贝克曼颗粒计数仪原理

仪器信息网讯 2013年4月9日，贝克曼库尔特在北京翠宫饭店举办了“新技术新产品交流展示会”，并宣布贝克曼库尔特在Pittcon 2013上推出的DelsaMax系列纳米及Zeta电位分析仪正式登陆中国市场，70多位来自科研院所、质检机构、石油化工等单位的颗粒特性表征工作者参会并见证了这一时刻，仪器信息网作为特邀媒体亦出席了会议。 会议现场 　　作为颗粒特性分析仪器产品的领先供应商，贝克曼库尔特此次重点推介的DelsaMax系列是DelsaNano系列的升级款，最大的创新点是DelsaMax系列拥有一个光源和两个独立检测系统，可以实现并行测量，即一次加样可同步进行纳米粒径测量与Zeta电位分析，能够在纳米生物技术、纳米粒结合等领域“大显身手”，这当属世界首创! 　　同时，贝克曼库尔特会上还特别展出了Multisizer4库尔特颗粒计数及粒度分析仪。这款产品是贝克曼库尔特经典产品Multisizer3的升级版，继续沿用了闻名半个多世纪的库尔特原理，但却加进了时代进步的元素——数码脉冲处理器(DPP)技术，这使得Multisizer4灵敏度大为提高，可广泛应用在生物技术、细胞生物学、石油化工等行业。 　　DelsaMax系列的三宗“最” 贝克曼库尔特公司颗粒表征全球产品经理Matthew N Rhyner博士 　　会上，贝克曼库尔特技术应用专家Matthew N Rhyner博士介绍，DelsaMax系列利用电泳光散射及动态光散射原理，拥有31个检测器，测量过程仅需短短1秒钟，是一款纳米颗粒特性表征的“利器”，能够轻松应付生物制品成分表征、化学制品和材料两大市场的复杂要求。 　　据了解，DelsaMax系列当前共推出了DelsaMax Pro及DelsaMax Core两个型号。其中，DelsaMax Pro仅需45微升样品在短短1秒钟内便可获得纳米粒径与Zeta电位的结果，凭借“最小的样品量，最快捷的分析，成就最极致的结果”这一赞誉亮相Pittcon 2013。而DelsaMax Core则拥有独立的动态和真正的静态光散射检测器，样品容量低至1微升，能够测量从0.4纳米至10,000 纳米的颗粒大小与分子量。 　　Multisizer系列再出“重拳” 会场展出了Multisizer4库尔特颗粒计数及粒度分析仪 　　Matthew N Rhyner博士说到，1947年，库尔特先生发明了以电阻变化法测量颗粒和细胞粒度及数目的库尔特原理(COULTER PRINCIPLE)，而Multisizer系列产品正是采用这一原理，并在各行各业建立了雄厚的用户基础。现如今，随着科学技术的进步，库尔特原理也迈进了数码时代。 　　最新推出的Multisizer4创新引入了数码脉冲处理器(DPP)专利技术，分辨率、灵敏度都有了大幅提升，不但可精确分析粒径分布，还能分析微量颗粒的绝对体积、绝对数量。配合精确的体积测量泵，Multisizer4还可提供颗粒的个数与浓度。Matthew N Rhyner博士还举例到，Multisizer4在细胞生物学领域能够“大显神通”，如Multisizer4可以对生物细胞体积的改变作持续地跟踪、监测和分析。 贝克曼库尔特公司技术工程师现场操作演示Multisizer4 　　除Matthew N Rhyner博士莅临现场作技术应用培训外，贝克曼库尔特中国及东南亚区颗粒特性分析部市场营运经理马作楠先生、颗粒分析产品部北区经理麻晓良先生等纷纷到场参会。 贝克曼库尔特中国及东南亚区颗粒特性分析部市场营运经理马作楠先生 　　马作楠先生首先对各位用户能在百忙之中出席会议表示感谢，并对大家的到来表示欢迎。同时还说到，DelsaMax系列可谓是世界上第一台可以同时并实时测量纳米粒径与Zeta电位的粒度仪，曾在Pittcon 2013上亮相展出。而Multisizer4则是迄今为止功能最全、分辨率最高的颗粒计数及粒度分析仪，今天我们的工程师会亲自操作Multisizer4，测量矿泉水、眼药水以及洗眼液中的颗粒分布情况，让大家现场体验一下Multisizer4的优良性能。 贝克曼库尔特颗粒分析产品部北区经理麻晓良先生 　　麻晓良先生说到，贝克曼库尔特公司于1997年由Beckman公司与Coulter公司合并而成，其创始人是世界科学仪器界传奇式人物阿诺贝克曼先生与沃勒斯库尔特先生。发展至今，贝克曼库尔特公司已成为世界上最大的颗粒分析仪器制造公司之一。 　　贝克曼库尔特公司业务主要分为专业测试、生命科学与临床测试3部分，其中，颗粒特性分析业务属于专业测试部，主要颗粒表征仪器产品则包括库尔特颗粒计数/粒度分析仪Multisizer系列、激光粒度仪LS系列与Delsa系列、比表面及孔隙分析仪SA3100。 抽奖活动现场 　　此外，贝克曼库尔特公司的代理商——北京博力飞科技发展有限公司现场还安排了抽奖活动，以此回馈贝克曼库尔特颗粒特性分析仪器新老用户的支持。(撰稿：刘玉兰) 　　附录：http://www.coultercounter.com/ 　　　　　http://www.beckmancoulter.com.cn/ 　　　　　http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/index.asp

仪器信息网讯 2012年5月23日，为了给用户提供一个了解颗粒特性分析技术最新动态和交流使用心得的平台，贝克曼库尔特在清华大学环境学院成功举办了“颗粒特性分析技术讲座”，贝克曼库尔特高层携公司相关技术专家出席了会议，为40多位颗粒特性分析工作者作了精彩的讲解；仪器信息网作为特邀媒体应邀参加。 会议现场 贝克曼库尔特分析仪器产品全球市场经理THOMAS ED HORTON先生(左)和分析系统市场专家HANDY YOWWANTO先生(右)出席会议 贝克曼库尔特中国及东南亚区域颗粒特性分析部市场营运经理马怍楠主持会议 贝克曼库尔特颗粒特性分析部技术应用经理MATTHEW RHYNER博士 　　贝克曼库尔特微粒表征产品系列概述 　　MATTHEW RHYNER博士首先介绍说：“贝克曼库尔特微粒表征产品涉及Z + MultisizerTM系列库尔特计数器、LSTM系列激光散射粒度分析系统、DelsaNanoTM纳米粒子分析仪、XLA/XLI超速分析离心机和SA3100比表面分析仪等，主要为具有粒度、电荷、浓度和孔隙度等特性相关需求行业和学术界的客户提供解决方案”。随后，MATTHEW RHYNER博士就这五类产品的技术优势应用领域做了系统的阐述。 贝克曼库尔特颗粒特性产品重大里程碑展示 　　四大颗粒表征方法的技术优势和典型应用 　　MATTHEW RHYNER博士分别详细介绍了激光衍射法、库尔特法、动态光散射法和zeta电位的测试方法、常见问题、技术优势和典型应用。 　　(1) 激光衍射法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“激光衍射法是一种测量粒度的方法，是世界上最流行的粒度测量技术，可以为用户提供快速和一致的结果，并且在能想象到的几乎每个行业中都有所应用，如药品乳剂、粉末涂料、咖啡、化妆品、调味品、污水等行业领域”。 LS系列激光粒度分析仪 　　贝克曼库尔特LS系列激光粒度分析系统是基于此原理制造的，该仪器的激光器为先进的高功率光纤连接固体光源，寿命长 可同时采用4个波长(450nm，600 nm，780 nm及900 nm)及背散射测量 干法样品台采用最先进的“龙卷风”系统及设计，“快速气流变换“技术配置无须早期设计之空气压缩机，模拟龙卷风产生机理，产生高度剪切力以达至最佳而非破碎性分散效果。 　　(2) 库尔特法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“库尔特法由库尔特先生于1948年发明，并于1953年10月20日取得专利权，是一种独特的非光学方法，用于对稀释的导电液体中存在的物质进行粒度分析，在过滤效率、干细胞、蛋白质聚集体、体外诊断体液、细胞水肿动力学、海水等领域有着广泛的应用前景。” 　　贝克曼库尔特生产的Multisizer 3颗粒计数仪正是基于此原理制造的。该仪器适用于分析颗粒、细胞、微生物等 可分析光学技术不能检测之浓度极低样品，如水样品。细菌等 具备精确体积测量泵，可作定量分析，而且不受颗粒形状、颜色及光学特性(折光率与吸光率)的影响，实时提供颗粒计数与粒度分布，分辨率高。 Multisizer 3库尔特颗粒计数仪 　　(3) 动态光散射法和zeta电位分析法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“动态光散射是一种用于估计非常小物体直径的技术，可检测的最小粒子粒度为0.6nm-7μm，在纳米粒子和生物样品分析方面应用广泛，适合分析球形粒子，难于分析圆柱形粒子。” 　　“zeta电位是一种用于计算粒子在溶液中所带电荷的参数，是根据物体的电泳淌度计算而来，可以对样品进行定性比较、测定等电位点、鉴定涂层的效果或质量。” DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪 　　与上述表征方法相关的贝克曼库尔特的仪器是DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪是基于这两种方法制造的。它的主要特点是：该仪器采用了高灵敏度技术，可以测量高浓度样品和极低浓度样品的Zeta电位以及纳米粒度，不需前处理，浓度动态范围达四个数量级。 现场讨论 　　另外，讲座会还特设了颗粒分析技术问答环节，参会者积极讨论，增强了仪器用户与厂商专家的互动，取得了良好的效果。清华大学环境学院高工郭玉凤女士(上图中间位置)，在讲座上积极参与讨论，对整个讲座的用户交流起到了积极的推动作用。 贝克曼库尔特高层与参会用户合影留念 　　附录： 　　http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/ 　　http://www.beckmancoulter.com.cn/

仪器信息网讯 2010年8月13日，为了给用户提供一个了解颗粒特性表征技术最新动态和一个交流使用心得的平台，美国贝克曼库尔特公司在北京远望楼宾馆成功举办了“颗粒特性与表征分析技术讲座会”，来自科研院所、质检机构、石油化工、水泥、制药等企业单位的50余位颗粒特性表征工作者参加了此次会议，仪器信息网作为特邀媒体应邀参加。 会议现场 美国贝克曼库尔特公司颗粒部全球技术总监许人良博士 　　许人良博士首先介绍了美国贝克曼库尔特公司的发展历程与近期动态。许人良博士表示：“美国贝克曼库尔特公司是由世界科学仪器界传奇式人物阿诺贝克曼先生与沃勒斯库尔特先生创建，目前公司拥有一万多名员工，年销售额可达33亿美元，是世界上最大的颗粒分析仪器制造公司之一，名列《福布斯》500强与《财富》1000强。同时，美国贝克曼库尔特公司在中国已开展业务30多年，并建有独资公司——贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司。” 美国贝克曼库尔特公司各类颗粒表征仪器 　　“目前，公司主要包括颗粒表征、核酸研究检测、蛋白质组学、细胞学、离心机、自动化的化学分析等几大领域的分析仪器。其中，颗粒表征仪器主要分为颗粒计数、比表面分析、粒度分析和颗粒与平面Zeta电位分析四大类。” 　　另外，许人良博士还分别介绍了颗粒表征仪器的原理、技术、标准、应用领域以及美国贝克曼库尔特公司的最新产品。 　　(1)纳米颗粒度与平面Zeta电位测量 　　许人良博士说到：“纳米颗粒表征的两大指标为粒度与表面电势。目前，纳米颗粒度与平面Zeta电位测量技术的新进展主要有：PCS(光子相关光谱)背散射技术主要用于亚微米与纳米粒度的测量 FST(穿过透明电极的前向散射)专利技术为测量颗粒在浓溶液中Zeta电位的新技术 EOP(电渗探针法)技术主要用于测量颗粒表面的Zeta电位。” DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪 　　美国贝克曼库尔特公司最新上市的DelsaNano系列是目前惟一应用电泳光散射及动态光散射原理，同时提供颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固平面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分析仪。 　　在粒度测量方面，DelsaNano系列具备多角散射(15度与165度)功能，可测量粒度范围为0.6-7000nm，浓度范围宽达四个数量级的浓度(0.001-40%)，灵敏度非常高 在Zeta电位测量方面，DelsaNano系列具备多角度测量(15度与30度)功能，浓度范围测量极宽，能够测颗粒在浓溶液中的Zeta电位分布，是目前唯一能测固体与薄膜表面电位的仪器。 　　(2)激光衍射法中的小颗粒测量与干法分析 　　许人良博士谈到：“激光衍射仪已取代筛分与沉降法成为从纳米至毫米大小颗粒度测量的最常用手段。不过，激光衍射仪也面临着如何用激光粒度法测量亚微米甚至纳米粒度，如何能达到测量的高精度、高分辨率、高重现性，如何能真正使干粉的测量也如湿法那样能均匀进样，分散颗粒而不打碎等挑战。” LS 13320系列激光衍射仪 　　LS 13320系列利用独特的PIDS(偏振光强差异)技术，能够用全米氏理论求得颗粒在17nm-2000μm范围内的粒度分布 同时，LS 13320系列还利用专利的光源滤光器，134个探测器与自动准直系统达到高精度与高度重现性。另外，LS 13320系列采用专利的“旋风式”干法分散系统分析需要干法分析的粉末状样品。 　　(3)最高分辨率的粒度测量与计数技术 　　许人良博士介绍到：“通过库尔特原理(电阻法)可以直接测量出颗粒的大小与浓度，而不是如激光粒度仪那样算出来的。如果所测量的液体量由计量装置精确控制，那么从所得到的计数可知浓度，并可精确测量每个颗粒的固体体积，由此可得到各种粒度的表征参数。” Multisizer系列(MS)库尔特计数器 　　MS系列采用了唯一能通过三维测量而直接提供颗粒体积数据和绝对计数的分析方法，所有功能都由使用方便的软件控制，符合美国食品药品检验局(FDA) 联邦法规第21章11 款。另外，MS系列采用数码脉冲处理技术，同时，还选用“编辑”技术校正非轴向流动的影响，采用重合效应校正技术使测量可在低于10%重合效应的浓度下测量，因此，MS系列具有极高的准确性与重现性。 现场互动 　　另外，讲座会还特设了颗粒表征技术问答环节，参会者积极发问，增强了仪器用户与厂商专家的互动，取得了良好的效果。 　　附录1：贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司 　　 http://www.coultercounter.com/ 　　 http://www.coultercounter.com/ 　　 http://beckman.instrument.com.cn