搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
半导体测试仪电流测量原理
仪器信息网半导体测试仪电流测量原理专题为您提供2024年最新半导体测试仪电流测量原理价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括半导体测试仪电流测量原理参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的半导体测试仪电流测量原理您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合半导体测试仪电流测量原理相关的耗材配件、试剂标物,还有半导体测试仪电流测量原理相关的最新资讯、资料,以及半导体测试仪电流测量原理相关的解决方案。
半导体测试仪电流测量原理相关的方案
少子寿命测试仪在半导体材料检测中的应用
半导体材料少数载流子寿命不仅可以表征半导体材料的质量,还可以评价器件制造过程中的质量控制,如集成电路公司利用载流子寿命来表征工艺过程的金属沾污程度,并研究造成器件性能下降原因。 Freiberg Instruments公司长期致力于开发半导体检测技术,提供不同需求的少子寿命检测设备。
气体透过率测试仪的测试标准及原理
气体透过率测试仪是一种常用于包装材料行业的测试设备,用于评估气体穿透材料的性能。通过测试仪的精准测量,可以得出材料在不同条件下的气体透过率数据,进而为包装材料的设计和选择提供依据。本文将深入探讨气体透过率测试仪的测试标准及其工作原理,帮助读者更好地了解和应用这一技术。
inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试
上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片高低温测试. inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度满足半导体芯片的温度冲击和温度循环测试.
半导体行业高低温老化性能测试方法
高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。
科众精密-半导体晶圆为什么要测接触角,晶圆疏水性测量
水滴角接触角测量仪是一种用于测量液滴与固体表面接触角的仪器,可以用于研究半导体晶圆的表面润湿性能。接触角是液滴与固体表面接触时形成的角度,该角度反映了晶圆表面的亲水性或疏水性,以及液体在固体上的润湿性,包括润湿速度的分析。通过晶圆水滴角仪来测量半导体晶圆,常用于实际的操作过程中。
环境温湿度箱在交变潮湿环境下半导体的测试方案
环境温湿度试验箱在交变潮湿条件下对半导体的测试方案包括以下步骤:准备设备:准备环境温湿度试验箱,确保设备能够模拟高温、低温和湿热环境。同时,准备相应的测试设备和工具,如温度传感器、湿度传感器、测试夹具等。设定测试条件:根据相关标准,设定高温储存、低温储存、温度循环、湿热循环和高湿寿命测试所需的温度和湿度条件。例如,高温储存测试条件为85℃±5℃持续1000h,低温储存测试条件为-40℃±5℃持续1000h,温度循环测试条件为-40℃~85℃持续200个循环,湿热循环测试条件为40℃~85℃,RH=85%持续10个循环,高温高湿寿命测试条件为85℃、85%RH持续1000h。安装样品:将待测试的半导体芯片安装到环境温湿度试验箱内的测试夹具上,确保安装牢固、稳定。开始测试:将环境温湿度试验箱的温度和湿度调整到设定的测试条件,并将半导体芯片放置在试验箱内。监控和记录数据:在测试过程中,使用温度传感器和湿度传感器监控试验箱内的温度和湿度,并记录测试数据。同时,观察半导体芯片在模拟环境中的表现,记录任何异常情况。分析数据:根据测试数据和观察结果,分析半导体的性能和可靠性,评估其在模拟环境中的适应性和稳定性。结束测试:在达到设定的测试时间后,结束测试,并将半导体芯片从试验箱内取出。维护设备:对环境温湿度试验箱进行清洁和维护,以确保设备的正常运行和使用寿命。需要注意的是,在测试过程中要保持试验箱内的温度和湿度条件稳定,并确保半导体芯片放置的位置和方向正确。同时,要密切关注半导体芯片在模拟环境中的表现,及时发现和处理任何异常情况。
IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变的测量上的应用
半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通量的半导体制造过程。为了补偿这些变形,需要的测量。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一个基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构,以此来详细地研究因为光压而导致的形变特性。
共聚焦显微镜+半导体激光器+缺陷检测及尺寸测量
利用共聚焦显微镜,进行半导体激光器的晶圆缺陷检测,以及波导结构的尺寸测量
inTEST 热流仪半导体元器件高低温测试
半导体器件 semiconductor device, 是导电性介于良导电体与绝缘体之间, 利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件, 可用来产生, 控制, 接收, 变换, 放大信号和进行能量转换.
高压加速老化测试箱测试半导体封装之抗湿气能力方法
PCT高压加速老化测试箱也称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验,最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%.H.饱和水蒸气及压力环境下测试,测试待测品耐高湿能力,针对印刷线路板(PCB&FPC),用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等试验目的,如果待测品是半导体的话,则用来测试半导体封装之抗湿气能力
优可测白光干涉仪AM7000系列半导体-晶圆表面粗糙度检测解决方案
优可测白光干涉仪AM7000系列可以应用在半导体的多个工艺段,产品采用白光干涉原理,方案以晶圆表面粗糙度检测为例,呈现在晶圆粗糙度当中的测量参数和实例。
真密度测试仪的原理及测试方法
真密度测试仪是采用阿基米德原理--气体膨胀置换法,利用小分子惰性气体(He或者N2)作为介质,通过理想气体状态方程:PV=nRT计算测试腔内样品所排开的气体体积,从而精确测量样品的骨架体积(含闭孔),再根据密度方程:ρ=M/V 计算出真密度值.
半导体晶片、IC图形的显微镜观察与测量
半导体行业在产品的小型化及多功能化、提高生产效率、削减成本等方面的竞争日趋激烈。在图形细微化、晶片大口径化发展的同时,市场对品质保障的要求越来越高,研究开发及检测的速度也变得重要了起来。这篇文章中我们将为您介绍使用新型4K数码显微系统,改善半导体行业检测模式,大幅实现高端化、高效化的应用案例。
半导体生产中的气体流量测量
电子元件的生产过程需要各种不同的气体,如氮气、氩气、氦气甚至是压缩空气。这些工业气体大多不是在现场生产的,而是从外部采购的,这意味着它们涉及相当大的成本。除此之外,生产压缩空气还需要消耗大量的能源,这也意味着巨大的成本。为了确定主要消费者并尝试优化生产过程的操作,首先必须测量各种体积流量。便携式 FLUXUS G601 超声波流量计成为一家半导体生产商的理想测量系统:由于采用了非侵入式的测量技术,不需要打开现有的管道来设置临时的流量测量点,因此不会中断生产。由于外夹式超声波传感器只需安装在管道外部,不与内部流动的气体接触,所以绝对没有污染高纯度介质的风险。因此,外夹式超声波系统也可以毫无顾虑地在洁净室环境中使用。此外,FLEXIM 的非侵入式测量技术也不存在泄漏的风险。FLUXUS G601 的用户特别欣赏其简单实用的可管理性、可靠性以及卓越的灵活性和多功能性。连接传感器后,测量主机会自动检测并读取存储的数据(传感器类型、序列号、校准数据)。这使得测量点的设置更加容易,并确保测量值的准确性和可追溯性。便携式 FLUXUS G601 以及永久性 FLUXUS G721 或 G704CA 超声波系统适用于各种气体以及压缩空气的非侵入式流量测量,几乎可用于所有管道材料。
半导体芯片高低温湿热性能测试方法
高低温湿热试验箱是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。它可以模拟不同的环境条件,以评估芯片和元器件在极端温度和湿度下的性能和可靠性。
半导体封装抗湿气能力测试方法PCT高压加速老化试验箱
PCT高压加速老化测试最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,其常见的故障原因有爆米花效应、主动金属化区域腐蚀造成之断路封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
半导体工厂中的氦气泄漏检测
智能手机、平板电脑、游戏机、导航系统、纯平显示器,这些以及其他很多高科技产品由于半导体产业才得以存在。没有该产业,现代传播媒体中使用的内存芯片和处理器就无法生产出来。它们的生产需要极其洁净的真空条件并精确地进行监测。例如,在半导体生产设施(被称为“晶圆厂”)投入运行后,需要以测量压力上升的方式进行泄漏测试。只有系统的气密性得到了认可,才能批准该工艺流程。如果压力上升大于定义的阈值,则晶圆厂关闭,并启动泄漏检测以找出泄漏并将其修复。普发真空凭借其全面的售后服务体系,提供最佳专家支持(甚至为现场泄漏检测提供支持)。
TEC半导体制冷片:热释电系数测试中的正弦波温度控制解决方案
摘要:针对动态法热释电系数测试中的交变温度控制,特别是针对帕尔贴半导体制冷片正弦波温度控制中存在的稳定性差问题,本文提出了改进的解决方案。解决方案的核心是采用外部设定点技术的双向PID控制器以及外置信号发生器,此方案可很好的实现帕尔贴制冷片正弦波温度的精确控制,保证了热释电系数测量的准确性。依此方案所构成的闭环控制回路可形成独立的温控装置,也可配套集成到上位机控制的中央控制系统。
傅立叶变换红外光谱仪测试半导体材料硅片中氧碳含量
傅立叶变换红外光谱仪广泛应用于半导体行业及其晶体材料结构、成分分析和杂质缺陷特性研究等领域。本文使用岛津IRXRoss测定半导体材料硅透射率,并根据GB/T 1557-1989、GB/T 1558-1997-T、GB/T 14143-93计算半导体材料硅中的氧碳含量。该方法简单、快速、样品无需前处理,可方便地扫描得到红外谱图,从而得到碳氧相关信息,对硅材料质量控制起到指导作用。
用和频光谱(SFG)方法测量有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面累积电荷分布
采用立陶宛Ekspla公司的由PL2231-50型脉冲皮秒激光器,PG501-DFG1P高能光学参量发生器构成的和频光谱测量系统,对有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面处累积电荷分布进行了实验测量研究。
电子束感生电流 EBIC 技术
电子束感生电流 (EBIC) 技术可通过测量样品或设备暴露于电子束时流动的电流,对半导体材料和设备的局部电气性能进行表征。电子束射到半导体上时,会形成电子空穴对。如果载流子(即上文所述的电子空穴对)扩散到带有内置电场的区域,则电子和空穴将分离,电流将流动。当电流流动到外电路时,EBIC 技术会测量该电流。在没有重组中心(自由电子和空穴湮没的位置)的材料中,收集到的电流将是均匀的,而且并不相关。然而,引发电子和空穴重组的样品区域减少了收集电流,造成 EBIC 图中形成对比,因此揭示了半导体样品中(少数)载流子的流动。
不锈钢钝化膜耐蚀性与半导体特性的关联研究
本文通过瑞士万通AUTOLAB电化学工作站,通过极化曲线、交流阻抗谱和钝化膜半导体特性等电化学测量,研究了经电化学阳极氧化处理的不锈钢钝化膜在0.5 molL-1 NaCl 溶液中耐蚀性能与其半导体特性的关系,进一步探索电化学改性处理不锈钢钝化膜的耐蚀机理.
不锈钢钝化膜耐蚀性与半导体特性的关联研究
摘要通过极化曲线、交流阻抗谱和钝化膜半导体特性等电化学测量,研究了经电化学阳极氧化处理的不锈钢钝化膜在0.5 molL-1 NaCl 溶液中耐蚀性能与其半导体特性的关系,进一步探索电化学改性处理不锈钢钝化膜的耐蚀机理. 结果表明,不锈钢钝化膜在负于平带电位范围表现为p 型半导体,在高于平带电位范围表现为n 型半导体,这主要与组成钝化膜的Fe 和Cr 氧化物半导体性质有关. 与自然条件下形成的不锈钢钝化膜比较,发现经过电化学阳极氧化后不锈钢钝化膜具有较低的施主与受主浓度,平带电位负移,说明阴离子在钝化膜表面发生吸附.低的施主与受主浓度及钝化膜表面负电荷的增强,可有效排斥侵蚀性Cl-在钝化膜表面的特性吸附,有利于提高不锈钢的耐局部腐蚀性能.
哈希应用案例---XOS-TAs 在电子半导体排放废水监测中的应用
背景介绍电子半导体行业近几年发展特别快, 随之而来的是生产过程中产生了大量的有毒有害废水,包括酸碱废水、含氟废水、金属废水、有机废水、氰化物废水等,这些废水必须经过处理达标后才能排放。 目前, 电子半导体行业没有针对性的污染物排放标准发布, 其执行的标准仍为 《污染物综合排放标准》,但是,电子半导体企业对废水排放有严格的内控指标。电子半导体企业除了监控 COD、氨氮等常规指标外,也非常重视砷、铅等一类重金属污染物的排放量。厦门某电子公司于 2015 年采购了一台 XOS 总砷分析仪,用于排口废水总砷监测,测试数据通过 MODBUS 通讯(仪表自带 RS485 接口)传输至 PLC,实时上传至当地环保局。仪表从企业正常生产后开始运行,连续运行两个多月无需维护,测量数据稳定,用户反馈较好。更多关于本案例的详情,请您下载后查看。
氦质谱检漏仪半导体配件检漏
某专门生产半导体配件公司, 高端不锈钢管, 配件, 阀门和歧管广泛应用于半导体行业, 因半导体行业的苛刻使用要求, 产品漏率值需要达到 10-9mar l/s, 因此需要进行泄漏检测, 已验收管件是否达标. 客户对检漏效率要求较高, 需要在生产线使用且方便移动操作, 经过上海伯东推荐最终选择移动型氦质谱检漏仪 ASM 390.
半导体做抗老化实验要用到恒温恒湿试验箱吗?如何操作
半导体做抗老化实验要用到恒温恒湿试验箱吗?如何操作半导体做抗老化实验可能需要使用恒温恒湿试验箱。恒温恒湿试验箱可以模拟不同温度和湿度条件,以测试半导体材料在这些环境条件下的性能和稳定性。以下是使用恒温恒湿试验箱进行半导体抗老化实验的操作步骤:1. 准备样品:将半导体材料制作成待测试样,可以切割成一定尺寸的小片或小块。2. 放置样品:将准备好的样品放置在恒温恒湿试验箱的样品槽内,确保样品能够均匀地暴露在温湿度环境中。3. 设置试验条件:根据实验要求,设置恒温恒湿试验箱的温度和湿度条件。例如,可以设定温度为25℃、50℃、75℃、100℃,湿度为20%、40%、60%、80%等不同的条件。
氦质谱检漏仪半导体设备及材料检漏
真空设备在半导体行业中的应用愈来愈广泛,例如真空镀膜设备(蒸发,溅射),干法雷设备(ICP,RIE,PECVD),热处理设备(合金炉,退火炉),掺杂设备(离子注入机等)这些真空设备作为半导体技术发展不可或缺的条件必将起到越来越重要的作用。上海伯东德国 Pfeiffer 氦质谱检漏仪现已广泛应用于半导体设备检漏。
高低温试验箱在半导体行业中运用在哪些方面
伴随着科技的进步,半导体材料使用得越来越多,对其质量的要求也越来越高,若想提早预料半导体材料分离出来元器件在高温或低温环境下会不会有安全隐患,则需要高低温试验箱来模拟自然气侯对其进行试验。那么,高低温试验箱在半导体行业中,是如何运用的呢?高低温试验箱在半导体行业中主要用于检测半导体器件的可靠性、稳定性和耐受性等关键指标。测试半导体器件在不同的温度、湿度、震动等环境下的性能表现,从而评估其可靠性和稳定性,并提高产品的质量和可靠性,确保其能够在恶劣的环境下稳定工作。
紫外荧光法+电子半导体+半导体表面油污检测
随着半导体技术的不断发展,对工艺技术的要求越来越高,特别是对半导体圆片的表面质量要求越来越严,其主要原因是圆片表面的颗粒和金属杂质沾污会严重影响器件的质量和成品率,在目前的集成电路生产中,由于圆片表面沾污问题,在生产过程中造成了很多原材料的浪费。不能获取最高的经济效益。
医用软管密封性测试仪测试原理
近年来,医疗技术的快速发展使得医用设备在诊断和治疗过程中发挥着重要作用。而医用软管密封性测试仪作为医疗器械中不可或缺的一环,其测试原理的重要性备受关注。本文将深入探讨医用软管密封性测试仪的测试原理,为您揭秘医疗行业中这一不容忽视的关键装备的工作原理和应用。医用软管密封性测试仪是用于检测医疗器械软管的密封性能的仪器。在医疗过程中,软管的密封性能对于患者的安全至关重要。通过对软管的密封性能进行测试,医用软管密封性测试仪可以帮助医疗机构确保医疗器械的使用安全性,预防医疗事故的发生。
相关专题
半导体检测先进技术盘点
半导体主题月
半导体材料、器件与设备
科技赋能半导体,全面提升产品良率
2024无锡半导体设备与核心部件展示会
9月15日默克超级品牌日_生物制药-半导体纯水方案
CHINAPLAS 2023现场直击:上百家测试仪器厂商惊艳亮相
天氏欧森静态材料测试整体解决方案
微量热仪专题
奋楫七十同舟,履践万里宏筹——仪电分析70周年庆典
厂商最新方案
相关厂商
九域半导体科技(苏州)有限公司
载德半导体技术有限公司
深圳市矽电半导体设备有限公司
矽万(上海)半导体科技有限公司
广州爱启提测试仪器有限公司
鹏城半导体技术(深圳)有限公司
菲希尔测试仪器(中国)有限公司
成都巴丁半导体有限公司
赛米安半导体科技(北京)有限公司
东莞市惠海半导体有限公司
相关资料
美国IST公司IST 890、IST 8920半导体分立件测试系统(功率半导体件测试仪).pdf
半导体电阻率测试仪主要技术指标
粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪简介
金属-半导体界面欧姆接触的原理、测试与工艺
吉时利——4200-SCS半导体特性分析系统,超低电流测量的低噪声模型
中瑞祥粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪 HHY8-FZ-2010
FS-Pro半导体参数测试仪技术资料 .pdf
SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法.pdf
SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法.pdf
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法.pdf