全谱电弧发射仪

等离子体发射光谱仪分类与“全谱直读”一词陆文伟上海交通大学分析测试中心, 上海　200030摘　要　本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题。指出“全谱直读”一词用于仪器分类的不严谨性。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词。主题词　等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅 固态检测器 全谱直读中图分类号:O657131 　　文献标识码:B 　　文章编号:100020593 (2002) 0220348202　收稿日期:2000208205 ,修订日期:2000212212　作者简介:陆文伟,1951 年生,上海交通大学分析测试中心高级工程师　　早期国外把等离子体发射光谱仪( ICP2OES) 仪器分成同时型(Simultanous) 和顺序型(Sequential) 二类。国内把色散系统区分为多色器(Polychromator) 、单色器(Monochromator) ,仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道) ,顺序型(单道扫描) 仪器[ 1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能,仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP2OES 仪器在其发展期间,又有N + 1 的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1～2 nm 内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。1991 年新的中阶梯光栅固态检测器ICP2OES 仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultaneous) 仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“Echelle grating solid state detector ICP2OES”的命名。1993 年该类仪器进入中国市场,国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗入期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[ 3 ]中。纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨,并含糊地影射二方面意思:11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 21 全部谱线的总体信号同时采集读出。从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavelength coverage range) 来看,一般仪器都在160～800 nm 左右。如有的仪器在167～782 nm ,有的在165～800 nm ,有的在175～900 nm ,有的在165～1 000 nm ,有的是在122～466 nm 基础上另加590 ,670 ,766 nm 的额外单个检测器。有的在超纯Ar 装置下短波段区扩展至134nm ,其长波段区能扩展至1 050 nm。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离“全谱”还是有距离的,而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围!实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的,不同级次的光谱波长区甚至重迭。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm 以上的间隙,其间隙随着级数增大而变小,严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在,尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应,固态检测器的分段或分个处理,都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪,光谱级次间波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条) 多得多。如目前仪器有6 000 多条的,有2 万7 千条的,有在2 万4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“全谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Direct reading) 出现在摄谱仪之后、光电倍© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片2读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活,为了适应样品分析元素高低浓度大小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(Subarray) 控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel) 控制曝光。“全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP2AES 英文缩写名词,因AES 含义面广,易与俄歇电子光谱[ 4 ]混淆,现在逐渐被ICP2OES 取代。切入实际的名词才会在发展中生存。参考文献　[ 1 ] 　化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则,中华人民共和国国家标准GB10725289.　[ 2 ] 　发射光谱仪检定规程,中华人民共和国国家计量检定规程J TG768294.　[ 3 ] 　感耦等离子体原子发射光谱方法通则 感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程,1997. (第一版) 科学技术文献出版社,现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程.　[ 4 ] 　英汉仪器仪表词汇,科学出版社,1987 (第一版) .

电弧型 发射光谱是指什么意思？

请问全谱等离子体发射光谱仪的分析原理

全谱直读等离子体发射光谱仪与电感耦合等离子体原子发射光谱有什么区别么？

火花源/电弧原子发射光谱分析技术考核与培训大纲1 总则1.1 目标 熟悉火花源/ 电弧原子发射光谱（SPARK/ARC-AES ）分析技术基本概念及基础理论知识；了解 SPARK/ARC-AES 光谱仪组成结构及工作原理；具备SPARK/ARC-AES 光谱仪的实际操作能力；掌握SPARK/ARC-AES 分析技术在相关领域的应用。1.2 适用范围 本大纲适用于对金属固体样品进行直接分析的火花源/ 电弧原子发射光谱分析技术的考核与培训。适用仪器包括检测器为光电倍增管或CCD 的各类固定式、移动式火花源/电弧原子发射光谱仪。1.3 应具备的基础知识和技能1.3.1 通用基础 具备分析化学的基础知识。1.3.2 分析测试基本操作 具备分析化学实验的基本操作能力，具备实验室一般仪器和设备的操作能力。1.3.3 数据处理基础知识 具备数据统计处理和误差理论的基础知识。

我用的是美国利曼Prodigy XP全谱直读ICP发射光谱仪测试成分，但是今天开仪器后，打不开软件，老是停留在寻找方法的页面进不去，似乎是测试方法丢失，有没有这种情况的，求帮助啊！！

我用的是美国利曼Prodigy XP全谱直读ICP发射光谱仪测试成分，但是今天开仪器后，打不开软件，老是停留在寻找方法的页面进不去，似乎是测试方法丢失，该怎么办？？？？？求各位高手指点，多谢！

最近做用710-Es全谱直读等离子发射光谱仪检测电解质和电解液中的金属离子杂质含量，在检测过程中，遇到的主要问题是，钙，镁和钠的标准曲线总是校正不了，这个问题全是因为标液没有配好吗？容易污染？是否还有其他问题，或者我应该怎么去避免这些问题。还有就是我现在刚开始接触ICP，还不是很熟悉，在做ICP时，有什么要注意的，我现在有个课题，是关于方法的改进，可以提高金属离子的准确度，我应该从哪几方面着手，我应该查阅什么资料？？？

Prodigy全谱直读ICP发射光谱仪使用心得？

电弧发射光谱因其固体进样的特点，在难溶样品的分析领域占有一定的地位。而有色行业中，高纯金属及高纯氧化物因其基体的高纯、难溶，种类多样性，杂质含量低等特征，采用电弧发射光谱法更具有独特的优势。国家也制定了一系列的标准方法予以支撑。电弧发射光谱发测定高纯金属中杂质，通常将样品与缓冲剂按一定比例混匀后，装入专用的光谱纯石墨电极中，进行激发、测定。高纯物质中杂质的含量极低，且常含有成岩元素，故样品在分析过程中防污染工作十分重要，在一定程度上会影响实验结果，进而影响该批产品的品质和价格。分析过程中可能会引入污染的几个方面主要有：1. 坩埚：对于一些难激发金属，通常要将其转化成氧化物后再进行样品分析。此时，称取一定量的样品薄铺于具盖陶瓷（或氧化锆）坩埚中，放入马弗炉充分氧化。氧化后样品温度较高，需放凉后拿取，而在降温的过程中，外界空气会流入炉腔，造成样品污染，具盖坩埚在很大程度上减小了污染。2. 氧化温度：样品氧化的温度根据成分不同选择，不能过高，否则坩埚中的基体元素会进入样品中造成污染。3. 研钵：样品与缓冲剂混合通常在研钵中进行，常用的玛瑙研博适用于多数样品混合，但若样品的杂质含量极低，则不建议选用玛瑙材质，可改用有机玻璃材质，且在清洗时不要用含石英砂等质地较硬的清洗剂。4. 电极：装样品所用的电极通常为光谱纯石墨电极，但在电极运输和加工过程中，不可避免会引入污染。先用纯水超声清洗，烘干后，再进行纯化处理，即在电弧上空烧几秒。经过实验对比，发现纯化后的电极成岩元素显著降低，尤其是Si、Mg等。5. 压棒：有色行业因样品种类不同，所用的电极形状和激发方式不同，有些样品选择间接蒸发时，则在装样时需要下压一定距离。通常采用不锈钢材质的压棒进行压样，而质地较差的不锈钢也会引入Fe、Ni等元素污染，应选择质量较好、硬度较高的不锈钢材质。也可以选择直接用石墨电极作为压棒，但石墨压棒不容易看出清洁程度，故换样压样时要更注意棒的清洁，充分考虑压头磨损情况。6. 缓冲剂：为了抑制基体元素的蒸发、促进分析元素持续稳定的蒸发，常需要在样品中加入缓冲剂（或称载体），缓冲剂要求光谱纯，使得杂质含量尽量低，对于含有被测元素的杂质需要严格控控制，可在使用前进行激发检验。7. 电极夹：样品在激发过程中，一部分粉尘会随着排风排出，还有一部分集结在电极夹上，不同种类的样品灰尘飘落可能造成相互污染，故应在每次实验结束后，彻底清洁电极夹及操作室。此外，样品储存过程中也要注意污染。对于高纯物质的分析，洁净间是必须的，作为一个分析人员，在实验的各个环节都应严格把控，尽量减小污染的可能。

采用交流电弧-发射光谱法测定区域地球化学样品中银、硼、锡时注意事项有哪些？

老师们，标准规范区域地球化学交流电弧发射光谱法测银DZT0279.11-2016中[img=,690,96]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403211027598619_5099_4104231_3.png!w690x96.jpg[/img]在红外灯下干燥45分钟，红外灯干燥的目的是什么？可以改成烘箱75℃烘干一小时吗？

在地矿行业中，用电弧发射光谱仪测定样品中微量及痕量元素的历史已有几十年，分析仪器的不断升级创新，使得很多元素的检测已由其他仪器设备替代，但Ag\Sn\B等元素由于其各自的特殊性，仍延续电弧发射光谱的标准方法（DZ/T0279.11-2016《区域地球化学样品分析方法 第11部分：银、硼和锡量测定 交流电弧-发射光谱法》）。而与之配套应用最广的分析方法是中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所的《发射光谱法测定勘察地球化学样品中银硼锡钼铅》。该方法中，将地质样品与专用光谱缓冲剂1:1混匀后，装入专用光谱纯石墨电极中，进行摄谱、测定。下面我就测定过程中一些需要注意的点进行一一梳理。有所疏漏或错误的地方，欢迎补充交流~[b]一、前处理：[color=red]全过程中防污染！[/color]1. 缓冲剂与电极：[/b]常用4*4杯型下电极，平头柱状/锥形上电极，换样品换上电极；同批次处理的分析样品和管样所用的缓冲剂和电极规格一致；检测无被测元素；[b][color=red]注[/color][/b][color=red]:[/color][color=red]通常为了区分，将硅酸盐标样简称为标样，因其主要用于建标线；[/color][color=red]水系、土壤及岩石标样称为管样或控样，因其主要用于校正及精密度测试。[/color][b]2. 混样：[/b]样品量0.1:0.1g装2个电极可测准确度，0.5:0.5g可装12个电极做RSD；称量误差±0.0003g，天平调平；混样前将样品烘干，在一定程度上可以改善粘样；混样方式选择：手磨或机磨，要充分均匀；混合效果：压撵混后样品，目视无颜色差；做RSD验证；混样容器洁净、无被测元素污染；清洗所用石英砂应检测无被测元素。与其他化学分析处理分开，如荧光用硼氢化钾、相板Ag污染等；3. [b]装样：[/b]压实，碾平，样品不要突出电极上沿；擦除电极外壁多余样品；注意避免样品交叉污染；滴液时待第一滴渗入后再滴第二滴，同时分析的样品滴液浓度一致；装好的样品烘干放凉后再摄谱；[b]二、 激发/摄谱1. 采集时间：[/b]根据蒸发曲线确定各元素的采集时间，使灵敏度更高；同一元素的不同波长灵敏度不同，采集时间不同；内标与被测元素蒸发行为一致、采集时间一致；采集时间与电流相关。2. [b]电极距:[/b]过小，挡光栏，熔融样品红光增加背景强度，故冒样样品下电极距稍大，上电极距稍小；过大，电流小，甚至不起弧，保护间隙放电；采用自动对电极使得一致性更好；对于粘样严重的样品或接触起弧的样品，可在激发过程中调节上下电极间距，使激发结果有效。3. [b]电流与强度：[/b]交流电弧更适用于地质等非导电样品；在出现异常或移机等情况时，可用标样验证仪器灵敏度，与安装时对比是否降低；一定范围内，电流越大，灵敏度越高，但易造成重复性不稳定；4. [b]水冷/排风：[/b]在激发过程中，变阻器温度的的稳定影响激发电流的稳定，从而影响激发强度的稳定，故以前的一米、两米光栅摄谱仪常需要预热后测样；对于使用低温漂变阻器的新型发射光谱仪器，则无需预热；地质样品量巨大，长时间不间断激发，电极夹中弹簧易烧坏，水冷可有效保护电极夹功能；排风量过大，样品强度会受到明显的影响，甚至影响起弧；安装防倒灌可调节风量的排风；[b]三、 数据处理1. 管样校正[/b]硅酸盐标样与水系土壤等管样基体的差异，造成激发强度的差异，故需校正；选择覆盖测量范围的，高、中、低含量梯度均匀的，一系列水系、土壤或岩石管样进行校正；校正用管样应为非特殊基体，如高铁、石灰石、碳酸盐等，不具代表性；双样激发减小误差；管样要相对均匀的插入样品中，校正激发过程中的一部分误差；[b]2. 内标：[/b]选择与分析元素蒸发行为一致的内标波长；并非就近越好；[b]3. 多线：[/b]对于含量范围较宽的元素，可选择两条或多条不同灵敏度的波长谱线，设置合适的转换值，软件自动衔接计算出唯一结果；4. [b]拟合方式：[/b]对于同一元素的同一波长来说，不同拟合方式对不同含量的准确度影响不同，选择合理的拟合方式，设置合适的转换值，软件自动转换计算出唯一结果；5. [b]半定量：[/b]除可测化探配套的3元素外，还可测Mo、Pb、Zn、Ni、Cr、Co、Cu、W等；对于地矿中全元素分析，一次激发，报出全部检测元素数据结果；[b]6. 定性：[/b]电弧发射光谱具备丰富的发射光谱线，除可定量外，还具备定性的功能；根据灵敏线及特征线判断有无。

[b][color=#444444]为什么以火焰、电弧和[/color][color=#444444]ICP[/color][color=#444444]为激发光源的发射光谱法比火焰[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]法更适合同时测定多种元素？[/color][/b]

清华大学化学系仪器分析教程之＿02原子发射光谱法 清清华大学化学系仪器分析教程之＿02原子发射光谱法 概述原子光谱的产生光谱项原子能级与能级图 原子谱线的强度及其影响因素主要部件的性能与作用原子发射光谱仪的类型直流电弧低压交流电弧高压电容火花电感耦合高频等离子体（ICP）光源多道直读光谱仪定性分析半定量分析光谱干扰非光谱干扰 配有很详细的FLASH动画说明，强烈推荐下载。...... http://www.instrument.com.cn/download/shtml/008189.shtml

全谱直读等离子体原子发射光谱仪 IRIS INTREPIDⅡ型 美国热电的中国还有什么部门能够维修呀！请各位同仁提供，谢谢！

使用Andersen碰撞采样器，Teflon（PTFE）滤膜采集大气种的PM2.5欲采用全谱等离子体发射光谱仪（美国热电公司的IRIS Intrepid Ⅱxsp）做阳离子分析 我们原定的预处理方案为：将滤膜剪碎于100mL塑料瓶中,加入10mL左右的蒸馏水。将塑料瓶在振荡器中振荡30min，超声萃取10min后用0.45μm滤膜抽滤，滤液定容到25mL。可是不知道直接用蒸馏水萃取的方法是否得当？还是要用HNO3和HCl提（1：1）提取呢？

本人负责检测公司化学实验室的，想购买1台二手ICP-OES全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪（PerkinElmer）;一台二手戴安 ICS-90 离子色谱仪，希望各位同仁有消息的和我联系！把联系方式发到我邮箱：1241757657@qq.com

为了让大家能形象的了解AES的内部情况，特把不同AES的几个FLASH奉上，需要下载的朋友到资料中心去下载PerkinElmer全谱直读等离子体发射光谱仪示意图：请点光源[flash]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/200524204648_01_0_3.swf[/flash]

ICP光谱法是上世纪60年代提出、70年代迅速发展起来的一种分析方法，它的迅速发展和广泛应用是与其克服了经典光源和原子化器的局限性分不开的，与经典光谱法相比它具有如下优点：　1. 因为ICP光源具有良好的原子化、激发和电离能力，所以它具有很好的检出限。对于多数元素，其检出限一般为0.1～100ng/ml。　2. 因为ICP光源具有良好的稳定性，所以它具有很好的精密度，当分析物含量不是很低即明显高于检出限时，其RSD一般可在1%以下，好时可在0.5%以下。　3. 因为ICP发射光谱法受样品基体的影响很小，所以参比样品无须进行严格的基体匹配，同时在一般情况下亦可不用内标，也不必采用添加剂，因此它具有良好的准确度。这是ICP光谱法最主要的优点之一。　4. ICP发射光谱法的分析校正曲线具有很宽的线性范围，在一般场合为5个数量级，好时可达6个数量级。　5. ICP发射光谱法具有同时或顺序多元素测定能力，特别是固体成像检测器的开发和使用及全谱直读光谱仪的商品化更增强了它的多元素同时分析的能力。　6. 由于ICP发射光谱法在一般情况下无须进行基体匹配且分析校正曲线具有很宽的线性范围，所以它操作简便易于掌握，特别是对于液体样品的分析。

直读光谱仪 的原名叫原子发射光谱仪，叫直读的原因是相对于摄谱仪和早期的发射光谱仪而言，由于在70年代以前还无电脑采用，所有的光电转换出来的电流信号都用数码管读数，然后在对数转换纸上绘出曲线并求出含量值，电脑技术在光谱仪应用后，所有的数据处理全部由电脑完成，可直接换算出含量，所以比较形象的管它叫直接可读出结果，简称就叫直读了，在国外是没有这个概念的。直读光谱仪 和 ICP 都属于发射光谱分析仪器,区别在于激发方式不同,ICP中文名字是 电感耦合等离子体 ,是通过线圈磁场达到高温使样本的状态呈等离子态然后进行测量的,而普通的直读光谱仪一般采用电火花,电弧或者辉光放电的方式把样本打成蒸汽进行激发的,在效果上ICP要比普通直读光谱仪器的检出限小,精度高,但是在进样系统上要求非常严格,无好的进样系统就只能做溶液样本.国外先进ICP可做固体样本。直读光谱仪在什么情况下必须做标准化？直读光谱仪做标准化其实也要是看用的什么品牌的机器，仪器正常使用的情况下，需要定期（一般为一周）做标准化。若测试数据精确稳定，可适当延长标准化周期。但有如下情况之一，仪器必须做标准化，否则可能会影响测试精密度。（如果是用的美国热电的ARL3460或者ARL4460，标准化时间可以适当放长，像在上海宝钢，一般是一个月标准化一次），在以下几项变动后，建议都要做一下标准化。（1）仪器移动后。因实验室或厂址更改，可能需要对直读光谱仪进行转移，为保证测试的精密度，转移后需要重新进行标准化操作。（2）清洗透镜后。长时间使用会导致透镜变脏，在清洗透镜后需要对仪器重新做标准化。（3）清理激发台或更换电极后，建议客户重新做标准化。（4）光谱校正后。

固体分析有：电弧 仅用于定性分析火花 广泛应用于固体分析, 少量用于研发辉光放电 主要用于表面分析和全分析激光等离子体 仍处于研发状态液体分析有：等离子体 (ICP, DCP, MIP,…) 广泛应用于溶液分析 发射光谱法和质谱法

[b][color=#cc0000]大家都把光电直读光谱或火花直读光谱统一称为直读光谱，为什么有些文献把直读光谱又叫成火花源原子发射光谱？是不是因为为了和电弧直读光谱区分开来？[/color][/b]

原子发射光谱分析的误差，主要来源是光源，因此在选择光源是应尽量满足以下要求：1) 高灵敏度，随着样品中浓度微小变化，其检出的信号有较大的变化；2) 低检出限，能对微量和痕量成份进行检测；3) 良好的稳定性，试样能稳定地蒸发、原子化和激发，分析结果具有较高的精密度；4) 谱线强度与背景强度之比大（信噪比大）；5) 分析速度快；6) 结构简单，容易操作，安全；7) 自吸收效应小，校准曲线的线性范围宽。 原子发射光谱仪的类型，目前常用的光源有以下两种：一类是经典光源（电弧及火花），另一类是等离子体及辉光放电光源，其中以电感耦合等离子体光源（ICP）居多，在不同的领域中得到广泛的应用。

我现在负责ICP-OES电感耦合等离子原子发射光谱仪(全谱直读Vista系列，单道Liberty系列) ，有经验的同志能和我多交流啊

大家都知道，除了H以外的元素的光谱都有若干条谱线，我一直很迷糊的是，空心阴极灯所发射的光谱是不是包含了该元素的所有谱线？还是只有一条共振线（第一激发态--基态）？如果全部谱线都有，那么原吸的单色器是在火焰的后面，如何选择所要用的谱线如果只有一条，那他是如何控制不产生第n激发态无最佳答案！

环境检测中，当样品被光源激发时，常常同时发出一些波长范围较宽的连续辐射，形成背景叠加在线光谱上。被测样品产生背景的原因主要有如下几种：分子的辐射、谱线的扩散、离子的复合。　　什么是原子发射光谱背景?其消除的方法有哪些?　　环境检测中，当样品被光源激发时，常常同时发出一些波长范围较宽的连续辐射，形成芦景叠加在线光谱上。被测样品产生背景的原因主要有如下几种。　　(1)分子的辐射 在光源中未解离的分子所发射的带光谱会造成背景。在电弧光源中，因空气中的N。和碳电极挥发的C能生成稳定的化合物CN分子，它在350~420nm有吸收，干扰了许多元素的灵敏线。为了避免CN的影响，可不用碳电极。　　(2)谱线的扩散 有些金属元素(如锌、铝、镁、锑、铋、锡、铅等)的一些谱线是很强烈的扩散线，可在其周围的一定宽度内对其他谱线形成强烈的背景。　　(3)离子的复合 放电间隙中，离子和电子复合成中性原子时，也会产生连续辐射，其范围很宽，可在整个光谱区域内形成背景。火花光源因形成离子较多，由离子复合产生的背景较强，尤其在紫外光区。　　从理论上讲，背景会影响环境检测分析的准确度，应予以扣除。但在摄谱法中，因为在扣除背景的过程中，要引入附加的误差，故一般不采用扣除背景的方法，而针对产生背景的原因，尽量减弱、抑制背景，或选用不受干扰的谱线进行测定。

我所购进一台ICP-OES电感耦合等离子原子发射光谱仪(全谱直读Vista系列，单道Liberty系列)，现找寻相关资料。我的E-MAIL:chongshan@sohu.com

随着ICP发射光谱分析应用的日益普及，现在我们国家应用ICP发射光谱进行元素分析的人已明显增多，它的应用领域也越来越广，因此从事ICP发射光谱分析的人也随之不断增多。近来曾多次看到网友发的有关分析线选择的求助帖，所以想借此和大家交流一下。　　所有新的分析技术出现时，往往都会注意到它的干扰问题，因为干扰效应是分析化学中最为复杂的问题之一，或者说分析化学中90%以上的理论问题，或多或少都是与解决干扰问题相关联的。　　原子发射光谱法也是一样，特别是由谱线重叠引起的光谱干扰更是如此。因为发射光谱的谱线非常之多，对于结构简单的元素来说，其谱线数量少则至少也有两位数，而对于那些结构复杂的元素来说，其谱线数量更是在5位数以上。　　这也不难理解，因为气态自由原子，在获得能量后可以被激发，而每个原子都有很多的激发态。如果气态自由原子所获得的能量超过了其电离能，它还会发生电离，电离之后如果继续获得能量，同样会被激发而跃迁到离子的激发态上，所以每一种元素的原子包括其离子都会具有很多很多的能级。　　现在的ICP全谱直读型仪器，大多采用中阶梯光栅的二维分光的方式，所以得到的谱图已不再象过去的一维线光谱，它是二维的或三维的（第三维是发射强度）。因此每当有人问我发射光谱有多少谱线时，我就会给他们看多元素的二维发射光谱的谱图，我就会问他们这样的谱图看上去象不象晴天无云的夜晚中天上的星星，它们有大的有小的，有亮的有暗的，如果有人让你去数星星你还想知道它们有多少吗？　　正是因为原子发射光谱有如此多的谱线，所以当发射光谱的仪器其分光系统的色散能力和分辨能力不够时，一些波长相差很小的谱线就会部分地或完全地重叠在一起，形成光谱干扰。至今还没有一台仪器可以将所有原子谱线都能分开的光谱仪器。这就是为什么我们在进行原子发射光谱分析时要处理光谱干扰的原因。谱线多是坏事也是好事，因为它在容易形成干扰的同时也为我们提供了更多的选择余地，为我们提供了非常丰富的原子结构信息，这也正是为什么发射光谱定性分析准确可靠的重要原因。　　好在过去的发射光谱仪器中，有一种采用光电倍增管对发射光谱的谱线强度进行检测的叫多道仪器，因为它可以进行多元素同时测定，所以对每种元素通常只提供一条固定波长的谱线，这样就不可避免地要解决由谱线重叠引起的光谱干扰问题，所以过去曾经有很多人专门从事这方面的研究，因此建立了很多比较好的和行之有效的校正方法，其中现在全谱直读仪器软件中用得比较多的一个是干扰系数法，另一个就是谱线解析法。因为关于这方面的内容比较多，所以在此不便作更多的熬述，在江祖成等编写的《现代原子发射光谱分析》有专门的一章介绍这方面的内容。　　知道了谱线重叠干扰该如何校正之后，接下来的问题就是如何去判断和识别这一干扰了。现在的全谱直读型仪器采用的是固体成像检测器来记录和测量谱线的发射强度，它们一般都具有呈现谱线轮廓的功能，我们可以通过这一功能直接观察分析线的情况，尽管它们都是峰形的，但它们可能会因元素的不同或谱线的不同而呈现出各种形状，它们可能有对称的有非对称的，有宽粗的有苗条的，有俊俏的有难看的，我们可以利用这一功能非常直观地看出线翼重叠。　　对于完全重叠或近乎完全重叠的谱线的情况可能会复杂一些，因为在一般情况下，仪器软件会对每一种元素提供一条以上可供选择的分析线，在进行分析测定时，可以多选几条谱线，如果由所有谱线都能得出一致的结果，就表明分析结果准确可靠，没有谱线干扰线的影响，反之的话结果明显偏高的，就很可能存在完全重叠或近乎完全重叠的干扰谱线。如果我们将基体分离并扣除空白后，之前结果明显偏高的谱线不再偏高，则一般就可以进一步确定它存在完全重叠或近乎完全重叠的谱线干扰。　　 http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20081029/1554124/

前2年本来打算买热电的直读，可是因为经费的问题，没有搞定。现在热电的直流电弧直读光谱停产了，我也没再打听到有哪个厂家在生产直流电弧的直读光谱，大家有这方面的信息吗？