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手持探头显微镜

仪器信息网手持探头显微镜专题为您提供2024年最新手持探头显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括手持探头显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的手持探头显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合手持探头显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有手持探头显微镜相关的最新资讯、资料,以及手持探头显微镜相关的解决方案。

手持探头显微镜相关的耗材

  • 电子显微镜二次电子探头ETD闪烁体10KV高压板
    PM Combined DSGS/HTETD闪烁体10KV高压板,用于原厂电子显微镜,为二次电子探头的闪烁体提供高压。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 用于900电化学扫描显微镜的铂探头
    名称型号规格价格(元)10um直径SECM铂探头11610um直径SECM铂探头110025um直径SECM铂探头11725um直径SECM铂探头1100
  • 具有可更换头的手持光纤探头
    产品特点:具有可更换头的手持光纤探头9910076600透射探头和支架9910076700订购信息:光纤探头应用说明部件号Cary 100/300 分光光度计 手持光纤探头,石英,整体长度 265 毫米,10 毫米光程,可耐高温达 150 °C 并可用于腐蚀性酸7910032100 紫外-可见光反射探头和探头支架,用于测量样品表面的全反射,照明区域是 1 毫米7910036200 配有开关的吸光浸入式探头,不锈钢,10 毫米光程9910085000配有开关和耦合器的吸光浸入式探头,不锈钢,10 毫米光程9910085100紫外-可见光反射探头7910035500Cary50/60/100/300 手持光纤探头,直径 6.35 毫米,长 104 毫米,包括光罩9910076600手持光纤探头,防腐蚀石英,直径 12.7 毫米,10 毫米光程9910080800透射探头和探头支架,适合用于对固体透明材料如玻璃的透过率测量9910076700 具有石英末端的 Versi 远程读取光纤探头,可手持或安装在Cary 光纤探针耦合器上,非常适用于腐蚀性、有毒、放射性或交叉污染的样品190055700 Cary4000/5000/6000i分光光度计 紫外-可见光反射探头,2 米,用于测量样品表面的全反射,照明区域是 2 毫米9910069300 紫外-可见光吸光探头,不锈钢,2 米,10 毫米光程9910069400紫外-可见光透射探头和支架,2 X 3 米光纤9910069600紫外-可见光和可见-近红外光透射探头和支架组件,2 X 3 米光纤9910076500 紫外-可见-近红外光透射探头和支架,2 X 3 米光纤9910076400紫外-可见-近红外光吸光探头,不锈钢,2 米,10 毫米光程9910069500
  • 电子显微镜ETD放大器高压板
    Det. MULTIP. TUBE,DPMTETD放大器高压板,用于原厂电子显微镜,为二次电子探头的放大器提供高压大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 【NCHV-A探针】bruker 原子力显微镜探针
    【NCHV-A探针】bruker原子力显微镜探针概述一组硅探针。数量为10用于TappingMode成像的Bruker'sValueLine蚀刻硅探针TM在空气中的非接触模式,具有反射涂层。这种探头也可以不使用铝反射涂层作为模型 NCHVO规格:几何■矩形 齿顶圆角半径nm尺寸:8 频率赫兹尺寸:320最小:270最大:400 弹簧常量Nm尺寸:40最小:20最大:75 长度pm尺寸:117最小:115最大:120 宽度pm尺寸:33最小:28最大:38 悬臂梁背面的铝反射涂层使激光信号增加了2.5倍。对于一般成像,通常不需要有反射涂层。反光涂层推荐用于薄悬臂梁、反光非常强的样品和机器视觉应用。几何形状:矩形悬臂梁数量:1悬臂厚度Nom:3.5um悬臂厚度RNG:2.8~4.2um背面涂层:反光铝
  • TVS-ACCY-PBP系列微型化双光子显微镜基座
    产品说明微型化显微镜基座(Baseplate)采用CNC制作,根据成像需求使用TVS-ACCY-AB系列双组份高强度结构胶将合适高度的基座与小鼠固定头件粘接;再通过胶头顶丝与微型化双光子显微镜连接。可以做到机械稳定,重复拆装微型化显微镜探头,不会引起成像视野的过度变化等优点。 产品应用与微型化双光子显微镜配合使用,通过不同高度的基座II可以对不同深度的神经区域进行稳定成像。 产品优势不易损坏:材质为高强度铝合金,耐疲劳、不易损坏、可重复使用、易于保存和清理高精度定位:完美匹配固定微型化探头成像,多颗顶丝定位稳定成像
  • 原子力显微镜探针/afm探针/磁力显微镜/MESP-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • Park原子力显微镜AFM探针OMCL-AC160TS 10M
    AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜,如AFM(范德华力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的Z端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度,共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率; 外观设计:新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取; TipView设计:锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位; 测量环境:适用于空气中测量; 测量模式:AC(动态)模式; OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测,适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测; 2、太阳能板的表面形貌量测; 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖: 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA; 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询:18994392037(同VX)李经理
  • 电子显微镜专用用碳沉积
    CARBON FILL,MGIS碳沉积(多支气体注入系统专用)用于原厂电子显微镜多支气体注入系统,碳沉积(多支气体注入系统专用)是一种存放碳化合物的容器,将药品加热到一定温度,药品气化,在真空压差和可控阀门的作用下,将药品气体喷洒在样品表面,同时在离子束的诱导作用下将碳分子沉积在样品表面。以实现对样品表面形貌的保护,或对样品进行导电处理。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140
  • 透反射偏光显微镜配件
    透反射偏光显微镜配件是进口高级透反射偏振光显微镜,具有入射光和透射光照明系统,提供40X-1000X的放大倍率,特别适合实验室科研等高级应用。 透反射偏光显微镜配件特点 具有4x,10x,40x,100x物镜配置,放大40-1000倍。 可添加相机组成显微成像系统。 偏光器可旋转,0位置可调。 * 样品载物台:360度可旋转可定心样品台,170mm直径,分辨率6' ,45度检查杆, * 日光滤光片45mm直径,防尘,2个12V/100W备用长寿命灯泡 透反射偏光显微镜配件配置 Strain-Free ICO2 PLAN objectives infinity corrected 5x/0.12, WD 15.5mm, CC - 10x/0.25, WD10.0mm, CC – 20x/0.4, WD 4.30mm, CC 0 50x/0.75, WD 0.32mm, CC 0 100x/0.8, WD 2.00mm, CC 0 40x/0.65, WD 0.54mm, CC 0.17 100x/1.25, WD 0.13mm, CC 0.17 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括透反射偏光显微镜在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于透反射偏光显微镜价格等诸多信息,孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来,了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取!
  • 透射偏光显微镜配件
    透射偏光显微镜配件是进口高级透射偏振光显微镜,提供40X-1000X的放大倍率,特别适合实验室科研等高级应用。透射偏光显微镜配件特点 * 偏光器可旋转,0位置可调。 * 样品载物台:360度可旋转可定心样品台,* 170mm直径,* 分辨率6' ,* 45度检查杆, * 日光滤光片45mm直径,防尘,* 2个12V/100W备用长寿命灯泡 透射偏光显微镜配件配置 ICO2 PLAN 4x/0.10 WD 17.3mm strain free CC 0.17 ICO2 PLAN 10x/0.25 WD 10.0mm strain free CC 0.17 ICO2 PLAN 40x/0.65 spring loaded WD 0.54mm strain free CC 0.17 ICO2 PLAN 100x/1.25 oil ,spring loaded WD 0.13 mm , strainfree CC 0.17 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括透射偏光显微镜在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于透射偏光显微镜价格等诸多信息,孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来,了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取!
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030
  • 原子力显微镜探针/生物样品/细胞成像/DNP-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/RTESPA-150
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/NP-O10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating10 NA
  • 显微镜恒温箱
    为了活细胞成像实验过程中保持细胞的存活,涉及到维持数项物理参数的控制。 温度: 有了Solent Scientfic全包围孵化腔温度被维持在环绕细胞培养皿的三轴内。这确保了温度平衡通过显微镜框架和组件台没有低温点和高温梯度。 这里我们有一个12小时实验中4000个独立温度测量值。正如你所见,温度被控制在±0.2℃ 湿度: 湿度不是像温度那样控制的。没有必要说这个实验的相对湿度要控制在72.8%,另一个要控制在88.6%。我们需要的是,介质正上方大气一样尽可能保持饱和。这样最小程度的蒸发可以使实验过程中介质成分的浓度保持完整。 二氧化碳: 为了介质的pH值在顶部空间成像过程中保持恒定,大约要保持介质5%的二氧化碳浓度。与其尝试、保持整个腔室内部环境5%二氧化碳的同时,在小的内部腔室中有热空气循环。或者头架是用过的。 当考虑到湿度控制时,如此使用小头架也是有帮助的。如果整个大腔室内部环境充满水蒸气,那么显微镜的环境将缺乏抵抗力。 顶部环境的控制时通过流入湿润的5%二氧化碳的速率刚好快于泄漏维持的一个轻微的正压力。典型的流动速率需要达到几毫升每分钟。 一个简单的空气中的5%二氧化碳源是一个包含了预先在空气中混合好5%二氧化碳的气柱。这种混合气体可以从很多国家的供应商那里买到。 一个简答的气流控制需要的都在这里了。 一些实验室有由室内100%二氧化碳稀释提供实验需要,这是另外的配置。Solent Scientific提供一种可以按要求几毫升每分钟速率释放混合气体,相比于市面上能买到的很多工作范围在1升每分钟的的气体混合器
  • Cary 光纤探头
    Cary 光纤探头订货信息:光纤探头应用说明部件号Cary 50/60波长范围为200-1100 纳米浸入式光纤探头,仅主体为不锈钢 需使用不锈钢头7910035700浸入式光纤探头,不锈钢,10 毫米固定头7910036400光纤浸入式探头,不锈钢,10 毫米可更换头7910036500浸入式光纤探头,Torlon 探头,159 毫米光程,直径 7.9 毫米7910029900光纤探头,Torlon,只有探头主体 探头直径为 7.9 毫米,长 144 毫米(不包括探头端头)。不建议用于会破坏环氧物的溶液,要求使用 torlon 端头7910032600浸入式光纤探头,直径 7.9 毫米,长 159 毫米,Torlon,10 毫米可换端头7910035100浸入式光纤探头,直径 12.7 毫米,长 70 毫米,石英,用于腐蚀性样品,10 毫米固定光程7910030300光纤微探头,直径为 3.05 毫米,长 140 毫米,10 毫米固定光程,建议不要用于强酸7910035600手持远程读取光纤探头,直径 6.35 毫米,长 104 毫米,不锈钢,10 毫米可换头7910030200Cary 100/300 分光光度计手持光纤探头,石英,整体长度 265 毫米,10 毫米光程,可耐高温达 150 °C 并可用于腐蚀性酸7910032100紫外-可见光反射探头和探头支架,用于测量样品表面的全反射,照明区域是 1 毫米7910036200配有开关的吸光浸入式探头,不锈钢,10 毫米光程9910085000配有开关和耦合器的吸光浸入式探头,不锈钢,10 毫米光程9910085100紫外-可见光反射探头7910035500Cary 50/60/100/300手持光纤探头,直径 6.35 毫米,长 104 毫米,包括光罩9910076600手持光纤探头,防腐蚀石英,直径 12.7 毫米,10 毫米光程9910080800透射探头和探头支架,适合用于对固体透明材料如玻璃的透过率测量9910076700具有石英末端的 Versi 远程读取光纤探头,可手持或安装在Cary 光纤探针耦合器上,非常适用于腐蚀性、有毒、放射性或交叉污染的样品190055700Cary 4000/5000/6000i分光光度计紫外-可见光反射探头,2 米,用于测量样品表面的全反射,照明区域是 2 毫米9910069300紫外-可见光吸光探头,不锈钢,2 米,10 毫米光程9910069400紫外-可见光透射探头和支架,2 X 3 米光纤9910069600紫外-可见光和可见-近红外光透射探头和支架组件,2 X 3 米光纤9910076500紫外-可见-近红外光透射探头和支架,2 X 3 米光纤9910076400紫外-可见-近红外光吸光探头,不锈钢,2 米,10 毫米光程9910069500
  • AFM显微镜探针
    使用BudgetSensors的AFM探针,能够最大程度扽保证您获得客观真实的检测结果。BudgetSensors?探针由单晶硅做的,适用于目前大部分的商业AFM显微镜(VEECO, DI Nanoscope, AsylumResearch, Agilent/Molecular Imaging, PSI, JEOL,…)。针尖半径10nm应用:轻敲模式(间接接触)常规:旋转单片硅探针,对称针尖;支架尺寸:3.4×1.6×0.3 mm(可选在这种产品支架背上有调节凹槽);包被:30nm铝膜包被,加强信号反射。此款完全取代Bruker的MPP-11120-10。ValueRangeResonant Freq.300 kHz+/-100 kHzForce Constant40 N/m20 - 75 N/mLength125 μm+/-10 μmMean Width30 μm+/-5 μmThickness4 μm+/-1 μmTip Height17 μm+/-2 μmTip Set Back15 μm+/-5 μmTip Radius10 nm (Tap 300 300AL 300GD) 25nm (Electri-Tap 300) 15nm (Tap300DLC) Also see individual probes.Half Cone Angle20°-25° along cantilever axis 25°-30° from side 10°-at the apex 订购信息:货号产品名称规格TAP300AL-G-10Silicon AFM Probes, Tap 300 AL -G, Aluminum Reflex Coating AFM探针10/BX 更多AFM探针产品请直接联系海德公司。
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场,25直径视场目镜 (mm) 0.5视场,20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 2.5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场,25直径视场目镜 (mm) 10视场,20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场,25直径视场目镜 (mm) 2.5视场,20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
  • 立体显微镜配件
    立体显微镜配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,更多关于立体显微镜配件欢迎咨询! 光学照明研究公司提供高品质的光纤照明系统,该系统的价格不到与其相似系统的一半。不包括聚焦透镜,当产物需要聚焦/准直时可以加上聚焦透镜从远距离使用。 光纤照明/光源的替换灯泡 分叉型鹅颈光纤光管 Tritech研究公司的高品质分叉型光纤导光管将光源分为两束定向光束。放置之后,“鹅颈”鞘保持它的形状,所以光会留在用户想要的位置。如果需要从超过几英寸处(几厘米)获得光,可以添加聚焦透镜得到。 光纤光管的聚焦透镜 这个镜头用于Tritech研究公司的高品质的光纤导光管(单,双叉)。通过放置透镜,光纤束可以聚焦,并在一定程度上准直。 立体显微镜配件的LED双鹅颈照明灯 这个21世纪的双鹅颈式照明灯是6瓦的LED,给样品提供的光量与150瓦卤素灯光纤导光管系统提供的光量相近。比传统卤素显微镜照明灯的主要改进有: 节能25倍 灯泡寿命长40倍 静音运行(不需要风扇) 不论光线水平,白色光谱保持不变 最小的额外热量 此系统包括二个23英寸(59厘米)的鹅颈照明灯,放在用户瞄准的地方不动。 立体显微镜配件 带测微计目镜(放大倍数10X,15X,20X) 此目镜内置测微计,有10X和20X两个放大倍数。购买SMT-1体视显微镜时,此目镜可能是可选三个免费配件之一,也可能需要单独购买。 SMT1的有节臂杆支架,带底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。 SMT1的有节臂杆支架,台钳版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米阻杆。立柱高400mm。该表钳可以打开到75mm。 立体显微镜配件 灯泡 这个6伏15瓦的钨丝灯泡有自然的视野灯体和灰镜座,适用于原始的显微镜型号。这款SMT-1立体显微镜系统的更换灯泡有100小时的寿命。 立体显微镜系统灯泡 这些12伏10瓦特卤素灯泡带有方形灯体和米色的人体工学底座,适合新的显微镜型号。这种SMT-1立体显微镜系统的新更换灯泡有2000小时的寿命。 SMT1球轴承悬臂架,底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32mm的阻杆。立杆高400mm。 SMT1球轴承臂支架,台钳版 立柱直径为32mm。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。该台钳可以打开到75mm。 SMT1C-口三目光电管和数码摄像机一起使用 包括:双光圈光桥 C口适配器。请注明您的摄像机所需的去放大的水平。例如,“1/2英寸的”芯片照相机是使用0.65倍适配器的效果最好。如果使用1倍适配器,通过相机目镜看到图像的中心放大版本。如果使用0.35倍适配器,会看到一个“小插图”(通过目镜看到整个圆形图像在一个黑色的矩形内。) SMT1系统的10X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 SMT1系统的10X测微目镜这是一个10X单目镜,内置测微计分划板,这样用户就可以测量样品的尺寸或标记样品位置,以便其他人可以精确观察到同一点。订购SMT1立体显微镜系统时,可以选择此目镜为的3个免费的配件之一,也可以单独订购。 SMT1系统的15X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 SMT1系统的20X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 立体显微镜系统的0.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 立体显微镜系统的1.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 立体显微镜配件的2.0X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 用于SMT1显微镜的三目更新T-口 与数码相机一起使用 包括:双光圈光桥 3.5X单反投影镜头 摄影目镜 T-2螺纹连接光电管
  • 【rtespa - 150】bruker 原子力显微镜探针
    【rtespa-150】bruker原子力显微镜探针几何■矩形齿顶圆角半径nm尺寸:8最大:12频率赫兹尺寸:150最小:90最大:210长度um尺寸:125最小:15最大:135弹簧常量Nm尺寸:5最小:1.5最大:10宽度Nm尺寸:35最小:33最大:37
  • 红外显微镜配件
    红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜,它是一款科研级显微热成像仪,在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布,能够非接触式地测量电子器件的温度分布,查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用,可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域,可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言:空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;聚焦位移台:用于相机的精密聚焦和定位;X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中; 热控制台: 具有加热和制冷功能,用于精密器件的温度控制;红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点(hotspots)和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度(结温)*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息,同时,它可以产生实时的(real time)带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域,从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。
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