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联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加
SuperView W11200[b][color=#3366ff]光学3D表面轮廓仪[/color][/b]是一款用于对各种精密器件表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌的3D测量的光学检测仪器。[align=center][img=,690,604]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707201529_01_3712_3.jpg[/img][/align] SuperView W11200光学3D表面轮廓仪只需操作者装好被测器件,在软件测量界面上设置好视场参数,调整镜头到接近器件表面,选择自动聚焦,仪器会对器件表面进行自动对焦并找到干涉条纹,调节好干涉条纹宽度后即可开始进行扫描测量;扫描结束后,软件分析界面自动生成器件3D图像,操作者可通过软件对生成的3D形貌进行数据处理与分析,获取表征器件表面线、面粗糙度和轮廓的2D、3D参数。 SuperViewW1 1200 光学3D表面轮廓仪采用光学非接触式测量方法,它具有测量精度高、使用方便、分析功能强大、测量参数齐全等优点,其独特的光源模式,保证了它能够适用于从光滑到粗糙等各种精密器件的表面质量检测。 系统软件为简体中文操作系统,操作方便。应用范例:[align=center][img=,690,352]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707201530_01_3712_3.jpg[/img][/align][align=center][img=,690,543]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707201530_02_3712_3.jpg[/img][/align] 性能特点:1、 高精度、高重复性、高稳定性1) 采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块组成测量系统,保证测量精度高;2) 精密的Z向扫描模块和独特的测量模式,保证测量重复性高;3) 高性能的内部抗震设计,为测量高稳定性保驾护航。2、 自动化操作的测量分析软件1)测量初始的自动聚焦,帮助操作者省却繁琐的调节过程;2)独特测量模式,帮助操作者快速测量不同形貌的待检样品;3)可视化窗口,便于操作者实时观察扫描过程;4)直观的软件分析界面,便于操作者第一时间获悉样品参数信息;5)强大的数据处理与分析功能,帮助操作者深入了解被测样品情况;6)一键分析,便于操作者快速实现大批量测量;7)同步分析,实现对样品分析操作的所见即所得;8)可视化的报表导出(可选择导出的图像与数据结果到word、pdf等文档)。3、 测量参数齐全根据四大国内外标准(ISO/ASME/EUR/GBT)的多达300余种2D、3D参数,让操作者对被测样品的认识更加全面具体。4、 精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
请问二阶非线性光学的原理网上哪里有介绍,有什么仪器可以测量二阶非线性光学的性质