红外频率测量仪

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红外频率测量仪相关的厂商

  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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红外频率测量仪相关的仪器

  • 218振动、频率测量仪。该台仪器可测出机器在一定频率范围内的振动量和振动频率,该仪器相当于一个先进的测试系统,具有体积小、功能全、精度高、操作简便等特点,性能优越于BK2511。该仪器适合设备测试人员对机器设备长期监测和各种振动测量频率分析。二、主要技术指标: 1、加速度(A):二档 200.00 g (RMS) 5Hz—10KHz -3dB 2、速度(V): 二档 200.0cm/s(RMS) 5Hz—1KHz -3dB 3、位移(D): 二档 20.00mm (P-P)10Hz—1KHz -3dB 4、振动频率:3.00Hz—10KHz (1Hz=60转/分) 5、显示:LED4位显示A、V真有效值,D的峰峰值和振动主频率 6、测量误差:≤±5% 7、供电:~220V、50Hz、功耗10W 8、体积:230×110×260mm 9、工作条件:符合GB6587.1,电子测量仪Ⅱ组标准。
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  • 288A振动频率测量仪使用说明书一、前言288A振动频率仪是针对各种机器设备测量工作频率而研制的,即可测量一般机器设备振动频率、也可测量精度要求高的设备。仪器采用先进集成电路及高灵敏度传感器结合而成,具有可靠性高、耗电低、抗干扰能力强的特点。仪器采用ABS手持式机壳及电池供电方式,LCD模式显示频率值和欠压,操作简便、直观。该仪器的研制成功,将会极大的方便测试人员在现场进行对机器设备的检测、标定。二、技术指标1、频率范围: 5.0Hz—10000Hz 频率范围由用户确定2、测量范围: 0.5—100g (加速度)3、误差: 0.1+0.1% Hz4、工作电源: 5号AA1.5x5节电池5、环境境条件:工作温度-10℃--50℃6、外形尺寸: 180*100*40mm7、重量: 430g三、操作说明 1、将传感器底部磁吸座垂直吸到被测设备上。传感器安装时,底座表面应垂直设备振动方面。传感器输出线与主机相连。 2、将电源开关打到“开”处,2秒钟后便可检测。3、当显示窗“ ”指示灯亮时,表示电池电压低于正常使用电压,应及时换电池(工作电流10mA)。四、注意事项 1、传感器在使用时避免摔打、敲击。与其线连接处不宜扭曲或从根部拉动。 2、频率范围也是滤波器频率范围是用于抗外部于扰,选择适当上下频率值,否则会出现频率表数字值有很大变化。3、当仪器擦洗时,禁止使用汽油、橡胶水擦洗。 4、长期仪器不用时,从仪器后面电池盒取下电池,避免电池损坏。 5、仪器在测量过程中显示有误时,应先考虑电池是否欠压或传感器是否损坏。 五、附件 说明书 1份 主机 1台 传感器 1只 合格证 1份 电池 5节
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  • 国彪超声空化强度测量 数字式显示 波形 声化学效果分析 精密型频率能量声强测量仪液体声场中的超声波声强强度(声功率)是超声波系统一个主要的指标。它对清洗机的清洗效果清洗强度,超声波处理机的工作效率有直接的影响。我公司生产的声强测量仪可随时随地,快速简便地测量声场强度即超声声强,并直观地给出声功率声强数值。 声强测量仪运用的是压电陶瓷的正压电特性,即压电效应。当我们对压电陶瓷施加一个作用力时,它就能将该作用力转换成电信号。在同样条件下,作用力越强,电压越高。若该作用力的大小以一定的周期变化,则压电陶瓷就输出一个同频率的交流电压信号。由于空化作用和其他干扰,实际的电压波形是一个主波和许多次波的叠加。我公司生产的精密型超声波声强测量频率(能量)分析仪可以直观的观察实际作用波形,并读出超声声强值,检测清洗机强度。 主要特点 l 实现一键式自动测量,自动显示超声声强值及波形l 数字读出声强值及频率l 320×240带LED背光的3.2寸彩色液晶显示器l 内置2300mAh锂电池组,外配交流供电适配器l 十分钟内无信号输入自动关机
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红外频率测量仪相关的资讯

  • 量子点问鼎诺奖 | 滨松量子产率测量仪助力量子点测量研究
    图1 来源:诺贝尔奖委员会官网。北京时间10月4日17时45分,有着“理科综合奖”之称的诺贝尔化学奖揭晓。瑞典皇家科学院决定将2023年诺贝尔化学奖授予美国科学家Moungi G.Bawendi、Louis E Brus,俄罗斯科学家Alexei l.Ekimov ,以表彰他们对量子点的发现和研究。该奖项的授予充分表明了量子点技术在科学领域中的又一重要突破。 01量子点是一种纳米级半导体发光材料,通过施加一定的电场或光压,这些纳米半导体就会发出特定频率的光,而发出光的频率会随着半导体的尺寸的改变而变化。因此,我们通过控制它们的尺寸和形状,就可以控制其发出的光的颜色(如图2),从而获得独特的光学和电子特性(如图2)。 图2 量子点荧光随尺寸的变化示例。 由于量子点丰富的物理化学性质,吸引了很多学者投身其中,目前已经形成了很多重要的前沿技术。除了我们熟知的已经商业化的量子点液晶显示以外,量子点还可以用于未来显示、光伏发电、高性能激光光源应用、单光子光源应用以及作为荧光探针用于生物成像等。 02 作为一种独特的纳米材料,在量子点的研究中,首先会关注其光谱特征和量子产率;在一些情况下,电致发光效率和荧光寿命也是需要被测量的参数。 #宽广的光谱测量 在生物荧光探针等应用的量子点研究中,不仅需要测量可见光区的光谱,还可能需要测量近红外红外光的光谱。 图3 从可见到近红外连续光谱测量的双探测器方案。为了契合这样的需要,滨松Quantaurus-QY plus中不仅配备了高灵敏度高信噪比背照式CCD探测器(探测范围从紫外至约1100nm的近红外,如图3上左),而且配备了专门用于近红外波段的InGaAs探测器(从850nm至1650nm,如图3上右)。作为在光电行业深耕细作几十年,光探测器产品线非常宽广的技术型公司,滨松在Quantaurus系列产品中均选用了自产的探测器。并基于对探测器的深刻理解与定制,开发出了特有的“光谱无缝缝合”技术,使得通过可见光探测器和近红外探测器所得到的光谱能够衔接在一起(如图3),从而使用户可以在350-1650nm的范围内,横跨可见及近红外区域得到完整且精准的光谱和真实的量子产率数值。(如图4) 图4 文献案例:横跨可见到红外的光谱测量。500nm左右的峰为吸收光谱,1300nm左右的峰为发射光谱。(N. Hasebe, et al. Anal. Chem.&ensp 87&ensp (2015), 2360)。 #精准的量子产率测量滨松量子产率测试仪对上至100%,下至1%以下的量子产率都具有非常准确的测量能力(如图5)。 图5 滨松量子效率分析仪对一些标准样品的测试值与文献值的对比(K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys. 11 (2009), 9850)。 为了得到精确的结果,除了在硬件方面精益求精,滨松也一直在研究量子产率测量中的各种误差来源。比如对于许多量子点,激发光谱和发射光谱会有所重叠(如图6);这意味着量子点发出的荧光有可能被自身再次吸收——这种自吸收(reabsorption)现象会导致量子产率的测量值低于真实值,而且越浓的溶液低估得越厉害(如图7)。图6 几种量子点的吸收及发射光谱。实线为吸收光谱,多点连线为发射光谱;蓝绿黑红对应着量子点尺寸从小到大。(U. Resch-Genger, et al. Nat. Methods 5 (2008), 763)。 针对这种低估量子产率的可能,滨松运用了对应的自动测量流程及算法(K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys.&ensp 11&ensp (2009), 9850)保证得到最为准确的量子产率读数(如图7)。 图7 自吸收(Reabsorption)校正结果示例(K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys. 11 (2009), 9850)。#滨松量子产率测量仪Quantaurus-QY plus
  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
  • 700万!宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目
    一、采购项目名称:宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目二、项目编号:CBNB-20221203三、公告期限:2022年5月31日至2022年6月8日止四、采购组织类型:分散采购委托代理五、采购方式:公开招标六、招标项目概况(货物名称、数量、简要技术要求、采购预算/最高限价):品目号货物名称数量简要规格描述采购预算/最高限价一红外折射率测量仪1台用于测量光学材料的折射率特性,具体详见招标文件450万元二中波红外干涉仪1台用于红外玻璃均匀性检测,球面、非球面以及自由曲面等面型透镜加工精度检测,具体详见招标文件250万元

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  • 非接触式应变位移视频测量仪

    求助各位朋友,有谁知道以下这个设备是那个生产厂家的,请加我,谢谢非接触式应变位移视频测量仪:一、性能要求1. 非接触式应变位移视频测量分析软件,用于处理摄像机视频图像信息,测量全场应变位移;2. 控制软件配置开放接口,可加配红外热像仪控制节点;3. ★所有测试数据,能够与MTS共享。二、技术参数1. 可测量参数:包括应变、位移、泊松比、拉伸/压缩模量、应力-应变曲线等。2. 仪器专用CCD摄像,象素≥1380x1024,15fps,1394b。3. 专用镜头(6-19mm标距,70mm物距)4. 结构监测镜头焦距50mm,25mm5. 测量间距:不小于500mm6. 标距可调:最小不大于5mm,最大不小于150mm7. 视频扫描频率:不小于100次/秒。8. ★测量位移分辨率:不大于0.05微米(可用MTS检测);9. ★应变分辨率:不小于5个微应变(可用MTS检测)10. 提供数字和模拟信号的输入和输出。模拟输入: 16单/8双通道;分辨率:16位;电压范围:+/-0.2V到+/-10V 模拟输出:通道:2 ;分辨率:16位电压范围:+/-10V 数字输入:通道:4 ;数字输出:通道:4 三、仪器配置1. ★一体化视频测量仪(含主机、摄像机及镜头、视频光源);2. 笔记本电脑: 13’屏;CPU i5;硬盘500G ;内存4G;独显2G;配三脚架。

  • 【资料】电子测量仪器的分类及应用

    电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表  模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器  示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器  信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪  晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表  兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪  红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪  该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪  电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪  频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。  除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

  • 【求助】超高频辐射测量仪和工频场强仪量仪的选择

    在新标准GBZ/T189中对超高频辐射测量使用的仪器要求是“选择量程和频率适合于所检测对象的测量仪器”,对高频电磁场的测量仪器要求是“[font=宋体]量程范围能够覆盖[/font][font=']10V/m-1000V/m[/font][font=宋体]和[/font][font=']0.5A/m-50A/m[/font][font=宋体],频率能够覆盖[/font][font=']0.1MHz-30MHz[/font]”,对于工频电场的测量仪器要求是“[font=宋体]采用灵敏度球型(球直径为[/font][font=']12cm[/font][font=宋体])偶极子场强仪进行测量,场强仪测量范围为[/font][font=']0.003kV/m-100kV/m,其他类型的场强仪最低检测限应低于0.05kV/M[font=宋体]”,市场上仪器种类繁多,如何选择测量超高频辐射测量仪器和工频电场的测量仪器,不知大家有没有好的仪器推荐~期待高手答复。[/font][/font]

红外频率测量仪相关的耗材

  • HI3604 工频电磁场测量仪 美国HOLADAY
    HI3604 工频电磁场测量仪 美国HOLADAY,的简介,介绍,说明书,操作,一级代理,经销,总代:HI-3604是专门为检测50/60Hz电力线,有电设备和设施,视频显示终端等周围的电 磁场强度而设计。液晶显示器显示的单位可选择毫高斯,高斯,伏/米,千伏/米,并有图形显示功能,可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。 单探头实现全量程,仪器面板为覆膜式按键设计,非常适合现场使用。内部存储器可存储最多127个读数。 HI3604 工频电磁场测量仪 美国HOLADAY,的简介,介绍,说明书,操作,一级代理,经销,总代,配置:标配:电磁场两用探头(单轴),显示部分,绝缘手柄,使用手册,便携箱选件:HI3616远方显示器,HI4413 RS232光纤MODEM,三脚架。 HI3604 工频电磁场测量仪 美国HOLADAY,的简介,介绍,说明书,操作,一级代理,经销,总代,技术参数:频率范围:30-2000Hz频率响应:±0.5dB(50-1000Hz)±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围:1V/m –200 kV/m磁场测量范围:0.2mG-20 gauss检测:单向响应:真有效值存储:内置,最多127个读数环境:温度:10-40℃ 湿度:5%-95%不冷凝
  • testo 835-T1 红外测量仪器
    testo 835-T1 红外测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器 量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数 光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点 开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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