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双经纬仪交会测量原理

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双经纬仪交会测量原理相关的论坛

  • 大气科学之气象观测==高空风观测

    高空风观测http://www.kepu.net.cn/gb/earth/weather/observe/images/obs00601_pic.jpg探空仪即将拖放701雷达待命工作  测量近地面直至30公里高空的风向风速。通常将飞升气球作为随气流移动的质点,用地面设备(经纬仪或雷达)跟踪气球的飞升轨迹,读取其时间间隔的仰角、方位角、斜距,确定其空间位置的座标值,可求出气球所经过高度上的平均风向风速。根据地面测风设备不同,分为如下几种:   经纬仪测风:有单经纬仪测风和双经纬仪测风两种。单经纬仪只能测出气球的仰角和方位角,气球高度由升速和施放时间推算。气球升速是根据当时空气密度、球皮等附加物重量计算出气球净带力,按照净举力灌充氢气来确定。但由于大气湍流和空气密度随高度变化,以及氢气泄漏等因素的影响,气球升速不均匀导致高度误差大,测风精度低。在配合探空仪观测时,气象站用探空仪测得的温度,气压、湿度资料计算出气球高度。双经纬仪测风是在已知基线长度的两端,架设两架经纬仪同步观测,分别读出气球的仰角、方位角,利用三角法或矢量法计算气球高度和风向风速。经纬仪测风只适用于能见度好的少云天气,夜间必需配挂可见光源,阴雨天气只能在可见气球高度内测风。

  • 【分享】双侧电子引伸计的测量原理

    双侧电子引伸计的测量原理 下图是双侧电子引伸计结构简图。从图中可看出,双侧电子引伸计感受试样变形的刀刃是与试样对称两侧的a点及d点接触,即是在测量试样标距L内部的ad两点联线的伸长,当试样标距L发生纯粹拉伸伸长ΔL 时(假设无偏心拉伸影响),ad的伸长与ΔL有恒定的函数关系(这个关系可在引伸计与材料试验机作联机“校准”时自动建立)。在实际的拉伸试验中,通常与纯粹拉伸变形同时发生的偏心拉伸产生的纯弯曲变形在ad线段中的ao部分产生伸长(或缩短)变形,而od部分产生缩短(或伸长)变形,由于对称性,这两部分变形的数值相等和符号相反,它们的代数和为零,即是纯弯曲变形不会使ad线段的长度发生变化,这就是双侧电子引伸计能避免偏心拉伸中的弯曲影响而测到纯粹拉伸变形的原理。

  • 想了解下,仪器社区有讨论大地测量相关仪器的板块吗

    [font=&][color=#333333]大地测量仪,组合型地表测量精密仪器。由[/color][/font][font=&][color=#333333][url=https://baike.baidu.com/item/%E7%BB%8F%E7%BA%AC%E4%BB%AA/0?fromModule=lemma_inlink]经纬仪[/url][/color][/font][font=&][color=#333333]、全站仪、GPS及觇牌和激光对中器构成。可用于在野外[font=Arial, sans-serif]研究地球形状、大小、空间物体位置、重力场,确认所在地的经纬度、高程,并进行两点间的精准测距。广泛应用于地铁建设、科考,地理信息科学专业学生也会用到。[/font][/color][/font]

  • 什么是“相同测量条件下重复测量”

    什么是“相同测量条件下重复测量”

    科学网精选科普杂文[align=center]什么是“相同测量条件下重复测量”?[/align][align=center]武汉大学 叶晓明[/align] 概率论中的一个基本思维是,以大量彼此独立的随机事件的统计值去评价其中一个未知事件的概率。而测量理论则是概率论在测量领域里的一个应用。 既然是“大量彼此独立的随机事件”,这就意味着这些事件一定来自于不同条件,所以概率论中绝对没有什么“相同条件”字眼,否则,如果强调各个事件来自于相同条件,各个事件样本就完全相关,就等同于对一个事件做重复统计,那自然不是100%就是0%。但是,现有测量理论却以“相同测量条件下重复测量”作为误差类别的鉴别依据。 近年来,作者在新概念测量理论中强调,测量序列发散来自重复测量中的测量条件变化,如果以“相同测量条件下重复测量”,测量序列将不会发散,测量实践中不可能作到绝对的相同测量条件。但是,一个比较普遍的情况是,测量学家们强调“设定‘相同测量条件下重复测量’前提是个为了便于误差分类”,当我的论文证明那些实践中的重复测量实际都是不同测量条件时,他们会说我所指的不同测量条件“实际等同于现有理论中的相同测量条件,相同测量条件只是一种近似说法,不需要绝对化。”而非常奇怪的是,他们一方面非常强调要把某些不同条件近似地说成相同条件,却又另一方面禁止把某些不同条件近似说成为相同条件,而且非常反感将“相同条件”字眼更换成“不同条件”字眼。 看实际案例吧。 一台经纬仪的轴系误差的MPE(最大允许误差),来自大量不同仪器的轴系误差检测样本的统计。但是,经纬仪的轴系误差要归类为系统误差,这个不同仪器条件不能近似地说成相同条件,因为不能承认轴系误差在相同测量条件下能导致离散。 一台经纬仪的测角标准偏差,来自大量不同盘位的测点的样本统计,因为这个标准偏差属于精度(精密度,随机误差),这个不同盘位条件就需要近似地说成相同条件。 一台水准仪的高差误差的标准偏差的检测过程中,需要反复改变仪器架设高度和重新整平进行样本采样,也是来自不同条件,但因为这个检测值也叫精度(精密度),属于随机误差的范畴,这些不同的测量条件也就需要近似地说成为相同的测量条件。测绘领域水准网平差中精度来自不同路线高差观测值的发散性统计,因为属于精度(随机误差),这个不同的路线条件需要近似说成相同测量条件。 一种测距仪的乘常数误差来自仪器内石英晶体频率的误差,该误差的MPE来自大量仪器在各种不同温度条件下的样本统计,但是,测距仪的乘常数误差需要归类为系统误差,这些不同条件不能近似说成相同测量条件。 一台测距仪的综合精度的检测样本来自大量不同距离量程的样本统计,因为属于精度(随机误差),这个不同距离量程条件需要近似说成相同测量条件。 一台相位式测距仪的周期误差是距离的正弦函数规律,当误差样本来自各种不同距离量程时,很容易推证出周期误差遵循一个U形随机分布。但是,周期误差被看作是系统误差,这个不同距离量程条件就不能近似说成相同测量条件。舍入误差(四舍五入),通过任意不同量程的误差值分析,很容易推证出它遵循矩形分布。由于这个误差被看作是随机误差,所以这个不同量程条件需要近似说成相同测量条件。 电子噪声误差的分布来自大量不同时间获得的误差样本的统计,这个误差需要归类为随机误差,所以这个不同时间条件需要近似说成相同测量条件。 某卡尺的MPE为±0.02mm,这实际是大量同型号卡尺、各种不同的量程在可能的各种环境温度下的误差检测值做统计出来的。这些不同测量条件究竟应该说成相同测量条件还是不能说成相同测量条件,反正我是说不清楚了。 某品牌手表的MPE为±15秒/天,这实际是大量同品牌手表在各种不同温度环境的检测值统计出来的。这些不同测量条件究竟应该近似地说成相同测量条件还是不能说成相同测量条件,我还是说不清楚。 …… 瞧这个逻辑乱的,您能归纳出其中区分相同条件和不同条件的奥妙之处吗?相信您现在肯定一头雾水。其实,其中也根本没有什么奥妙---不过是人的主观喜好而已,目的只是为了强行把某些误差归类为系统误差而把另外某些误差归类为随机误差。但相信您已经看出,那些所谓的相同测量条件没有一个属于真正的相同测量条件;而当真正作到相同测量条件重复测量时,没有一个误差能导致发散;而当让与误差相关的测量条件变化时,所有误差(包括各种规律的误差)却又都能导致发散,表现出随机分布。 所以,相信您已经有所理解:所谓误差分类不过是选择性失明而已,需要随机误差时,就把不同条件近似地说成相同条件;需要系统误差时,就咬定严格的相同条件对一个误差做重复统计。 也相信您也感受到了新概念测量理论的一个核心概念:任何误差其实都遵循随机分布,都有方差表达其概率区间(不确定性),没有什么系统/随机类别,没有什么精密度/正确度的概念区分,误差贡献发散(随机影响)或贡献偏离(系统影响)是重复测量中测量条件的变化规则决定的,是测量原理决定的,仪器内外的所有工作状态都是测量条件。 这里举出了这么多案例,当然还可以举更多,可以看到,每个案例中的误差统计实际都是在不同测量条件下进行。这说明了什么?说明那些工作在生产科研第一线的测量工作者们其实都很清楚明白,从来就没有人蠢到用“相同测量条件”去纠缠一个孤立的误差样本做重复统计----这本来就不是一个高深的理论问题。真不知道那些测量理论工作者是怎么想的,当你明确告知是不同测量条件时,他们还要扯“近似说法”,死不认账。 就这么一个“相同测量条件下重复测量”,相同既是相同也是不同,不同既是不同也是相同,进可攻退可守,刀枪不入,顺我者昌,逆我者衰。于是,精度也是“相同测量条件下重复测量”测得值的发散性,不确定度也是“相同测量条件下重复测量”测得值的发散性。人们念念有词,如醉如痴…… 2019 6 8 于武汉大学[align=center][img=,690,413]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/06/201906091241043452_1384_2101846_3.png!w690x413.jpg[/img][/align]

  • 【转帖】电子测距仪激光技术与经纬仪的望远镜实现一体化

    [em09506]摘要:过去75年,随着摄影测量等新技术的发展,美国测绘发生了巨大变化,测量师已经从使用全站仪和钢尺进步到使用GPS,从使用对数和三角表格进步到使用膝上型电脑,从使用纸质地图进步到使用在线的数字媒体等。早期,一名测量专业的毕业生就称为优秀的土地测量师,后来,测量师需要注册资格和认可资格,要求测量专业学位或与测量专业相关的学位。概述美国早期的测量师与土地评估师没有什么区别,后来考虑到公共安全问题,开始了测量师的注册工作。各州对获得测量师的注册资格和许可资格,没有统一的规定,对关于测量师从事何种服务也没有统一的意见。早期,由于大多数大地测量由联邦政府或相关机构管理,摄影测量产品没有应用到地界测量和建筑测量等领域,所以早期测量师无须注册资格和许可资格,就可以从事大地控制测量和摄影测量制图工作。随着技术的发展,注册和许可法律等多种因素的影响,早期的测量师就不再具有从事摄影测量、遥感等相关工作的资格。目前,获得测量师许可资格比较严格,一般要有2到4年的工作经验,经过专业知识培训和测量实践,通过笔试和同行测量师的推荐,才能获得测量师许可资格。注册和许可早期,从事私营测量活动的人需要具备注册资格,而为本地、州或联邦机构工作的人无需注册资格,当测量条例中出现测量师的职责和任务时,对测量师提出了注册要求。工程师和测量师考试国家委员会(NCEES)制定了一部示范法律,形成了相应的机制,为注册和许可提供了包括土地地界法律、州的相关规章制度等笔试内容。 随着大地控制测量、摄影测量和地理信息系统的发展,以及它们不断向传统测量领域的渗透,需要在州法律条例下重新定义测量概念,关键是明确土地地界测量的成果,并不只是执行这些新型技术。在新领域中,个人获取测量许可资格比较难,除非他们在地界测量方面有足够的经验,而对那些想获得测量许可资格的人来说,他们必须放弃有利的专业地位,进行土地地界测量的实践工作。

  • 国家质量监督检验检疫总局公告(2011年第165号)

    关于发布JJG146—2011《量块》等10个国家计量技术法规的公告 2011年第165号 根据《中华人民共和国计量法》有关规定,现批准JJG146—2011《量块》等10个国家计量技术法规发布实施。 编 号 名 称 批准日期 实施日期 备 注JJG 146—2011 量块检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 146—2003JJG 414—2011 光学经纬仪检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 414—2003JJG 877—2011 蒸气压渗透仪检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 877—1994JJG 949—2011 经纬仪检定装置检定规程 2011.11.14 2012.05.14 代替JJG 949—2000JJF 1318—2011 影像测量仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1319—2011 傅立叶变换红外光谱仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1320—2011 仪器化夏比摆锤冲击试验机校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1321—2011 元素分析仪校准规范 2011.11.14 2012.02.14JJF 1322—2011 水准仪型式评价大纲 2011.11.14 2012.02.14JJF 1323—2011 电子经纬仪型式评价大纲 2011.11.14 2012.02.14 特此公告。 二〇一一年十一月十八

  • RTK。全站仪。水准仪优惠大活动

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  • 大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加

  • 【分享】几种测厚仪的测量方法及原理

    在有关国家和国际标准中,对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,统称为覆层(coating)。 在加工工业、表面工程质量检测中,对覆层的厚度检测是检验产品优等质量标准的重要环节和必备手段。  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着科学技术的进步,对覆层厚度的测量的技术也随之进步。特别是近年来引入微机技术后,采用先进的磁性法和涡流法的[url=http://www.okyiqi.com/pages_products/prolist_17.html][color=black]测厚仪[/color][/url]进行覆层厚度的检测。此类测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率有了大幅度的提高,测量分辨率已达0.1微米,精度可达到1%。下面分别介绍磁性法和涡流法的测厚仪的原理。一. 磁吸力测厚仪的测量原理  永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。  这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场质量控制。二. 磁感应测厚仪的测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。三. 电涡流测厚仪

  • 【求助】单/双光子显微镜原理示意图(较形象)

    [size=2]求助各位同行: 在报告、讲座中经常看到各位专家、厂家用比较漂亮的双光子显微系统的原理示意图,直观上可以形象地区分激光扫描共聚焦显微镜与双光子显微镜的异同,请教大家是否有这方面的图片? 多谢各位!!![/size]

  • 数字双钳相位伏安表的应用范围和工作原理

    数字双钳相位伏安表是专为现场测量电压、电流及相位而设计的一种高精度、低价位、便携手持式、双通道输入测量仪器。数字双钳相位伏安表是电力部门、工厂和矿山、石油化工、冶金系统进行二次回路检查的理想仪表。尤其适用于继电保护、电能计量、电力建设和变送电工程。 数字双钳相位伏安表可以很方便地在现场测量U-U、I-I及U-I之间的相位,判别感性、容性电路及三相电压的相序,检测变压器的接线组别,测试二次回路和母差保护系统,读出差动保护各组CT之间的相位关系,检查电度表的接线正确与否等。 数字双钳相位伏安表采用钳形电流互感器转换方式输入被测电流,因而测量时无需断开被测线路。测量U1-U2之间相位时,两输入回路完全绝缘隔离,因此完全避免了可能出现的误接线造成的被测线路短路、以致烧毁测量仪表。

  • 【分享】冷镜式露点仪基本原理和露点测量中应该注意的若干问题

    1 冷镜式露点仪基本原理当一定体积的气体在恒定的压力下均匀降温时,气体和气体中水分的分压保持不变,直至气体中的水分达到饱和状态,该状态下的温度就是气体的露点。通常是在气体流经的测定室中安装镜面及其附件,通过测定在单位时间内离开和返回镜面的水分子数达到动态平衡时的镜面温度来确定气体的露点。一定的气体湿度对应一个露点温度;一个露点温度对应一定的气体湿度。因此测定气体的露点温度就可以测定气体的湿度。由露点可以得到绝对湿度,由露点和所测气体的温度可以得到气体的相对湿度。露点仪直接给出的量值是露点温度,确切地说应为“热力学露点温度”。世界气象组织采用的定义是“压力为P,混合比为r 的湿空气的热力学露点温度Td,是指在给定的压力下,湿空气被水饱和时的温度。在这个温度下,湿空气的饱和混合比rw 等于给定的混合比r”。光电露点仪的工作原理可以简单地叙述为:被测气体在恒定的压力下,以一定的流速掠过光洁的用冷氮气致冷的金属镜面,随着温度逐渐降低,镜面达到某一个温度时开始结露(或霜),此时的镜面温度就是露点温度。仪器通过光学系统,测温电路,逻辑控制电路、数字显示电路等,测量露点温度Td,并显示出来。2 露点测量中应该注意的若干问题2.1 镜面污染对露点测量的影响在露点测量中,镜面污染是一个突出的问题,其影响主要表现在两个方面:一是拉乌尔效应,二是改变镜面本底散射水平。拉乌尔效应是由水溶性物质造成的。如果被测气体中携带这种物质(一般是可溶性盐类)则镜面提前结露,使测量结果产生正偏差。若污染物是不溶于水的微粒,如灰尘等,则会增加本底的散射水平,从而使光电露点仪发生零点漂移。此外,一些沸点比水低的容易冷凝的物质(例如有机物)的蒸气,不言而喻将对露点的测量产生干扰。因此,无论任何一种类型的露点仪都应防止污染镜面。一般说来,工业流程气体分析污染的影响是比较严重的。但即使是在纯气的测量中镜面的污染亦会随时间增加而积累。为了消除污染的影响,人们摸索出各种各样的方法。最直观的方法是对被测气体进行过滤。同时根据具体情况定期或随时清洗镜面。此外,通常采用的办法是在每次测量前对镜面进行加热,并通气吹除污染物。在污染比较明显的情况下也可以通过多次重复进行结露和消露过程来实现。为了消除易冷凝碳氢化合物的干扰,有人采用双镜面技术,在露点室中增设一个与露镜相连接的“干”镜面,其温度稍高于露镜,当气进入露点室时,“干”镜受到和露镜一样的污染,但却不会结露,从而提供补偿。2.2 露点仪测量条件的选择在露点仪的设计中要着重考虑直接影响结露过程热质交换的几种因素,这个原则同样适用于自动化程度不太高的露点仪器操作条件的选择。这里主要讨论镜面降温速度和样气流速问题。被测气体的温度通常都是室温。因此当气流通过露点室时必然要影响体系的传热和传质过程。当其他条件固定时,加大流速的质量密度将有利于气流和镜面之间的传质。特别是在进行露点测量时,流速应适当提高,以加快露层形成速度;但是流速不能太大,否则会造成过热问题。这对制冷功率比较小的热电制冷露点仪尤为明显。流速太大还会导致露点室压力降低而流速的改变又将影响体系的热平衡。所以在露点测量中选择适当的流速是必要的,流速的选择应视制冷方法和露点室的结构而定。一般的流速范围在0.4L/min~0.7L/min 之间。为了减小传热的影响,可考虑在被测气体进入露点室之前进行预冷处理。在露点测量中镜面降温速度的控制是一个重要问题,对于自动光电露点仪是由设计决定的,而对于手控制冷量的露点仪则是操作中的问题。因为冷源的冷却点、测温点和镜面间的热传导有一个过程和速度,给测量结果带来误差。这种情况又随使用的测温点与镜面之间的温度梯度比较大,热传导速度也比较慢,从而使测温和结露不能同步进行。而且导致露层的厚度无法控制。这对目视检露来说将产生负误差。另一个问题是降温速度太快可能造成“过冷”。我们知道,在一定条件下,水汽达到饱和状态时,液相仍然不出现,或者水在零度以下时仍不结冰,这种现象称为过饱和或“过冷”。对于结露(或霜)过程来说,这种现象往往是由于被测气体和镜面非常干净,乃至缺少足够数量的凝结核心而引起的。过冷现象是短暂的,其时间长短和露点或霜点温度有关。这种现象可以通过显微镜观察出来;解决的办法之一是重复加热和冷却镜面的操作,直到这种现象消除为止。另一个解决办法是直接利用过冷水的水汽压数据。并且这样做恰恰与气象系统低于零度时的相对湿度定义相吻合。由上可见,无论是从热惯性或过冷现象来考虑,降温速度都不宜太快,如果超过合理范围,则降温速度愈快,热惯性也愈大,露点测量的误差就愈大,也越容易出现过冷。最佳降温速度一般通过实验来确定。2.3 低霜点测量中的问题霜点计或称低霜点湿度计是微量水测定中为数不多的最有效的手段之一。但是在测量中有些问题必须给予充分的注意。首先是影响检测的霜层厚度问题。在低含水量的情况下,霜层很薄,变化也慢,增加了检霜的困难,如霜点低于-65℃时,镜面上水分子移动性减小,结晶速度相应下降,从霜层的出现到相对稳定需要一定时间。霜点温度越低,困难也越大,测量误差也迅速增加。研究表明。当霜点接近-85℃时镜面上形成蓝色丝状结晶的薄霜,在这个温度附近霜层质量密度大约是10-8gm-2,相当于一个分子层的厚度,由此可见,在更低的霜点温度下测量是难以进行的。另一个是过冷问题。这种现象容易在高空探测中发生。在低湿下,由于冰的结晶过程比较缓慢,往往在达到霜点温度时霜层还未出现。当温度继续降低,水开始结冰,在过饱和状态下霜层迅速形成。但此时的饱和水汽压不是冰而应该是过冷水的饱和水汽压,如上所述:由于过冷现象,霜点测量误差有时高达几度。因此低霜点测量中要特别小心,保持足够长的平衡时间。这里顺便谈一下低霜点测量中需要注意的其他问题,由于露点仪的工作环境,即大气中的水分含量都在数万×10-6(体积分数),从而给操作造成很大的困难。测量结果往往发散性比较大,其原因是复杂的。要使测量数据准确可靠,除了保证仪器具有良好的性能和质量外,还必须注意下面几个问题。(1)气路系统一定要密封性好,以防止外界环境水分往里渗漏。(2)如果被测气体直接排放入大气,应考虑大气中的水分向测量系统内部扩散的问题。最常用的办法是在排气口接上一段适当长度的管子,其长度和管径以不影响测量腔的压力为原则。(3)取样管道要尽量短,尽量减少接头的数量和避免“死空间”,以减少本底水分的干扰。(4)取样管道和测量腔内壁力求干净,光洁度要好,选用憎水性强的材料,从实验结果我们可得到如下选材顺序:不锈钢最好,其次是聚四氟乙烯,铜和聚乙烯居第三位,最差的是尼龙和橡胶管,在低霜点测量中不应使用。

  • 【原创大赛】何为温压双控微波消解仪

    【原创大赛】何为温压双控微波消解仪

    “温压双控”,顾名思义,就是在微波消解仪工作过程中通过温度/压力来调节微波发射的功率,下面我们简单的了解一下温压双控微波消解仪。我们都知道样品要进行微波消解必须放入消解罐(又称溶样罐),那么我们就先了解一下温压双控的消解罐与单一控温或控压消解罐结构的不同,温压双控必然需要实时的传输温压数据,因此消解罐配有温压测量接口(如下图所示),我们可以看到此消解罐配有光纤测温(有些厂家为热电偶测温)和压力导管测压,实验过程中光纤和压力导管将实时的信号传递给各自的传感器。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307091201_450331_2569523_3.jpg温压双控微波消解仪主控罐示意图我们先简单了解一下测温,测压的原理:测温:光纤测温,光源发出的光经放大后,由光纤到达传感器热敏材料部分(浸没于试样中),传感器反射回一个与自身温度相对应的窄谱脉冲光信号,信号处理部分对返回信号列进行滤波采样和分析,从而确定罐内样品的温度;热电偶测温,根据热电效应原理采集信号的,但由于微波场内存在金属较危险,容易产生“天线效应”,因此较为危险。测压:现在主流的测压方式为压力导管测压即直接测压,就是通过压力导管与內罐直接连通,管内压力通过导管直接作用于仪器内的压力传感器(现有的压力传感器有压电晶体、扩散硅等)将压力转化为电信号,从而确定管内温度。了解了测温测压原理,那么温压双控是怎样工作的呢我们在设定温压双控微波消解仪消解程序时需要设置升温时间、温度、压力以及保温时间,见下面的消解程序,在加热的过程中温度和压力无论哪一个到达设定值就会进行调控,例如下面程序第一个阶段温度先到达120℃微波发射功率就会不断调节使温度维持在120℃,不管压力是10Psi还是100psi,如果压力先到达200psi而温度没有到达120℃,仪器会自动根据压力调节功率,不会让压力超过200psi。即谁先到达设定值就靠谁调控。 阶段升温时间min温度℃压力psi保温时间min1 5120200 22 6180350 10由于样品性质不同,同一个消解程序对于不同样品可能起调控作用的会不同,另外由于温度和压力存在一定的关系,压力和温度同时到达设定值的可能性很小,因此在使用过程中一般给压力设定一个限定值,避免发生爆罐现象,但还是以温度调控为主。温压双控微波消解仪的意义只有温控的微波消解仪在消解易产生大压力样品时,由于看不到压力变化很容易爆罐;而只控压的微波消解仪在用某些低沸点的消解试剂时,就会导致超温现象使消解罐熔化,而温压双控微波消解仪就能很好的解决上述问题,避免危险的发生。

  • 出具仪器校准报告

    请问,仪器经销商或生产单位(有校准资质的),能自己给自己的仪器出具第三方校准报告吗?比如工程现场的经纬仪,好多都是经销商直接出具校准报告给施工单位的。谢

  • 高精度涂层测厚仪的测量原理

    [url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器,具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下,希望可以帮助到大家。  磁感应测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。  电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。  迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料(如钢、铁、合金和硬磁性钢)等物体表面上的非磁性覆盖层厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡胶,铜,锌、铝、铬、铜等)。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。

  • 双悬臂三坐标测量仪校准使用什么技术依据?

    双悬臂三坐标测量机 12m*1.6m*3m 使用激光干涉仪进行校准,技术依据是否还是写JJF 1064-2010《 坐标测量机校准规范》?是否有更合适的技术依据?校准点是否要做小于等于30mm的点位?我发帖的原因是看到1064里规定的标准器6.4里没有激光干涉仪,请各位老师指点

  • 纺织品经纬密中经密和纬密的定义

    纺织品经纬密中经密和纬密的定义

    织物密度测试中,记得经纬密的定义是:经纱总根数叫经密,纬纱总根数叫纬密。可是下面的标准中给出的定义还是这个意思吗?[img=,690,613]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/04/201804080930347718_8047_1954597_3.png!w690x613.jpg[/img]

  • 图像尺寸测量仪测量汽车零配件的应用原理

    一、 火花塞测量背景 随着汽车行业的迅猛发展,汽车的零配件厂家也发展迅速,现代汽车行业要求制造和加工的要求也越来越严格。火花塞作为发动机点火设备的重要零件,其电极间隙、工位尺寸、外观质量等质量都影响着汽车的性能。 火花塞的作用是使高压电流跳过电极之间的空隙而产生火花,点燃汽缸中的所燃混合气。这个电极之间的空隙就是火花塞的间隙。火花塞间隙大小会影响发动机的功率。若电极间隙值太小,则跳火时间较早且电火花太小,使混合气的燃烧不够完善。若电极间隙值太大,则跳火时间较晚且电火花持续时间太短,甚至无电火花产生,导致发动机高速运转时缺火或火花弱,不利于发动机高速、加速性能的发挥。火花塞电极间隙值偏小的是因为调整不当。而偏大的原因可能是调整不当,也有可能是使用时间过长。因为长时间使用,燃烧使得火花塞的中心电极缩短,从而加大了电极间隙值。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/9/201909056431132.png[/img][/align]二、测量要求  火花塞电极间距:分电器触点点火式的汽油发动机来说,火花塞电极间隙值正常情况下应为0.6mm~0.8mm,而对汽油喷射式或电子点火式发动机来说,火花塞电极间隙值正常情况下应为0.9mm~1.1mm。三、 传统的测量解决方法 传统的火花塞检测主要由人工实现,配以简单的检测设备,检测速度和检测精度已经远远不能满足要求。人工检测的缺点和局限性:(1)人工检测劳动强度大,生产效率低;(2)主观性会直接影响产品的质量,没有严格统一的质量标准,尤其在一些无法量化的定性检测上每个人的质量标准都不可能严格一致,从而直接影响检测结果:(3)在一些高速的生产环节,人工检测无法实现实时全检,抽检的结果会导致大量不合格产品的产生;(4)在高精度的检测要求下,人工检测的慢速度无法对所有产品进行准确检测;在某些高温或有毒场合,也难以通过人工方式进行检测;(5)人工检测的数据无法准确及时地纳入质量管理系统;(6)检测过程中,有些如尺寸的精确快速测量、条码识别、形状匹配、颜色辨识等,利用人眼根本无法连续稳定地进行 因此,对于这种带有高精度性和智能性的工作,人工检测在给工厂增加巨大的人工成本和管理成本的同时,准确性和规范化难以保证,无法得到满意的检测效果。四、中图仪器测量解决方案 [b]中图仪器图像尺寸测量仪[/b]采用双远心高分辨率光学镜头,结合高精度图像分析算法,并融入一键闪测原理。CNC模式下,只需按下启动键,仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成,真正实现一键式快速精准测量。中图仪器基于机器视觉的自动测量技术,无需操作人员的参与,减少了人工成本,具有非接触、速度快、成本低、稳定性好、抗干扰能力强等突出优点,生产效率提高,缩短了生产周期,减少了设备折旧成本,有效地解决了传统测量方法存在的一系列问题。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/8/201908293306602.jpg[/img][/align]

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