随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近,国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X荧光分析技术(XRF)作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于ROHS指令的场合时,波长色散和能量色散则各有优缺点,测量对象各有侧重;以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散 能量色散 (Si-Pin)型 (SDD)型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高,约15eV较低,约160eV较低,约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命>10年>5年>5年仪器价格46万(国产)25万左右(国产)60万左右(进口)50万(国产)1、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为Si-Pin类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级,基本在20~50ppm左右。2、测量时间:由于波长色散配备较大功率的X光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求:由于技术特点的差异,波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作处理直接进行测量,对样品也没有任何损坏,直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围:由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点,两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同;波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度,但同时需要对被测量样品进行简单处理,更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制;能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差,但具有快速、直接测量各种形状样品的优点,因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率:能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标,分辨率数值越小,分辨率越高,仪器性能越好。6、荧光强度:对于X荧光分析仪器来说,各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系;荧光强度越高,则统计误差越小,测量的准确度越高,仪器性能越好。7、使用寿命:波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上;能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年,影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]
本人有HORIBA公司的能量色散X射线荧光硫分析仪一台,是展览用样机,全新,地价销售,原厂提供保修一年,可以联系13923763802
能量色散型荧光分析仪的原理是什末?分析仪怎样进行日常维护?
哪种能量色散X射线荧光分析仪好?日本精工SEA1000S 与 日本电子JSX-3400RII 哪个好?
目前能量色散X荧光分析仪的检测器的类型主要有哪些??我知道高纯硅检测器(硅漂移检测器)和硅-PIN检测器,但是对于其各种特点还不甚了解。还请各位大虾指点!!!
荧光分析仪的种类很多,检测器的差别也比较大,但对检测器的使用寿命了解并不多,特别是能量色散型的?!
能量色散分析仪只有一个探测器,它对测量X射线能量范围是不受限制的,而且这个探测器能同时测量到所有能量的X射线。也就是说只要激发样品的X射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件,对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量X射线:密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 能量色散的条件是当样品被激发后产生的X射线通过窗口进入探测器探测器把X射线能量转换成电荷脉冲,每个X射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲,当这些电压脉冲经充分放大后,被送入脉冲处理器,脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号,由计算机进行分类,分别存入多道分析器(MCA)的相应通道内,一般使用1024-2048道MCA。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。 波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长,由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置,以满足布拉格定律的要求。 X射线荧光分析和其它光谱分析一样,也是一种相对分析。这就是说,要有一套参考标样,这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量,记录欲分析元素的强度,建立浓度(含量)、强度(CPS)校准曲线,存入处理数据的计算机,供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线,强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。 另外由于校准线要在很长一段时间内使用,所以应对仪器的漂移作出调整,尽管这种漂移不大,但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作SUS(调整样)的特殊样品,它们含有适量的分析元素,有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
原理&方法01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线管02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理03 RoHS检测仪维修 --- 更换探头03 RoHS检测仪维修03 RoHS检测仪结构介绍 1800法律法规01 环保指令汇总 02 欧盟WEEE指令2002/96/EC 欧盟REACH法规指令 EC 1907/2006 欧盟ELV指令2000/53/EEC 欧盟包装物和废弃包装物指令94/62/EC 欧盟新电池指令2006/66/EC 欧盟Eup指令2005/32/EC 欧盟镉指令91/338/EEC 欧盟镍指令94/27/EC 欧盟偶氮染料指令2002/61/EC 欧盟邻苯二甲酸盐指令2005/84/EC 挪威PoHS 文献资料01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 六种有害成分的存在形式及其替代方法02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X荧光光谱仪是什么?03 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS培训-手机产品04 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 术语05 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 元素之间干扰06 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 物料分类与拆分07 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS1.0,2.0指令区别08 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线分析仪(电子版书籍)09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 辐射小知识10 RoHS检测仪器---欧盟RoHS指令豁免条款11 RoHS检测仪器---卤素简介12 中国RoHS与欧盟RoHS之比较表资料目录为:第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度……内容持续更新中……09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 各國玩具重金屬要求對照表
[size=16px] 能量色散X荧光光谱仪是什么仪器 能量色散X荧光光谱仪(EDXRF)是一种用于分析材料中元素组成的非破坏性分析仪器。它利用X射线照射待测样品,激发样品中的原子或分子,然后测量由这些原子或分子发射出的X射线能量和强度,从而确定样品中各元素的种类和含量。 这种仪器的主要特点包括: 非破坏性:不会对样品造成损伤。 灵敏度高:能够检测到极低浓度的元素。 分析速度快:可以在几秒钟内完成一次分析。 具有广泛的适用范围:可以应用于地质、矿物、环保、材料科学等领域。 在实际应用中,能量色散X射线荧光光谱仪常常与计算机相结合,可以通过软件对数据进行处理和分析,以提供的结果。同时,该仪器也可以配备多种附件,如高压电源、样品架等,以满足不同的实验需求。 此外,能量色散X荧光光谱仪还适用于材料科学和考古学领域,例如用于陶瓷及原料化学组成的检测。 请注意,具体的仪器性能和应用领域可能会因设备型号、生产厂家等因素而有所差异。因此,在使用能量色散X荧光光谱仪时,应参考设备的使用说明书和相关标准,以确保测试结果的准确性和可靠性。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403060952348590_3596_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]
[size=16px][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b]能量色散X荧光光谱仪是什么仪器[/color][/font]能量色散X荧光光谱仪是一种用于化学和物理领域的分析仪器。它的工作原理是利用小功率X射线管激发被测样品,并产生X荧光。探测器对X荧光进行检测,然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。这种仪器具有高效端窗发射X-光管、数字高压电源系统、Si(Li)电制冷探测器、全数字脉冲处理器等技术指标,可优化不同能量段元素的采谱条件,提高痕量元素检出能力。此外,能量色散型X射线荧光光谱仪具有5位置滤光片自动切换功能,以保证分析精度,并对各种样品进行快速准确的分析,包括大样品、小样品、金属碎屑、线材、棒材、管道、容器、焊缝等。设备检测元素范围为镁Mg – 铀U,校准程序可同时对35种元素进行回归计算。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/02/202402040948224614_1966_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]
虽然波长色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪,它们产生信号的方法相同,最后得到的波谱或者能谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,ED-XRF(波谱)与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。 (一)原理区别 X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同,故仪器结构也不同。 (二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X-射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X-射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X-射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X-射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下优点: ①仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置,也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。 ②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X-射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。 ③在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。 ④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度,而不是峰顶强度。因此,减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响,提高净计数的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,见笑了偶然错误判断某元素的可能性。(选自网络,侵删)
《能量色散X射线荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开9月17-19日,《能量色散X射线荧光光谱仪》系列行业标准起草工作会议在昆山嘉乐国际酒店召开。天瑞仪器作为标准起草单位组织了本次会议。根据工信厅科74号文下达的2010年第一批行业标准制修订项目计划,其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分:通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分:元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由天瑞仪器股份有限公司负责起草,并于2011年8月成立起草工作组。本次会议,EDX行业标准专家组就起草的标准提出了修改意见,对标准做了进一步完善。会上,中国仪器仪表行业协会秘书长马雅娟给天瑞仪器研发部副部长周晓辉颁发了“全国专业标准化技术委员会委员证书”。同期,工作组专家参观了天瑞仪器。本次会议的出席单位有:中国仪器仪表行业协会中国科学院上海硅酸盐研究所北京分析仪器研究所昆山市产品质量监督检验所岛津企业管理(中国)有限公司牛津仪器(上海)有限公司聚光科技(杭州)股份有限公司北京普析通用仪器有限责任公司上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/09/201209250903_392843_2090336_3.jpg 秘书长马亚娟为天瑞仪器颁发证书http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/09/201209250904_392844_2090336_3.jpg 行业标准专家组参观天瑞公司
一.X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同事测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来,由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 二.波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。(一)原理区别 X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。(二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)
X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类?
5月18日,全国分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟、主任委员郑增德来到天瑞仪器,就《能量色散X荧光光谱仪》行业标准的编制实施进行深入研讨。《能量色散X荧光光谱仪》行业标准是由全国分析仪器标准化技术委员会推动,共分为“通用技术”、“元素分析仪”、“镀层厚度分析仪”三章。目前,该标准已完成草稿工作。5月18日,在天瑞仪器二楼会议室,分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟、主任委员郑增德,与天瑞仪器副总经理余正东、应用研发中心负责人姚栋梁博士、研发部部长吴升海博士、研发部副部长周晓辉、应用研发工程师吴敏、李强、盛敏等人,共同就标准的制定执行进行深入探讨。分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟在会议中表示:“能量色散X射线荧光光谱仪作为一种定性及定量的无损测试技术,可广泛应用于电子、机械制造、医疗卫生、环保和生态研究、冶金、食品工业、珠宝首饰、地质勘探、考古、商检、电镀、钢铁、石化、稀土等行业。但该技术目前在国内外却缺少相关标准。本次行标的编撰实施,对促进民族工业发展、促进与国际先进技术的接轨,具有重要意义。”天瑞仪器副总经理余正东表示,天瑞仪器作为专业的X荧光光谱仪研发生产厂商,在技术研发、仪器制造、应用开发、产品服务等方面拥有深厚的经验。天瑞仪器希望能够发挥优势,为行业标准的规范完善作出贡献。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205231600_368298_2090336_3.jpg合影留念
目前由于ROHS/WEEE指令的原因,很多电子电气产品生产企业购买了许多能量色散荧光光谱仪,仅我知道的型号就有日本的精工、岛津、HORIBA,热电公司QUANT、帕纳克公司MINIPAL4等,只看仪器标称的指标好像所有的样品都能进行分析,但我觉得这里面误差很难控制,所以非常希望已经购买相关检测设备并有使用经验的人员提供应用新的,也为后续购买相关检测设备的公司提供参考。
RT 各位大牛:以前安装和培训,美国EDAX公司Eagle Ⅲ XXL能量色散X荧光光谱仪(台式)的测试方法均采用的是《GBT 15074-2008 电子探针定量分析方法通则》,但这个标准是适用于具有能谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。现正准备实验室认证请问美国EDAX公司Eagle Ⅲ XXL能量色散X荧光光谱仪 实验室认证时可以沿用吗?或者宜采用其他哪些标准?
请问各位大哥,能量色散X荧光常量分析准确度是多少,能达到0.05%,如果有标样情况下,能不能达到0.05%?
RT 各位大牛:以前安装和培训,美国EDAX公司Eagle Ⅲ XXL能量色散X荧光光谱仪(台式)的测试方法均采用的是《GBT 15074-2008 电子探针定量分析方法通则》,但这个标准是适用于具有能谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。现正准备实验室认证请问美国EDAX公司Eagle Ⅲ XXL能量色散X荧光光谱仪 实验室认证时可以沿用吗?或者宜采用其他哪些标准?
x能量色散荧光仪和波长色散荧光仪的区别
能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪,分别率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器,它们不须要液氮冷却。近年来,采取电致冷的半导体探测器,高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪 非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来,而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰,因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2,则介质1相关于介质2为光密介质,介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线,个别固体与空气相比都是光疏介质。所以,假如介质1是空气,那么α1α2(图2。20右图),即折射线会倾向界面。假如α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时,界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中,这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征:剖析的元素规模广,从4Be到92U均可测定; 荧光X射线谱线简朴,互相搅扰少,样品不必分别,剖析方法对比简便; 剖析浓度规模较宽,从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差。待续。。。。。非色散?不是很理解。楼主,你有示意图来介绍一下吗。
能量色散X荧光仪国家木有相关的计量标准,计量报告上显示的是检测证书,这种没有计量规范的仪器设备以后是否可以不用再安排外校了?
E3XL是荷兰帕纳科PANalytical最新的能量色散X荧光分析仪,采用全新的激发技术和探测器,性能有了大幅提升。让Rosh指令的定量分析更加简单,某些行业可以摆脱化学法的繁复操作和重复投入。附件是相关的应用报告,供同行参考。如有问题,可以一起讨论,共同学习。
请大家在附件中查看:波长色散型x荧光仪和能量色散型x荧光仪的区别!
前面我们说过EDXRF的--x射线管的工作原理,这里写写XRF仪器的工作原理: X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定时、定量分析的能量谱图。 工作原理图如下:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503201412_539002_1617349_3.png 其它更多知识汇总请见--- 【原创】能量色散X荧光光谱仪-知识汇总内容
我想做半定量分析,现在急需一款半定量分析软件,大家能不能介绍一下对于能量色散半定量分析的软件呢?
我在该论坛看到好多关于X 荧光光谱仪的知识,我自己也是做能量色散X射线荧光光谱仪这方面的,里面有点知识还不懂,希望里面的朋友们帮我解析一下: 我在看杨明太老师的一本书时候,看到能量色散谱仪的性能测试中有一项是能量线性测试,我想问一下能量线性测试反映仪器的什么性能或者技术指标?谢谢了, 这两天急用!
能量色散在分析不同的元素时 什么时候使用连续谱 什么时候使用靶材的特征谱 有什么区别和不同 怎么确定使用哪种谱?多谢!!!
今天有看到一篇信息,摘录如下:“省计量院《能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范》通过审定 文章来源:福建省计量科学研究院 更新时间:2011-10-8 14:35:09 9月27日,省计量院《能量色散X射线荧光光谱仪校准规范》通过审定。由此建立的能量色散X射线荧光光谱仪计量校准方法,具有较强的实用性和可操作性。能量色散X射线荧光光谱仪是公认的RoHs(关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令)筛选检测首选仪器,可以检测出RoHs法案中规定的所有物质,具有检测速度快、分辨率高、可实现无损检测、无需专门人员等特点。但该仪器相关技术指标没有国家规程,缺乏统一的技术规范。省计量院根据该仪器的计量性能和实际检测要求,制定了能量色散X射线荧光光谱仪的计量校准方法。该规程的运用,将有效提升能量色散X射线荧光光谱仪的检测质量,并保障该行业的健康发展,具有较好的社会及经济效益。”目前有关能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范是不是没有一个统一的标准? 那大家公司一年一次或两次的校准都是依据哪个规范进行的呢?http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/emyc1010.gif
上传一份Down的,资料,与各位亲友们共享:资料的目录如下:有需要的友们,可去下载阅读。第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度第八章 定量分析的数学方法第九章 X射线光谱分析的应用和试样制备第十章 电子探针微区分析第十一章 附录