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平面等厚干涉仪检定标准

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平面等厚干涉仪检定标准相关的耗材

  • 全光纤麦克尔逊干涉仪MFI
    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见 PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1. 激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出, 数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50: 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50: 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50: 1550nm光纤迈克逊干涉仪
  • 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)
    总览法布里-珀罗干涉仪(英文:Fabry–Pérot interferometer),是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时,它也被称作法布里-珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗)标准具因为平板反射率高,多光束等倾斜干涉条纹极窄,所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学,和研究波长非常靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移,原子移动引起的谱线多普勒位移,和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计;在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行,可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um,中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda;近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50;近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试: 测试步骤:1,安装1532nm激光器,连接电源,USB线2,激光器输出连接到光纤准直器 3,用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4,用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5,打开激光器,打开信号发生器(三角波调制,频率1KHZ,电压幅值500mW)6,激光器发出的光通过标准具,打在探测器光敏面上,通过调整标准具的角度,在示波器上查看调制波形测试结果:
  • 850nm VCSEL激光器_干涉仪激光器
    852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测,VSEL激光器拥有价格低廉,线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场,25直径视场目镜 (mm) 2.5视场,20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
  • 标准带通滤光片
    Andover拥有定制的、最先进的设备,包括自动化涂层,玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛,包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪,用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层,包括医疗仪器仪表,荧光研究,机器视觉,农业成像,地面和天文观测,电信,军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片,包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400,覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm,滤波等级OD4,镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。
  • 检定校准用标准气体
    检定校准用气体标准物质 中测标物 标气 标准气体产品特性:* 量值准确; * 稳定性高; * 种类齐全; * 供货周期短; * 提供微量氯气、氨气、氯化氢等气体标准物质; * 定制服务; * 不确定度小; * 有效期12个月; * 量值范围宽; * 提供可靠的量值溯源保障检定校准用气体标准物质标准气体 标气规格:2L/4L/8L标准物质编号标准物质名称特性量值/μmol• mol-1扩展相对不确定度GBW(E)081665空气中一氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW(E)082068氮中一氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW(E)082068氮中一氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW(E)081666空气中二氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW(E)082069氮中二氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW(E)082069氮中二氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW(E)081669空气中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081669空气中甲烷气体标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW(E)081670氮中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081670氮中甲烷气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW(E)081672空气中丙烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW(E)081668空气中异丁烯气体标准物质1-10000Urel=2%,k=3GBW(E)081671空气中异丁烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW(E)081674空气中氢气标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081674空气中氢气标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW(E)081673氮中氢气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081673氮中氢气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质1Urel=3%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质2-10Urel=2%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质10-990000Urel=1%,k=3GBW(E)062362氮(空气)中苯气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)081675空气中乙醇气体标准物质30-500Urel=2%,k=2GBW(E)082655氮气中乙醇气体标准物质20-500Urel=1%,k=2GBW(E)061903空气中硫化氢气体标准物质10-10000Urel=2%,k=3GBW(E)061324氮中硫化氢气体标准物质5-100000Urel=2%,k=3GBW(E)061323氮中二氧化硫气体标准物质2-30000Urel=2%,k=3GBW(E)061797空气中六氟化硫气体标准物质10-1000Urel=1%,k=2GBW(E)061516氮中六氟化硫气体标准物质5-100000Urel=1%,k=2GBW(E)061325氮中一氧化氮气体标准物质10-5000Urel=1%,k=3GBW(E)061326氮中二氧化氮气体标准物质10-5000Urel=3%,k=3GBW(E)061793空气中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW(E)061792氮中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW(E)082659空气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082658氮气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082654氮气中氯乙稀气体标准物质1-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082657氮气中氯化氢气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)062303氮气中丙烯腈气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062357氮(空气)中甲烷、丙烷混合气体标准物质-甲烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062357氮(空气)中甲烷、丙烷混合气体标准物质-丙烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-氧5000-220000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-一氧化碳5000-100000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-二氧化碳10000-150000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化碳5000-300000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-二氧化碳10000-250000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化氮100-5000Urel=1%,k=2中测标物 标准气体 标气 检定校准用 气体标准物质 检定校准用 标气 检定校准用 标准气体
  • 2.5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场,25直径视场目镜 (mm) 10视场,20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场,25直径视场目镜 (mm) 0.5视场,20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 标准级再生纤维素平面透析膜片
    标准级再生纤维素透析膜: Spectra/Por 1-7 标准级再生纤维素(RC)透析膜采用经再生处理的天然棉绒纤维制成,膜透明、柔韧,性能稳定,孔径精确,是实验室常规脱盐、换液以及大分子纯化等透析处理的理想选择。标准级RC膜具有良好的化学耐受性,可耐受低浓度的强酸/碱溶液、高浓度的弱酸/碱溶液、醇及温和有机溶剂,包括DMSO。长时间接触强有机溶剂可能造成膜损坏。标准级RC膜适用pH范围为2-12,适用温度范围为4-121℃。标准级RC膜仅含有极低水平的重金属杂质,一般不会影响实验结果;如实验样品较为敏感,可使用重金属漂洗液于使用前进行预处理。标准级RC膜提供多种包装规格,包括卷式透析膜管(干型或预处理型)、透析试验包、即用型透析袋以及平面膜片。 Repligen提供7种不同规格的标准级RC膜,Spectra/Por 1-7,以满足不同应用需求。 标准级再生纤维素平面透析膜片 Repligen提供方形和圆形两种形状的不同规格平面透析膜片,以配用不同类型的透析器或超滤杯。 产品规格: 5种膜类型: Spectra/Por 1、2、3、4和5 3种圆形膜片直径: 33、47 & 100mm 5种方形膜片尺寸: 见订购信息 特性: 亲水、精确孔径 包装: 干型包装,含甘油(使用前纯水漂洗)或不含甘油 数量: 50片/包(圆形)、25片/包(方形)
  • 100倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :0.2视场,25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :2.2视场,25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 反射率测定标准品 | L1281920
    产品特点:反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品,以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择,以提供最佳筛选结果。订货信息:反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60 mm,8 mm x 58 mm,未校准L128192099% 反射率聚合物 100 mm,8 mm x 98 mm,未校准L128192199% 反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192299% 反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准L128192350% 反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准L1281925反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准,每套 4 件L1281926反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准,每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准,L1281928反射率横坐标标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准,L1281929反射率标准品重新校准服务,标准品重新校准 12 个月之后推荐该服务L1281930
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • SPIP三维图像处理软件
    SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向,不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品,SPIP是可视化、修正,分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构,在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司,目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包,可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用,主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件:多年来,SPIP扫描探针图像处理软件,已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包,提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手,使用SPIP图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于,包括半导体物理,化学,生物学检验,计量,纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括: 扫描探针显微镜(SPM),原子力显微镜(AFM),扫描隧道显微镜(STM) 扫描电子显微镜(SEM),透射电子显微镜(TEM) 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜(AFM),扫描探针显微镜(SPM),干涉仪(Profilers,),共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。
  • 表面形貌仪配件
    表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪,它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外,具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量,还可以测量张量和应力(简单); *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸,对于小于0.5' ' 的晶圆或样品,可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度; *克服常见干涉仪在粗糙表面(油漆)表现不足的问题; *非接触式测量
  • 可选的干涉滤光片 B0094404
    可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息:波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666
  • 金属涂层中性密度滤光片
    中性密度滤光片 镀有金属涂层覆盖范围从紫外到红外标准尺寸为12.5mm、25mm和50mm 通光率具体参见各个型号主要用于宽带光谱的衰减器、作为光平衡应用的部分反射器和用作中性分束器金属涂层中性密度滤光片 OD值为阻挡效率,其计算公式如下:金属涂层中性密度滤光片能在宽波长范围内实现均匀衰减。Andover拥有定制的、最先进的设备,包括自动化涂层,玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛,包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪,用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层,包括医疗仪器仪表,荧光研究,机器视觉,农业成像,地面和天文观测,电信,军事和民用监视系统以及防御瞄准系统
  • 漫反射率测定标准品 | PELA9058
    订货信息:漫反射率测定标准品产品描述部件编号99% 漫反射标准品,2 英寸,已校准PELA90582%,50%,75%,99%漫反射标准品组件,2英寸,已校准PELA90112%,5%,10%,20%,40%,60%,80%,99%,漫反射标准品组件,2 英寸,已校准PELA9013漫反射标准品组件,2 英寸,已校准,颜色:R,G,B 和 YPELA9018漫反射标准品组件,2 英寸,已校准,颜色:O,P,C 和 VPELA9019可调支架L6020329
  • 多功能纳米压痕仪配件
    多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 班通科技面桶标准片铜厚测试仪校准
    面铜测厚仪校准专用,CMI165 MM615 T60都适用
  • 传统镀膜带通干涉滤光片套件
    传统镀膜带通干涉滤光片套件套件包括我们的传统镀膜带通干涉滤光片有可见光和近红外版本流行的12.5mm和25mm安装直径选项通用规格涂层:Traditional Coated 传统镀膜带通干涉滤光片广泛应用于各种生物技术、生物医学,及定量化学应用,以选择性透射范围狭窄的波长,同时阻断所有其他的波长。干涉滤光片广泛用于各种仪器,其中包括临床化学、环境实验、色彩学、元件和激光谱线分离、火焰光度法、荧光和免疫测定等应用。此外,还可使用干涉滤光片从弧形灯或气体放电灯(Hg、Xe、Cd等)散谱线中选择离散光谱线,以及从Ar、Kr、Nd:YAG及其他激光中隔离特定光谱线。它们经常与激光二极管和LED结合使用.产品信息标题产品编码12.5mm, UV 200-400nm CWL, 封装滤波片套装#68-63025mm, UV 200-400nm CWL, 封装滤波片套装#68-63112.5mm, Mercury 254-577nm CWL, 封装滤波片套装#68-63225mm, Mercury 254-577nm CWL, 封装滤波片套装#68-63312.5mm, VIS 400-694nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63525mm, VIS 400-694nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63712.5mm, VIS 400-700nm CWL, 封装滤波片套装#68-63425mm, VIS 400-700nm CWL, 封装滤波片套装#68-63512.5mm, 近红外线 730-1650nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63625mm, 近红外线 730-1650nm中心波长,带框,滤光片套装#66-638技术信息CWLFWHM12.5mm Diameter (#68-630) 25.0mm Diameter (#68-631)200nm10nm#67-733#67-800250nm10nm#67-740#67-807300nm10nm#67-749#67-816350nm10nm#67-757#67-824400nm10nm#65-617#65-677CWLFWHM 12.5mm Diameter (#68-632)25.0mm Diameter (#68-633) 254nm10nm#67-741#67-807265nm10nm#67-744#67-811280nm10nm#67-746#67-813289nm10nm#67-747#67-814297nm10nm#67-748#67-815313nm10nm#67-753#67-820334nm10nm#65-612#65-672365nm10nm#65-615#65-675405nm10nm#65-618#65-678436nm10nm#65-623#65-683546nm10nm#65-643#65-703577nm10nm#67-768#67-835CWLFWHM12.5mm Diameter (#66-635) 25.0mm Diameter (#66-637)400nm10nm#65-617#65-677405nm10nm#65-618#65-678410nm10nm#65-619#65-679415nm10nm#65-620#65-680420nm10nm#65-621#65-681430nm10nm#65-622#65-682436nm10nm#65-623#65-683442nm10nm#65-624#65-684450nm10nm#65-625#65-685455nm10nm#65-626#65-686458nm10nm#65-627#65-687467nm10nm#65-628#65-688470nm10nm#65-629#65-689480nm10nm#65-630#65-690486nm10nm#65-631#65-691488nm10nm#65-632#65-692492nm10nm#65-633#65-693500nm10nm#65-634#65-694505nm10nm#65-635#65-695508nm10nm#65-636#65-696510nm10nm#65-637#65-697515nm10nm#65-638#65-698520nm10nm#65-639#65-699532nm10nm#65-640#65-700535nm10nm#65-641#65-701540nm10nm#65-642#65-702546nm10nm#65-643#65-703550nm10nm#65-644#65-704568nm10nm#65-645#65-705580nm10nm#65-646#65-706589nm10nm#65-647#65-707600nm10nm#65-648#65-708610nm10nm#65-649#65-709620nm10nm#65-650#65-710632nm10nm#65-651#65-711636nm10nm#65-652#65-712640nm10nm#65-653#65-713647nm10nm#65-654#65-714650nm10nm#65-655#65-715656nm10nm#65-656#65-716671nm10nm#65-657#65-717676nm10nm#65-658#65-718690nm10nm#65-659#65-719694nm10nm#65-660#65-720CWLFWHM 12.5mm Diameter (#68-634)25.0mm Diameter (#68-635) 400nm10nm#65-617#65-677450nm10nm#65-625#65-685500nm10nm#65-634#65-694550nm10nm#65-644#65-704600nm10nm#65-648#65-708650nm10nm#65-655#65-715700nm10nm#67-771#67-838CWLFWHM12.5mm Diameter (#66-636) 25.0mm Diameter (#66-638)730nm10nm#65-661#65-721766nm10nm#65-662#65-722780nm10nm#65-663#65-723800nm10nm#65-664#65-724830nm10nm#65-665#65-725852nm10nm#65-666#65-726855nm10nm#65-667#65-727880nm10nm#65-668#65-728905nm10nm#65-669#65-729940nm10nm#65-670#65-7301064nm10nm#65-671#65-7311000nm10nm#65-768#65-7821050nm10nm#65-769#65-7831100nm10nm#65-770#65-7841150nm10nm#65-771#65-7851200nm10nm#65-772#65-7861250nm10nm#65-773#65-7871300nm12nm#65-774#65-7881350nm12nm#65-775#65-7891400nm12nm#65-776#65-7901450nm12nm#65-777#65-7911500nm12nm#65-778#65-7921550nm12nm#65-779#65-7931600nm12nm#65-780#65-7941650nm12nm#65-781#65-795
  • 中测标物 标准气体 环保标准气体 检定校准用气体标准物质 标气
    产品特性:* 量值准确; * 稳定性高; * 种类齐全; * 供货周期短; * 提供微量氯气、氨气、氯化氢等气体标准物质; * 定制服务; * 不确定度小; * 有效期12个月; * 量值范围宽; * 提供可靠的量值溯源保障标准物质编号标准物质名称特性量值/μmol• mol-1扩展相对不确定度GBW(E)081665空气中一氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW(E)082068氮中一氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW(E)082068氮中一氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW(E)081666空气中二氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW(E)082069氮中二氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW(E)082069氮中二氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW(E)081669空气中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081669空气中甲烷气体标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW(E)081670氮中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081670氮中甲烷气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW(E)081672空气中丙烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW(E)081668空气中异丁烯气体标准物质1-10000Urel=2%,k=3GBW(E)081671空气中异丁烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW(E)081674空气中氢气标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081674空气中氢气标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW(E)081673氮中氢气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW(E)081673氮中氢气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质1Urel=3%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质2-10Urel=2%,k=3GBW(E)061321氮中氧气体标准物质10-990000Urel=1%,k=3GBW(E)062362氮(空气)中苯气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)081675空气中乙醇气体标准物质30-500Urel=2%,k=2GBW(E)082655氮气中乙醇气体标准物质20-500Urel=1%,k=2GBW(E)061903空气中硫化氢气体标准物质10-10000Urel=2%,k=3GBW(E)061324氮中硫化氢气体标准物质5-100000Urel=2%,k=3GBW(E)061323氮中二氧化硫气体标准物质2-30000Urel=2%,k=3GBW(E)061797空气中六氟化硫气体标准物质10-1000Urel=1%,k=2GBW(E)061516氮中六氟化化硫气体标准物质5-100000Urel=1%,k=2GBW(E)061325氮中一氧化氮气体标准物质10-5000Urel=1%,k=3GBW(E)061326氮中二氧化氮气体标准物质10-5000Urel=3%,k=3GBW(E)061793空气中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW(E)061792氮中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW(E)082659空气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082658氮气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082654氮气中氯乙稀气体标准物质1-1000Urel=2%,k=2GBW(E)082657氮气中氯化氢气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW(E)062303氮气中丙烯腈气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062357氮(空气)中甲烷、丙烷混合气体标准物质-甲烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062357氮(空气)中甲烷、丙烷混合气体标准物质-丙烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-氧5000-220000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-一氧化碳5000-100000Urel=1%,k=2GBW(E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-二氧化碳10000-150000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化碳5000-300000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-二氧化碳10000-250000Urel=1%,k=2GBW(E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化氮100-5000Urel=1%,k=2
  • 滨松MEMS-FTIR微型光谱仪C12606
    MEMS-FTIR(傅里叶转换红外光谱)光谱仪是一个紧凑的,低成本的傅里叶转换红外光谱仪,一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像:详细参数:
  • 消球差透镜
    消球差透镜在单色光条件下使用,通过消除彗形像差和球面像差得到最小焦点尺寸。 消球差透镜优秀得衍射限制性能,应用在理想的非线性光学,激光束扩展和准直,干涉仪,材料处理和光纤耦合。消球差透镜波段266nm-1550nm,通光孔径大于90%。其中,LAI波段780nm-1550 nm,表面质量60-40,可以通过简单调整后焦点位置,校正球面像差,彗形像差,散光和球面色差,使其能在各种波长下使用。LAPQ波段266nm-1064nm,表面质量10-5,透镜材料UVFS,通过消除像差可以得到最小的焦点尺寸。
  • 多功能纳米硬度计配件
    孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 光纤拉伸器PZ1
    光纤拉伸器PZ1产品介绍:量青光电代理的美国Optiphase公司的PZ1型小封装光纤拉伸器是一种低成本的光纤盘绕压电陶瓷换能器(Piezo-electric)器件,作为一种性能出色的低成本相位调制器。在众多传感领域有非常重要的应用,典型的应用例如开环解调,干涉型传感器模拟,干涉仪系统的相位调制等等。PZ1型光纤拉伸器标准产品采用SMF-28e光纤或者Panda型偏振保持光纤,超高的性能价格比超过所有其他已知的竞争产品。坚固小巧的封装使得PZ1光纤拉伸器能够容易被集成到小尺寸的系统中,多种输出方式和连接器的选择方便用户使用。公司同时提供针对不同客户应用的定制型产品,例如特殊的封装要求,光纤类型,输出连接器方式,以及频率响应范围等等,请联系我们的销售人员获取更多的信息。产品应用:光纤干涉仪光纤激光器光纤传感干涉型光纤传感器光纤相位调制器产品特点:高性能封装小巧坚固可以定制订货信息:PZ1-STD:900um松套,不带连接器; PZ1-STD-FC/PC:900um松套带FC/PC连接器;PZ1-STD-FC/APC:900um松套带FC/APC连接器PZT-PM-1.5:保偏光纤拉伸器,900um松套不带连接器PZ1-PM-1.5-FC/PC:保偏光纤拉伸器,900um松套带FC/PC连接器PZ1-PM-1.5-FC/APC: 保偏光纤拉伸器,900um松套带FC/APC连接器可提供的订制产品:(1)更小的封装尺寸或者结构;(2)其它工作波长的单模光纤;(3)其它工作波长保偏光纤;(4)更宽的工作频率范围;(5)不同的连接器类型等等。
  • 气相色谱仪配件之精密平面六通进样阀
    气相色谱仪配件之精密平面六通进样阀六通阀相关知识: 六通阀实现进样实际上就是将对角两点间的气路切换到两侧气路的切换阀,其实现方式有三种,有拉杆式、平面式、膜片式。 在六通阀末端,有一矩型接口,直接插入阀驱动上。驱动阀两端,各有一路进气口,始终是一端带气一端泄压,这样就可以带动阀杆转动和复原。气路上也就是进样和取样。这是自动进样程序。如果是手动六通阀,用手直接转动阀杆即可。六通阀孔是两两相通的。两组不通的孔道,可用短管跨接即可。 在阀体两侧各有一个进气口。气源由一路供应,进入分配器后,分为两路,两路中每一路又一分为二,一路为进气位,一路为出气位。当阀气进入一路的进位时,由于气压的推动,带动阀杆转动,至出气位,压力泄空。表现在六通阀上,阀撞针由初始档到末位档,气路也就切换了;要复位时,二路进位带压,推动阀体带动阀杆转动复位至泄压位。六通阀气路复原。还有一种是单路切换。也就是控制一路进气,一路泄压即可。即进气时,推动阀体转动180度,六通阀切换气路。复原时,只需泄压,弹簧惯性将阀拉回或顶回。两种原理只是我从仪器实际解剖中得来的,我曾多次检修过此类阀,十通阀的原理也是如此,并无理论资料验证,技术术语为个人解释,有不到的地方请原谅。另:这两种驱动阀皆由程序控制的,控制程序可自行设定。精密平面六通进样阀详细参数介绍:产品名称型号规格产地精密平面三通阀KF-3Φ2/Φ3南京精密平面四通阀KF-4Φ2/Φ3南京精密平面六通阀KF-6 Φ2/Φ3南京精密平面八通阀KF-8Φ2/Φ3南京精密平面十通阀KF-10Φ2/Φ3南京精密平面十二通阀KF-12Φ2/Φ3南京
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • CHEAA团体标准布艺面地毯
    T/CHEAA 0024-2023布艺面家用和类似用途布艺清洗机布艺面CHEAA团体标准布艺面 /CHEAA 0024-2023《家用和类似用途布艺清洗机》 CHEAA团体标准 中国家用电器协会颁布本文件适用于带真空吸力且具有脏污收集功能,用于布艺制品和地毯等清洁的家用和类似用途布艺清洗机(以下简称:布艺清洗机),其它原理的布艺清洗机可参照执行。 通过压力将水或带有清洁剂的水溶液喷洒到指定污渍位置,利用清洁头对布艺制品和地毯表面进行清洁且带有脏污收集功能的器具。 试验方法试验表面及物料布艺面参数及规格要求布艺面由四层组成,其规格应符合的要求结构成分类型单位面积质量(g/m2)公称线密度/tex颜色厚度(mm)测试方法第一层100%棉 粗织物 400±20 40 白色 NA GB/T406第二层100%面普梳棉本色纱60±3 20 白色 NA GB/T398第三层100%涤纶100±5 NA 白色 10 GB/T24252第四层海绵橡胶 海绵 800±40 NA 黄色 30 GB/T18944.2 地毯参数及规格要求地毯类型技术要求及偏差测试方法/标准地毯总厚度(mm)13±1QB/T1089绒头厚度/高度(mm)12±1QB/T1555绒头纤维成分100%涤纶单位面积质量(g/m2)2200±110 QB/T1188毯基上单位面积绒头质量(g/m2)1200±60 QB/T1188 在对新的有线布艺清洗机进行首次测试之前,按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液,选用制造商推荐的适用场景的刷头,在无限制空气流速条件下运转2h,对于带有动力吸嘴的布艺清洗机,扰动装置运行但不接触地面。在机器预热阶段,布艺清洗机应喷酒溶液。在对新的无线布艺清洗机进行首次测试之前,应按照制造商的说明充满电,并按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液,选用制造商推荐适用场景的刷头,然后在无限制空气流速条件下工作直至完全放电状态,然后间隔至少30min,重复上述操作三次。间隔期间不进行任何操作。对于动力吸嘴,扰动装置运行但不接触地面。在新机器预热阶段,布艺清洗机应喷洒溶液。水状污渍包括:酱油污渍(见:6.1.3f3))和咖啡污(见:6.1.3f4))。布污时,将移液器的尖端移到布污点的治具中心正上方约5处,垂直于测试表面缓慢将移液器中水状污渍铺满治具覆盖的表面,然后用1000g的负载压住圆形治具(如图2),避免水状污渍外流。使用移液器均匀的在试验表面上布6个直径为50mm的污渍点(如图3),每个污渍点重量为5g,间隔均匀分布在460mmx815mm的方形区域。布污完成后在6.1.2要求的环境中,进行静置。其中:酱油污渍静置15min(布艺面)和24h(地毯) 咖啡污渍在布艺面和地毯的测试面均静置15min。粘性污渍为番茄酱(见:6.1.3f5))使用移液器将1m番茄酱挤压到试验表面(布艺面和地毯)上布置的6个直径为50mm的圆形区域内,并用治具涂抹均匀(如图4),在6.1.2规定的环境下静置2h。布污分布如图3所示。布艺清洗机充分预热后,放置在测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重),开始清洁。测试过程中,运行速度为(0.076+0.01)m/s,每个方向进行两湿两干(两次喷水,两次不喷水)的共四次清洁,具体清洁步参考图5。开始测试前,先裁剪尺寸为B(清洁头宽度+10m)XL(152mm)地毯面,称重记为"。然后将待测试样品浸入水桶中3秒钟,提起待测样品一角,使其自然滴水,观察待测样品连续10s不再滴水为止,然后称重记为四将待测表面放回在测试治具上,将布艺清洗机放置测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重),以(0.076+0.01)m/s的速度在测试区域进行2次不喷水模式的运行。然后立即将待测表面取下,称重记为m3开始测试前,先裁剪尺寸为:B(清洁头宽度)XL(300mm)的地毯面作为测试区域。布艺清洗机预热后,按使用说明的要求向清水箱加满水,然后分别称量清水箱重量m、污水箱重量m,以克(g)为单位。将布艺清洗机放置在测试区域的前端作为起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重),以(0.076+0.01)m/s的速度进行从前往后的清洁运动,其中:首先用喷水的湿吸模式从前往后进行一次清洁运动,然后提起清洁头回至起始位置,再用不喷水的干吸模式进行一次从前往后的清洁运动,再次提起清洁头回至起始位置,以此为一个清洁循环,连续进行5次循环的清洁运动。。
  • 高光谱成像仪定标附件
    这款高光谱成像仪定标附件专业为高光谱成像仪的光谱定标和辐射定标而设计,是定量遥感的理想定标工具。这款高光谱成像仪定标附件适合市面上的所有高光谱成像仪的使用。如下是辐射定标前后的光谱图像供客户参考。
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