射线荧光光谱仪说明书

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射线荧光光谱仪说明书相关的仪器

  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别(固体和液体)条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案
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射线荧光光谱仪说明书相关的耗材

  • 美国X射线荧光光谱仪杯SC-7332
    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口 特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
  • X射线荧光屏
    这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。

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射线荧光光谱仪说明书相关的资讯

  • 偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS在拉链行业的应用
    相关法规背景 REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU) No 474/2014、(EU) No 1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。 REACH法规与消费品密切相关的主要是法规附件XVII,附件中对消费品中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制,中国消费品因不符合欧盟REACH法规被各成员国海关拒绝进口或责令召回的通报近年来不断增长,已成为我国消费品出口的重要技术壁垒。根据欧盟非食用消费品快速通报系统(RAPEX)的公开数据统计,2014年我国出口欧盟的消费品因不符合REACH法规被通报高达301起,同比上年增长91.7%,其中涉及增塑剂的达180起,涉及重金属的97起。从产品类别来看,针对玩具及儿童用品的通报260起,同比增长111.4%,针对一般消费品的41起,同比增长4.9%。通报数据的快速增长一方面表明,欧盟对于REACH法规的执行监管日趋严格,另一方面也说明,我国输欧消费品在DEHP等禁用化学品的控制上存在较大不足,企业的风险防范意识有待进一步强化。 XEPOS如何帮助拉链行业有效应对欧盟REACH法规 拉链作为服装大类,配件分类,REACH法规对其中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制。一般而言,人们尤其关注里面含有的各种重金属元素,尤其应用于儿童服装类的拉链,拉链中的铅(Pb)含量更是有着更严格要求。随着企业风险防范意识的强化,不少企业都纷纷购置各种精密分析仪器对产品质量进行监控,以应对相关行业法规。但拉链企业对拉链重金属含量的日常监控中往往会遇到如下问题:(1) 检测时间长,效率低下,影响生产(2) 检测人才的培养成本高(3) 检测结果偏差大,达不到内控要求(4) 送检成本高 SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器,能很好有效地解决上述拉链行业质量监控中所遇到的困惑。在日常的重金属检测中,斯派克台式偏振X射线荧光光谱仪XEPOS有着无与伦比的巨大优势。(1)3-5分钟内可以完成一个样品的检测,检测元素范围:Na-U;(2)操作简单,并不需要十分专业的技术人员操作,节约人力成本;(3)无损检测,无须进行样品前处理,轻松解决样品前处理复杂、耗时、危险等问题。(4)检测下限极低,在某些材质检测方面,偏振式X射线荧光光谱仪(简称ED(P)XRF)灵敏度和检测限都是普通X射线荧光光谱仪(EDXRF)的5-10倍;(5)性能大幅度领先于普通X射线荧光光谱仪。无论是对轻元素还是重金属元素,偏振式X射线荧光光谱仪XEPOS皆有优秀的测试能力。普通的EDXRF虽然也能宣称可以达到Na-U的分析能力,如Na的检测限指标一般是3000ppm,常见重金属为10-30ppm,所以对于某些痕量元素的测试应用意义不大。而偏振ED(P)XRF的元素检测限一般为:Na:100ppm Mg:30ppm Al:30ppm Si:2ppm S:0.6ppm等其的重金属元素检测限一般为(以GB15618-1995,和美国EPA标准为例,硅基,300s测试时间):V:0.6ppm Cr:0.5ppm As:0.7ppm Cu:0.6ppm Cd:0.3ppm Sb:0.7ppm Hg:0.3ppm Pb:0.3ppm La:2.1ppm Ce:2.5ppm Pr:3ppm Nd:4ppm(6)仪器性能认同度高,不少检测单位都有该设备,如中国CQC,TUV实验室,深圳计量院,广州分析测试中心,广东省环保局。企业在有仪器自检的情况下,可以减少甚至无须对样品送第三方检测,降低企业经营成本。 另外,SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS,在氦气保护状态下,在300秒钟之内,对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。XEPOS型X射线荧光光谱仪真正做到高性能,多功能,一机多用,是企业单位添置精密仪器的,提升自身综合能力的一个不错选择。
  • X射线荧光光谱仪发展历史,你了解多少?
    X射线荧光光谱仪在我们生产的各个领域都有广泛的应用,对于企业生产质量的保障都有重要作用。X射线荧光光谱仪也经历了长时间的发展过程,在发展的过程中不断突破技术瓶颈,变得越来越好。那关于X射线荧光光谱仪的发展历史,你了解多少呢?跟着X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。  1895年德国物理学家伦琴发现X射线   1969年美国海军实验室研制出第一台EDXRF   1990年北京中产电子、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂研制EDXRF   1997年德国菲希尔在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2000年英国牛津仪器在定型自有FP算法   2001年英国牛津在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2003年德国费希尔仪器在定型自有FP算法   2005年日本精工仪器在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2009年国内仪器厂商海外购买FP算法推出EDXRF测厚仪   2017年一六仪器全新EFP算法成熟,推出新一代EDXRF测厚仪   一六仪器发展历程:  2009年一六仪器团队成员根据多年的EDXRF研发及应用经验,重新搭建更新一代算法、结构、部件及控制总成系统。  2012年算法模型和新型搭建成功,部件开始投入市场。  2015年EFP核心算法的软件进行整机测试其最小测量面积、变焦、及复杂多层的能力。  2017年12月正式发布新型测厚仪XTU系列及EFP算法软件。  至今相继推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多种仪器型号,功能包括涂镀层分析、Rohs检测、地质地矿全元素分析、古董珠宝贵金属检测。  以上就是X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容,如果大家想要了解更多关于X射线荧光光谱仪的内容,欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。
  • 岛津X射线荧光光谱仪合规应对中国药典通则新修订
    *国家药典委员会官网及公示稿截图中国药典相关通则修订稿正在加速公示中,四月底通则0461 X射线荧光光谱法迎来了它的第一次修订稿的发布。修订的主要内容包括对前言、供试品的制备、定量测定法相关内容的补充完善,以及增订方法学验证与确认中准确度、重复性、中间精密度、专属性、定量限、线性、范围、耐用性、确认相关的内容,罗列入下表。此次修订将X射线荧光光谱技术更加科学全面的收载到中国药典之中,为该技术于药典的发展应用奠定基础。岛津解决方案修订稿中新增内容明确指出能量色散型X射线荧光分析仪无需对样品作特别复杂的处理而直接进行测量,对样品也没有任何损坏,可直接用于生产过程控制。岛津X射线荧光光谱仪家族核心成员能量色散性X射线荧光分析仪(ED-XRF)就是业内元素分析的优等生。ED-XRF无需前处理或者简单前处理即可对样品进行元素分析。▶ 适用的样品类型广泛,固体片剂、粉末和液体均可。▶ 实验操作过程简单。EDX系列▷ 岛津EDX系列产品完全符合通则修订新增的对仪器硬件的一般要求*注:EDX为岛津ED-XRF产品除了光源(X 射线管)、分光系统和检测器等组件构成外,岛津EDX产品配置Rh靶材和特种滤光片,可降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线,从而提升检测灵敏度,亦可分析微量元素。同时搭载多种一次滤光片,可以实现软件操控自动切换。准直器标配观察样品摄像头,对微小样品和微量样品也可以进行精准分析。此外,无法在真空下分析的液体、会产生气体的样品中的轻元素可以通过He置换进行有效分析。丰富的硬件配置是岛津EDX产品满足各类分析需求的重要保障。▷ 专业软件让EDX分析便捷又合规岛津EDX的分析操作可通过PCEDX Pro软件快速完成,简单操作即可开启全自动测定。该软件功能强大,提供多种计算方法,包括标准曲线法、FP法(基本参数法)、薄膜FP法、背景FP法等,能完美应对0461通则修订中新增的数学校正法相关内容,帮助客户快速准确地进行数据分析。此外,PCEDX Pro CS/DB版完全满足制药行业对于FDA 21CFR Part11的合规需求,包括安全功能、审计追踪、用户管理、验证功能等,且通过岛津LabSolutions CS平台让数据管理更加高效。PCEDX软件具有FDA 21CFR Part11要求的功能★ 安全功能只有授权用户才能进行ID/密码认证、操作历史记录和锁定屏幕。★ 通用场景术语库操作日志和审计跟踪日志输出功能 允许用户输出用户操作或系统配置设置更改的历史记录,作为审计跟踪日志。★ PDF输出和验证功能完整性检查软件已添加,以检查任何篡改。★ 项目管理功能多用户使用一台仪器时,通过对每个项目的管理,提高了用户的便利性。★ 使用LabSolutions CS实现网络管理利用网络环境,可以即时获取所需信息。★ 使用LabSolutions CS可以集中管理数据可对实验室现有的其他分析仪器及其数据进行统一集中管理,让实验室的管理更加智能高效。▷ EDX拥有丰富的制药行业应用场景随着ICH Q3D指导原则在中国药典转化实施的逐步开展,元素类分析技术及相关产品备受制药行业客户的关注,此次修订的通则0461所收载的X射线荧光光谱法(后简称XRF法)也是元素分析的利器,相较于其它元素分析方法,如原子吸收分光光度法、电感耦合等离子体质谱法等,有其独特的技术优势,简化前处理、无损、绿色、友好、低能耗是专业分析人员对它的综合评语。基于ICH Q3D要求,国内研究人员【1】最新报道了采用ED-XRF技术建立了桂利嗪片中铅 (Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)、钴(Co)、钒(V)、镍(Ni)共 7种元素的内标标准曲线法,并对多家企业的桂利嗪片进行元素杂质含量测定和风险评估。★ 在方法优化验证中,特别考察了片剂包衣对测定的影响情况,结果显示包衣对测定结果无影响,可不除包衣直接进行测定,是XRF能无需前处理直接测定的特色之一。★ 耐用性试验结果表明,样品量对测试结果影响不大,故不需要定量取样,但测试时样杯中的样品要覆盖样杯底,使测试结果更准确。★ 涉及 3 种不同物质形态,包括溶液、片剂和粉末,回收率试验验证了以标准系列溶液测量粉末样品时,回收率均符合要求,说明液体形态和粉末形态的样品测试误差在允许范围内,片剂和粉末样品中各元素的定量结果一致,且测试图谱无差异,表明所建立的方法适用于不同形态样品的测定。不同形态的选择以简便为主,充分体现EDXRF法快速测定的优势。岛津在前沿技术方面不断开拓新应用新方向,切实关注制药行业客户的实际需求,不断为现场分析的提效增速而努力,就让我们一起浏览下岛津EDX的使用场景吧!◎ 原料药或制剂中元素含量测定和元素杂质的快筛(可搭配“药物元素杂质分析方法包”应对ICH Q3D需求)◎ 生产中控现场的反应中间产物相关元素(如卤素、金属)的含量控制◎ 中间体或原料药生产所用贵金属催化剂的残留分析及回收◎ 含矿物药的中成药中如Hg/As/Cu等元素的含量快速测定◎ 生产过程或成品中微小异物分析(可与显微红外技术搭配进行综合分析)更多精彩案例欢迎浏览岛津官网应用文章,免费下载!文献引用:【1】刘荷英等. X 射线荧光光谱法快速定量桂利嗪片中7种元素杂质,中国药业China Pharmaceuticals 2024,33(9):69-73本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。
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