉仪。　　当仪器中的动镜移动时，经过干涉仪的两束相干光间的光程差就改变，探测器所测得的光强也随之变化，从而得到干涉图。经过傅里叶变换的数学运算后，就可得到入射光的光谱。这种仪器的优点：　　①多通道测量，使信噪比提高。　　②光通量高，提高了仪器的灵敏度。　　③波数值的精确度可达0.01厘米-1。　　④增加动镜移动距离，可使分辨本领提高。　　⑤工作波段可从可见区延伸到毫米区，可以实现远红外光谱的测定。　　近红外光谱仪种类繁多，根据不用的角度有多种分类方法。　　从应用的角度分类，可以分为在线过程监测仪器、专用仪器和通用仪器。从仪器获得的光谱信息来看，有只测定几个波长的专用仪器，也有可以测定整个近红外谱区的研究型仪器;有的专用于测定短波段的近红外光谱，也有的适用于测定长波段的近红外光谱。较为常用的分类模式是依据仪器的分光形式进行的分类，可分为滤光片型、色散型(光栅、棱镜)、傅里叶变换型等类型。红外光谱仪的原理在下面分别加以叙述。　　二、滤光片型近红外光谱仪器：　　滤光片型近红外光谱仪器以滤光片作为分光系统，即采用滤光片作为单色光器件。滤光片型近红外光谱仪器可分为固定式滤光片和可调式滤光片两种形式，其中固定滤光片型的仪器时近红外光谱仪最早的设计形式。　　仪器工作时，由光源发出的光通过滤光片后得到一宽带的单色光，与样品作用后到达检测器。　　该类型仪器优点是：仪器的体积小，可以作为专用的便携仪器;制造成本低，适于大面积推广。　　该类型仪器缺点是：单色光的谱带较宽，波长分辨率差;对温湿度较为敏感;得不到连续光谱;不能对谱图进行预处理，得到的信息量少。故只能作为较低档的专用仪器。　　三、色散型近红外光谱仪器：　　色散型近红外光谱仪器的分光元件可以是棱镜或光栅。为获得较高分辨率，现代色散型仪器中多采用全息光栅作为分光元件，扫描型仪器通过光栅的转动，使单色光按照波长的高低依次通过样品，进入检测器检测。根据样品的物态特性，可以选择不同的测样器件进行投射或反射分析。　　该类型仪器的优点：是使用扫描型近红外光谱仪可对样品进行全谱扫描，扫描的重复性和分辨率叫滤光片型仪器有很大程度的提高，个别高端的色散型近红外光谱仪还可以作为研究级的仪器使用。化学计量学在近红外中的应用时现代近红外分析的特征之一。采用全谱分析，可以从近红外谱图中提取大量的有用信息;通过合理的计量学方法将光谱数据与训练集样品的性质(组成、特性数据)相关联可得到相应的校正模型;进而预测未知样品的性质。　　该类型仪器的缺点：是光栅或反光镜的机械轴承长时间连续使用容易磨损，影响波长的精度和重现性;由于机械部件较多，仪器的抗震性能较差;图谱容易受到杂散光的干扰;扫描速度较慢，扩展性能差。由于使用外部标准样品校正仪器，其分辨率、信噪比等指标虽然比滤光片型仪器有了很大的提高，但与傅里叶型仪器相比仍有质的区别。　　四、傅里叶变换型近红外光谱仪器：　　傅里叶变换近红外分光光度计简称为傅里叶变换光谱仪，它利用干涉图与光谱图之间的对应关系，通过测量干涉图并对干涉图进行傅里叶积分变换的方法来测定和研究近红外光谱。其基本组成包括五部分：①分析光发生系统，由光源、分束器、样品等组成，用以产生负载了样品 信息的分析光;②以传统的麦克尔逊干涉仪为代表的干涉仪，以及以后的各类改进型干涉仪，其作用是使光源发出的光分为两束后，造成一定的光程差，用以产生空间(时间)域中表达的分析光，即干涉光;③检测器，用以检测干涉光;④采样系统，通过数模转换器把检测器检测到的干涉光数字化，并导入计算机系统;⑤计算机系统和显示器，将样品干涉光函数和光源干涉光函数分别经傅里叶变换为强度俺频率分布图，二者的比值即样品的近红外图谱，并在显示器中显示。　　在傅里叶变换近红外光谱仪器中，干涉仪是仪器的心脏，它的好坏直接影响到仪器的心梗，因此有必要了解传统的麦克尔逊干涉仪以及改进后的干涉仪的工作原理。　　⑴ 传统的麦克尔逊(Michelson)干涉仪：传统的麦克尔逊干涉仪系统包括两个互成90度角的平面镜、光学分束器、光源和检测器。平面镜中一个固定不动的为定镜，一个沿图示方向平行移动的为动镜。动镜在运动过程中应时刻与定镜保持90度角。为了减小摩擦，防止振动，通常把动镜固定在空气轴承上移动。光学分束器具有半透明性质，放于动镜和定镜之间并和它们成45度角，使入射的单色光50%透过，50%反射，使得从光源射出的一束光在分束器被分成两束：反射光A和透射光B。A光束垂直射到定镜上;在那儿被反射，沿原光路返回分束器;其中一半透过分束器射向检测器，而另一半则被反射回光源。B光束以相同的方式穿过分束器射到动镜上;在那儿同样被反射，沿原光路返回分束器;再被分束器反射，与A光束一样射向检测器，而以另一半则透过分束器返回原光路。A、B两束光在此会合，形成为具有干涉光特性的相干光;当动镜移动到不同位置时，即能得到不同光程差的干涉光强。　　⑵改进的干涉仪：干涉仪是傅里叶光谱仪最重要的部件，它的性能好坏决定了傅里叶光谱仪的质量，在经典的麦克尔逊干涉仪的基础上，近年来在提高光通量、增加稳定性和抗震性、简化仪器结构等方面有不少改进。　　五、传统的麦克尔逊干涉仪工作过程中，当动镜移动时，难免会存在一定程度上的摆动，使得两个平面镜互不垂直，导致入射光不能直射入动镜或反射光线偏离原入射光的方向，从而得不到与入射光平行的反射光，影响干涉光的质量。外界的振动也会产生相同的影响。因此经典的干涉仪除需经十分精确的调整外，还要在使用过程中避免振动，以保持动镜精确的垂直定镜，获得良好的光谱图。为提高仪器的抗振能力，Bruker公司开发出三维立体平面角镜干涉仪，采用两个三维立体平面角镜作为动镜，通过安装在一个双摆动装置质量中心处的无摩擦轴承，将两个立体平面角镜连接。　　三维立体平面角镜干涉仪的实质是用立体平面角镜代替了传统干涉仪两干臂上的平面反光镜。由立体角镜的光学原理可知，当其反射面之间有微小的垂直度误差及立体角镜沿轴方向发生较小的摆动时，反射光的方向不会发生改变，仍能够严格地按与入射光线平行的方向射出。由此可以看出，采用三维立体角镜后，可以有效地消除动镜在运动过程中因摆动、外部振动或倾斜等因素引起的附加光程差，从而提高了一起的抗振能力

光学滤光片的质量是好是坏，会直接去影响仪器的灵敏度高低，而滤光片的质量又是以其波长精度及其峰值指标来衡量的，因此滤光片波长精度及峰值是衡量光学仪器的重要参数之一。这在厂家的仪器说明书中虽未曾提及，但在仪器的实际使用过程中，我们发现对滤光片波长精度和峰值进行检查是重要的也是必要的，通过检查可以发现滤光片的波长标定值与实测值的符合程度，可以发现滤光片的质量是否符合要求。平常生活中我们会看到各种各样颜色的物体，滤光片的颜色也有红、橙、黄、绿、蓝、紫等多种颜色。那么光学滤光片的颜色是由什么来决定的呢？我们需要先了解一下光的原理。光在透明和不透明的物体上的照射原理是不同的。1．不透明物体的颜色是由它反射的色光决定的桌子、墙壁等不透明物体的颜色是由它反射的色光决定的，而不透明物体主要是反射与它本身相同颜色的色光。比如让白光照射到蓝色的物体上，白光中的红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫7种色光都会被蓝色物体吸收掉，只有蓝光不能被吸收而被反射回来，这样我们就看到该物体是蓝色的。但若用红光照射到蓝色物体上，由于红光全部被蓝色物体吸收，我们看不到反射回来的光，所以该蓝色物体呈黑色。其他不透明物体的颜色也是如此。另外，白色不透明物体能反射所有色光，因而不管什么颜色的光射到白色不透明物体上，我们就看到它呈什么颜色。而黑色不透明物体几乎不反射任何色光，因而任何色光射到它表面上，我们都会因为看不到反射色光而呈黑色。2．透明物体的颜色是由它透过的色光决定的玻璃等透明物体的颜色是由它本身透过的色光决定的，而透明物体能透过与它自身相同的色光。比如让白光通过蓝色玻璃，除蓝光外其他色光均不能顺利地通过玻璃，所以我们见到的玻璃就会呈现出蓝色。若透明物体能让所有的色光通过，那么该透明物体看起来就会是无色的。

[align=center][size=21px]光学部件[/size][size=21px]污染后的严重影响[/size][/align][size=16px] 利用光学原理、结构分析、检测等仪器（很大一部分是光谱仪器，也有色谱、质谱、能谱等仪器也会用到光学部件或光学原理、[/size][size=16px]光学[/size][size=16px]结构）都会涉及到光路、光学结构，光学部件像[/size][size=16px]光源、镜片、接收器[/size][size=16px]等（光学部件很多，[/size][size=16px]比[/size][size=16px]如有光栅、狭缝、聚光、分光[/size][size=16px]、放大、滤光[/size][size=16px]器[/size][size=16px]等，氘灯、氙灯、汞灯、卤素灯、元素灯、二极管、钨等、激光器、发射器等光源，光电倍增管、探测器、传感器[/size][size=16px]、接收机等接收器[/size][size=16px]或检测器等）大多[/size][size=16px]会被用在其中。[/size][size=16px] 这一类部件使用、维护事项很多，其中手印、[/size][size=16px]油污、[/size][size=16px]灰尘[/size][size=16px]等[/size][size=16px]污染情况[/size][size=16px]比较普遍[/size][size=16px]比较[/size][size=16px]常见[/size][size=16px]，对仪器检测影响也是比较大。[/size][size=16px] 有一次我们用一台光谱仪做样品检测，数据总是和以往检测的有偏差，和理论数据差的也较多，比如理论数据是[/size][size=16px]40[/size][size=16px]左右，以往检测一般是在[/size][size=16px]38.5-41[/size][size=16px]范围内，本次检测检测结果是在[/size][size=16px]32-35[/size][size=16px]，而且反应慢（不灵敏，[/size][size=16px]样品浓度变化后检测数据[/size][size=16px]上升和下降变化慢）[/size][size=16px]长时间[/size][size=16px]检测[/size][size=16px]数据[/size][size=16px]波动[/size][size=16px]大，不稳定。[/size][size=16px]经过[/size][size=16px]多次[/size][size=16px]排查和处理（比如换光源、换检测器模块等）效果都不明显。最后发现是检测池（气室）有一透光镜片上附着灰尘较严重，清洗处理后，仪器回复正常。[/size][size=16px] 后我们又碰到过一些比如接收器上有手印或灰尘的情况，[/size][size=16px]检测数据[/size][size=16px]也有类似的现象，检测数据偏低，不稳定，样品浓度变化后[/size][size=16px]检测数据[/size][size=16px]响应较慢等。光源上有[/size][size=16px]手印或灰尘[/size][size=16px]，发出的光强度（能量）偏低[/size][size=16px]，[/size][size=16px]检测结果[/size][size=16px]也会偏高或偏低且不稳定[/size][size=16px]。[/size][size=16px] 通过[/size][size=16px]以往工作总结和[/size][size=16px]大量查阅资料[/size][size=16px]发现，像光源类光学部件，受到污染光强会有一定程度[/size][size=16px]变弱，对于一些工作时表面温度较高的[/size][size=16px]玻璃材料[/size][size=16px]光源，如果[/size][size=16px]表面有手印、油污、较多灰尘等污染物[/size][size=16px]，玻璃材料甚至会破裂[/size][size=16px]（污染物影响散热，[/size][size=16px]导致玻璃表面[/size][size=16px]局部温度[/size][size=16px]过[/size][size=16px]高）。对于镜片、接收器等表面有污染，[/size][size=16px]检测数据[/size][size=16px]就会[/size][size=16px]偏低[/size][size=16px]，甚至接近零值[/size][size=16px]（[/size][size=16px]如[/size][size=16px]散射类检测器[/size][size=16px]，散射光损耗，接受到的光能量变低，检测数据偏低[/size][size=16px]）[/size][size=16px]；或者偏高，甚至[/size][size=16px]饱和[/size][size=16px]及满量程（如[/size][size=16px]吸收[/size][size=16px]类检测器[/size][size=16px]，接受到的光能量[/size][size=16px]低，[/size][size=16px]认为是被[/size][size=16px]吸收掉的光多，样品浓度高[/size][size=16px]，[/size][size=16px]检测数据偏[/size][size=16px]高[/size][size=16px]）[/size][size=16px]；检测数据[/size][size=16px]不稳定，样品浓度变化后[/size][size=16px]检测数据响应[/size][size=16px]慢等[/size][size=16px]多种不正常现象[/size][size=16px]，[/size][size=16px]体现在指标上就是仪器[/size][size=16px]噪声大，[/size][size=16px]准确度（或[/size][size=16px]示值误差[/size][size=16px]、线性误差）差、[/size][size=16px]重复性不好[/size][size=16px]、响应时间长、[/size][size=16px]漂移严重[/size][size=16px]等[/size][size=16px]。[/size][size=16px] 光学仪器[/size][size=16px]的核心部件是光路或光学模块，光路或光学模块又是由一些关键光学部件组成[/size][size=16px]（如[/size][size=16px]光源、镜片、接收器等[/size][size=16px]）[/size][size=16px]，这些部件在生产、测量、使用、维护等环节一定不能污染（或污染后及时处理干净），如污染定会[/size][size=16px]影响[/size][size=16px]检测结果[/size][size=16px]，[/size][size=16px]严重时影响[/size][size=16px]会非常[/size][size=16px]大[/size][size=16px]。[/size][size=16px] 最后再次提醒，[/size][size=16px]光学仪器[/size][size=16px]的[/size][size=16px]光学部件一定不能污染[/size][size=16px]，如污染定会[/size][size=16px]影响[/size][size=16px]检测结果[/size][size=16px]。[/size]

[align=center][b]SMU-CNC 2.5D龙门式2.5次元光学影像仪[/b][/align][b]二、仪器主要技术参数及产品特点：[/b] [table][tr][td] [align=center][b]供应厂家[/b][/align] [/td][td] [align=center][url=http://www.cli-apparatus.com]东莞市诚立仪器有限公司[/url][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]型 号[/b][/align] [/td][td] [align=center]SMU—6080CNC龙门式[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]X/Y/Z测量行程[/b][/align] [/td][td] [align=center]600╳800╳200mm[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]Z轴行程[/b][/align] [/td][td] [align=center]有效空间200mm,非接触式测量能实现曲面、平面、轮廓度测量[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]X轴基座[/b][/align] [/td][td] [align=center]00级济南青大理石 [/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]仪器底座 [/b][/align] [/td][td] [align=center]00级济南青大理石 [/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]玻璃台面尺寸[/b][/align] [/td][td] [align=center]600╳800mm[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]玻璃台承重[/b][/align] [/td][td] [align=center]80kg[/align] [/td][/tr][tr][td=1,4] [align=center][b]传动型式[/b][/align] [/td][td] [align=center]P级导轨： X/Y/Z轴台湾上银精密线性导轨[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]C5研磨级丝杆：台湾上银研磨级滚珠螺杆[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]轴承：日本NSK原装进口轴承[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]手持式移动摇杆操作，可切换快速移动[/align] [/td][/tr][tr][td=1,2] [align=center][b]光学尺[/b][/align] [/td][td] [align=center]贴片光学尺分辨率（解析度）：X/Y轴0.0005mm（0.5[color=red]μm[/color]）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]解析度Z:[color=red]0.005mm[/color][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]X/Y线性测量精度[/b][/align] [/td][td] [align=center]≤3+L/200 (200ms) [/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]机台定位精度[/b][/align] [/td][td] [align=center]≤3μm[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]重复精度：[/b][/align] [/td][td] [align=center]≤3μm[/align] [/td][/tr][tr][td=1,2] [align=center][b]电机[/b][/align] [/td][td] [align=center]日本松下伺服电机[/align] [/td][/tr][tr][td]X/Y轴采用日本松下高性能伺服电机750W，双重闭环控制系统Z轴采用日本松下高性能伺服电机200W（带刹车），双重闭环控制系统[/td][/tr][tr][td] [align=center][b]摄像机[/b][/align] [/td][td] [align=center]日本STC 1/2″CCD 800TVL 摄像机放大倍率30-300X[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]测量软件[/b][/align] [/td][td] [align=center]全自动影像软件（测量数据可按客户报表格式导出或导入QMS系统）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]镜头[/b][/align] [/td][td] [align=center]桂林光学高清全自动变倍镜头，光学放大倍率0.7-4.5X[/align] [/td][/tr][tr][td=1,2] [align=center][b]光源系统[/b][/align] [/td][td] [align=center]表面光源：为八区LED冷光源、寿命长,亮度可分区独立调节[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]底光源：LED绿色冷光源、寿命长、亮度可调[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]仪器外形尺寸（L*W*H）[/b][/align] [/td][td] [align=center]1070╳1180╳1750mm[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]仪器重量（KG）[/b][/align] [/td][td] [align=center]1000kg（保证机台高速运行时的稳定性）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]电源[/b][/align] [/td][td] [align=center]AC220V/50HZ　AC110V/60HZ [/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]电脑[/b][/align] [/td][td] [align=center]联想主机M6201C[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]显示器 [/b][/align] [/td][td] [align=center]FD2735W+LED 27寸[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]质保[/b][/align] [/td][td] [align=center]整机质保1年（仪器使用寿命10年）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]影像视频卡[/b][/align] [/td][td] [align=center]SV-2000E[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]电源开关[/b][/align] [/td][td] [align=center]台湾铭纬 MW 12V-24V，漏电、短路保护[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]电源滤波器[/b][/align] [/td][td] [align=center]X、Y、Z 3组独立滤波器（抗电流干扰）[/align] [/td][/tr][tr][td=1,8] [align=center][b]软件功能[/b][/align] [/td][td=1,2] [align=center]点、直线、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、○形环、距离、角度、开云线,闭云线[/align] 可编程式自动测量[/td][/tr][tr][td] [align=center][/align] [/td][/tr][tr][td=1,5] 1.测量数据可以导出到Excel、Word,AutoCAD,TXT中 2.运行用户程序时，可将数据按行或列方式导入到Excel中 3.导入到报表中时，可选择是否导出图形和位图[b]具体功能参考以下“全自动版量测软件”说明[/b][/td][/tr][tr][td] [align=center][b]产品设计[/b][/align] [/td][td] [align=center]东莞市诚立仪器有限公司（生产商）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]产品生产[/b][/align] [/td][td] [align=center]东莞市诚立仪器有限公司（生产商）[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][b]产品售后[/b][/align] [/td][td] [align=center]东莞市诚立仪器有限公司（生产商）[/align] [/td][/tr][/table][b] 三. 全自动版量测软件（[/b]诚立 CNC 多功能影像量测软件[b]）[/b]l完整的CNC功能，具有自动对焦，自动倍率切换，自动光源控制功能。l完整的几何量测 (多点量测点、线、圆、弧、矩形、槽形，提高量测精度等)。l影像自动寻边扫瞄功能，快速、准确、重复性好，再配以一系列功能强大的影像量测工具简化量测过程，使量测工作更轻松，效率高。l支持强大的量测功能，方便快捷的图素建构功能，用户只需简单的点选图形就可建构出点、线、圆、弧、矩形、槽形、距离、交点、角度、中点、中线、垂直、平行，宽度，自动对焦，自动轮廓二维扫描等。l量测之图素可做平移、复制、旋转、数组、镜射等功能,于大量的量测时,可以缩短程序制作的时间。l量测历程之影像数据，可储存成SIF档，让不同批的对象，每次量测时所量测的位置与方法相同，避免不同使用者于不同时间量测之结果产生差异。l针对复杂的工件，可将Dxf、EXCELLON(选购)档案直接加载，快速转换成自动量测程序，节省人工进行教导之时间。可同时加载多个Dxf档案进入系统内，并可设定每个Dxf檔Z轴所要位移的高度。lSI CAD可做离机程序编辑。l针对重复工件的量测，具有自动编程的功能，量测过程即自动编程，可以快速准确量测，并可大幅缩短现场之量测时间，批量量测同一工件更加方便快捷。l自动编程后，可依自己的设定格式，自动输出报表档案，并可依量测时间，将同一工件量测数据自动分类存盘。l自动编程后，可单独对量测失败或超差图素，进行重新量测。l自动编程后，可自动累计量测次数。l多元化的坐标系设定方式，包含坐标平移、坐标旋转、可重新定义新的坐标系、修改坐标原点和坐标摆正，使量测更加方便。l具有自动曲线的描扫量测功能，可快速计算出曲线之面积与周长。l可将多个SI档案，同时加载系统内。l计算器功能可找最大值、最小值、平均值、总和、数值范围、失败图素及NG图素。l可设定形位公差，自动公差输出及自动判别功能，能以颜色、标示等形式对不合格尺寸报警，让用户在数据判断时更加快速。l具有3D视图及工作平台视端口切换功能。l影像区之影像可输出为jpeg格式之图档。l图素卷标功能，让用户在量测大量图素时，寻找量测图素时更加快捷方便。l批次图素处理，选取所需要的图素，快速执行程序教导、重设历程、拟合图素、导出数据等多项功能运用。l实物拍摄功能，能将工件全图拍下，丰富人性化的标注功能，能在实际影像、虚拟图像中进行包含所有二维平面几何尺寸、形位公差的标注，让沟通之效率达到最高。l显示方式多样化：语言的切换 (中文简体和繁体、英文、韩文、意大利、日、德、法、等)、公英制单位的切换 (mm/inch)角度的转换(度/分/秒)、显示数字的小数点可自设、坐标系的切换等…。l软件与EXCEL无缝连接，量测数据具有图文打印、数据明细报表及预览功能、数据报表可打印及导出至Excel进行统计分析也同时可按客户格式报表导出对应的报表要求。l逆向工程功能与CAD的同部操作使用，可实现软件与AutoCAD工程图相互转换，直接判别工件与工程图之间的误差。l绘图区可在位置作定点ZoomIn、ZoomOut、Pan及ZoomAll的功能。拥有全览和放大功能，不管多大像素都能一览无疑。l绘图区具个性化编辑：点、线、圆、弧、删除、剪切、延伸、倒弧角、圆之切点、两条线与半径求圆心删除、剪切、延伸、UNDO/REDO，并可在全览区直接做尺寸标注及简易CAD绘图功能与修改。l档案人性化管理，量测数据可储存成SI、SIF、SXF格式或以dxf 文檔保存，量测结果可以DXF导入专业CAD软件，直接用于开发设计。l软件内含内置数据排序功能，能快速整理量测后的数据，让报表的整理更加容易，可以在量测过程中自动的读取指定的测量数据，并计算最大值、最小值、平均值等统计系数。l可于软件内，自定图素要素输出报表格式(如圆心坐标、距离、半径….等。[color=#333333]l[/color]LED智能环光表面冷光源及LED智能轮廓冷光源系统，彻底的告别了传统的旋扭式光源系统，通过全软件控制光亮度，让量测更加完美，分区功能可随意更换光照角度[b]四、仪器工作环境 [/b]1[b]、温度与湿度： [/b]温度：20－25℃，最佳：22℃ 相对湿度：50％－60％，最佳：55％ 机房最大温度变化率：10℃/小时 北部地区气候干燥，建议使用加湿器 南方地区气候潮湿，建议使用去湿器[b]2、工作室热量计算：  [/b]保持工作室内设备系统操作于最佳温度、湿度空间，必须计算室内总散热量，其中包括室内设备仪器散热量总和（灯光普通照明灯可忽略不计）  [b][/b]人体散热量：600BTY/小时/人  [b][/b]工作室散热量：5/平方米 [b][/b]仪器放置空间（L*W*H）：4M ╳4M ╳ 2.5M[b]3、空气含尘量：  [/b]机房应保持清洁，空气中大于0.5MLXPOV的杂质在每立方英尺不多于45000个，若空气灰尘过多，很容易造成资源读写错误及磁盘机中磁盘或读写磁头毁损。[b]4、机房颤动度：  [/b]机房内颤动度不得高于0.5T，机房内产生震动的机器避免放置在一起，因颤动将使机器内机械部分、接头、主机面板接触部分产生松动 而造成机器不正常。[b]五、电源： [/b]AC220V/50HZ　AC110V/60HZ[b]六、附件：[/b]附件1：仪器选配件 [table][tr][td]仪器配件 [/td][td=2,1] 1X镜筒（标配）[/td][td=2,1] 0.5镜筒（选配）[/td][td=1,3] 工作距离[/td][/tr][tr][td]变倍镜头[/td][td=2,1] 0.7X-4.5X [/td][td=2,1] 0.7X-4.5X [/td][/tr][tr][td]附加镜头[/td][td]视频放大倍率[/td][td]物镜光学视场(mm) [/td][td]视频放大倍率[/td][td]物镜光学视场(mm)[/td][/tr][tr][td]0.5X(选) [/td][td]16.5X-97.5X [/td][td]16.2-2.6 [/td][td]8.3X-48.5X [/td][td]32.4-5.2 [/td][td]180[/td][/tr][tr][td]标配[/td][td]33X-195X [/td][td]8.1-1.3 [/td][td]16.5X-97.5X [/td][td]16.2-2.6 [/td][td]90 [/td][/tr][/table]附件2：仪器配置表 [table][tr][td]机型 [/td][td]龙门式全自动影像仪SMU-6080CNC(2.5D)[/td][/tr][tr][td]CCD [/td][td]日本STC 1/2″CCD 800TVL 摄像机放大倍率30-300X[/td][/tr][tr][td]自动变倍镜头[/td][td]全自动高清变倍镜头[/td][/tr][tr][td]自动测量软件[/td][td]全自动测量软件（含视频卡、光盘及加密锁）[/td][/tr][tr][td]光栅尺[/td][td]三轴高分辩率贴片光栅尺寸0.0005mm [/td][/tr][tr][td]LED光源[/td][td]冷光源长寿命可调八区程序LED光源[/td][/tr][tr][td]数据处理器[/td][td]台湾产[/td][/tr][tr][td]导轨[/td][td]P级导轨： X/Y/Z轴台湾上银精密线性导轨[/td][/tr][tr][td]丝杠[/td][td]C5研磨级丝杆：台湾上银研磨级滚珠螺杆[/td][/tr][tr][td]马达[/td][td]日本松下高性能双闭环伺服电机[/td][/tr][tr][td]大理石底座[/td][td]000级济南青大理石 [/td][/tr][tr][td] X轴基座[/td][td]000级济南青大理石[/td][/tr][/table]

[color=blue][b]光学仪器分析的基本概念和原理[/b][/color]１． 原子光谱：原子的核外电子一般处在基态运动，当获取足够的能量后，就会从基态跃迁到激发态，处于激发态不稳定（寿命小于１０－８ ｓ），迅速回到基态时，就要释放出多余的能量，若此能量以光的形式出现，即得到发射光谱。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]法ＡＡＳ的基本原理是基于物质所产生的原子蒸气对特定谱线的吸收作用来进行定量分析。２． 激发电位是指从低能级到高能级需要的能量。第一激发态，又回到基态，发射出光谱线，称共振发射线。同样从基态跃迁至第一激发态所产生的吸收谱线称为共振吸收线（简称为共振线），即具有最低激发电位的谱线。由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线称为共振线。由较低级的激发态（第一激发态）直接跃迁至基态的谱线称为第一共振线，一般也是元素的最灵敏线。当该元素在被测物质里降低到一定含量时，出现的最后一条谱线，这是最后线，也是最灵敏线。用来测量该元素的谱线称分析线。３． 实际分辨率：指摄谱仪的每毫米感光板上所能分辨开的谱线的条数。或在感光板上恰能分辨出来的两条谱线的距离。理论分辨率Ｒ＝λ／Δλλ为两谱线的平均值，Δλ为它们的差值。４． 锐线光产生原理在高压电场下阴极向正极高速飞溅放电,与载气原子碰撞,使之电离放出二次电子而使场内正离子和电子增加以维持电流。载气离子在电场中大大加速获得足够的能量轰击阴极表面时可将被测元素原子从晶格中轰击出来即谓溅射,溅射出的原子大量聚集在空心阴极内与其它粒子碰撞而被激发发射出相应元素的特征谱线——共振谱线。

本人目前接触了一些FTIR的分析仪，特将其基本工作原理总结如下： FTIR-傅立叶变换红外分析仪于上世纪70年代研制成功。FTIR-傅立叶变换红外分析仪不使用色散元件，由光学探测器和计算机两部分组成。光学探测器部分为麦克尔逊干涉仪，它将光源系统送来的干涉信号变为电信号，以干涉图形式送往计算机，由计算机进行快速傅立叶变换数学处理计算，将干涉图转变成红外光谱图。 傅立叶变换红外分析仪由光源（硅碳棒、高压汞灯）、麦克尔逊干涉仪、样品室、检测器（热电量热计、汞镉碲光检测器）、计算机系统和记录显示装置组成。

火焰光度检测器(FPD)是一种对硫、磷化合物具有高选择性和高灵敏度的质量型检测器，因此也叫硫磷检测器。它主要包括燃烧系统和光学系统两大部分。燃烧系统与氢火焰离子化检测器一样，若在火焰上附加一个收集极，就成了氢火焰离子化检测器。光学系统包括石英窗口、滤光片和光电倍增管。火焰光度检测器工作原理是，当含有硫、磷的有机化合物进入富氢-空气火焰中燃烧时，将发射出不同波长的特征光，特征光通过石英板、滤光片投射到光电倍增管的阴极，产生光电流，经静电计放大后记录下来

光学系统是分光测色仪的核心部分,有人以光谱仪基本原理和光学设计理论为基础,以便携化、低成本、且满足设计要求的光谱范围和分辨率为具体设计目标,用光学软件对该系统进行模拟和优化,得出研究结:设计的系统光谱范围为360nm～740nm,光谱分辨率为10nm、F数为5.25、光谱展开为44.1mm、系统体积约80mm×69mm×62mm,满足精度高、体积小及成本低等设计要求。光学系统结构是便携式测色仪中的核心部分,它设计的好坏直接影响[url=http://www.xrite.cn/categories/][color=#000000]测色仪[/color][/url]的整体性能,其中光谱分辨率是衡量该系统质量好坏最重要的评价标准。

红外气体分析仪是基于不同气体对红外线有选择性吸收这一原理进行设计的。采用国外先进的相关滤波技术(GFC)。仪器内置两路红外线吸收的信号光谱气路，一路作为参比信号，一路为需要测量气体的信号，通过数字逻辑电路使其相减，得到测量气体的光谱信号，此时信号浓度的大小变化就是气体浓度的变化，将信号转换为电压信号，加以增益放大后，并通过8段线性化电路，最终通过显示屏显示气体准确浓度。 仪器光学部件采用特殊光学器材制造，微量级量程时还增加了一套多次反射装置的光学气室，它通过多次反射光学镜片使得光路信号加长，便可精确检测出最小气体的变化量。

光谱仪工作原理光谱分析方法作为一种重要的分析手段，在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱，还是荧光光谱，拉曼光谱，获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围（UV-IR），高光谱分辨率（0.001nm），自动波长扫描，完整电脑控制功能，极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统，使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。在光谱学应用中，获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源（如光谱灯、激光器、发光二极管）、颜色玻璃和干涉滤光片外，大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪，在连续的宽波长范围（白光）选出窄光谱（单色或单波长）辐射。　　当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝，首先由光学准直镜准直成平行光，再通过衍射光栅色散为分开的波长（颜色）。利用不同波长离开光栅的角度不同，由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。光栅基础　　光栅作为重要的分光器件，他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择，在此做一简要介绍。　　光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成；复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围广，杂散光低，且可作到高光谱分辨率。光栅方程　　反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽，一系列平行刻槽的间隔与波长相当，光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长，在大多数方向消失，只在一定的有限方向出现，这些方向确定了衍射级次。如图1所示，光栅刻槽垂直辐射入射平面，辐射与光栅法线入射角为α，衍射角为β，衍射级次为m，d为刻槽间距，在下述条件下得到干涉的极大值：mλ=d（sinα+sinβ）　　定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半，即φ=（α-β）/2；θ为相对与零级光谱位置的光栅角，即θ=（α+β）/2,得到更方便的光栅方程：　　mλ=2dcosφsinθ　　从该光栅方程可看出：　　对一给定方向β，可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。　　衍射级次m可正可负。　　对相同级次的多波长在不同的β分布开。　　含多波长的辐射方向固定，旋转光栅，改变α，则在α+β不变的方向得到不同的波长。如何选择光栅选择光栅主要考虑如下因素：刻槽密度G=1/d，d是刻槽间隔，单位为mm。闪耀波长　　闪耀波长为光栅最大衍射效率点，因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围，可选择闪耀波长为500nm。光栅刻线　　光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率，刻线多光谱分辨率高，刻线少光谱覆盖范围宽，两者要根据实验灵活选择。光栅效率　　光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高，信号损失愈小。为提高此效率，除提高光栅制作工艺外，还采用特殊镀膜，提高反射效率。光栅光谱仪重要参数：分辨率（resolution）　　光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量，根据瑞利判据为：　　R==λ/Δλ　　光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽（FWHM）。实际上，分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。　　R∝M.F/WM－－光栅线数　　F－－谱仪焦距　　W－－狭缝宽度色散　　光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到：沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化，即：Δλ/Δχ=dcosβ/nF　　这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距，n为衍射级次。由方程可见，倒线色散不是常数，它随波长变化。在所用波长范围内，改变化可能超过2倍。根据国家标准，在本样本中，用1200l/mm光栅色散的中间值（典型的为435.8nm）时的倒线色散。带宽　　带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等，在给定波长，从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如，单色仪狭缝为0.2mm，光栅倒线色散为2.7nm/mm，则带宽为2.7*0.2=0.54nm。波长精度、重复性和准确度　　波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级，单位为nm。通常，波长精度随波长变化，本样本中为最坏的情况。　　波长重复性是光谱仪设定一个波长后，改变设定，再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳，其重复性超过了波长精度。　　波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。F/#　　F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量，这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时，可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值，长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径

热像仪的操作以红外热像仪的工作原理为基础。热像仪通常作为一种开源节流的检测工具，可用于诊断、维护和检查电气系统、机械系统和建筑结构，另外，科学研究和企业研发人员也可以通过热成像技术攻克各类研究过程中的难题。那么，到底什么是红外热成像技术呢?而红外热像仪工作原理又是什么呢?就让福禄克红外热像仪来告诉你吧!　　红外热成像　　红外热成像是一门使用光电设备来检测和测量辐射并在辐射与表面温度之间建立相互联系的科学。辐射是指辐射能(电磁波)在没有直接传导媒体的情况下移动时发生的热量移动。现代红外红外热像仪的工作原理是使用光电设备来检测和测量辐射，并在辐射与表面温度之间建立相互联系。　　人类一直都能够检测到红外辐射。人体皮肤内的神经末梢能够对低达±0.009°C (0.005°F) 的温差作出反应。虽然人体神经末梢极其敏感，但其构造不适用于无损热分析。　　例如，尽管人类可以凭借动物的热感知能力在黑暗中发现温血猎物，但仍可能需要使用更佳的热检测工具。由于人类在检测热能方面存在物理结构的限制，因此开发了对热能非常敏感的机械和电子设备。这些设备是在众多应用中检查热能的标准工具。　　热像仪工作原理　　热像仪旨在检测目标所放出的红外辐射。参见下图。目标是指使用热像仪进行检查的物体。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/20(6).jpg　　目标是指使用热像仪进行检查的物体。热像仪旨在检测目标所发出的红外辐射。　　红外辐射通过热像仪的光学镜片聚焦于探测器，从而引起反应，通常是电压或电阻的变化，该变化由热成像系统中的电子元件读取。热像仪产生的信号将转换成电子图像(温度记录图)并显示在屏幕上。温度记录图是经过电子处理后显示在屏幕上的目标图像，在该图像中，不同的色调与目标表面上的红外辐射分布相对应。在这个简单的过程中，热像仪可以查看与目标表面上发出的辐射能量相对应的温度记录图。　　热像仪组件　　典型的热像仪由多个常用组件组成，包括镜头、镜头盖、显示屏、探测器和处理电子元件、控件、数据存储设备、配有手带的把柄以及数据处理和报告制作软件。这些组件因热成像系统的类型和型号而异。参见下图。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/21(5).jpg　　典型的热像仪由多个常用组件组成，包括镜头、镜头盖、显示屏、控件和配有手带的把柄。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/22(5).jpg　　热像仪通常都带有一个便携包，用于放置热像仪、软件及现场使用的其它相关设备。　　镜头。热像仪至少配有一个镜头。热像仪镜头可以捕获红外辐射并使之聚焦于红外探测器上。探测器将作出反应并生成电子(热)图像或温度记录图。热像仪镜头用于采集传入的红外辐射并使之聚焦于探测器上。大多数长波热像仪的镜头包含锗 (Ge)薄层增透膜，可以改善镜头的透光能力。　　福禄克最新发布的全新25微米微距镜头和4倍长焦预校准镜头，将极端目标温度变化尽收眼底。25微米微距镜头可以识别在印刷电路板等上的超微目标，甚至是肉眼难以看见的缺陷。新的4倍长焦镜头让用户能够看到放大四倍的远处目标，从而能够轻松检测电线或高火炬塔等目标。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/23(8).jpg　　显示屏。热图像显示在热像仪的液晶显示屏 (LCD) 上。LCD 显示屏必须足够大，而且足够清晰，以便在各种场合的不同光线条件下轻松查看图像。此外，显示屏通常还会提供其它信息，例如电池电量、日期、时间、目标温度(以 °F、°C 或 °K 为单位)、可见光图像以及与温度有关的色谱键。参见图 1-5。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/24(5).jpg　　图1-5 热像图显示在热像仪上的液晶屏(LCD)上。　　探测器和处理电子元件。探测器和处理电子元件用于将目标处理成为有用的信息。目标发出的热辐射将聚焦于探测器(通常是电子半导体材料)上。热辐射可使探测器作出可测量的反应。该反应在热像仪中经过电子处理，形成热图像，并显示在热像仪的显示屏上。　　控件(操作菜单)。控件用于执行各种电子调整，以优化显示屏上的热图像。可以对温度范围、热跨度和级别、调色板和图像融合度等变量执行电子调整。此外，还可以对辐射率和反射背景温度执行调整。参见图 1-6。近几年已出现触摸屏热像仪实现所有操控。http://www.wzxxw.cn/p/m/1224/25(6).jpg　　图1-6 借助控件，可以对变量(例如温度范围、热跨度和级别和其它设置)执行电子调整。　　数据存储设备。包含热图像和相关数据的电子数字文件存储在各类电子记忆卡或存储器以及传输设备中。许多红外成像系统还允许存储补充语音或文字数据以及通过集成的可见光摄像机采集的相应可见光图像。　　数据处理和报告制作软件。与大多数现代热成像系统配合使用的软件不仅功能强大，而且容易使用。数字热图像和可见光图像可以导入个人计算机中，然后在此处通过各种调色板显示，而且还可以进一步调整所有辐射参数和分析功能。之后，经过处理的图像将被插入报告模板中，或者发送至打印机、以电子形式存储或者通过互联网发送给客户。福禄克红外热像仪使用的是SmartView红外分析软件。

热导检测器工作原理是什么？有哪些因素影响热导检测器的灵敏度？