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射线荧光光谱仪基本原理

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射线荧光光谱仪基本原理相关的仪器

  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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  • X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别(固体和液体)条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案
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  • 欢迎来到元素分析的新时代极光Revontium紧凑型X射线荧光光谱仪极光兼具落地式XRF和ICP仪器的性能与台式仪器的诸多优势。极光占用的空间和造成的环境影响更少,减少了对耗材、大量样品制备和维护的需求,使用成本可以降低25%以上。在结果方面,其可提供可靠的元素数据,助力行业的可持续发展。极光特色功能一览具有正压功能的盖子可防止样品污染灰尘静音风冷消除了可能存在的管路溢水风险X射线管的Chi-blue涂层可增强防污染保护可测量多达32个直径为52mm的样品 使用的便利性:全新的全谱解析算法,可实现多材料宽元素范围图谱的全自动解析而无需人工干预,有效提升无标定量和复杂应用的分析结果可靠性;维护的可靠性:无漂移设计,内置多元素自动监控程序,可实现常见应用方法的自动漂移补偿;更高的分析精度:得益于先进的高压发生器、探测器通量、阳极距离补偿和热管理设计,Revontium可实现媲美高功率落地式光谱仪的精密度。
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  • 仪器简介:EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(SDD检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率,高精度?高速分析●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品,位于元素周期表上从4号元素铍(Be)到92号元素铀(U)之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求,其分析浓度范围可从0.1ppm到100%,而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快(30s-900s)、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域,在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明: ●电子、塑胶、五金材料:各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料:纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭:石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥:陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品:土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属:铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁:生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业:无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境:各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学:有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同,因此,受激发后发出的X射线光子能量互不相同,即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线,代表了该元素的特征,因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量,检测到此种能量的X射线,即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上,激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光),使用具有高能量分辨率的X射线探测器,得到X射线荧光能谱,不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系,通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析,以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性,用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介:能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术,同时测量多种元素的分析仪器,根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能:●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器(俗称谱仪能量刻度)通道数:2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器(俗称X光管)经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却,0.005英寸铍窗标准窗口,额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入:85~265Vac,47~63Hz,功率因数校正。 1kV~5kV的型号符合UL85~250Vac输入标准电压变动率:无负载到满负载,输出电压的0.01%电流变动率:0~额定电压,输出电流的0.01%纹 波:输出电压的0.25%峰-峰 温度系数:电压或电流调定,0.01%/℃ 稳 定 性:预热半小时后,0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统:6种滤光片自动选择并自动转换(滤光片作用:改善激发源的谱线能谱成分,在进行多元素分析时,用来抑制高含量组分的强X射线荧光,提高待测元素的测量精度)。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理(从源头做起)2、全封闭铅板双层防辐设计(从设计结构做起)3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1.一键式的操作软件,简单易用,无需专业知识。2.人性化的人机界面3.各种测试参数无需操作人员设定,强大定制报告功能。4.测试数据自动存储,具有历史查询功能。5.最前沿的定性定量分析方法。6.可同时分析几十种元素。7.元素分析快速,分析时间从30秒到900秒可调。8.长时间待机不用,自动降低管压、管流,延长X光管寿命。9.对X射线管进行温度管控,保护X射线管并延长它寿命。10.实时监测仪器运行状态,轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作,软件有警示操作提示,同时关闭高压电源。
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  • 创想X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4327
    EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小,任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼(Mo)靶管电压5─50KV管电流1─1000uA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本,终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP(正版)数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10-35С,湿度30-70%RH重量60Kg(主机部分)外形尺寸550(W)×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100-300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 %RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品,塑料和聚合物,食品和化妆品,环境,矿石,医药,建筑材料,中心实验室成品检验,金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好
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  • 日立手持X射线荧光光谱仪分析仪设备,采用高精度 XRF 技术,可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析,包括PMI材料鉴定、合规元素分析、土壤分析、矿物分析、镀层厚度、废旧金属分拣和金属品级筛选。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000性能优异lX-MET提供轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。l通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。操作简单l大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学lX-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度低。坚固耐用而拥有成本低l符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。l通过MIL-STD-810G耐用标准测试。l其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理l完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000提供快速、可靠的现场检测: 快速验证关键工艺环节中使用的合金材料; 管道、阀门及反应釜材料的品质管控; 测定轻元素、微量元素及杂质元素(如由HF酸烷基化和硫化装置以及FAC建模过程中所产生); 优化的仪器前端设计,可对拐角和焊缝处进行检测分析; 为材料可靠性鉴定应用所设计 快速分析和准确的牌号鉴定:包括可选型AISI DIN、JIS、和GB牌号库; 提供备选集成相机,有助于准确定位测量; 提供的轻元素分析(从Mg 到 S); 重量轻(1.5公斤)、外形小,符合人体工学设计,电池续航能力长达 10至12小时; 快速开机: 数秒内完成开机并进行检测; X射线荧光光谱是现场合金分析的无损方式; 河北沧辰科技有限公司为您提供日立直读光谱仪的参数、价格、型号、原理等信息,价格为面议,更多相关信息可咨询,公司客服电话7*24小时为您服务。
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  • 二手X射线荧光光谱仪 400-860-5168转1666
    二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求,畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素:11Na-92U(EDX-720),可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状:最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜:5种自动交换,可以消除背景元素干扰,使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率:Si/Li检测器,145eV.5.检测下限:Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件: 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法,共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置!灵敏度比以往机型提高2倍,使用更方便,提高了筛选分析的效率! EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点:1、配置新型滤光片,提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路,增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能,由荧光X射线强度算出测定精度,自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能,依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。
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  • 多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF® ) 型号:PHECDA-HES型号:PHECDA-HE核心技术: 硬件:单色化聚焦技术HS XRF® 软件:快速基本参数法Fast FP® &bull 硬件核心技术:单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外,不存在连续散射背景,从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术:快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题,对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿, 快速基本参数法(Fast FP® )通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型,基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应,减少分析误差,通过少量标准物质(或定值样品)的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案:解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力,土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异,达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术(HMET)与HS XRF联用,将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单,快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样(或少标样)情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案,样品处理简单,检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素(铅、砷、汞、镉等)含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关 中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属(铅、镉、砷、铜)限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素(钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等)含量分析,分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术(HMET)满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力,快速基本参数法(Fast FP)提升元素精确定量水平,两项核心技术的结合,为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器,优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景,提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器(SDD)是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件,其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等,PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器,确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 (1)XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关,也与其它元素含量有关,这就是所谓的基体吸收-增强效应,而这种物理效应,使得选择合适的标准样品成为困难,若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围,就会对实际样品分析带来误差。 (2)基本参数法(Fundamental parameters method)通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,建立相应的数学模型,基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异,减少分析误差,通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属,在环境保护和食品安全等领域备受关注,常规XRF对镉(Kα:23.1KeV)的激发和探测存在挑战,高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发,对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元; 无需气体、真空等辅助设备 3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd:0.06mg/kg Pb:0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体,元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD<15% 土壤基体,元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元,可条形码扫描软件 Fast FP软件系统,支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片(HMET® )与HS XRF联用技术,水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员! 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术,提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景,大幅提升样品元素信噪比,从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法(Fast FP),其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,建立相应的数学模型,快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异,减少分析误差,通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法(Fast FP)的强强联合,为以下行业提供完整的解决方案:应用领域解决方案 编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属(合金)分析(铜)精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析
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  • X射线荧光光谱仪EDX-280D测金仪能量色散X荧光测金仪精打细算:EDX280D是最具成本效益的XRF金测试仪紧凑的设计,占用最小的空间快速无损准确操作简便最少的样品制备概述EDX280D黄金分析仪,可快速进行黄金K值鉴定XRF是一种快速,精确且无损的工具,用于精确地分析贵金属材料成分。考虑到当前黄金的高价值,准确测试其纯度比以往任何时候都更为重要。EDX280D是一种易于使用且具有成本效益的方法,可用于获得黄金化学成分和K值分类。280D贵金属分析仪使用高效的正比计数器,价格定位合理,全新的FP基本参数法软件。更人性化,便捷的操作,完全满足贵金属分析测试的要求。技术参数含量测试范围: 1ppm to 100 %重复性:RSD≤0.05% (Au≥90%)探测器:正比计数盒 动态计数率线性范围: 0- 30000 cps样品类型:固体,粉末贵金属元素:Au, Ag, Pt, Pd 金银铂钯基本元素:Ni, Cu, Zn镍铜锌高压输出范围:0KV ~ 50KV光管管流 :0μA ~ 1000μA高清摄像头:内置数字多道数据采集器: DPP样品腔尺寸:310*280*60(mm)测试时间:30秒 ~ 120秒可调软件:Fundamental Parameter 基本参数法FP软件仪器尺寸:30Kg供电200-240V AC, 50/60Hz应用领域珠宝工厂珠宝店当铺优点正比计数盒检测器的高计数率吞吐量用户友好且功能强大的FP贵金属测试软件独立的矩阵效应校正模型多变量非线性回归程序局限性可以检测到有限的元素(通常小于10个)XRF是一种表面/近表面分析技术,这意味着样品必须紧贴仪器测试窗口我们的提供广泛的客户支持• 基础和高级用户课程• 专家技术服务台• 保修支持和仪器维修• 仪器(软件和硬件)升级• 备件(可通过训练有素的经销商购买)• 消耗品
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  • X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4210
    布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪(XRF)以来,已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司(前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部)一直坚持专业化的道路,领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解,围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER,在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面,把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年,第二代S8 TIGER成功推出,采用HighSenseTM技术,保证从铍(4Be)到镅(95Am)的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测,第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路,阳极—样品—探测器之间距离短,信号损失少,保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器,稳定性优于±0.00005%,可靠性好。S8 TIGER 1kW,激发电流50mA,激发电压50kV,同级别中强度高。配有内部水冷机,不需要外部水冷机,插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW,激发电流150mA,激发电压60kV,强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW,激发电流170mA,激发电压60kV,市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管,设计功率4200W,设计电压75kV,设计电流200mA。独特的双路水冷系统,除阳极冷却外,光管头部增加特殊冷却回路,避免光管头部热量对样品的影响,提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板,避免蒸镀现象,光管强度不衰减。标配75 μm铍窗,HighSense光管50μm铍窗,强度提高15%,HighSense光管28μm铍窗,超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层,耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体,大大提高了轻元素的检测能力,其中:XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百;XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百;XS-C显著地降低了背景,提高信噪比30%;XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上;XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同,但是灵敏度提高了35%;XS-CEM人工多层膜晶体,测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性,没有PET晶体的潮解现象,没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象,没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体;XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%,提高S灵敏度20%以上;XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器,极快的死时间校正,即刻显示PHA扫描图,数字信号传输,线性范围高达4Mcps(线性偏差≤1%)。动态匹配TM功能,软件自动降低电流,使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制,测量更准确,低含量元素自动在满功率条件下测量,使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术,第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析,步长0.1mm。轻元素采用正比探测器,重元素采用闪烁探测器,灵敏度提高10倍,实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外,高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片,保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时,程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开,允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气(氮气),真空封挡显著地降低气体消耗量,同时探测器的稳定性更高,结果的精密度更好。在测量过程中,独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室,防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪,定位精度高,测角仪直接到达预设角度,快速连续前进,无需反复调整,长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°,角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟,转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应校正,这就是变动理论α系数法。其显著的优点是:需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正,三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题,非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品,通常的做法是将样品预先灼烧,然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正,分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量,软件会根据其它分析成分估算一个LOI,然后经过多次迭代和拟合,无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正,大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移,测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正,从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法,采用任意配比、随意称量、准确输入的方法,称样误差小,称样速度快,不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器,使探测器里的气体密度始终保持恒定,保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制,控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃,避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化,从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品,采用真空度控制测量,只有达到预设的真空度才开始测量,避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能,四重保护,保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护,使仪器的故障率低,维护成本少两个污染防护屏,分别保护光管和光谱室粉尘接收盘,收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗,保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术,即样品直接装入到仪器的测量位,保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑,又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样,转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题,光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度,这时就需要维修,或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积,增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中,光管的高压关闭,是完全没有X射线的。在执行这些操作时,光管的灯丝加热电流一直是通的,维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样,机械结构简单,零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动,避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单,不需要打开仪器,易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权,对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制,保证操作简单而无失误,即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等,通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制,即使一台出现问题,也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等,仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜,仪器整体密封,箱体内采用循环水冷却,避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点,仪器内部恒久保持洁净,可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试,符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”,是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏,操作简单,无需 培训,仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件,在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器,可识别样品类型2.60位大样品杯进样器,适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器,机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于:高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下,根据元素的含量不同,每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3),从放入样品到显示结果不超过2分钟,分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美,而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能,运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的,支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能,用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能,如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统,确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出,引导用户一步步完成,从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正(变动“理论α系数法”,计算每一个样品的校正系数),也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式,非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器,满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化,所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级,可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析,也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求,QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式,也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能,自动执行基体校正及不同类型样品(薄膜、无限厚或非无限厚样品)的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起,进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中,采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分,作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包,允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件,确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除,确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件,非常直观,可以全面监测系统的几百种状态,您可以将整个状态存盘,发送给维修人员,从而可有效降低维修费用,缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持,使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件:采用先进的完全基本参数法,具有吸收法和发射法两种分析模式;薄层分析采用发射法,厚层分析采用吸收法(准确度更高)。可分析多达15层(每层16个元素)的镀膜样品,测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件,可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析,以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案,仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件,是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案,采用熔片法制样,可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件,基于数百个国际参考样品建立的校准曲线,测量地质样品中微量、痕量元素,是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件,采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案,可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件,金属材料的解决方案,可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件,用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件,可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。
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  • 仪器介绍X射线荧光光谱仪是一种用于分析样品中元素组分的科学仪器。它利用X射线激发样品的原子,并测量样品荧光产生的特定能量的光谱。通过分析样品中各个元素特有的荧光峰,可以得出样品中元素的种类和含量信息。贝拓科学X射线荧光光谱 THOR X具有高分辨率、高准确性和快速分析的特点,适用于多种领域,如材料科学、环境监测、地质探测等。工作原理通过利用X射线激发样品并观察其发射的荧光X射线来分析样品中的元素组成。首先,X射线管产生高能量的X射线束,这些X射线穿过样品并与样品中的原子相互作用。这种相互作用会导致样品原子内部的电子被激发出来,形成空位。随后,外层电子会填补这些空位,产生特定能量的荧光X射线。荧光X射线的能谱经过探测器检测和分析,记录下样品中存在的元素及其相对含量。最后,通过专业软件对这些数据进行处理和分析,可以准确确定样品中各种元素的含量。仪器特点● 宽波段范围:该仪器能够覆盖广泛的元素范围,包括轻元素到重元素的检测● 高精度:仪器采用先进的检测技术和精确的分析算法,能够提供准确的元素定量分析结果● 非破坏性分析:使用X射线激发样品,无需破坏样品的完整性,可以对宝贵或难以获取的样品进行分析● 快速分析:仪器具有高效的样品处理和分析速度,能够在短时间内完成大量样品的分析,提高工作效率● 高灵敏度:仪器具有高灵敏度的探测器,能够检测到微量元素的存在,并提供可靠的分析结果● 用户友好性:仪器采用直观的操作界面和简单易用的软件,方便操作者进行样品分析和数据处理
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  • 性能优势:1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。 6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 先进的EFP算法 采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。RoHS检测及标定
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  • X射线荧光光谱仪FEDX-M810:一、技术规格:1.分析元素范围:Na(11)-U(92)2.含量分析范围:1ppm-99.999% 3.样品种类:颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度:标准偏差≤0.1%(国标标样)5.X射线源靶材:Ag靶6.滤光系统:6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器:6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统:配置真空系统,优化样品分析环境,提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观:台机结构;内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置;坚固耐用;确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护:符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置:1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%
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  • 仪器简介:理学台式波长色散X射线荧光光谱仪,它很好的解决了能量色散难于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,组分较为复杂的样品定性分析方面,发挥了极大的作用.具有WDX特有的良好波长分辨率.可轻易分开Al和Si元素的能谱峰,并对其实行定量分析.具有WDX特有的良好的轻元素的高灵敏度,分析元素范围从9F-92U.无需液氮和冷却水.技术参数:X射线管:Pd,200W晶体交换器:3晶体自动交换器样品盒:单样品台,12位旋转样品台应用软件:定性分析,定量分析带FP(基本参数法)主要特点:小型化与高性能的完美结合.引入了小型化和WDX优异的特性相结合的新概念.打破尺寸概念,开创台式新局面.可根据研究开发,质量管理的不同应用目的进行选择.
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  • 大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析氧到铀的元素分析与竞争对手的XRF系统相比Rigaku Supermini200在高分辨率仪器中提供了优越的基本参数和经验软件功能,占地面积小。作为一款高功率台式顺序波长色散x射线荧光(WDXRF)光谱仪,Supermini200具有独te的低成本(Coo)、高分辨率和低检测限(LLD),可用于几乎任何材料中通过铀(U)进行氧(O)元素分析。WDXRF性能好,成本低 Rigaku Supermini200光谱仪不仅是您的XRF元素分析需求的经济实惠的选择,运行成本也很低。P10气体用于流量比例检测器是唯yi的消耗品。Supermini200不需要冷却水、管道或外部冷水机,从而减少了系统维护,降低了系统的整体使用寿命成本和每年的耗材和维护预算。WDXRF用于轻元素性能该仪器的核心能力是分析具有广泛的轻元素和重元素的复杂基质材料,从痕量到高浓度水平。凭借其高功率(200 W) x射线管,Rigaku Supermini200为轻元素提供高XRF灵敏度,具有zhuo越的光谱分辨率,可解决复杂矩阵中的线重叠,而无需复杂的数学峰值反褶积。分析低浓度的轻元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)很容易。对困难样品的最高分辨率Supermini200 WDXRF光谱仪配备了一个三位置晶体转换器,其中LiF(200)和PET作为标准晶体安装。RX25或Ge可以选择性地添加,RX25为从氧到镁的峰提供了非常高的分辨率。通过铀(O→U)分析氧分析固体,液体,粉末,合金和薄膜大气:氦或真空x射线管:50kv, 200w pd阳极主波束滤波器:Zr为标准 可选探测器:闪烁计数器和F-PC(S-PC不需要P10气体可选)晶体:3位转换器样品尺寸:可容纳直径51.5毫米的样品自动换样器(ASC)标准:10个样品位置(51.5 mm直径的样品)可选:12个样品位置(最大44mm直径的样品)真空:标准旋转泵电源:100 - 120V (50/ 60hz) 15A或200 - 240V (50/ 60hz) 10A操作简单2001年理学台式WDXRF代表了现代工业模式的转变,它即具有大WDXRF的优势又极大的降低了费用,安装也变得方便。推出的高功率200W 台式Supermini系统保持了台式机的所有优势。灵敏度高200W光源驱动使Supermini灵敏度满足在金属,水泥,环境和法规执行上超低检出限的要求。功能强大Supermini 灵活性强,可分析从F到U的固体,液体和粉末,在真空或充氦环境。标准配置12位自动进样器,自动操作。作为ZSX系列理学台式波长色散X射线荧光系统中的成员,Supermini配置了可以与其他成员共用的所有软件。数据处理功能强大且简单,使用理学标志的流程条界面进行定性和定量分析。大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪特点高功率台式WDXRF光谱仪200W 射线光管缩短测量时间提高灵敏度适用于矿石分析使用MDL方法分析基体复杂样品安装方面的台式设计无需液氮及冷却循环水应对WEEE/RoHS & ELV 指令可以分析痕量重元素降低操作费用低P-10气体流量空冷光管CE认证高效分析12位自动进样器
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  • 二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS特点:采用岛津独创的x射线聚光透镜[集束毛细管透镜],x射线只照射样品的50μmφ微小领域,实现高灵敏度、高精度分析。可以在大气中进行从轻元素到重元素(na~u:μedx-1300;al~u:μedx-1200/1400)的分析。配备双ccd(高倍率,低倍率)摄像头,可以在观察样品图像的同时方便地决定分析位置,进行分析。标准配备无标样定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以测定聚合物薄膜的背景基本参数(bg-fp)法。作为微区x射线荧光光谱分析装置,在世界上率先配备了5种1次x射线滤光片自动交换机构,可消除来自x射线管的特征x射线,提高信噪比。配备多元素同时/自动扫描成图功能。采用高速扫描成图,在短时间内便可获得图像(μedx-1200/1300)。追加透射观察单元(选购),也可进行透射x射线的同时测定。配备电子冷却式高计数率检测器。无需液氮,可进行高精度分析。可轻松地进行电子材料/部件的镀层膜厚測定、异物检测、失效解析及成图分析。二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS配置参数:主机部分:1、X射线发生器单元X射线管类型 Rh靶冷却方法 空冷(附风扇)2、X射线电源单元电压 5-50kV,每步1Kv(测定重金属(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)时,可以用50kV。但测定轻元素时,15kV是***有效的。另在工作曲线法中,随时可设定***佳电压。)电流 1-1000μA,每步1μA稳定度 ±0.01%(外电压波动±10%)保护电路 过电压, 过电流, 过功率,3、一次X射线滤波片 5种自动交换特点说明:不同元素应该采用不同的滤光片进行分析,这样才能有效降低背景,得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片,无须手动更换检测器部分:1、检测器类型 Si(Li)检测器液氮 只有在分析时添加液氮消耗 少于1升/天检测面积 10mm2分析元素 Na-U分辨率 :小于150电子伏特特点说明:采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率,可以避免元素谱线之间的干扰,从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上,Si(Li)半导体是对性的实绩(岛津检测器是自己生产,在万一发生故障也迅速对应)。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时,容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出,还有因为是低强度,在测试金属中有害元素的感度也差。2、计数单元放大器拟合时间 10μ秒增益变化 高/低多道分析器(MCA)变频型 顺序比较ADC道数 2048道***大计数率 232-1/道样品室与测定室部分:1、样品室二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS,二手荧光光谱分析仪盖子 自动开启/关闭(带安全系统)每次测定时盖子自动上升与下降。***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS,二手荧光光谱分析仪(特点说明:样品室自动开启,样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露,满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试,无须切割)2、测定室X射线照射面积 下照射光栏直径 1、3、5、10mm可选特点说明:不同的分析面积采用不同尺寸的光栏,可以保证各种大小样品的高精度测试。测定室开孔 13mm3、测定气氛:大气4、CCD观察定位系统配备CCD数码观察系统,可以准确定位分析区域。
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  • 能量色散X荧光光谱仪畅销款型,完全可以满足欧盟RoHS和无卤环保指令检测。产品特性1. 元素测试范围从S-U,可有效管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr元素,同时也可以管控无卤指令中的Cl和Br元素。2. 配备进口的探测器,分辨率性能优佳;专业订做的X射线管和高压电源,可完全满足RoHS和无卤环保指令的检验。3. 配套软件采用经验系数法、理论α系数法和FP法算法,结合开放式工作曲线可以更快速、准确的实现各种材料中管控元素的测试。4. 软件内置自我管控系统中的超限设置功能,可以对测试结果自动判定是否在管控范围。5. 经过优化光路的改善,产品测试通道上增加到了从Na-U的元素范围。6. 带有测试样品图片的报告、分级管理员模式、几秒钟判定材料是否发生变化等。RoHS 2.0 2011/65/EU管控知识RoHS管控产品范围:● 大型家用电器;● 小型家用电器;● 信息技术及电讯设备;● 消费型设备;● 照明设备;● 电动工具;● 玩具、娱乐及运动设备;● 医疗设备;监控设备;● 自动售货机;● 其他不被以上10类产品涵盖的电子电气设备RoHS指令限量标准:Pb,Hg≤1000ppm;Cr6+,PBB,PBDE≤1000ppm;Cd≤100ppm无卤法规:Cl≤900ppm;Br≤900ppm;Cl+Br≤1500ppm满足指令应对欧盟RoHS2.0指令--2011/65/EU应对无卤指令IEC 61249-2-21应对REACH指令应对玩具En71指令应对美国CPSIA消费品安全改进法应对China-RoHS国推自愿性认证符合IEC62321标准符合GB/T 26125-2011产品规格技术指标:仪器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm样品腔尺寸:330*350*75mm;测试元素范围:Na-U中的管控元素探测器类型:Si-PIN电制冷探测器分辨率:126-169eV高压范围:5-50Kv ,50W光管参数:5-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:8种复合滤光片自动切换;CCD拍照:200万像素输入电压:AC220V,50/60Hz开盖方式:随意自动停测试样品种类:液体、固体和粉末测量范围:1ppm—99.99%测量用时:120-400秒测试环境:非真空测试数据通讯:USB2.0模式RoHS检出限:Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤60ppm准直器:?2mm,?5mm软件方法:α系数法,基本参数法,FP法工作区:开放自定义卤素在工业上的应用研发和工程对样品功能承认后,检测RoHS,测试合格后作为承认样谱图保存并标记。在后期供货过程中,只要选择和输入与承认样品相同的来源和编号,程序在测试过程中会自动判断供货物料的材料组成成分和工艺是否发生变化,来判定RoHS控制的风险。
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  • 仪器简介:PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数:硬件: 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化,最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱, 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计,样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30?以下) PR气体流量减少(5mL/min) 省空间 采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定,可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品) CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。主要特点:特点: 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
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  • X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源,适用于传统实验室工作台,并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管,同时配备样品相机及样品盘,可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能,获得精确测量,滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法(基本参数)对Na(11)- U(92)范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV,18W,Rh靶材料,分析浓度探测限范围可达ppm至100%,在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器(SDD)高计数率及分辨率的SDD探测器,分辨率可达125eV,探测元素范围可达Na(11)- U(92)。滤光片考虑不同的应用要求,6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面,易于理解的分析结果,适用于多种应用,并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计,简单易用的GUI,适用于不同层次用户,广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式,这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输,并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成,分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域
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  • 手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计,轻便小巧,可提供现场对样品的快速无损分析,采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏,操作方便,野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成,仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用,X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能,可记录检测区位地理信息,可联机进行数据传输,具有远程协助技术支持功能。分析元素范围:从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析,各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能,可以准确显示出测量合金的牌号,可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果,可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素,检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体:Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg,Hg〈1mg/Kg,Cd〈3mg/Kg);1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素,检出限可达mg/L级别(以水基体:Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L,Hg〈1mg/L,Cd〈1mg/L);2 检测分析时间:3-60秒(可调);3 重复性:RSD4%;4激发源:50KV/200uA,Ag靶,端窗一体化微型X光管及高压电源,匹配功率≤4W;5探测器:采用美国进口的新款25mm2,0.3mil,fast-SDD硅漂移探测器,能量分辨率可达125eV,探测器使用电制冷技术,无需长时间及频繁等待制冷,4096高通道MCA多道脉冲分析器;6 高性能处理器和存储器:CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G,数据硬盘32G;7屏幕显示:高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏,操作灵敏,可更好应对现场测试强光照射下的数据观测;8准直和滤光系统: 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换;9 软件分析模式:合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式(根据客户需要配置);10 可自动存储测试结果,包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组,可通过存储卡扩充容量,测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式,并可导出;11数据传输与处理:仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印,同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等;12 开机密码保护,设置操作员和管理员两级操作权限,且仪器前部设置有样品感应装置,具空测时自动切断X射线源功能,确保使用人员安全;13 防辐射安全性:微型X光管整体化封装,仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h(提供CNAS认证第三方检测报告),可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全;14 分析数据自动统计功能:对多次测试可自动统计大值、小值,及标准偏差等;15 测试时间控制方式:具备扳机控制和软件控制模式操作仪器,也可实现USB与电脑连接操作等多种方式;16电池:可充电锂电池,容量6700mAh,充满电正常测试可使用6小时以上,仪器有电量显示功能;17内置GPS功能,可实时采集和记录测试区位的地理信息;18校准:随机配有标准校准片,进行能量校准后测试;19专业的软件功能,可实现谱图的比对放大缩小及导出功能,对各元素的特征能量总和进行独立计算,同时可依据客户要求设定固定测试报告模板,直接输出标准格式的测试报告,传输到打印机可实现现场数据的及时打印;20 仪器质量1.5Kg(含电池);21 工作环境适应性:湿度-20℃~+50℃, 相对湿度<90%;标样配置根据客户测量样品配备一款标样。(合金标样、RoHS标样、土壤标样等)标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台
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  • 解决轻元素检测难题——单波长X射线荧光光谱仪(ME XRF)型号:MERAK-SC(F-Zn)l 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪原理1) 单色化聚焦激发技术微焦斑X射线管出射谱经过全聚焦型双曲面弯晶(Johansson type DCC)单色化衍射至样品点,实现点到点单色化高强度衍射,大幅降低X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射线背景干扰,提升元素检测灵敏度。2) 高性能SDD探测器单波长激发技术与SDD探测器是天作之合,SDD探测器的计数率和分辨率得以充分发挥,进一步提升样品中主量元素与微量元素同步检测能力。l 单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC单波长X射线荧光光谱仪 MERAK-SC能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)对轻元素分析能力不足,通常无法对样品中超轻元素(C、N、O、F、Na等)进行定量检测,除了轻元素荧光产额较低之外,另一个主要原因是X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射到探测器的连续背景干扰,使得轻元素的荧光信号被淹没,这点也是能量色散X射线荧光光谱仪主要逊色于波长色散X射线荧光光谱仪的地方。单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC采用单色化聚集激发技术,大幅提升轻元素检测灵敏度,采用超薄石墨烯窗口硅漂移探测器,进一步提升轻元素通过率,使得分析超轻元素(O、F、Na等)丝毫不逊色大型WD XRF。同时采用二次靶技术,实现样品中常量元素(K-Cu)的分析。搭载快速基本参数法Fast FP 2.0可以快速建立各类样品元素分析方法,提升样品适应性和定量准确度。【特点】l 轻元素超低检出限单波长X射线荧光光谱仪将元素分析范围延伸至超轻元素,譬如F元素检出限达到前所未有的0.15%水平;l 元素分析范围轻元素:O、F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl;金属元素:K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn l 可分析液体样品专用于液体样品分析的样品杯;l 上照式设计避免由于样品表面灰尘、液体洒落等造成光路污染或者昂贵探测器的损坏;l 自旋装置软件控制自旋装置的开启,提高不均匀样品的检测精度;l 温度控制环境适应温度范围24±3℃,控温精度±0.3℃;l 搭载快速基本参数法强大的Fast FP软件,可视化操作界面,支持各类样品的应用开发; 【规格】l 原理:单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪l 元素分析范围轻元素:F-Cl 金属元素:K-Zn(其它元素分析,可配置)l 元素检出限元素FNa\MgAl\SiP\S\ClK-Zn检出限(%)0.150.0050.0010.00020.0003备注:元素分析时间300秒,检出限与样品基体有关,本检出限是以水基体下测得l 重复性l 分析时间:30秒-300秒/样品l 稳定性24小时元素含量(强度)漂移<±3%一周内漂移<±5%备注:元素含量或强度相对变化值【应用】1. 水泥工业原料(石灰石等)、入窑生料、水泥熟料等元素含量分析;2. 固体废物中硫氯氟含量同步快速检测;3. 煤炭工业煤元素成分含量分析;煤热值与灰分含量预测;粉煤灰、煤矸石元素成分分析;4. 石油化工行业元素含量分析;5. 土壤主成分(氧化物)与微量元素(P、S、Cl等)含量分析;6. 钢铁冶炼、有色冶炼行业主量元素与微量杂质元素含量分析;7. 铝行业元素含量分析;8. 石灰石主量元素含量分析;9. 菱镁矿元素与氧化物含量分析,镁砂杂质元素含量分析;10.石墨与碳素行业元素含量分析;11.锂电池主量元素与微量杂质含量分析;
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  • TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀,专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测,可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物,进行定量和半定量多重元素微量分析,为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧,便于携带和运输,非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点,是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面,使得操作简单、直观,即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素,也可以根据检测需求进行元素扩展,分析近30个元素,大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比,TXRF采用特殊几何配置,有效降低了辐射暴露风险,更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持,确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析,非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计,缩短了探测器到样品距离,提高了荧光产量,适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品,降低了散射和荧光背景,实现了更低的背景噪声,检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备,国产TXRF通常具有更高的性价比,同时设计用于低能耗运行,需要的样品量少,减少了对昂贵试剂和标准物质的需求,另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品,成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm(L×H×W)重量≤15KG(不含电池)核心技术全反射X射线荧光(TXRF)元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl,颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器,超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等
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  • 双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化,从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰,提升样品中元素荧光射线强度,降低对多元素的检出限,尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法,可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。
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  • 创新点 它结合了大型波长色散X射线荧光仪的优异分析性能和台式能量色散型X射线荧光光谱仪的简单易用性。S6JAGUAR采用紧密的WDXRF光路,和高达400W的激发功率,比其他紧凑型WDXRF仪器具有更好的分析灵敏度和更快的测量速度。相对于200W或50W的WDXRF仪器,测量时间能成倍地缩短,测量精密度大幅度提高。S6JAGUAR使用新软件—SPECTRA.ELEMENTS,以及基于基本参数的无标样定量分析软件SMART-QUANTWD。通过AXSCOM接口,还可以将S6JAGUAR集成到自动化分析系统。上市时间:2018年6月 产品介绍 ▲S6 JAGUAR2018年6月11日,在德国法兰克福2018国际化学工程、环境保护和生物技术展览会(ACHEMA)上,布鲁克公司宣布推出 S6 JAGUAR,一台功能强大的台式波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)。S6JAGUAR 扩展了布鲁克XRF分析仪器产品线,它结合了大型波长色散X 射线荧光仪的优异分析性能和台式能量色散型X射线荧光光谱仪的简单易用性。400W 大激发功率S6 JAGUAR 采用紧密的WDXRF光路,和高达400W 的激发功率,比其他紧凑型 WDXRF 仪器具有更好的分析灵敏度和更快的测量速度。相对于200W 或 50W 的WDXRF仪器,测量时间能成倍地缩短,测量精密度大幅度提高。高灵敏度的固态探测器 HighSense XETM新的探测器技术:固态探测器适合检测中间元素和重元素计数线性范围高到 2000 kCPS能量分辨率比闪烁计数器提高了1倍,明显降低了高次线和晶体荧光的影响高灵敏度的WDXRF光路紧密的WDXRF 光路包括最多4种尺寸的面罩、最多4种分光晶体、2个高灵敏度探测器,为科研和工业分析提供了强大并灵活的分析功能。S6 JAGUAR 可快速分析氟(F)到镅(Am)之间的多元素,含量范围从 ppm 到 百分之百。另外,S6JAGUAR 使用新软件— SPECTRA.ELEMENTS,以及基于基本参数的无标样定量分析软件 SMART-QUANT WD。通过 AXSCOM 接口,还可以将 S6 JAGUAR 集成到自动化分析系统。
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • STARK系列技术特点一、功能1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。1.镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。2.镀层层数:多至5层。3.测量点尺寸:圆形、方形测量点,圆形准直器Φ0.1~0.8mm等,方形准直器0.05mmX0.25mm、0.05mmX0.05mm等4.测量时间:通常35秒-180秒。5.样品台尺寸:450 x 300 (长x宽)。6.测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。7.可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。8.同时定量测量8个元素。9.定性鉴定材料达20个元素。10.自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正 定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析 数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。 二、特点1.采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。2.X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。3.具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试4.相比其他分析设备,投入成本低5.仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性6.综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀层分析:可分析四层以上厚度,独有的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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  • 产品简介  FAS 2100手持式X射线荧光光谱仪是朗铎元素检测技艺与客户利益的结合,检验级手持式光谱仪人工智能发展的新方向。朗铎科技与国外知名光电子研究机构联合研发,在检验级XRF领域掀起了一波新的数字浪潮。  FAS 2100搭载了人工智能技术的光谱分析终端,可让您的分析数据通过网络传输轻松获得。秉承欧洲工艺,融入中国智造,FAS 2100将准确度与易用性发挥到了很高的水平,刷新了检验级XRF检出限与精确度的新标准。在可靠性方面,FAS2100依然毫不妥协,事实上,人体工程学设计能够让FAS 2100经得起日复一日、年复一年的频繁检测,经过长时间的使用,仍然可保证出色的精度、稳定性与舒适度。  是严谨的态度,更是一份朴拙的匠心,是科技突破,亦是历史延续,是尖锐的打破,更是经典的致敬,您身边的元素分析专家—FAS 2100!技术优势FAS 2100 手持式X射线荧光光谱仪具有以下显著优势● X射线管自动电流调节技术国内采用X射线管自动电流调节技术,降低了强背景的干 扰,大大提高了分析性能●完全基本参数法先进全面的完全基本参数法,具有更广泛的分析适应性,不分 基体,不分含量元素分析范围可以从痕量水平到纯金属。●内置校准技术采用先进的内置校准技术,优化校准过程,大大降低使用 人员工作量,同时智能判断硬件故障。●独立工业操作系统独立的工业操作系统,无需外接PDA,运行速度快,具有病毒 免疫功能,保障测试数据安全性。●灵活的通讯功能蓝牙,USB等多种仪器连接方式,并可以通过朗铎APP和仪器 连接,实现数据分享、样品拍照以及样品定位等多种功能.●人性化UI设计人性化的UI设计,使整个分析过程只需要三步,“开机”- “分析”-“扣扳机”,1-2秒既可出合金牌号,即使非技术人员也 可以轻松掌握。技术参数应用领域生产制造中的质量控制(QA/QC)  生产制造的质检人员,通过 FAS 2100,无需制样,并在完全无损的前提下,只需要很短的时间便可得出牌号,再延长几秒,则可得出实 验室级别的测试结果。废旧金属回收  FAS 2100 采用韧性的LEXAN材料,密闭一体化设计,防尘、防水、防腐蚀,保障 FAS 2100 经得起严苛环境日复一日、年复一年 的频繁检测,为购销双方交易提供迅速可靠的判断数据。产品详情光谱数据分析软件FAS 2100 手持式X射线荧光光谱仪检测数据实时分析平台● 通过蓝牙实时获取手持仪检测结果数据● 读取的检测结果按照设定的格式和选择的条目分享至微信、邮件、短信等● 样品拍照功能:可以通过App提供的拍照功能对检测样品进行拍照,并绑定检测结果,同时可以与检测结果一起进行分享● 可拓展云服务功能:检测结果上传至云服务器。用户在云服务可以对数据进行更加细致的统计、查询、分析等功能
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