太谱反射率测试

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

集总透过率、可见光透射比、总吸光度、L 、A、 B、sRGB等参数光谱透反射率测试仪集光谱、透过率、反射率、饱和度、L、A、B等参数采用5英寸大屏，各测量参数及曲线实时显示，使用方便快捷，可直接测试 材料和镜片的透过率测试。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。

反射率透过率测试系统

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

Labsphere的RSA-FO-TW-76反射率/透射率积分球塔，专为多种测量配置设计，展现了在反射率和透射率分析领域中的卓越适应性。此积分球塔亮点在于其灵活多变的样品入口端口，能够支持（8°/h）反射和镜面排除（8/d）两种几何结构，确保测量的多样性和准确性。同时，配备的参考光束端口有效消除了替代误差，光纤光谱仪端口便于光谱分析，而反射样品端口则进一步增强了其全面功能。测试参数单光束和双光束反射率单光束和双光束透射率8°/h 反射率漫反射率镜面反射率材料的反射率和透射率测量

蓝菲光学LFHH-1000手持光谱反射率测试仪基于安卓平台集成了可见到近红外CCD光谱仪，获取反射光谱并计算反射率。便携式的设计便于应用于多种场景，特别是户外使用。测试数据可以保存或上传，便于离线分析。反射率测试应用广泛，可以用来分析物体表面颜色，物质构成甚至土壤或植被状态等。采用光谱仪测试反射率可以迅速准确的一次性获取一段光谱上的反射率。蓝菲光学拥有逾40年的光谱分析系统设计与应用经验。LFHH-1000是蓝菲光学将传统的光谱仪与安卓移动设备相结合的产品，旨在为用户带来便捷的测试体验。LFHH-1000完全基于安卓系统开发，外形如普通手机，使用简易明了，无需培训即可上手。除了测试光谱外，还内置了反射率计算功能，可以将待测物光谱与蓝菲标准白板光谱进行比较，直接获取并显示反射率。LFHH-1000除了标配25°接受角的收光元件外还可以外接SMA905光纤，方便用户完成特殊的测试需求。蓝菲光学Spectralon标准白板是业界普遍使用的参考板，提供不同的尺寸和反射率选择，并且可以选择NIST可溯源的反射率数据。为精确测量反射率提供可靠保障。系统特点便携式设计，使用与手机类似可视化操作，现场得到光谱反射率25°角收光，提高进光量SMA905接口，可扩展其他探测形式GPS定位，测试地理位置直接获取数据拷贝功能长达6小时不需充电软件暗电流扣除功能规格参数型 号:LFHH-1000料 号:LAA-00101-100探测器:Hamamatsu S11639光谱范围（nm）:350-1050像素:2048*1光谱分辨率(nm):约1.5信噪比：300:1波长准确性:0.2nmA/D采样:16bit收光角度:25°暗电流修正:软件积分时间（ms）: 10-65标准板大小（cm）:30*30标准板反射率：99%，其他反射率可选供电:内置锂电池仪器尺寸(L*W*H/cm):17.5*9*3.5仪器重量（kg）:1

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

RSA-REF-50-DB 积分球专为平面样品颜色等表面的反射率测量设计，确保提供均匀且高质量的表面照明。该RSA-REF-50-DB拥有两大核心功能：提供全面的漫射照明，精准助力平面表面颜色的测定。通过集成的光纤端口高效收集反射光，以进行详细的光谱反射率表征。特点内置光源8/H反射率测量几何结构RSA-REF-50-DB 以其小巧紧凑的体积和卓越的耐用性，不仅适用于实验室环境，也能满足户外使用的需求。该设备的所有电子元件，包括易于更换的灯源，仅需松开底部的两个螺丝即可轻松进行更换。

自动绝对反射率测量系统可以测量绝对反射率和透射率，也可同时改变样品的入射角。 适用于测量太阳能电池元件、半导体、薄膜、光学元件、光学器件等各种固态样品的光谱特性和膜厚。 通过旋转样品台来设置入射角，通过滑动积分球来控制光接收角。 此外，入射角和接收角可以在异步模式下单独设置。 此外，还可以通过指定 P 和 S 偏振并任意设置偏振片的角度来研究样品的偏振特性。&bull 样品室及内部结构图中显示了自动绝对反射率测量单元的内部图 1 和图 2。 通过旋转样品台和检测器，可以改变入射角和光接收角， 样品台和检测部分由PC控制，透射率和绝对反射率可以在同一系统中进行评估。&bull 防窥视膜的视角测量随着在智能手机或其他设备屏幕上的防窥膜具有盲人状结构，其中透明层和遮光层交替排列，因此无法从左右、顶部和底部等看到屏幕。 由于这种结构，视角会随着着色层的高度和间距而变化。 评估此类结构的视角和透射率的最佳方法是使用绝对反射率测量单元，该单元可以将样品旋转到指定角度并测量光谱。在这里，我们介绍了测量智能手机防窥视膜透射光谱的角度依赖性的结果（产品规格：65度视角）。 图 4 显示了以 60 度间隔对入射角 &minus 60~20度进行光谱测量获得的间隔数据，图 5 显示了 550 nm 处透射率的角度依赖性。 从图4可以看出，在±32.5度左右的薄膜标称视角下，透光率约为5%，几乎没有透光

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以完全闭合，把外界光的影响减到最低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm； ●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；● 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标；●软件 可以测量整段光谱曲线，自动获取6个光谱位置透过率反射率数值，可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头：能在220V±10%，50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准，否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境：10-35℃、相对湿度10-80%（无结露）●光谱范围：380-1050nm（最宽可达200-2500nm，可以根据客户的要求定制范围）。●样品台尺寸：195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓，减少外界光线对测量结果的影响。●光源：高性能卤素灯（可根据光谱范围和样品特性定制光源）。●RT100软件：可以测量整段光谱曲线，可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值，设定阈值自动判断测量合格与否。

简要描述：本太阳光谱反射率测量仪配备不同的太阳能测量光谱范围可选。SSR能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率，甚至还可测透明材料透射率(zui厚可测 6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的精度为，重复精度在0.003。主要优势：使用控制器面板上的按钮，操作者可以选择显示读出相应太阳光谱的吸收率还是反射率。另外六个探测器所对应的光谱，其吸收率和反射率也能独立地显示出来。仪器的校准和调试可以通过控制器上的一个按钮一键完成。可以zui多保存五组不同标准的校准数据在控制器里，同时还允许客户自己使用另外的标准来使用仪器。可选配件：自定义适配器: 适配器可用来测量非平坦表面的反射率和吸收率。专门测量圆柱体的适配器可用来测量直径zui小到13mm的圆柱体表面。仪器的测量头处有一个专门的连接口可连接各种适配器，且不会影响仪器的正常使用。适配器是用来匹配不同的测量表面，且该表面可对应 重复测量的测量端口。同样，我们也为适配 器提供了校准标准和仪器控制器上的校准指令。对于平面的检测和非平面的检测，其操 作方法都是一样的。手持装置: 当我们必须手持本仪器来对准 样品时我们可以选本配置。12V手持便携式电源:使D&S Solar Spectrum Reflectometer Model SSR-ER变 成手持式的, 另外配备一个可选的电池组。电池组附带自己的可充电电池,充电系统和手提箱。当SSR-ER连接12v电池组时可连续用5个小时。 透过率部件:D&S透过率部件SSR-T是可以 直接插入SSR-R反射率测量仪上的，这样可 使该仪器能够测量总太阳能透过率。技术参数：测量光谱:为了匹配不同的太阳光谱，我们配 置了六个经过高精度标定的探测器来对应不 同的光谱范围。通过创建一个自定义加权法 来配置每个仪器,仪器对太阳光谱的匹配得 到了优化，而我们的仪器之间的差异也缩减 到zui小。DS太阳光谱反射率测量仪精度: 对一个较典型太阳能光谱范围，偏差大 约为±0.002，标准差大约为0.005。漂移: 5分钟预热后, 漂移小于 +/- (读数的1%+ 0.003)每小时。温度：zui大工作温度电子控制器zui大可耐140 F (60 C). 测量头和透射率附件zui大可耐 120F (50 C).湿度: 存储和工作湿度zui大80%校准标准:提供漫反射和镜面反射标准。这些 是二级标准，校准标准可溯源至NBS标准 (2019和2023)。标准的校准数据被编程在电 子封装中的只读存储器中，并提供在校准记 录上。测量端口:反射率测量端口直径为1英寸 (2.54cm)。将样品放置在一个特氟龙垫片 上，这个垫圈可以保护样本表面避免在测灯: 可替换卤钨灯分辨率:4位数的液晶显示结果代表了我们所 测量的反射率，吸收率和透射率都能达到 0.001级别的分辨率。重复性: +/- 0.003 单元电源要求: 100-240 VAC, 50 to 60 Hz, 通用 电源适配器并配备模块化的电源线。手提箱:手提箱可放置测量头、电缆、标准手 册、备件和其他选项(不包括透射附件)。电缆:软性电缆用于连接仪器测量头和控制 器。标准电缆长度是5英尺(1.5米)。可选的电 缆长度32英尺(10米)。重量:测量头,2磅。(0.9公斤) 电子控制器4 磅。(1.8公斤),透射附件10磅。(4.5公斤)

SSR-ER太阳光谱反射率仪 SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。 采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。 默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。 应用领域： 航空领域：热控制涂层 控制领域：镀膜、涂层 太阳能领域：吸收涂层、反射涂层、镜面和反射镜 技术参数： 定制测量头：标配测量头用来测量平面样品材料，可定制测量头用来测量曲面材料样品，如13mm直径圆柱面。 手柄：便于测量使用 12V便携供电套装：可连续测量5个小时的12V电池、充电器、运输箱 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001 重复性：±0.003 准确性：±0.002 漂移：5分钟预热，漂移小于每小时±1%或者读数+0.003 温度：电子组件最高操作温度60℃，测量头最高50℃ 湿度：最大80% 标准体：提供漫反射和镜面反射标准体，经过NBS定标 测量端口：1英寸直径，最小样品直径1.1英寸， 光源：插拔式可换钨丝灯 供电：100-240VAC通用电源 线缆：标配长度1.5m，可选长度10m 重量：测量头0.9kg，电子模块1.8kg，透射率附件4.5kg 透射率测量附件：SSR-T透射率测量附件可以和SSR-R反射测量头兼容进行样品太阳辐射透射率测量，透射率测量角度从法线方向至60°可调，采用漫反射光源 照明并测量。 SSR-T和SSR-R安装示意图如下： 订货指南： SSR-ER 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，反射率测量头SSR-R，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 SSR-ER-12V 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，具有手柄的反射率测量头SSR-ER，可实现5个小时连续测量的12v电池和充电器，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 可选项： SSR-T 透射率测量附件 产地：美国

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。测量反射率的时候，必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射。我们观察到物体的颜色大多数是基于漫反射，而那些非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射和漫反射同时存在。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的，另外需要判断我们是否要接收全部还是部分的反射光。在食品应用中，大多数反射测量都是基于漫反射来测定的。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取反射率值，数据可重复导入读取、使用无需暗室操作应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1010，石英光纤。光纤数量：2积分球SIM-3003-02501，1英寸反射用测光积分球积分球支架BIM-6316-25，积分球支架标准板SIM-6326-30，镜面反射标准板 或 SIM-6304-20，漫反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

欢迎来到精确光谱反射率和透射率测量的前沿，我们为您提供设计用于实际分析的灵活创新套件。我们的套件结合了可靠性和易用性，为各行业的研究人员、工程师和专业人士提供强大支持。我们的套件设计灵活可靠，适用于各种应用和环境。无论您身处研究、开发还是质量控制领域，我们的解决方案都能助您实现准确、可重复的光学测量。主要特点：&bull 光纤光源：- 我们的光纤光源提供稳定的宽带和近准直照明，确保样品和参照物之间的结果一致。&bull 光谱仪：- 附带的光谱仪提供高分辨率光谱分析，允许对测试样品进行可见光-近红外（VIS-NIR）表征。&bull 积分球：从我们的反射率和透射率积分球系列中选择，以满足您特定的测量需求：- 单光束反射率积分球：适用于单光束设置下测量反射率特性，为反射分析提供简单性和准确性。- 双光束反射率测量积分球：允许在测试样品和参考标准板光谱反射率之间进行替代误差校正，使用单个参考物即可测量广泛的光谱反射率。- 双光束反射率和透射率测量积分球：专为全面分析而设计，此积分球允许从单个测试台同时测量反射率和透射率，为测试样品与光的相互作用提供完整理解。

反射/透射率积分球应用领域：材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择：Spectraflect涂料，在300 – 2400 nm波长范围内效果较好；Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口，可容纳样品和9°反射光束，在球的顶部有一个0.5英寸探测器口，镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品，顶部的中心安装平台装有参考光束，积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构；RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射，挡板采用最小化设计，使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部，使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束，也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架，方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

为提高太阳电池的光电转换效率，在制程上需要减少太阳光入射电池后被表面反射所造成的损失，本测试仪针对这一制程上的需求及太阳电池绒面特性，采用D8积分式光学结构，测量材料表面的反射率，对太阳电池制程中的工艺改进，提供有效的分析手段。 产品特点：大功率的稳态太阳光模拟光源配置应用在科研级的分光及探测系统对比测量标准溯源至NIST简洁美观的专利设计去除影响测试结果的多余结构，减少系统误差优化传统的测试结构，提高测量的不确定度及重复性粗大误差自动去除，线性误差、周期误差等的自动校正可扩展增加温控、真空吸附等辅助结构 技术参数：波长范围350-1050nm(可扩展)测试样品尺寸&le 156x156mm(可扩展)测试模式Mapping系统重复性1%反射率范围0-100%单点测试时间＜3s校正时间＜15s杂散光1x10-3取样孔径&Phi 10mm校准板标准白板（溯源NIM）

1 产品简介传统测量样品反射率的反射光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。 图1：微区反射光谱测量系统本系统采用光纤共焦照明方式，与传统的科勒式照明相比，共焦照明方式可获得更小的采样直径，即具有更高的空间光谱分辨率。如图所示，光源经由光纤接入显微系统，通过显微物镜将光斑大小压缩至微米级别并汇聚在样品平面，样品产生的反射光经由显微系统汇聚在接收光纤端面处，发射光纤端面、接收光纤端面、成像相机平面以及样品平面四面属于共轭关系，从而使得可以实现高精度原位光谱测量。图2：微区反射测量系统原理示意图 此外，系统中所用到的微区反射率转接模块中预留一光谱通道，此通道可支持在反射率光谱基础上拓展添加透射率测量、拉曼光谱测量或荧光光谱测量功能，实现多光谱综合测量。 2 规格参数 光谱模块光谱范围200-2500nm光斑大小取决于显微镜物镜倍数及光纤芯径积分时间1ms-65s光源寿命氘灯：5000hrs钨灯：10000hrs显微模块物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜10X 20X 50X转换器内定位5孔转换器CCD成像可成像载物台双层机械式载物台，尺寸：210mm×140mm；移动范围：63mm×50mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调调焦结构粗微调同轴，配有限位装置和锁紧装置，粗动行程每圈：30mm，微调手轮格值2μm整机参数尺寸拉曼模块：160×140×42mm显微模块：550×280×380mm工作温度0-45℃工作湿度5%-80%3 产品特点l 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。l 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系统的杂散光可以得到有效抑制。l 宽光谱检测范围：搭配如海光电的光纤光谱仪，可实现200~2500nm宽光谱测量。l 灵活选配与升级：该系统除可实现反射测量外，同时可根据客户需求在此基础上添加特定测量模块从而实现反射+透射+拉曼+荧光多光谱测量。l 高精度测量：自动移动平台最小步进1μm，可实现微小区域光谱扫描测量。4 测试实例图

漫反射涂料-Spectraflect Spectraflect涂料采用硫酸钡及专有配方配制而成，采用这种涂料制成的表面具有近乎完美的漫反射特性。Spectraflect在紫外-可见-近红外光谱区内通常被用作反射涂料，且在300至2400 nm的波长范围内最为有效， 其在可见区域内的反射率通常可达96%-98%。Spectraflect在100° C左右的温度下具有热稳定性。其损伤阈值为1.7 J/cm2。它可通过喷涂的方式被轻松涂覆在任何基板上，Labsphere向客户提供喷涂服务，并在大型或复杂的项目中进行现场喷涂。 应用光学元器件积分球反射灯罩涂层光谱漫反射板等产品特点： 高反射比高朗伯特性光学性能稳定无毒

基板形状：平面、凸形、凹形、抛物面、超环面、椭圆面基板材料：石英、硅、zero dewer等多层膜材料：Mo/Si（50eV至100eV）、Ru/Si（50eV至100eV）、Zr/Al（50eV至70eV）、SiC/Mg（25eV至50eV）、Cr/C（至300eV）等基板尺寸：φ3毫米至φ300毫米（标准值为1英寸）产品特点：Mo/Si多层反射镜具有接近13纳米（90电子伏）波长的高反射率。NTT-AT公司的Mo/Si多层反射镜具有高达70％的正入射反射率。NTT-AT公司的XUV反射镜的材料、膜结构和基板形状可以定制以满足用户有关中心波长和光学装置的需求。产品应用：天文学XUV光电子光谱XUV显微EUV光刻等离子体物理阿秒科学参数：武汉东隆科技有限公司是日本NTT-AT中国区代理，如需了解更多产品详情，请随时来电垂询027-87807177/819.

仪器简介：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。技术参数：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。 二 ．工作原理 本仪器由主机、标准板（黑白各一块）、充电器等组成。 本机采用0° 照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于光电池表面时产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示。 三．主要技术参数 ．1、测量范围 0-100 2、重复精度 &le 0.3 3、示值误差 ± 1.0 4、环境温度 5º C~40º C 相对湿度＜85％ 5、输入电源 DC9&or 工作电压DC7.2V。 四．使用方法 1、 按下电源开关，开机预热2分钟。此时应把探头放在黑色标准板上为佳。 2、 校零：把主机放在黑色标准板上，调整主机上的校零旋钮.因本纪无负号显示，在调零过程中应如下操作：如顺时针方向旋转，这时显示数值由小变大，则立刻将旋转方向反转为逆时针方向旋转，慢慢旋转使机器显示为00.0。允许变动值为：00.1。 3、 校正标准值：把主机放在白色标准板上，调整主机的校标旋钮，使主机显示的数值与白色标准板的标定值一致。允许变动± 0.1反复调整一次（校零、校标）。 4、 测量RB值：把主机移至放有试样的黑色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RB值。 5、 测量Rw值：把主机移至放有试样的白色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为Rw值。 6、 计算求得对比率对比率（遮盖率）＝RB/RW× 100％ 五、注意事项： 1、为保证测量精度，仪器应经常校准，允许偏差为± 0.3，若大于± 0.3需重新校准。 2、为克服光电池的光照疲劳现象，在测试的间隙时间内应将主机放在黑色标准板上面。 3、试样的制备应严格依照相关的国家标准GB9271-88的规定进行。 4、仪器在使用前要进行充电，一般充一次电后可使用10小时左右，仪器电量不足时，显示窗左上方会出现&ldquo LOBAT&rdquo 字样，这时需马上充电。主要特点：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。 二 ．工作原理 本仪器由主机、标准板（黑白各一块）、充电器等组成。 本机采用0° 照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于光电池表面时产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示。

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows® 界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k） n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

仪器简介：简单方便的辐射率检测仪，适合玻璃、金属等技术参数：AE1辐射率仪技术参数 读数器: The D&S 微型数字伏特计, 型号RD1. 输出: 2.4 毫伏, nominal, with a sample emittance of 0.9 and a sample temperature of 78F(25C). 150 ohms nominal output impedance. 线性关系: 检测器输出值和辐射度值之间线性小于+ / - 0.01 units. 时间常数: 达到最终测量数据63%的时间约10 秒 黑体槽HEAT SINK: 黑体槽用来将校准标准和待测样品达到温度一致。 SAMPLE TEMPERATURE样品温度:最大 130F。样品温度和标准温度必须一致。 漂移DRIFT: 输出值可能随着外界温度环境的变化而略有改变，这些变化可以忽略，时间太久不测需要重新测试。 标准板: 主机提供四块校正标准圆板，两个高辐射的和两个低辐射的。其中一套高低辐射标准板用来校正仪器，而另一套作为参考和备用。这两套板要定期互相比较以保证测量值的精确。 通用的交流电转换器，100-240V, 50-60 Hz, 12 volts直流电输出，电源线按美国标准生产。 AE1/RD1包括AE1辐射率仪以及小型数字伏特计，RD1用来读出辐射率值。 MODEL AE1 包括辐射率仪、电源线、黑体槽，两个高辐射率标准板、两个低辐射率标准板，技术手册及操作指南。 可选项: Model AE-AD1 - 测量直径小于3.8cm的平滑样品 Model AE-AD3 - 测量直径小于2.54cm的平滑样品 Custom Adapters – 客户量身定做的探头，可以是圆柱的也可以是其它怪形状的 Carrying Case Model CC-1 – 携带箱，尺寸：33x40x18 cm. Battery Pack – 电池组，外出使用，锂电池，12小时连续操作，通用充电器主要特点：AE1是一款专为测量辐射率而设计的特殊仪器。她杰出的特征如下： 重复性: ± 0.01 辐射单位. 容易操作: 仪器是电加热的，样品本身无须加热。也不需要任何温度测量。 快速测量: 首次通电加热约30分钟时间，辐射率将每隔1.5分钟便可得到。太阳光谱反射率仪介绍SSR-ER采用钨灯和积分球产生漫射光照射样品，探测器在近法线20度处接收样品的反射光。漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国NBS标定，仪器经过标准体校正后即可开始测量。一、 技术参数 定制测量头：标配测量头用来测量平面样品材料，可定制测量头用来测量曲面材料样品，如13mm直径圆柱面。 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001。 重复性：±0.003。 准确性：±0.002，标准差约0.005。 漂移：5分钟预热，漂移小于±（1%读数+0.003）/小时。 温度：电子组件操作温度不得超过60℃，测量头最高50℃。 湿度：最大80%。 标准体：提供经过NBS计量的漫反射和镜面反射标准板。 测量孔：测量孔直径1英寸（25.4mm），最小样品直径1.1英寸（28mm），测试孔有保护样品的垫圈。 光源：插拔式可换钨丝灯。 供电：100-240VAC通用电源。 线缆：标配长度1.5m，可选长度10m。重量：测量头0.9kg，电子模块1.8kg，透射率附件4.5kg。数据输出附件：选配，可实现一次测试，输出16种测试条件（或模式）下的太阳光谱反射率值。波长范围：3-30μm测试条件：共16种，分别为G173GH、G173BN、AM1GH、AM1BN、AM1DH、AM0BN、AM2V5E、AM1V5E、AM15V5E、AM0V5E、L1、L2、L3、L4、L5、L6。对应的大气质量（Air Mass）共4种，分别为AM0、AM1、AM1.5、AM2。测试值：太阳光谱反射率（反射比），吸收比，透射率（配备SSR-T的前提下）。满足标准：ASTM C1549。订货指南标准配置包括电子模块SSR-E，反射率测量头SSR-R，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤钨灯，光谱性能标准（即4个标准彩瓷体），美国计量证书，通用电源，电源线和运输箱。测量头手柄（选配），可实现5个小时连续测量的12v电池和充电器（选配），SSR-T透射率测量附件（选配），数据输出附件（由程序和数据线组成，选配），定制曲面测量头（选配）。手柄（选配）方便测试，透射率测量附件（选配）SSR-T透射率测量附件可以和SSR-R反射测量头兼容进行样品太阳辐射透射率测量，透射率测量角度从法线方向至60°可调，采用漫反射光源 照明并测量。 SSR-T和SSR-R安装示意图如下：12V移动电源（选配）应用领域s 航天航空行业：热控表面、热控涂层。s 薄膜行业、涂层行业。s 太阳能行业：吸收涂层、反射涂层、镜子、反光体。s 建筑行业：外墙表面层、屋顶表层、工程漆、马路标线、人行道砖。SSR-ER验收方法用仪器自带的一块标准白瓷板对另外一块带数据的标准白瓷板进行检测，反射比的误差不超过±0.01。销售建议不适合透明、半透明物体。不适合表面不均匀的粗糙的物体。

TESA2000是在TEMP 2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250 nm to 2500 nm ，主要用于材料太阳光谱吸收、反射特性测试。 AZ Technology' s TESA 2000 Portable Emissometer/Reflectometer and Solar Reflectometer, is compact, lightweight, rugged, and ergonomically engineered for ease of use in the field or in the laboratory to determine ambient temperature total emittance and solar reflectance of test surfaces.The TESA 2000 can be conveniently used in a laboratory setting (top right image) where samples can be sat atop the instrument and left while repeated measurements are being taken, or as a portable unit (bottom right image).The TESA 2000 provides in a single unit:1) A portable emissometer/reflectometer that performs optically integrated total hemispheric reflectance measurements from less than 3 to greater than 35 micrometers wavelength. Thus, performing the same measurement as the TEMP 2000A (the recognized replacement for the no longer produced Gier Dunkle DB-100 IR Reflectometer**), providing improved emittance determination performance and maintainability, and in accordance with the ASTM E408 standard.2) A portable solar reflectometer that performs optically integrated total hemispheric reflectance measurements.The TESA 2000 optical system has been designed to minimize losses, to facilitate and maintain optical alignment, and to utilize the features of AZ Technology' s patented ellipsoid collector (Patent Number 5,659,397) that allows compactness for portability, efficiency, and measurement accuracy. The instrument is fully portable and can be used in the most remote locations. The instrument is available with carrying cases (which will fit in the overhead bin of most jet aircraft), rechargeable batteries, battery charger, instrument inspection head, display unit, and an operator vest.The table below lists specifications for the TESA 2000.Emittance wavelength3um to 35um (not limited by filters, windows, etc.)Reflectance wavelength250 to 2500 nmMeasurement accuracy (for specular and diffuse samples)- ± 1% of full scale for gray samples - ± 3% of full scale for non-gray samplesRepeatability- ± 0.5% of full scale or betterSample typeAny Sample, including foils, insulators, etc.Sample size and geometry-Flat Surfaces: &ge 0.4 inches (1 cm) diameterSample temperatureRoom Temperature, AmbientReadouts-Digital LCD panel meter-Selectable solar reflectance solar absorption and IR reflectance/emittance displayMeasurement range (reflectance)0.05 to 1.00Dimensions-Optical Head: 5" diameter x 8" long-Control and Display Unit: 7.5 x 5.5 x 3 inches-Battery Box: 7.5 x 6.25 x 4.0 inches-Carry Case: 12.5 x 17 x 11 inchesWeight-Optical Head: 6 pounds-Control and Display Unit: 3.25 pounds-Battery Box: 11 pounds-Carry Case: 9 poundsWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. **The TESA 2000 represents an excellent option for replacing a Gier Dunkle DB100 while adding more capabilities and increased portability