利用导电探针原子力显微镜(CP-AFM)测量碳纳米管薄膜导电性
导电性测量是一种有效的方法, 可用来描述某些特殊应用中材料的特性与行为,从能量存储和能量转换元件,到分子元件电路以及纳米级半导体元件。导电探针原子力显微镜(CP-AFM)是其中一种相当有用的技术,它可以提供精确的纳米级测量和先进材料如CNTs膜的导电性的相对分布图。在过去的十年中,几种检测被引入来研究这些材料,然而,绝大多数只能测量有限的电性范围。在这项研究中,配备CP-AFM的Park NX20被用来研究具有广泛导电性的3种不同的材料。实验所得数据清晰地证明了,这项技术借由整合对数型电流放大器于系统中,可利用来测量不同导电材料的典型表征,以及提供薄膜材料的导电率空间解析图。