织物厚度仪

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒

锡箔纸SA999902 直径35mm 厚度0.010mm100片/盒 Tin disc 35 mmthickness 0.010 mm | 100/pack OEM equivalent parts:Thermo 252 08018

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒

产品介绍:泰思泰克垂直方向多功能燃烧测试仪整合国际国内多项纺织品垂直燃烧测试标准而设计研发及生产；该测试仪可实现垂直方向底部点火燃烧及侧面表面点火等点火方式；适用于通过对垂直竖向纺织品及组件边缘及底边点火检测其易燃性能、还可检测睡衣用面料和面料组合，帷幕及窗帘、防护服织物的阻燃性能； 产品型号：TTech-ISO6940-M 符合标准：ISO 6940：2004 垂直竖向试样易燃性能 ISO 6941：2003 垂直竖向试样火焰蔓延性能 ISO 10047：1993 织物表面燃烧时间确定 BS 5438：1989 垂直竖向纺织品及组件底边及边缘点火阻燃性能 BS 5722：1991 睡衣用面料和面料组合的阻燃性能 BS EN1103：2005 服用面料燃烧性能 BS EN 13772：2003 帷幕及窗帘火焰蔓延性能 ISO 15025：2002 防护服隔热及阻燃性能 AS 2755.1、2、3 澳大利亚及新西兰垂直竖向试样易燃性能 GB/T 8745、GB/T 8746、GB/T 5456 等中国国家标准技术参数：1、 不锈钢箱体结构，美观大方，耐腐蚀；2、 结构设计融入人体工学，各种实验方便操作；3、 试样夹持方式柔性设计，可自由安装各种标准测试试样，并配有各标准规定试样夹；4、 各种实验时间自由设定；焰燃时间、续燃时间、引燃时间等系统自动保存；5、 高压自动点火；打火时间自由设定；6、 配备各种实验火焰高度尺；7、 燃烧器电机驱动自动进退；8、 进口流量计，精确控制气体流量；9、 进口压力表及调压阀精确控制燃气压力；10、 精密针阀精确控制燃气流量及火焰高度；11、 进口燃烧器高度可调；燃气流量可调；空气流量可调；12、 火焰角度指示盘可显示操作角度 13、 喷灯角度可自动调整，精确定位；14、 PLC及触摸屏智能 控制系统，实验方便、简捷；15、 实验数据自动存储，自由调取；16、 实验数据自由打印； 织物垂直方向多功能燃烧测试仪主要功能特色： 1、落地式机座，无须置于操作台上，方便操作人员使用 2、大型燃烧机架，可悬挂多种测试针框，满足不同测试标准所需 3、配备7种测试针框以及1套不锈钢试样夹，满足各国测试标准 4、滚轴丝杆调节燃烧器前进及后退，燃烧器高度可通过旋钮调节 5、一键式点火方式，采用电火花点火 6、丁烷及丙烷燃烧气体可程序切换 7、火焰角度指示盘可显示操作角度 8、主机自带火焰高度量尺，探测垂直火焰高度 9、步进电机驱动方式，可驱动燃烧器运动 10、点火装置角度精度为0.18度，精准定位 13、触摸屏操作方式，便于操作人员使用 14、人机界面及PLC控制模式，预制各国测试标准

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

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高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

HL-6326土壤PH/湿度检测仪 土壤酸碱度湿度检测仪 本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度. 土壤酸度计技术参数： PH范围：3-8 PH；水分范围：1-8% PH精度：± 0.2PH；水分精度：± 1% 环境温度：5-50℃ 可测深度：2-30cm 使用方法: 第一次使用时, 把探头在土里插几次, 去掉上面的油和杂质, 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里, 大约10分钟后读取PH值, 按下旁边的白色按钮, 仪表将显示水份. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极 不要将仪器和磁性材料放在一起, 不要一直放在土壤里超过1小时.用完后把电极洗干净. 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。 如何测量土壤pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒

HL-6321土壤湿度/酸度检测仪 二合一园艺检测仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度.使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何分析植物光照强度 1. 将功能键拨至左起第二个档位上。 2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。 3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。 4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。 例如： 上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度） 下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度） 下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度） 一天的总日照强度= 以上数据之和。 单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯) 请查阅说明书后的光照要求表。 如何分析湿度 1. 将功能键拨至左起第三个档位上。 2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。 3. 读取数据。 4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。 5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。 如何分析土壤的pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。 2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水） 3. 将功能键拨至最右边的档位上。 4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。 5. 将探棒完全插入被测土壤中。 6. 等待1分钟即可读取数据。 7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

植物组培架 育苗生长架 光照培养架由上海书培实验设备有限公司提供，规格齐全，实用（3层、4层、5层、6层、7层），每层配两支灯（T5，T8可以自由选择），可以根据使用需求定制。产品介绍：产品尺寸：1300*500*2000mm（尺寸按需求定做）产品材质：采用优质Q235冷轧钢，强度高，承载能力强。T5组培灯：三基色荧光组培灯。T8组培灯：LED全光谱植物灯。层板:采用厚度为0.4mm优质冷轧钢板 产品特点：蝴蝶孔设计，安装便捷，无螺丝，每层上下自由调节，最小调节间距5mm每层配两支灯（T5，T8可以自由选择）默认是T5组培灯产品相关规格介绍表格（可以选配T5灯，T8灯，还可选配红白光源灯）：名称规格（mm）型号材质单价（元）品牌植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用3层配套T5灯SP-ZPJ-3C优质Q235冷轧钢1200书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用3层配套T8灯SP-ZPJ-3C优质Q235冷轧钢1200书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用4层配套T5灯SP-ZPJ-4C优质Q235冷轧钢1300书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用4层配套T8灯SP-ZPJ-4C优质Q235冷轧钢1300书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用5层配套T5灯SP-ZPJ-5C优质Q235冷轧钢1500书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用5层配套T8灯SP-ZPJ-5C优质Q235冷轧钢1500书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用6层配套T5灯SP-ZPJ-6C优质Q235冷轧钢1800书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用6层配套T8灯SP-ZPJ-6C优质Q235冷轧钢1800书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用7层配套T5灯SP-ZPJ-7C优质Q235冷轧钢2000书培植物组培架 光照培养架 育苗生长架1300*500*2000实用7层配套T8灯SP-ZPJ-7C优质Q235冷轧钢2000书培

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

默克薄层层析产品默克公司薄层层析产品标识的含义：F－ 含有荧光指示剂 F254＋366－ 荧光指示剂的激发波长F254s－ 蓝色荧光指示剂 (对酸稳定) G－ 粘合剂含硫酸钙H－ 不含粘合剂 R－ 经特殊工艺进行深度纯化W－ 可被水浸润 P－ 制备薄层层析 常规薄层层析板§ 采用Silica 60为原材料，通过特有的聚合技术使其 表面覆盖紧密、光滑，拥有极好的分离效果类型产品描述规格涂层厚度包装货号价格促销价TLC Silica gel 60 F254玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05715.0001975 70010×20 cm250μm50/pk1.05729.00011271 5505×20 cm250μm25/pk1.05808.00011138 ——5×10 cm250μm25/pk1.05789.00011218 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15327.00012511 ——铝板20×20 cm200μm 25/pk1.05554.0001814 60010×20 cm200μm25/pk1.05570.00011204 ——5×10 cm200μm50/pk1.16834.00011228 ——5×7.5 cm200μm20/pk1.05549.0001385 ——TLC Silica gel 60 玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05721.00012282 75010×20 cm250μm50/pk1.05626.00011538 6005×20 cm250μm100/pk1.05724.00013101 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15326.00012436 ——铝板20×20 cm200μm25/pk1.05553.00011643 ——5×10 cm200μm50/pk1.16835.00011396 ——

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教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

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