海洋光学反射率测试仪原理

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率。 STAN-SSL感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSL限于200-1100 nm。 用 STAN-SSL将低反射率基准设为~4%。 虽然中性滤光片的材料很耐用，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。 清理STAN-SSL 表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 STAN-HOLDER 标准反射支架 STAN-HOLDER 反射比标准固定器是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射图 技术指标 基底尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射材料: 黑色玻璃 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

Stage-RTL-T型平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与海洋光学的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量 Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGE-RTL-T型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。 STAGE-RTL-T型平台规格 尺寸(底座): 206.3 mm 尺寸 (样品区): 直径152.4 mm(样品架) 重: 4,500 g 高: 立杆可调至 400 mm

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

海洋光学的余弦校正器可与光纤和光谱仪连接，用于相对光谱强度和绝对光谱强度测量、发射光谱测量，以及对LED光源和激光光源进行分析。 可选的探头 将CC-3和CC-3-UV装在光纤未端，余弦校正器和光纤就组成了一个辐射探头。该探头与海洋光学的光谱仪相连接用于测量探头表面光线的辐射强度。 可直接连接 CC-3-DA可直接与USB2000、HR4000或S2000光谱仪的SMA 905接头连接，从而组成一个完整的无连接线的光谱仪系统，不需要使用光纤。 散射材料：UV-VIS或VIS-NIR 余弦校正器的散射材料可以是一个乳白色的、薄的玻璃圆盘（(350-1100 nm)或 Spectralon (200-1100 nm) ，位于不锈钢套管的末端。 CC-3 CC-3-UV CC-3-DA 散射材料: 乳白玻璃 Spectralon Spectralon 波长范围: 350-1000 nm 200-1100 nm 200-1100 nm 外形尺寸: 6.35 mm OD 6.35 mm OD 12.7 mm OD 视场 180° 180° 180°

WS-1漫反射标准板采用PTFE制成，其表面为朗伯表面。WS-1外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外应用下也没问题。在250-1500纳米波段，反射率大于98%，在250-2200纳米波段，反射率大于95%。 WS-1的反射面的直径为32mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子。

CUV- UV比色皿支架可以用于1-cm光程试管，可以通过SMA接头的光纤耦合到海洋光学高灵敏度微型光纤光谱仪和光源，组成小型化的分光光度计系统，用于各种 水溶液的绝对吸光度测量。这种紧凑的比色皿支架被优化用于UV-VIS-NIR (~200 nm-2 µ m)的应用。 两个74-UV透镜被固定，穿过为1-cm比色皿设计的支架，从比色皿底部到采样区域的&rdquo Z&rdquo 尺寸，为15mm。试管被弹簧塞固定，支架底座配备了管道，可以连接水浴，用于温度控制。 1-cm光程比色皿支架配有以下关键组件： 两个可调5-mm直径f/2石英透镜 精确固定试管位置的弹簧球塞 内置1/4"滤光片插槽 连通恒温水源的内置管道（加热和冷却底座和比色皿，采用对流方式） SMA905接头，耦合光纤 1-cm比色皿支架可以选配黑色阳极氧化铝材质的外罩，用于屏蔽环境光，以及在采集暗背景时截止光路。 使用1-cm比色皿支架很简单：将两个准直透镜分别连接SMA接头光纤，其中一根光纤&mdash 照明光纤&mdash 耦合到光纤输出光源，另一根&mdash 读取光纤&mdash 连接到光谱仪。某些情况下，你可以调节准直透镜，将光纤精确地定位在透镜的焦点，或者调解弹簧球塞，以适应不同型号的1-cm比色皿。 CUV-UV-FL CUV-UV-FL 是一个1-cm光程比色皿支架，所连接的两根光纤成直角耦合。这个试管直角被专门设计用于荧光测量（200-2000nm） 用户小贴士 每台74系列准直透镜皆配有比色皿支架，也可以将其旋出支架并且单独使用于任何需要将自由光束耦合到光纤的装置，例如在线透射或者反射测量。 "Z" 尺寸 所有海洋光学提供的比色皿和比色皿支架的"Z"方向尺寸为15mm。 规格 光程: 1 cm 准直透镜（UV-VIS-NIR）： 石英透镜，优化用于200nm-2um m 5mm直径 f/2 准直透镜接头: SMA 905 采样间尺寸: 2.0" x 1.5" (LW) 滤光片插槽: 容纳滤光片，最大¼ " (6 mm)厚度 主要材料: 铝 基本长度: 5.5" 底座连接: 进水和出水口，额外的连接端口 进水口装置: 1/8" NPT导管螺纹 到达样品的光束尺寸: ~5 mm (圆形) 透镜中心到样品的距离 ~0.575"

单点反射测量支架是一个探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。 这一探头支架适于固定直径达6.35mm的光学探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达63.5mm。 反射台是电镀台面，表面刻有同心圆以确定直径，用于放置圆形样品。 规格 尺寸（基座）: 直径为152.4mm 尺寸（样品区）: 直径为101.6mm* 重量: 620 g 高度: 垂直可调高度63.5mm *指带有同心圆刻度的区域，用户也可利用整个基座的区域。

ACH-CUV-VAR可调节准直透镜和样品支架是二合一的产品；一个固定装置,用于将准直透镜定位于不同的高度或者支持更大更厚的样品，以及一个用于容纳比色皿的支架，用于透射度测量。 作为透镜的支架，ACH-CUV-VAR具有一个阳极氧化铝底座和带有 3/8-24螺孔的可调固定面板，用以容纳准直透镜（包括了两个74-UV准直透镜）。面板可以通过调节，容纳的样品最厚可达150mm，底座上有1mm 间隔的刻度，可作为光程的标尺。ACH-CUV-VAR具有样品支架，可以将试管安全地放置在两个固定面板之间，最宽可容纳150mm的比色皿。 &ldquo Z&rdquo 尺寸 所有海洋光学提供的比色皿和样品支架的"Z"方向尺寸为15mm。 产品规格 底座装配材料: 黑色阳极氧化铝 固定面板装配材料: 黑色阳极氧化铝 尺寸(MM): 200 x 67 x 157 重量: 1,000 g 螺纹: -- -固定面板 -- 3/8-24螺纹 -- 面板用固定螺丝钉-- M6 测量面板: 0.5 cm刻度，作为光程的标尺（总长度10cm）

74系列透镜 74系列准直镜是我们研发的多种采样附件中的通用光纤透镜，包括石英透镜(74-UV)、BK-7玻璃透镜(74-UV)和BaF10/FD10玻璃透镜(74-ACR)。 74-UV准直透镜(200-2000 nm) 74-UV是200-2000 nm范围内的石英透镜. 光束经过透镜后，发散角度不超过2° 。74-UV可以在UV-VIS或者VIS-NIR应用中调节光束。 透镜外壁上有一白点作为74-UV的标记。 74-VIS准直透镜(350-2000 nm) 74-VIS是LS-1光源的标准透镜，具有适用于VIS-NIR范围的BK-7透镜。由于散射和不同波长上具有不同折射率，单透镜系统会产生色差。 透镜外壁上有一黄点作为74-VIS的标记。 74-ACR准直透镜(350-2000 nm) 74-ACR有两片光学透镜粘在一起形成消色差双合透镜，可以矫正球面像差和色差。 透镜外壁上有两个黄点作为74-ACR的标记。 74-DA准直透镜(200-2000 nm) 74-DA准直透镜直接拧在SMA905接头上，可以增加光线的透过率。该透镜收集光后，将其聚焦到光谱仪的狭缝上。 特性 黑色氧化表层不锈钢 可连接SMA905接头 (也提供1/4" OD FC) 可调焦距 视场可在收敛到发散之间调节(~45° ) Technical Tips 采用单透镜获得的光束发散角 (&alpha ) 满足tan(&alpha ) = d/f。其中，f透镜焦距，d是狭缝宽度或光纤直径。 海洋光学所指定的光纤视场大约是~25° 。对于某些实验来说，这可能不是一个最佳视场。 但通过准直透镜的调节，可实现大约~ 0° 到 ~45° 的视场角。 调节准直透镜时务必小心，因为透镜聚焦有误将造成采样路径长度的改变。 产品规格 型号 直径 焦距 材料 波长范围 工作温度 连接器 74-UV 5 mm 10 mm f/2 fused silica Dynasil 200-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread 74-VIS 5 mm 10 mm f/2 BK-7 glass 350-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread 74-DA 5 mm 10 mm f/2 fused silica Dynasil 200-2000 nm 150 C SMA 905, 1/4-36 internal thread, 3/8-24 external thread74-ACR 5 mm 10 mm f/2 BaF10 and FD10 fused silica 350-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread

74系列透镜 74系列准直镜是我们研发的多种采样附件中的通用光纤透镜，包括石英透镜(74-UV)、BK-7玻璃透镜(74-UV)和BaF10/FD10玻璃透镜(74-ACR)。 74-UV准直透镜(200-2000 nm) 74-UV是200-2000 nm范围内的石英透镜. 光束经过透镜后，发散角度不超过2° 。74-UV可以在UV-VIS或者VIS-NIR应用中调节光束。 透镜外壁上有一白点作为74-UV的标记。 74-VIS准直透镜(350-2000 nm) 74-VIS是LS-1光源的标准透镜，具有适用于VIS-NIR范围的BK-7透镜。由于散射和不同波长上具有不同折射率，单透镜系统会产生色差。 透镜外壁上有一黄点作为74-VIS的标记。 74-ACR准直透镜(350-2000 nm) 74-ACR有两片光学透镜粘在一起形成消色差双合透镜，可以矫正球面像差和色差。 透镜外壁上有两个黄点作为74-ACR的标记。 74-DA准直透镜(200-2000 nm) 74-DA准直透镜直接拧在SMA905接头上，可以增加光线的透过率。该透镜收集光后，将其聚焦到光谱仪的狭缝上。 特性 黑色氧化表层不锈钢 可连接SMA905接头 (也提供1/4" OD FC) 可调焦距 视场可在收敛到发散之间调节(~45° ) Technical Tips 采用单透镜获得的光束发散角 (&alpha ) 满足tan(&alpha ) = d/f。其中，f透镜焦距，d是狭缝宽度或光纤直径。 海洋光学所指定的光纤视场大约是~25° 。对于某些实验来说，这可能不是一个最佳视场。 但通过准直透镜的调节，可实现大约~ 0° 到 ~45° 的视场角。 调节准直透镜时务必小心，因为透镜聚焦有误将造成采样路径长度的改变。 产品规格 型号 直径 焦距 材料 波长范围 工作温度 连接器 74-UV 5 mm 10 mm f/2 fused silica Dynasil 200-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread 74-VIS 5 mm 10 mm f/2 BK-7 glass 350-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread 74-DA 5 mm 10 mm f/2 fused silica Dynasil 200-2000 nm 150 C SMA 905, 1/4-36 internal thread, 3/8-24 external thread 74-ACR 5 mm 10 mm f/2 BaF10 and FD10 fused silica 350-2000 nm 150 C SMA 905, 6.35-mm ferrule, 3/8-24 external thread

结合了我们的专利的高通和低通线性滤光片，研制出全球首例的陷光滤光片，配合一个可调节中心波长和可调节的带通波段，每一个滤光片都有卓越的通频带（~90%）和阻频带（99.8%） 这些滤光片&mdash &mdash 涂有干涉涂层的57mm x10mm石英基板&mdash &mdash 特别适用于从宽频光源中制造出在荧光测量中的所需要的激发光。 产品特点 卓越的通过和阻止频段 可调节通过滤光片的虑光范围 滤光片有效带宽300-750nm 光谱形状的激发源 滤光片载体 成品的滤光片装有环氧树脂的滑动载体，它可以使您能够调整300-750nm波段范围内的通过或者阻止波段 单高通、单低通滤光片 LVF-H高通滤光片是一种能够阻止非通过波长光效率达到98.8%的单高 通滤光片，在允许通光的波段内，LVF-H的透光率超过90%。LVF-L低通虑光片是一种可以阻止非通过波段的光效率达到88%的单通滤光片，在允许通 光的波段内，LVF-L的透光率超过98.8%。 双高通、双低通滤波片 两片完全相同尺寸的LVF-H或者LVF-L滤光片，将他们的过滤波长完全对齐，然后用环氧树脂粘合在滑动载体上。相对于单滤光片，拥有了双倍的光密度过滤，因此可增加阻光率达到99.96%。同样的，同光率将降低到80%左右。 高通和低通可变带通虑光器 将一个高通虑光片和一个低通虑光片组合在一起，我们创造出了陷光滤光器，它允许您调整中心波长和带宽。预置的通光带宽在~25nmFWHM，通过拧松4个固定螺丝，可滑动滤光片，从而调宽或者调窄通光带宽（~20nm最小带宽）。 LVF-HL（300-750nm）和LVF- UV-HL（230-500nm）LVFs改变了传统荧光光谱测量方法，消除了以前需要多个、昂贵的带通滤光片从单带宽光源塑造出激发能，一个LVF盒可 取代多重滤光片，可降低至少$100的花费。此外，LVF套装使使用者可以从单波长光源上塑造出所需要的激发源，与使用多重光源的各种波长或者前端扫描的 单色仪截然相反。 LVF选项 从这几个选项中选择: LVF-H（高通）和LVF-L（低通）是单滤光片，用环氧树脂胶合在滑动载体中。 LVF-HH（高通）、LVF-LL（低通）和LVF-HL（可调带通）是双滤光片，用环氧树脂胶合在滑动载体中。LCF-KIT包含LVF-HL可调节带通滤光片和LVF-CUVADPT，以及CVD-DIFFUSE，他们的附件描述在下面。 LVF附件 LVF滤光器和滑动载体可被插入光谱仪，在使用下面的附件的情况下: LVF-CUV-ADP是在比色皿池上固定滑动载体的附件，海洋光学的比色皿池既能容纳单滤光片也能容纳双滤光片滑动载体。 CVD-DIFFUSE是一种在测量高度上有45° 斜面的特氟龙制1cm比色皿形式的附件，使用它在荧光比色皿、光纤支架上，可改变传导到光谱仪中的激发能的方向，这可帮助设置滤光片的位置&mdash &mdash 例如：通过滤光片选择通过的波长的应用。 FHS-LVF是一种同轴取样镜片，协同两个准直透镜，使之既可容纳单滤光片也可容纳双滤光片滑动载体。不同于LVF-CUVADPT可应用于荧光测量的应用，FHS-LVF只能用于测量吸光度/透光率。 LVF高通滤光片光谱 通过调整滤光片在准直镜前的位置，调整透光带的波长位置。 LVF低通滤光片光谱 改变阻止波长根据滤光片在准直镜前不同的位置 LVF-HL可变带宽滤光片光谱 这张光谱展示了LVF-HL能让通光带能被设置的虑光范围（300-750nm），

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

产品特点：反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品，以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择，以提供最佳筛选结果。订货信息：反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60 mm，8 mm x 58 mm，未校准L128192099% 反射率聚合物 100 mm，8 mm x 98 mm，未校准L128192199% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192299% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L128192350% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L1281925反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，每套 4 件L1281926反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，L1281928反射率横坐标标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，L1281929反射率标准品重新校准服务，标准品重新校准 12 个月之后推荐该服务L1281930

NIRS XDS 的反射率标准板支架订货号: 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

NIRS 反射率标准板，2 件套订货号: 6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

NIRS 99 % 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号： 6.7450.070NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 1 英寸

NIRS 反射率标准板，7 件套订货号: 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

λ/10 超低反射率窗口片反射率0.1% 的激光谱线镀膜Nd:YAG 和 Yb:YAG 波长选项采用表面质量 10-5 的基片TECHSPEC® λ/10 超低反射率窗口片采用在设计波长下反射率低于 0.1% 的增透膜。这些窗口片采用 λ/10 表面平整度和 10-5 表面质量的高品质熔融石英基片，以最大程度地降低散射。这些窗口片具有超低反射率和高损伤阈值，特别适合集成到激光系统，从而基本上消除表面反射。 TECHSPEC λ/10 超低反射率窗口片提供 266nm 至 1064nm 的激光 V 型镀膜，以便与 Nd:YAG 和 Yb:YAG 激光源兼容。提供 12.7mm 到 50.8mm 的英制直径尺寸。 通用规格入射角 (°):0平行度（弧分）:3有效孔径 (%):90基底:Fused Silica表面平整度:λ/10表面质量：10-5产品信息涂层Dia. (mm)厚度(mm)DWL(nm)产品编码Laser Ultra V-Coat (266nm)38.106.35266#11-224Laser Ultra V-Coat (532nm)12.706.35532#11-259Laser Ultra V-Coat (532nm)19.106.35532#11-261Laser Ultra V-Coat (532nm)25.406.35532#11-262Laser Ultra V-Coat (532nm)38.106.35532#11-264Laser Ultra V-Coat (532nm)50.809.53532#11-266Laser Ultra V-Coat (1064nm)12.706.351064#11-275Laser Ultra V-Coat (1064nm)19.106.351064#11-277Laser Ultra V-Coat (1064nm)25.406.351064#11-278Laser Ultra V-Coat (1064nm)38.106.351064#11-280Laser Ultra V-Coat (1064nm)50.809.531064#11-282

订货信息：漫反射率测定标准品产品描述部件编号99% 漫反射标准品，2 英寸，已校准PELA90582%，50%，75%，99%漫反射标准品组件，2英寸，已校准PELA90112%，5%，10%，20%，40%，60%，80%，99%，漫反射标准品组件，2 英寸，已校准PELA9013漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：R,G,B 和 YPELA9018漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：O,P,C 和 VPELA9019可调支架L6020329

NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 0.5 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 0.5 inch probe diameter订货号： 6.7450.080

NIRS XDS 的反射率标准板支架NIRS XDS tray for reflection standard订货号： 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

NIRS 反射率标准板，7 件套NIRS reflection standard, set of 7订货号： 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

镜头焦距测试图（36扇形星）反射率TE120_ATE120测试图被设计用于：相机镜头调整检测后焦距 使用低透射滤光片和低水平照明以确保相机在光圈打开的位置没有过度调节。a）光学聚焦：调整变焦镜头的焦距到最大焦距。 b）后焦距（镜头）：通过调节机械地调节镜头螺丝调整焦距到最短焦距，然后交替优化a）。c）后焦距（拾取管）：如果焦点在不同信道的最大和最短焦距变化，个别的拾取管必须机械的调整光轴。 1、选择白色通信道。设置光学聚焦在最大焦距。调节W-通道拾取管的最短焦距和发射焦点达到最佳聚焦。必要时交替优化调节光学聚焦。2、调整红色和蓝色拾取管的不变焦距和最短焦距，直到最佳聚焦的实现。图像对焦（对焦调整）通过后焦距的调整得以在全焦段（放大）和恒定的距离对象。 扇形星的外直径是一个分辨率测试图，这个扇形星的分辨率是50.5线，即0.65MHz（625线）或0.64MHz（525线）。这个扇形星有一个不确定的部分直接是为直径的1%。 The TE120 test chart is designed foradjustment of camera lenseschecking back focal distancechecking resolution establishing cushion and barrel distortion With the aid of a low transmission filter and by means of low level lighting make sure that the camera is not over modulated with the aperture in the open position.a) Optical focus: Adjust focus of zoom lens at greatest focal length. b) Back focal distance (lens): Adjust focus at shortest focal length by regulating lens mechanically with adjustment screw and optimize alternatively with a). c) Back focal distance (pick-up tubes): If focus varies from channel to channelbetween greatest and shortest focal length, the individual pick-up tubes must be adjusted mechanically in the optical axis.1. Select white channel. Set optical focus at greatest focal length. With shortest focal length and divergent focus adjust the pick-up tube in W-channel until optimum focus is achieved. If necessary optimize by alternating with optical focus adjustment.2. With unchanged optical focus adjustment and shortest focal length adjust the red and blue pick- up tube until optimum focus is achieved. Image focus (focus adjustment) is maintained at all focal lengths (zoom-in) and constant distance from object by means of back focal distance adjustment. At the outer diameter of the sector star there is a resolution of the sector star there is a resolution of 50.5 lines, i.e. 0.65 MHz (625 lines) or 0.64 MHz (525 lines). The unresolved center of the star has a diameter of 1% of the outer diameter.1、厂家货源正品官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码 机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。 3、关于颜色 本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。 4、关于客服 可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时也可以拨打我们的热线电话 沈工：13761561390 （技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后 我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。 6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

NIRS 99% 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，1 英寸直径，45° 度倾斜NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 1 inch diameter, 45° bevel订货号： 6.7450.090

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针Certified NIRS 99% reflection standard for laboratory sensors订货号：6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

USB2000+微型光纤光谱仪产品介绍现在，海洋光学已经销售了130,000台以上的光谱仪，它们被应用于各个领域。凭借丰富的应用经验，海洋光学不断地推出更灵活，通用和性价比更高的微型光纤光谱仪。 USB2000+是我们下一代光谱仪中的旗舰产品，它使用了索尼公司的具有2048像素的线阵CCD探测器以获取更高的信噪比，并使用了增强的电子装置来更好地控制光谱仪及其组件。 根据不同的应用，我们将光学平台做成可选配置，包括入射狭缝、光栅和阶次滤波器等都可自由选择。主要特点世界上最受欢迎的光谱仪海洋光学最新推出的USB2000+光谱仪是目前世界上最受欢迎的光谱仪！它内置了先进的探测器和强大的高速电路系统。USB2000+的特点在于具有16位A/D转换，4种触发模式，根据温度变化的暗噪声校正和22针的连接口（包括8个用户可编程GPIO端口）。USB2000+可兼容Linux，Mac或Windows等多种操作系统。模块化的USB2000+光谱仪可以响应从200到1100nm的光谱范围，通过配合海洋光学生产的各种光学平台组件、光源和采样光纤，可以为上千种吸收、反射和发射测量应用搭建各具特色的系统。 1000幅全光谱/秒 可编程控制器 模块化设计 可定制波长范围和分辨率 软件自动读取光谱仪波长系数 USB接口供电 通过RoHS和CE认证先进的电子系统USB2000+光谱仪具有强大的电子系统：带有自动清零功能的16位A/D转换器（增强的电子暗电流校正）；采用EEPROM存储校正系数，方便操作；8个可编程GPIO接口用来控制外围设备；积分时间最短达到1毫秒--有效地避免探测器饱和。而且USB2000+的信噪比可以达到250：1，光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm（依赖于选用的光栅和入射狭缝）。最新的操作软件和热插拔技术USB2000+可通过USB2.0接口与电脑连接。每台USB2000+光谱仪的特性数据都存储在它的内存中；另外，采用跨平台（Linux，Mac或者Windows）的SpectraSuite软件，可以很容易地读取这些数据并且支持热交换。当通过USB与计算机连接时，USB2000+将依靠计算机供电，无需外接电源。由于具有紧凑小巧的设计，方便的即插即用，先进的电子系统和功能强大的探测器，USB2000+超越了USB2000，成为目前世界上最受欢迎的微型光纤光谱仪。光学平台选件USB2000+光学平台的独特之处在于，允许您根据自己的应用来来定制组件。同时，海洋光学的应用工程师会帮助您选择最优化的配置，或者您可以根据下面的指导选择合适的入射狭缝，滤光片，光栅和探测器组件。该平台内没有可移动的部件，不会磨损或者破裂；所有指定的组件都已经在出厂前完全地固定，选择光学平台配置可参照USB2000+光学平台可选配置。探测器选件USB2000+光谱仪采用Sony ILX511 2048元线性CCD阵列探测器。为了使USB2000+适合您的应用，您可以参考四种探测器选件；四种选件包含在探测器中只是用不同的镀膜技术和窗片。模块化设计当您购买了USB2000+光谱仪后，您可以方便的从海洋光学的生产线中寻找您所需要的光学附件。大多数的附件都采用SMA905的接口，您只要简单地旋出连接器就可以更换或添加采样附件，包括光源，样品池，滤光片，流通池，光纤探头，传感器，聚焦镜，衰减器，漫反射标准，积分球和光学衍生产品即插即用USB2000+光谱仪可通过USB2.0接口或RS-232串口连接到电脑，PLC和嵌入式系统中。当使用串口通讯时，需要5伏供电。每个光谱仪都有自己特有的参数存贮在光谱仪的内存中，通过光谱仪软件可以读出这些数据。串口操作当使用串口通讯时，需要5伏供电。光谱仪软件SpectraSuite并不提供串口的通讯，不过您可以通过串口指令集来编写您自己控制代码。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

NIRS 反射率标准板，2 件套NIRS reflection standard, set of 2订货号：6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。