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相位差式转矩仪的测量原理

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相位差式转矩仪的测量原理相关的论坛

  • 相位差显微镜

    相位差显微镜  相位差显微镜的结构: 相位差显微镜,是应用相位差法的显微镜。因此,比通常的显微镜要增加下列附件:   (1) 装有相位板(相位环形板)的物镜,相位差物镜。   (2) 附有相位环(环形缝板)的聚光镜,相位差聚光镜。   (3) 单色滤光镜-(绿)。   各种元件的性能说明   (1) 相位板使直接光的相位移动 90°,并且吸收减弱光的强度,在物镜后焦平面的适当位置装置相位板,相位板必须确保亮度,为使衍射光的影响少一些,相位板做成环形状。   (2) 相位环(环状光圈)是根据每种物镜的倍率,而有大小不同,可用转盘器更换。   (3) 单色滤光镜系用中心波长546nm(毫微米)的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。相位板用特定的波长,移动90°看直接光的相位。当需要特定波长时,必须选择适当的滤光镜,滤光镜插入后对比度就提高。此外,相位环形缝的中心,必须调整到正确方位后方能操作,对中望远镜就是起这个作用部件。

  • 如何理解相位差

    这两天有人问关于相位差的问题,我想了想,也就只有这么几句话:电子束具有波粒二象性,波的性质造成了相位的产生,粒的性质造成了弹性和非弹性的散射,当电子束经过两个不同的晶面时,产生的光程差,而这个光程差进而造成了相位差越想觉得对于这个相位理解越模糊,看来是基础知识学得不扎实造成的后果,不知道大家是怎么理解的,还请指教

  • 【讨论】半波损失、增透膜原理及对分光光度计测量值的影响

    看到tutm老师在论坛里提到半波损失,还有论坛里一些分光测量的吸光度值的怪异现象。特在网上搜了一下,我认为,半波损失只是引起了光的光程的改变,如果,比色皿--样品(参比)--四周空气这样的嵌套结构,不符合增透膜原理,那就不会对最后的测量结果产生影响。最初我想到了干涉滤光片的原理,网上一搜,觉得增透膜更接近此模型,不过它们的原理基本一样。下面是我在网上看到的一篇文章,我简单编辑了一下。原文章叫《薄膜干涉中的半波损失与薄膜厚度》地址:http://www.nbxiaoshi.net/ReadNews.asp?Newsid=2371增透膜中的半波损失一。基本概念http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191652_629291_1786353_3.gif 图1A。所谓“半波损失",就是当光从折射率小的光疏介质射向折射率大的光密介质时,在入射点,反射光相对于入射光有相位突变π,即在入射点反射光与入射光的相位差为π,由于相位差π与光程差λ /2相对应,它相当于反射光多走了半个波长λ /2的光程,故这种相位突变π的现象叫做半波损失。 如图1所示为增透膜示意图,其中n0、n1、n2分别表示空气、膜层和玻璃的折射率,如空气的折射率n0=1,MgF2的折射率n1=1.38,冕牌玻璃的折射率n2=1.52。n0相对于n1就是光疏介质,n1相对于n2就是光疏介质。当入射光线SA从no射入n1时,在no和n1的界面反射,由于n0

  • 转矩流变仪和界面流变仪的介绍

    流变仪,用于测定聚合物熔体,聚合物溶液、悬浮液、乳液、涂料、油墨和食品等流变性质的仪器。流变仪,用于测定聚合物熔体,聚合物溶液、悬浮液、乳液、涂料、油墨和食品等流变性质的仪器。分为旋转流变仪、毛细管流变仪、转矩流变仪、.转矩流变仪和界面流变仪。下面就让我来介绍一下转矩流变仪和界面流变仪。转矩流变仪,实际上是在实验型挤出机的基础上,配合毛细管、密炼室、单双螺杆、吹膜等不同模块,模拟高聚物材料在加工过程中的一些参数,这种设备相当于聚合物加工的小型实验设备,与材料的实际加工过程更为接近,主要用于与实际生产接近的研究领域。界面流变仪,目前这种流变仪有振荡液滴、振荡剪切等几种原理;是流变测试中最难以准确实现的一个领域;还没有一种特别好而又通用的方法。

  • 【资料】图解示波器使用方法与应用技巧(电子书)

    摘要:本书全面系统的介绍了示波器的基本结构、工作原理,以及在电子产品的科研、生产、调试和维修工作中示波器的操作使用方法,重点介绍了示波器的基本结构、工作原理、各种键钮的功能、应用实例以及在维修电子产品中的使用方法。 目录:前言 ----------------3 第1章 示波器的种类和特点 ----------------11 1.1 示波器的种类及应用 ----------------11 1.2 常用示波器的特性 ----------------13 1.2.1 单踪示波器的功能和特点 ----------------13 1.2.2 双踪示波器的功能和特点 ----------------15 1.2.3 具有游标和运算功能的示波器 ----------------17 第2章 示波器的基本功能 ----------------18 2.1 示波管的工作原理 ----------------18 2.1.1 电子束与偏转 ----------------19 2.1.2 示波管的结构 ----------------21 2.2 示波器的基本结构和波形显示原理 ----------------22 2.2.1 示波器的电路方框图 ----------------22 2.2.2 测量信号与扫描锯齿波 ----------------23 2.2.3 显示波形的稳定条件 ----------------24 2.2.4 示波器的同步 ----------------25 2.2.5 强制同步方式 ----------------26 2.2.6 同步示波器 ----------------29 2.3 示波器键钮的标记和功能 ----------------30 2.3.1 示波器前面板的键钮部位 ----------------30 2.3.2 示波器各键钮的功能 ----------------32 2.3.3 示波器的操作键钮 ----------------44 第3章 示波器的使用方法 ----------------49 3.1 示波器使用前的检查 ----------------49 3.1.1 示波器使用前的设置和调整 ----------------50 3.1.2 示波器的开机及调整 ----------------51 3.2 示波器的基本操作方法 ----------------52 3.2.1 双踪示波器的键钮功能 ----------------52 3.2.2 初次使用示波器的操作过程 ----------------67 3.3 示波器探头的使用方法 ----------------70 3.3.1 如何使用低电容直接探头 ----------------70 3.3.2 示波器探头的使用过程 ----------------71 3.4 示波器的波形如何稳定 ----------------73 3.4.1 影响显示波形稳定的因素 ----------------73 3.4.2 同步扫描的方式 ----------------74 3.4.3 同步信号源的选择 ----------------75 3.4.4 关于同步信号的耦合方式问题 ----------------76 3.4.5 关于同步位置的选择 ----------------77 3.4.6 CH-1的输出端 ----------------80 3.5 示波器按钮的调整过程 ----------------81 3.5.1 衰减钮的功能使用 ----------------81 3.5.2 周期钮的功能和使用 ----------------83 3.5.3 同步模式的选择 ----------------85 3.5.4 输入方式的选择 ----------------87 3.5.5 显示方式的选择 ----------------89 3.5.6 其他键钮的功能 ----------------90 第4章 数字示波器的使用方法 ----------------92 4.1 数字示波器的结构和原理 ----------------92 4.1.1 数字示波器的基本特点 ----------------92 4.1.2 数字示波器的基本结构和原理 ----------------95 4.1.3 数字示波器基本原理 ----------------100 4.2 数字示波器的使用方法 ----------------109 4.2.1 测量与计算工作方法 ----------------109 4.2.2 面板键操作方式 ----------------109 4.2.3 数字存储示波器的显示方式 ----------------111 4.3 DS3012B数字存储示波器的使用 ----------------114 4.3.1 DS3012B技术指标 ----------------114 4.3.2 DS3012B数字存储示波器的面板结构 ----------------116 第5章 示波器在信号测量中的应用 ----------------123 5.1 信号波形的观测 ----------------123 5.2 信号幅度的检测 ----------------124 5.2.1 直流电压(含交流成分)的测量 ----------------124 5.2.2 交流信号的幅度测量 ----------------126 5.2.3 测量误差 ----------------127 5.3 信号周期或时间的测量 ----------------128 5.4 脉冲信号的测量 ----------------129 5.4.1 脉冲宽度的测量 ----------------129 5.4.2 脉冲上升沿和下降沿时间的测量 ----------------130 5.4.3 两信号时间差的测量 ----------------132 5.4.4 延迟特性对测量的影响 ----------------133 5.5 相位差的测量 ----------------134 5.5.1 用单踪示波器测量正弦信号的相位差 ----------------134 5.5.2 用双踪示波器测量正弦信号的相位差 ----------------136 5.6 利用X-Y功能进行频率和相位的测量 ----------------137 5.6.1 利用X-Y功能测量频率和相位的连接方法 ----------------137 5.6.2 利用X-Y功能测量频率 ----------------138 5.6.3 利用X-Y功能测量相位差 ----------------139 5.7 示波器的误差及其消除方法 ----------------142 5.7.1 用示波器测量电压的误差 ----------------142 5.7.2 探头对脉冲波形的影响 ----------------144 5.7.3 测量高频信号的方法 ----------------144 5.7.4 差动放大器输出信号的检测方法 ----------------149 5.8 示波器在音频设备中的常用检测项目 ----------------150 5.8.1 频率特性的测量 ----------------150 5.8.2 最大不失真功率的测量 ----------------155 5.8.3 立体声录放机的相位测量 ----------------158

  • 【分享】超声波流量计的基本原理及类型

    超声波在流动的流体中传播时就载上流体流速的信息。因此通过接收到的超声波就可以检测出流体的流速,从而换算成流量。根据检测的方式,可分为传播速度差法、多普勒法、波束偏移法、噪声法及相关法等不同类型的超声波流量计。起声波流量计是近十几年来随着集成电路技术迅速发展才开始应用的一种。 超声波流量计由超声波换能器、电子线路及流量显示和累积系统三部分组成。超声波发射换能器将电能转换为超声波能量,并将其发射到被测流体中,接收器接收到的超声波信号,经电子线路放大并转换为代表流量的电信号供给显示和积算仪表进行显示和积算。这样就实现了流量的检测和显示。 超声波流量计的电子线路包括发射、接收、信号处理和显示电路。测得的瞬时流量和累积流量值用数字量或模拟量显示。 根据对信号检测的原理,目前超声波流量计大致可分传播速度差法 ( 包括:直接时差法、时差法、相位差法、频差法 ) 波束偏移法、多普勒法、相关法、空间滤波法及噪声法等类型,如图所示。其中以噪声法原理及结构最简单,便于测量和携带,价格便宜但准确度较低,适于在流量测量准确度要求不高的场合使用。由于直接时差法、时差法、频差法和相位差法的基本原理都是通过测量超声波脉冲顺流和逆流传报时速度之差来反映流体的流速的,故又统称为传播速度差法。其中频差法和时差法克服了声速随流体温度变化带来的误差,准确度较高,所以被广泛采用。按照换能器的配置方法不同,传播速度差拨又分为: Z 法 ( 透过法 ) 、 V 法 ( 反射法 ) 、 X 法 ( 交叉法 ) 等。波束偏移法是利用超声波束在流体中的传播方向随流体流速变化而产生偏移来反映流体流速的,低流速时,灵敏度很低适用性不大。 多普勒法是利用声学多普勒原理,通过测量不均匀流体中散射体散射的超声波多普勒频移来确定流体流量的,适用于含悬浮颗粒、气泡等流体流量测量。相关法是利用相关技术测量流量,原理上,此法的测量准确度与流体中的声速无关,因而与流体温度,浓度等无关,因而测量准确度高,适用范围广。但相关器价格贵,线路比较复杂。在微处理机普及应用后,这个缺点可以克服。噪声法 ( 听音法 ) 是利用管道内流体流动时产生的噪声与流体的流速有关的原理,通过检测噪声表示流速或流量值。其方法简单,设备价格便宜,但准确度低。 测量时应根据被测流体性质.流速分布情况、管路安装地点以及对测量准确度的要求等因素进行选择。一般说来由于工业生产中工质的温度常不能保持恒定,故多采用频差法及时差法。只有在管径很大时才采用直接时差法。对换能器安装方法的选择原则一般是:当流体沿管轴平行流动时,选用 Z 法;当流动方向与管铀不平行或管路安装地点使换能器安装间隔受到限制时,采用 V 法或 X 法。当流场分布不均匀而表前直管段又较短时,也可采用多声道 ( 例如双声道或四声道 ) 来克服流速扰动带来的流量测量误差。多普勒法适于测量两相流,可避免常规仪表由悬浮粒或气泡造成的堵塞、磨损、附着而不能运行的弊病,因而得以迅速发展。随着工业的发展及节能工作的开展,煤油混合 (COM) 、煤水泥合 (CWM) 燃料的输送和应用以及燃料油加水助燃等节能方法的发展,都为多普勒超声波流量计应用开辟广阔前景。

  • 荧光法溶解氧仪比极谱式溶解氧仪有什么优势?

    荧光法溶解氧传感器,相比传统极谱式溶氧电极,优势太多。首先荧光材料只对氧分子产生反应,所以不会受到硫化物等干扰,在测量的过程中它不会消耗氧,不受流速的限制,不用极化,响应速度更快,10秒即可响应。极其耐用,传感器可以使用5年以上,荧光帽使用寿命达1年以上。无需像电化学那样经常需要校准,大幅降低维护成本。测定原理:荧光法溶解氧测定仪是基于物理学中特定物质对活性荧光的猝熄原理。来自一个发光二极管(LED)发出的蓝光照射在荧光帽内表面的荧光物质上,内表面的荧光物质收到激发,发出红光,通过检测红光与蓝光之间的相位差,并与内部标定值比对,从而计算出氧分子的浓度,经过温度和气压自动补偿输出最终值。

  • 荧光法溶解氧仪比电化学溶解氧仪具有什么优势?

    荧光法溶解氧传感器,相比传统极谱式溶氧电极,优势太多。首先荧光材料只对氧分子产生反应,所以不会受到硫化物等干扰,在测量的过程中它不会消耗氧,不受流速的限制,不用极化,响应速度更快,10秒即可响应。极其耐用,传感器可以使用5年以上,荧光帽使用寿命达1年以上。无需像电化学那样经常需要校准,大幅降低维护成本。测定原理:荧光法溶解氧测定仪是基于物理学中特定物质对活性荧光的猝熄原理。来自一个发光二极管(LED)发出的蓝光照射在荧光帽内表面的荧光物质上,内表面的荧光物质收到激发,发出红光,通过检测红光与蓝光之间的相位差,并与内部标定值比对,从而计算出氧分子的浓度,经过温度和气压自动补偿输出最终值。

  • 【资料】激光测距的测量原理

    1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么? 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间,然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难,通常是测定连续波的相位,称为测相式测距仪。当然,也有脉冲式测距仪,典型的是WILD的DI-3000需要注意,测相并不是测量红外或者激光的相位,而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪,用于房屋测量,其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么? 通常精密测距需要全反射棱镜配合,而房屋量测用的测距仪,直接以光滑的墙面反射测量,主要是因为距离比较近,光反射回来的信号强度够大。与此可以知道,一定要垂直,否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以? 通常也是可以的,实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低,现在很少使用。

  • 【求助】关于消光距离的推导

    我一直不理解该值的推导。原因是在我看到的推导介绍中,首先是从精确符合布拉格条件出发,但在写第二层与第一层的相位差时,又引入偏离矢量s。我的问题是如果精确符合布拉格条件,按理说两层之间没有相位差。我猜测在此条件下相位差应该是不同原子面与观察点的距离差造成的。我想看看《electron microscopy of thin crystals》 Hirsh 里是如何推导的?不知哪位有电子版。谢谢!

  • 光栅尺工作原理

    光栅尺工作原理及详细介绍光栅:光栅是结合数码科技与传统印刷的技术,能在特制的胶片上显现不同的特殊效果。在平面上展示栩栩如生的立体世界,电影般的流畅动画片段,匪夷所思的幻变效果。 光栅是一张由条状透镜组成的薄片,当我们从镜头的一边看过去,将看到在薄片另一面上的一条很细的线条上的图像,而这条线的位置则由观察角度来决定。如果我们将这数幅在不同线条上的图像,对应于每个透镜的宽度,分别按顺序分行排列印刷在光栅薄片的背面上,当我们从不同角度通过透镜观察,将看到不同的图像。 光栅尺:其实起到的作用是对刀具和工件的坐标起一个检测的作用,在数控机床中常用来观察其是否走刀有误差,以起到一个补偿刀具的运动的误差的补偿作用,其实就象人眼睛看到我切割偏没偏的作用,然后可以给手起到一个是否要调整我是否要改变用力的标准。 【相当于眼睛】 一、引言 目前在精密机加工和数控机库中采用的精密位称数控系统框图。 随着电子技术和单片机技术的发展,光栅传感器在位移测量系统得到广泛应用,并逐步向智能化方向转化。 利用光栅传感器构成的位移量自动测量系统原理示意图。该系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路以及单片机相结合来完成对位移量的自动测量,它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及温度误差修正等功能。下面对该系统的工作原理及设计思想作以下介绍。 二、电子细分与判向电路 光栅测量位移的实质是以光栅栅距为一把标准尺子对位称量进行测量。目前高分辨率的光栅尺一般造价较贵,且制造困难。为了提高系统分辨率,需要对莫尔条纹进行细分,本系统采用了电子细分方法。当两块光栅以微小倾角重叠时,在与光栅刻线大致垂直的方向上就会产生莫尔条纹,随着光栅的移动,莫尔条纹也随之上下移动。这样就把对光栅栅距的测量转换为对莫尔条纹个数的测量,同量莫尔条纹又具有光学放大作用,其放大倍数为 : (1) 式中:W为莫尔条纹宽度;d为光栅栅距(节距);θ为两块光栅的夹角,rad 在一个莫尔条纹宽度内,按照一定间隔放置4个光电器件就能实现电子细分与羊向功能。本系统采用的光栅尺栅线为50线对/mm,其光栅栅距为0.02mm,若采用四细分后便可得到分辨率为5μm的计数脉冲,这在一般工业测控中已达到了很高精度。由于位移是一个矢量,即要检测其大小,又要检测其方向,因此至少需要两路相位不同的光电信号。为了消除共模干扰、直流分量和偶次谐波,我们采用了由低漂移运放构成的差分放大器。由4个滏电器件获得的4路光电信号分别送到2只差分放大器输入端,从差分放大器输出的两路信号其相位差为π/2,为得到判向和计数脉冲,需对这两路信号进行整形,首先把它们整形为占空比为1:1的方波,经由两个与或非门74LS54芯片组成的四细分判向电路输入可逆计数器,最后送入由8031组成的单片机系统中进行处理。 三、单片机与接口电路 为实现可逆计数和提高测量速度,系统采用了193可逆计数器。假设工作平台运行速度为v,光栅传感器栅距为d,细分数为N,则计数脉冲的频率为: (2) 若v=1m/s,d=20μm,N=20,则f=1MHz,对应计数时间间隔为[font=Times New Roman

  • 【分享】激光测距仪测量原理

    【分享】激光测距仪测量原理

    激光测距是光波测距中的一种测距方式,如果光以速度c在空气中传播在A、B两点间往返一次所需时间为t,则A、B两点间距离D可用下列表示。 D=ct/2 式中:D——测站点A、B两点间距离; c——光在大气中传播的速度; t——光往返A、B一次所需的时间。 由上式可知,要测量A、B距离实际上是要测量光传播的时间t,根据测量时间方法的不同,激光测距仪通常可分为脉冲式和相位式两种测量形式。 相位式激光测距仪相位式激光测距仪是用无线电波段的频率,对激光束进行幅度调制并测定调制光往返测线一次所产生的相位延迟,再根据调制光的波长,换算此相位延迟所代表的距离。即用间接方法测定出光经往返测线所需的时间,如图所示。相位式激光测距仪一般应用在精密测距中。由于其精度高,一般为毫米级,为了有效的反射信号,并使测定的目标限制在与仪器精度相称的某一特定点上,对这种测距仪都配置了被称为合作目标的反射镜。若调制光角频率为ω,在待测量距离D上往返一次产生的相位延迟为φ,则对应时间t 可表示为:t=φ/ω将此关系代入(3-6)式距离D可表示为 D=1/2 ct=1/2 c·φ/ω=c/(4πf) (Nπ+Δφ) =c/4f (N+ΔN)=U(N+) 式中:φ——信号往返测线一次产生的总的相位延迟。 ω——调制信号的角频率,ω=2πf。 U——单位长度,数值等于1/4调制波长 N——测线所包含调制半波长个数。 Δφ——信号往返测线一次产生相位延迟不足π部分。 ΔN——测线所包含调制波不足半波长的小数部分。 ΔN=φ/ω 在给定调制和标准大气条件下,频率c/(4πf)是一个常数,此时距离的测量变成了测线所包含半波长个数的测量和不足半波长的小数部分的测量即测N或φ,由于近代精密机械加工技术和无线电测相技术的发展,已使φ的测量达到很高的精度。 为了测得不足π的相角φ,可以通过不同的方法来进行测量,通常应用最多的是延迟测相和数字测相,目前短程激光测距仪均采用数字测相原理来求得φ。 由上所述一般情况下相位式激光测距仪使用连续发射带调制信号的激光束,为了获得测距高精度还需配置合作目标,而目前推出的手持式激光测距仪是脉冲式激光测距仪中又一新型测距仪,它不仅体积小、重量轻,还采用数字测相脉冲展宽细分技术,无需合作目标即可达到毫米级精度,测程已经超过100m,且能快速准确地直接显示距离。是短程精度精密工程测量、房屋建筑面积测量中最新型的长度计量标准器具,宏诚科技的CEM手持式激光测距仪LDM-100就是测量的最佳助手。 手持式激光测距仪使用注意事项 [font=Times New Rom

  • 全自动散乱光光弹应力仪SLP-2000测试原理

    全自动散乱光光弹应力仪SLP-2000测试原理

    本强化玻璃的评价装置具有:偏振光相位差可变构件,使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上;拍摄元件,以规定的时间间隔多次拍摄散射光并取得多个图像,所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光;及运算部,使用所述多个图像,测定所述散射光的周期性的亮度变化,算出所述亮度变化的相位变化,基于所述相位变化来算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布,并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041122097962_2765_2863862_3.jpg!w690x517.jpg[/img]1.一种强化玻璃的评价装置,其特征在于,具有:偏振光相位差可变构件,使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上;拍摄元件,以规定的时间间隔多次拍摄散射光并取得多个图像,所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光;及运算部,使用所述多个图像测定所述散射光的周期性的亮度变化,算出所述亮度变化的相位变化,基于所述相位变化来算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布,并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。2.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述运算部测定所述散射光的亮度作为所述物理量。3.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述多个图像具备斑点图案,所述运算部测定所述斑点图案的亮度的方差值作为所述物理量。4.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述运算部测定所述强化玻璃的折射率作为所述物理量。5.根据权利要求1~4中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述激光的波长的透过率相对高的第一光波长选择构件与所述激光的波长的透过率相对低的第二光波长选择构件能够切换地插入到所述激光向所述拍摄元件入射的光路上,所述运算部测定所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量,并计算所述第一亮度与所述第二亮度的比率。6.根据权利要求1~4中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,使第一波长带域的激光透过的第一光波长选择构件和使第二波长带域的光透过的第二光波长选择构件以在所述第一波长带域的激光入射的情况下选择所述第一光波长选择构件而在所述第二波长带域的激光入射的情况下选择所述第二光波长选择构件的方式,能够切换地插入到所述激光向所述拍摄元件入射的光路上,所述运算部测定所述第一波长带域的激光入射而所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二波长带域的激光入射而所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量。7.根据权利要求1~6中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述运算部在从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的多个区域测定所述物理量。8.根据权利要求1~7中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述偏振光相位差可变构件是液晶元件。9.根据权利要求1~7中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述偏振光相位差可变构件是光弹性常数与杨氏模量相乘而得到的值为0.1以上且通过加压而产生所述偏振光相位差的透明构件。10.根据权利要求9所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述透明构件是石英玻璃或聚碳酸酯。11.根据权利要求1~10中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述激光的最小射束直径的位置处于所述强化玻璃的离子交换层内,所述最小射束直径为20μm以下。12.根据权利要求1~11中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,向所述强化玻璃入射的所述激光的入射面相对于所述强化玻璃的表面为45±5°。13.根据权利要求12所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述强化玻璃的评价装置具有光供给构件,该光供给构件使所述偏振光相位差变化了的所述激光向作为被测定体的强化玻璃内相对于玻璃表面倾斜地入射,以向所述强化玻璃入射的所述激光的入射面相对于所述强化玻璃的表面成为45±5°的方式设定所述光供给构件的所述激光入射的面的角度。14.根据权利要求1~13中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述光供给构件与所述强化玻璃之间具备与所述强化玻璃的折射率的折射率差为0.03以下的液体,所述液体的厚度为10μm以上且500μm以下。15.根据权利要求14所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述光供给构件的与所述强化玻璃相接的面上形成有深度为10μm以上且500μm以下的凹陷,在所述凹陷内填充有所述液体。16.根据权利要求14所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述光供给构件的表面设置与所述强化玻璃相接的突起部,所述突起部成为经由所述光供给构件向所述强化玻璃内入射的所述激光的光路的一部分,在所述突起部的与所述强化玻璃相接的一侧形成有深度为10μm以上且500μm以下的凹陷,17.根据权利要求16所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述突起部更换自如地保持于所述光供给构件的表面。18.根据权利要求16或17所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述凹陷的周围形成平坦的外缘部,所述平坦的外缘部成为与所述强化玻璃相接的面。19.根据权利要求15~18中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述凹陷由具备弯曲的部分的面构成。20.根据权利要求15~19中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述凹陷的周围形成将所述液体排出的槽。21.根据权利要求15~20中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述光供给构件的折射率与所述强化玻璃的折射率不同的情况下,取得所述强化玻璃的折射率,根据基于所述强化玻璃的折射率求出的所述强化玻璃中的所述激光的轨迹与利用所述拍摄元件取得的所述激光的图像的关系,导出所述激光向所述强化玻璃入射时的入射余角,基于所述入射余角的值,对于从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布进行校正。22.根据权利要求21所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述强化玻璃的折射率基于利用所述拍摄元件取得的所述激光的图像而导出。23.根据权利要求1~22中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述强化玻璃的厚度已知的情况下,基于算出的所述应力分布及所述强化玻璃的厚度,推定取得应力平衡那样的所述强化玻璃的最表面的相位变化量,并对表面应力值进行校正。24.根据权利要求1~23中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述强化玻璃的评价装置具备测定所述强化玻璃的厚度的单元,测定所述应力分布及所述强化玻璃的厚度,基于测定出的所述强化玻璃的厚度来推定所述强化玻璃的最表面的相位变化量。[img=,500,348]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041121080314_7677_2863862_3.png!w500x348.jpg[/img]25.根据权利要求1~24中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,在所述强化玻璃的所述激光的出射侧,所述强化玻璃中的所述激光满足全反射的条件。26.根据权利要求1~25中任一项所述的强化玻璃的评价装置,其特征在于,所述强化玻璃的评价装置具有:第二光供给构件,使来自第二光源的光向所述强化玻璃的具有压缩应力层的表面层内入射;光取出构件,使在所述表面层内传播的光向所述强化玻璃外射出;光转换构件,将经由所述光取出构件射出的光中包含的与所述强化玻璃和所述光取出构件的交界面平行及垂直地振动的两种光成分转换成分别具有两根以上的亮线的两种亮线列;第二拍摄元件,拍摄所述两种亮线列;及位置测定单元,从由所述第二拍摄元件得到的图像测定所述两种亮线列各自的两根以上的亮线的位置,所述运算部将与基于所述位置测定单元的测定结果算出的所述两种光成分对应的从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一区域的应力分布与基于所述相位变化算出的所述第一区域以外的应力分布合成。27.一种强化玻璃的评价方法,其特征在于,包括:偏振光相位差可变工序,使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上;拍摄工序,以规定的时间间隔多次拍摄散射光,并取得多个图像,所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光;及运算工序,使用所述多个图像来测定所述散射光的周期性的亮度变化,算出所述亮度变化的相位变化,基于所述相位变化算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一应力分布,并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。28.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,在所述运算工序中,测定所述散射光的亮度作为所述物理量。29.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,在所述运算工序中,测定所述斑点图案的亮度的方差值作为所述物理量。30.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,在所述运算工序中,测定所述强化玻璃的折射率作为所述物理量。31.根据权利要求27~30中任一项所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,所述激光的波长的透过率相对高的第一光波长选择构件与所述激光的波长的透过率相对低的第二光波长选择构件能够切换地插入到所述激光向在所述拍摄工序中使用的拍摄元件入射的光路上,在所述运算工序中,测定所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量,计算所述第一亮度与所述第二亮度的比率。32.根据权利要求27~30中任一项所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,使第一波长带域的激光透过的第一光波长选择构件和使第二波长带域的光透过的第二光波长选择构件以在所述第一波长带域的激光入射的情况下选择所述第一光波长选择构件而在所述第二波长带域的激光入射的情况下选择所述第二光波长选择构件的方式,能够切换地插入到所述激光向在所述拍摄工序中使用的拍摄元件入射的光路上,在所述运算工序中,测定所述第一波长带域的激光入射而所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二波长带域的激光入射而所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量。33.根据权利要求27~32中任一项所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,在所述运算工序中,在从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的多个区域测定所述物理量。34.根据权利要求27~33中任一项所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,在偏振光相位差可变工序中,利用液晶元件使所述偏振光相位差变化。35.根据权利要求27~34中任一项所述的强化玻璃的评价方法,其特征在于,所述强化玻璃的评价方法包括如下工序:基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置来算出各自的折射率分布,并基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布。36.一种强化玻璃的评价方法,其特征在于,关于利用相同的制造工序制造的多个强化玻璃中的至少一张以上的强化玻璃,将利用权利要求35所述的强化玻璃的评价方法求出的所述第一应力分布与所述第二应力分布合成而得到应力分布,关于其余的强化玻璃,仅测定所述第一应力分布及所述第二应力分布中的任一方而得到应力分布。37.一种强化玻璃的制造方法,其特征在于,根据通过强化玻璃的评价方法得到的应力值来求出特性值,在确认特性值是否进入管理值内之后进行出货判断,所述强化玻璃的评价方法包括:偏振光相位差可变工序,使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上;拍摄工序,以规定的时间间隔多次拍摄散射光,并取得多个图像,所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光;及运算工序,使用所述多个图像来测定所述散射光的周期性的亮度变化,算出所述亮度变化的相位变化,基于所述相位变化算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一应力分布,并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。38.根据权利要求37所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在所述偏振光相位差可变工序中,利用液晶元件使所述偏振光相位差变化。39.根据权利要求37或38所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,所述强化玻璃的制造方法包括如下工序:基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置而算出各自的折射率分布,基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布。40.根据权利要求39所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,关于利用相同的制造工序制造的多个强化玻璃中的至少一张以上的强化玻璃,将利用所述评价方法求出的所述第一应力分布与所述第二应力分布合成而得到应力分布,关于其余的强化玻璃,仅测定所述第一应力分布及所述第二应力分布中的任一方而得到应力分布。41.根据权利要求37或38所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,包括两次以上的强化工序,该强化工序制造对含锂玻璃进行了强化的强化玻璃而进行该强化玻璃的出货判断,所述各强化工序基于利用所述评价方法得到的所述第一应力分布进行所述出货判断。42.根据权利要求41所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在最终次的所述强化工序中,所述评价方法包括如下工序:基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置来算出各自的折射率分布,基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布的工序,并基于利用所述评价方法得到的第二应力分布进行出货判断。43.根据权利要求42所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在除了最终次之外的所述强化工序中,基于从所述第一应力分布导出的玻璃最深部的应力值(CT)及应力值成为0的玻璃深度(DOL_zero),进行所述出货判断。44.根据权利要求42或43所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在最终次的所述强化工序中,对所述第二应力分布进行函数近似,进行所述出货判断。45.根据权利要求44所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,利用下述的式(2)进行所述函数近似,【数学式2】σ f (x)=ax+CS2 …(2)其中,σf(x)是第二应力分布,a是斜率,CS2是最表面的应力值。46.根据权利要求44所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,利用下述的式(3)进行所述函数近似,[img=,500,511]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041120516155_2540_2863862_3.png!w500x511.jpg[/img]【数学式3】σ f (x)=CS2erfc(ax) …(3)其中,σf(x)是第二应力分布,a是斜率,CS2是最表面的应力值,erfc是误差函数。47.根据权利要求42~46中任一项所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在除了最终次之外的所述强化工序中,使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布,将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成,从合成后的应力分布找到玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值,根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。48.根据权利要求42~47中任一项所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在除了最终次之外的所述强化工序中,使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布,将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成,找到合成后的应力分布的积分值成为0的玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值,根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。49.根据权利要求42~47中任一项所述的强化玻璃的制造方法,其特征在于,在除了最终次之外的所述强化工序中,使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布,将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成,利用下述的式(5)将合成后的应力分布近似,找到σ(x)的积分值(x=0~t/2)成为0的玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值,根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。

  • 电位差计小知识

    电位差计分直流电位差计和交流电位差计。直流电位差计用于测量直流电压,使用时调节标准电压的大小,以达到两个电压的补偿。交流电位差计用于测量工频到声频的正弦交流电压。两同频率正弦交流电压相等时,要求其幅值和相位均相等,因此交流电位差计的线路要复杂一些,并且至少有两个可调量。交流电位差计在市场上只有用于工频的产品,其他频率的交流电位差计均需自行设计制作。 随着直流电流比较仪的理论和技术不断发展和完善,出现了准确度很高的直流电流比较仪式电位差计,其测量误差约为百万分之一数量级。    在用电位差计校准电流表时,是通过用电位差计测量标准电阻上的电压来转化成标准电流,进而对电流表各点进行校正。估算电表校验装置的误差,并判断它是否小于电表基本误差限的1/3,进而得出校验装置是否合理的结论。估算时只要求考虑电位差计的基本误差限及标准电阻 的误差。  显然,电表校验装置的误差还应包括标准电动势 欠准、工作电流波动、线间绝缘不良等其它因素的影响,但考虑这些因素对教学实验就过于复杂了。式中电位差计测电压的不确定度 用上面(5.8.1)式式来估算; 级的标准电阻(本实验 )的不确定度 可用下式简化估算

  • 你知道核相仪的作用和功能吗?使用核相仪要注意哪些事项?

    [b]  一、核相仪的作用[/b]  核相仪是电力系统中一种具有重要检测功能的工具,其主要用途是确定电力线路或变压器两侧之间的相位关系。核相仪的主要作用体现在以下几个方面:  1、相位校验:核相仪的核心功能是准确测定高压或低压电力线路的相位,以确认多条线路或不同变压器输出的电压是否处于相同相位。这对于电力系统的正常并网运行具有决定性意义。  2、事故预防:通过正确执行核相操作,有效避免由相位错误引起的严重事故,如短路、电机反转以及其他电力设备损坏等,以保障电网的安全性和设备的稳定运行。  3、维护检修:在电力设施的安装、改造或维修过程中,核相仪能够帮助工作人员快速准确地判断相序,为电气工程的设计、施工和故障排查提供关键数据。[align=center][img]https://xtsimages001.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/users-815301/2024_04_03_11_38_02111217.jpg[/img][/align][b]  二、核相仪的功能[/b]  1、相位差测量:核相仪能够精确测量两条或多条线路之间的相位差,从而判断相位是否一致。一般认为相位差小于30度即为同相,大于30度为异相。  2、电压检测:除了相位检测外,核相仪还能检测线路中的电压,即时显示被测线路的电压数值。  3、无线传输:现代核相仪通常具备无线传输功能,可在远距离或难以直接接触的位置进行核相操作,从而提高了安全性和便捷性。  4、安全警报:某些核相仪配备有安全警报功能,例如在检测过程中遇到异常情况时会发出声光报警,以提醒操作人员及时采取措施。[align=center][img]https://xtsimages001.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/users-815301/2024_04_03_11_38_12133162.jpg[/img][/align][b]  三、核相仪使用过程中的注意事项[/b]  1、安全防护:在使用核相仪时,可能需要进行带电操作,因此必须严格遵守电力行业的安全工作规程。操作人员应该穿戴绝缘手套、绝缘鞋等全套安全防护装备,并确保接地线连接牢固可靠(对于高压核相而言,接地线尤为重要,而低压核相可能不需要接地线,具体需按规范要求执行)。  2、设备检查:在使用前,应对核相仪进行全面检查,包括但不限于确认电量充足、探头完好无损、绝缘杆未破损或受潮,以及无线通信功能正常等。  3、环境条件:避免在恶劣天气、强电磁干扰或振动较大的环境中进行核相操作,以免影响测量结果的准确性。  4、正确操作:按照产品说明书指导的步骤进行操作,确保每一步都符合规程要求,特别是对于无线核相仪,要确保两个探测单元的启动和数据读取是同步进行的。  5、结果解读:正确理解[url=http://www.kvtest.com/hexiangyi/]核相仪[/url]显示的数据和提示信息,不能凭借直觉或经验做出判断,必要时应反复验证或请专业人员指导。更多关于核相仪的资讯和参数详情,欢迎访问武汉南电至诚电力:www.kvtest.com

  • 原子力显微镜的相图的力学分析

    原子力显微镜的相图与弹性模量的关系 已有 117 次阅读 2011-10-11 19:50 |个人分类:化学|系统分类:科研笔记|关键词:显微镜 原子力弹性模量 AFM phase 原子力显微镜(AFM)的相图(phase image)与弹性模量(Elastic_modulus)的关系以下内容来自Veeco工程师S. H. ,版权归他本人;与SEIKO工程师的答案本质一样,但是更具体,也更清楚。===========================1. 相位图是表面力学信息的综合反映,表面的弹性、粘性、电磁学性质、摩擦力等各种性质都会引起相位图的变化。2. 其定义为驱动探针振动的驱动信号的相位与检测器检测到的悬臂振动的相位差。如果探针没有任何能量损失,这两个相位应该是同步的。一旦探针与样品有相互作用,将有能量从探针转移到样品,系统需要时间给探针补充能量以维持恒定振幅,此时就会出现相位差。因此也可以说相位图反映了探针在表面各处的能量损失状况。3. 如果探针打在较硬表面上,将比打在较软表面上能量损失小,相位差一般前者较小。4. 使用相位图要当心,setpoint的设定以及外界环境会影响测量结果。5. 一般不会单独分析相位图,要与高度图一同分析。.

  • 【分享】几种特殊显微镜简介

    ■暗视野显微镜   暗视野显微镜由于不将透明光射入直接观察系统,无物体时,视野暗黑,不可能观察到任何物体,当有物体时,以物体衍射回的光与散射光等在暗的背景中明亮可见。在暗视野观察物体,照明光大部分被折回,由于物体(标本)所在的位置结构,厚度不同,光的散射性,折光等都有很大的变化。 ■相位差显微镜  相位差显微镜的结构: 相位差显微镜,是应用相位差法的显微镜。因此,比通常的显微镜要增加下列附件: (1) 装有相位板(相位环形板)的物镜,相位差物镜。 (2) 附有相位环(环形缝板)的聚光镜,相位差聚光镜。 (3) 单色滤光镜-(绿)。 各种元件的性能说明(1) 相位板使直接光的相位移动 90°,并且吸收减弱光的强度,在物镜后焦平面的适当位置装置相位板,相位板必须确保亮度,为使衍射光的影响少一些,相位板做成环形状。 (2) 相位环(环状光圈)是根据每种物镜的倍率,而有大小不同,可用转盘器更换。 (3)单色滤光镜系用中心波长546nm(毫微米)的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。相位板用特定的波长,移动90°看直接光的相位。当需要特定波长时,必须选择适当的滤光镜,滤光镜插入后对比度就提高。此外,相位环形缝的中心,必须调整到正确方位后方能操作,对中望远镜就是起这个作用部件。

  • 电磁式过流继电器的原理及技术参数

    电磁式过流继电器 反时限过流继电器具有反时限特性,应用于电机、变压器等主设备以及输配电系统的继电保护回路中;当主设备或输配电系统出现过负荷及短路故障时,该继电器能按预定的时限可靠动作或发出信号,切除故障部分,保证主设备及输配电系统安全;现已为淘汰型产品,聚仁电力所生产的为集成电路式反时限过流继电器和微机综合保护装置;原理  电磁式过流继电器的工作原理是复合式的,由公用一个线圈的感应式和电磁式的两个元件组成。当继电器的线圈通以交流电流时,则在铁芯的遮蔽与未遮蔽部分产生两个具有一定相位差的磁通。此磁通与其在圆盘中感应的涡流相互作用,在圆盘上产生一转矩。在20%~40%的动作电流整定值下,圆盘开始旋转。此时由于扇齿与蜗杆没有咬合,故继电器不动作。   当线圈中的电流增大至整定电流时,电磁力矩大于弹簧的反作用力矩框架转动,使扇齿与蜗杆咬合,扇齿上升。此时继电器的动铁在扇齿顶杆的推动下,使导磁铁右边气隙减少,左边气隙增大,因而动铁被导磁铁吸合,使继电器触点动作。   当继电器线圈中的电流为整定值时,感应元件的动作时限与电流的平方成反比。随着电流的增加,导磁体饱和,动作时限逐渐趋于定值。当线圈中的电流大到某一电流倍数时,电磁元件瞬时动作,因而继电器的动作时限具有有限反延时的特性。   继电器具有若干抽头,用以调整感应元件与电磁元件的动作电流。另外用倍流螺钉改变动铁与电磁铁之间的气隙来调整电磁元件动作电流。继电器具有调整感应元件动作时间整定值的机构及主触点动作的信号牌。用手旋转返回机构,可使信号牌返回,并不需取下外壳。 技术参数  1.继电器的额定电流与整定范围。   2.继电器线圈的长期允许电流为110%额定电流。   3.继电器的返回系数,对于GL-11、12、21、22型应不小于0.85,对于GL-13、14、15、16、17、23、   24、25、26型应不小于0.8。   5.当电流为继电器的整定电流时,继电器的功率消耗不大于15VA。 触点性能  a.动合主触点性能   动合主触点在电压不大于250V时,能接通直流或交流5A,但是断开它所接通的电路,应当由其它触点担任(例如油开关的辅助触点)。   b.动断主触点性能   直流有感(τ=5ms)回路,U≤250V,I≤0.5A,为50W;交流(cosФ=0.4)回路;U≤250V,I≤2A,为250VA。   如果被控电路系由变流器供电并与继电器主触点并联,且当电流为4A时,其总阻抗不大于4Ω,则继电器的主触点在电流不大于50A情况下能够将这个电路分流接通与分流断开。   c.过渡转换主触点性能   继电器的过渡转换主触点控制电路由变流器供电,且其阻抗值在电流为3.5A时不大于4.5Ω,当电流增至150A时,继电器主触点能够将这个电路分流接通与分流断开。   d.信号触点性能   继电器的动合信号触点,在电压不大于250V时能接通或断开电流不大于0.2A的直流无感电路或电流不大于0.5A交流电路。 热性能要求  当环境温度为40℃时,继电器线圈长期承受110%额定电流,其最高允许温升不超过65℃。 介质强度  绝缘电阻不小于300MΩ,继电器所有电路对外壳和非带电的金属部分,以及在电气上无联系的各电路之间的应能承受2kV(有效值)50Hz交流试验电压,历时1min,无绝缘击穿或闪络现象。 寿命  GL-11~14、21~24型继电器机械寿命为5000次,电寿命为500次;   GL-15、16、17、25、26型继电器机械寿命为500次,电寿命为50次参考资料来源于传奇商城

  • 【求助】哈克转矩流变仪测试过程中信号中断问题

    最近几个月做哈克PolyLab OS转矩流变仪的毛细管流变测试时,经常遇到温度、扭矩监测信号中断,USB-to-CAN数据线的CAN端显示红灯的故障,有时甚至单螺杆挤出的加热也会自动关闭,不知道各位是否也遇到过相同的问题,请大家给点相关的建议或想法,谢谢!

  • 关于示波表功能及原理分析

    示波表又可称为手持示波器,有携带方便、操作简单等特点。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图象,便于人们研究各种电现象的变化过程。示波表功能是什么,现由仪商跟亲们介绍一下。[b] 示波表[/b] 示波表又可称为手持示波器,有携带方便、操作简单等特点。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图象,便于人们研究各种电现象的变化过程。利用示波器能观察各种不同信号幅度随时间变化的波形曲线,还可以用它测试各种不同的电量,如电压、电流、频率、相位差、调幅度等。[b] 功能介绍[/b] 手持式数字示波表集数字存储示波器、数字万用表、数字频率计三者功能于一体,采用电池供电,图形液晶显示,是电子测量领域里一类新型的实用仪器。本设计采用嵌入式设计技术,把微控制器、A/D转换器、LCD控制器等核心部件嵌入该系统,并利用嵌入式操作系统、ASIC设计技术、LCD图形显示技术及数字信号处理技术等综合设计的嵌入式仪器系统。该仪器功能齐全,并且体积小、重量轻,携带和操作都十分方便,具有极高的技术含量、很强的实用性和巨大的市场潜力,代表了当代电子测量仪器的一种发展趋势。 [b]示波表功能及原理简介 原理分析 模拟示波器工作原理[/b] 传统的模拟示波器把需观测的两个电信号加至示波管的X、Y通道以控制电子束的偏移,从而获得荧光屏上关于这两个电信号关系的显示波形。显然,这种模拟示波器体积大、重量重、成本高、价格贵,并且不太适合用于对非周期的、单次信号的测量。[b] 数字示波器工作原理[/b] 现代数字存储示波器首先对模拟信号进行高速采样获得相应的数字数据并存储。用数字信号处理技术对采样得到的数字信号进行相关处理与运算,从而获得所需的各种信号参数(包括可能需要使用万用表测试的一些元器件电气参数)。根据得到的信号参数绘制信号波形,并可对被测信号进行实时的、瞬态的分析,以方便用户了解信号质量,快速准确地进行故障的诊断。 测量开始时,操作者可通过中文界面选定测量类型(波形测量、元件测量)、测量参数(频率/周期、有效值、电阻阻值、二极管通断等)及测量范围(可选自动设置,由仪器自动设置最佳范围);微处理器自动将测量设置解释到采样电路,并启动数据采集;采集完成后,由微处理器对采样数据按测量设置进行处理,提取所需要的测量参数,并将结果送显示部件。如果需要,用户可选择自动测试方式:微处理器在分析首次采样得到的数据后会根据具体情况调整、修改测量设置,并重新采样。在经过几次这样的“采样-分析-调整-重采样”循环后,示波表即可完成即触即测功能,而无须人工调换量程,便于手持操作。显然,数字存储示波器与传统的模拟示波器相比具有很多突出的优点: 可以根据被测信号的特点自动确定和调整测试条件,真正实现自动、离手测试。 能够较容易地实现对高速、瞬态信号的实时捕获。 在波形存储与运算方面有着明显的长处。[b] 性能指标[/b] 集数字存储示波器、万用表和频率计的功能于一体;手持;交/直流供电。 模拟带宽10MHz;单次带宽5MHz;取样率50MS/s。 记录长度2KB;单通道。 水平扫描50ns/div~10s/div;垂直扫描5mV/div~5V/div。 测量信号参数:周期、频率、占空比、平均、有效、峰峰值。 测量电阻:100、1K、10K、100K、1M。 测量电压:10 mV、30mV、1V、3V、10V、30V。 二极管测量、通断测量。频率计:10MHz±5%。 测量精度:示波器精度±5%,万用表精度±3%。 校准信号:1KHz/0.3V。 LCD:320×240点92mm×72mm,对比度可调,有背景光。 其它:电池供电≥2小时,RS2。 [b]示波表功能及原理简介 应用范围[/b] 1、电力能源; 2、航空航天; 3、汽车电子; 4、电路设计; 5、大学院校。

  • 【讨论】什么叫三相交流电路?

    由三相交流电源供电的电路。简称三相电路。三相交流电源指能够提供3个频率相同而相位不同的电压或电流的电源,最常用的是三相交流发电机。三相发电机的各相电压的相位互差120°。它们之间各相电压超前或滞后的次序称为相序。三相电动机在正序电压供电时正转,改为负序电压供电时则反转。因此,使用三相电源时必须注意其相序。一些需要正反转的生产设备可通过改变供电相序来控制三相电动机的正反转。  三相电源连接方式 常用的有星形连接(即Y形)和三角形连接(即△形)。从电源的3个始端引出的三条线称为端线(俗称火线)。任意两根端线之间的电压称为线电压。星形连接时线电压为相电压的根号3倍;3个线电压间的相位差仍为120°,它们比3个相电压各超前30°。星形连接有一个公共点,称为中性点。三角形连接时线电压与相电压相等,且3个电源形成一个回路,只有三相电源对称且连接正确时,电源内部才没有环流。  三相负载 按三相阻抗是否相等分为对称三相负载和不对称三相负载。三相电动机、三相电炉等属前者;一些由单相电工设备接成的三相负载(如生活用电及照明用电负载),通常是取一条端线和由中性点引出的中线(俗称地线)供给一相用户,取另一端线和中线给另一相用户。这类接法三条端线上负载不可能完全相等,属不对称三相负载。三相负载的连接方式也有星形与三角形之分。  三相电路的瞬时功率(见交流电路中的功率)等于各相瞬时功率之和。即  P=PA+PB+PC  式中下标分别表示各相。对于对称电路,  此时UA=UB=UC=UP,式中UP、IP、U、I分别是相电压、相电流、线电压和线电流的有效值。对称三相电路的平均功率与其瞬时功率相等。其无功功率为UIsin,视在功率为。对称三相电路的瞬时功率为常量,因此,正常运行时带动三相发电机的原动机所受的反力矩和三相电动机的输出转矩都是平稳的。

  • 【讨论】看到紫外检测器时的突发奇想?

    【讨论】看到紫外检测器时的突发奇想?

    [size=4]光具有波粒二相性,光的微粒性证明了光的反射现象,光的波动性,很好的解释了光的干涉现象。下面想的到问题就是光的干涉。产生稳定干涉的条件:  只有两列光波的频率相同,位相差恒定,振动方向一致的相干光源,才能产生光的干涉。由两个普通独立光源发出的光,不可能具有相同的频率,更不可能存在固定的相差,因此,不能产生干涉现象。对于普通的光源,保证相位差恒定成为实现干涉的关键。为了解决发光机制中初相位的无规则迅速变化和干涉条纹的形成要求相位差恒定的矛盾,可把同一原子所发出的光波分解成两列或几列,使各分光束经过不同的光程,然后相遇。这样,尽管原始光源的初相位频繁变化,分光束之间仍然可能有恒定的相位差,因此也可能产生干涉现象。两列或几列光波在空间相遇时相互迭加,在某些区域始终加强,在另一些区域则始终削弱,形成稳定的强弱分布的现象。想到的问题是,检测器中的光反射后是不是都在一个平面上,如果在一个平面上,在后部光线多有交叉,各光线由于是同一光源出来的,经过光栅的分光后,光程就不同了,其会在交叉处产生干涉现象,引起光强或波长的变化吗?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/04/201004110836_211321_1638724_3.jpg[/img][/size]

  • 【求助】RM-200转矩流变仪

    各位坛友,大家好,为了满足广大用户的需要,我们公司现推出RM-200型转矩流变测试仪,如果有需要大家可以直接和我联系,13480168298丁先生

  • 显微镜的发展

    显微镜是一种借助物理方法产生物体放大影像的仪器。最早发明于16世纪晚期,至今已有四百多年的历史。现在,它已经成为了一种极为重要的科学仪器,广泛地用于生物、化学、物理、冶金、酿造、医学等各种科研活动,对人类的发展做出了巨大而卓越的贡献。随着现代光电子技术和计算机的高速发展,显微测量技术在上业、国防、科技均得到了广泛应用。本文就对显微镜的发展及分类作个概述。一、显微镜的历史光学是研究光波传播规律的科学。而显微镜的发展是在对光学的研究基础上发展起来的。我国春秋时的《墨经》和古希腊学者欧几里德的《反射光学》都对光学的研究有所记载,后来经过伽利略、牛顿、惠更斯、菲涅耳、夫琅和费、麦克斯韦、爱因斯坦等科学家的努力,光学已发展成为物理学中一门极为重要的基础学科,形成了严格的数学理论方法及实验方法。研究光的一个分支便是光学仪器——显微镜。最初的显微镜产生于十六世纪末期。十七世纪发明了光学显微镜,后来被用来发现细菌及细胞。二十世纪三十年代,Lebdeff(莱比戴卫)设计出第一架干涉显微镜,随后Zemicke(卓尼克)发明了相位差显微镜。二十世纪五十年代,Nomarski(诺乌斯基)发明了干涉相位差光学系统,并以此设计出诺马斯基显微镜。二十世纪束期,产生了共轭焦显微镜,并得到了广泛应用。在光学快速发展的同时,电子学也得以迅速发展。二十世纪三十年代,德国的Bruche和Johannson制造出了第一宋菲君型传头式电子显微镜,随后Ruaka发明了第一部磁场型传头式电子显微镜(TEM)。扫描式电子显微镜(SEM)在二十世纪六十年代才出现。二、显微镜的分类显微镜主要是由物镜和目镜组成,物镜的焦距很短,目镜的焦距很长。物镜的作用是得到物体放大实像,目镜的作用是将物镜所成的实像作为物体进一步放大为虚像。显微镜中通过聚光镜照亮标本,再通过物镜成像,经过目镜放大,最后通过眼睛的晶状体投影到视网膜。显徽镜按工作原理和它的组成结构可分为光学显微镜和电子显微镜。1. 光学显微镜光学显徽镜的成像原理是以光为介质,利用可见光照射在物体的表面。造成了局部散射或反射来形成不同的对比,然后再对被物体调制了的信息进行解调便可得物体的空间信息。光学显微镜又分为传统的光学显微镜和近场显微镜。传统的光学显微镜(远场光学显微镜)的光路原理如图1: http://www.biomart.cn//upload/userfiles/image/2011/11/1321511297.png图1 光学显微镜的光路原理由图1可以看出光学显微镜主要光学系统(接物镜、目镜、聚光器、光源)和机械系统组成。2. 近场光学显微镜

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