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轻型触探仪试验表格规程

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轻型触探仪试验表格规程相关的耗材

  • 不锈钢表层海水温度计
    不锈钢表层海水温度计由上海书培实验设备有限公司生产提供,表层温度计主要用于海洋水库等表面水温的测量,产品有-6+40℃和-6+41℃两种温度范围,配有多种材质的外壳。产品介绍:产品名称:表层温度计温度范围:-6+40℃/-6+41℃表芯:水银/红水长度:30cm作原理和使用方法:产品测量范围为-6+40℃/-6+41℃,分度0.2℃的玻璃水银温度表和不锈钢、铜制、铁制等外壳组成的装置在现场测量海水表层(0~1m)水的表层温度。用表层水温表测量时应先将金属管上端的提环用绳子栓住,在离船舷0.5m以外的地方放入0~1m水层中,待与外部的水达到热平衡之后,即感温3min左右,迅速提出水面读数,然后将筒内的水倒掉,把该表重新放入水中,再测量一次,将两次测量的平均值按检定规程修订后,即为表层水温的实测值。记录温度读数。风浪较大时,可用水桶取水进行测量,水桶由不易传热的材料制成,其容量约为5L~10L。测量时把表层水温表放入水桶内,感温1min~2min后,将水桶和表管中的水倒掉,重新取水,将该表再放入水桶中,感温3min读数,然后过1min再读数,当气温高于水温时,把两次读数偏低的一次读数,按检定规程修订后的值,即为表层水温的实测值。反之,把两次读数偏高的一次读数,按检定规程修订后的值。即为表层水温的实测值。记录水温读数。在测量水温的同时测量、记录当时的气温。并记录调查船所在海区、站号、站位(经度和纬度)等信息。产品介绍表格:产品名称温度范围单价品牌304不锈钢表层温度计水银表芯 -6+40℃235上海书培304不锈钢表层温度计红水表芯 -6+40℃225上海书培201不锈钢表层温度计水银表芯 -6+40℃195上海书培201不锈钢表层温度计红水表芯 -6+40℃185上海书培 铜套表层温度计水银表芯 -6+40℃285上海书培铁套表层温度计水银表芯 -6+40℃125上海书培铁套表层温度计红水表芯 -6+40℃115上海书培塑料表层温度计水银表芯 -6+40℃85上海书培塑料表层温度计红水表芯 -6+40℃75上海书培304不锈钢表层温度计红水表芯 0-100℃225上海书培201不锈钢表层温度计红水表芯 0-100℃215上海书培红水表芯-6+40℃35上海书培水银表芯-6+40℃40上海书培木盒配套30上海书培浮漂水温计0-50℃50上海书培备注:温度计范围另有-6+41℃,需计量院过检请先咨询使用时请注意以下几点:一:测温时要避开船只排水的影响。二:冬季采的水不应带有冰块或雪球。三:读数时视线与表层水温表和毛细管顶端处在同一水平面,还要避免阳光的直接照射。
  • 溶出探针,0.9 mm 内径
    安捷伦的自动溶出度测试解决方案是基于 Agilent 8453 分光光度计、 紫外-可见 ChemStation 软件以及由计算机控制的取样系统和溶出仪来实现。多家溶出度仪制造商提供紫外-可见 ChemStation 溶出度仪驱动。8453 自动化系统提供整个溶解运行序列的控制,包括测试准备和净化。可在线得到测试结果,具有分析多组分配方的能力。使用一台 8453 系统可以自动控制多达 4 台溶出度仪。安全软件包提供 21 CFR Part 11 法规认证所必需的工具。 开放式系统架构能够提供适用于几乎所有溶出度仪的接口。 可从手动进样离线分析扩展到全自动在线系统。 采用平行进样系统实现短于 2 分钟的快速测量周期。 良好实验室规范 (GLP) — 内置的测试和验证工具满足欧洲和美国药典的各项要求。 利用用户自定义的质量控制限值和结果进行在线测试,测试结果以表格和图示显示。 离线评估验收标准,其中可结合最多 4 次运行的结果。
  • 阀管线工具包,用于 Agilent 8453 紫外溶出多浴系统(基于阀的系统)的一个浴
    安捷伦的自动溶出度测试解决方案是基于 Agilent 8453 分光光度计、 紫外-可见 ChemStation 软件以及由计算机控制的取样系统和溶出仪来实现。多家溶出度仪制造商提供紫外-可见 ChemStation 溶出度仪驱动。8453 自动化系统提供整个溶解运行序列的控制,包括测试准备和净化。可在线得到测试结果,具有分析多组分配方的能力。使用一台 8453 系统可以自动控制多达 4 台溶出度仪。安全软件包提供 21 CFR Part 11 法规认证所必需的工具。 开放式系统架构能够提供适用于几乎所有溶出度仪的接口。 可从手动进样离线分析扩展到全自动在线系统。 采用平行进样系统实现短于 2 分钟的快速测量周期。 良好实验室规范 (GLP) — 内置的测试和验证工具满足欧洲和美国药典的各项要求。 利用用户自定义的质量控制限值和结果进行在线测试,测试结果以表格和图示显示。 离线评估验收标准,其中可结合最多 4 次运行的结果。
  • 190系列单级式轻型减压器 190X-80-H
    190系列单级式轻型减压器 结构特点:适合于商店、家庭、工厂等要求气体流量较小的场合。母体采用优质黄铜制造。上盖采用高强度锌合金制造表面镀铬。2” 压力表, 1-1/4” 膜片。设有内置式安全阀。进气管带烧结青铜过滤网。获得美国 UL 安全认证。外形尺寸:130 mm × 120 mm × 70 mm。重 量:0.90 kg。 订货信息:190系列单级式轻型减压器编号型 号 适用气体 最高输入压力(MPa)输出压力(MPa)110031600190X-80-H氧气200.02 ~ 0.56110036600190IN-80-H氩气、氦气、氮气Ar, He, N2200.02 ~ 0.56110035600190A-25L-H氩气 Ar200 ~ 25 LPM编号进气压力表 (MPa)出气压力表(MPa)进气螺纹 出气螺纹110031600401G5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)110036600401G5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)1100356004025 LPMG5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)
  • 清醒小鼠固定架
    产品说明根据小鼠身型量身定制,可稳定的固定清醒小鼠,缓解在体实验过程中小鼠呼吸或身体抖动对实验结果产生的干扰,解除必须使用麻醉试剂才能开展小鼠实验的困扰。结合双光子或共聚焦显微镜、光遗传、膜片钳等技术,可用于清醒小鼠的成像或电生理等在体实验研究。产品特点适用于40g以下的实验小鼠固定柱高度:24 mm圆形身体固定柱直径:27 mm尺寸:150 × 90 × 35 mm净重:~0.24 Kg可进行特殊定制化服务小鼠固定头件-可选配件可粘贴于小鼠头部,配合清醒小鼠固定架,用于在体清醒小鼠的成像等实验研究。轻巧坚固耐用,头件的外形尺寸等均可根据用户实验需求修改定制。中心圆形视窗直径:7 mm尺寸:27 × 14.5 × 0.6 mm净重:~ 0.13 g材质:钛合金,具备良好的生物兼容性
  • 恒定低温试验箱航天、航空、信息、电子、仪器仪表
    C系列标准型恒定低温试验箱 特点 C系列是标准型恒定低温试验箱 ●操作简单易学,功能强大; ●具有2重PID控制功能,自动调整、线路损坏报警、传感器断线报警; ●独特送风循环设计,温度分布均匀性佳; ●具有自动防霜装置的真空双重玻璃,可清晰观察试验箱内的试品 用途 该系列产品广泛用于航天、航空、信息、电子、仪器仪表等行业电工产品、材料、零部件设备的寒冷试验及低温储存。 执行与满足标准 1.GB10589-89 低温试验箱技术条件 2.GB11158-89 高温试验箱技术条件 3.GB2423.1-89 试验A 4.MIL-STD-810F美军标 型  号 C系列标准型恒定低温试验箱 RC-80 RC-150 RC-225 RC-408 RC-800 LC-80 LC-150 LC-225 LC-408 LC-800 SC-80 SC-150 SC-225 SC-408 SC-800 温度范围 -20℃~150℃ -40℃~150℃ -70℃~150℃ 温度波动度 ± 0.5℃ 温度偏差 ± 2℃ 升温时间 -20℃~+100℃约 80分钟 -40℃~+100℃约 90分钟 -70℃~+100℃约 90分钟 降温时间 +20℃~-20℃约 60分钟 +20℃~-40℃约 70分钟 +20℃~-70℃约 90分钟 内空尺寸(mm) 80型400× 500× 400 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800 外形尺寸(mm) 80型400× 500× 400 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800 功率(KW) 2 3 3.5 5 7 2.5 4.5 5 6.5 8 5.5 6.5 7 7.1 10 电源 220V 50HZ        380V 50HZ 冷却方式 风冷或水冷 制冷机组 法国泰康全封闭压缩机组或德国谷轮半封闭压缩机组 控制器 进口智能温湿度控制器 加热器 镍铬合金电加热器 外壳材料 防锈处理,冷轧钢板静电喷塑 内壁材料 SUS304优质不锈钢板 隔热材料 聚胺脂泡沫塑料或玻璃纤维 标准配置 &phi 50mm测试孔盖一个,搁板两块,搁条四根,照明灯(荧光灯)一盏 选配部件 通讯接口,打印机.记录仪.远程监控计算机及软件,LCD液晶触摸屏程序控制器 试验方法标准 GB2423.1-89,GB2423.2-89,GJBl50.3-86,GJBl50.4-86 备注 内、外形尺寸标注为:宽W× 高H× 深D;降温时间为:环境温度20℃空载时测得.
  • 上海腾拔质构仪探头
    质构仪探头分为通用探头和专用探头,可根据客户的研究领域、研发方向、测试要求和测试指标进行配置,也可以根据客户的要求进行定制。质构仪探头与市面主流质构仪主机通用。 (1)通用探头柱形探头:提供一系列不同材质、尺寸的柱形探头,广泛应用于粮油制品、烘焙食品、肉制品、乳制品、胶体等,进行穿刺(penetration)、硬度(hardness)、弹性(springiness)、胶黏性(stickiness)、回复性(resilience)和全质构TPA(texture profile analysis)的测试。球形探头:不同材质、大小的球形及半球形探头,用于测试:软固体如鱼糜、鱼丸、鱼糕、肉糜和面团的强度(firmness)、弹性(springiness),固体膨化食品如薯片的脆性(fracture),水果、奶酪的表面硬度(firmness)及胶黏性(stickiness)。针形探头:针刺型探头,通过穿刺深入样品内部测试质地剖面。例如测水果表皮硬度(Skin strength)、屈服点(yield point)或穿透度(penetration),从而判断水果的成熟度。锥形探头:用于软滑质地的流体、半流体,如果酱、冰淇淋、奶酪、黄油、肉糜等的稠度(consistence)、硬度(hardness)和延展性(extension)等流变特性测试。 (2)面制品(典型探头)轻型切刀探头:用于切割较软质地样品,如面条、通心面,测试弹性(springiness)、柔软度(tenderness)、咀嚼性(chewiness),为AACC16-50标准测试面条、通心面的方法。面团制备装置:包括通气活塞和平底活塞,排除面团内分布之气室,以测定面团的坚实度(firmness),也可以用于观察面图发酵时的松弛(relaxation)和蠕变(creep)等现象。 (3)烘焙食品(典型探头)36mm圆柱形探头:适用于测试海绵蛋糕、吐司面包等烧烤食品的硬度(hardness)、弹性(springiness)和咀嚼性(chewiness)测试。符合AACC (74-09)测试面包质地的标准方法三点折断测试装置:适用于测试长条形面包、饼干、巧克力棒、玉米脆片等断裂强度(break strength)或脆度(fracture)。 (4)水产品和畜产品(典型探头)剪切刀具:被广泛用于评估家禽肉的嫩度,已成为行业的标准测试方法。刃口装置包括Warner Bratzler切刀和斜口、直角切刀,侧边可限制形变。用于肉制品质的测试,可测试鲜肉、熟肉、香肠等的坚实度(firmness)、肉嫩度等。符合农业标准NYT 1180-2006 肌肉嫩度的测定肉嫩度测定刀具:具有一定尺寸而且很锋利的一种刀片,将其接到物性分析仪(质构仪)上,由于刀片很精细,仅能切入肉样品20mm,而且切口很小,不致于如传统的仪器或人工切割试验造成样品整体结构的破坏,可完美进行肉制品切割/剪切试验。因刀片可以被卸下来并定期更换,确保刀片边缘锋利,从而提高了重现性和准确性。 (5)乳制品(典型探头)奶油切割刀具:利用切割力测试块状奶油、人造奶油、奶酪的坚实度(firmness)和涂布性(spreadability)以及奶酪的粘稠度(consistency)。延展性装置:适用于黄油、奶油、奶酪、巧克力等稠性样品进行涂布性(spreadability)、柔软度(tenderness)、黏着性(adhesiveness)等参数的测试。 (6)果蔬及果蔬制品(典型探头)针形探头:可用于样品的穿刺试验。可测量表皮强度、穿刺强度等数据,用于判断果蔬的新鲜度和成熟度。剪切刀具:适合谷物、果蔬、肉制品或者蔬果等不均匀组织测量整体压缩(compression)、剪切(shearing)与挤压(extrusion)等混合作用,可测量坚实度(firmness)、脆度(fracture)等参数。 (7)休闲食品(典型探头)糖果测定装置:由一个弹簧螺栓固定一层压盘所组成,测试样品以压盘夹紧,压盘中间圆圈空处为测试点,适合测试食品的硬度(hardness)、黏性(stickiness)。脆度测试探头:以球形探头的穿刺测试薯片、饼干或膨化等食品的酥脆性(fracturability)进行测试。 (8)粘稠、凝胶类样品(典型探头)凝胶探头:测试胶体的专用探头,根据ISO/GMIA国际标准方法,进行标准凝胶强度测试(Gelatine testing、Bloom Test)。适合测试果冻的弹性(springiness)、表面硬度(firmness)和延展性(extension)。反挤压装置:用于软粘稠之类的液体或者半固体物质,如加工处理过的水果、蔬菜、奶油、西红柿酱,测试其粘性(stickiness)、粘稠度(consistency)。
  • 1/32" 超轻型外螺纹两通
    1/32"超轻型外螺纹两通◇为GC 上的毛细柱联接而专门设计。◇ 质量极轻,不需要用扳手密封。◇ 由于金属压环会损坏这种类型的两通,所以只能和熔融石英毛细管压环一起使用。◇ 标准材料:300 系列不锈钢。1/32"超轻型外螺纹两通孔径货号0.25 mmEU.50.50 mmEU.5L1/32"EU.5T
  • 中等分辨率测试标样 622-G 碳圆盘上的锡球标样,含样品座G
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622 碳圆盘上的锡球标样,不含样品座
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-O 碳圆盘上的锡球标样,含样品座O
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-51nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-L 碳圆盘上的锡球标样,含样品座L
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-49nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-A 碳圆盘上的锡球标样,含样品座A
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-41nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-C 碳圆盘上的锡球标样,含样品座C
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-43nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-G 碳圆盘上的锡球标样,含样品座G
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-M 碳圆盘上的锡球标样,含样品座M
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-50nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-D 碳圆盘上的锡球标样,含样品座D
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-44nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622 碳圆盘上的锡球标样,不含样品座
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-F 碳圆盘上的锡球标样,含样品座F
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-46nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 天骅自动化仪表格式管格式管
    其它:45L/350
  • 中等分辨率测试标样 622-K 碳圆盘上的锡球标样,含样品座K
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-48nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-A 碳圆盘上的锡球标样,含样品座A
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-41nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-P 碳圆盘上的锡球标样,含样品座P
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-52nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-C 碳圆盘上的锡球标样,含样品座C
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-43nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-F 碳圆盘上的锡球标样,含样品座F
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-46nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-E 碳圆盘上的锡球标样,含样品座E
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-45nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-O 碳圆盘上的锡球标样,含样品座O
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-51nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-M 碳圆盘上的锡球标样,含样品座M
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-50nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-D 碳圆盘上的锡球标样,含样品座D
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-44nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
  • 中等分辨率测试标样 622-L 碳圆盘上的锡球标样,含样品座L
    Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-49nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
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