有奖问答:一般情况下,织物的( )与织物厚度无关。A、保暖性 B、标准回潮率 C、悬垂性 D、.透气性
JJG (纺织) 028-89 织物厚度仪[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50934]JJG (纺织) 028-89 织物厚度仪[/url]
与针织物相比,同样厚度的机织物具有较小的弯曲刚度。对不对,为什么?
看了一些文献,说制样不同厚度的测定数据有差异?大家谈谈自己的体会吧
红外定量分析中,如何测定ATR池子的厚度?
请教红外高手,告诉我如何用红外测定薄膜厚度?好像有人这样做。
GBT3690-2009织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=174095]GBT 3690-2009 织物芯输送带 全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率 试验方法.pdf[/url]
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=101472]GB/T 5753-2008 钢丝绳芯输送带 总厚度和覆盖层厚度的测定方法[/url]
EDX-720怎么测定镀层厚度?
镀锌板锌层厚度的测定,辉光光谱与测厚仪哪个好用?
求助各位达人:本人新手,从未用过SEM,在一篇文献中看到可以用SEM 对陶瓷的釉层断面进行扫描,从而能够测定釉层的厚度。但是却没有提及如何做的?我想要测定一个陶瓷杯子或者盘子的釉层厚度,不知该如何处理啊? (我自己预先处理,然后拿给别人检测)或者是如果不用扫描电镜的话,用别的显微镜也可以,请各位高手指点一下。谢谢!
实验室需要对射频连接器的镀层厚度测量,镀层材料分析及三元合金含量测定,基材铜含量测定(黄铜57%~60%左右,青铜93%左右),[color=#DC143C]连接器总含铜量测定[/color],另外需测rohs。X荧光光谱能量分析仪就可以了吗?如果南京哪家能提供测试,可以长期合作。
GB/T25414-2010 棉花种植地膜厚度限值及测定谢谢
我现在接到一个样品,就是在黄铜表面上先镀上一层镍,约3-5微米厚,然后再镀上一层锡,约8-10微米。我截了一个截面镶嵌,抛光后放在SEM下观察,外层的锡和镍的图像反差较大,能测量锡的厚度。但是镍和基体黄铜的图像反差不明显,无法分辨界限,也就不能测量其厚度。我尝试用了SE、BSE及二者的混合像,均不行。SEM:Quanta 200 ESEM。
前段时间看到有版友提到X射线分析深度与样品厚度的问题,在此,我查阅了一些资料,现在给大家分享一下。X射线分析深度与样品厚度 X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短,穿透深度越大。波长相同时,物质的平均原子序数越小(轻元素含量高),穿透深度越大。换句话说,样品所发射的荧光X射线的波长越短,及样品中的轻元素含量越高,则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着,荧光X射线的波长越长,所得到的样品表面附近的信息就越多,或仅包含表面附近的信息。也因此,元素越轻越易受到样品表面的影响。 测定短波长X射线时,或者分析主成分为轻元素的样品时,如果样品的厚度不够,即使测定组成相同的样品,X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下,X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外,易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201724_290037_1601823_3.jpg 图10.6 样品厚度与X射线强度的关系 在分析树脂中Cd时,X射线强度随样品厚度而变化。将粒状树脂标准样品经热压后制成2 mm厚的圆片,作为Cd分析的校准样品。使用相同的样品,通过改变样品厚度或样品加入量,测定Cd的X射线强度。结果表明,即使是同一样品,因厚度或加入量的不同,测定强度也会发生很大变化。表10.2是以2mm厚的圆片校准,得到的不同厚度样品的定量结果。因此,在某些类型的样品分析中,因样品厚度不同所造成的分析误差是相当大的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201732_290041_1601823_3.jpg 由于被测样品或元素(谱线)是否受样品厚度影响对样品制备方法及测定条件的研究确定有很大影响,要进行高精度分析,就应事先对此进行检查。
哪位朋友有铝箔试验方法 第7部分:铝箔厚度的测定 称量法,望上传一份,不胜感激
X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度大,结果就高,而其他元素则基本没有影响。
本人使用日本精工仪器测量铁基材料上磷镍镀层与通过做切片用电子显微镜测量的结果相差0.5um,是通过纯镍标准片建立工作曲线的,只测定了镍的的厚度为2.5um,通过SME拍照厚度为3.1um,想请教我能用什么方法把这个磷镍镀层的尺寸测得与实际尺寸接近,如果用XRF测试其修正参数应怎样确认,谢谢!
请问各位大侠:硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外,现在比较主流的测试仪器是什么啊??谢谢了!
求助GB/T13452.2-2008标准 色漆和清漆漆膜厚度的测定
我们要测铝板的厚度,但是工程师说要称重法测定比较准确,我们实验室人认为千分尺测量准确。所谓的称重法应用在铝箔是比较好。(比如每个合金型号都有其密度,通过密度算厚度)我们实验室一致认为千分尺准确,可是上面工程师认为称重法准确http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gif
"试件在测试状态下平均密度:****,试件有效平均厚度:****"请问在这句话中的:测试状态下平均密度,有效平均厚度。怎么理解?该怎么计算?多谢。
1 概述HH-HD03/18型 纸张/纸板厚度测定仪 是根据接触测量法原理,广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量。仪器主要技术参数符合以下标准:《GB/T 451.3 纸和纸板厚度的测定法》、《GB/T 6547 瓦楞纸板厚度的测定法》等国家和行业标准。2 主要技术特性2.1 主要技术参数参 数 项 目HH-HD03型 纸张厚度测定仪HH-HD18型 纸板厚度测定仪测量范围(0~3)mm,分度值0.01mm(0~18)mm,分度值0.01mm接触压力(100±10)kPa(20±0.5)kPa接触面积(200±5)mm2(1000±20)mm2测量面平行度误差≤0.005mm≤0.035mm外型尺寸(长×宽×高)175mm×125mm×260mm170mm×130mm×330mm质量约5.5 kg约6.5 kg3 操作步骤3.1 拆箱与安装3.1.1 打开包装箱,取出仪器及随机技术文件。3.1.2 将仪器置放在水平的工作台面上并擦净,要求台面平整,高度适中(便于读数)。3.2 测试前准备3.2.1 按GB/T 6547规定采取并处理试样。3.2.2 从表盒中取出计量表,安装在仪器主体上,并进行置零操作,方法为:A 旋松锁紧螺钉,装入计量表;B 上下调整计量表位置,使读数约为0.45mm;C 旋紧锁紧螺钉,注意松紧适度(过松则计量表位置不稳定,过紧则影响计量表测杆运动灵活性);D 左手拇指按下拨杆,抬起测量头;E 缓慢放松拨杆,下落测量头,至与量砧接触,松开左手拇指;F 检查读数是否为零,如不为零,则按计量表上的置零键,使其为零;G 反复起落三次测量头,至零位稳定。3.3 测试3.3.1 按下拨杆抬起测量头。3.3.2 将被测试样放在测量头与量砧之间。3.3.3 缓慢放松拨杆,使测量头均匀下落至与试样接触,松手。3.3.4 读取计量表示值。3.3.5 按下拨杆,抬起测量头,取出试样。3.3.6 重复以上步骤,进行下一次测试。4 维护保养4.1 各滑动、转动部位应经常加油润滑。4.2 测量头与量砧的测量面应防止锈蚀,使用完毕应用洁净汽油擦拭干净;长期不用时活动部位应涂防锈脂,从计量表左上方电池安装孔处拆下电池,延长电池使用寿命。4.3 坚持周期检定,保证仪器良好技术状态(检定周期一般不超过一年)。4.4 为保证测量结果的准确性,当计量表不符要求时,应停止使用,修理后经计量检定合格方可再用。
具体要求如下:进口设备 1.可测量各种底材:铝、铁、钢、塑料、木材、混凝土、玻璃等表面上的涂层厚度 2.配有50倍带照灯的显微镜 3.配有特制切割刀具,可精确制作样板上的V型槽 4.附有三个切割刀刃,分别是1倍、2倍和10刀刃,最大涂层厚度依次是1250um、500um、75um,精度依次是±6um、±3um、±0.6um 5.可符合标准ASTM D 4138,DIN 50986,BS 3900,ISO 2808 6.随机配有三个切割刀刃,一支纤维笔,仪器携带箱,灯泡和电池请联系:0757-22333012 26233339 覃生 E-mail:fangming.x@163.com
[font=&]请教各位老师,电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行?投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后,跟第一次测哪个点的顺序有关吗?GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分?8.2.4条款里面,护套的厚度测试要求就是“在任何情况下,应有一次测量在护套最薄处进行”,8.1.4条款里面,绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下,第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢!PS:在其它板块发了没有老师回复,所以在这里也求助一下,如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点,谢谢![/font]
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=102246]湿化学法制备氧化硅超薄膜及其成份和厚度的SRPES测定[/url]
如题.我用辉光GDS-750A光谱仪做了一个镀锌QDP的厚度.仪器给我计算出了交点的厚度,我现在想知道X左边的FE向ZN的渗透厚度和交点后面的ZN向FE的渗透厚度,如何才定义积分区间,计算的公式是什么.如果本身曲线没有的元素如Mg等.我用仪器现有的曲线采用那个方法可以代替Mg的测定,是ZN基的吗.我是直接在镀锌板上测定还是需要他们单独送固体的镀液测定呢?我想知道如何把图表的ZN 曲线向上下平移?在那里可以设置该参数.能做到吗?自己做溅射率的朋友,主要是JY的同志,该工作开展的难度大吗?你们厚度的时候是自己做曲线?如果你是其他的仪器.请介绍你的方法和心得.我现在很不熟悉,公式不知道怎么编辑.希望你们给我点经验.谢谢.
大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!
在钢板表面涂一层涂漆,根据工艺不同,涂漆厚度不同,如何知道刮棒的型号与涂漆厚度是什么对应关系,既如何根据涂漆厚度选择合适的刮棒?涂漆的厚度单位是g/㎡。
求助:在金属表面测镀层厚度,镀的是同一种物质比如镍;镀两层,这两层镍的物理属性不同,晶粒大小不一样,请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢!