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手持式射线荧光光谱仪标准
仪器信息网手持式射线荧光光谱仪标准专题为您提供2024年最新手持式射线荧光光谱仪标准价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括手持式射线荧光光谱仪标准参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的手持式射线荧光光谱仪标准您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合手持式射线荧光光谱仪标准相关的耗材配件、试剂标物,还有手持式射线荧光光谱仪标准相关的最新资讯、资料,以及手持式射线荧光光谱仪标准相关的解决方案。
手持式射线荧光光谱仪标准相关的方案
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式 x 射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研 究了手持式 x 射线荧光光谱仪在富钴 结壳碎块和 浅钻岩心野外现场原位分析 中的应用 能力。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式 x 射线荧光光谱仪可以快速进行 多元素 实时分析 ,在富钴结壳资源勘查中有广阔的应用前景,但是现有仪 器的分辨率和稳定性有待进一步提 高,特 别是现场原位分析法的应用有待研 究。本文针对富钴结壳中目标元素含量相对较 高的特点 ,采用松散 粉末法制样 ,建立了手持式 x 射线 荧光光谱仪快速测定太平洋富钴结壳样品 中M n 、Fe 、Co、N i、Cu 和 zn 的分析方法。
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪用于土壤重金属污染检测
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪,可以在土壤重金属污染检测,场地评估,有害废物筛查等方面发挥极大作用。仪器可以检测多种污染元素,如Ag, As, Ba, Cd, Cr, Cu, Hg, Ni, Pb, Se等,还可以检测稀土元素(REE)及放射性元素U,Pu,检测含量为PPM到百分含量级别。
手持式XRF分析仪的应用介绍
手持式XRF分析仪,即手持式X射线荧光光谱仪,作为一种便携式、高效、准确的元素分析设备,在多个领域中都发挥着重要作用。它不仅能够在现场快速地进行元素分析,而且无需破坏样品,为许多行业提供了极大的便利。
手持式光谱仪检测矿石成分有什么优势
手持式XRF荧光光谱矿石分析仪是一种利用X射线荧光技术进行矿石成分分析的仪器,具有非破坏性、快速、多元素同时测定、应用范围广、易于操作和维护、可移动性强、自动化程度高、环保节能和可靠性高等优点。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定炉渣中主次组分
炉渣标准样品用玻璃熔片法制样,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析炉渣样品,分析结果与化学值在允许误差范围内,能满足此类样品分析的需要。
X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁元素
本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立TFe元素校准曲线,实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品,荧光分析值与化学值对比能够达到± 0.30以内,满足矿山开采过程中快速分析的需求。
X射线荧光光谱法测定黏土类样品主成分
参考标准《GB/T 21114-2019耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法》,建立了黏土类样品分析方法。将试样与专用熔剂按1:10比例混合,高温熔融制备成荧光分析用玻璃片,在X射线荧光光谱仪上进行测量。对烧失量影响、共存元素影响等分析条件进行了优化,以确保分析结果的可靠性。用标样灼烧基熔融制样建立工作曲线,工作曲线线性良好,正确度符合常规分析要求。对方法的精度及准确度进行了考察,分析结果优于标准要求。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝土矿中主次组分
样品用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融,以消除矿物效应和粒度效应,并铸成适当形状的玻璃片,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对铝土矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析铝土矿样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能满足此类样品日常检测的需要。
无损质检好伙伴——Vanta手持式合金分析仪
作为无损质检一线的“能力者”,奥林巴斯手持式合金分析仪是一种基于X射线的荧光光谱仪,可以实现无损检测,在3秒内可以得到分析结果,如今已经出现各种行业的工作场地,抗摔防潮,结合可以快速识别材料化学成分和矿物相的X射线衍射分析仪,几乎可以横扫各大质检、检测线。尤其在石油和天然气行业,受高温、高压、机械应力和腐蚀性物质等因素影响,合金制造的正确性至关重要,以至于每一根管道,每一种焊料,每一个焊缝、接口和螺钉都必须准确,否则会出现危及整条管线或整个容器安全的情况。使用奥林巴斯手持式合金分析仪,不仅可以在几秒钟内完成合金辨别,还能根据XRF频谱表明的各种金属相对丰度,与预先加载的合金和牌号库,对金属进行自动核查,可谓是业内“安全守护员”。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定高炉渣中主次组分
将自制的高炉渣控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对高炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中主次组分
将自制的烧结矿控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对烧结矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。
X射线荧光光谱法分析生铁中多元素
生铁试样用砂轮、砂带机研磨后,用X射线荧光光谱法分析样品中的多元素。用此方法分析生铁标准样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能够替代传统的化学分析方法,满足此类试样日常检测的需求。
X射线荧光光谱法分析石油焦中元素含量
依据《SH/T 0934-2016 石油焦中痕量金属元素的测定波长色散X射线荧光光谱法》规定的对生石油焦、煅烧石油焦中元素的分析要求;以及《YS/T 63.16-2019 铝用炭素材料检测方法第16部分 微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法》规定的石油焦、煅后石油焦、预焙烧阳极中相关元素的分析要求,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件,分析石油焦中Fe、Ca、Si、Na、Ni、V、S元素含量。实验结果表明,分析结果完全优于标准要求。该方法操作简单,分析速度快,无需化学前处理,对环境友好。
X射线荧光光谱玻璃熔片法分析玻璃纤维中的主次成分
参考《玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法(征求意见稿)》国标方法,将玻璃纤维高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件分析玻璃纤维中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果完全能够满足标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应,提高了玻璃纤维成分分析方法的准确度。
X射线荧光光谱法测定铝合金中主次元素
铝及铝合金的性质概括起来主要有以下几个方面:?比重小、导电性好、导热性好、强度高、可塑性好、抗腐蚀性强。变形铝及铝合金牌号众多,共计约130个牌号;铸造铝及铝合金约30个牌号。按照YST860-2020《铝及铝合金中化学元素的分析方法 X射线荧光光谱法》的要求,我们展开实验。经过实验得出,X射线荧光光谱法可以很好的测试和覆盖Al、Cu、Si、Mg、Mn、Zn、Cr、Ni、Ti、Pb、Sn、Ga、Zr等元素的分析,测试精度良好,准确度可以达到标准的要求。
奥林巴斯X射线荧光光谱仪守护食品生产线的安全
食品生产线为何需要奥林巴斯X射线荧光光谱仪的助力。因为机械并非不会出错,磨料、粘着、表面和近表面的疲劳、腐蚀等会让食品加工机器的金属部件产生“不适症”,那些细小的金属碎片可能随时会进入食品中,因此检测异物是食品工厂重中之重的安全责任。
X射线荧光光谱法分析玻璃纤维及原料中的主次成分
依照国标《GB/T 43309-2023玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法》方法,将玻璃纤维或原料高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立可测元素范围广、浓度范围宽的元素工作条件,不但能分析各类玻璃纤维主次成分含量,也能分析叶腊石、高岭土、石灰石、白云石、钠长石、钾长石、玄武岩、矿渣等矿物原料及配合料中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果的准确度及重复性完全优于同类标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应,提高了分析方法的准确度。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
压片制样-能量色散X射线荧光光谱仪 测定焦炭中钙元素含量
氧化钙是焦炭中的一种常见氧化物,其含量对焦炭的质量具有重要影响。首先,氧化钙含量高会导致焦炭的灰分增加,降低焦炭的热值;其次,氧化钙会降低焦炭的机械强度和耐磨性,使焦炭易碎,不利于运输和使用。钙元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,前4种分析方法都需要将焦炭样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂且处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单和测试过程快速等优点,用于测定焦炭中的钙元素含量具有非常大的优势。本方案采用压片制样-X射线荧光光谱法对焦炭中钙含量进行测试。
通用氧化物校准工作曲线ARL OPTIM’X型低功率波长色散X射线荧光光谱仪
波长色散X射线荧光仪(WD-XRF)可以 检测元素周期表中多达83种元素,测量 各种形态和性质的样品:例如固体或液体,导电材料或绝缘材料。相对于其他分析技术而言,X 射线荧光光谱分析法的优 点是分析速度快、制样简单、分析状态 稳定、精确度高,并且成份分析范围 广(从ppm级到100%含量)。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质
本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分,采用粉末压片法制样,以氧化铝行业标准样品建立校准曲线,曲线线性良好,正确度在可接受范围之内,相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验,确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察,同一样品重复测定多次,极差在允许范围之内,方法精度良好,满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。
X射线荧光光谱仪一“眼”识铂_助力汽车催化剂回收
汽车催化剂中的铂元素,作为一种贵金属,通过奥林巴斯X射线荧光光谱仪的分类和适当处理,分拣出汽车催化剂中的铂元素,实现资源的循环利用,使得原本被废弃的铂族金属在未来还有“发光发热”的时刻。
熔融制样X射线荧光光谱法测定岩棉及玄武岩主成分
岩棉试样和四硼酸锂等熔剂按一定比例混合,高温熔融制成玻璃熔片,使用X射线荧光光谱法(XRF)分析,消除了因矿物结构、颗粒度等引起的基体效应影响,提高了分析结果的准确度。采用熔融制样X荧光光谱法不受实物标准样品的限制,可以采用成分类似的其他标样做曲线,也可以采用标样与基准物质配制标样,方法方便快捷,分析结果准确可靠。
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
X射线荧光光谱仪测定玻璃中的着色剂
玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义,通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素,无需复杂的样品制备,可在3~5分钟内完成测试。
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