红外扫描显微镜

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

什么是扫描电子显微镜，泽攸科技小编给大家介绍一下扫描电子显微镜。1930年代和1940年代，除透射电子显微镜外，其他类型的电子显微镜，如扫描、发射、反射、场发射等也相继在德国提出和试验。 经过一段时间的断断续续，扫描电镜再次受到关注，在解决了一些关键技术问题后，发展迅速。 他可以直接观察块状物质的表面，并提供具有很强三维效果的图像。 因此，在科研和工业中得到了广泛的应用。 它已成为生产量很高的电子显微镜。接下来泽攸科技小编带大家深入探讨一下，什么是扫描电子显微镜。扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察方法。 它利用聚焦的很窄的高能电子束对样品进行扫描，通过电子束与物质的相互作用，激发各种物理信息，对信息进行采集、放大、再成像，以观察表征物质的微观形态。扫描电子显微镜基本的功能仍然是放大镜的功能，它实现了人眼和光学显微镜无法观察到的样品更详细的特征。 广泛应用于材料科学研究、生物学、工业制造等领域。ZEM台式扫描电子显微镜扫描电子显微镜的制造是基于电子和物质的相互作用。 当一束高能入射电子轰击材料表面时，激发区会产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子以及可见光、紫外光和红外光。 该区域产生的电磁辐射。 同时，还可以产生电子-空穴对、晶格振动（声子）和电子振荡（等离子体）。 原则上，可以利用电子与物质的相互作用来获得被测样品本身的各种物理化学性质，如形貌、成分、晶体结构、电子结构、内部电场或磁场等。扫描电子显微镜对我们来说似乎有点陌生，但它存在于我们的生活中。 我们需要进一步了解它，才能更好地利用它为人类创造价值。 希望今天小编介绍的关于什么是扫描电子显微镜的内容能给您的生活带来更多的帮助，从而在生活中取得进步。本文就是泽攸科技小编介绍的扫描电子显微镜，如果需要了解扫描电镜产品的价格请咨询：（微信同号）。 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

Molecular Vista 散射式扫描近场光学显微镜 ——10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升，但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下，美国Molecular Vista应运而生，推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM！有别于传统的扫描近场光学显微镜，Vista-SNOM基于专利的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合，同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜案例下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布，图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合，金铝二聚体间隔仅为5nm!摘自“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强，下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布，图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。摘自“Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

一、产品概述：扫描声学显微镜（SAM）是一种高分辨率的成像设备，用于分析材料内部结构和缺陷。该仪器利用超声波探测技术，可以获得微米级别的分辨率，广泛应用于材料科学、半导体和生物医学等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描声学显微镜主要用于检测和分析材料内部的缺陷、应力和微观结构。工程师和研究人员可以利用该仪器进行材料的质量控制、故障分析和新材料的研发，以确保材料在实际应用中的可靠性和性能。工作原理扫描声学显微镜通过发射超声波信号到样品中，并接收反射回来的信号来工作。仪器内部使用高灵敏度的探测器和信号处理技术，将反射信号转换为图像，显示样品内部的结构和缺陷。用户可以调整扫描参数，以获得不同深度和细节的成像，从而进行深入的材料分析和研究。三、主要技术指标：1. 为了识别沿封装微电子应用中小和细微的缺陷，ECHO VS包括标准功能，如用于佳声耦合的热水、用于有效捕获有用数据的灵活TAMI、用于提高信噪比的波形平均、ICEBERG用于提高图像质量，MFCI用于在苛刻的应用中增强图像质量。ECHO VS是用于成型倒装芯片、CSP、MCM、叠片、MUF和其他先进封装技术的终超声波无损检测设备2. 检测薄至0.01μm的空气缺陷，并在空间上解决低至5μm的缺陷3. 图像优化，提高复杂模制倒装芯片（MUF）和具有聚酰亚胺层的封装的图像质量

**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。

超声波扫描显微镜,超声扫描显微镜，超声C扫描显微镜，声扫显微镜德国原装进口，更多型号请登录安赛斯（中国）有限公司官网，产品介绍：名称：超声波扫描显微镜品牌：KSI型号：V-700E 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 应用：超声波扫描显微镜的应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） 主要参数：- 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品- 最大扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：700mm×600mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 最大放大倍数：625倍- 新型FCT专利换能器 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。超声波扫描显微镜,超声扫描显微镜，超声C扫描显微镜，声扫显微镜德国原装进口，更多型号请登录安赛斯（中国）有限公司官网，

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。 超声波扫描显微镜应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等； 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶… 等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）更多产品信息，请登录安赛斯（中国）有限公司官网获取。V-400E、V-700E、V-1000E单探头超声波扫描显微镜 -该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。- 扫描速度最高可达：2000mm/s- 与其它品牌机型相比扫描效率高30%- 最小扫描范围：200μm×200μm- 射频最大带宽：500MHz- 新型FCT防误判专利探头V-duo、V-quatrro、V-Octo多探头超声波扫显微镜多探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只、4只或8只换能器- 最大扫描速度：2000 mm/s - 与其它品牌相比扫描效率高30% - 最小扫描范围：200μm×200μm - 带宽：550MHz - 新型换能器Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描系统它是声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合。- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率 - 探测深度100nm - 特殊平均模式使信噪比更好 - 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。 - 光声效应增强了对比性 - 最大放大倍数：1000倍 - 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。 产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

1.产品概述：PVA TePla 超声扫描显微镜SAM Premium系列结合了声学显微镜和光学显微镜。它使超声扫描平台与倒置光学显微镜或反射式光学显微镜相结合。SAM Premium系列所使用的技术是以融合了生产和研究技术的核心平台为基础。SAM Premium系列旗下各个系统均具有高产量、高灵活性和宽广的扫描范围等特性。此外，各系统还可以根据客户的要求进行扩展，并用于多样化的应用。2.产品优势：高频和换能器技术：高频和换能器技术可支持各类特定研究和工业应用，其中高频范围可高达400 MHz，并提供5 MHz和400 MHz之间的可选择频率范围。此外，每个换能器都配备了门的自动对焦功能。其特征在于，该系统可通过特殊的音爆高频单元升到1000MHz的声学成像。一直以来，PVA TePla致力于为企业客户及科研单位提供无损检测设备，满足客户要求。目，我们的SAM系列应用于工业域及多个高科技行业，如半导体行业、电子/电气行业等等。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可以单独自定义，可选择以下扫描范围配置: 250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到502mm x 502mm如HiSA（高速扫描轴）、或动态穿透式扫描等，可实现高性能扫描成像结果。HiSA（高速扫描轴）跟随样品弓形，具有动态聚焦功能。动态穿透式扫描可在25MHz至100MHz的频率范围内使用。

超声波扫描显微镜品牌：JIONSUN型号：UTScan400产品简介：扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能。因此，被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。应用领域：■ 半导体器件及封装检测：分立器件（IGBT/SiC）、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。■ 材料检测：陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。■ IGBT功率模组产品检测：实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测，在进行功率循环后，通过SAM测试，准确找到 IGBT 模块材料、焊料层，打线等工艺中出现的问题，筛选不合格产品，并促进 IGBT 模块的封装质量提升。

泽攸科技 自主研发的台式扫描电子显微镜来了，众所周知以前购买台式扫描电子显微镜，都是向国外采购，现在不同了，我们国家越来越强大，科研力量越来越强，我们有能力自己研发国产台式扫描电子显微镜，我们有很强的研发团队做支撑，只要你需要我们都能够实现。ZEM台式扫描电子显微镜已服务各大高校，下面给大家看看ZEM15台式扫描电子显微镜产品及参数安徽泽攸科技有限公司是台式扫描电子显微镜生产厂家，关于台式扫描电子显微镜价格请联系(微信同号)原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

德国KSI单探头多用途超声波扫描显微镜型号：v300/v400E/v-700E/v-1000E 扫描速度最快最准的超声波扫描显微镜 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。超声波扫描显微镜应用领域：● 半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 ● 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；● 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：● 晶圆面处分层缺陷● 锡球、晶圆、或填胶中的开裂● 晶圆的倾斜● 各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 超声波显微镜的在失效分析中的优势：● 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构● 可分层扫描、多层扫描● 实施、直观的图像及分析● 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计● 可显示材料内部的三维图像● 对人体是没有伤害的● 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） V系列单探头多用途超声波扫描显微镜KSI v-系列的单探头多用途超声波扫描显微镜的新一代产品。全新研发的扫描器和新型换能器相结合，能大大提高扫描速度。与常规的SAM产品相比，凯斯安 v-系列的检测效率能提高30%。大尺寸扫描区可实现对大型样品的检测，新型KSI v-系列机型创造出无与伦比的性价比。新型KSI v-系列的主要特点：● 扫描速度蕞高可达2000mm/s● 与其它品牌机器相比扫描时间节省30%● 新型的换能器● 成像更清晰● 有单探头、双探头、四探头、八探头系统，达到高效能● 扫描范围最小可至200μm×200μm● 扫描范围蕞大可达1000mm×700mm● 带宽达到550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 可以通过不同的扫描方式灵活应用● 通过Windows 7 GUI简单操作● 为中国用户开发的简体中文界面● 性价比高KSI V400E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。● 扫描速度蕞高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选● 与其它品牌机型相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：300mm x 300mm 或 400mm×400mm 或 400mm x 800mm，三种规格可选● 射频蕞大带宽：500MHz 或 550MHz，两种规格可选● 常规探头 或 FCT低噪探头，两种规格可选KSI v300失效分析实验室用声学显微镜机械扫描部分● X/Y/Z轴驱动系统是步进马达● X轴和Y轴的蕞高扫描速率是：1000mm/s● 蕞大扫描范围：300mm×300mm● X轴和Y轴的扫描精度：±0.25μm● Z轴是由自锁步进电机驱动● Z轴升降行程：100mm 电子部分和电脑工作站● 超声脉冲发生和接收器带宽：500MHz● 模数转换卡ADC 1GHz● 声学图像蕞大放大倍率400×● 正版Microsoft Windows 操作系统● Intel酷睿处理器● 1000GB 7200rpm硬盘● 22吋平板显示器 软件部分和扫描模式● 点扫描(A-)● 纵剖扫描(B-)● 横剖扫描(C-)● 单配置多层横剖扫描(X-)● 分层缺陷着色● 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像● 图像分辨率蕞大：32.000 x 32.000 （像素）● 扫描图像储存格式：BMP、JPG、sam等各种图像格式● 缺陷尺寸测量工具● 工件厚度测量估算 选件与客制件● 图像分析处理软件包● 专业3D声学图像处理软件包 KSI v-700E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：700mm×600mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 新型FCT专利换能器 KSI v-1000E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于研发和生产部门检测特大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：1000mm×700mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：250倍● 新型换能器

1.产品概述：PVA TePla SAM系列的超声波扫描显微镜使用简单，操作方便，是一款用于过程控制和质量保证，以及研究应用的无损检测设备。SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。2.产品优势：SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。凭借我司精密制造的高频和换能器技术，我们的超声波扫描显微镜能够在高达400MHz的超声频率范围内进行详细的声学分析。这些设备可以广泛应用于材料科学、生物医学、电子工业等域，帮助用户实现快速且准确的无损检测。无论是对材料中的缺陷进行定位和分析，还是对样品结构和表面形貌进行观察和评估，我们的超声波扫描显微镜都能提供可靠且高分辨率的成像结果。同时，我们还提供灵活多样的配置选项，以满足不同用户需求和实验要求。我们致力于为客户提供高性能和可靠性的超声波无损检测解决方案，以满足不断发展的科学研究和工业生产的需求。SAM系列系统是门用于质量和过程控制的无损检测工具，借助高达400兆赫的新射频和换能器技术实现详细的声学调查。简单而强大的图形界面确保了终用户可以充分使用该系统性能和功能。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可单独自定义，可选择以下扫描范围配置250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到420mm x 420mm模块化设计的功能，如穿透式扫描、动态穿透式扫描、或"双探头 “和 “四探头 “扫描仪配置等，大大优化了扫描成像结果。

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

仪器简介：我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；提供近场光学（NSOM）/原子力显微镜（AFM）低温系统，Raman-AFM系统，多探针AFM系统和扫描电镜（SEM）/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动，其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与任何拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。

Sonscan Fastline P300 超声波扫描显微镜C-SAM 先进的超声显微成像技术超声显微技术的杰出之处在于它能够在组件和材料中找出可能在生产或可靠性试验中出现的隐藏的缺陷。不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术，超声显微成像技术则是利用超声波对材料弹性特性极其敏感的特性。超声波可能会因为接触物质的改变而被吸收、散射或反射，而且对空气间隙特别敏感。Sonscan 提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部结构特征选择适当的成像方式以获得有关检验样品的清晰图像。此外，通过利用我们的专有的先进功能，Sonscan可以提供清晰的图像、高效率和良好的检测结果。这些功能使得Sonscan的C-SAM成像技术成为超声显微成像的理想选择，用于发现及分析在生产过程或可靠性测试过程中出现的缺陷。比起其他检测方法，使用超声显微成像方法更能有效地识别并分析脱层、空洞及裂缝等缺陷。为了提高生产车间内微电子元器件的筛查效率，Sonoscan 专门设计了Fastline P300 超声波扫描显微镜。作为超声显微成像技术的新平台，Fastline的紧凑设计缩小了占地空间，其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC托盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中的另一个托盘上等到扫描。Fastline P300精选特色：先进的输送系统帮助提高产量精确定位，更快扫描及自动化分析运用Visual PolyGate 技术实现简易快捷的多层深度扫描多语种操作系统及直观的操作界面人体工程学设计以提高操作者的舒适度和工作效率占地面积小，适宜在车间使用

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

一、产品概述：扫描隧道显微镜（STM）是一种高分辨率的表面分析工具，能够以原子级别观察和操纵材料表面的结构和电子特性。该仪器利用量子隧穿效应，通过探针与样品表面之间的电流变化实现高精度成像，广泛应用于纳米技术、材料科学和表面物理等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描隧道显微镜主要用于研究材料表面形貌、电子性质和原子结构。工程师和科学家可以利用该仪器进行纳米级别的表面分析、缺陷检测和材料特性评估，以推动新材料的开发和应用。工作原理扫描隧道显微镜通过将一个极细的探针靠近样品表面，利用量子隧穿效应来测量探针与样品之间的电流。探针在样品表面上进行扫描时，仪器实时记录电流的变化，从而生成表面的三维图像。通过调节探针与样品之间的距离，STM能够获得高分辨率的表面结构信息，甚至可以操控单个原子，实现精细的纳米操作和研究。三、主要技术指标：1. 自 1996 年推出以来，我们的低温 STM 已经为 LHE4 浴室冷冻器 STM 的稳定性、性能和生产率设定了标准。 在推出 LT STM 超过 20 年之后，低温 SPM 技术在广泛的活跃科学域的重要性仍然没有突破。2. 分子光谱学、原子操纵、碳、超导体、半导体、金属上的气体和磁性学，只是研究充分利用低温 SPM 的几个例子。 在所有这些域，我们的 LT STM 出版物比所有其他商业低温 SPM 的合并要多。3. 近年来，这些出版物突出了 LT STM 提供的行业先 QPlus® AFM 性能。 随着我们继续推出新的 STM 平台表格，Scienta Omicron 也很高兴地宣布推出新的第三代仪器，进一步提高了 LT STM 的性能和生产力。4. 第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。 这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。 新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 LT STM 始终提供的稳定性。

产品描述显微镜自动平台控制系统自动平台主要技术指标一）X，Y方向自动平台1．外形尺寸： 191mmx164mm2．X方向行程：≥40mm3．Y方向行程：≥30mm4．重复定位精度：≤3um5．最小步距： ≤2um6．限位开关X，Y标准（四个）7．手动控制支持8．移动速度五档可调二）Z方向调焦机构9．调焦步距（分辨率）：0.25um10．手动控制支持三）自动平台控制器 11．通讯方式RS232串口通讯12．电动控制操纵杆控制13．电源交流220V自动平台控制及大图拼接软件主要功能定位移动：平台直接移动到指定位置全景扫描：沿试样表面平移，浏览试样全景定点拍照：按设定轨迹移动平台，同时拍摄镜下图像自动回位：多点位置记忆功能，精确快速回位大图拼接：定点拍照，同步拼接，自动生成大视野全景图片自动聚焦：控制Z轴上下移动，自动找到最佳焦面

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-VSTMSONIX ECHO-VS 是专为更高精度要求，更复杂元器设计的新一代设备。广泛应用在Flip chips, Stacked die,Bumped die,Boned Wafers等。&bull 高分辨率下，扫描速度是传统超声波扫描显微镜的2.5倍&bull 独有的波形模拟器（Waveform Simulator)及波束仿真（Beam Emulator）&bull 扫描分辨率小于1微米&bull 水温控制系统及紫外细菌系统超高频状态工作下，信号更稳定

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

2016年，日立高新公司推出第一台大气压下扫描电子显微镜AeroSurf1500，其独特的设计可在大气压下得到清晰的扫描电子图像。特点：1、可在大气压（105Pa）下得到SEM图像；2、台式扫描电镜设计；3、低真空下成分分析；4、优质的图像处理控制；应用领域：1、食品检测；2、生物科技；3、刑侦医学；4、医药检测；5、环境监测。

InGaAs短波红外（SWIR）线扫描相机：SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台，产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列（FPA）和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等，速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 GL2048R通过Medium Camera Link® 接口将SD-OCT成像扫描速率提升到145 klps，而GL2048L是在base Camera Link® 提供76 klps的扫描速率。这些相机分辨率高、稳定性好。相机结构紧凑机身纤薄，它的特点是2048像素InGaAs阵列，像素间距10um，孔径高度210um。在短波红外（SWIR）波长范围0.99到1.65um之间提供高光谱分辨率。具有优越的稳定性、可重复性和长期工作寿命，可用于医学和工业机器视觉。 特点1024 x 1像素阵列，10um像素间距 0.99-1.65um高量子效率 带快照曝光的固态FPA 用于控制曝光和行周期 线扫描0.1到76 klps或10到145 klps以上 高增益时动态范围大于1200:1 四种增益/满井选项 通过CC1外部触发 封装机身129cm3 OEM尺寸35cm3 低功耗3.3W@6-12V 12位base或medium CameraLink® 接口应用 OCT：1.04、1.31、1.55um 强光谱的高分辨率光谱学 硅晶圆或IC显微 运动物体的SWIR机器视觉 热MV成像150oC 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建，以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜超软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强，可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜（SICM）-热性能扫描热感显微镜(SThM)

Park NX10-SICM 扫描离子电导显微镜简介：NX10-SICM 扫描离子电导显微镜是目前PARK原子力显微镜中重要的一员，该仪器真正意义上实现了液下活细胞的三维非接触式测量，除活细胞成像外，可与电化学工作站与膜片钳联用，广泛用于活细胞成像，原位扫描电化学，神经科学，是生物科研工作者的分析检测工具。Park扫描离子电导显微显微镜原理介绍：Park公司研发的扫描电子显微镜技术(Park SICM)将装有电解质的纳米玻璃移液管作为离子传感器，向系统反馈其与*浸没在液体中的样品之间的相对位置。移液管通过保持离子电流恒定来与样品保持距离。相比之下，原子力显微术十分依赖探针与样品之间的作用力。纳米移液管内径约50-100纳米，材质为玻璃。与常温常压下的扫描隧道显微镜技术(STM)类似，Park SICM在成像时无需与液体中的样品接触。样品和移液管两端的电极会在周围的溶液中产生离子电流。电流会随着移液管与样品之间距离的缩小而降低，传感器被用来测量电流并可监测移液管与样品之间的距离，以获得表面形貌像。纳米尺度下稳定的移液管探针与样品距离控制通过自动刷新接近每个像素前的参考值，移液管接近样品表面的停止高度不受设定点移动影响。电流-距离(I-D)分光镜检查通过移液管接近（垂直方向移动）样品表面获取扫描离子电导显微镜电流-距离曲线，有助于阐释水性环境中不同的生物与化学现象。这项有利应用可运用到某种有趣的样品物体中，借助扫描离子电导显微镜非侵入性形貌进行识别。此外，利用“电流-距离曲线映射”功能可以让研究人员在多个位置检验并获得电流-距离曲线，从而对生物与化学反应研究的理解更上一层。 用于扫描离子电导显微镜稳定操作的法拉第笼专为Park NX10扫描离子电导显微镜平台设计，法拉第笼有效保护移液管、头部与XY轴扫描仪不受干扰，提供更稳定的扫描环境。透明导电网阻挡了电场，并屏蔽外部静电或非静电50/60 Hz的电磁场，同时仍然提供给研究人员移液管与样品清晰的视野。NX10-SICM型扫描离子电导显微镜功能：1）细胞生物学：生物活细胞非接触式成像2）分析化学： 原位微区扫描电化学3） 电生理学与神经科学：与膜片钳联用，定量测量离子通道电流，用于神经学和新药物研发。

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

OneScan-B图像分析软件是依视科技推出的、适用于国内外通用显微镜相机的软件，可以适配市面上支持directshow接口的相机，除了包含一般显微镜相机应有的参数设置、截图、ROI以及白平衡等功能，依视科技还根据客户需求，为其配备了高端相机才有实时扫描和景深拓展等功能。OneScan-B能够实现传统手动数码显微镜的大区域扫描功能，具有极高的性价比。 OneScan-B图像分析软件避免了以往传统显微镜电动改造的风险以及高昂的费用。具有使用方便，价格低廉等特点。该系统可以应用于需要显微镜下全区域整体观察等领域。 另外，该软件还提供扫描后超大图片的预览和标准等功能，提供在线预览等一系列解决方案。OneScan-B图像分析软件1. 与国内外CCD/CMOS相机（支持directshow接口）适配 2. 可实现显微镜下实时扫描拼接以及Z轴景深拓展功能3. 显微镜本身不需要任何改造，适应性强，性价比高4. 针对市场、客户不断改进的需求，每季度提供一次软件更新5. 提供本地、在线预览两种方式，方便多人共享操作6. 多个不同倍率的物镜相互切换，提供位置导航和记忆功 OneScan-B参数列表型号OneScan-B适配显微镜国内外正置或倒置显微镜（具有相机接口）适配相机国内外CCD/CMOS显微镜相机浏览方式本地/在线支持物镜倍数2X、4X、10X、20X、40X最大扫描速度/mm/s2导航与记忆功能有电脑最低内存/GB8电脑最低CPUi5 4核常规图像测量功能软件图像扫描界面超大图像测量功能